JPH0585016B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0585016B2 JPH0585016B2 JP26022587A JP26022587A JPH0585016B2 JP H0585016 B2 JPH0585016 B2 JP H0585016B2 JP 26022587 A JP26022587 A JP 26022587A JP 26022587 A JP26022587 A JP 26022587A JP H0585016 B2 JPH0585016 B2 JP H0585016B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- optical disk
- optical
- control motor
- axis
- swivel table
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 58
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 13
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は光デイスク検査装置、特に光学ヘツド
光デイスクの光学特性、情報読込み書込み特性を
検査する光デイスク検査装置に関する。
光デイスクの光学特性、情報読込み書込み特性を
検査する光デイスク検査装置に関する。
従来の光デイスク検査装置は、光デイスクの軸
心中央部を保持し回転させるスピンドルと、光デ
イスクの円心方向に制御モータによつて移動する
一軸テーブルと、前記一軸テーブルの上面に固定
され、上部に光学ヘツドを固定するヘツド取付部
とを含んで構成される。
心中央部を保持し回転させるスピンドルと、光デ
イスクの円心方向に制御モータによつて移動する
一軸テーブルと、前記一軸テーブルの上面に固定
され、上部に光学ヘツドを固定するヘツド取付部
とを含んで構成される。
次に従来の光デイスク検査装置について図面を
参照して詳細に説明する。
参照して詳細に説明する。
第２図は、従来の光デイスク検査装置の一例を
含む斜視図である。
含む斜視図である。
第２図に示す光デイスク検査装置は、光学ヘツ
ド２２を固定するヘツド取付部２８と、光学ヘツ
ドを移動する一軸テーブル２６と、光デイスク２
１を回転させるスピンドル２３とを含んでいる。
ド２２を固定するヘツド取付部２８と、光学ヘツ
ドを移動する一軸テーブル２６と、光デイスク２
１を回転させるスピンドル２３とを含んでいる。
次に動作について説明する。
まず、スピンドルモータ２５を作動させ、光デ
イスク２１を所定の回転数で回転させる。次い
で、制御モータ２７を作動させ、一軸テーブル２
６を所定の速度で光デイスク２１の円心方向に移
動させる。この工程において、光学ヘツド２２が
光デイスク２１の外径位置に到達した時から、光
学ヘツド２２を作動させてレーザ光を光デイスク
２１に照射し、光デイスク２１や光学ヘツド２２
の諸特性の検査を行なう。
イスク２１を所定の回転数で回転させる。次い
で、制御モータ２７を作動させ、一軸テーブル２
６を所定の速度で光デイスク２１の円心方向に移
動させる。この工程において、光学ヘツド２２が
光デイスク２１の外径位置に到達した時から、光
学ヘツド２２を作動させてレーザ光を光デイスク
２１に照射し、光デイスク２１や光学ヘツド２２
の諸特性の検査を行なう。
上述した従来の光デイスク検査装置は、光学ヘ
ツドから照射されるレーザ光の光軸方向が、ヘツ
ド取付部に規定されて可変できない為に、光軸が
傾斜した光学ヘツドの検査において、その検査結
果に信頼性を欠くという欠点があつた。
ツドから照射されるレーザ光の光軸方向が、ヘツ
ド取付部に規定されて可変できない為に、光軸が
傾斜した光学ヘツドの検査において、その検査結
果に信頼性を欠くという欠点があつた。
本発明の光デイスク検査装置は、光デイスクの
軸心中央部を保持し、制御回転させるスピンドル
と、前記光デイスクの外周に位置し、第１制御モ
ータによつて光デイスクの円心方向へ移動する一
軸テーブルと、前記一軸テーブル上に下面が固定
され第２制御モータによつて光デイスク下面位置
の高さを回転中心軸の高さとして前記一軸テーブ
ルの移動軸と直角方向に円弧運動する第一次スイ
ベルテーブルと、前記第一次スイベルテーブルの
上面に下面が固定され上面に光学ヘツドの取り付
け部を有し第３制御モータによつて前記第一次ス
イベルテーブルの円弧中心軸と直角方向でかつ、
回転中心軸の高さを一致させて円弧運動する第二
次スイベルテーブルとを含んで構成される。
軸心中央部を保持し、制御回転させるスピンドル
と、前記光デイスクの外周に位置し、第１制御モ
ータによつて光デイスクの円心方向へ移動する一
軸テーブルと、前記一軸テーブル上に下面が固定
され第２制御モータによつて光デイスク下面位置
の高さを回転中心軸の高さとして前記一軸テーブ
ルの移動軸と直角方向に円弧運動する第一次スイ
ベルテーブルと、前記第一次スイベルテーブルの
上面に下面が固定され上面に光学ヘツドの取り付
け部を有し第３制御モータによつて前記第一次ス
イベルテーブルの円弧中心軸と直角方向でかつ、
回転中心軸の高さを一致させて円弧運動する第二
次スイベルテーブルとを含んで構成される。
次に、本発明の実施例について、図面を参照し
て詳細に説明する。
て詳細に説明する。
第１図は、本発明の一実施例を含む斜視図であ
る。
る。
第１図に示す光デイスク検査装置は、光学ヘツ
ド２と、スピンドル３と、一軸テーブル５と、第
１次スイベルテーブル７と、第２次スイベルテー
ブル９と、ヘツド取付部１１とを含んで構成され
る。
ド２と、スピンドル３と、一軸テーブル５と、第
