JPH0572243A - 集積回路装置の計測方法 - Google Patents
集積回路装置の計測方法Info
- Publication number
- JPH0572243A JPH0572243A JP3231438A JP23143891A JPH0572243A JP H0572243 A JPH0572243 A JP H0572243A JP 3231438 A JP3231438 A JP 3231438A JP 23143891 A JP23143891 A JP 23143891A JP H0572243 A JPH0572243 A JP H0572243A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- voltage
- differential amplifier
- differential
- input
- output
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 30
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 7
- 238000013461 design Methods 0.000 claims description 4
- 230000002708 enhancing effect Effects 0.000 abstract 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 14
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 7
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 7
- 239000000047 product Substances 0.000 description 5
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 1
- 239000011265 semifinished product Substances 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 差動増幅器の入力電圧の設定精度を向上さ
せ、電気的特性の測定精度を改善する。 【構成】 差動増幅器1の二つの差動入力端子2,4
に、抵抗値の等しい二つの抵抗8,9の一端を接続し、
その抵抗8,9の他端を共通接続し、その共通接続点に
電圧源3からのバイアス電圧を与える。そして、差動入
力端子4に電流源10から所定の電流を与えて、差動入
力端子2,4間に2段階の所定入力電圧を印加し、この
入力電圧に応じた差動増幅器1の出力電圧の変化量を計
測することによって、差動増幅器1の入力オフセット電
圧や利得を測定する。
せ、電気的特性の測定精度を改善する。 【構成】 差動増幅器1の二つの差動入力端子2,4
に、抵抗値の等しい二つの抵抗8,9の一端を接続し、
その抵抗8,9の他端を共通接続し、その共通接続点に
電圧源3からのバイアス電圧を与える。そして、差動入
力端子4に電流源10から所定の電流を与えて、差動入
力端子2,4間に2段階の所定入力電圧を印加し、この
入力電圧に応じた差動増幅器1の出力電圧の変化量を計
測することによって、差動増幅器1の入力オフセット電
圧や利得を測定する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は差動増幅器を内蔵した集
積回路装置の計測方法に関する。
積回路装置の計測方法に関する。
【0002】
【従来の技術】差動増幅回路は、整合性の良い素子を用
いて回路構成を行ない、かつ差動入力端に平衡した入力
バイアスを与えることを配慮していれば、平衡した出力
電圧が得られることと、周囲温度の変化によって特性が
変化しにくいことから、多段直結接続された増幅器を構
成するのに好都合であり、集積回路装値において多用さ
れている。しかしながら、集積回路装値内部に集積化さ
れた素子、たとえばトランジスタや抵抗等は、常に整合
性が良いとは限らず、酸化膜のエッチング精度、拡散炉
内の温度分布、拡散炉内の不純物濃度の分布等によって
多少のばらつきを有している。この素子の相対ばらつき
が、差動増幅器の動作のアンバランスに関与して来る。
特に、多段直結接続された増幅器では、初段の増幅器が
オフセット電圧を発生すると、後段の増幅器がそのオフ
セット電圧を更に増幅することから、初段増幅器の入力
オフセット電圧の特性が最も重視される。
いて回路構成を行ない、かつ差動入力端に平衡した入力
バイアスを与えることを配慮していれば、平衡した出力
電圧が得られることと、周囲温度の変化によって特性が
変化しにくいことから、多段直結接続された増幅器を構
成するのに好都合であり、集積回路装値において多用さ
れている。しかしながら、集積回路装値内部に集積化さ
れた素子、たとえばトランジスタや抵抗等は、常に整合
性が良いとは限らず、酸化膜のエッチング精度、拡散炉
内の温度分布、拡散炉内の不純物濃度の分布等によって
多少のばらつきを有している。この素子の相対ばらつき
が、差動増幅器の動作のアンバランスに関与して来る。
特に、多段直結接続された増幅器では、初段の増幅器が
オフセット電圧を発生すると、後段の増幅器がそのオフ
セット電圧を更に増幅することから、初段増幅器の入力
オフセット電圧の特性が最も重視される。
【0003】これらのことから、差動増幅器のオフセッ
ト電圧や利得等の特性は、製造過程の各段階に応じて、
DCテスター、ACテスターおよびAC評価ユニット等
