JPH0587943U - ドライエッチング装置の終点検出器 - Google Patents

ドライエッチング装置の終点検出器

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JPH0587943U
JPH0587943U JP3616692U JP3616692U JPH0587943U JP H0587943 U JPH0587943 U JP H0587943U JP 3616692 U JP3616692 U JP 3616692U JP 3616692 U JP3616692 U JP 3616692U JP H0587943 U JPH0587943 U JP H0587943U
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JP3616692U
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一行 豊田
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Kokusai Denki Electric Inc
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Hitachi Kokusai Electric Inc
Kokusai Denki Electric Inc
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 光量を自動的に調節し、光量調節時間を短縮
する。 【構成】 光量調節部Aに回転変位に従って連続的に光
量を変化させる光通過孔19を有する光量調節板4を設
置し、光強度−電気信号変換素子7の出力信号が設定器
12の設定出力に合致するよう光量調節板4をモータ9
により回転制御する自動制御系8を設け、合致時に光強
度−電気信号変換素子7の出力を自動制御系8より電気
信号処理装置16に切換スイッチ13で切換える構成と
する。

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】
本考案は半導体製造装置の1つであるドライエッチング装置のエッチング終了 点を検出する終点検出器に関する。
【0002】
【従来の技術】
図4は従来の終点検出器の1例の構成説明図である。 この従来例は、図4に示すようにドライエッチング装置1のプラズマ光の光量 を光量調節部Aで調節し、この光量調節された光のうち特定波長の光のみ光学フ ィルタ6により取出す。
【0003】 この特定波長の光の強度を光電子増倍管7により電気信号に変換し、この電気 信号をマイクロプロセッサ16に入力して光強度の変化分を求め、エッチング終 了点を判定するのであるが、光量調節Aに直径の異なる光通過孔19を有する複 数の孔あき板20A〜20Dの1つを人為的に選んでセットし、光電子増倍管7 に導入する光量が適切になるようこれらの孔あき板20A〜20Dを人為的に変 換していた。
【0004】 孔あき板20A〜20Dを変換する理由について述べる。 図5は光電子増倍管に入力する光の強度(光のエネルギー)と光電子増倍管の 出力電流の関係を示す図である。 図5のaの三角形で示す範囲は終点検出器のマイクロプロセッサ16で処理で きる光の強度の変化範囲を示したもので、終点検出器の構成(使用部品の特性や それらの使用方法)で変る。直線a1 の傾きは光電子増倍管7の光電面及びダイ ノートに印加する電圧の大きで決定する。
【0005】 図5のbで示す範囲はある条件でエッチングを行った時(終点検出時)に目的 とする光(通常、特定波長を光学フィルタ6で選択する)の強度の変化範囲であ る。 図5のcで示す範囲は、図5のaの三角形で示す範囲に入っていないため、マ イクロプロセッサ16で処理することができない。
【0006】 マイクロプロセッサ16で図5のbで示した範囲の光の強度の変化を全て処理 できるようにするためには、図5のaで示した範囲を図5で右にずらすか図5の bで示す範囲を左にずらせばよい。
【0007】 前者は光電子増倍管7の特性や構成部品の性能で一律に決められたものである ため実現が困難である。後者は光の強度を小さくすればよいので簡単である。 図4の複数枚の孔あき板20A〜20Dを選択変換する理由は、図5のbで示 す範囲を左にずらすことである。
【0008】
【考案が解決しようとする課題】
かくして従来はこの複数の孔あき板20A〜20Dを光の強度の変化に合せて 人為的に変換していた。又、孔19の大きさは2mm,1mm,0.5mm・・ ・などと不連続であるためその範囲もステップ状に変化し、光電子増倍管に入力 する光量を連続的に調節することができない。
【0009】
【課題を解決するための手段】
本考案終点検出器は、上記の課題を解決するため、図1に示すようにドライエ ッチング装置1のプラズマ光の光量を光量調節部Aで調節し、この光量調節され た光のうち特定波長の光のみ光学フィルタ6により取出し、この特定波長の光の 強度を光強度−電気信号変換素子7により電気信号に変換し、この電気信号を電 気信号処理装置16に入力して光強度の変化を求め、エッチング終了点を判定す るドライエッチング装置の終点検出器において、前記光量調節Aに回転変位に従 って連続的に光量を変化させる光通過孔19を有する光量調節板4を設置し、前 記光強度−電気信号変換素子7の出力信号が設定器12の設定出力に合致するよ う該光量調節板4をモータ9により回転制御する自動制御系8を設け、合致時に 前記光強度−電気信号変換素子7の出力を該自動制御系8より前記電気信号処理 装置16に切換スイッチ13で切換える構成とする。
【0010】
【作 用】
ドライエッチング装置1のプラズマ光は光量調節部Aの光量調節板4の光通過 孔19を通り、その際光量が調節される。この光量調節された光のうち特定波長 の光のみが光学フィルタ6により取出され、この特定波長の光の強度が光強度− 電気信号変換素子7により電気信号に変換される。
【0011】 この電気信号が設定器12の設定出力に合致するよう自動制御系8によりモー タ9が駆動されて光量調節板4が回転制御され、合致した時点でモータ9が停止 され光量調節板4が停止される。この停止時の光量調節板4の光通過孔19を通 った光量、即ちその回転変位に比例した光量の光のうち特定波長の光が光学フィ ルタ6により取出される。
【0012】 この特定波長の光の強度が光強度−電気信号変換素子7により電気信号に変換 される。この電気信号は切換スイッチ13により自動制御系8より電気信号処理 装置16に切換入力されて光強度の変化が求められ、ドライエッチング装置1の エッチング終了が判定されることになる。
【0013】
【実施例】
