JPH0575273B2 - - Google Patents

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JPH0575273B2
JPH0575273B2 JP61120408A JP12040886A JPH0575273B2 JP H0575273 B2 JPH0575273 B2 JP H0575273B2 JP 61120408 A JP61120408 A JP 61120408A JP 12040886 A JP12040886 A JP 12040886A JP H0575273 B2 JPH0575273 B2 JP H0575273B2
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JP
Japan
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circuit
contact
terminal
power supply
check pin
Prior art date
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JP61120408A
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English (en)
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JPS62276471A (ja
Inventor
Hiroshi Eianji
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Aida Engineering Ltd
Original Assignee
Aida Engineering Ltd
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Publication date
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  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 【産業上の利用分野】
本発明は、産業機械の制御回路においてどのイ
ンタロツク接点が作動したかを検出する不良箇所
検出装置に関する。
【従来の技術】
周知の通りプレス機械等の産業機械は、その制
御回路の母線間にインタロツク接点が運転回路と
直列に配置されており、運転中に異常が発生する
異常箇所に対応してインタロツク接点が遮断さ
れ、運転回路に対する電源を遮断して非常停止す
る様になされている。 運転中にインタロツク接点の作動により非常停
止した場合には、運転再開に先立つてどのインタ
ロツク接点が遮断されたかを追求し、異常発生箇
所を修復することが要求される。 この様な目的のための不良箇所検出装置として
は一般的にテスタが使用されており、接点毎の導
通状態を調べることにより、インタロツク接点の
作動箇所を追求していた。
【発明が解決しようとする問題点】
しかしながら、テスタは抵抗レンジ・電圧レン
ジ・電流レンジ等を任意に切り換えて使用するこ
とができる汎用的な検査装置であるので、その取
り扱いに際してはこのレンジ切り換えに細心の注
意を払わねばならず、不用意な操作によつてレン
ジ切り換えを誤ると装置が破壊される危険性があ
る。
【問題点を解決するための手段】
本発明はこの様な問題点に鑑みてなされたもの
であり、取り扱いミスが少なく、誰にでも容易に
不良箇所を検出することができる新規な不良箇所
検出装置を提供することを目的とする。 要約すれば、本発明の不良検出装置は、被検出
装置の制御母線の一方のラインに接続される第1
の電源端子3と:前記被検出装置の制御母線の他
方のラインに接続される第2の電源端子2と:前
記第2の電源端子2とオア論理を構成して接続さ
れ、前記被検出装置の前記制御母線間にその運転
回路とともにアンド接続された複数のインタロツ
ク接点の前記一方のライン側に随時接続されるチ
エツクピン4と:前記第2の電源端子2と前記チ
エツクピン4のいずれか一方を選択する手動操作
接点7と:第2の電源端子2又は前記チエツクピ
ン4と前記第1の電源端子3との間に制御電流が
流れることにより点灯する表示灯6と:前記手動
操作接点から前記第1の電源端子に至る回路中に
設けられ、上記回路中の抵抗値を変化させる抵抗
調整機構とを有しており:前記チエツクピン4を
前記インタロツク接点を何れかに接続させた時の
前記パイロツトランプの点灯状態によつて当該イ
ンタロツク接点が作動したか否かをチエツクする
ことができる様になされている。
【作用】
即ち、本発明の不良箇所検出装置は、基本的に
は第2の電源端子及びチエツクピンの並列回路を
第1の電源端子とパイロツトランプと抵抗値調整
回路と直列接続しただけの回路であるので、前記
抵抗値調整回路を調整して回路抵抗を調節するの
みで、制御回路の電源電圧の変化に対応すること
ができる。 又、前記第1の電源端子及び第2の電源端子を
被検出装置の制御母線に各々接続し、前記第2の
電源端子及びチエツクピンの内の第2の電源端子
を有効にすればパイロツトランプが点灯し、パイ
ロツトランプ自体のチエツクができる。 又、前記第1ので電源端子を被検出装置の一方
の制御母線に接続するとともに、前記第2の電源
端子及びチエツクピンの内のチエツクピンを有効
にし、前記チエツクピンを被検出装置のインタロ
ツク接点の前記一方のライン側に接続すれば、パ