を用いて検査を行なっている。DCテスターを用いたD
C検査は、後工程の歩留まりを高くするために、ウエハ
状態の半完成品の段階で集積回路装値の電気的特性を検
査している。従って、DCテスターによる測定精度が悪
いと、後工程の歩留まりを悪化する要因となり、DC検
査工程における高精度の測定が望まれる。
ト電圧や利得等の特性は、製造過程の各段階に応じて、
DCテスター、ACテスターおよびAC評価ユニット等
を用いて検査を行なっている。DCテスターを用いたD
C検査は、後工程の歩留まりを高くするために、ウエハ
状態の半完成品の段階で集積回路装値の電気的特性を検
査している。従って、DCテスターによる測定精度が悪
いと、後工程の歩留まりを悪化する要因となり、DC検
査工程における高精度の測定が望まれる。
【0004】以下に従来の構成について、図3を参照し
ながら説明する。図3において、差動増幅器1の非反転
入力端子2に電圧源3を接続し、差動増幅器1の反転入
力端子4に電圧源5を接続し、差動増幅器1の入力端に
入力電圧を与える。そして、出力端子6に接続された電
圧計7で出力電圧を測定する構成にしている。
ながら説明する。図3において、差動増幅器1の非反転
入力端子2に電圧源3を接続し、差動増幅器1の反転入
力端子4に電圧源5を接続し、差動増幅器1の入力端に
入力電圧を与える。そして、出力端子6に接続された電
圧計7で出力電圧を測定する構成にしている。
【0005】このように構成された、集積回路装置の計
測方法について説明する。差動増幅器1の利得を測定す
る場合、差動増幅器1の非反転入力端子2に電圧源3の
基準電圧を与え、反転入力端子4に電圧源5の電圧を与
える。そして、電圧源3の電圧を固定して、電圧源5の
電圧を可変し、差動増幅器1の出力電圧が「高」または
「低」の状態に固定されるように、電圧源5の電圧を設
定する。すなわち、差動増幅器1の出力トランジスタを
飽和状態または遮断状態にする。これは、製造工程で用
いる電圧源3,5が必ずしも安定な電圧源ではなく、周
囲の環境から電圧源3,5に多くのノイズが混入するこ
とがあり、高利得の増幅器1を測定する時、特に増幅器
1の出力電圧が不安定になり、測定値の信頼性が悪化す
るが、その悪影響を排除するためである。
測方法について説明する。差動増幅器1の利得を測定す
る場合、差動増幅器1の非反転入力端子2に電圧源3の
基準電圧を与え、反転入力端子4に電圧源5の電圧を与
える。そして、電圧源3の電圧を固定して、電圧源5の
電圧を可変し、差動増幅器1の出力電圧が「高」または
「低」の状態に固定されるように、電圧源5の電圧を設
定する。すなわち、差動増幅器1の出力トランジスタを
飽和状態または遮断状態にする。これは、製造工程で用
いる電圧源3,5が必ずしも安定な電圧源ではなく、周
囲の環境から電圧源3,5に多くのノイズが混入するこ
とがあり、高利得の増幅器1を測定する時、特に増幅器
1の出力電圧が不安定になり、測定値の信頼性が悪化す
るが、その悪影響を排除するためである。
【0006】たとえば、電源電圧10V、利得100d
B、出力電圧振幅5VP-Pの差動増幅器の特性を測定す
る場合、非反転入力端子2に対して反転入力端子4の入
力電圧を−0.05mV以下に設定すれば、差動増幅器
の出力状態を「高」に固定することができ、逆に、反転
入力端子4の入力電圧を0.05mV以上に設定すれ
ば、差動増幅器の出力状態を「低」に固定することがで
きる。
B、出力電圧振幅5VP-Pの差動増幅器の特性を測定す
る場合、非反転入力端子2に対して反転入力端子4の入
力電圧を−0.05mV以下に設定すれば、差動増幅器
の出力状態を「高」に固定することができ、逆に、反転
入力端子4の入力電圧を0.05mV以上に設定すれ
ば、差動増幅器の出力状態を「低」に固定することがで
きる。
【0007】従って、入力電圧を+1mVと−1mVの
二つのレベルに設定して、差動増幅器の出力電圧が
「低」から「高」へ変化した場合は、入力オフセット電
圧が±1mV以内と判断できる。そして、入力電圧を±
1mVの範囲でレベル変化させても、差動増幅器の出力
電圧が「低」または「高」の状態から変化しなければ、
入力オフセット電圧が±1mV以上と判断できる。
二つのレベルに設定して、差動増幅器の出力電圧が
「低」から「高」へ変化した場合は、入力オフセット電
圧が±1mV以内と判断できる。そして、入力電圧を±
1mVの範囲でレベル変化させても、差動増幅器の出力
電圧が「低」または「高」の状態から変化しなければ、
入力オフセット電圧が±1mV以上と判断できる。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】上述したように、差動
増幅器1の非反転入力端子2と反転入力端子4の間の入
力電圧を入力オフセット電圧より小さな誤差範囲内で設
定する必要がある。具体的には、電圧源3,5の電圧設
定に際して、数百μV以下の精度で設定する必要があ
り、極めて高精度の電圧設定が要求される。
増幅器1の非反転入力端子2と反転入力端子4の間の入
力電圧を入力オフセット電圧より小さな誤差範囲内で設
定する必要がある。具体的には、電圧源3,5の電圧設
定に際して、数百μV以下の精度で設定する必要があ
り、極めて高精度の電圧設定が要求される。
【0009】しかしながら、検査設備に用いる電圧源の
設定誤差は、印加する電圧レンジに対して約±0.2%
であるため、設定電圧を2.5Vとした場合、設定電圧
のばらつきが最大で±5mVの誤差となり、入力オフセ
ット電圧の測定に必要とされる充分な精度が得れない。
このことから、上述の従来の測定方法を用いた場合、設
