JPH0573584B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

（発明の技術分野） この発明は、紙、アルミニユーム及びプラスチ
ツク等の包装材料に対し絵柄が周期的に連続して
印刷される際に、インキの飛散、ドクターすじ等
の欠陥及びゴミの付着を自動的に印刷稼働中でも
検知する方法に関する。 （発明の技術的背景とその問題点） 一般に絵柄等を印刷する際のスポツト的に現わ
れる欠陥に対しては、検知は難しい。このため、
巻き始めや巻き終り等に装置を停止させて、ごく
一部のみの目視検査が行なわれている。しかし全
数検査でないことから、場合によつては欠陥品が
混入することもあり、しばしば問題が生じてい
る。この問題を解決するため、最近、第６図のよ
うに同一の連続した絵柄を印刷したシートＮ上の
１対の絵柄Ｎ１及びＮ２（この場合隣接した絵柄
とは限らない）を１対の光センサヘツドＡ及びＢ
で同時に測光し、光電変換した後に１対の光セン
サヘツドＡ及びＢの出力電圧の差を制限ボツクス
１４で演算処理することにより、絵柄上の欠陥を
求める装置が提案されている。 この具体的実施例を第７図に示して説明する。
図示のように絵柄Ｎ１及びＮ２からの反射光は、
光フアイバ等の受光素子１５Ａ及び１５Ｂを通じ
て光センサ素子１６Ａ及び１６Ｃに入力され電圧
に変換された後、増幅器１６Ｂ及び１６Ｄにより
適正にゲイン調整され、それらの出力電圧は差動
増幅器１７に入力される。ここで、受光素子１５
Ａ及び１５Ｂは同じ絵柄Ｎ１及びＮ２上に位置し
ているので、絵柄が正常であればその反射光は等
しく、差動増幅器１７の出力は零となるはずであ
る。しかし、全く等しくなるということは物理的
に不可能であるので、許容範囲内でその量を予め
設定しておき、この設定値をここでは上限を
dmazとおくと共に下限をdminとおき、コンパレ
ータ１８に差動増幅器１７の出力と共に入力す
る。もし、片方の絵柄にインキが飛散してしま
い、これが設定された許容範囲を超えるものだと
すると、コンパレータ１８の出力は“NO”とな
り、例えば“１”信号を出力してエラーを示すこ
とになる。上限、下限の範囲内であれば良品の
“GO”となり、“０”信号が出力されることにな
る。このようにして印刷物等の欠陥を求める方法
が実現されている。 しかしながら上述の方法では、１対の光センサ
ヘツドの光学的検知条件を常に一定に保つことが
必要である。このため、種々の準備作業を必要と
し装置製作時には、特性一致のための光センサ素
子の選別、出力特性の良い差動増幅器の利用及び
検知稼動時には光センサ素子の経年変化による劣
化、センサヘツドのよごれ及び差動増幅器のドリ
フト等による特性不一致に対する補正をあらかじ
め人為的に行なう必要がある。これが煩雑な上に
熟練を要し、これを軽減するため検知精度を犠牲
にして前記上限dmax、下限dminの許容範囲であ
る不感帯幅を拡大する必要を生じなければならな
いといつた欠点があり、稼動時の光学的検知条件
を自動的に一定にする１対の光センサヘツドを用
いた印刷物の欠陥検知方法の開発が要望されてい
た。 （発明の目的） この発明は上述の事情からなされたものであ
り、ドリフトや経時変化等で検知特性上不一致が
生じた場合でも、自動的に光学的検知条件を補償
して一定にする１対の光センサヘツドを用いた印
刷物の欠陥検知方法を提供することにある。 （発明の概要） この発明は印刷物の欠陥検知方法に関するもの
で、同一の絵柄が周期的に連続して印刷されてい
る印刷物の欠陥を検知する印刷物の欠陥検知方法
において、１対の光センサが前記絵柄のサイズに
応じてまとめられて配設されている１対の光セン
サヘツドを、隣接した１対の同一の絵柄に対向し
て前記印刷物の移動方向と直角に配設すると共
