JPH0574697A - 半導体装置の製造装置 - Google Patents
半導体装置の製造装置Info
- Publication number
- JPH0574697A JPH0574697A JP3230691A JP23069191A JPH0574697A JP H0574697 A JPH0574697 A JP H0574697A JP 3230691 A JP3230691 A JP 3230691A JP 23069191 A JP23069191 A JP 23069191A JP H0574697 A JPH0574697 A JP H0574697A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- coating
- coating liquid
- device manufacturing
- semiconductor device
- container
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- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
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- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
- Coating Apparatus (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 半導体装置の製造装置における塗布液の供給
部の改良に関し、塗布液を塗布する場合の容器の保持状
態を変更することにより、半導体ウエーハの表面に塗布
液の均一な膜厚の被膜を形成することが可能となる半導
体装置の製造装置の提供を目的とする。 【構成】 スピナーチャックに載置した半導体ウエーハ
に塗布液5を供給し、このスピナーチャックを回転させ
てこの塗布液5の被膜をこの半導体ウエーハの表面に形
成する半導体装置の製造装置におけるこの塗布液5の供
給部において、この塗布液5を収容する容器1のキャッ
プ1aに接続された供給管4と、この容器1を保持する保
持具2に設けたピン2aを介してこの保持具2を支持する
スタンド3とを具備するように構成する。
部の改良に関し、塗布液を塗布する場合の容器の保持状
態を変更することにより、半導体ウエーハの表面に塗布
液の均一な膜厚の被膜を形成することが可能となる半導
体装置の製造装置の提供を目的とする。 【構成】 スピナーチャックに載置した半導体ウエーハ
に塗布液5を供給し、このスピナーチャックを回転させ
てこの塗布液5の被膜をこの半導体ウエーハの表面に形
成する半導体装置の製造装置におけるこの塗布液5の供
給部において、この塗布液5を収容する容器1のキャッ
プ1aに接続された供給管4と、この容器1を保持する保
持具2に設けたピン2aを介してこの保持具2を支持する
スタンド3とを具備するように構成する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体装置の製造装置
における塗布液の供給部の改良に関するものである。
における塗布液の供給部の改良に関するものである。
【0002】半導体装置の製造工程のフォトリソグラフ
ィー工程においてレジストの塗布を行う場合や、ガラス
系被膜や有機質被膜を形成する工程においてスピン塗布
によりこれらの材料を塗布する場合には、塗布膜厚の均
一性が要求されている。
ィー工程においてレジストの塗布を行う場合や、ガラス
系被膜や有機質被膜を形成する工程においてスピン塗布
によりこれらの材料を塗布する場合には、塗布膜厚の均
一性が要求されている。
【0003】以上のような状況から、スピン塗布膜厚の
均一性を確保することが可能な半導体装置の製造装置が
要望されている。
均一性を確保することが可能な半導体装置の製造装置が
要望されている。
【0004】
【従来の技術】従来の半導体装置の製造装置について図
2〜図4により詳細に説明する。図2は半導体装置の製
造装置の塗布部の概略構造を示す図、図3は従来の半導
体装置の製造装置の高圧ガス圧送による塗布液供給部を
示す図、図4は従来の半導体装置の製造装置の圧送ポン
プによる塗布液供給部を示す図である。
2〜図4により詳細に説明する。図2は半導体装置の製
造装置の塗布部の概略構造を示す図、図3は従来の半導
体装置の製造装置の高圧ガス圧送による塗布液供給部を