定電圧のばらつき分を配慮して、設定電圧を大きめに設
定しなければ、差動増幅器1の動作が確実にならなかっ
た。このため、従来の測定方法では、差動増幅器1のオ
フセット電圧の実力が±1mV以内であっても、±11
mVの保証しかできなかった。
設定誤差は、印加する電圧レンジに対して約±0.2%
であるため、設定電圧を2.5Vとした場合、設定電圧
のばらつきが最大で±5mVの誤差となり、入力オフセ
ット電圧の測定に必要とされる充分な精度が得れない。
このことから、上述の従来の測定方法を用いた場合、設
定電圧のばらつき分を配慮して、設定電圧を大きめに設
定しなければ、差動増幅器1の動作が確実にならなかっ
た。このため、従来の測定方法では、差動増幅器1のオ
フセット電圧の実力が±1mV以内であっても、±11
mVの保証しかできなかった。
【0010】本発明は、上記の課題を解決するもので、
入力電圧の設定精度を向上し、オフセット電圧の測定精
度を向上することを目的としている。
入力電圧の設定精度を向上し、オフセット電圧の測定精
度を向上することを目的としている。
【0011】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に本発明の集積回路装置の計測方法は、差動増幅器の二
つの差動入力端子のうち少なくとも一方の差動入力端子
に抵抗を介して前記二つの差動入力端子に同じバイアス
電圧を与え、前記抵抗に2段階の所定電流を与え、前記
2段階の所定電流に応じた前記差動増幅器の出力電圧の
変化量を測定し、前記差動増幅器の動作の良否を判断す
ることを特徴とする集積回路装置の計測方法である。
に本発明の集積回路装置の計測方法は、差動増幅器の二
つの差動入力端子のうち少なくとも一方の差動入力端子
に抵抗を介して前記二つの差動入力端子に同じバイアス
電圧を与え、前記抵抗に2段階の所定電流を与え、前記
2段階の所定電流に応じた前記差動増幅器の出力電圧の
変化量を測定し、前記差動増幅器の動作の良否を判断す
ることを特徴とする集積回路装置の計測方法である。
【0012】第2の発明の集積回路装置の計測方法は、
バイアス電源回路と、二つの差動入力端が前記バイアス
電源回路の出力端に各々接続され、かつ少なくとも前記
差動入力端の一方が抵抗を介して前記バイアス電源回路
の出力端に接続された差動増幅器と、前記一方の差動入
力端に接続された外部入力端子を備えた集積回路装置を
被測定回路とし、前記抵抗の設計値と外部入力端子に与
える電流の積から推定される2段階の所定入力電圧を前
記二つの差動入力端の間に与え、前記2段階の所定入力
電圧に応じた前記差動増幅器の出力電圧の変化量を測定
し、前記差動増幅器の動作の良否を判断することを特徴
とする集積回路装置の計測方法である。
バイアス電源回路と、二つの差動入力端が前記バイアス
電源回路の出力端に各々接続され、かつ少なくとも前記
差動入力端の一方が抵抗を介して前記バイアス電源回路
の出力端に接続された差動増幅器と、前記一方の差動入
力端に接続された外部入力端子を備えた集積回路装置を
被測定回路とし、前記抵抗の設計値と外部入力端子に与
える電流の積から推定される2段階の所定入力電圧を前
記二つの差動入力端の間に与え、前記2段階の所定入力
電圧に応じた前記差動増幅器の出力電圧の変化量を測定
し、前記差動増幅器の動作の良否を判断することを特徴
とする集積回路装置の計測方法である。
【0013】
【作用】本発明の構成により、差動増幅器の入力端子間
に接続された抵抗に所定の電流を流し、抵抗の電圧降下
で差動入力電圧の設定するため、差動入力電圧が一定に
設定される。従って、バイアス用の基準電圧源がノイズ
成分を出力するような不安定なものであっても、差動増
幅器がそのノイズ成分を増幅することはなく、そのこと
が入力電圧の設定精度を悪化する要因にならない。
に接続された抵抗に所定の電流を流し、抵抗の電圧降下
で差動入力電圧の設定するため、差動入力電圧が一定に
設定される。従って、バイアス用の基準電圧源がノイズ
成分を出力するような不安定なものであっても、差動増
幅器がそのノイズ成分を増幅することはなく、そのこと
が入力電圧の設定精度を悪化する要因にならない。
【0014】
【実施例】以下に本発明の実施例について図面を参照し
ながら説明する。図1は本発明の一実施例にかかる集積
回路装置の計測方法を説明するための測定回路を示す構
成図である。
ながら説明する。図1は本発明の一実施例にかかる集積
回路装置の計測方法を説明するための測定回路を示す構
成図である。
【0015】基準電圧用の電圧源3に抵抗8,9の一端
を共通接続し、抵抗8の他端に差動増幅器1の非反転入
力端子2を接続し、抵抗9の他端に反転入力端子4を接
続し、非反転入力端子2及び反転入力端子4に同じバイ
アス電圧を与える。そして、反転入力端子4に電流源1
0を接続し、抵抗9に2段階の所定電流を与え、抵抗9
の電圧降下を差動入力電圧として差動増幅器1の差動入
力端の間に与える。差動増幅器1の出力端子5に電圧計
7を接続し、差動増幅器1の出力電圧の変化量を測定す
る。
を共通接続し、抵抗8の他端に差動増幅器1の非反転入
力端子2を接続し、抵抗9の他端に反転入力端子4を接
続し、非反転入力端子2及び反転入力端子4に同じバイ
アス電圧を与える。そして、反転入力端子4に電流源1
0を接続し、抵抗9に2段階の所定電流を与え、抵抗9
の電圧降下を差動入力電圧として差動増幅器1の差動入
力端の間に与える。差動増幅器1の出力端子5に電圧計
7を接続し、差動増幅器1の出力電圧の変化量を測定す
る。
【0016】以上のように構成された本実施例の集積回
路装置の計測方法について、以下に説明する。
路装置の計測方法について、以下に説明する。
