JPH0579920A - 二色放射測温法および二色放射温度計 - Google Patents
二色放射測温法および二色放射温度計Info
- Publication number
- JPH0579920A JPH0579920A JP3087205A JP8720591A JPH0579920A JP H0579920 A JPH0579920 A JP H0579920A JP 3087205 A JP3087205 A JP 3087205A JP 8720591 A JP8720591 A JP 8720591A JP H0579920 A JPH0579920 A JP H0579920A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- emissivity
- 1max
- 1min
- spectral
- temperature
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Landscapes
- Radiation Pyrometers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 本発明は、鉄鋼業等の工業プロセスなどで電
気的、光学的等の雑音があっても誤差の小さな放射測温
方法及び装置を提供する。 【構成】 ２つの異なる波長帯域で分光放射輝度信号を
検出する放射計検出器、該放射輝度信号から被測定物体
の温度を計算する演算処理装置、演算のためのパラメー
タ等を入力する入力部、演算結果を出力する出力部より
なる。演算処理装置は、第一の放射率ε1 に対する第二
の放射率ε2 の関係を ε2 ＝Ｒ・ε1min ０＜ε1 ＜ε1min ε2 ＝Ｒ・ε1 ε1min＜ε1＜ε1max ε2 ＝Ｒ・ε1max ε1max＜ε1 ＜１ として、演算を行う。
気的、光学的等の雑音があっても誤差の小さな放射測温
方法及び装置を提供する。 【構成】 ２つの異なる波長帯域で分光放射輝度信号を
検出する放射計検出器、該放射輝度信号から被測定物体
の温度を計算する演算処理装置、演算のためのパラメー
タ等を入力する入力部、演算結果を出力する出力部より
なる。演算処理装置は、第一の放射率ε1 に対する第二
の放射率ε2 の関係を ε2 ＝Ｒ・ε1min ０＜ε1 ＜ε1min ε2 ＝Ｒ・ε1 ε1min＜ε1＜ε1max ε2 ＝Ｒ・ε1max ε1max＜ε1 ＜１ として、演算を行う。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、鉄鋼業等のプロセス
で、或いは大学等における実験研究の場において物体の
温度を非接触で測定するための放射測温技術に関する。
で、或いは大学等における実験研究の場において物体の
温度を非接触で測定するための放射測温技術に関する。
【０００２】
【従来の技術】放射温度計は非接触で物体の温度を測定
できるため高温物体、高速移動物体等の温度を測定する
手段として産業、学術研究の幅広い分野で利用されてい
る。しかしながら、従来から最も多用されている単色放
射温度計は放射率が変動する物体への適用においては放
射率設定値と物体の真の放射率の差による温度測定誤差
が大きくなるという問題があった。
できるため高温物体、高速移動物体等の温度を測定する
手段として産業、学術研究の幅広い分野で利用されてい
る。しかしながら、従来から最も多用されている単色放
射温度計は放射率が変動する物体への適用においては放
射率設定値と物体の真の放射率の差による温度測定誤差
が大きくなるという問題があった。
【０００３】一方、ふたつの異なる波長帯域における分
光放射率間に比例関係を仮定して物体の温度を測定しよ
うとする二色放射温度計は、単色温度計の代替手段とし
て広く用いられており、第１の分光放射率ε1 と第２の
分光放射率ε2 の間に単純な比例関係 ε2 ＝Ｒ・ε1 …（１） を適用して物体の温度を求めている。
光放射率間に比例関係を仮定して物体の温度を測定しよ
うとする二色放射温度計は、単色温度計の代替手段とし
て広く用いられており、第１の分光放射率ε1 と第２の
分光放射率ε2 の間に単純な比例関係 ε2 ＝Ｒ・ε1 …（１） を適用して物体の温度を求めている。
【０００４】しかしながら、この方法ではアルミニウム
など放射率の低い物体の測定時に分光放射輝度信号に雑
