JPH0567191B2 - - Google Patents
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- JPH0567191B2 JPH0567191B2 JP25810887A JP25810887A JPH0567191B2 JP H0567191 B2 JPH0567191 B2 JP H0567191B2 JP 25810887 A JP25810887 A JP 25810887A JP 25810887 A JP25810887 A JP 25810887A JP H0567191 B2 JPH0567191 B2 JP H0567191B2
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- cable
- electrode
- ground
- measuring electrode
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 33
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 8
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 6
- 238000010998 test method Methods 0.000 claims description 5
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 10
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 9
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 5
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000020169 heat generation Effects 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
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- Testing Relating To Insulation (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
この発明は、ケーブルの部分放電試験方法に関
し、より詳細には、押出し形成された外部半導電
層を有するCVケーブル等のケーブルの部分放電
をケーブル全長に亘り連続的あるいは断続的に測
定する方法に高圧用ケーブルに製造上の欠陥によ
つて生じるピンホールを試験する方法の改良に関
するものである。
し、より詳細には、押出し形成された外部半導電
層を有するCVケーブル等のケーブルの部分放電
をケーブル全長に亘り連続的あるいは断続的に測
定する方法に高圧用ケーブルに製造上の欠陥によ
つて生じるピンホールを試験する方法の改良に関
するものである。
[従来の技術]
一般に、この種のケーブルの部分放電検出装置
は種々の形式のものが存在し、被験ケーブルの外
部半導電層に部分放電測定電極を電気接触せし
め、この部分放電測定電極と接地間に所定の試験
電圧を課電する際に、上記部分放電測定電極に生
じる部分放電パルスを検出することによつてケー
ブルの部分放電の有無とその程度を試験すること
ができる。
は種々の形式のものが存在し、被験ケーブルの外
部半導電層に部分放電測定電極を電気接触せし
め、この部分放電測定電極と接地間に所定の試験
電圧を課電する際に、上記部分放電測定電極に生
じる部分放電パルスを検出することによつてケー
ブルの部分放電の有無とその程度を試験すること
ができる。
ところでこのような被験ケーブルは、ケーブル
の1条長全体を試料として部分放電パルスを検出
することになるのでケーブルの1条長全体の良否
しか判定できない。
の1条長全体を試料として部分放電パルスを検出
することになるのでケーブルの1条長全体の良否
しか判定できない。
このために考えられたものが、被験ケーブルの
外部半導電層に電気接触される部分放電測定電極
から所定距離を隔てて上記被験ケーブルの外部半
導電層に電気接触される接地電極を設け、上記部
分放電測定電極と上記接地電極の試験電圧を課電
した際に上記部分放電測定電極に生じる部分放電