に、前記１対の光センサヘツドを同時に使用する
ようにし、版胴の駆動部に連結されたパルス発生
器からパルスを出力するようにし、前記１対の光
センサヘツド内の各１対の光センサから得られる
各アナログ信号の出力電圧差を前記同一の絵柄が
１周期搬送される毎に前記版胴の１シリンダ分の
１回転に相当する前記パルス及びその分周パルス
に対応させて処理し、前記アナログ信号の出力電
圧差をデイジタル化した後、前記絵柄の１つのデ
イジタル信号を１周期分だけ記憶し、次の絵柄の
１周期分のデイジタル信号と前記記憶したデイジ
タル信号との差を求め、この差を周期的に搬送さ
れる前記絵柄に対応して連続的にパターン化して
抽出し、予め登録してあるパターンとの符号判定
と比率判定を行ない、欠陥と判定された場合には
欠陥箇所の前記パルス又は分周パルスの数を計数
することによつて欠陥の種類を識別すると共に、
前記符号判定、前記比率判定及び前記欠陥の種類
を表示するようにしたものである。 （発明の実施例） 第１図はこの発明の方法を実現する装置の一例
を示すブロツク図であり、全体にコンピユータ化
されており、キーボード１の所定キーを操作する
と開始信号SS１に基づく情報がCRT２に映出さ
れると共に、メインCPU４に信号SS２が入力さ
れる。これにより、同一の連続した絵柄Ｎ１，Ｎ
２…が印刷されたシートＮを所定のピツチで巻上
げるためのモータ等から成る駆動部６が駆動さ
れ、絵柄Ｎ１，Ｎ２…を印刷したシートＮの巻上
げが開始される。所定量巻上げられると検知スタ
ートを指示する見当マークがスキヤニングヘツド
５で検出され、見当マーク信号SS３が出力され
ると共に、駆動部６に連動したパルスエンコーダ
等より成るパルス発生器７から１周期分の絵柄に
対応して駆動部６に連結された版胴の１シリンダ
分の１回転に相当するパルスと、それを分周した
パルス信号SS５がメインCPU４に入力され、更
に記憶部３に記憶されることになる。一方、隣接
した１対の絵柄Ｎ１及びＮ２に対向した１対の光
センサヘツド内の１対の光センサＡ１及びＢ１
（絵柄の大きさに応じて光センサAN及びBNまで
ある）は、１対の絵柄Ｎ１及びＮ２内の担当検出
エリアが正常か否かを検知するため、絵柄からの
反射光を集光し電圧信号SS７及びSS８に変換さ
れる。その後、IC等から成る差動増幅器８に入
力され両者の出力電圧差がアナログ量で計算処理
され、Ａ／Ｄ変換器９でその差分のアナログ量が
これに相当するデイジタル量のデイジタル信号
SS１０に変換され、ローカルCPU１１に入力さ
れて内部処理された後、信号SS１１を記憶部１
０に出力すると共にメインCPU４に処理信号SS
１２が入力され、総括処理されることになる。こ
の場合、前記デイジタル信号を１絵柄の１周期分
（１シリンダ分）記憶しておき、常に１絵柄の１
周期分（シリンダ分）遅れたデイジタル信号同士
の差をとることにより、差は常に２倍に拡大され
ることになる。従つて、この差の時間的パターン
をメインCPU４で認識処理することにより、絵
柄の検知情報（例えばある箇所の濃度・色彩はど
の程度の欠陥か等）を得ることができる。又１対
の光センサヘツドＡ及びＢ内には絵柄Ｎ１及びＮ
２の大きさに応じて１対の光センサＡ１，Ｂ１〜
AN，BNが多数まとめられており、これらの印
刷物の絵柄Ｎ１及びＮ２に対する検知情報をロー
カルCPU１１で一旦処理した後、メインCPU４
で吸上げ総括処理することにより不測の事態、例
えば稼動中に１対の光センサヘツドＡ及びＢの片
方が故障し検知できない場合、或いは何らかの原
因で１対の光センサヘツドＡ及びＢの出力が変動
した場合でも、この方法を用いることで常に検知
できCRT２でその内容を映像化し逐一監視でき
るシステムになつている。 このような構成において、その動作を第２図〜