イロツトランプが点灯するか否かによつて当該イ
ンタロツク接点が作動したか否かを検出すること
ができる。
【実施例】
以下図面を参照して本発明の1実施例を詳細に
説明する。 第1図は本発明の不良箇所検出装置の外観例を
示す平面図であり、筐体1からはR相接続端子
2、T相接続端子3、チエツクピン4が各々リー
ド線により導出されている。 そして、R相接続端子2はプレス装置その他の
工作機械の制御回路のR相ラインに、同様にT相
接続端子3は上記工作機械の制御回路のT相ライ
ンに、チエツクピン4は前記制御回路中の導通チ
エツクの対象となるインタロツク接点のT相ライ
ン側と各々接続されるものである。 又、筐体1の表面には200V・100Vのレンジを
切り換えるための切り換えスイツチ5、チエツク
の対象となるインタロツク接点の導通状態を点灯
表示するパイロツトランプ6、パイロツトランプ
6自体の点灯状態をテストするテストボタン7が
各々適宜位置される。尚、これら部材の筐体1上
における配置箇所は本発明にとつては重要な問題
ではない。 次に、第2図は本発明の不良箇所検出装置の具
体的な回路例を示す回路図であり、第2図におい
て、2,3,4,5,6,7は第1図において既
に説明した、R相接続端子2・T相接続端子・チ
エツクピン4・切り換えスイツチ5・パイロツト
ランプ6・テストボタン7を各々示している。 又、第2図において8は被検出装置の制御電圧
が200Vの時に選択される抵抗、9は被検出装置
の制御電圧が100Vの時に選択される抵抗を各々
示しており、抵抗8と切り換えスイツチ5の接点
5aの直列回路及び抵抗9と切り換えスイツチ5
の接点5bの直列回路は並列に接続され、切り換
えスイツチ5の接点5aをメークすることにより
200V用の抵抗8が、又、切り換えスイツチ5の
接点5bをメークすることにより100V用の抵抗
9が各々有効に選択される様になされている。 又、テストボタン7はB接点7aとA接点7b
を有しており、B接点7aはチエツクピン4と接
続され、A接点7bはR相接続端子2と接続され
ている。 更に、第2図において10はダイオードブリツ
ジを使用した整流回路、11は分流用の抵抗、1
2は定電圧用のツエナーダイオードを各々示して
おり、パイロツトランプ6に対して順方向電圧が
印加されているか否かによつて目的となるインタ
ロツク接点の作動状況を調べることができる様に
なされている。 次に上記事項及び第3図を参照して本実施例の
動作を説明する。 尚、第3図は本発明の不良箇所検出装置により
インタロツク接点の作動箇所の検出がなされる工
作機械の制御回路中から本発明に直接関連する箇
所を抽出して示した回路図であり、I1〜I6はイン
タロツク接点、PB1は運転ボタン、PB2は停止
ボタン、OLはオーバーロードリレー、21は運
転ボタンPB1のメークにより励磁されるリレー
コイル、22はリレーコイル21を自己保持する
A接点を各々示し、リレーコイル21が励磁され
ることにより運転がなされる様になされている。 先ず、第3図に示す工作機械の制御回路は、正
常状態においてはインタロツク接点I1〜I6が全て
メークしている。従つて、運転ボタンPB1が押
されることによりリレーコイル21が励磁され、
A接点22によつて自己保持されて、運転が開始
される。 そして、停止ボタンPB2が押されるか、又は、
何れかのインタロツク接点I1〜I6がブレークする
と、リレーコイル21がブレークされて運転が停
止する。 第1図・第2図に示す実施例の不良箇所検出装
置は、T相接続端子3が制御回路のT相ライン
に、R相接続端子2が制御回路のR相ラインに、
チエツクピン4が各インタロツク接点I1〜I6の相
互接続点の何れかに接続されて使用される。 又、被検出装置の制御回路用電源が、200Vの
場合は切り換えスイツチ5の接点5aがメークさ
れて200V用の抵抗8が選択され、100Vの場合は
切り換えスイツチ5の接点5bがメークされて
100V用の抵抗9が選択される。 本実施例の不良箇所検出装置は、(1)パイロツト
ランプ6自体の導通チエク、(2)各インタロツク接
点の導通チエツク、の2種類の動作モードを有す
る。 先ず、(1)のパイロツトランプ6自体の導通チエ
クを行う場合には、T相接続端子3及びR相接続
端子2を第3図に示す制御回路のT相ライン及び
R相ラインに各々接続した後に、テストボタン7
を押して接点7bをメークさせる。 従つて、R相接続端子2−接点7b−接点5a
(又は接点5b)−抵抗8(又は抵抗9)−整流回
路10−T相接続端子3の経路に流れる交流によ
つて整流回路10から光11・パイロツトランプ
6・ツエナーダイオード12の並列回路に電流が
流れる。従つて、パイロツトランプ6が正常であ
ればパイロツトランプ6は点灯し、パイロツトラ
ンプ6が点灯しない時にはパイロツトランプ6の
異常を検出することができる。 次に、(2)の各インタロツク接点の導通チエツク
を行う場合に関して説明する。 尚、以下の説明は、第3図の制御回路の運転中
にインタロツク接点I4が作動し、インタロツク接
点I4がブレークしたままになつたものと仮定して
いる。 インタロツク接点の導通チエツクを行う場合に
は、チエツクピン4を目的となるインタロツク接
点のT相ライン側に接触させる。 先ず、インタロツク接点I1のT相ライン側にチ
エツクピン4を接続すると、正常なインタロツク
接点I1はメークしているのでチエツクピン4はR
相ラインと導通する。 従つて、チエツクピン4−接点7a−接点5a
(又は接点5b)−抵抗8(又は抵抗9)−整流回
路10−T相接続端子3の経路に流れる交流によ
つて整流回路10から抵抗11・パイロツトラン