【0017】本実施例の計測方法を要約すると、電流源
10で抵抗9に2段階の所定電流を与え、抵抗9に生じ
る電圧降下を差動入力電圧として差動増幅器1の反転入
力端子4と非反転入力端子2との間に与える。そして、
差動増幅器1の出力端子5の出力電圧を測定し、2段階
の入力電圧に対応した出力電圧の変化量を確認すること
で、電気的特性の良否を判定するものである。
10で抵抗9に2段階の所定電流を与え、抵抗9に生じ
る電圧降下を差動入力電圧として差動増幅器1の反転入
力端子4と非反転入力端子2との間に与える。そして、
差動増幅器1の出力端子5の出力電圧を測定し、2段階
の入力電圧に対応した出力電圧の変化量を確認すること
で、電気的特性の良否を判定するものである。
【0018】さらに詳しく言えば、高利得の差動増幅器
の入力オフセット電圧の測定を行う場合は、抵抗9の電
圧降下が差動増幅器1の入力オフセット電圧の最大許容
値になるように、電流源10の電流値を正負の二つの電
流値に設定し、差動増幅器1の出力電圧の変化量を測定
する。そして、差動入力電圧の極性を切り替えても、差
動増幅器の出力電圧が「高」または「低」の状態を維持
する時は、被測定回路である差動増幅器1が不良品であ
ると判断し、逆に、差動増幅器の出力電圧が差動入力電
圧の極性の切り替えに応じて「高」または「低」の状態
に切り替る時は、差動増幅器1が良品であると判断す
る。
の入力オフセット電圧の測定を行う場合は、抵抗9の電
圧降下が差動増幅器1の入力オフセット電圧の最大許容
値になるように、電流源10の電流値を正負の二つの電
流値に設定し、差動増幅器1の出力電圧の変化量を測定
する。そして、差動入力電圧の極性を切り替えても、差
動増幅器の出力電圧が「高」または「低」の状態を維持
する時は、被測定回路である差動増幅器1が不良品であ
ると判断し、逆に、差動増幅器の出力電圧が差動入力電
圧の極性の切り替えに応じて「高」または「低」の状態
に切り替る時は、差動増幅器1が良品であると判断す
る。
【0019】たとえば、電源電圧10V、利得100d
B、最大出力電圧振幅10VP-P、入力オフセット電圧
がゼロの差動増幅器の場合、非反転入力端子2に対して
反転入力端子4の入力電圧を−0.05mV以下に設定
すれば、差動増幅器の出力状態を「高」に固定すること
ができ、逆に、反転入力端子4の入力電圧を0.05m
V以上に設定すれば、差動増幅器の出力状態を「低」に
固定することができる。
B、最大出力電圧振幅10VP-P、入力オフセット電圧
がゼロの差動増幅器の場合、非反転入力端子2に対して
反転入力端子4の入力電圧を−0.05mV以下に設定
すれば、差動増幅器の出力状態を「高」に固定すること
ができ、逆に、反転入力端子4の入力電圧を0.05m
V以上に設定すれば、差動増幅器の出力状態を「低」に
固定することができる。
【0020】従って、抵抗値100Ωの抵抗9に10μ
Aまたは−10μAの電流を与え、入力電圧を+1mV
と−1mVの二つのレベルに設定すると、入力オフセッ
ト電圧がゼロであれば、入力電圧の変化に対応して差動
増幅器の出力電圧が「低」または「高」に切り替わる。
すなわち、差動増幅器の出力電圧が「低」または「高」
に切り替われば、入力オフセット電圧が±1mV以内と
判断できる。そして、入力電圧を±1mVの範囲でレベ
ル変化させても、差動増幅器の出力電圧が「低」または
「高」の状態から変化しなければ、入力オフセット電圧
が±1mV以上と判断できる。
Aまたは−10μAの電流を与え、入力電圧を+1mV
と−1mVの二つのレベルに設定すると、入力オフセッ
ト電圧がゼロであれば、入力電圧の変化に対応して差動
増幅器の出力電圧が「低」または「高」に切り替わる。
すなわち、差動増幅器の出力電圧が「低」または「高」
に切り替われば、入力オフセット電圧が±1mV以内と
判断できる。そして、入力電圧を±1mVの範囲でレベ
ル変化させても、差動増幅器の出力電圧が「低」または
「高」の状態から変化しなければ、入力オフセット電圧
が±1mV以上と判断できる。
【0021】次に、入力電圧の設定精度について述べる
と、抵抗8及び抵抗9の抵抗値をそれぞれ100Ωと
し、電流源4の電流値を10μAとした場合、電流源の
設定精度が電圧源の設定精度と同じく±0.2%の誤差
とすると、差動入力電圧の設定が(1±0.002)m
Vとなり、±2μVの誤差が生じるだけである。すなわ
ち、本実施例の設定誤差は、従来例の設定誤差±5mV
に比べて1/1000以下のはるかに小さい値となる。
通常、差動増幅器の入力オフセット電圧は±数mVであ
るから、本実施例の設定誤差は無視できる。
と、抵抗8及び抵抗9の抵抗値をそれぞれ100Ωと
し、電流源4の電流値を10μAとした場合、電流源の
設定精度が電圧源の設定精度と同じく±0.2%の誤差
とすると、差動入力電圧の設定が(1±0.002)m
Vとなり、±2μVの誤差が生じるだけである。すなわ
ち、本実施例の設定誤差は、従来例の設定誤差±5mV
に比べて1/1000以下のはるかに小さい値となる。
通常、差動増幅器の入力オフセット電圧は±数mVであ
るから、本実施例の設定誤差は無視できる。
【0022】本実施例では、抵抗9に電流源10から所
定の電流を与えて、差動増幅器1の差動入力電圧の設定
を行なうため、基準用の電圧源3の出力電圧が不安定で
あったり、出力電圧に雑音電圧が重複していても、差動
増幅器1の差動入力端子2,4間に不要な雑音電圧が混
入しないので、安定な測定ができる。また、仮に差動増
幅器1の差動入力端子2,4間に、数百μVの不要な雑
音電圧が混入しても、差動増幅器1の出力電圧が出力ダ
イナミックレンジを越える程度に充分に大きな入力電圧