第５図を参照して説明する。 第２図Ａ〜Ｃはその動作を説明するフローチヤ
ートであり、第３図はこのフローチヤートに従つ
て絵柄が検知されている状況を示すタイムチヤー
トである。稼動前は第３図Ａのように周期的に連
続する同一の絵柄Ｎ１，Ｎ２，Ｎ３，…を印刷し
たシートＮが、モータ等で成る駆動部６のシリン
ダに連結され１絵柄の周期（１シリンダ）毎に搬
送される状態で置かれている。このような状態
で、始めにキーボード１の所定のキーを操作して
開始信号SS１を送り駆動部６が駆動されシート
Ｎが巻取られ、絵柄Ｎ１，Ｎ２，Ｎ３，…がＳ方
向に逐次１絵柄の１周期分（１シリンダ分）移動
し、検知開始を指示する見当マークが識別される
とパルスがカウントされ、図示のように絵柄Ｎ１
及びＮ２上に位置付けされた１対の光センサヘツ
ドＡ及びＢにより検知が開始される（ステツプ
S1）。この場合１対の光センサヘツドＡ及びＢの
検知エリアを各々１絵柄の１周期分で設定できる
よう図示の通り１対の光センサヘツドＡ及びＢを
隣接する絵柄Ｎ１及びＮ２上に対向して配置する
ことにより、光センサＡ１，Ｂ１〜AN，BNか
らのアナログ信号の出力波形Ａ(t)及びＢ(t)も同様
に１絵柄の１周期分だけ位相がずれることにな
る。この発明の方法はこの点に着眼したものであ
る。ところで、一般に絵柄が絵柄Ｎ１の如く良品
であればその被検出面の濃淡に応じ、例えば第３
図Ｂのt0〜t1間Ａ(t)のような標準波形が出力され
るが、絵柄Ｎ２の如く一部にスポツト的な欠陥箇
所ａ及びｂがあれば、良品に比して明るい部分ａ
では同図Bt1〜t2間Ａ(t)の如く凸形に、暗い部分
ｂは凹形に出力される（第３図Ａ，Ｂ及びＣ参
照）。 以下、任意のｉ番目の絵柄Niに対して数式を
参照して説明する。 このようにして、光センサヘツドＡ上にｉ番目
の絵柄Ni、光センサヘツドＢ上に絵柄（Ni−１）
が送られ、１対の光センサAi及びBiで反射光が
光電変換されti−（ti−１）間の出力波形ai(t)及び
bi(t)が求められ（ステツプS1，S3、第３図Ｂ及
びＣ）、その後差動増幅器８の演算処理により出
力波形の差bi(t)−ai(t)が求められることになる
（ステツプ４、第３図Ｄ）。次に１絵柄を１周期と
してこれをＮ分割し（従つて１パルスの大きさは
時間単位でなく、長さの単位となる）、分割区間
ごとにサンプリングを行ない（ステツプS5）、上
記アナログ量である出力波形の差をデイジタル化
し、ｉ番目の絵柄Niのｎ分割中のｊ分割区間と
してデイジタル量の差Ｃ＝Cij（Pj）を求める（ス
テツプS7、第３図Ｅ）。これを一旦、次の演算に
使用するため記憶部１０のRAMに書込み記憶
し、これをＤ＝−1（Pj）（以下、記憶された
後再生される場合は を付ける）とした状態で
（ステツプS8，S9、第３図Ｆ）、次に１絵柄の１
周期分（１シリンダ分）シートＮが搬送され、光
センサヘツドＢ上に先ほど光センサヘツドＡで検
知した絵柄Niが配置されると、上記と同様にデ
イジタル量の差Ｃ＝Cij（Pj）が計算され、前記記
憶部１０に記憶されたＤとこのＣとをローカル
CPU１１内で演算処理し、差Ｃ−Ｄ＝dij（Pj）＝
Cij（Pj）−（−１）（Pj）が求められること
になる（ステツプS11、第３図Ｇ）。次に絵柄が
正常かの許容範囲の上限値を不感帶上限値dmax
として決め、Ｅ：eij（Pj）＝｜dij（Pj）｜−dmax≧
０ならば処理対象として続行し、≦０ならば対象
外としてステツプS5にリターンし−１，を
dijとする（ステツプS12，S13，S14）。その後、
絵柄Ｎ１に対して１対のセンサヘツドＡ及びＢで
同一の検知を行なつた結果が等しいか否か各々ｊ
番目のパルス数の比較をして、パルス番号の判定
を行なう。即ちPi＝ならば処理を続行し、Pj≠