パルスを測定することによつて被験ケーブルの任
意位置における部分放電測定を行えるようにした
方法である。
外部半導電層に電気接触される部分放電測定電極
から所定距離を隔てて上記被験ケーブルの外部半
導電層に電気接触される接地電極を設け、上記部
分放電測定電極と上記接地電極の試験電圧を課電
した際に上記部分放電測定電極に生じる部分放電
パルスを測定することによつて被験ケーブルの任
意位置における部分放電測定を行えるようにした
方法である。
[発明が解決しようとする問題点]
従来のケーブルの部分放電試験方法における部
分放電の検出感度は、部分放電測定電極に接続さ
れる部分放電測定器の入力インピーダンが高い程
感度が向上する傾向にある。
分放電の検出感度は、部分放電測定電極に接続さ
れる部分放電測定器の入力インピーダンが高い程
感度が向上する傾向にある。
ところが、部分放電測定電極と接地端の間の入
力インピーダンスの他に、部分放電測定電極と接
地電極との間の外部半導電層も並列に接続された
形になり、この分だけ入力インピーダンスが低く
なる。従つて、入力インピーダンスの低下を少な
くするには接地電極の配設距離を長くしてこれに
接する外部半導電層の距離を長くすれば良い。
力インピーダンスの他に、部分放電測定電極と接
地電極との間の外部半導電層も並列に接続された
形になり、この分だけ入力インピーダンスが低く
なる。従つて、入力インピーダンスの低下を少な
くするには接地電極の配設距離を長くしてこれに
接する外部半導電層の距離を長くすれば良い。
ところがこの距離が長くなるということは、そ
の長くなつた部分における充電電流値が多くなる
ことであり、これに伴つて発熱が多くなり、ま
た、この部分から雑音が発生し微小な部分放電パ
ルスがマスクされてしまう虞がある。なお、上記
雑音の発生は、外部半導電層がカーボン粉の接触
抵抗を利用したものであるための接触ノイズ(フ
リツカーノイズ)によるものである。
の長くなつた部分における充電電流値が多くなる
ことであり、これに伴つて発熱が多くなり、ま
た、この部分から雑音が発生し微小な部分放電パ
ルスがマスクされてしまう虞がある。なお、上記
雑音の発生は、外部半導電層がカーボン粉の接触
抵抗を利用したものであるための接触ノイズ(フ
リツカーノイズ)によるものである。
勿論、この接触ノイズは、部分放電測定電極の
性質や外部半導電層の材質にも依存するが、一般
的に、雑音レベルは充電電流値に比例したものと
なる。
性質や外部半導電層の材質にも依存するが、一般
的に、雑音レベルは充電電流値に比例したものと
なる。
従つて接地電極の配設距離を長くしてこれに接
する外部半導電層の距離を長くすることは検出感
度向上に結びつかないものである。
する外部半導電層の距離を長くすることは検出感
度向上に結びつかないものである。
そこで、この発明の目的は、被験ケーブルの部
分放電の検出感度を良好にできるケーブルの部分
放電試験方法を提供することにある。
分放電の検出感度を良好にできるケーブルの部分
放電試験方法を提供することにある。
[問題点を解決するための手段]
この発明に係るケーブルの部分放電試験方法
は、押出し形成された外部半導電層を有するケー
ブルの部分放電をケーブル全長に亘り連続的ある
いは断続的に試験する方法において、ケーブルの
外部半導電層に部分放電測定電極を電気接触さ
せ、この部分放電測定電極から所定距離を隔てて
上記ケーブルの外部半導電層に接地電極を電気接
触させ、上記部分放電測定電極と上記接地電極の
間の上記ケーブルの外部半導電層に、補助電極を
電気接触させ、この補助電極と接地間に高周波用
リアクトルを接続させ、上記ケーブルの高圧導体
と接地間に試験電圧を課電した際に上記部分放電
測定電極に生じる部分放電パルスを測定すること
によつて上記ケーブルの部分放電試験を行うこと
を特徴とする。
は、押出し形成された外部半導電層を有するケー
ブルの部分放電をケーブル全長に亘り連続的ある
いは断続的に試験する方法において、ケーブルの
外部半導電層に部分放電測定電極を電気接触さ
せ、この部分放電測定電極から所定距離を隔てて
上記ケーブルの外部半導電層に接地電極を電気接
触させ、上記部分放電測定電極と上記接地電極の
間の上記ケーブルの外部半導電層に、補助電極を
電気接触させ、この補助電極と接地間に高周波用
リアクトルを接続させ、上記ケーブルの高圧導体
と接地間に試験電圧を課電した際に上記部分放電
測定電極に生じる部分放電パルスを測定すること
