JPH0573566U - 粉粒体検査装置 - Google Patents
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 処理量に影響されることなく安定した検査精
度を確保でき、また、照明効率を高めて高い検査精度を
確保できる粉粒体検査装置を提供する。 【構成】 拡散透過体(1)及び透明体(2)を相互に
平行対面させて配設し、粉粒体落下通路(S)を形成す
る。粉粒体落下通路(S)の上端に落下口(4a)を有
し、粉粒体(3)をシート状にして搬送する粉粒体搬送
手段(4)を設ける一方、下方に、粉粒体(3)を除去
する選別装置(5)を設ける。透明体(2)側に反射光
源(13)及び撮像装置(15)を設け、拡散透過体
(1)側に透過光源(16)を設ける。さらに、撮像装
置(15)からの画像信号を処理して粉粒体(3)中の
不良品を判別して不良信号を発生する画像処理手段(2
0)を設ける。不良信号に応答して選別装置(5)を作
動させる選別装置制御手段(21)を設ける。
度を確保でき、また、照明効率を高めて高い検査精度を
確保できる粉粒体検査装置を提供する。 【構成】 拡散透過体(1)及び透明体(2)を相互に
平行対面させて配設し、粉粒体落下通路(S)を形成す
る。粉粒体落下通路(S)の上端に落下口(4a)を有
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手段(4)を設ける一方、下方に、粉粒体(3)を除去
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0)を設ける。不良信号に応答して選別装置(5)を作
動させる選別装置制御手段(21)を設ける。
Description
【0001】
本考案は医薬品(細粒,顆粒,粒末),材料(セラミックス粉末,プラスチッ クチップ),食品(粉末原料,パン粉,フリーズドライ顆粒などの粉製品)など の粉粒体の外観を検査し、不良の粉粒体,異物等を選別除去するための検査装置 に関する。
【0002】
図14に従来の粉粒体検査装置を示す。以下、この装置について説明する。
【0003】 即ち、従来の装置によれば、まず、振動フィーダ(4)によって粉粒体(3) を薄いシート状にならして定量搬送し、この粉粒体(3)を落下ガイド(7)に よって規制しながら、一対の透明回転円筒(201),(202)間の粉粒体落 下通路(S)へ導く。
【0004】 そして、粉粒体落下通路(S)内を薄いシート状となって落下する粉粒体(3 )を、その落下途中の検査エリア(P)で一対の透明回転円筒(201),(2 02)内に設けた透過光源(16)及び反射光源(13)により照明するととも に、ラインセンサカメラ(15)によりその画像を撮像し、画像処理装置(20 )により、微分処理等を行った後良否の判定を行う。
【0005】 尚、図14に示すように、反射光源(13)及び透過光源(16)の前面には 拡散透過板(14)が設けられており、粉粒体(3)を均質的に照明することに よる検査精度の向上が企図されている。
【0006】 そして、粉粒体落下通路(S)から出た粉粒体(3)を回収ガイド(8)によ って選別装置(5)に案内(飛散,拡散防止)し、上記の検査により不良の粉粒 体や異物等が粉粒体(3)中に含まれていることが判明すれば、選別装置制御手 段(21)により選別装置(5)を駆動して、不良の粉粒体や異物等が含まれて いる領域の粉粒体(3)を吸引除去する。
【0007】 一方、正常な粉粒体については選別装置(5)をそのまま通過させ、選別装置 (5)の下方に設置した回収容器(6)に回収する。
【0008】 また、クリーナ(9),(10)及び静電除去装置(11),(12)により 透明回転円筒(201),(202)を清掃し、粉粒体(3)が付着することに よって生じる検査の障害を防止し、検査精度の安定化を図っている。
【0009】
ところで、前記粉粒体検査装置において検査精度の安定化を図るには、照明の 効果を考慮すると、落下させる粉粒体を所定厚以下の層状に形成する必要がある 。
【0010】 一方、処理量を増大しようとすれば、落下させる粉粒体の量を増加させる必要 があり、その上に検査精度の安定化を考慮すると、粉粒体を所定の厚さ以下とし 、且つ幅方向に拡大した層状に形成する必要がある。