Pjならば検知の位置ずれ等が生じたとして繰越す
（ステツプS15）。このようにして絵柄Niが良品か
もしくはどの程度の欠陥品かを調べるため、符号
判定と比率判定を行なう。即ち欠陥品ならば必ず
正負の符号が入れ違いに出力されるため、例えば
下表のパターン判定が行なわれる（ステツプ
S16，S17）。

【表】 ここで、種々の欠陥に対応するパターンをメイ
ンCPU４の内部記憶部にあらかじめ登録してお
き、どのパターンに該当するか否かを判定する
（ステツプS18）。これにより絵柄Niがどのような
欠陥があるか識別されることになる。該当なしの
場合、繰越し分の記憶更新準備をする（ステツプ
S19）。該当する場合（ステツプS20）は判定に不
必要な部分、例えば表１の符号判定における−
ａ，２ａ，−ａの出力パターンの最後の−ａは判
定に不必要であり、誤処理をなくすためこれを消
去して記憶部１０のRAMをクリアし、次の絵柄
（Ni＋１）に対する記憶更新準備をする（ステツ
プS21）。次に、この欠陥検知システム全体が正
常に稼動しているか否かを調べるため、一定数の
絵柄N1〜Niを検知した後欠陥の発生件数がどの
位かを検出する。即ち前記｜dij｜のトータル量
Σ｜eij｜をあらかじめメインCPU４の内部記憶
部に登録し設定しておいたトータル上限値ｅとの
比較処理Σ｜ei｜−ｅを行なう（ステツプS23）、
Σ｜ei｜−ｅ≧０ならば欠陥の異常発生であり、
これは印刷ミスでなく、シートＮの位置ずれ或い
は蛇行等に起因すると判断され、機械の再点検が
行なわれる（ステツプS24）。またΣ｜ei｜−ｅ＜
０ならば通常の印刷ミスと判断されてメイン
CPU４に伝達され、この情報がCRT２に映し出
されることになる（ステツプS25）。これと並行
して、絵柄Ｎ１，Ｎ２…の欠陥が商品として許さ
れる範囲なのか、いわゆる大ヤレ、中ヤレ、小ヤ
レのどの種類なのか、即ち欠陥が連続しているか
或いは単発なのかを判断するため、前記絵柄を７
分割したｊ分割区間を中心に隣接する区間のパル
ス…Pj−１，Pj，Pj＋１…について欠陥箇所のチ
エツクを行ない（ステツプS26）、欠陥があれば
その隣接するパルス数をカウントし（ステツプ
S27）、スポツト的欠陥、例えばゴミ等の付着に
よりPjのみがカウントされる場合（ステツプ
S29）か、又は狭域的欠陥、例えばドクターすじ
等によりPj−１，Pj，Pj＋１がカウントされる場
合（ステツプS30）なのか、或いは広域的欠陥、
例えばインキ等のしみが広範囲におよび、…Pj−
１，Pj，Pj＋１…が連結して多数カウントされる
場合なのか等いずれの種類に属する欠陥かを判別
し、１絵柄の１周期分で欠陥の発生件数をカウン
トし（ステツプ32，S33，S34）、欠陥箇所及び種
類をCRT２に表示し絵柄の欠陥情報を知らせる
（ステツプS35）。更に次の絵柄（Ni＋１）を検知
するためメインCPU４に信号を送り総括処理を
し（ステツプS36）、駆動部６が１シリンダ分回
転することになる。ところで、これと並行して上
述の記憶更新準備をした後（ステツプS21）の処
理は、１絵柄の１周期分連続して行なうことにな
るが、途中で異常が発生し処理できないときはリ
ターンしてサンプリング分割（ステツプS5）に
戻り、処理できたときは絵柄Niの繰越し分・消
去のデータを記憶部３のRAMからクリアし、次
の絵柄（Ni＋１）を検知するため始めの見当マ
ークの識別（ステツプS1）にリターンし、絵柄
Niと同一の処理が行なわれることになる。この
ようにしてすべての絵柄Ｎ１，Ｎ２，Ｎ３…，
NNについて各々第２図Ａ〜Ｃのフローチヤート
のステツプS1からステツプS38迄を繰返し処理す
ることにより、即ち１対の光センサヘツドＡ及び
Ｂで次々に１絵柄の１周期分記憶し、比較・更新
