JPH0573820A - 磁気デイスク装置のオフセツトリード試験方式 - Google Patents
磁気デイスク装置のオフセツトリード試験方式Info
- Publication number
- JPH0573820A JPH0573820A JP22931991A JP22931991A JPH0573820A JP H0573820 A JPH0573820 A JP H0573820A JP 22931991 A JP22931991 A JP 22931991A JP 22931991 A JP22931991 A JP 22931991A JP H0573820 A JPH0573820 A JP H0573820A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- magnetic disk
- disk device
- read operation
- magnetic head
- magnetic
- Prior art date
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- Pending
Links
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 17
- 238000010998 test method Methods 0.000 claims description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 230000010365 information processing Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Digital Magnetic Recording (AREA)
- Moving Of Head For Track Selection And Changing (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】磁気ディスク装置のオフセット系の障害を的確
に把握する。 【構成】上位装置から磁気ディスク装置の全面に対し、
磁気ディスク装置内の磁気ヘッドの位置を内周側、又は
外周側に微少分ずらすように指示するとともに、その状
態のままでトラック上に書かれているデータを読出動作
を実行する各手段と、磁気ディスク装置の全面に対し、
磁気ディスク装置内の磁気ヘッドの位置を内周側、又は
外周側に微少分ずらした時の読出動作で、読出動作エラ
ーが一定回数以上発生したら内周側での読出動作を終了
する各手段とを有する磁気ディスク装置のオフセットリ
ード試験方式。
に把握する。 【構成】上位装置から磁気ディスク装置の全面に対し、
磁気ディスク装置内の磁気ヘッドの位置を内周側、又は
外周側に微少分ずらすように指示するとともに、その状
態のままでトラック上に書かれているデータを読出動作
を実行する各手段と、磁気ディスク装置の全面に対し、
磁気ディスク装置内の磁気ヘッドの位置を内周側、又は
外周側に微少分ずらした時の読出動作で、読出動作エラ
ーが一定回数以上発生したら内周側での読出動作を終了
する各手段とを有する磁気ディスク装置のオフセットリ
ード試験方式。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は情報処理装置に利用され
る磁気ディスク装置のオフセットリード試験方式に関す
る。
る磁気ディスク装置のオフセットリード試験方式に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】従来の磁気ディスク装置のオフセットリ
ード試験は、システム運用中に入出力動作エラーが発生
した時、エラーした時の概略及び詳細ステータスを時系
列にログしておき、まず、該時系列ログを調査してエラ
ー原因の解析を行い、それでも原因が判明しない場合に
は、次に、磁気ディスク装置内の磁気ヘッドが通常の位
置に設定された状態で全面読出試験を実行していた。
ード試験は、システム運用中に入出力動作エラーが発生
した時、エラーした時の概略及び詳細ステータスを時系
列にログしておき、まず、該時系列ログを調査してエラ
ー原因の解析を行い、それでも原因が判明しない場合に
は、次に、磁気ディスク装置内の磁気ヘッドが通常の位
置に設定された状態で全面読出試験を実行していた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の磁気デ
ィスク装置のオフセットリード試験方式では、磁気ディ
スク装置内の磁気ヘッドが通常の位置に設定された状態
で全面読出試験を実行している為、オフセット系の障害
が的確に把握出来ないという問題があった。
ィスク装置のオフセットリード試験方式では、磁気ディ
スク装置内の磁気ヘッドが通常の位置に設定された状態
