JPH0576207B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0576207B2 JPH0576207B2 JP59241008A JP24100884A JPH0576207B2 JP H0576207 B2 JPH0576207 B2 JP H0576207B2 JP 59241008 A JP59241008 A JP 59241008A JP 24100884 A JP24100884 A JP 24100884A JP H0576207 B2 JPH0576207 B2 JP H0576207B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- voltage
- mos transistor
- voltage comparator
- output
- electrode
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K3/00—Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
- H03K3/02—Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses
- H03K3/353—Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses by the use, as active elements, of field-effect transistors with internal or external positive feedback
- H03K3/356—Bistable circuits
- H03K3/3565—Bistables with hysteresis, e.g. Schmitt trigger
Description
〔産業上の利用分野〕
本発明はMOSトランジスタで構成されたヒス
テリシス回路に関するものである。
〔従来の技術〕
従来、ヒステリシス回路として、第2図に示す
電圧比較器21及び3個の抵抗25,26,27
を有して構成された回路が知られている。本例は
電源間に抵抗25,26が縦続接続され、抵抗2
5と抵抗26の接続点は電圧比較器21の基準電
圧入力端子22に接続されると共に、抵抗27の
一端に接続され、抵抗27の他端は、電圧比較器
21の出力24に接続されて構成されている。電
圧比較器21は、基準電圧入力端子22と信号入
力端子23とを有し、信号入力端子23の電圧レ
ベルをVI<VRの時は出力端子24の電圧レベル
は電源電圧VDDと同一電圧レベルが出力され、VI
<VRの時は、出力端子24の電圧レベルは0Vが
出力される。
抵抗25,26,27の抵抗値をそれぞれ
R25,R26,R27であるとすると、基準電圧入力端
子22の電圧VRは、入力信号端子23の電圧VI
の状態によつてVRH,VRLの2状態を有し、それ
ぞれ次式で表わされる。
VI<VRの時は、電圧比較器21の出力はVDD
となつている。この電圧比較器21の出力イン
ピーダンスが無視できるものとすると、VRHは
R25とR27の並列抵抗とR26との分圧で表される
から、
VRH=R26/(R25R27)+R26・VDD
ここで(R25R27)=R25・R27/R25+R27
∴VRH=VDD×R26/R25・R27/R25+R27+R26
=VDD×(R25+R27)R26/R25・R27+(R25+R27)
R26
=VDD×(R25+R27)R26/R25R26+R26R27+R25R27
……(1)
VI>VRの時は、電圧比較器21の出力はOV
となつている。したがつて、VRLはR26とR27の
並列抵抗とR25との分圧で表されるから、
VRL=(R26R27)/R25+(R26R27)・VDD
ここで(R26R27)=R26・R27/R26+R27
∴VRL=VDD×R26・R27/R26+R27/R25+R26・R27/R
26+R27
=VDD×R26・R27/(R26+R27)R25+R26・R27
=VDD×R26・R27/R25R26+R26R27+R25R27……(2)
VRH>VRLであり、VIが0VからVDDへ上昇する
場合は出力24の電圧は、VI=VRHでVDDから0V
へ変化し、逆にVIがVDDから0Vへ変化する場合は
VI=VRLで0VからVDDへ変化し、第3図に示すヒ
ステリシスを有する入・出力特性となる。
〔発明が解決しようとする問題点〕
上述したヒステリシス回路のヒステリシス幅
(VRH−VRL、以下略)ΔVは
ΔV=VRH−VRL
=VDD(R25+R27)R26/R25R26+R26R27+R25R27