が印加されているため、差動増幅器1の出力電圧が
「低」または「高」の状態に固定され、差動増幅器1の
出力端子6に雑音電圧を出力する心配がほとんどない。
定の電流を与えて、差動増幅器1の差動入力電圧の設定
を行なうため、基準用の電圧源3の出力電圧が不安定で
あったり、出力電圧に雑音電圧が重複していても、差動
増幅器1の差動入力端子2,4間に不要な雑音電圧が混
入しないので、安定な測定ができる。また、仮に差動増
幅器1の差動入力端子2,4間に、数百μVの不要な雑
音電圧が混入しても、差動増幅器1の出力電圧が出力ダ
イナミックレンジを越える程度に充分に大きな入力電圧
が印加されているため、差動増幅器1の出力電圧が
「低」または「高」の状態に固定され、差動増幅器1の
出力端子6に雑音電圧を出力する心配がほとんどない。
【0023】次に、差動増幅器1の利得を測定する場合
について説明する。たとえば、電源電圧10V、利得4
0dB、最大出力電圧振幅10VP-Pの差動増幅器の場
合、抵抗8及び抵抗9の抵抗値をそれぞれ1kΩとし、
電流源10から±10μAを抵抗9に与え、非反転入力
端子2に対して反転入力端子4の入力電圧を−10mV
に設定すれば、差動増幅器の出力電圧は6Vになり、逆
に、反転入力端子4の入力電圧を10mVに設定すれ
ば、差動増幅器の出力電圧は4Vになる。このように、
電流源10の電流レベルを2水準に振って、入力電圧の
変動量と出力電圧の変動量との比を求める。すなわち、
電流源10で設定される差動入力電圧の変化量ΔVINを
変化させ、そのときの出力端子6の出力電圧の変化量Δ
VOUTを測定し、出力電圧と入力電圧の変化量の比ΔV
OUT/ΔVINを演算すれば、差動増幅器1の利得が求め
られ、差動増幅器1の利得を測定することができる。
について説明する。たとえば、電源電圧10V、利得4
0dB、最大出力電圧振幅10VP-Pの差動増幅器の場
合、抵抗8及び抵抗9の抵抗値をそれぞれ1kΩとし、
電流源10から±10μAを抵抗9に与え、非反転入力
端子2に対して反転入力端子4の入力電圧を−10mV
に設定すれば、差動増幅器の出力電圧は6Vになり、逆
に、反転入力端子4の入力電圧を10mVに設定すれ
ば、差動増幅器の出力電圧は4Vになる。このように、
電流源10の電流レベルを2水準に振って、入力電圧の
変動量と出力電圧の変動量との比を求める。すなわち、
電流源10で設定される差動入力電圧の変化量ΔVINを
変化させ、そのときの出力端子6の出力電圧の変化量Δ
VOUTを測定し、出力電圧と入力電圧の変化量の比ΔV
OUT/ΔVINを演算すれば、差動増幅器1の利得が求め
られ、差動増幅器1の利得を測定することができる。
【0024】この場合、差動増幅器1の出力トランジス
タ(図示せず)が活性状態で動作しているため、差動増
幅器1の入力端子間に雑音電圧が混入しやすくなるが、
入力端子2と4の間に容量を付加すれば、差動増幅器1
の出力端子6に雑音電圧が出力されず、出力電圧を安定
に測定することができる。
タ(図示せず)が活性状態で動作しているため、差動増
幅器1の入力端子間に雑音電圧が混入しやすくなるが、
入力端子2と4の間に容量を付加すれば、差動増幅器1
の出力端子6に雑音電圧が出力されず、出力電圧を安定
に測定することができる。
【0025】すなわち、本実施例の集積回路装置の計測
方法では、差動増幅器1の入力オフセット電圧の測定だ
けでなく、差動増幅器1の利得の測定にも十分に応用で
き、高精度で安定な測定ができる。
方法では、差動増幅器1の入力オフセット電圧の測定だ
けでなく、差動増幅器1の利得の測定にも十分に応用で
き、高精度で安定な測定ができる。
【0026】なお、本実施例は抵抗8,9の抵抗値のバ
ランスを保った最適の測定系を示したが、入力電流が小
さい差動増幅器の測定を行なう時には、必ずしも抵抗
8,9の抵抗値のバランスを保つ必要がなく、抵抗9を
通じて反転入力端子4にバイアス電流を与える際、抵抗
9での電圧降下が小さければ、抵抗8を短絡しても支障
がない。また、本発明の非反転入力端子2と反転入力端
子4との接続を置き換えても同様の効果があることは言
うまでもない。
ランスを保った最適の測定系を示したが、入力電流が小
さい差動増幅器の測定を行なう時には、必ずしも抵抗
8,9の抵抗値のバランスを保つ必要がなく、抵抗9を
通じて反転入力端子4にバイアス電流を与える際、抵抗
9での電圧降下が小さければ、抵抗8を短絡しても支障
がない。また、本発明の非反転入力端子2と反転入力端
子4との接続を置き換えても同様の効果があることは言
うまでもない。
【0027】次に、本発明の第2の実施例について説明
する。集積回路装値内部に集積化された被測定回路は、
入力用外部端子または出力用外部端子のうち、いずれか
1個の外部端子が一つの回路ブロックに接続される場合
が多く、2個以上の外部端子が一つの回路ブロックに接
続されることは少ない。従って、被測定回路の直接的な
電気的特性を測定することが困難である。
する。集積回路装値内部に集積化された被測定回路は、
入力用外部端子または出力用外部端子のうち、いずれか
1個の外部端子が一つの回路ブロックに接続される場合
が多く、2個以上の外部端子が一つの回路ブロックに接
続されることは少ない。従って、被測定回路の直接的な
電気的特性を測定することが困難である。
【0028】第2の実施例の目的は、このような不都合
を排除するもので、間接的な電気的特性の測定であって
も、精度の高い差動増幅器の入力オフセット電圧の計測
方法を提供することにある。
を排除するもので、間接的な電気的特性の測定であって
も、精度の高い差動増幅器の入力オフセット電圧の計測