音が混入したりした場合や、測定温度範囲下限近くでの
測定時に信号がドリフトした場合などに実際にはありえ
ないほど低い放射率値を求めてしまい結果として異常に
大きな測温誤差を生じてしまう状況が発生することがあ
ったり、反対に異常に高い放射率値を求めた結果大きな
測温誤差を生じてしまうことがある。さらに、じっさい
の工業プロセスで遭遇する測定対象物体のように、２つ
の真の放射率が（１）式で表される関係からずれた場合
にも同様に大きな測定誤差を生じてしまうことが多々有
り、重大な問題となっている。
など放射率の低い物体の測定時に分光放射輝度信号に雑
音が混入したりした場合や、測定温度範囲下限近くでの
測定時に信号がドリフトした場合などに実際にはありえ
ないほど低い放射率値を求めてしまい結果として異常に
大きな測温誤差を生じてしまう状況が発生することがあ
ったり、反対に異常に高い放射率値を求めた結果大きな
測温誤差を生じてしまうことがある。さらに、じっさい
の工業プロセスで遭遇する測定対象物体のように、２つ
の真の放射率が（１）式で表される関係からずれた場合
にも同様に大きな測定誤差を生じてしまうことが多々有
り、重大な問題となっている。
【０００５】これは、第１、第２の放射率に物理的ある
いは現実的に認められる制限範囲を条件としてつけてい
ないために生じる問題であって、工業プロセス等におけ
る測定上重大な問題となっている。
いは現実的に認められる制限範囲を条件としてつけてい
ないために生じる問題であって、工業プロセス等におけ
る測定上重大な問題となっている。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、放射率に物
理的あるいは現実的に認められる制限範囲を設定するこ
とによって、前述したような測定誤差を発生することの
ない二色放射測温法及び二色放射温度計を提供すること
を目的とする。
理的あるいは現実的に認められる制限範囲を設定するこ
とによって、前述したような測定誤差を発生することの
ない二色放射測温法及び二色放射温度計を提供すること
を目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明は、異なる波長帯
域における二つの分光放射率に対し、第一の分光放射率
ε1 と第２の分光放射率ε2 の間の関係式を ε2 ＝Ｒ・ε1min ０≦ε1 ＜ε1min ε2 ＝Ｒ・ε1 ε1min≦ε1＜ε1max ε2 ＝Ｒ・ε1max ε1max≦ε1 ≦１ ただし、ε1min：第１の分光放射率の最小設定値 ε1max：第１の分光放射率の最大設定値 Ｒ ：定数（放射率比） として、対応するふたつの分光放射輝度信号から物体の
温度を測定することを特徴とする二色放射測温法であ
る。
域における二つの分光放射率に対し、第一の分光放射率
ε1 と第２の分光放射率ε2 の間の関係式を ε2 ＝Ｒ・ε1min ０≦ε1 ＜ε1min ε2 ＝Ｒ・ε1 ε1min≦ε1＜ε1max ε2 ＝Ｒ・ε1max ε1max≦ε1 ≦１ ただし、ε1min：第１の分光放射率の最小設定値 ε1max：第１の分光放射率の最大設定値 Ｒ ：定数（放射率比） として、対応するふたつの分光放射輝度信号から物体の
温度を測定することを特徴とする二色放射測温法であ
る。
【０００８】さらに本発明は、異なるふたつのスペク
トル帯域において分光放射輝度を検出する二色型放射計
検出器と、該放射計検出器から伝送された該分光放射
輝度信号とそれらに対応する分光放射率間の関係式を ε2 ＝Ｒ・ε1min ０≦ε1 ＜ε1min ε2 ＝Ｒ・ε1 ε1min≦ε1＜ε1max ε2 ＝Ｒ・ε1max ε1max≦ε1 ≦１ ただし、ε1min：第１の分光放射率の最小設定値 ε1max：第１の分光放射率の最大設定値 ε1min＜ε1max として、物体の温度を計算する演算処理装置と、該放
射計検出器の黒体炉校正曲線と前期第項の関係式を表
す係数Ｒ，ε1m in，ε1maxを入力する手段と、計算に
よって得られた温度値を出力するための手段とを具備す
ることを特徴とする二色放射温度計である。
トル帯域において分光放射輝度を検出する二色型放射計
検出器と、該放射計検出器から伝送された該分光放射
輝度信号とそれらに対応する分光放射率間の関係式を ε2 ＝Ｒ・ε1min ０≦ε1 ＜ε1min ε2 ＝Ｒ・ε1 ε1min≦ε1＜ε1max ε2 ＝Ｒ・ε1max ε1max≦ε1 ≦１ ただし、ε1min：第１の分光放射率の最小設定値 ε1max：第１の分光放射率の最大設定値 ε1min＜ε1max として、物体の温度を計算する演算処理装置と、該放