で全面読出試験を実行している為、オフセット系の障害
が的確に把握出来ないという問題があった。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明の方式は、上位装
置からの指示により、磁気ディスク装置内の磁気ヘッド
を通常の位置より内周側、又は、外周側に微詳分ずらす
機能を有する磁気ディスク装置のオフセットリード試験
方式に於て、上位装置から磁気ディスク装置の全面に対
し、磁気ディスク装置内の磁気ヘッドの位置を内周側に
微少分ずらすように指示するとともに、その状態のまま
でトラック上に書かれているデータの読出動作を実行す
る手段と、磁気ディスク装置の全面に対し、磁気ディス
ク装置内の磁気ヘッドと位置を内周側に微少分ずらした
時の読出動作で、読出動作エラーが一定回数以上発生し
たら内周側での読出動作を終了する手段と、上位装置か
ら磁気ディスク装置の全面に対し、磁気ディスク装置内
の磁気ヘッドの位置を外周側に微少分ずらすように指示
するとともに、その状態のままでトラック上にかかれて
いるデータをの読出動作を実行する手段と、磁気ディス
ク装置の全面に対し、磁気ディスク装置内の磁気ヘッド
の位置を外周側に微少分ずらした時の読出動作で、読出
動作エラーが一定回数以上発生したら外周側での読出動
作を終了する手段と有している。
置からの指示により、磁気ディスク装置内の磁気ヘッド
を通常の位置より内周側、又は、外周側に微詳分ずらす
機能を有する磁気ディスク装置のオフセットリード試験
方式に於て、上位装置から磁気ディスク装置の全面に対
し、磁気ディスク装置内の磁気ヘッドの位置を内周側に
微少分ずらすように指示するとともに、その状態のまま
でトラック上に書かれているデータの読出動作を実行す
る手段と、磁気ディスク装置の全面に対し、磁気ディス
ク装置内の磁気ヘッドと位置を内周側に微少分ずらした
時の読出動作で、読出動作エラーが一定回数以上発生し
たら内周側での読出動作を終了する手段と、上位装置か
ら磁気ディスク装置の全面に対し、磁気ディスク装置内
の磁気ヘッドの位置を外周側に微少分ずらすように指示
するとともに、その状態のままでトラック上にかかれて
いるデータをの読出動作を実行する手段と、磁気ディス
ク装置の全面に対し、磁気ディスク装置内の磁気ヘッド
の位置を外周側に微少分ずらした時の読出動作で、読出
動作エラーが一定回数以上発生したら外周側での読出動
作を終了する手段と有している。
【０００５】
【実施例】次に本発明の実施例について図面を参照して
詳細に説明する。
詳細に説明する。
【０００６】図２は本発明を適用した方式で用いられる
機器構成のブロック図であり、該機器はプログラム制御
を行う中央処理装置１、プログラムを常駐するメインメ
モリ２、操作者とプログラムとのインタフェースを司る
システムコンソール３、試験対象装置である磁気ディス
ク装置４から構成される。
機器構成のブロック図であり、該機器はプログラム制御
を行う中央処理装置１、プログラムを常駐するメインメ
モリ２、操作者とプログラムとのインタフェースを司る
システムコンソール３、試験対象装置である磁気ディス
ク装置４から構成される。
【０００７】図１は本発明を適用した方式に於て、プロ
グラムの動作を示すものである。以降本図を用いて詳細
を説明する。前準備として図１で示されるプログラムの
起動を行う。
グラムの動作を示すものである。以降本図を用いて詳細
を説明する。前準備として図１で示されるプログラムの
起動を行う。
【０００８】図１に於て、まず、ステップ１００で磁気
ディスク装置内の磁気ヘッドの位置を内周側と磁気ヘッ
ド設定フラグに登録する。
ディスク装置内の磁気ヘッドの位置を内周側と磁気ヘッ
ド設定フラグに登録する。
【０００９】次に、ステップ１０１で全面に対して読出
動作を実行したかチェックし、全面に対し読出動作を実
行していなければステップ１０２へ飛び、未実行シリン
ダをインクリメントに１シリンダ選択し、磁気ヘッド設
定フラグに従って、磁気ディスク装置に対し磁気ヘッド
の位置を内周側又は、外周側に微少分ずらした後、シリ
ンダへの読出動作を実行する。
動作を実行したかチェックし、全面に対し読出動作を実
行していなければステップ１０２へ飛び、未実行シリン
ダをインクリメントに１シリンダ選択し、磁気ヘッド設
定フラグに従って、磁気ディスク装置に対し磁気ヘッド
の位置を内周側又は、外周側に微少分ずらした後、シリ
ンダへの読出動作を実行する。
【００１０】ステップ１０２の読出動作が正常終了した
のかステップ１０３でステータスチェックし、正常終了
していればステップ１０１へ飛ぶ。
のかステップ１０３でステータスチェックし、正常終了
していればステップ１０１へ飛ぶ。
【００１１】ステップ１０３のステータスチェックで正
常終了していなかったならばステップ１０４で一定回数
以上のステータスエラーが発生したかチェックし、一定
回数以上のステータスエラーが発生していなければステ