方法を提供することにある。
【0029】図2は本発明の第2の実施例の構成を示
す。図2に示す被測定回路である差動増幅器1は、集積
回路装値11の内部に内蔵されており、差動増幅器1の
非反転入力端子2及び反転入力端子4に各々同じ抵抗値
の内部抵抗12、13の一端が接続され、内部抵抗1
2、13の他端はバイアス電源回路14の一端に接続さ
れたものが一般的である。内部抵抗12は、差動増幅器
1の入力端子間にオフセット電圧が発生しないように、
入力バイアス電圧のバランスを保つために設けられるも
のであって、オフセット電圧特性を重視しない場合、差
動増幅器1の入力インピーダンスが高い場合には、設計
上の選択的事項で内部抵抗12,13をアンバランスに
したり、内部抵抗12を除去したりすることがある。
す。図2に示す被測定回路である差動増幅器1は、集積
回路装値11の内部に内蔵されており、差動増幅器1の
非反転入力端子2及び反転入力端子4に各々同じ抵抗値
の内部抵抗12、13の一端が接続され、内部抵抗1
2、13の他端はバイアス電源回路14の一端に接続さ
れたものが一般的である。内部抵抗12は、差動増幅器
1の入力端子間にオフセット電圧が発生しないように、
入力バイアス電圧のバランスを保つために設けられるも
のであって、オフセット電圧特性を重視しない場合、差
動増幅器1の入力インピーダンスが高い場合には、設計
上の選択的事項で内部抵抗12,13をアンバランスに
したり、内部抵抗12を除去したりすることがある。
【0030】そして、バイアス電源回路14の他端はG
ND用外部端子15が接続され、バイアス電源回路14
と差動増幅器1は電源用外部端子16とGND用外部端
子15との間に電源電圧が与えられることで、これらの
回路が動作する構成になっている。外部端子17とGN
D用外部端子15との間に内部抵抗18が接続され、内
部抵抗12,13及び18は同一基板上に同一拡散層も
しくは同一のシリコン多結晶層で形成された抵抗であ
る。そして、外部入力端子19は反転入力端子4に接続
され、出力端子6は差動増幅器1の出力端に直接に接続
されたものか、あるいは、別種の増幅器、スイッチ回路
等の電子回路を介して間接的に接続されたものであって
もよい。第2の実施例の被測定回路は、以上のように破
線で示された集積回路装値11の内部に構成されてい
る。
ND用外部端子15が接続され、バイアス電源回路14
と差動増幅器1は電源用外部端子16とGND用外部端
子15との間に電源電圧が与えられることで、これらの
回路が動作する構成になっている。外部端子17とGN
D用外部端子15との間に内部抵抗18が接続され、内
部抵抗12,13及び18は同一基板上に同一拡散層も
しくは同一のシリコン多結晶層で形成された抵抗であ
る。そして、外部入力端子19は反転入力端子4に接続
され、出力端子6は差動増幅器1の出力端に直接に接続
されたものか、あるいは、別種の増幅器、スイッチ回路
等の電子回路を介して間接的に接続されたものであって
もよい。第2の実施例の被測定回路は、以上のように破
線で示された集積回路装値11の内部に構成されてい
る。
【0031】そして、第2の実施例の測定系の回路は、
電圧源20が電源用外部端子16とGND用外部端子1
5との間に接続され、電流源10が外部入力端子19を
介して内部抵抗13の一端に接続され、電圧計7が差動
増幅器1の出力端子6と接地電位との間に接続された構
成となっている。
電圧源20が電源用外部端子16とGND用外部端子1
5との間に接続され、電流源10が外部入力端子19を
介して内部抵抗13の一端に接続され、電圧計7が差動
増幅器1の出力端子6と接地電位との間に接続された構
成となっている。
【0032】以上のように、差動増幅器1及び入力バイ
アス回路が集積回路装値内部に集積化された第2の実施
例の集積回路装置の計測方法について、以下に説明す
る。
アス回路が集積回路装値内部に集積化された第2の実施
例の集積回路装置の計測方法について、以下に説明す
る。
【0033】入力バイアス回路が集積回路装置内部に集
積化された場合の入力オフセット電圧を計測する第1の
方法は、内部抵抗13が設計値どうりに作り込まれるも
のと仮定して計測する方法である。これは、外部入力端
子19に印加される電流値と内部抵抗13の設計値との
積が、差動増幅器1の入力オフセット電圧の最大許容値
になるように、電流源10から外部入力端子19に印加
される電流を設定し、電流源10の電流の極性を正負二
つの値に切り替え、差動増幅器1の出力電圧の変化量を
測定する。そして、差動入力電圧の極性を切り替えて
も、差動増幅器の出力電圧が「高」または「低」の状態
を維持する時は、被測定回路である差動増幅器1が不良
品であると判断し、逆に、差動増幅器の出力電圧が差動
入力電圧の極性の切り替えに応じて「高」または「低」
の状態に切り替る時は、差動増幅器1が良品であると判
断する。
積化された場合の入力オフセット電圧を計測する第1の
方法は、内部抵抗13が設計値どうりに作り込まれるも
のと仮定して計測する方法である。これは、外部入力端
子19に印加される電流値と内部抵抗13の設計値との
積が、差動増幅器1の入力オフセット電圧の最大許容値
になるように、電流源10から外部入力端子19に印加
される電流を設定し、電流源10の電流の極性を正負二
つの値に切り替え、差動増幅器1の出力電圧の変化量を
測定する。そして、差動入力電圧の極性を切り替えて
も、差動増幅器の出力電圧が「高」または「低」の状態
を維持する時は、被測定回路である差動増幅器1が不良
品であると判断し、逆に、差動増幅器の出力電圧が差動
入力電圧の極性の切り替えに応じて「高」または「低」