示す図、図4は従来の半導体装置の製造装置の圧送ポン
プによる塗布液供給部を示す図である。
【0005】図2に示すような半導体装置の製造装置の
塗布部には、回転軸6aを中心として高速で回転すること
が可能なスピナーチャック6が、このスピナーチャック
6を取り囲む排液口7aを下部に備えたカップ7の中央に
設けられている。
塗布部には、回転軸6aを中心として高速で回転すること
が可能なスピナーチャック6が、このスピナーチャック
6を取り囲む排液口7aを下部に備えたカップ7の中央に
設けられている。
【0006】塗布液5を半導体ウエーハ9に塗布する場
合には、このスピナーチャック6の表面に半導体ウエー
ハ9を真空吸着して固定してその表面にノズル8から塗
布液5を供給した後、スピナーチャック6を高速回転す
るスピン塗布により塗布液5の被膜を半導体ウエーハ9
の表面に形成している。
合には、このスピナーチャック6の表面に半導体ウエー
ハ9を真空吸着して固定してその表面にノズル8から塗
布液5を供給した後、スピナーチャック6を高速回転す
るスピン塗布により塗布液5の被膜を半導体ウエーハ9
の表面に形成している。
【0007】図3は従来の半導体装置の製造装置の高圧
ガス圧送による塗布液供給部を示す図であり、図に示す
ように容器11に塗布液5を収容し、この容器のキャップ
11aを貫通する供給管14を容器11の底面の近傍まで挿入
し、このキャップ11a に設けたガス供給管11b から高圧
ガスを供給して塗布液5を供給管14を通して圧送し、図
2に示すノズル8から塗布液5を半導体ウエーハ9の表
面に供給している。
ガス圧送による塗布液供給部を示す図であり、図に示す
ように容器11に塗布液5を収容し、この容器のキャップ
11aを貫通する供給管14を容器11の底面の近傍まで挿入
し、このキャップ11a に設けたガス供給管11b から高圧
ガスを供給して塗布液5を供給管14を通して圧送し、図
2に示すノズル8から塗布液5を半導体ウエーハ9の表
面に供給している。
【0008】図4は従来の半導体装置の製造装置の圧送
ポンプによる塗布液供給部を示す図であり、図に示すよ
うに容器21に塗布液5を収容し、この容器のキャップ21
a を貫通する供給管24を容器21の底面の近傍まで挿入
し、このキャップ21a に設けたガス供給管21b を通して
大気が流入するようにし、圧送ポンプ25、例えばベロー
ズポンプによって塗布液5を供給管24を通してに送り出
し、図2に示すノズル8から塗布液5を半導体ウエーハ
9の表面に供給している。
ポンプによる塗布液供給部を示す図であり、図に示すよ
うに容器21に塗布液5を収容し、この容器のキャップ21
a を貫通する供給管24を容器21の底面の近傍まで挿入
し、このキャップ21a に設けたガス供給管21b を通して
大気が流入するようにし、圧送ポンプ25、例えばベロー
ズポンプによって塗布液5を供給管24を通してに送り出
し、図2に示すノズル8から塗布液5を半導体ウエーハ
9の表面に供給している。
【0009】塗布液5の粘度が高い場合には図3、図4
に示すように供給管14,24 の管壁に気泡5aが付着し、こ
の気泡5aが管壁から離れた場合には、塗布液5に気泡5a
が混入して半導体ウエーハ9の表面に供給されることが
ある。
に示すように供給管14,24 の管壁に気泡5aが付着し、こ
の気泡5aが管壁から離れた場合には、塗布液5に気泡5a
が混入して半導体ウエーハ9の表面に供給されることが
ある。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】以上説明した従来の半
導体装置の製造装置においては、容器に収容された塗布
液を供給管を経由して半導体ウエーハの表面まで供給し
た場合、この半導体ウエーハの表面の塗布液の中に気泡
が含まれていると、スピナーチャックを高速転させて半
導体ウエーハの被膜を半導体ウエーハの表面に形成した
場合、塗布ムラが生じて均一な膜厚の被膜を形成するこ
とができなくなるという問題点があった。
導体装置の製造装置においては、容器に収容された塗布
液を供給管を経由して半導体ウエーハの表面まで供給し
た場合、この半導体ウエーハの表面の塗布液の中に気泡
が含まれていると、スピナーチャックを高速転させて半
導体ウエーハの被膜を半導体ウエーハの表面に形成した
場合、塗布ムラが生じて均一な膜厚の被膜を形成するこ
とができなくなるという問題点があった。
【0011】本発明は以上のような状況から、塗布液を
塗布する場合の容器の保持状態を変更することにより、