によつて上記ケーブルの部分放電試験を行うこと
を特徴とする。
[作用]
部分放電測定電極と上記接地電極の間の外部半
導電層に、補助電極を電気接触させ、この補助電
極と接地間に高周波用リアクトルを接続させ、上
記ケーブルの高圧導体と接地間に試験電圧を課電
した際に、上記半導電層に流れる充電電流をバイ
パスすることによつて検出感度を向上せしめるよ
うにしたものある。
導電層に、補助電極を電気接触させ、この補助電
極と接地間に高周波用リアクトルを接続させ、上
記ケーブルの高圧導体と接地間に試験電圧を課電
した際に、上記半導電層に流れる充電電流をバイ
パスすることによつて検出感度を向上せしめるよ
うにしたものある。
[実施例]
以下、この発明の方法を図を用いて詳細に説明
する。
する。
図は、この発明の試験方法に適用されるケーブ
ルの部分放電測定装置の縦断面図である。図にお
いて、被験ケーブル1は、その中心に内部高圧導
体1aが設けられ、その外周に内部半導電層1b
が形成され、その外周に絶縁層1cが形成され、
その外周に外部半導電層1dが形成されている。
ルの部分放電測定装置の縦断面図である。図にお
いて、被験ケーブル1は、その中心に内部高圧導
体1aが設けられ、その外周に内部半導電層1b
が形成され、その外周に絶縁層1cが形成され、
その外周に外部半導電層1dが形成されている。
このような被験ケーブル1の外部には、部分放
電測定電極部10が配設されている。即ち、外部
半導電層1dの周面には、部分放電測定電極12
が電気接触され、この部分放電測定電極12から
所定距離を隔てて2つの接地電極11が外部半導
電層1dに電気接触されている。
電測定電極部10が配設されている。即ち、外部
半導電層1dの周面には、部分放電測定電極12
が電気接触され、この部分放電測定電極12から
所定距離を隔てて2つの接地電極11が外部半導
電層1dに電気接触されている。
この接地電極11は、接地され、部分放電測定
電極12には、部分放電測定器20が接続されて
いる。
電極12には、部分放電測定器20が接続されて
いる。
また、上記部分放電測定電極12と上記接地電
極11,11のそれぞれの間には、外部半導電層
1dに電気接触される補助電極13,13が設け
られている。
極11,11のそれぞれの間には、外部半導電層
1dに電気接触される補助電極13,13が設け
られている。
さらに、上記補助電極13,13のそれぞれと
接地端の間には、高周波用リアクル14,14が
接続されている。
接地端の間には、高周波用リアクル14,14が
接続されている。
そして、活線状態にある被験ケーブル1におい
て内部高圧導体1aと接地間に商用周波高電圧を
加えると、その交流課電により部分放電測定電極
12と接地電極11,11の間にある絶縁層1C
の静電容量のために充電電流が流れる。この充電
電流は露呈している外部半導電層1dの部分にも
流れ、この電流は外部半導電層1dの長さ方向に
流れ部分放電測定電極12、接地電極11,11
へと分流する。
て内部高圧導体1aと接地間に商用周波高電圧を
加えると、その交流課電により部分放電測定電極
12と接地電極11,11の間にある絶縁層1C
の静電容量のために充電電流が流れる。この充電
電流は露呈している外部半導電層1dの部分にも
流れ、この電流は外部半導電層1dの長さ方向に
流れ部分放電測定電極12、接地電極11,11
へと分流する。
ここで、検出感度は、前述のように部分放電測
定電極12に接続される部分放電測定器20の入
力インピーダンスが高い程感度が向上する傾向に
ある。
定電極12に接続される部分放電測定器20の入
力インピーダンスが高い程感度が向上する傾向に
ある。
ところが、部分放電測定電極12と接地端の間
の入力インピーダンスの他に、部分放電測定電極
12と接地電極との間の外部半導電層1dも並列
に接続された形になり、この分だけ入力インピー
ダンスが低くなる。従つて、入力インピーダンス
の低下を少なくするには接地電極11,11の配
設距離を長くしてこれに接する外部半導電層1d
の距離を長くすれば良い。
の入力インピーダンスの他に、部分放電測定電極
12と接地電極との間の外部半導電層1dも並列
に接続された形になり、この分だけ入力インピー
ダンスが低くなる。従つて、入力インピーダンス
の低下を少なくするには接地電極11,11の配
設距離を長くしてこれに接する外部半導電層1d
の距離を長くすれば良い。
ところがこの距離が長くなるということは、そ