の状態に切り替る時は、差動増幅器1が良品であると判
断する。
【0034】この計測方法では、出来上がった抵抗13
のばらつきに測定精度が決定され、製造工程が安定して
いれば、抵抗の製造ばらつきである±15%程度の精度
が期待できる。
のばらつきに測定精度が決定され、製造工程が安定して
いれば、抵抗の製造ばらつきである±15%程度の精度
が期待できる。
【0035】差動増幅器1の出力端から出力端子6の間
に他の電子回路が接続されている場合、出力電圧が変化
しない動作不良があったとき、差動増幅器1と他の電子
回路の回路のない、何れの動作不良かを特定できない
が、差動増幅器1の動作不良であっても、他の電子回路
の動作不良であっても、集積回路装値全体として不良品
であるから、不良と判断する。従って、差動増幅器1の
出力端が出力端子6に直接接続されていなくても、入力
オフセット電圧を計測するのに支障がない。
に他の電子回路が接続されている場合、出力電圧が変化
しない動作不良があったとき、差動増幅器1と他の電子
回路の回路のない、何れの動作不良かを特定できない
が、差動増幅器1の動作不良であっても、他の電子回路
の動作不良であっても、集積回路装値全体として不良品
であるから、不良と判断する。従って、差動増幅器1の
出力端が出力端子6に直接接続されていなくても、入力
オフセット電圧を計測するのに支障がない。
【0036】しかしながら、前述の第1の計測方法で
は、内部抵抗13の抵抗値が定かではなく、拡散工程等
の製造工程でイレギュラーが発生した場合、必ずしも、
±15%のばらつき内に収まるとは限らないため、測定
値の信頼性がよくない。
は、内部抵抗13の抵抗値が定かではなく、拡散工程等
の製造工程でイレギュラーが発生した場合、必ずしも、
±15%のばらつき内に収まるとは限らないため、測定
値の信頼性がよくない。
【0037】第2の計測方法の目的は、拡散工程等の製
造工程でイレギュラーが発生した場合でも、所望のばら
つき範囲内の入力オフセット電圧を保証する計測方法を
提供することにある。
造工程でイレギュラーが発生した場合でも、所望のばら
つき範囲内の入力オフセット電圧を保証する計測方法を
提供することにある。
【0038】第2の計測方法では、前述の第1の計測方
法に加えて、外部端子17とGND用外部端子15との
電圧−電流特性を測定することで、外部端子17とGN
D用外部端子15との間に接続され、内部抵抗13と同
じ拡散層で形成された内部抵抗18を測定し、内部抵抗
18が抵抗の製造ばらつきである±15%の範囲内に収
まっているものを選択する。
法に加えて、外部端子17とGND用外部端子15との
電圧−電流特性を測定することで、外部端子17とGN
D用外部端子15との間に接続され、内部抵抗13と同
じ拡散層で形成された内部抵抗18を測定し、内部抵抗
18が抵抗の製造ばらつきである±15%の範囲内に収
まっているものを選択する。
【0039】すると、同じ拡散層で形成された抵抗同士
は±2%程度のばらつき範囲内に収まるから、第2の計
測方法ではほぼ±15%の測定精度で入力オフセット電
圧の測定値が保証される。
は±2%程度のばらつき範囲内に収まるから、第2の計
測方法ではほぼ±15%の測定精度で入力オフセット電
圧の測定値が保証される。
【0040】
【発明の効果】以上のように本発明は、被測定回路の差
動増幅器に入力バイアスを与える抵抗に2段階の所定電
流を流し、抵抗の端子間電圧を差動入力端子間に与える
から、差動入力端に一定の入力電圧が与えられ、差動入
力端に雑音電圧が混入しにくく、差動増幅器の出力電圧
が安定に測定され、差動増幅器の電気的特性が高精度に
測定できる。
動増幅器に入力バイアスを与える抵抗に2段階の所定電
流を流し、抵抗の端子間電圧を差動入力端子間に与える
から、差動入力端に一定の入力電圧が与えられ、差動入
力端に雑音電圧が混入しにくく、差動増幅器の出力電圧
が安定に測定され、差動増幅器の電気的特性が高精度に
測定できる。
【図1】本発明の一実施例における集積回路装置の計測
方法を説明するための測定回路図
方法を説明するための測定回路図
【図2】本発明の第2の実施例の集積回路装置の計測方
法を説明するための測定回路図
法を説明するための測定回路図
【図3】従来における集積回路装置の計測方法を説明す
るための測定回路図
るための測定回路図
1 差動増幅器 2 非反転入力端子 3,5,20 電圧源 4 反転入力端子 6 出力端子 7 電圧計 8,9 抵抗 10 電流源 11 集積回路装置 12,13,18 内部抵抗 14 バイアス電源回路 15 GND用外部端子 16 電源用外部端子 19 外部入力端子
Claims (2)
- 【請求項1】差動増幅器の二つの差動入力端子にそれぞ
れ抵抗を介して同じバイアス電圧を与えるとともに、前
記抵抗の一方に2段階の所定電流を与え、前記所定電流
に応じた前記差動増幅器の出力電圧の変化量を測定し
て、前記差動増幅器の動作の良否を判定することを特徴
とする集積回路装置の計測方法。 - 【請求項2】バイアス電源回路と、二つの差動入力端が
前記バイアス電源回路の出力端に各々接続され、かつ少
なくとも前記差動入力端の一方が抵抗を介して前記バイ
アス電源回路の出力端に接続された差動増幅器と、前記
一方の差動入力端に接続された外部入力端子を備えた集
積回路装置を被測定回路とし、前記抵抗の設計値と外部
入力端子に与える電流の積から推定される2段階の所定
入力電圧を前記二つの差動入力端の間に与え、前記2段
階の所定入力電圧に応じた前記差動増幅器の出力電圧の
変化量を測定し、前記差動増幅器の動作の良否を判断す