半導体ウエーハの表面に塗布液の均一な膜厚の被膜を形
成することが可能となる半導体装置の製造装置の提供を
目的としたものである。
塗布する場合の容器の保持状態を変更することにより、
半導体ウエーハの表面に塗布液の均一な膜厚の被膜を形
成することが可能となる半導体装置の製造装置の提供を
目的としたものである。
【0012】
【課題を解決するための手段】本発明の半導体装置の製
造装置は、スピナーチャックに載置した半導体ウエーハ
に塗布液を供給し、このスピナーチャックを回転させて
この塗布液の被膜をこの半導体ウエーハの表面に形成す
る半導体装置の製造装置におけるこの塗布液の供給部に
おいて、この塗布液を収容する容器のキャップに接続さ
れた供給管と、この容器を保持する保持具に設けたピン
を介してこの保持具を支持するスタンドとを具備するよ
うに構成する。
造装置は、スピナーチャックに載置した半導体ウエーハ
に塗布液を供給し、このスピナーチャックを回転させて
この塗布液の被膜をこの半導体ウエーハの表面に形成す
る半導体装置の製造装置におけるこの塗布液の供給部に
おいて、この塗布液を収容する容器のキャップに接続さ
れた供給管と、この容器を保持する保持具に設けたピン
を介してこの保持具を支持するスタンドとを具備するよ
うに構成する。
【0013】
【作用】即ち本発明においては、塗布液を塗布する場合
に塗布液を収容する容器を保持具のピンを軸として反転
し、供給管と接続されているキャップが下になるように
容器を保持するので、供給管内の気泡が管壁から離れる
と、気泡は容器の中の塗布液中を上方に浮上し、容器の
上部の空気中に放出されるから、供給管によって供給さ
れた塗布液中に気泡が混入することがなくなるので、半
導体ウエーハの表面に供給された塗布液をスピナーチャ
ックを回転して半導体ウエーハの表面に被膜として形成
した場合に、膜厚の均一な塗布液の被膜を形成すること
が可能となる
に塗布液を収容する容器を保持具のピンを軸として反転
し、供給管と接続されているキャップが下になるように
容器を保持するので、供給管内の気泡が管壁から離れる
と、気泡は容器の中の塗布液中を上方に浮上し、容器の
上部の空気中に放出されるから、供給管によって供給さ
れた塗布液中に気泡が混入することがなくなるので、半
導体ウエーハの表面に供給された塗布液をスピナーチャ
ックを回転して半導体ウエーハの表面に被膜として形成
した場合に、膜厚の均一な塗布液の被膜を形成すること
が可能となる
【0014】
【実施例】以下図1〜図2により本発明の一実施例につ
いて詳細に説明する。図1は本発明による一実施例の半
導体装置の製造装置の塗布液供給部を示す図、図2は半
導体装置の製造装置の塗布部の概略構造を示す図であ
る。
いて詳細に説明する。図1は本発明による一実施例の半
導体装置の製造装置の塗布液供給部を示す図、図2は半
導体装置の製造装置の塗布部の概略構造を示す図であ
る。
【0015】図2に示す半導体装置の製造装置の塗布部
は従来と同じである。図1はこの塗布液5の供給部を示
す図であり、図1(a) に示すように底部に補助キャップ
1bを有する容器1に塗布液5を収容し、この容器1のキ
ャップ1aには供給管4が直接に接続されており、この容
器1を保持する保持具2の対向する位置にはピン2aが設
けられ、このピン2aを介して保持具2はスタンド3に取
り付けられている。
は従来と同じである。図1はこの塗布液5の供給部を示
す図であり、図1(a) に示すように底部に補助キャップ
1bを有する容器1に塗布液5を収容し、この容器1のキ
ャップ1aには供給管4が直接に接続されており、この容
器1を保持する保持具2の対向する位置にはピン2aが設
けられ、このピン2aを介して保持具2はスタンド3に取
り付けられている。
【0016】この容器1に収容されている塗布液5を半
導体装置の製造装置の塗布部に供給する場合には、図1
(b) に示すようにまず容器1の保持具2のピン2aを中心
としてこの容器1をスタンド3に対して 180°回転して
倒立させて補助キャップ1bを開いておくと、供給管4内
の塗布液5に混入して管壁から離れた気泡5aはこの供給
管4内を上昇し、容器1内の塗布液5内を経由してこの
容器1内の空間に放出される。
導体装置の製造装置の塗布部に供給する場合には、図1
(b) に示すようにまず容器1の保持具2のピン2aを中心
としてこの容器1をスタンド3に対して 180°回転して
倒立させて補助キャップ1bを開いておくと、供給管4内
の塗布液5に混入して管壁から離れた気泡5aはこの供給
管4内を上昇し、容器1内の塗布液5内を経由してこの