射計検出器の黒体炉校正曲線と前期第項の関係式を表
す係数Ｒ，ε1m in，ε1maxを入力する手段と、計算に
よって得られた温度値を出力するための手段とを具備す
ることを特徴とする二色放射温度計である。
【０００９】
【作用】物体からの熱放射のうち異なる波長帯域（中心
波長λ1 ，λ2 ）における分光放射輝度（Ｌ1 ，Ｌ2 ）
を検出したとする。分光黒体放射輝度をウィーンの式 Ｌb （λ、Ｔ）＝Ｋ・ｅｘｐ（−Ｃ2 ／λ・Ｔ）…（２） ただし、 Ｋ ：定数 Ｃ2 ：放射の第２定数（＝１４，３８８（μｍ・Ｋ）） λ ：検出波長（μｍ） Ｔ ：温度（Ｋ） で表すと（Ｌ1 ，Ｌ2 ）はそれぞれ Ｌ1 ＝ε10・Ｋ1 ・ｅｘｐ（−Ｃ2 ／λ1 ・Ｔ0 ）…（３） Ｌ2 ＝ε20・Ｋ2 ・ｅｘｐ（−Ｃ2 ／λ2 ・Ｔ0 ）…（４） と表せる。
波長λ1 ，λ2 ）における分光放射輝度（Ｌ1 ，Ｌ2 ）
を検出したとする。分光黒体放射輝度をウィーンの式 Ｌb （λ、Ｔ）＝Ｋ・ｅｘｐ（−Ｃ2 ／λ・Ｔ）…（２） ただし、 Ｋ ：定数 Ｃ2 ：放射の第２定数（＝１４，３８８（μｍ・Ｋ）） λ ：検出波長（μｍ） Ｔ ：温度（Ｋ） で表すと（Ｌ1 ，Ｌ2 ）はそれぞれ Ｌ1 ＝ε10・Ｋ1 ・ｅｘｐ（−Ｃ2 ／λ1 ・Ｔ0 ）…（３） Ｌ2 ＝ε20・Ｋ2 ・ｅｘｐ（−Ｃ2 ／λ2 ・Ｔ0 ）…（４） と表せる。
【００１０】ただし、ε10，ε20：真の分光放射率 Ｔ0 ：真の温度 真の温度も放射率も不明な状態で、物体の仮定温度をＴ
とすると（３），（４）式と同様に Ｌ1 ＝ε1 ・Ｋ1 ・ｅｘｐ（−Ｃ2 ／λ1 ・Ｔ）…（５） Ｌ2 ＝ε2 ・Ｋ2 ・ｅｘｐ（−Ｃ2 ／λ2 ・Ｔ）…（６） が成立する。
とすると（３），（４）式と同様に Ｌ1 ＝ε1 ・Ｋ1 ・ｅｘｐ（−Ｃ2 ／λ1 ・Ｔ）…（５） Ｌ2 ＝ε2 ・Ｋ2 ・ｅｘｐ（−Ｃ2 ／λ2 ・Ｔ）…（６） が成立する。
【００１１】 ただし、ε1 ，ε2 ：見かけの分光放射率 Ｔ0 ：仮定の温度 （３）〜（６）式を整理すると仮定の温度Ｔを変化させ
たときの見かけの放射率と真の放射率の関係が次式のよ
うに求まる。
たときの見かけの放射率と真の放射率の関係が次式のよ
うに求まる。
【００１２】ε2 ＝ε20・（ε1 ／ε10）…（７） 図１は真の放射率（ε10，ε20）が変化したとき、
（７）式で表される見かけの放射率（ε1 ，ε2 ）間の
関係を示した曲線群である。
（７）式で表される見かけの放射率（ε1 ，ε2 ）間の
関係を示した曲線群である。
【００１３】ある測定値（Ｌ1 ，Ｌ2 ）が得られ、その
ときの真の放射率が図１中○印であったとする。このと
き仮定温度Ｔが真温度Ｔ。に等しければ（５），（６）
式で求められる見かけの放射率は真の放射率に等しく、
仮定温度が真の温度より低ければ見かけの放射率は曲線
に沿って右上方向に移動し、また仮定温度が真の温度よ
り高ければ見かけの放射率は曲線に沿って左下方向に移
動しついには原点（０，０）に達する（Ｔ＝∞）。
ときの真の放射率が図１中○印であったとする。このと
き仮定温度Ｔが真温度Ｔ。に等しければ（５），（６）
式で求められる見かけの放射率は真の放射率に等しく、
仮定温度が真の温度より低ければ見かけの放射率は曲線
に沿って右上方向に移動し、また仮定温度が真の温度よ
り高ければ見かけの放射率は曲線に沿って左下方向に移
動しついには原点（０，０）に達する（Ｔ＝∞）。
【００１４】さて、従来の二色放射測温法で用いられて
いる（１）式の関係式を、図１に示した見かけの放射率
間の関係を示す曲線群とあわせて示したのが図２であ
る。前述したのと同様にある測定値（Ｌ1 ，Ｌ2 ）が得
られ、そのときの真の放射率が図２中●印で表され
（１）式で表される二色放射測温法の仮定を満足してい
るとする。このとき仮定温度Ｔが真温度Ｔ。に等しいと
きに（５），（６）式で求められる見かけの放射率は真
の放射率に等しくかつ（１）式を満足するために解とし
て求めることができる。これが、従来の二色放射測温法
の原理である。
いる（１）式の関係式を、図１に示した見かけの放射率
間の関係を示す曲線群とあわせて示したのが図２であ
る。前述したのと同様にある測定値（Ｌ1 ，Ｌ2 ）が得