処理することによりシートＮに連続して印刷され
た絵柄Ｎ１，Ｎ２，…NNの欠陥情報がCRT２
等により表示されることになる。 さて上述の検知の場合は、１対の光センサヘツ
ドＡ及びＢの検知出力が変動しない場合である
が、装置の稼動中に差動増幅器８のドリフト或い
は光センサＡ１，Ｂ１〜AN，BNの経年化等に
より検知特性の変動があつた場合でも、上記方法
を用いることで自動的に変動を補正し、正確な検
知出力が得られることになる。即ち第４図は上述
の状況を説明するためのタイムチヤートであり、
図示のように仮に光センサヘツドＡ及びＢが基準
量に対してｆだけ持ち上がり、ｇだけ下がつたと
すると、通常次々に演算していくことによりこの
ずれｆ，ｇが誤差として蓄積され拡大された従来
の方法では過大評価の原因となつていた。しかし
ながら、この発明の方法によると第２図ＡからＣ
のフローチヤートによりステツプS11のＣ−Ｄの
演算処理を行なうことにより、この差動増幅器８
のドリフト或いは光センサＡ１，Ｂ１〜AN，
BNの経年変化等によるずれｆ，ｇが打消され自
動的に補正され絵柄の欠陥（第４図Ｇのａ，ｂ及
びｃ等）だけが抽出されることになる。即ち、 光センサヘツドＡ：出力波形Ａ(t)
…（ステツプS2） 光センサヘツドＢ：出力波形Ｂ(t)
…（ステツプS3） Ｃ＝Ｂ−Ａ：Ｂ(t)−Ａ(t) …（ステツプS4） Ｄ：(t)−(t) …（ステツプS10） Ｃ−Ｄ：｛Ｂ(t)−Ａ(t)｝−｛Ｂ(t)−Ａ(t)｝
…（ステツプS11） であり、ここでずれｆ，ｇが生じて Ａ(t)→Ａ(t)＋ｆ，Ｂ(t)→Ｂ(t)−ｇ となりステツプS4により Ｃ−Ｄ＝［｛Ｂ(t)−ｇ｝−｛Ａ(t)＋ｆ｝］ −［｛Ｂ(t)−ｇ｝−｛Ａ(t)＋ｆ｝］ ＝｛Ｂ(t)−Ａ(t)｝−｛Ｂ(t)−Ａ(t)｝
…（ステツプS11） であるから、どんな要因のずれｆ，ｇで検知特性
が変動しても演算処理過程で打ち消され、所望の
絵柄の欠陥ａ，ｂ及びｃ等だけが求められること
になる。 これを第４図のタイムチヤートを参照して説明
すれば、例えばt1〜t2間では、ずれｆ，ｇ分だけ
出力波形は全体に各々Ａ(t)＋ｆ及びＢ(t)−ｇだけ
変動し、絵柄の欠陥ａ及びｂも同様に、演算処理
Ｂ(t)−Ａ(t)（ステツプS4）で−ｆ−ｇだけ移動
して−ａ−ｆ−ｇ及びｂ−ｆ−ｇとなる（第４図
Ｄ）。図示の通りＡ／Ｄ変換後はデイジタル化さ
れ（第４図Ｅ）、さらに演算処理Ｃ−Ｄ（ステツプ
S11）で第４図Ｇのように前述の変動のない場合
の第３図Ｇと同一の絵柄の欠陥情報だけが得られ
ることになる。従つて、装置の稼動中に差動増幅
器８のドリフト或いは光センサＡ１，Ｂ１…
AN，BNの経年変化等により、検知特性の変動
があつた場合でも、この発明の方法によれば内部
処理で自動的に補正され正確な検知が行なわれる
ことになる。さらに、１対の光センサＡ及びＢの
うち１つが故障し使用不能になつた場合、例えば
光センサヘツドＢが故障し出力波形Ｂ(t)が得られ
ない場合（第５図Ｃ）でも、同一の絵柄Niを検
知して時間をずらして比較するこの発明の方法に
よれば、光センサヘツドＡから出力波形Ａ(t)が得
られるので絵柄の欠陥の検知を行なうことができ
る。第５図はこれを説明するためのタイムチヤー
トであり、演算処理Ｂ(t)−Ａ(t)（ステツプS4）
は光センサヘツドＡの出力波形となり（第５図
Ｄ）、Ａ／Ｄ変換後はデイジタル化され（第５図
Ｅ）、演算処理Ｃ−Ｄ（ステツプS11）により第５
図Ｇのように絵柄の欠陥ａ，ｂ及びｃ等だけで抽
出されるが、この場合前述の二つのケースと異な
り、パターン判定（ステツプS16，S17）は下表
（表２）の如くなる。

【表】 上記表２は前述の１対の光センサヘツドＡ及び
Ｂを用いた場合のパターン判定の表（表１）と異