容器1内の空間に放出される。
【0017】このような状態で塗布液5を図示しないベ
ローズポンプにより供給管4を経由して図2に示すノズ
ル8に供給すると、塗布液5内の気泡5aが除去されてい
るから、半導体ウエーハ9の表面に供給された塗布液5
には気泡5aが混入していないので、この塗布液5をスピ
ン塗布すれば、膜厚の均一な塗布液5の被膜を半導体ウ
エーハ9の表面に形成することが可能となる。
ローズポンプにより供給管4を経由して図2に示すノズ
ル8に供給すると、塗布液5内の気泡5aが除去されてい
るから、半導体ウエーハ9の表面に供給された塗布液5
には気泡5aが混入していないので、この塗布液5をスピ
ン塗布すれば、膜厚の均一な塗布液5の被膜を半導体ウ
エーハ9の表面に形成することが可能となる。
【0018】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
によれば極めて簡単な構造の変更により、スピン塗布工
程において塗布液に気泡が混入するのを防止することが
可能となるので、半導体ウエーハに均一な膜厚の塗布液
を塗布することが可能となる等の利点があり、著しい経
済的及び、信頼性向上の効果が期待できる半導体装置の
製造装置の提供が可能である。
によれば極めて簡単な構造の変更により、スピン塗布工
程において塗布液に気泡が混入するのを防止することが
可能となるので、半導体ウエーハに均一な膜厚の塗布液
を塗布することが可能となる等の利点があり、著しい経
済的及び、信頼性向上の効果が期待できる半導体装置の
製造装置の提供が可能である。
【図1】 本発明による一実施例の半導体装置の製造装
置の塗布液供給部を示す図、
置の塗布液供給部を示す図、
【図2】 半導体装置の製造装置の塗布部の概略構造を
示す図、
示す図、
【図3】 従来の半導体装置の製造装置の高圧ガス圧送
による塗布液供給部を示す図、
による塗布液供給部を示す図、
【図4】 従来の半導体装置の製造装置の圧送ポンプに
よる塗布液供給部を示す図、
よる塗布液供給部を示す図、
1は容器、 1aはキャップ、 1bは補助キャップ、 2は保持具、 2aはピン、 3はスタンド、 4は供給管、 5は塗布液、 5a気泡、 6はスピナーチャック、 6aは回転軸、 7はカップ、 7aは排液口、 8はノズル、 9は半導体ウエーハ、
Claims (1)
- 【請求項1】 スピナーチャック(6) に載置した半導体
ウエーハ(9) に塗布液(5) を供給し、前記スピナーチャ
ック(6) を回転させて前記塗布液(5) の被膜を前記半導
体ウエーハ(9) の表面に形成する半導体装置の製造装置
における前記塗布液(5) の供給部において、 前記塗布液(5)を収容する容器(1)のキャップ(1a)に接続
された供給管(4) と、 前記容器(1) を保持する保持具(2) に設けたピン(2a)を
介して前記保持具(2)を支持するスタンド(3) と、 を具備することを特徴とする半導体装置の製造装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3230691A JPH0574697A (ja) | 1991-09-11 | 1991-09-11 | 半導体装置の製造装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3230691A JPH0574697A (ja) | 1991-09-11 | 1991-09-11 | 半導体装置の製造装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0574697A true JPH0574697A (ja) | 1993-03-26 |
Family
ID=16911802
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3230691A Withdrawn JPH0574697A (ja) | 1991-09-11 | 1991-09-11 | 半導体装置の製造装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0574697A (ja) |
-
1991
- 1991-09-11 JP JP3230691A patent/JPH0574697A/ja not_active Withdrawn
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19981203 |