−VDD・R26・R27/R25R26+R26R27+R25R27
=VDD×R26・R27/R25・R26+(R25+R26)R27
=VDD×R25・R26/R25+R26/R25・R26/R25+R26+R
27
=VDD×(R25R26)/(R25R26)+R27……(3
)
(∴(R25R26)=R25・R26/R25+R26)
で表わされるが、ΔVを小さく設定する場合に
は、上式より明らかなように、抵抗値R25,R26
に比較して抵抗値R27を大きな値にする必要があ
る。例えば、VDD=5Vとして、ΔV=50mVとす
る場合にはR25=R26として、R25:R26:R27=
1:1:49.5の比率となる。
一般に、上述した回路等を集積化する場合、高
抵抗値の抵抗を得る事は、チツプサイズの増大を
招く事から、比較的低抵抗値の抵抗を使用せざる
を得ない為に、電源間に接続された抵抗25,2
6に大きな電流を流す事になり、消費電流が大き
くなるという欠点が有る。また、上記説明におけ
るヒステリシス幅ΔVの精度を良くする為には、
電圧比較器21の出力インピーダンスは、十分に
低くする必要があり、電圧比比較器21をMOS
トランジスタで構成し、低い出力インピーダンス
を得るには、大きなサイズのMOSトランジスタ
で構成する事が必要となり、この事も、集積化す
る上での問題点となつている。
本発明の目的は、消費電流が少なく、また、電
圧比較器の出力インピーダンスの影響を受けな
い、集積化に適した、ヒステリシス回路を提供す
ることである。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明は第1、第2、第3の3個のMOSトラ
ンジスタと電圧比較器とを有し、第1のMOSト
ランジスタのドレイン電極とゲート電極及び第2
のMOSトランジスタのドレイン電極は共通に第
1の電圧源に接続され、第1及び第2のMOSト
ランジスタのソース電極及び基板は共通に、第3
のMOSトランジスタのドレイン電極とゲート電
極及び電圧比較器の基準電圧入力端子に接続さ
れ、第2のMOSトランジスタのゲート電極は電
圧比較器の出力に接続され、第3のMOSトラン
ジスタのソース電極と基板は第2の電圧源に接続
されて構成されるヒステリシス回路を得る。
〔実施例」
次に本発明について図面を参照して説明する。
第1図は、本発明の一実施例の回路図である。
本実施例は、N型のMOSトランジスタで構成さ
れる電圧比較器1と、3個のN型のMOSトラン
ジスタ5,6,7を有し、MOSトランジスタ5
のゲート電極と、ドレイン電極は、MOSトラン
ジスタ7のドレイン電極と共通に電源に接続さ
れ、MOSトランジスタ5,7のソース電極と基
板はMOSトランジスタ6のドレイン電極とゲー
ト電極及び電圧比較器1の基準電圧入力2に接続
され、MOSトランジスタ7のゲート電極は電圧
比較器1の出力4に接続され、MOSトランジス
タ6のソース電極と基板は接地されて構成されて
いる。
電圧比較器1は基準電圧入力2の電圧をVR、
信号入力3の電圧をVIとすると、VI<VRの時は
電源と同じ電圧VDDが出力され、VI>VRの時は接
地電圧0Vが出力される。
一般にMOSトランジスタのドレイン電流式は
IDS=K・W/L(VGS−VT)2 ……(4)
但し、Kは導電係数、Wはチヤネル幅、Lはチ
ヤネル長、VGSはゲート・ソース間電圧、VTは閾
値電圧
で表わされる。β=K・W/Lとして、3個の
MOSトランジスタ5,6,7のβをそれぞれβ5,
β6,β7で表し、VI<VRの時の基準電圧入力の電
圧をVRH、VI>VRの時の基準電圧入力の電圧を
VRLとすると、VRH,VRLは
VI<VRのとき、電圧比較器1の出力はVDDで
あり、各MOSトランジスタに流れる電流は、
式(4)とβ=K・W/Lとから次のようになる。
IDS5=β5{(VDD−VRH)−VT}2
IDS7=β7{(VDD−VRH)−VT}2
IDS6=β6(VRH−VT)2
また、IDS5+IDS7=IDS6より、
(β5+β7){(VDD−VRH)−VT}2
=β6(VRH−VT)2
ここで両辺の平方根をとると、
√5+7{VDD−VRH−VT}
=√6(VRH−VT)
[Industrial Application Field] The present invention relates to a hysteresis circuit composed of MOS transistors. [Prior Art] Conventionally, as a hysteresis circuit, a voltage comparator 21 and three resistors 25, 26, 27 shown in FIG.
