JPH056382U - X線イメージセンサ - Google Patents

X線イメージセンサ

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Publication number
JPH056382U
JPH056382U JP5260191U JP5260191U JPH056382U JP H056382 U JPH056382 U JP H056382U JP 5260191 U JP5260191 U JP 5260191U JP 5260191 U JP5260191 U JP 5260191U JP H056382 U JPH056382 U JP H056382U
Authority
JP
Japan
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image sensor
visible light
ray image
scintillator
film
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Pending
Application number
JP5260191U
Other languages
English (en)
Inventor
智則 山岡
幸久 楠田
高志 田上
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Sheet Glass Co Ltd
Original Assignee
Nippon Sheet Glass Co Ltd
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Publication date
Application filed by Nippon Sheet Glass Co Ltd filed Critical Nippon Sheet Glass Co Ltd
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Publication of JPH056382U publication Critical patent/JPH056382U/ja
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Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【目的】 本考案は暗電流の少ないX線イメージセンサ
を得る。 【構成】 シンチレータ10のX線入射側に可視光を遮
蔽し、X線を通過する膜11,12を設けたX線イメー
ジセンサ。

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】
本考案はX線イメージセンサに関し、特に医療に用いるのに適したX線イメー ジセンサに関する。
【0002】
【従来の技術】
従来のX線イメージセンサは、X線を吸収して可視光を放射するシンチレータ と、その放射された可視光を検出する多数のフォトダイオードからなるイメージ センサとから構成されている。シンチレータ材料としてはTlイオンをヘビード ープしたCsIなどが用いられている。これはX線を吸収して励起され、波長が 560nmの可視光を放射する。そのシンチレータからの可視光をその波長域で分 光感度のよいa−Si(アモルファスシリコン)を用いた多数のフォトダイオー ドからなるイメージセンサで受ける。
【0003】 そして、シンチレータ材料から放射される可視光を効率よくイメージセンサの フォトダイオードに入射させるために、シンチレータ材料のX線入射側に、前記 可視光を反射するAl等の金属反射膜を設ける場合もある。
【0004】
【考案が解決しようとする課題】
しかしながら、シンチレータ材料に形成される前記金属反射膜は金属のX線吸 収係数が比較的大なるため、厚くすることができず、従って、シンチレータ材料 のX線入射側から到来する可視光を充分遮断することはできない。シンチレータ 材料のX線入射側から到来する前記可視光の迷光があると、フォトダイオードの 暗電流となり、X線イメージセンサの感度を低下することとなり、特に、人体に 照射できるX線量が限られ、微弱な信号を検出しなければならない医療用のX線 イメージセンサとして用いるには感度不足である。
【0005】
【課題を解決するための手段】 本考案は前記課題を解決するためになされたものであって、X線を可視光に変 換するシンチレータと、変換された可視光を検出する光検出器からなるX線イメ ージセンサにおいて、該シンチレータのX線入射側に可視光を遮蔽し、X線を透 過する膜を設けたことを特徴とするX線イメージセンサである。
【0006】 本考案においてはX線吸収係数が小さく、可視光吸収係数の大きな樹脂を、シ ンチレータまたはシンチレータ表面に設けた金属反射膜上に塗布することができ る。またの樹脂は可視光を吸収しやすい黒色樹脂が適している。
【0007】
【作用】
本考案によれば、シンチレータのX線入射側に設けた可視光を遮断し、X線を 透過する膜により、X線を効率よく光電気信号に変換し、且つ迷光による暗電流 を減少させるので、X線イメージセンサの感度を向上できる。
【0008】
【実施例】
以下に、図1に示した本考案の一実施例について説明する。
【0009】 ガラス基板1に下部電極2となる厚み100nmのクロム膜をスパッタリング法 により成膜した後、その上に、40nm厚みのN型a−Si(アモルファスシリコ ン)、1000nm厚みのI型a−Si、14nm厚みのP型a−SiをプラズマC VD法で連続に成膜し、更にその上に上部電極5となる厚み100nmのITO膜 をスパッタリング法で成膜する。次にITO膜パターニングして上部電極6を形 成した後、N型a−Si層3、I型a−Si層4、及びP型a−Si層5をRI E(リアクティブ・イオン・エッチング)して、光検出素子である多数のフォト ダイオード7を形成し、更にクロム膜パターニングして下部電極2を形成した。 その後、保護膜8となる厚み1μmのa−SiNX をプラズマCVD法で成膜し た後パターニングして保護膜8を形成し、次いで取り出し電極となる2μmのア ルミをスパッタリング法で成膜し、取り出し電極9,9′の形状にパターニング する。
【0010】 更にその後、フォトダイオード7上の露出した上部電極6上にTlをヘビード ープしたCsIを100μm厚で蒸着してシンチレータ10を形成し、そしてシ ンチレータ10の発光が外に洩れないように厚さ100nm厚のアルミの反射膜1 1を成膜する。最後に黒色の樹脂膜12をアルミの反射膜11上に形成する。黒 色樹脂としてはシリコン樹脂、エポキシ樹脂が通常用いられ、樹脂膜12の厚み は1mm〜10mmが好ましく、本実施例ではエポキシ樹脂を用い2mmの膜厚とした 。
【0011】
【考案の効果】
本考案によれば、金属反射膜11では阻止できなかった、X線入射側から到来 する可視光の迷光を黒色の樹脂膜12で吸収してフォトダイオード等の光検出器 への侵入が効率よく遮断できるため光検出器の暗電流を低減することができ、感 度の高いX線イメージセンサを得ることができ、特に医療用に適したX線イメー ジセンサを得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本考案に係るX線イメージセンサの部分断面
図。
【符号の説明】
1 ガラス基板 7 フォトダイオード 10 シンチレータ 11 アルミ反射膜 12 黒色の樹脂膜

Claims (2)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】 X線を可視光に変換するシンチレータ
    と、変換された可視光を検出する光検出器からなるX線
    イメージセンサにおいて、該シンチレータのX線入射側
    に可視光を遮蔽し、X線を透過する膜を設けたことを特
    徴とするX線イメージセンサ。
  2. 【請求項2】 前記可視光を遮蔽し、X線を透過する膜
    が黒色樹脂膜である請求項1に記載のX線イメージセン
    サ。
JP5260191U 1991-07-09 1991-07-09 X線イメージセンサ Pending JPH056382U (ja)

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JPH056382U true JPH056382U (ja) 1993-01-29

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JP (1) JPH056382U (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013088381A (ja) * 2011-10-21 2013-05-13 Furukawa Co Ltd 携帯型放射線検出器

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