図1(A)は本考案終点検出器の1実施例の構成を示す説明用斜視図、図1( B)はその自動制御系の構成を示すブロック図、図2は本考案における光量調節 板の正面図である。 図1において1はドライエッチング装置、2はケース(暗箱)、3はこのケー ス2に形成した光導入口、4はケース2内の光量調節部Aに設置された光量調節 板で、回転変位に従って連続的に光量を変化させる光通過孔19を有する(図2 参照)。
【0014】 5はこの光量調節板4の光通過孔19を通る光量調節された光を伝達する光フ ァイバ、6はこの光ファイバ5より光のうち特定波長の光を取出す光学フィルタ 、7は特定波長の光の強度を電流に変換する光電子増倍管、8は自動制御系、9 はこの自動制御系8により駆動される直流モータ、10はこの直流モータ9の回 転を光量調節板4の回転軸に伝達するためのベルト,プーリ等による回転伝送機 構である。
【0015】 11は光電子増倍管7の電気信号(電流)を電圧に変換する電流−電圧変換用 増幅器、14はこの増幅器11の出力電圧と設定器12により設定された設定電 圧とを比較し、その差電圧を出力する比較器、15はその出力差電圧を入力して 直流モータ9を駆動するモータ駆動回路、13は電流−電圧変換用増幅器11の 出力電圧を比較器14側からマイクロプロセッサ16側に切換え入力すると共に モータ駆動回路15の直流モータ9への出力を遮断する切換スイッチである。
【0016】 図3は本考案の自動制御系における、フィードバック制御系の説明図である。 17は比較器14の出力差電圧があるとき、その出力差電圧を出力するPI増 幅部、18はこのPI増幅部17の出力電圧を入力してフィードバック電圧を比 較器14に入力する伝達関数である。 この伝達関数18は直流モータ9の駆動,光量調節板4の回転,光電子増倍管 7の入力光量の変化であり、伝達関数18の出力電圧,即ちフィードバック電圧 は比較器14の入力となる。
【0017】 上記の構成において本実施例の作用を説明する。 設定器12による設定値は、通常、マイクロプロセッサ16で処理する光の強 度信号(電気信号)が変化する範囲のほぼ中心値で、例えばその範囲が0〜5V であれば2.5Vとする。 光電子増倍管7の光電面とダイノードに印加する電圧をその印加範囲の中央付 近に設定し、制御動作を開始する。
【0018】 ドライエッチング装置1のプラズマ光は光導入口3から光量調節部Aの光量調 節板4の光通過孔19を通り、その際光量が調節される。この光量調節された光 は光ファイバ5を通り、そのうちの特定波長の光のみが光学フィルタ6より取出 され、この特定波長の光の強度が光電子増倍管7により電流に変換される。
【0019】 この電流は自動制御系8の電流−電圧変換用増幅器11により電圧に変換され 、この電圧と設定器12により設定された電圧が比較器14により比較され、そ の差電圧がモータ駆動回路15に入力されて直流モータ9が駆動され、光量調節 板4が回転伝送機構10を介して回転される。光量調節板4の回転により光通過 孔19を通る光量が変えられる。
【0020】 これによって光電子増倍管7の出力電流が変わり、電流−電圧変換用増幅器1 1の出力電圧が変わる。この出力電圧が設定電圧に合致するまで換言すれば比較 器14の出力差電圧が零になるまで、直流モータ9により光量調節板4が回転さ れ、合致した時点で直流モータ9が停止され、光量調節板4が停止されて制御動 作が終了する。
【0021】 制御動作が終了した時点で、光電子増倍管7に入力する光量が適切となるため 、その出力電流が電流−電圧変換用増幅器11により電圧に変換され、この電圧 は切換スイッチ13により自動制御系8よりマイクロプロセッサ16に切換入力 されて光強度の変化が求められ、ドライエッチング装置1のエッチング終了が判 定されることになる。
【0022】 又、図3を用いてフィードバック制御系の作用を詳述する。 光電子増倍管7の出力電流が電流−電圧変換用増幅器11により電圧に変換さ れ、設定電圧とフィードバック電圧が比較器14で比較される。差があればその 差電圧がPI増幅部17により伝達関数18に伝えられる。この伝達関数18の 出力電圧、即ちフィードバック電圧が比較器14に入力され、この動作がPI増 幅部17の出力が零になる迄で続く。
【0023】 PI増幅部17の出力が零になり、制御動作が終了した時点で、光電子増倍管 7に入力する光量が適切となるため、上記のように電流−電圧変換用増幅器11 の出力電圧が切換スイッチ13による切換えでマイクロプロセッサ16に入力さ れてエッチング終了点検出処理に移る。
【0024】 従来,直径の異なる光通過孔19を有する複数の孔あき板20A〜20Dを手 作業で変換し光電子増倍管7に入力する光量を人為的に調節していたのを、本実 施例においては自動的に調節することができ、部品交換作業を不要にでき、又光 電子増倍管7に入力する光量の調節時間を大幅に短縮することができる。
【0025】 従来と本考案の光量調節時間を比較した結果を表1に示す。
【0026】
【表1】 上記表1より明らかなように従来の光量調節時間は75分であったのを本考案 では15分に短縮することができた。
【0027】
【考案の効果】
上述のように本考案によれば、光量調節部Aに回転変位に従って連続的に光量 を変化させる光通過孔19を有する光量調節板4を設置し、光強度−電気信号変 換素子7の出力信号が設定器12の設定出力に合致するよう光量調節板4をモー タ9により回転制御する自動制御系8を設け、合致時に光強度−電気信号変換素 子7の出力を自動制御系8より電気信号処理装置16に切換スイッチ13で切換 える構成としたので、光強度−電気信号変換素子7に入力する光量を自動的に調 節することができ、部品交換作業を不要にできるばかりでなく、光強度−電気信 号変換素子7に入力する光量の調節時間を大幅に短縮することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】(A)は本考案終点検出器の1実施例の構成を
示す説明用斜視図である。(B)はその自動制御系の構
成を示すブロック図である。
【図2】本考案における光量調節板の正面図である。
【図3】本考案の自動制御系におけるフィードバック制
御系の説明図である。
【図4】従来の終点検出器の1例の構成説明図である。
【図5】光電子増倍管に入力する光の強度(光のエネル
ギー)と光電子増倍管の出力電流の関係を示す図であ
る。
【符号の説明】
1 ドライエッチング装置 2 ケース(暗箱) 3 光導入口 4 光量調節板 5 光ファイバ 6 光学フィルタ 7 光,強度−電気信号変換素子(光電子増倍管) 8 自動制御系 9 (直流)モータ 10 回転伝送機構 11 電流−電圧変換用増幅器 12 設定器 13 切換スイッチ 14 比較器 15 モータ駆動回路 16 電気信号処理装置 17 PI増幅部 18 伝達関数 19 光通過孔

