JPH057583Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ この考案は抵抗測定回路に係り、特に高抵抗を
遅延なしに測定できる抵抗測定回路に関するもの
である。

［考案の技術的背景］ 従来、抵抗値を測定する方法の一つとして、例
えば第５図に示すような測定回路がある。この測
定回路は被測定対象１に定電圧源２の定電圧Ｅを
印加し、被測定対象１に流れる電流を電流−電圧
変換器３で電圧に変換し、この電圧によつて抵抗
値を測定する。この方法は被測定対象１が高抵抗
であつて、その高抵抗に流れる電流が微小である
場合に極めて有効である。

次に、上記測定回路の動作を説明する。先ず、
定電圧Ｅが印加されると、被測定対象１に流れる
電流Ixは電流−電圧変換器３の反転入力側に流れ
る。この電流−電圧変換器３はスイツチSWfの
ONにより電流Ixに対応した電圧Vxを出力する。
この場合、電流−電圧変換器３は反転増幅回路が
用いられており、反転入力端子をイマジナリーシ
ヨートと考えてよいので、反転入力側に入力する
電流Ixと抵抗Rf（帰還抵抗）を流れる電流Ifとは
等しいとみなせる。ここで、Ix＝Ｅ／Rx，If＝
Vx／Rfであるため、被測定対象１の抵抗値はRx
＝RfE／Vxにより得ることができる。

しかしながら、上記測定回路は被測定対象１に
容量Ｃが含まれている場合、あるいは抵抗Rxに
対して並列に容量Ｃがある場合、次のような動作
をする。まず、電源電圧Vcc、定電圧Ｅが印加さ
れると、測定回路は第６図ａ乃至ｃに示すタイミ
ングチヤートのごとくスイツチSWfをONにして
から、時間ｔが経過しないと正しい電圧Vxを出
力しない。即ち、この時間ｔは被測定対象１に含
まれている容量Ｃの充電に相当するものと考えら
れる。この充電電流はRf／（Vmax−Ｅ）によ
り制限され、又、充電時間は容量Ｃに比例する。

即ち、反転増幅回路の出力電圧は電源電圧によ
り限界があるため、而も容量Ｃが大きいと、上記
測定回路では、スイツチSWf（マルチレンジ）を
切替えてから正しい測定値を得るまでに長時間か
かつてしまうと言う問題点があつた。

［考案の目的］ この考案は上記問題点に鑑みなされたものであ
り、その目的はスイツチ（マルチレンジ）を切り
換えた時点で被測定対象の抵抗値を遅れを生ずる
ことなく得ることができる抵抗測定回路を提供す
るにある。

［考案の構成］ 上記目的を達成するために、この考案の抵抗測
定回路は、被測定対象に定電圧を印加し、帰還回
路を有する電流−電圧変換器により該被測定対象
に流れる電流を電圧に変換し、該電圧に基づいて
前記被測定対象の抵抗値を測定する抵抗測定回路
において、前記帰還回路のインピーダンスを低下
させるインピーダンス低下手段を有し、該インピ
ーダンス低下手段を前記被測定対象に前記定電圧
を印加したのちに、所定時間動作させるようにし
たものである。

［実施例］ 以下、この考案の実施例を図面に基いて説明す
る。第１図は抵抗測定回路の一実施例を示す回路
図である。図に於て、１０は被測定対象（Rx，
Ｃ）であり、この被測定対象１０の一端には定電
圧源１１の定電圧Ｅが印加され、この他端は反転
増回路１２の反転入力側に入力している。この反
転入力側には直列に接続されたスイツチSWf−抵
抗Rf（帰還回路）を介して反転増回路の出力がフ
イードバツクされている。このスイツチSWf−抵
抗Rfの回路は測定器の切り換えスイツチ（例え
ばマルチレンジ）に該当するものである。また、
この回路（SWf−Rf）と並列に、被測定対象１
０に所定時間電流を供給するスイツチSW−抵抗
Ｒ回路が接続されている。即ち、この回路は帰還
回路の抵抗値（インピーダンス）を低下させる。

次に、上記構成からなる抵抗測定回路の動作を
第２図のタイミングチヤートに基いて説明する。
先ず、抵抗測定回路の駆動電源Vccが入り、被測
定対象１０が接続されると、被測定対象１０には
定電圧Ｅが印加される（図ａ）。次に、スイツチ
SWが所定時間（Ｔ：図ｂ）ONの後、測定のた
めのスイツチSWfをONにすると（所定のレンジ
に切り換える）（図ｃ）、この時点で抵抗測定回路
は正しい出力電圧Vxを出力する。

即ち、これは、所定時間Ｔで被測定対象１０に
含まれている容量ＣがスイツチSW−抵抗Ｒ回路
により充電されるため、従来の充電時間ｔに対応
する遅れがないことによる。