られ、そのときの真の放射率が図２中●印で表され
（１）式で表される二色放射測温法の仮定を満足してい
るとする。このとき仮定温度Ｔが真温度Ｔ。に等しいと
きに（５），（６）式で求められる見かけの放射率は真
の放射率に等しくかつ（１）式を満足するために解とし
て求めることができる。これが、従来の二色放射測温法
の原理である。
【００１５】●印で表される真の放射率をもつ物体から
の信号を測定中に、電気的、光学的等なんらかの雑音が
混入したためにＬ1 が３２％低めに測定されたとする
と、そのときの見かけの放射率は▲印で表される点に移
動する。したがって、従来の二色法で得られる解は、▲
印を通る（７）式に対応する曲線と、原理式（１）の表
す直線との交点として■印の点となる。図中■印の点の
放射率は真の放射率の点●よりもかなり小さく実際には
ありえない程小さな値を与えるため、得られる温度値は
真の温度よりも極めて高い値にならざるをえない。
の信号を測定中に、電気的、光学的等なんらかの雑音が
混入したためにＬ1 が３２％低めに測定されたとする
と、そのときの見かけの放射率は▲印で表される点に移
動する。したがって、従来の二色法で得られる解は、▲
印を通る（７）式に対応する曲線と、原理式（１）の表
す直線との交点として■印の点となる。図中■印の点の
放射率は真の放射率の点●よりもかなり小さく実際には
ありえない程小さな値を与えるため、得られる温度値は
真の温度よりも極めて高い値にならざるをえない。
【００１６】また、逆に真の放射率が高いときに分光放
射輝度信号に雑音が混入したような場合にも、実際には
ありえないほど高い放射率値と、真の温度よりもかなり
低めの温度値が得られる場合がある。
射輝度信号に雑音が混入したような場合にも、実際には
ありえないほど高い放射率値と、真の温度よりもかなり
低めの温度値が得られる場合がある。
【００１７】このように、実際にはありえないような放
射率値（例えば０．００３とか、０．９９９といった異
常に低すぎたり高すぎたりする値）と、したがって大き
な誤差を含む温度測定値が得られるのは、従来の二色測
温法が単純に数学的な原理式（１）を用いているために
生じるからであり、現実の物体において認められる放射
率の変動範囲を考慮していないことに起因する。
射率値（例えば０．００３とか、０．９９９といった異
常に低すぎたり高すぎたりする値）と、したがって大き
な誤差を含む温度測定値が得られるのは、従来の二色測
温法が単純に数学的な原理式（１）を用いているために
生じるからであり、現実の物体において認められる放射
率の変動範囲を考慮していないことに起因する。
【００１８】本発明の方法では、放射率の変動範囲に現
実の物体において認められる限界値を設定することによ
り、そのような測定誤差をなくすことができる。すなわ
ち、例えば鉄鋼プロセスの一つである連続焼鈍炉内にお
ける冷延鋼板を測定することを考える。鋼板は炉内にお
いて酸化されるため放射率は、０．２程度から０．８５
程度まで変化するので ε2 ＝Ｒ・０．２０ ０≦ε1 ＜０．２０ ε2 ＝Ｒ・ε1 ０．２０≦ε1 ＜０．８５ ε2 ＝Ｒ・０．８５ ０．８５≦ε1 ≦１ として、測定を行えば従来法の欠点を除去することがで
きる。もちろん放射率比Ｒは測定対象にあわせて適宜最
適な値に調整すればよいことは従来法と同じである。
実の物体において認められる限界値を設定することによ
り、そのような測定誤差をなくすことができる。すなわ
ち、例えば鉄鋼プロセスの一つである連続焼鈍炉内にお
ける冷延鋼板を測定することを考える。鋼板は炉内にお
いて酸化されるため放射率は、０．２程度から０．８５
程度まで変化するので ε2 ＝Ｒ・０．２０ ０≦ε1 ＜０．２０ ε2 ＝Ｒ・ε1 ０．２０≦ε1 ＜０．８５ ε2 ＝Ｒ・０．８５ ０．８５≦ε1 ≦１ として、測定を行えば従来法の欠点を除去することがで
きる。もちろん放射率比Ｒは測定対象にあわせて適宜最
適な値に調整すればよいことは従来法と同じである。
【００１９】このようにすると、前述したように分光放
射輝度信号に雑音が混入したときでも異常に低すぎたり
高すぎたりする放射率値を誤ってもとめることがなく、
測温誤差のより小さい計測が可能となる。図２で示した
ものと同様な条件のもとでの例を図３を使って示す。
射輝度信号に雑音が混入したときでも異常に低すぎたり
高すぎたりする放射率値を誤ってもとめることがなく、
測温誤差のより小さい計測が可能となる。図２で示した