【0011】 ところが、層状粉粒体を幅方向に拡大すると、透過光源(16)及び反射光源 (13)も同方向に拡大する必要があり、かかる場合には、透過光源(16)及 び反射光源(13)が大型化するため、これに伴って透明回転円筒(201), (202)の径を大きくする必要がある。
【0012】 その結果、振動フィーダ(4)の落下口(4a)から検査エリア(P)までの 粉粒体落下距離が長くなり、検査エリア内での粉粒体落下速度が増大するため、 画像処理装置(20)等の処理速度がこれに追随できず、いきおい検査精度が低 下するという問題があった。
【0013】 また、前記透明回転円筒(201),(202)が円筒体であるが故に、前記 拡散透過板(14)を前記検査エリア(P)に接近せしめるのに自ずと限界があ り、照明の効率が悪いという問題があった。
【0014】 本考案は以上の実情に鑑みなされたものであって、処理量に影響されることな く安定した検査精度を確保でき、また、照明効率を高めて高い検査精度を確保す ることができる検査装置の提供を目的とする。
【0015】
上記課題を解決するための本考案の請求項1に係る考案は、前後に所定間隔を あけて平行対面するように並設して相互対面部分で粉粒体落下通路を形成した拡 散透過体及び透明体と、前記粉粒体落下通路の上端に落下口を有し、粉粒体をシ ート状にして搬送する粉粒体搬送手段と、前記粉粒体落下通路の下方の粉粒体落 下経路近傍に設置して粉粒体を除去する選別装置と、前記粉粒体落下通路中を落 下している粉粒体を前記透明体の側から反射照明する反射光源と、前記粉粒体落 下通路中を落下している粉粒体を前記拡散透過体の側から透過照明する透過光源 と、前記粉粒体落下通路中を落下している粉粒体を前記透明体の側から撮像する 撮像装置と、この撮像装置の画像信号を処理することにより前記粉粒体落下通路 中を落下している粉粒体中の不良品,異物等の存在を検出して不良信号を発生す る画像処理手段と、この画像処理手段からの不良信号に応答して前記選別装置を 所定時間作動させることにより不良品粉粒体,異物等が含まれた粉粒体を除去さ せる選別装置制御手段とを備えたことを要旨とする。
【0016】 また、請求項2に係る考案は前後に所定間隔をあけて平行対面するように並設 して相互対面部分で粉粒体落下通路を形成した第一の可動体及び透明部材と、前 記粉粒体落下通路の上端に落下口を有し、粉粒体をシート状にして搬送する粉粒 体搬送手段と、前記粉粒体落下通路の下方の粉粒体落下経路近傍に設置して粉粒 体を除去する選別装置と、前記粉粒体落下通路中を落下している粉粒体を前記第 二の可動体の側から反射照明する反射光源と、前記粉粒体落下通路中を落下して いる粉粒体を前記第一の可動体の側から透過照明する透過光源と、前記粉粒体落 下通路中を落下している粉粒体を前記第二の可動体の側から撮像する撮像装置と 、この撮像装置の画像信号を処理することにより前記粉粒体落下通路中を落下し ている粉粒体中の不良品,異物等の存在を検出して不良信号を発生する画像処理 手段と、この画像処理手段からの不良信号に応答して前記選別装置を所定時間作 動させることにより不良品粉粒体,異物等が含まれた粉粒体を除去させる選別装 置制御手段とから構成するとともに、前記第一の可動体及び第二の可動体のうち 少なくとも一方を透明の無端帯状体と、これを長手方向に移動する駆動部とから 構成し且つ、前記透過光源の前面に拡散透過性部材を配設したことを要旨とする ものである。
【0017】
次に本考案の実施例につき添付図面に基づき説明する。
【0018】 まず、請求項1に係る考案の一実施例(以下、第一の実施例という。)につい て説明する。この第一の実施例装置は、粉粒体搬送手段たる振動フィーダ(4) と、その下方に順次設けた落下ガイド(7)、拡散透過体(1)及び透明体(2 )、選別装置(5)、回収容器(6)と、拡散透過体(1)側に設けた透過光源 (16)と、透明体(2)側に設けた反射光源(13)と、透明体(2)の後方 に設けた撮像装置たるラインセンサカメラ(15)と、画像処理手段(20)と 、選別装置制御手段(21)とからなる。