A circuit configured with the following is known. In this example, resistors 25 and 26 are connected in series between the power supplies, and resistor 2
5 and the resistor 26 is connected to the reference voltage input terminal 22 of the voltage comparator 21 and also to one end of the resistor 27, and the other end of the resistor 27 is connected to the output 24 of the voltage comparator 21. It is configured. The voltage comparator 21 has a reference voltage input terminal 22 and a signal input terminal 23, and when the voltage level of the signal input terminal 23 is V I <V R , the voltage level of the output terminal 24 is the same as the power supply voltage V DD . The voltage level is output and V I
<V R , the voltage level of the output terminal 24 is 0V. The resistance values of resistors 25, 26, and 27 are respectively
R 25 , R 26 , R 27 , the voltage V R at the reference voltage input terminal 22 is the voltage V I at the input signal terminal 23
It has two states, V RH and V RL , depending on the state of , and each is expressed by the following equation. When V I <V R , the output of voltage comparator 21 is V DD
It is becoming. Assuming that the output impedance of this voltage comparator 21 can be ignored, V RH is
Since it is expressed by the parallel resistance of R 25 and R 27 and the divided voltage of R 26 , V RH = R 26 / (R 25 R 27 ) + R 26 · V DD where (R 25 R 27 ) = R 25 · R 27 /R 25 +R 27 ∴V RH =V DD ×R 26 /R 25・R 27 /R 25 +R 27 +R 26 =V DD × (R 25 +R 27 )R 26 /R 25・R 27 + (R 25 + R27 )
R 26 = V DD × (R 25 + R 27 ) R 26 /R 25 R 26 + R 26 R 27 + R 25 R 27
...(1) When V I > V R , the output of the voltage comparator 21 is OV
It is becoming. Therefore, since V RL is expressed as the voltage divided by the parallel resistance of R 26 and R 27 and R 25 , V RL = (R 26 R 27 )/R 25 + (R 26 R 27 )・V DD Here (R 26 R 27 ) = R 26・R 27 /R 26 +R 27 ∴V RL =V DD ×R 26・R 27 /R 26 +R 27 /R 25 +R 26・R 27 /R
26 +R 27 =V DD ×R 26・R 27 / (R 26 +R 27 )R 25 +R 26・R 27 =V DD ×R 26・R 27 /R 25 R 26 +R 26 R 27 +R 25 R 27 …… (2) If V RH > V RL and V I increases from 0V to V DD , the voltage at output 24 will increase from V DD to 0V with V I = V RH .
When V I changes from V DD to 0V, conversely, when V I changes from V DD to 0V,
When V I =V RL , it changes from 0V to V DD , resulting in the input/output characteristics having hysteresis as shown in FIG. [Problem to be solved by the invention] The hysteresis width (V RH − V RL , hereinafter omitted) of the above-mentioned hysteresis circuit is ΔV=V RH −V RL =V DD (R 25 +R 27 )R 26 /R 25 R 26 +R 26 R 27 +R 25 R 27 −V DD・R 26・R 27 /R 25 R 26 +R 26 R 27 +R 25 R 27 =V DD ×R 26・R 27 /R 25・R 26 + (R 25 +R 26 ) R 27 = V DD ×R 25・R 26 /R 25 +R 26 /R 25・R 26 /R 25 +R 26 +R
27 = V DD × (R 25 R 26 )/(R 25 R 26 ) + R 27 ……(3
) (∴(R 25 R 26 ) = R 25 · R 26 / R 25 + R 26 ) However, when setting ΔV small, the resistance values R 25 , R 26
It is necessary to make the resistance value R 27 a large value compared to . For example, when V DD = 5V and ΔV = 50mV, R 25 = R 26 and R 25 :R 26 :R 27 =
The ratio is 1:1:49.5. Generally, when integrating the above-mentioned circuits, obtaining a resistor with a high resistance value increases the chip size, so it is necessary to use a resistor with a relatively low resistance value, so it is necessary to connect the power supply with a resistor with a relatively low resistance value. connected resistor 25,2
6, which has the disadvantage of increasing current consumption. Also, in order to improve the accuracy of the hysteresis width ΔV in the above explanation,
The output impedance of the voltage comparator 21 must be sufficiently low, and the voltage ratio comparator 21 must be a MOS transistor.