ものと同様な条件のもとでの例を図３を使って示す。
【００２０】●印で表される真の放射率をもつ物体から
の信号を測定中に、電気的、光学的等なんらかの雑音が
混入したためにＬ1 が３２％低めに測定されたとする
と、そのときの見かけの放射率は▲印で表される点に移
動する。いま、第一の放射率の設定値ε1min、ε1maxが
それぞれ０．３５，０．８であったりすると、本発明の
方法では放射率の下限値が設定されているため、放射率
の解は○印で示された点として得られ、したがって従来
法に比べて格段に誤差の小さな測定が可能になる。
の信号を測定中に、電気的、光学的等なんらかの雑音が
混入したためにＬ1 が３２％低めに測定されたとする
と、そのときの見かけの放射率は▲印で表される点に移
動する。いま、第一の放射率の設定値ε1min、ε1maxが
それぞれ０．３５，０．８であったりすると、本発明の
方法では放射率の下限値が設定されているため、放射率
の解は○印で示された点として得られ、したがって従来
法に比べて格段に誤差の小さな測定が可能になる。
【００２１】
【実施例】図４に本発明の方法による測温装置の構成例
を示す。放射計検出器１は異なる波長における２つの分
光放射輝度信号を検出し、それらは、演算処理装置２に
伝送される。演算処理装置は２つの分光放射輝度信号
と、あらかじめキーボード等の入力部３よりインプット
された諸パラメタを用いて演算を行い物体の温度を計算
し、出力部４より計算結果を出力する。放射計検出器１
は、例えば異なる波長帯域の光を透過させる干渉フィル
ターを２枚用いて分光し、透過してきた光を検出するた
めの検出器を２個用いれば容易に構成できる。
を示す。放射計検出器１は異なる波長における２つの分
光放射輝度信号を検出し、それらは、演算処理装置２に
伝送される。演算処理装置は２つの分光放射輝度信号
と、あらかじめキーボード等の入力部３よりインプット
された諸パラメタを用いて演算を行い物体の温度を計算
し、出力部４より計算結果を出力する。放射計検出器１
は、例えば異なる波長帯域の光を透過させる干渉フィル
ターを２枚用いて分光し、透過してきた光を検出するた
めの検出器を２個用いれば容易に構成できる。
【００２２】図５は、表面処理鋼板の温度測定に応用し
たときの２つの放射率間の関係を示した図である。波長
２．２μｍ、及び１．６μｍにおける分光放射率間の関
係は、波長２．２μｍの放射率が０．１３から０．７ま
での範囲ではほぼ比が１．０の比例関係とみなすことが
でき、したがって波長２．２μｍ、及び１．６μｍにお
ける分光放射率をそれぞれε1 ，ε2 とすれば ε2 ＝０．３５ ０≦ε1 ＜０．３５ ε2 ＝ε1 ０．３５≦ε1 ＜０．８０ ε2 ＝０．８０ ０．８０≦ε1 ≦１ と表すことにより雑音信号等による測定誤差の小さな温
度測定を行うことができた。
たときの２つの放射率間の関係を示した図である。波長
２．２μｍ、及び１．６μｍにおける分光放射率間の関
係は、波長２．２μｍの放射率が０．１３から０．７ま
での範囲ではほぼ比が１．０の比例関係とみなすことが
でき、したがって波長２．２μｍ、及び１．６μｍにお
ける分光放射率をそれぞれε1 ，ε2 とすれば ε2 ＝０．３５ ０≦ε1 ＜０．３５ ε2 ＝ε1 ０．３５≦ε1 ＜０．８０ ε2 ＝０．８０ ０．８０≦ε1 ≦１ と表すことにより雑音信号等による測定誤差の小さな温
度測定を行うことができた。
【００２３】
【発明の効果】本発明によれば、被測定物体の放射率変
動範囲を現実的なものに限定して演算し、誤差の小さな
温度測定が可能となる。電気的、光学的検出信号に雑音
信号が混入する危険性の大きい工業プロセス等における
放射温度測定にあたっては、本発明による方法および装
置を使用することによって、非現実的に低すぎたり、あ
るいは高すぎる放射率値を求める誤りを防ぐことができ
経済的な効果は大なるものがある。
動範囲を現実的なものに限定して演算し、誤差の小さな
温度測定が可能となる。電気的、光学的検出信号に雑音
信号が混入する危険性の大きい工業プロセス等における
放射温度測定にあたっては、本発明による方法および装
置を使用することによって、非現実的に低すぎたり、あ
るいは高すぎる放射率値を求める誤りを防ぐことができ
経済的な効果は大なるものがある。
【図１】見かけの放射率間の関係を示した図である。
【図２】従来の二色放射測温法の解の求めかたを示した
図である。
