JPH0587509U - 隙間測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 ワークの隙間の間隔を片側から簡単に測定す
る。 【構成】 被測定対象物までの変位に応じた信号を出力
する変位センサが所定の間隔で複数並設されたセンサヘ
ッド１１と、センサヘッドが隙間３を跨いで配置された
ときに各変位センサからの信号を入力してその信号レベ
ルを判定し、所定のレベルにある信号の数を検出して隙
間の間隔を測定する測定回路１２とを備えた構成とした
ものである。

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】

本考案は、隙間測定装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】

例えば、図１に示すようにワーク１と２との間の隙間３の間隔を測定するため の隙間測定装置としては、ワーク１、２を挟んで一側に投光器５を、他側に当該 投光器５と対向させて受光器６を配設し、投光器５から隙間３に当該隙間３より も大径の光ビーム７を照射し、受光器６により隙間３を透過した光ビーム７ａを 受光し、隙間３のエッジ１ａ、２ａ間の距離を測定して当該隙間３の間隔を光電 的に測定するようにしたものがある。

【０００３】

【考案が解決しようとする課題】

しかしながら、上記構成の隙間測定装置においては投光器５と受光器６とを必 要とし、且つワーク１、２を挟んで両側に対向させて配置する必要があり、測定 すべき隙間３の両側にこれらの投光器５、受光器６を配置するためのスペースが 必要である。従って、受光器６を配置することができないような狭い箇所の場合 には隙間３の間隔を測定することができない。

【０００４】 また、構成上投光器５と受光器６とは隙間３の両側に対向させたまま一体的に 移動させる必要があり、従って、隙間３の間隔を長手方向に沿って連続的に測定 するような場合には非常に扱い難く、しかも、前述したように隙間３の両側にこ れらの投光器５、受光器６を配置するためのスペースが狭い場合には測定に手間 がかかり煩わしい等の問題もある。

【０００５】 本考案は上述の点に鑑みてなされたもので、ワークの隙間を片側から、しかも 、連続的に容易に測定することが可能な隙間測定装置を提供することを目的とす る。

【０００６】

【課題を解決するための手段】

上記目的を達成するために本考案によれば、被測定対象物までの変位に応じた 信号を出力する変位センサが所定の間隔で複数並設されたセンサヘッドと、前記 センサヘッドが隙間を跨いで配置されたときに各変位センサからの信号を入力し てその信号レベルを判定し、所定のレベルにある信号の数を検出して前記隙間の 間隔を測定する測定回路とを備えた構成としたものである。

【０００７】

【作用】

ワークの隙間を測定する場合に、測定すべき隙間を跨いでセンサヘッドを載置 する。センサヘッドは、各変位センサから検出用の信号を送出する。そして、各 変位センサから送出された信号のうちワークに当たるものと、隙間を通過するも のとがある。変位センサは、送出した信号がワークに当たったときと隙間を透過 したときとで出力信号のレベルが変化する。測定回路は、各変位センサからの信 号を入力してその信号レベルを判別し、所定の信号レベルにある信号の数を検出 することにより前記隙間の間隔を測定する。これによりワークの片側から隙間の 間隔を測定することができる。

【０００８】

【実施例】

以下本考案の一実施例を添付図面に基づいて詳述する。 図２において隙間測定装置１０は、センサヘッド１１と、測定回路１２及びこ れら両者を接続するケーブル１３とにより構成されており、センサヘンド１１は 、例えば、ワーク１と２との上に隙間３を跨いで配置されて当該隙間３に沿って 矢印Ａのように摺動可能とされている。一方、測定回路１２は、適宜の箇所に配 置されている。

【０００９】 センサヘッド１１は、図３に示すように変位センサ１４を複数、例えば、１０ 個（ NO.1 〜NO.10 ）密接並設して構成されている。これらの各変位ヘンサ１４ は、被測定対象物（以下「ワーク」という）までの距離（変位）に応じたレベル の信号を出力する。この変位ヘンサ１４としては、例えば、可視光レーザ式の反 射型の変位センサがあり、投光部と受光部とが一体に内蔵されており、投光部か らワークにレーザ光線を投光し、当該ワークにより反射された反射光を受光部で 受光検出し、検出した信号レベルにより当該センサからワークまでの距離を測定 する。