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ドライエッチング装置(1)のプラズマ
    光の光量を光量調節部(A)で調節し、この光量調節さ
    れた光のうち特定波長の光のみ光学フィルタ(6)によ
    り取出し、この特定波長の光の強度を光強度−電気信号
    変換素子(7)により電気信号に変換し、この電気信号
    を電気信号処理装置(16)に入力して光強度の変化を
    求め、エッチング終了点を判定するドライエッチング装
    置の終点検出器において、前記光量調節(A)に回転変
    位に従って連続的に光量を変化させる光通過孔(19)
    を有する光量調節板(4)を設置し、前記光強度−電気
    信号変換素子(7)の出力信号が設定器(12)の設定
    出力に合致するよう該光量調節板(4)をモータ(9)
    により回転制御する自動制御系(8)を設け、合致時に
    前記光強度−電気信号変換素子(7)の出力を該自動制
    御系(8)より前記信号処理装置(16)に切換スイッ
    チ(13)で切換える構成とするドライエッチング装置
    の終点検出器。
JP3616692U 1992-04-28 1992-04-28 ドライエッチング装置の終点検出器 Pending JPH0587943U (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009147207A (ja) * 2007-12-17 2009-07-02 Hitachi High-Technologies Corp プラズマ処理装置

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS606852A (ja) * 1983-06-24 1985-01-14 Hitachi Ltd プラズマのモニタ方法およびモニタ
JPS62165920A (ja) * 1986-01-17 1987-07-22 Hitachi Ltd エツチング終点判定装置

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