【0019】 前記振動フィーダ(4)は、粉粒体貯留槽(4b)の下部開口に振動トラフ( 4c)を一体的に連接し、粉粒体貯留槽(4b)の下部開口(4d)に搬送量調 節用の仕切板(4e)を上下移動可能に設けてあり、これら全体をバイブレータ (4f)によって振動させることにより、粉粒体(3)をシート状に定量搬送し 、落下口(4a)より粉粒体(3)を落下させるようになっている。振動フィー ダ(4)は、他の搬送手段に比べて、定量性が良く、詰まりが少なく、またクロ ーズド化が可能であり、粉粒体通過経路の清掃(ロットまたは品目切替時)が容 易であり、ローコストであるので、粉粒体(3)の搬送手段としては最適なもの である。
【0020】 また、前記落下ガイド(7)は、図2および図3に示すように、2枚の透明板 材(7a),(7b)をV字形に配置し、両側に側板(7c),(7d)を取付 けて、くさび形に形成され、振動フィーダ(4)の落下口(4a)から落下する 粉粒体(3)の拡散(飛散)を規制して、これを下方に導く。
【0021】 前記拡散透過体(1)は平板形状をした部材であって、ポリカーボネイト,ア クリル,塩化ビニルなどの樹脂や、紙やガラス等を用いるのが好ましい。 また、前記透明体(2)は中空の円筒形状をした、ガラス,プラスチック等の 透明部材であり、中心軸を水平にし中心軸を回転軸として回転するものである。 そして、図4に示すように、拡散透過体(1)と透明体(2)とはそれぞれ肉厚 tが数mm程度のものであって、これらを数mmの間隔dをあけて平行対面する ように並設して粉粒体落下通路(S)を形成している。また、相互対面部での透 明体(2)の回転方向は下向き(矢示X方向)(粉粒体(3)の落下方向と同じ )になっており、粉粒体(3)の落下に影響を与えないようにしている。
【0022】 選別装置(5)は、粉粒体落下通路(5a)とこの粉粒体落下通路(5a)と T字形に交わる除去用通路(5b)とからなり、除去用通路(5b)からエア吸 引を行って粉粒体(3)を除去するように構成してあり、通常は除去用通路(5 b)中に設けたバルブ(5c)が閉じており、吸引除去動作は行わないが、粉粒 体(3)中に不良品粉粒体や異物等が含まれているときには後述する処理回路か らの選別信号によってバルブ(5c)が開いて粉粒体(3)を吸引除去すること になる。なお、選別は吸引による除去だけでなく、ブロワによる除去、メカニカ ルな除去も可能である。
【0023】 そして、振動フィーダ(4)によって粉粒体(3)を薄いシート状にならして 定量搬送し、粉粒体(3)を落下ガイド(7)によって位置規制(飛散防止,拡 散防止)しながら粉粒体落下通路(S)へ導き、粉粒体(3)が粉粒体落下通路 (S)中を落下するようにし、粉粒体(3)が粉粒体落下通路(S)を通ってい る間に検査を行い、粉粒体落下通路(S)から出た粉粒体(3)を回収ガイド( 8)によって選別装置(5)に案内(飛散,拡散防止)し、上記の検査によって 不良品粉粒体や異物等が粉粒体(3)中に含まれておれば、不良品粉粒体や異物 等が含まれている領域の粉粒体(3)を吸引除去し、良品粉粒体については選別 装置(5)をそのまま通過させ、選別装置(5)の下方に設置した良品回収容器 (6)に蓄積するようになっている。
【0024】 前記反射光源(13)は、円筒形状をした前記透明体(2)の内部に設けられ 、また、前記透過光源(16)は拡散透過体(1)の後方に設けられるもので、 それぞれ、前記粉粒体落下通路(S)内を落下する粉粒体を照明する。そして、 この反射光源(13)及び透過光源(16)には、円筒状のガラス管内に線状の フィラメントを管軸に沿って配置した線光源ランプ(マルチ光源ランプでもよい )を用いている。
【0025】 また、前記反射光源(13)は図5及び図6に示すように、前面開口部に拡散 パネル(18)を装着してなるケース(19)に前記線光源ランプ(17)を収 容してなり、線光源ランプ(17)の管軸が透明体(2)の中心軸と平行となる ように透明体(2)内に配置され、拡散パネル(18)から出た光によって検査 エリア(P)を反射照明するようになっている。一方、透過光源(16)は、拡 散透過体(1)を介して検査エリア(P)を透過照明する。