ることを特徴とする集積回路装置の計測方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3231438A JPH0572243A (ja) | 1991-09-11 | 1991-09-11 | 集積回路装置の計測方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3231438A JPH0572243A (ja) | 1991-09-11 | 1991-09-11 | 集積回路装置の計測方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0572243A true JPH0572243A (ja) | 1993-03-23 |
Family
ID=16923549
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3231438A Pending JPH0572243A (ja) | 1991-09-11 | 1991-09-11 | 集積回路装置の計測方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0572243A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012247341A (ja) * | 2011-05-30 | 2012-12-13 | Tokai Rika Co Ltd | 検出装置および電流センサ |
| JP2013183399A (ja) * | 2012-03-05 | 2013-09-12 | Handotai Rikougaku Kenkyu Center:Kk | ダイナミックコンパレータのためのオフセット電圧補正回路とそれを用いたダイナミックコンパレータ回路 |
| KR20150007246A (ko) * | 2013-07-10 | 2015-01-20 | 페어차일드 세미컨덕터 코포레이션 | 큰 공통 모드 입력 전압을 이용하는 차동 측정 |
-
1991
- 1991-09-11 JP JP3231438A patent/JPH0572243A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012247341A (ja) * | 2011-05-30 | 2012-12-13 | Tokai Rika Co Ltd | 検出装置および電流センサ |
| JP2013183399A (ja) * | 2012-03-05 | 2013-09-12 | Handotai Rikougaku Kenkyu Center:Kk | ダイナミックコンパレータのためのオフセット電圧補正回路とそれを用いたダイナミックコンパレータ回路 |
| KR20150007246A (ko) * | 2013-07-10 | 2015-01-20 | 페어차일드 세미컨덕터 코포레이션 | 큰 공통 모드 입력 전압을 이용하는 차동 측정 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP2003098010A (ja) | 電子回路の温度を測定する装置 | |
| CN112798868A (zh) | 引脚等效电阻检测电路、检测方法及芯片 | |
| JPH07244125A (ja) | Ic試験装置 | |
| US6914425B2 (en) | Measurement circuit with improved accuracy | |
| JPH0572243A (ja) | 集積回路装置の計測方法 | |
| US6968249B2 (en) | Current measuring circuit for measuring drive current to load | |
| CN113702710A (zh) | 电阻测试电路及电阻测试方法 | |
| CN117544121A (zh) | 差分放大器和仪表放大器的修调校准方法 | |
| KR0140949B1 (ko) | 반도체 장치 및 반도체기판에 형성된 더미 바이폴라 트랜지스터의 전류 증폭율 측정용 장치 | |
| CN113702711B (zh) | 电阻测试电路及电阻测试方法 | |
| US4733173A (en) | Electronic component measurement apparatus | |
| JPH0794683A (ja) | 自己診断機能を有する半導体集積回路装置 | |
| JP3011095B2 (ja) | 自己診断機能を有する半導体集積回路装置 | |
| JP3143036B2 (ja) | 抵抗率測定回路 | |
| JP4909192B2 (ja) | コンデンサ容量測定装置 | |
| JPH09243715A (ja) | 集積回路装置の電圧測定方法 | |
| JP3147486B2 (ja) | 半導体素子測定回路 | |
| JPH07183346A (ja) | 半導体テスト装置 | |
| JPS6347065Y2 (ja) | ||
| JPS60253883A (ja) | 定電流負荷兼定電圧印加電流測定器 | |
| JPH04240571A (ja) | 半導体装置の端子間差電圧測定方法 | |
| JP2948633B2 (ja) | 半導体装置の電圧測定方法 | |
| JPH1123664A (ja) | 半導体デバイスの測定回路 | |
| JP2919312B2 (ja) | 半導体装置の検査方法 | |
| JPH04244974A (ja) | 半導体集積回路の測定方法 |