In order to obtain a low output impedance using a transistor, it is necessary to use a large MOS transistor, which also poses a problem in terms of integration. An object of the present invention is to provide a hysteresis circuit that consumes less current, is not affected by the output impedance of a voltage comparator, and is suitable for integration. [Means for Solving the Problems] The present invention has three MOS transistors, first, second, and third, and a voltage comparator, and the drain electrode and gate electrode of the first MOS transistor and the second
The drain electrodes of the MOS transistors are commonly connected to a first voltage source, and the source electrodes and substrates of the first and second MOS transistors are commonly connected to a third voltage source.
The drain electrode and gate electrode of the second MOS transistor are connected to the reference voltage input terminal of the voltage comparator, the gate electrode of the second MOS transistor is connected to the output of the voltage comparator, and the source electrode of the third MOS transistor and the substrate obtains a hysteresis circuit configured by being connected to the second voltage source. [Example] Next, the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a circuit diagram of an embodiment of the present invention.
This embodiment has a voltage comparator 1 composed of an N-type MOS transistor, three N-type MOS transistors 5, 6, and 7, and a MOS transistor 5.
The gate electrode and drain electrode of MOS transistor 7 are connected to the power supply in common, and the source electrode and substrate of MOS transistors 5 and 7 are connected to the drain electrode and gate electrode of MOS transistor 6 and the reference voltage comparator 1. The MOS transistor 7 is connected to the voltage input 2, the gate electrode of the MOS transistor 7 is connected to the output 4 of the voltage comparator 1, and the source electrode and substrate of the MOS transistor 6 are grounded. Voltage comparator 1 converts the voltage of reference voltage input 2 into V R ,
When the voltage of the signal input 3 is V I , when V I <V R , the same voltage as the power supply V DD is output, and when V I > V R , the ground voltage 0V is output. In general, the drain current formula for a MOS transistor is I DS = K・W/L (V GS − V T ) 2 ...(4) where K is the conductivity coefficient, W is the channel width, L is the channel length, and V GS is the gate.・The source-to-source voltage, V T , is expressed as a threshold voltage. As β=K・W/L, three
Let β of MOS transistors 5, 6, and 7 be β 5 ,
Expressed as β 6 and β 7 , the voltage of the reference voltage input when V I < VR is V RH , and the voltage of the reference voltage input when V I > VR is
When V RL and V RL are V I <V R , the output of voltage comparator 1 is V DD , and the current flowing through each MOS transistor is
From equation (4) and β=K·W/L, it is as follows. I DS5 = β 5 {(V DD − V RH ) − V T } 2 I DS7 = β 7 {(V DD − V RH ) − V T } 2 I DS6 = β 6 (V RH − V T ) 2 or , I DS5 + I DS7 = I DS6 , (β 5 + β 7 ) {(V DD −V RH )−V T } 2 = β 6 (V RH −V T ) 2Here , if we take the square root of both sides, we get √ 5 + 7 {V DD −V RH −V T } =√ 6 (V RH −V T )