の長くつた部分における充電電流値が多くなるこ
とであり、これに伴つて発熱が多くなり、また、
この部分から雑音が発生し微小な部分放電パルス
がマスクされてしまう虞がある。なお、上記雑音
の発生は、外部半導電層1dがカーボン粉の接触
抵抗を利用したものであるための接触ノイズ(フ
リツカーノイズ)によるものである。
の長くつた部分における充電電流値が多くなるこ
とであり、これに伴つて発熱が多くなり、また、
この部分から雑音が発生し微小な部分放電パルス
がマスクされてしまう虞がある。なお、上記雑音
の発生は、外部半導電層1dがカーボン粉の接触
抵抗を利用したものであるための接触ノイズ(フ
リツカーノイズ)によるものである。
勿論、この接触ノイズは、部分放電測定電極1
2の性質や外部半導電層の材質にも依存するが、
一般的に、雑音レベルは充電電流値に比例したも
のとなる。
2の性質や外部半導電層の材質にも依存するが、
一般的に、雑音レベルは充電電流値に比例したも
のとなる。
従つて接地電極11,11の配設距離を長くし
てこれに接する外部半導電層1dの距離を長くす
ることは検知感度向上に結びつかないものであ
る。
てこれに接する外部半導電層1dの距離を長くす
ることは検知感度向上に結びつかないものであ
る。
そこで、この発明に係るケーブルの部分放電試
験方法においては、部分放電測定電極12と接地
電極11,11の間に補助電極13,13を設
け、この補助電極13,13と接地端の間に高周
波用リアクトル14,14を設けてあり、被験ケ
ーブル1の内部高圧導体1aと接地間に試験電圧
を課電した際に、外部半導電層1dに流れる充電
電流をバイパスすることによつて検出感度を向上
せしめるようにしたものである。
験方法においては、部分放電測定電極12と接地
電極11,11の間に補助電極13,13を設
け、この補助電極13,13と接地端の間に高周
波用リアクトル14,14を設けてあり、被験ケ
ーブル1の内部高圧導体1aと接地間に試験電圧
を課電した際に、外部半導電層1dに流れる充電
電流をバイパスすることによつて検出感度を向上
せしめるようにしたものである。
なお、高周波用リアクトル14,14の性質と
しては、商用周波課電圧に対するリアクタンスが
充分に低く、部分放電パルス等の高周波成分に対
しては、充分に高いリアクタンスを有するように
する必要がある。
しては、商用周波課電圧に対するリアクタンスが
充分に低く、部分放電パルス等の高周波成分に対
しては、充分に高いリアクタンスを有するように
する必要がある。
従つて、被験ケーブル1の内部高圧導体1aと
接地間に試験電圧を課電した際に上記部分放電測
定電極12に生じる部分放電パルスを部分放電測
定器20で測定することによつて被験ケーブル1
の部分放電試験を感度良く行うことができるので
ある。
接地間に試験電圧を課電した際に上記部分放電測
定電極12に生じる部分放電パルスを部分放電測
定器20で測定することによつて被験ケーブル1
の部分放電試験を感度良く行うことができるので
ある。
なお、この発明に係るケーブルの部分放電試験
方法は、上述の具体例に限定されることなく、そ
の要旨を逸脱しない範囲内で種々の変型実施をす
ることができることは勿論である。
方法は、上述の具体例に限定されることなく、そ
の要旨を逸脱しない範囲内で種々の変型実施をす
ることができることは勿論である。
例えば、高周波用リアクトルは、2つの補助電
極のそれぞれに対応して接続されているが、補助
電極を多数設け、それぞれに小さな容量の高周波
用リアトルを設けるようにしてもよい。
極のそれぞれに対応して接続されているが、補助
電極を多数設け、それぞれに小さな容量の高周波
用リアトルを設けるようにしてもよい。
また、高周波用リアクトルは、複数の補助電極
に対して共用して大きな容量の高周波用リアクト
ル接続するようにしても良い。この場合には、複
数の補補助電極が対称的に配置されることが望ま
しい。
に対して共用して大きな容量の高周波用リアクト
ル接続するようにしても良い。この場合には、複
数の補補助電極が対称的に配置されることが望ま
しい。
さらに、部分放電測定電極は、1つのみならず
2つ設けて行う差動検出方法であつてもよい。
2つ設けて行う差動検出方法であつてもよい。
[発明の効果]
このように、この発明に係るケーブルの部分放
電試験方法は、従来、問題であつた外部半導電層
に流れる充電電流が高周波用リアクトルでバイパ
スされるので微弱な部分放電パルスの検出ができ