【００１０】 変位センサ１４の出力信号レベルは、ワークまでの距離に応じて変化する。即 ち、変位センサ１４の出力信号レベルは、ワークまでの距離が近い程低く（以下 「ロー」という）、離れるに応じて高く（以下「ハイ」という）なる。そして、 例えば、隙間のように投光部から投光された光が反射されない即ち、ワークがな い場合には、受光部は、反射光を検出することができず、出力信号レベルはハイ となる。

【００１１】 測定回路１２は、センサヘッド１１の各変位センサ１４からの信号を入力し、 これらの信号レベルが「ハイ」レベルであるか、「ロー」レベルであるかを判別 する。即ち、測定回路１２は、センサヘッド１１の各変位センサ１４の出力信号 を所定のサンプリングタイムで検出し、「ハイ」、「ロー」の信号の数を連続的 に測定し、「ハイ」レベルの信号の数により隙間の間隔を測定する。

【００１２】 以下に作用を説明する。 図２に示すようにワーク１と２との間の隙間３の間隔を測定する場合、隙間３ を跨いでワーク１、２にセンサヘッド１１を載置する。この状態において、例え ば、図３に示すように並設されたNO.1〜NO.10 までの１０個の変位センサのうち 、例えば、NO.1の変位センサから投光された光がワーク１により反射され、NO.9 、NO.10 の各変位センサから投光された光がワーク２により夫々反射され、NO.2 〜NO.8の各変位センサから投光された光が隙間３を通過したとする。

【００１３】 従って、センサヘッド１１の各変位センサNO.1〜NO.10 の出力信号レベルは、 図４に示すようにNO.1、NO.9、NO.10 の３個の変位センサの信号レベルが夫々ロ ー（Ｌｏ）となり、NO.2〜NO.8の７個の変位センサの信号レベルが夫々ハイ（Ｈ ｉ）となる。測定回路１２は、センサヘッド１１のNO.1〜NO.10 までの各変位セ ンサの出力信号のレベルを所定のサンプリングタイムで判定してハイレベルにあ る信号数を検出し、７個のハイレベルの信号数に対応する隙間信号を出力して表 示する。これによりワーク１と２との間の隙間３の間隔を測定することができる 。しかも、隙間３の片側から測定することができる。

【００１４】 ワーク１と２との間の隙間３の間隔が変化しており、その間隔を所定箇所にお いて測定したり、或いは連続的に測定する場合には、センサヘッド１１を矢印Ａ で示すように隙間３に沿って前記所定箇所まで移動させて測定し、或いは摺動さ せながら連続的に測定する。ヘッドセンサ１１は、使用する変位センサ１４の個 数、大きさ等に応じて曲線状のワークにも追従し易くすることができ、また、変 位センサ１４やワーク１、２の位置決め精度が悪い場合でも隙間を 検出するこ とができる。これにより隙間３の間隔を簡易的に測定することができる。

【００１５】 尚、上記実施例において変位センサとして可視光レーザ式のものを使用した場 合について記述したが、これに限るものではなく、他の検出方式の変位センサ例 えば、渦電流式の変位センサ、或いは有無を光電的に検出する反射型のセンサ等 を使用することもできる。また、使用するセンサは、ワークの例えば、電気的、 磁気的性質、或いは透明、不透明等の材質等を考慮して最適のものを使用すると よい。

【００１６】

【考案の効果】

以上説明したように本考案によれば、ワークの隙間等を簡易的に迅速に測定す ることができると共に、溝の片側から測定することができ、狭い箇所における測 定も可能となる。また、センサヘッドを測定すべき隙間に沿って移動させること により連続的に測定することが可能であり、作業能率の大幅な向上が図られる等 の優れた効果がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】従来の隙間測定装置によりワークの隙間を測定
する場合の斜視図である。

【図２】本考案に係る隙間測定装置の一実施例を示す斜
視図である。

【図３】図２の隙間測定装置のセンサヘッドの一実施例
を示す構成図である。

【図４】図３の隙間の間隔とセンサヘッドの出力信号と
の関係を示すグラフである。

【符号の説明】

１、２ ワーク ３ 隙間 １０ 隙間測定装置 １１ センサヘッド １２ 測定回路 １４ 変位センサ

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】 被測定対象物までの変位に応じた信号を
   出力する変位センサが所定の間隔で複数並設されたセン
   サヘッドと、前記センサヘッドが隙間を跨いで配置され
   たときに各変位センサからの信号を入力してその信号レ
   ベルを判定し、所定のレベルにある信号の数を検出して
   前記隙間の間隔を測定する測定回路とを備えたことを特
   徴とする隙間測定装置。