【0026】 しかして、粉粒体(3)のすべてが良品粉粒体である場合は、ラインセンサカ メラ(15)により撮像された画像は検査エリア(P)の全域にわたって同一明 度となり、粉粒体(3)は全く見えなくなる。ところが、粉粒体(3)中に不良 品粉粒体や異物等が混入していると、これらは、反射光量が良品粉粒体と相違し 、すなわち、明度が良品粉粒体とは異なることになり、このときのラインセンサ カメラ(15)の画像には、不良品粉粒体や異物等に対応して暗点あるいは輝点 が生じることになる。そして、以下で詳述する画像処理手段(20)によって、 画像中の暗点あるいは輝点の有無を検出し、暗点あるいは輝点があれば、選別装 置制御手段(21)によって選別装置(5)を一定時間作動させ、不良品粉粒体 や異物等が含まれている領域の粉粒体(3)を吸引除去するようになっている。
【0027】 前記ラインセンサカメラ(15)は、一次元の映像を電気信号に変換する公知 の装置であり、例えば、直線状に配置した多数のフォトダイオード(素子)を備 え、これにより受光した光を光電変換し、CCD等を用いたアナログシフトレジ スタにより1素子(1ドット)毎に信号を出力するものである。 また、その分解能については、一般に1000ドット,2000ドット,50 00ドット/ライン等のものがあり、高精度または広い検査幅を対象とした検査 (大処理量検査)が可能であって、連続検査においてはラインセンサカメラ(1 5)が有利であり、幅方向の分解能はカメラレンズ系の拡大率により決まり、本 実施例では、センサ1ドット当たり50ミクロンの倍率に設定している。
【0028】 前記画像処理手段(20)は、図7に示すように、映像信号を増幅・フィルタ 回路(20A)に通すことで映像信号の増幅および雑音除去を行い、さらに微分 回路(20B)に通すことで画像中の特異点に対応した特徴信号を得、この特徴 信号を正負微分レベルコンパレータ(20C)でレベル弁別し、一方、同期信号 に基づいてマスク信号発生回路(20D)から検査エリア(P)を規制するマス ク信号を発生させ、このマスク信号でアンドゲート(20E)を制御することに より有効エリア(検査エリア(P)に対応する)内に暗点または輝点があったと きに不良信号を出力するものである。
【0029】 前記選別装置制御手段(21)は、図7に示すように、遅延回路(21a)及 びリトリガブルワンショットマルチバイブレータ(21b)からなる。
【0030】 遅延回路(21)は、不良信号をΔt時間遅延してリトリガブルワンショット マルチバイブレータ(22)に加えるもので、不良品粉粒体,異物等が検査エリ ア(P)内に位置して不良信号が発生した後不良品粉粒体,異物等が選別装置( 5)の除去用通路(5b)まで達するまでの時間および選別装置(5)の動作遅 れ等を考慮して遅延時間Δtを決定し、粉粒体(3)の良品粉粒体のロスを少な くするようにしている。
【0031】 また、リトリガブルワンショットマルチバイブレータ(22)は、不良信号の 入力後t0 時間パルスを出力するもので、不良品粉粒体,異物等の吸引除去に必 要な時間に設定されている。
【0032】 尚、前記透明体(2)の近傍には、外周面の粉粒体(3)の付着による汚れを 防止するために、粉粒体落下通路(S)以外の位置にクリーナ(9)および静電 除去装置(11)が設けられている。
【0033】 クリーナ(9)は、モータ等によって駆動されて透明体(2)の外周面に付着 した粉粒体(3)を掃き落とす回転ブラシ(9a)と、この回転ブラシ(9a) を囲む箱体(9b)と、この箱体(9b)内に掃き落とされた粉粒体(3)を吸 引除去するエア吸引部(9c)とから構成されている。
【0034】 また、静電除去装置(11)は、例えばコロナ放電方式のもので、透明体(2 )の外周面に帯電した静電気を除去し、静電気による粉粒体(3)の透明体(2 )外周面への付着を防止するものである。
【0035】 このように、クリーナ(9)によって透明体(2)に付着した粉粒体(3)を 常時清掃除去するとともに、静電除去装置(11)によって透明体(2)の外周 面に帯電した静電気を除去して静電気による透明体(2)への粉粒体(3)の付 着を防止するようにしているので、粉粒体(3)が透明体(2)の外周面に付着 して検査不能になることはない。しかも清掃,静電除去によって検査が妨げられ ることはなく、検査能率が高い。一方、拡散透過体(1)は透過光を拡散せしめ るものであるため、これに粉粒体(3)が付着しても透過光の性質に与える影響 が少なく、検査に支障をきたすことはないため、清掃及び静電除去を行う必要が ない。また、拡散透過体(1)及び透過光源(16)の前面には障害物がないの でこれを検査エリア(P)の近傍にまで充分に近付けて配設することができるた め、充分光量が得られ照明効率が良い。