図である。
【図３】本発明の方法による解の求めかたを示した図で
ある。
ある。
【図４】本発明による測温装置構成例を示した図であ
る。
る。
【図５】本発明による分光放射率間の関係例を示した図
である。
である。
１ 放射計検出器 ２ 演算処理装置 ３ 演算用パラメタ入力部 ４ 演算結果等の出力部
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成３年９月１２日
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】請求項１
【補正方法】変更
【補正内容】
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】請求項２
【補正方法】変更
【補正内容】
【手続補正３】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１１
【補正方法】変更
【補正内容】
【００１１】 ただし、ε１ ，ε２ ：見かけの分光放射率Ｔ ：仮定の温度 （３）〜（６）式を整理すると仮定の温度Ｔを変化させ
たときの見かけの放射率と真の放射率の関係が次式のよ
うに求まる。
たときの見かけの放射率と真の放射率の関係が次式のよ
うに求まる。
【手続補正４】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００１２
【補正方法】変更
【補正内容】
【００１２】 ε2 ＝ε20・（ε1 ／ε10） λ1／λ2 …（７） 図１は真の放射率（ε10，ε20）が変化したとき、
（７）式で表される見かけの放射率（ε1 ，ε2 ）間の
関係を示した曲線群である。
（７）式で表される見かけの放射率（ε1 ，ε2 ）間の
関係を示した曲線群である。
【手続補正５】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２０
【補正方法】変更
【補正内容】
【００２０】●印で表される真の放射率をもつ物体から
の信号を測定中に、電気的、光学的等なんらかの雑音が
混入したためにＬ１ が３２％低めに測定されたとする
と、そのときの見かけの放射率は▲印で表される点に移
動する。いま、第一の放射率の設定値ε１ｍｉｎ、ε
１ｍａｘがそれぞれ０．３５，０．８であったとする
と、本発明の方法では放射率の下限値が設定されている
ため、放射率の解は○印で示された点として得られ、し
たがって従来法に比べて格段に誤差の小さな測定が可能
になる。
の信号を測定中に、電気的、光学的等なんらかの雑音が
混入したためにＬ１ が３２％低めに測定されたとする
と、そのときの見かけの放射率は▲印で表される点に移
動する。いま、第一の放射率の設定値ε１ｍｉｎ、ε
１ｍａｘがそれぞれ０．３５，０．８であったとする
と、本発明の方法では放射率の下限値が設定されている
ため、放射率の解は○印で示された点として得られ、し
たがって従来法に比べて格段に誤差の小さな測定が可能
になる。
Claims (2)
- 【請求項１】 異なる波長帯域における二つの分光放射
率に対し、第一の分光放射率ε1 と第２の分光放射率ε
2 の間の関係式を ε2 ＝Ｒ・ε1min ０≦ε1 ＜ε1min ε2 ＝Ｒ・ε1 ε1min≦ε1＜ε1max ε2 ＝Ｒ・ε1max ε1max≦ε1 ≦１ ただし、ε1min：第１の分光放射率の最小設定値 ε1max：第１の分光放射率の最大設定値 Ｒ ：定数（放射率比） として、対応する二つの分光放射輝度信号から物体の温
度を測定することを特徴とする二色放射測温法。 - 【請求項２】 異なる二つのスペクトル帯域において分
光放射輝度を検出する二色型放射計検出器と、 該放射計検出器から伝送された該分光放射輝度信号とそ
れらに対応する分光放射率間の関係式を ε2 ＝Ｒ・ε1min ０≦ε1 ＜ε1min ε2 ＝Ｒ・ε1 ε1min≦ε1＜ε1max ε2 ＝Ｒ・ε1max ε1max≦ε1 ≦１ ただし、ε1min：第１の分光放射率の最小設定値 ε1max：第１の分光放射率の最大設定値 ε1min＜ε1max として、物体の温度を計算する演算処理装置と、 該放射計検出器の黒体炉校正曲線と前期第項の関係式
を表す係数Ｒ，ε1min，ε1maxを入力する手段と、 計算によって得られた温度値を出力するための手段とを