第３図は上記実施例の変形例を示す抵抗測定回
路の回路図である。なお、第３図中、第１図の部
分と同一部分には同一符号を付し、重複説明を省
略する。

第３図において、第１図のスイツチSW−抵抗
Ｒ回路に代えてスイツチSW回路が用いられてい
る。即ち、これは短絡回路を構成している。この
変形例の場合、スイツチSWのONにより反転増
幅回路の帰還抵抗（インピーダンス）は極めて小
さくなる。従つて、抵抗測定回路は上記実施例同
様のスイツチSW，SWf操作で、即刻正しい出力
電圧Vxを得ることができる。

第４図はこの考案の他の変形例を示す回路図で
ある。なお、第４図中、第１図と同一部分には同
一符号を付し、重複説明を省略する。

図において、スイツチSW_o−抵抗R_o（ｎ：整
数）回路（帰還回路）が第１図のスイツチSWf−
抵抗Rf回路の代わりに、複数個並列に接続され
ている。即ち、この回路は通常の測定回路の切り
換えスイツチ（例えばマルチレンジ）に該当する
ものである。従つて、スイツチ−抵抗回路はR₁
〜R_oのうち、最小抵抗の回路に該当するものが
選択される。

次に、上記構成からなる測定抵抗回路の動作を
説明する。この実施例の場合、まず、最小の抵抗
値のスイツチ−抵抗回路を選択し、そのスイツチ
をONにする。従つて、前記実施例同様に電源電
圧Vccが入り、定電圧Ｅが被測定対象１０に印加
されると、その時点から被測定対象１０の容量Ｃ
は最小の抵抗を介して流れる電流によつて充電さ
れる。即ち、切り換えスイツチを切替えて所望の
レンジにした場合、被測定対象１０の容量Ｃが既
に充電されているので、反転増幅回路１２は正し
い電圧Vxを出力する。なお、上記最小の抵抗値
に該当する回路のスイツチは定電圧Ｅが被測定対
象１０に印加されているときに、所定時間ONす
るようにしてもよい。

また、上記帰還回路の抵抗（インピーダンス）
を低下させるには、切り換えスイツチSW₁，…
…，SW_oを全てONにするようにしてもよい。

［考案の効果］ 以上説明したように、この考案の抵抗測定回路
によれば、スイツチ（マルチレンジ）を所望のレ
ンジに切替えて被測定対象の抵抗値を測定する前
に、予め被測定対象に電流を供給するようにした
ので、スイツチを切替えた時点で、被測定対象に
流れた電流に対応した正しい電圧が即刻得られ
る。即ち、この抵抗測定回路は、被測定対象が容
量を含み、あるいは抵抗と容量が並列に接続され
ていても遅延なしに、即座に正確な測定結果を得
ることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの考案の抵抗測定回路の一実施例を
示す回路図、第２図は上記回路のタイミングチヤ
ート図、第３図および第４図は上記実施例の変形
例を示す回路図、第５図は従来の抵抗測定回路の
実施例を示す回路図、第６図は上記従来回路のタ
イミングチヤート図である。 図中、１０は被測定対象、１１は定電圧源（定
電圧：Ｅ）、１２は電流−電圧変換回路（反転増
幅回路）、Ｒ，Rf，R₁，……R_oは抵抗、SW，
SWf，SW₁，……SW_oはスイツチである。

Claims (1)

1. 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 被測定対象に定電圧を印加し、帰還回路を有
   する電流−電圧変換器により該被測定対象に流
   れる電流を電圧に変換し、該電圧に基づいて前
   記被測定対象の抵抗値を測定する抵抗測定回路
   において、 前記帰還回路のインピーダンスを低下させる
   インピーダンス低下手段を有し、 該インピーダンス低下手段を前記被測定対象
   に前記定電圧を印加したのちに、所定時間動作
   させるようにしたことを特徴とする抵抗測定回
   路。 (2) 実用新案登録請求の範囲第１項において、前
   記インピーダンス低下手段は前記帰還回路と並
   列に低抵抗を接続してなることを特徴とする抵
   抗測定回路。 (3) 実用新案登録請求の範囲第１項において、前
   記インピーダンス低下手段は前記帰還回路と並
   列に短絡回路を接続してなることを特徴とする
   抵抗測定回路。 (4) 実用新案登録請求の範囲第１項において、前
   記帰還回路には複数の抵抗回路が並列に接続さ
   れており、前記インピーダンス低下手段は前記
   複数の抵抗回路のうち最小の抵抗回路を選択す
   るようにしたことを特徴とする抵抗測定回路。 (5) 実用新案登録請求の範囲第４項において前記
   インピーダンス低下手段は前記複数の抵抗回路
   を同時に選択するようにしたことを特徴とする
   抵抗測定回路。