【0036】 尚、落下するシート状の粉粒体(3)の厚みを厚くすることなく、処理量を増 大するには、シート状粉粒体(3)の幅を増大する必要があるとともに、これに 伴って、透過光源(16)、反射光源(13)、拡散透過体(1)及び透明体( 2)の幅を増大する必要があるが、第一の実施例装置においてはこれに充分対応 することができる。即ち、反射光源を大型化するに伴って、透明体(2)の径を 大きくする必要があるが、第一の実施例装置においては、透明体(2)の上下方 向に充分空間があり、透明体(2)の径を大きくすることが可能だからである。
【0037】 また、前記第一の実施例装置では透明体(2)を円筒状の回転体としたが、こ れに限るものではなく、図8に示すように、無端状の透明シート(2a)と、こ れを矢示Y方向に移動させる四個のローラ(2b)とから構成してもよい。そし て、この透明シート(2a)の1辺(2c)が前記粉粒体落下通路(S)を形成 している。
【0038】 これによれば、前記透明体(2)の内部容積が大きくなり、前述の処理量を増 大するに際して反射光源が大型化してもこれに充分対応することができる。
【0039】 また、前記第一の実施例装置においては、拡散透過体(1)を平板状に構成し たが、図9に示すように前記透明体(2)と同様、円筒状の回転体としてもよい 。これによれば、前記粉粒体落下通路(S)において付着した粉粒体を透明体( 2)の回転途中で清掃除去することができるので、保守に要する負荷を軽減する ことができる。
【0040】 さらに、前記第一の実施例装置において、拡散透過体(1)及び透明体(2) を図10に図示する如く構成してもよい。即ち、図10においては、拡散透過体 (1)を拡散透過性を有する無端状のシート(1a)と、これを矢示Z方向に移 動させる四個のローラ(1b)とから構成するとともに、透明体(2)を同じく 無端状の透明シート(2a)と、これを矢示Y方向に移動させる四個のローラ( 2b)とから構成している。
【0041】 これによれば、拡散透過体(1)及び透明体(2)の内部容積が大きくなり、 前述した粉粒体の処理量を増大するに際して反射光源(13)及び透過光源(1 6)が大型化してもこれに充分対応することができる。
【0042】 次に請求項2に係る考案の実施例(以下、第二の実施例という。)について説 明する。
【0043】 第二の実施例装置は図11に示すように、前述の第一の実施例装置における拡 散透過体(1)及び透明体(2)の双方を無端状の透明シート(101a),( 102a)及びこれを矢示方向に移動させる四個のローラ(101b),(10 2b)で構成した第一の可動体(101)及び第二の可動体(102)とすると ともに、透過光源(16)及び反射光源(13)の前面に拡散透過部材を配設し たものであって他の構成は第一の実施例装置と同じである。
【0044】 これによれば、2つの可動体(101),(102)の内部容積を充分大きく 設定できるので、処理量の増大に際して透過光源(16)、反射光源(13)及 び拡散透過性部材が大型化してもこれに充分対応することができる。また、第一 の可動体(101)にシート状の透明体を用いており、検査エリア(P)に接近 した位置に拡散透過性部材(14)を設置できるため、透過光の不必要な拡散を 防止でき、照明効率の向上を図ることができる。
【0045】 尚、第二の実施例装置においては、第一の可動体(101)及び第二の可動体 (102)の双方を透明シート(101a),(102a)及びローラ(101 b),(102b)とで構成したがこれに限るものではなく、図12及び図13 に示す如く、いずれか一方をその構成とし、他方を透明な円筒回転体としても良 い。
【0046】
以上詳述したように本考案によれば以下のような効果を奏する。
【0047】 まず、請求項1の考案によれば、拡散透過体及び透明体とで粉粒体落下通路を 形成したので、透過光源を粉粒体落下通路に極力近づけて配設することができ、 検査エリアにおける照明効率の向上を図ることができる。