部分放電の検出感度を大幅に向上することができ
る。
電試験方法は、従来、問題であつた外部半導電層
に流れる充電電流が高周波用リアクトルでバイパ
スされるので微弱な部分放電パルスの検出ができ
部分放電の検出感度を大幅に向上することができ
る。
図は、この発明の方法に適用されるケーブルの
部分放電試験装置の実使用時の一部の縦面図であ
る。 1……被験ケーブル、1a……中心導体、1b
……内部半導電層、1c……絶縁層、1d……外
部半導電層、11……接地電極、12……部分放
電測定電極、13……補助電極、14……高周波
用リアクトル、20……部分放電測定器。
部分放電試験装置の実使用時の一部の縦面図であ
る。 1……被験ケーブル、1a……中心導体、1b
……内部半導電層、1c……絶縁層、1d……外
部半導電層、11……接地電極、12……部分放
電測定電極、13……補助電極、14……高周波
用リアクトル、20……部分放電測定器。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 押出し形成された外部半導電層を有するケー
ブルの部分放電をケーブルの全長に亘り連続的あ
るいは断続的に試験する方法において、 ケーブルの外部半導電層に部分放電測定電極を
電気接触させ、 この部分放電測定電極から所定距離を隔てて上
記ケーブルの外部半導電層に接地電極を電気接触
させ、 上記部分放電測定電極と上記接地電極の間の上
記ケーブルの外部半導電層に、補助電極を電気接
触させ、 この補助電極と接地間に商用周波課電圧に対す
るリアクタンスが充分に低く、部分放電パルス等
の高周波成分に対しては充分に高いリアクタンス
を有する高周波リアクトルを接続させ、 上記ケーブルの高圧導体と接地間に試験電圧を
課電した際に上記部分放電測定電極に生じる部分
放電パルスを測定することによつて、上記ケーブ
ルの部分放電試験を行うことを特徴とするケーブ
ルの部分放電試験方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25810887A JPH01100470A (ja) | 1987-10-13 | 1987-10-13 | ケーブルの部分放電試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25810887A JPH01100470A (ja) | 1987-10-13 | 1987-10-13 | ケーブルの部分放電試験方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01100470A JPH01100470A (ja) | 1989-04-18 |
| JPH0567191B2 true JPH0567191B2 (ja) | 1993-09-24 |
Family
ID=17315608
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP25810887A Granted JPH01100470A (ja) | 1987-10-13 | 1987-10-13 | ケーブルの部分放電試験方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01100470A (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102998603A (zh) * | 2012-12-12 | 2013-03-27 | 重庆大学 | 一种接地极冲击散流特性测量装置及方法 |
| JP6507767B2 (ja) * | 2015-03-23 | 2019-05-08 | 日立金属株式会社 | 部分放電測定方法および部分放電測定装置、並びに絶縁電線の製造方法 |
| CN111551833B (zh) * | 2020-06-12 | 2022-05-03 | 天津大学 | 一种极不均匀电场下电缆缓冲层局部放电测试系统 |
-
1987
- 1987-10-13 JP JP25810887A patent/JPH01100470A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01100470A (ja) | 1989-04-18 |
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