プ6・ツエナーダイオード12の並列回路に電流
が流れ、パイロツトランプ6が点灯する。 インタロツク接点I2及びI3のT相ライン側にチ
エツクピン4を接触させた場合にも、チエツクピ
ン4はR相ラインと導通するので、上記と同様に
してパイロツトランプ6は点灯する。 さて、ブレークしているインタロツク接点I4
T相ライン側にチエツクピン4を接触させた場合
には、チエツクピン4はR相ラインとは導通しな
いので、パイロツトランプ6は点灯せず、その結
果インタロツク接点I4がブレークしていることを
発見できる。 又、切り換えスイツチ5の設定ミスにより被検
出装置の制御電源が200Vの場合に100V用の抵抗
9を選択しても、ツエナーダイオード12によつ
てパイロツトランプ6に対する印加電圧は抑制さ
れ、過大電圧でパイロツトランプ6が損傷する危
険は避けられる。 尚、上記では1個の筐体1内に第2図に例示し
た回路を1個収めた例を示したが、同様の回路を
並列に配置し、複数のチエツクピンを同時に使用
すれば、一度でインタロツク箇所を発見すること
ができる。尚、この場合においてR相接続端子及
びT相接続端子は共有できることはいうまでもな
い。 又、上記ではパイロツトランプ6の導通チエツ
クを行うためにR相接続端子2及びテストボタン
7を設けた例を示したが、R相接続端子2及びポ
ストボタン7を省略しても、T相接続端子3を被
検出装置の制御回路のT相ラインに接続するとと
もに、チエツクピン4を被検出装置の制御回路の
R相ラインに接続すれば、パイロツトランプ6の
導通チエツクを行うことができる。但し、上記実
施例の様にR相接続端子2及びテストボタン7を
設けた場合、操作ミスがより少なくなると思われ
る。
【効果】
以上説明した様に、本発明の不良箇所検出装置
によれば、単にチエツクピンをアンド結線された
インタロツク接点に順次接触させ、パイロツトラ
ンプが点灯するか否かという極めて単純な判断を
するのみでインタロツク接点の作動箇所を確実に
検出することができる。 又、上記の様に本発明の不良箇所検出装置は、
そのレンジ切り換えも被検出回路の電源電圧に対
応して抵抗レンジを切り換えるのみであるので、
レンジ切り換えを誤る危険が少ない。又、仮にレ
ンジ切り換えを過つても、入力電圧が低くなつた
場合はパイロツトランプの輝度が低下するのみで
あるし、又、入力電圧が高くなつた場合にもツエ
ナー電圧によりパイロツトランプが高電圧で破壊
される事態は防止される。 更に、本発明の不良箇所検出装置によれば、パ
イロツトランプ自体の良・不良を簡単に確認する
ことも可能である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の1実施例を示す平面図、第2
図は本発明の1実施例を示す回路図、第3図は本
発明の不良箇所検出装置により検出される装置の
制御回路中から本発明に直接関連する箇所を抽出
して示した回路図。 1……筐体、2……端子、3……端子、4……
チエツクピン、5……切り換えスイツチ、6……
パイロツトランプ、7……テストボタン、8,9
……抵抗。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 被検出装置の制御母線の一方のラインに接続
    される第1の電源端子と、 前記被検出装置の制御母線の他方のラインに接
    続される第2の電源端子と、 前記第2の電源端子とオア論理を構成して接続
    され、前記被検出装置の前記制御母線間にその運
    転回路とともにアンド接続された複数のインタロ
    ツク接点の前記一方のライン側に随時接続される
    チエツクピンと、 前記第2の電源端子と前記チエツクピンのいず
    れか一方を選択する手動操作接点と、 前記第2の電源端子又は前記チエツクピンと前
    記第1の電源端子との間に制御電流が流れること
    により点灯する表示灯と 前記手動操作接点から前記第1の電源端子に至
    る回路中に設けられ、上記回路中の抵抗値を変化
    させる抵抗調整機構とを有する不良箇所検出装
    置。 2 特許請求の範囲第1項記載の不良箇所検出装
    置において、 前記抵抗調整機構は、前記制御回路の電源電圧
    に対応した複数の抵抗の並列回路と、前記複数の
    抵抗のいずれかを選択する切り換えスイツチとを
    有し、前記切り換えスイツチの操作パネル上に電
    源電圧が表示されたことを特徴とする不良箇所検
    出装置。
JP61120408A 1986-05-26 1986-05-26 不良箇所検出装置 Granted JPS62276471A (ja)

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JP61120408A JPS62276471A (ja) 1986-05-26 1986-05-26 不良箇所検出装置

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JP61120408A JPS62276471A (ja) 1986-05-26 1986-05-26 不良箇所検出装置

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JPS62276471A JPS62276471A (ja) 1987-12-01
JPH0575273B2 true JPH0575273B2 (ja) 1993-10-20

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