【0048】 また、請求項2の考案によれば、第一の可動体及び第二の可動体のうち少なく とも一方を透明の無端帯状体と駆動部とから構成したので、粉粒体の処理量増大 に伴う、透過光源又は反射光源の大型化に対して、容易にこれに対応することが できる。
【図1】本考案の請求項1に係る考案の実施例を示す説
明図である。
明図である。
【図2】落下ガイドを示す正面図である。
【図3】図2における落下ガイドの矢示III − III方向
の断面図である。
の断面図である。
【図4】粉粒体落下通路部を示す正面図である。
【図5】反射光源を示す正面図である。
【図6】図5における反射光源の矢示VI−VI方向の断面
図である。
図である。
【図7】画像処理手段を示すブロック図である。
【図8】本考案の請求項1に係る考案の他の実施例を示
す説明図である。
す説明図である。
【図9】本考案の請求項1に係る考案の他の実施例を示
す説明図である。
す説明図である。
【図10】本考案の請求項1に係る考案の他の実施例を
示す説明図である。
示す説明図である。
【図11】本考案の請求項2に係る考案の実施例を示す
説明図である。
説明図である。
【図12】本考案の請求項2に係る考案の他の実施例を
示す説明図である。
示す説明図である。
【図13】本考案の請求項2に係る考案の他の実施例を
示す説明図である。
示す説明図である。
【図14】従来の検査装置を示す正面図である。
1 拡散透過体 2 透明体 3 粉粒体 4 粉粒体搬送手段 5 選別装置 6 回収容器 7 落下ガイド 8 回収ガイド 9 クリーナ 11 静電除去装置 13 反射光源 16 透過光源 21 選別装置制御手段
Claims (2)
- 【請求項1】 前後に所定間隔をあけて平行対面するよ
うに並設して相互対面部分で粉粒体落下通路(S)を形
成した拡散透過体(1)及び透明体(2)と、前記粉粒
体落下通路(S)の上端に落下口(4a)を有し、粉粒
体(3)をシート状にして搬送する粉粒体搬送手段
(4)と、前記粉粒体落下通路(S)の下方の粉粒体落
下経路近傍に設置して粉粒体(3)を除去する選別装置
(5)と、前記粉粒体落下通路(S)中を落下している
粉粒体(3)を前記透明体(2)の側から反射照明する
反射光源(13)と、前記粉粒体落下通路(S)中を落
下している粉粒体(3)を前記拡散透過体(1)の側か
ら透過照明する透過光源(16)と、前記粉粒体落下通
路(S)中を落下している粉粒体(3)を前記透明体
(2)の側から撮像する撮像装置(15)と、この撮像
装置(15)の画像信号を処理することにより前記粉粒
体落下通路(S)中を落下している粉粒体(3)中の不
良品,異物等の存在を検出して不良信号を発生する画像
処理手段(20)と、この画像処理手段(20)からの
不良信号に応答して前記選別装置(5)を所定時間作動
させることにより不良品粉粒体,異物等が含まれた粉粒
体(3)を除去させる選別装置制御手段(21)とを備
えた粉粒体検査装置。 - 【請求項2】 前後に所定間隔をあけて平行対面するよ
うに並設して相互対面部分で粉粒体落下通路(S)を形
成した第一の可動体(101)及び第二の可動体(10
2)と、前記粉粒体落下通路(S)の上端に落下口(4
a)を有し、粉粒体(3)をシート状にして搬送する粉
粒体搬送手段(4)と、前記粉粒体落下通路(S)の下
方の粉粒体落下通路(S)近傍に設置して粉粒体(3)
を除去する選別装置(5)と、前記粉粒体落下通路
(S)中を落下している粉粒体(3)を前記第二の可動
体(102)の側から反射照明する反射光源(13)
と、前記粉粒体落下通路(S)中を落下している粉粒体
(3)を前記第一の可動体(101)の側から透過照明
する透過光源(16)と、前記粉粒体落下通路(S)中
を落下している粉粒体(3)を前記第二の可動体(10
2)の側から撮像する撮像装置(15)と、この撮像装
置(15)の画像信号を処理することにより前記粉粒体
落下通路(S)中を落下している粉粒体(3)中の不良
品,異物等の存在を検出して不良信号を発生する画像処
理手段(20)と、この画像処理手段(20)からの不
良信号に応答して前記選別装置(5)を所定時間作動さ