具備することを特徴とする二色放射温度計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3087205A JPH0579920A (ja) | 1991-03-28 | 1991-03-28 | 二色放射測温法および二色放射温度計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3087205A JPH0579920A (ja) | 1991-03-28 | 1991-03-28 | 二色放射測温法および二色放射温度計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0579920A true JPH0579920A (ja) | 1993-03-30 |
Family
ID=13908464
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3087205A Withdrawn JPH0579920A (ja) | 1991-03-28 | 1991-03-28 | 二色放射測温法および二色放射温度計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0579920A (ja) |
-
1991
- 1991-03-28 JP JP3087205A patent/JPH0579920A/ja not_active Withdrawn
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4881823A (en) | Radiation thermometry | |
| Coates | Multi-wavelength pyrometry | |
| US5690429A (en) | Method and apparatus for emissivity independent self-calibrating of a multiwavelength pyrometer | |
| JPH0579920A (ja) | 二色放射測温法および二色放射温度計 | |
| JPS6049246B2 (ja) | 赤外線による温度測定方法における測定値補償方法 | |
| GB2160971A (en) | Temperature monitoring | |
| JPH0510822A (ja) | 放射温度計測装置 | |
| JPH04276527A (ja) | 炉内温度計 | |
| KR0133637B1 (ko) | 새로운 내삽공식을 이용하여 복사온도계를 교정하는 방법 | |
| JPH03287025A (ja) | 物体の温度と放射率および周囲温度の測定方法および装置 | |
| JPH02138836A (ja) | 放射測温装置 | |
| JP2632086B2 (ja) | 放射測温法及び該測温法に用いる放射温度計 | |
| JPS6041293B2 (ja) | 放射温度計 | |
| JPH05231944A (ja) | 多波長を用いた放射測温方法 | |
| JPH0933353A (ja) | 放射測温方法およびその測温装置 | |
| JPS6235232A (ja) | 温度計 | |
| JPH08219891A (ja) | 鋼板の表面性状測定方法及び鋼板温度測定方法 | |
| JPH09329498A (ja) | 放射温度計 | |
| JPH04361125A (ja) | ２つの分光放射検出信号に基づく放射温度計測装置 | |
| JPH03287024A (ja) | 物体の温度と放射率の同時測定方法および装置 | |
| JPH06241906A (ja) | 炉内物体の放射測温法および放射測温装置 | |
| Glasman et al. | New optical pyrometer for measuring the temperature of aluminium alloys | |
| JPH06241907A (ja) | 炉内物体の放射測温法および放射測温装置 | |
| KR910005495Y1 (ko) | 두개의 복사온도계를 이용한 온도측정장치 | |
| JPH07260581A (ja) | 連続熱処理されている金属帯の温度測定方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19980514 |