１次スイベルテーブル７と、第２次スイベルテー
ブル９と、ヘツド取付部１１とを含んで構成され
る。
次に動作について説明する。
まず、回転制御モータ４を作動させ、スピンド
ル３に保持した光デイスク１を所定の回転数で回
転させる。次いで、第１制御モータ６を作動させ
て一軸テーブル５上に取付けられた光学ヘツド２
を光デイスク１の記録面の外周位置まで移動す
る。
ル３に保持した光デイスク１を所定の回転数で回
転させる。次いで、第１制御モータ６を作動させ
て一軸テーブル５上に取付けられた光学ヘツド２
を光デイスク１の記録面の外周位置まで移動す
る。
続いて、光学ヘツド２からレーザ光を光デイス
ク１に照射し、その反射光の測定しつつ、第１次
スイベルテーブル７の第２制御モータ８及び第２
スイベルテーブル９の第３制御モータ１０を作動
させる。ここで、第２制御モータ８及び第３制御
モータ１０は、レーザ光の反射光のパワーが最大
値になつた位置、すなわち光学ヘツドから照射さ
れたレーザ光の光軸が光デイスク１の面へ直角に
入射された位置で停止する。
ク１に照射し、その反射光の測定しつつ、第１次
スイベルテーブル７の第２制御モータ８及び第２
スイベルテーブル９の第３制御モータ１０を作動
させる。ここで、第２制御モータ８及び第３制御
モータ１０は、レーザ光の反射光のパワーが最大
値になつた位置、すなわち光学ヘツドから照射さ
れたレーザ光の光軸が光デイスク１の面へ直角に
入射された位置で停止する。
次いで第１制御モータ６を作動させ、一軸テー
ブル５を光デイスク１の中心方向に移動させつつ
光デイスク１及び光学ヘツド２の諸特性の検査を
行なう。
ブル５を光デイスク１の中心方向に移動させつつ
光デイスク１及び光学ヘツド２の諸特性の検査を
行なう。
次いで光学ヘツド２が、光デイスク１の記録面
の最内周位置に到達した時点で検査を終了し、第
１制御モータ６を逆回転して光学ヘツド２を元位
置に戻す。
の最内周位置に到達した時点で検査を終了し、第
１制御モータ６を逆回転して光学ヘツド２を元位
置に戻す。
本発明の光デイスク検査装置は、光学ヘツドを
光デイスクの円心方向とそれと直角方向の両方向
に自動的に傾斜できる第１次スイベルテーブルと
第２次スイベルテーブルを設けたことにより、光
学ヘツドから発するレーザ光の光軸を光デイスク
の記録面に直角に入射して諸特性を検査できるの
で、信頼性の高い検査結果が得ることができると
いう効果がある。
光デイスクの円心方向とそれと直角方向の両方向
に自動的に傾斜できる第１次スイベルテーブルと
第２次スイベルテーブルを設けたことにより、光
学ヘツドから発するレーザ光の光軸を光デイスク
の記録面に直角に入射して諸特性を検査できるの
で、信頼性の高い検査結果が得ることができると
いう効果がある。
第１図は本発明の一実施例を含む斜視図、第２
図は従来の一例を含む斜視図である。 １……光デイスク、２……光学ヘツド、３……
スピンドル、５……一軸テーブル、７……第１次
スイベルテーブル、９……第２次スイベルテーブ
ル、１１……ヘツド取付部。
図は従来の一例を含む斜視図である。 １……光デイスク、２……光学ヘツド、３……
スピンドル、５……一軸テーブル、７……第１次
スイベルテーブル、９……第２次スイベルテーブ
ル、１１……ヘツド取付部。
Claims (1)
- １ 光デイスクの軸心中央部を保持し制御回転さ
せるスピンドルと、前記光デイスクの外周に位置
し第１制御モータによつて光デイスクの円心方向
へ移動する一軸テーブルと、前記一軸テーブル上
に下面が固定され第２制御モータによつて光デイ
スク下面位置の高さを回転中心軸の高さとして前
記一軸テーブルの移動軸と直角方向に円弧運動す
る第一次スイベルテーブルと、前記第一次スイベ
ルテーブルの上面に下面が固定され上面に光学ヘ
ツドの取り付け部を有し第３制御モータによつて
前記第一次スイベルテーブルの円弧中心軸と直角
方向でかつ、回転中心軸の高さを一致させて円弧
運動する第二次スイベルテーブルとを含むことを
特徴とする光デイスク検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26022587A JPH01101431A (ja) | 1987-10-14 | 1987-10-14 | 光ディスク検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26022587A JPH01101431A (ja) | 1987-10-14 | 1987-10-14 | 光ディスク検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01101431A JPH01101431A (ja) | 1989-04-19 |
| JPH0585016B2 true JPH0585016B2 (ja) | 1993-12-06 |
Family
ID=17345091
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP26022587A Granted JPH01101431A (ja) | 1987-10-14 | 1987-10-14 | 光ディスク検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01101431A (ja) |
-
1987
- 1987-10-14 JP JP26022587A patent/JPH01101431A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01101431A (ja) | 1989-04-19 |
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