ップ１０１へ飛び、一定回数以上のステータスエラーが
発生していればステップ２００へ飛ぶ。
常終了していなかったならばステップ１０４で一定回数
以上のステータスエラーが発生したかチェックし、一定
回数以上のステータスエラーが発生していなければステ
ップ１０１へ飛び、一定回数以上のステータスエラーが
発生していればステップ２００へ飛ぶ。
【００１２】一方、ステップ１０１のチェックで全面に
対して読出動作を実行していたならばステップ２００へ
飛び、ステップ２００で磁気ディスク装置の磁気ヘッド
の位置は外周側を実行していたかチェックし、外周側を
実行していなければステップ２０１で磁気ヘッドの位置
を外周側と磁気ヘッド設定フラグに登録しステップ１０
１へ飛ぶ。
対して読出動作を実行していたならばステップ２００へ
飛び、ステップ２００で磁気ディスク装置の磁気ヘッド
の位置は外周側を実行していたかチェックし、外周側を
実行していなければステップ２０１で磁気ヘッドの位置
を外周側と磁気ヘッド設定フラグに登録しステップ１０
１へ飛ぶ。
【００１３】ステップ２００のチェックで、磁気ヘッド
の位置は外周側を実行していたならばステップ３００で
実行結果を編集出力してプログラムの動作を終了する。
の位置は外周側を実行していたならばステップ３００で
実行結果を編集出力してプログラムの動作を終了する。
【００１４】
【発明の効果】本発明によれば、以上に説明したよう
に、磁気ディスク装置の全面に対して、磁気ディスク装
置内の磁気ヘッドの位置を内周側及び外周側に微少分ず
らし読出動作を実行する為、オフセット系の障害を的確
に把握することが出来るという効果がある。
に、磁気ディスク装置の全面に対して、磁気ディスク装
置内の磁気ヘッドの位置を内周側及び外周側に微少分ず
らし読出動作を実行する為、オフセット系の障害を的確
に把握することが出来るという効果がある。
【図１】本発明を適用した方式に於て、プログラムの動
作を示すものである。
作を示すものである。
【図２】本発明が適用される機器構成を示すブロック図
である。
である。
１ 中央処理装置 ２ メインメモリ ３ システムコンソール ４ 磁気ディスク装置
Claims (1)
- 【請求項１】 上位装置からの指示により、磁気ディス
ク装置内の磁気ヘッドを通常の位置より内周側、又は、
外周側に微少分ずらす機能を有する磁気ディスク装置の
オフセットリード試験方式に於て、 上位装置から磁気ディスク装置の全面に対し、磁気ディ
スク装置内の磁気ヘッドの位置を内周側に微少分ずらす
ように指示するとともに、その状態のままでトラック上
に書かれているデータの読出動作を実行する手段と、 磁気ディスク装置の全面に対し、磁気ディスク装置内の
磁気ヘッドの位置を内周側に微少分ずらした時の読出動
作で、読出動作エラーが一定回数以上発生したら内周側
での読出動作を終了する手段と、 上位装置から磁気ディスク装置の全面に対し、磁気ディ
スク装置内の磁気ヘッドの位置を外周側に微少分ずらす
ように指示するとともに、その状態のままでトラック上
にかかれているデータの読出動作を実行する手段と、 磁気ディスク装置の全面に対し、磁気ディスク装置内の
磁気ヘッドの位置を外周側に微少分ずらした時の読出動
作で、読出動作エラーが一定回数以上発生したら外周側
での読出動作を終了する手段とを有する磁気ディスク装
置のオフセットリード試験方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22931991A JPH0573820A (ja) | 1991-09-10 | 1991-09-10 | 磁気デイスク装置のオフセツトリード試験方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22931991A JPH0573820A (ja) | 1991-09-10 | 1991-09-10 | 磁気デイスク装置のオフセツトリード試験方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0573820A true JPH0573820A (ja) | 1993-03-26 |
Family
ID=16890281
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22931991A Pending JPH0573820A (ja) | 1991-09-10 | 1991-09-10 | 磁気デイスク装置のオフセツトリード試験方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0573820A (ja) |
-
1991
- 1991-09-10 JP JP22931991A patent/JPH0573820A/ja active Pending
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