【化】[ka]
【化】[ka]
【化】
VI>VRのとき、電圧比較器1の出力は0Vと
なり、各MOSトランジスタに流れる電流は、
次のようになる。
IDS5=β5{(VDD−VRL)−VT}2
IDS6=β6(VRL−VT)2
IDS7=0(∴MOSトランジスタ7はオフとなる
ため)
また、IDS5=IDS6より、
β5{(VDD−VRL)−VT}2
=β6(VRL−VT)2
ここで両辺の平方根をとると、
√5{(VDD−VRL)−VT}
=√6(VRL−VT)
(VDD−VT)+√6 5・VT
=(1+√6 5)VRL [C] When V I > V R , the output of voltage comparator 1 becomes 0V, and the current flowing through each MOS transistor is
It will look like this: I DS5 = β 5 {(V DD − V RL ) − V T } 2 I DS6 = β 6 (V RL − V T ) 2 I DS7 = 0 (∴MOS transistor 7 is turned off) Also, I DS5 =I From DS6 , β 5 {(V DD −V RL )−V T } 2 = β 6 (V RL −V T ) 2Here , if we take the square root of both sides, √ 5 {(V DD −V RL ) −V T } =√ 6 (V RL −V T ) (V DD −V T )+√ 6 5・V T = (1+√ 6 5 )V RL
【化】
となる。式(5)、式(6)において、VRH>VRLの関係
が成立し、VIが0VからVDDへ上昇するときは、
VI=VRHで電圧比較器1の出力電圧は、VDDから
0Vに変化し、VRはVRLとなり、VIがVDDから0V
へ下降するときは、VI=VRLで電圧比較器1の出
力電圧は0VからVDDに変化しVRはVRHとなるの
で、第3図に示すヒステリシス特性が得られる。
本例において、3個のMOSトランジスタのチ
ヤネル長Lを、同一にしてあり、この場合、上式
(5),(6)は、MOSトランジスタ5,6,7のチヤ
ネル幅をW5,W6,W7とすると、[ ] becomes. In equations (5) and (6), when the relationship V RH > V RL holds and V I rises from 0V to V DD ,
When V I = V RH , the output voltage of voltage comparator 1 is from V DD to
0V, V R becomes V RL , and V I changes from V DD to 0V
When V I =V RL , the output voltage of the voltage comparator 1 changes from 0V to V DD and V R becomes V RH , so the hysteresis characteristic shown in FIG. 3 is obtained. In this example, the channel lengths L of the three MOS transistors are the same, and in this case, the above equation
(5) and (6) are expressed as follows, assuming that the channel widths of MOS transistors 5, 6, and 7 are W 5 , W 6 , and W 7 .
【化】[ka]
以上、説明したように、本発明によれば、ヒス
テリシス幅をMOSトランジスタのチヤネル幅の
比によつて設定できると共に、電圧比較器の出力
が、MOSトランジスタのゲート電極に接続され
ているため、電圧比較器の出力インピーダンスの
影響は無視でき、MOSトランジスタで構成され
た出力インピーダンスの高い電圧比較器を使用で
きる他、MOSトランジスタのチヤネル長は、ヒ
ステリシス幅に影響を与えずに設定できるため
に、電流を最適化できる等、集積化に適したヒス
テリシス回路が得られる。
As described above, according to the present invention, the hysteresis width can be set by the ratio of channel widths of MOS transistors, and since the output of the voltage comparator is connected to the gate electrode of the MOS transistor, the voltage The effect of the output impedance of the comparator can be ignored, and a voltage comparator with high output impedance made up of MOS transistors can be used. In addition, the channel length of the MOS transistor can be set without affecting the hysteresis width, so the current A hysteresis circuit suitable for integration can be obtained by optimizing the hysteresis circuit.
第1図は本発明の一実施例によるヒステリシス
回路の回路図、第2図は従来のヒステリシス回路
の回路図、第3図はヒステリシス特性を示す図で
ある。
1,21……電圧比較器、2,22……信号入
力、3,23……基準電圧入力、4,24……出
力、5,6,7……N型MOSトランジスタ、2
5,26,27……抵抗、8,28……電源。
FIG. 1 is a circuit diagram of a hysteresis circuit according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a circuit diagram of a conventional hysteresis circuit, and FIG. 3 is a diagram showing hysteresis characteristics. 1, 21... Voltage comparator, 2, 22... Signal input, 3, 23... Reference voltage input, 4, 24... Output, 5, 6, 7... N-type MOS transistor, 2
5, 26, 27...Resistor, 8, 28...Power supply.