なるが、これは絵柄の欠陥の種類により符号判定
及び比率判定のパターン判定基準が異なるためで
あり、絵柄の欠陥に対応して判定するにはメイン
CPU４の内部記憶を代えることで容易に絵柄の
欠陥を正確に検知でき、CRT２等でその情報を
画像処理できるようになつている。 このように１対の光センサヘツドＡ及びＢを上
記３ケースの場合のいずれも使用し、その出力差
をアナログ量として差動増幅器で適当にゲイン調
整することにより絵柄の欠陥を所望の量に拡大或
いは縮少するこも可能となる。又、演算処理中に
変動等によるノイズ成分が混入しても、最終的に
絵柄の欠陥情報だけが得られるので、印刷物の欠
陥検知装置として高精度化が計れることになる。 （発明の効果） 以上のようにこの発明の方法によれば、同一の
絵柄が周期的に連続して印刷される印刷物の欠陥
を検知する印刷物の欠陥検知装置において、その
装置の性能の良否によらず或いは稼動時のメンテ
ナンスも要せず、自動的に印刷物の欠陥の種類を
精度良く検知し、視覚的に表示することができる
といつた極めて多くの長所を有する。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の方法を実現する装置の一例
を示すブロツク図、第２図Ａ，Ｂ及びＣはこの発
明の方法を説明するためのフローチヤート、第３
図、第４図及び第５図はこの発明の方法を説明す
るためのタイムチヤート、第６図及び第７図は同
一の絵柄を連続して印刷する場合の印刷物の欠陥
を検知する印刷物の欠陥検知装置を説明するため
の図である。 １……キーボード、２……CRT、３……記憶
部、４……メインCPU、５……スキヤニングヘ
ツド、６……駆動部、７……パルス発生器、Ａ
１，Ａ２，〜AN及びＢ１，Ｂ２，〜BN……光
センサ、８……差動増幅器、９……Ａ／Ｄ変換
器、１０……記憶部、１１……ローカルCPU、
Ｎ１，Ｎ２，〜NN……絵柄、Ｎ……絵柄が印刷
されたシート、Ａ及びＢ……光センサヘツド、１
４……制御ボツクス、１５Ａ及び１５Ｂ……受光
素子、１６Ａ及び１６Ｃ……光センサ素子、１６
Ｂ及び１６Ｄ……増幅器、１７……差動増幅器、
１８……コンパレータ。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １ 同一の絵柄が周期的に連続して印刷されてい
   る印刷物の欠陥を検知する印刷物の欠陥検知方法
   において、１対の光センサが前記絵柄のサイズに
   応じてまとめられて配設されている１対の光セン
   サヘツドを、隣接した１対の同一の絵柄に対向し
   て前記印刷物の移動方向と直角に配設すると共
   に、前記１対の光センサヘツドを同時に使用する
   ようにし、版胴の駆動部に連結されたパルス発生
   器からパルスを出力するようにし、前記１対の光
   センサヘツド内の各１対の光センサから得られる
   各アナログ信号の出力電圧差を前記同一の絵柄が
   １周期搬送される毎に前記版胴の１シリンダ分の
   １回転に相当する前記パルス及びその分周パルス
   に対応させて処理し、前記アナログ信号の出力電
   圧差をデイジタル化した後、前記絵柄の１つのデ
   イジタル信号を１周期分だけ記憶し、次の絵柄の
   １周期分のデイジタル信号と前記記憶したデイジ
   タル信号との差を求め、この差を周期的に搬送さ
   れる前記絵柄に対応して連続的にパターン化して
   抽出し、予め登録してあるパターンとの符号判定
   と比率判定を行ない、欠陥と判定された場合には
   欠陥箇所の前記パルス又は分周パルスの数を計数
   することによつて欠陥の種類を識別すると共に、
   前記符号判定、前記比率判定及び前記欠陥の種類
   を表示するようにしたことを特徴とする印刷物の
   欠陥検知方法。