せることにより不良品粉粒体,異物等が含まれた粉粒体
(3)を除去させる選別装置制御手段(21)とから構
成するとともに、前記第一の可動体(101)及び第二
の可動体(102)のうち少なくとも一方を透明の無端
帯状体(103)と、これを長手方向に移動する駆動部
(104)とから構成し且つ、前記透過光源の前面に拡
散透過性部材(105)を配設したことを特徴とする粉
粒体検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1992021785U JP2603038Y2 (ja) | 1992-03-10 | 1992-03-10 | 粉粒体検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1992021785U JP2603038Y2 (ja) | 1992-03-10 | 1992-03-10 | 粉粒体検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0573566U true JPH0573566U (ja) | 1993-10-08 |
| JP2603038Y2 JP2603038Y2 (ja) | 2000-02-14 |
Family
ID=12064723
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1992021785U Expired - Lifetime JP2603038Y2 (ja) | 1992-03-10 | 1992-03-10 | 粉粒体検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2603038Y2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011524809A (ja) * | 2009-06-04 | 2011-09-08 | アイデアル システム カンパニー リミティッド | 葉状物の色彩選別器 |
| JP2012202757A (ja) * | 2011-03-24 | 2012-10-22 | Taisei Corp | 粒度分布測定用の画像撮影装置 |
| JP2014062875A (ja) * | 2012-09-24 | 2014-04-10 | Taisei Corp | 粒度分布測定用の画像撮影装置 |
| DE102018120722A1 (de) * | 2018-08-24 | 2020-02-27 | Nils Dickfeld | Verfahren zum selektiven Aussondern von rieselfähigen Produkten |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JPS5546172A (en) * | 1978-09-29 | 1980-03-31 | Kirin Brewery Co Ltd | Detector for foreign material |
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| JPS61191944A (ja) * | 1985-02-20 | 1986-08-26 | Kanebo Ltd | 粉粒体検査装置 |
| JPS61210929A (ja) * | 1985-03-15 | 1986-09-19 | Kanebo Ltd | 粉粒体検査装置 |
| JPS62263452A (ja) * | 1986-05-12 | 1987-11-16 | Kita Denshi:Kk | 印刷面監視センサ− |
-
1992
- 1992-03-10 JP JP1992021785U patent/JP2603038Y2/ja not_active Expired - Lifetime
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2603038Y2 (ja) | 2000-02-14 |
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