Claims (1)
電圧比較器と、前記電圧比較器の前記信号入力端
に接続された入力端子と、前記電圧比較器の前記
出力端に接続された出力端子と、第1、第2、第
3のMOSトランジスタとを有し、前記第1の
MOSトランジスタのドレイン電極とゲート電極
及び前記第2のMOSトランジスタのドレイン電
極は共通に第1の電圧源に接続され、前記第1及
び第2のMOSトランジスタのソース電極及び基
板電極は共通に前記第3のMOSトランジスタの
ドレイン電極とゲート電極及び前記電圧比較器の
前記基準入力端に接続され、前記第2のMOSト
ランジスタのゲート電極は前記電圧比較器の前記
出力端に接続され、前記第3のMOSトランジス
タのソース電極と基板電極は第2の電圧源に接続
されていることを特徴とするヒステリシス回路。 2 前記第1、第2および第3のMOSトランジ
スタは、N型MOSトランジスタである事を特徴
とする特許請求の範囲第1項記載のヒステリシス
回路。 3 前記第1、第2および第3のMOSトランジ
スタはP型MOSトランジスタである事を特徴と
する特許請求の範囲第1項記載のヒステリシス回
路。 4 前記電圧比較器は、MOSトランジスタで構
成されたことを特徴とする特許請求の範囲第1
項、第2項または第3項記載のヒステリシス回
路。[Claims] 1. A voltage comparator having a signal input terminal, a reference input terminal, and an output terminal, an input terminal connected to the signal input terminal of the voltage comparator, and an input terminal connected to the output terminal of the voltage comparator. and a first, second, and third MOS transistor connected to the output terminal;
The drain electrode and gate electrode of the MOS transistor and the drain electrode of the second MOS transistor are commonly connected to a first voltage source, and the source electrode and substrate electrode of the first and second MOS transistors are commonly connected to the first voltage source. The drain electrode and the gate electrode of the third MOS transistor are connected to the reference input terminal of the voltage comparator, the gate electrode of the second MOS transistor is connected to the output terminal of the voltage comparator, and the third MOS transistor is connected to the drain electrode and the gate electrode of the third MOS transistor. A hysteresis circuit characterized in that a source electrode and a substrate electrode of a MOS transistor are connected to a second voltage source. 2. The hysteresis circuit according to claim 1, wherein the first, second and third MOS transistors are N-type MOS transistors. 3. The hysteresis circuit according to claim 1, wherein the first, second and third MOS transistors are P-type MOS transistors. 4. Claim 1, wherein the voltage comparator is composed of a MOS transistor.
The hysteresis circuit according to item 1, 2 or 3.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59241008A JPS61120515A (en) | 1984-11-15 | 1984-11-15 | Hysteresis circuit |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59241008A JPS61120515A (en) | 1984-11-15 | 1984-11-15 | Hysteresis circuit |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61120515A JPS61120515A (en) | 1986-06-07 |
| JPH0576207B2 true JPH0576207B2 (en) | 1993-10-22 |
Family
ID=17067954
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59241008A Granted JPS61120515A (en) | 1984-11-15 | 1984-11-15 | Hysteresis circuit |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61120515A (en) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2731057B2 (en) * | 1991-11-12 | 1998-03-25 | 川崎製鉄株式会社 | comparator |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5945290B2 (en) * | 1978-10-17 | 1984-11-05 | 三菱電機株式会社 | Change detection circuit |
| JPS57111116A (en) * | 1980-12-26 | 1982-07-10 | Fujitsu Ltd | Comparator having hysteresis |
-
1984
- 1984-11-15 JP JP59241008A patent/JPS61120515A/en active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61120515A (en) | 1986-06-07 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP0138823B1 (en) | A current source circuit having reduced error | |
| US5057722A (en) | Delay circuit having stable delay time | |
| JPS6329854B2 (en) | ||
| JPH0679262B2 (en) | Reference voltage circuit | |
| US4578694A (en) | Inverter circuit provided with gate protection | |
| JP3249608B2 (en) | Integrated comparator circuit | |
| JPH0576207B2 (en) | ||
| JPH0344692B2 (en) | ||
| JP2893738B2 (en) | Voltage detection circuit | |
| JP3251861B2 (en) | Semiconductor integrated circuit device | |
| JP2848324B2 (en) | Source follower circuit | |
| JP2927112B2 (en) | Test circuit | |
| JPS6027967Y2 (en) | voltage detection device | |
| JP3657193B2 (en) | Temperature detection circuit | |
| JPH048661Y2 (en) | ||
| JPH04154216A (en) | Semiconductor integrated circuit | |
| JPH0736505B2 (en) | Schmitt trigger circuit | |
| JP2571102Y2 (en) | Semiconductor integrated circuit | |
| JPH0312325B2 (en) | ||
| JPH0580868A (en) | Constant current circuit | |
| JPH04213713A (en) | Reference voltage circuit | |
| JPH03238919A (en) | Output circuit | |
| JPS61138318A (en) | Reference voltage generating circuit | |
| JPS6150413B2 (en) | ||
| JPS5922968B2 (en) | constant current circuit |