JPH0588428B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0588428B2 JPH0588428B2 JP60177382A JP17738285A JPH0588428B2 JP H0588428 B2 JPH0588428 B2 JP H0588428B2 JP 60177382 A JP60177382 A JP 60177382A JP 17738285 A JP17738285 A JP 17738285A JP H0588428 B2 JPH0588428 B2 JP H0588428B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sampling
- signal
- under test
- clock
- measurement
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
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- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Analogue/Digital Conversion (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は高速信号をサンプリングして測定する
方法に係り、特に供試素子に接続されるワード発
生器のワード発生のスタートアドレスを変化させ
ることによりサンプリング点の位相を変化させる
ようにしたアドレス移動式サンプリング測定方法
に関する。
方法に係り、特に供試素子に接続されるワード発
生器のワード発生のスタートアドレスを変化させ
ることによりサンプリング点の位相を変化させる
ようにしたアドレス移動式サンプリング測定方法
に関する。
第６図および第７図はサンプリング測定の原理
を示した図である。サンプリング回路の最小サン
プル可能間隔Tsが所望の測定間隔tiよりも大きい
とき、被測定波形が繰返しのものであれば、第７
図のようにサンプル点を選ぶことにより、第６図
の波形を再現することができる。第７図では同一
点を２回ずつサンプルしているが、このようにサ
ンプル回数を増やすことによりサンプル効率を補
なつたり、平均化したりすることができる。
を示した図である。サンプリング回路の最小サン
プル可能間隔Tsが所望の測定間隔tiよりも大きい
とき、被測定波形が繰返しのものであれば、第７
図のようにサンプル点を選ぶことにより、第６図
の波形を再現することができる。第７図では同一
点を２回ずつサンプルしているが、このようにサ
ンプル回数を増やすことによりサンプル効率を補
なつたり、平均化したりすることができる。
ここで、従来回路において、サンプリング効率
を補なうため被測定信号の同一点を複数回サンプ
ルする場合、第７図に示すように被測定信号に同
期したトリガ点を基準とし、そのトリガ点からサ
ンプル点までのデイレイをtiずつ変化させていた
（ti、2ti、……）。既ち、プログラマブルデイレイ
ラインを使用してサンプル点を予定時間だけずら
すことが行なわれていた。しかしながら、この方
法はtiをずらす分解能および精度がプログラマブ
ル・デイレイラインの性能に依存し、tiを所望時
間だけ正確にずらすことは困難であり、時間誤差
の入り込む要素があつた。さらに、被測定信号の
周期ｔが長いとき、Tsはｔより十分短いにもか
かわらず、次のサンプル点までの間ｔだけ待たね
ばならず、測定時間が増大する欠点があつた。
を補なうため被測定信号の同一点を複数回サンプ
ルする場合、第７図に示すように被測定信号に同
期したトリガ点を基準とし、そのトリガ点からサ
ンプル点までのデイレイをtiずつ変化させていた
（ti、2ti、……）。既ち、プログラマブルデイレイ
ラインを使用してサンプル点を予定時間だけずら
すことが行なわれていた。しかしながら、この方
法はtiをずらす分解能および精度がプログラマブ
ル・デイレイラインの性能に依存し、tiを所望時
間だけ正確にずらすことは困難であり、時間誤差
の入り込む要素があつた。さらに、被測定信号の
周期ｔが長いとき、Tsはｔより十分短いにもか
かわらず、次のサンプル点までの間ｔだけ待たね
ばならず、測定時間が増大する欠点があつた。
本発明は上述した欠点を除去するためになされ
たもので、被測定信号のサンプル点を時間誤差な
くサンプルすることができ、また被測定信号の周
期が長くても被測定信号全体を高速にサンプルす
ることができるサンプリング測定方法を提供する
ことである。
たもので、被測定信号のサンプル点を時間誤差な
くサンプルすることができ、また被測定信号の周
期が長くても被測定信号全体を高速にサンプルす
ることができるサンプリング測定方法を提供する
ことである。
本発明において、供試素子に接続される信号源
としてワード発生器が使用され、トリガ点からサ
ンプリング点までの時間をずらすのではなくて、
該ワード発生器のワード発生のスタートアドレス
が変化され、これによりサンプル点の位相が変化
される。また被測定信号の周期がサンプリング回
路の最小サンプル可能間隔に比べ十分に長い場合
には、ワード発生器中の一部分のワードが繰返し
発生させサンプリングが行なわれる。そして該部
分が順次移動されて被測定信号一周期分のサンプ
ル測定と等価な測定が行なわれる。
としてワード発生器が使用され、トリガ点からサ
ンプリング点までの時間をずらすのではなくて、
該ワード発生器のワード発生のスタートアドレス
が変化され、これによりサンプル点の位相が変化
される。また被測定信号の周期がサンプリング回
路の最小サンプル可能間隔に比べ十分に長い場合
には、ワード発生器中の一部分のワードが繰返し
発生させサンプリングが行なわれる。そして該部
分が順次移動されて被測定信号一周期分のサンプ
ル測定と等価な測定が行なわれる。
第１図は本発明による方法を現するためのサン
プリング測定器の一例を示したブロツク図であ
る。
プリング測定器の一例を示したブロツク図であ
る。
以下において、供試素子（DUT）３をDAC
（デジタル・アナログ変換器）に例をとり説明す
る。供試素子３の入力にはワード発生器１が、そ
の出力にはサンプリング回路５が接続される。ワ
ード発生器１は第２図に示すように、Ｔの周期を
もつ正弦波のTi毎の値に対応した値をもつ長さＮ
個のメモリで構成される。そしてワード発生器１
はワード発生用クロツク信号源７からのクロツク
パルスＡに応答して、順次デジタルワードを発生
する。DAC３は例えばこのデジタルワードに対
応した疑似正弦波を出力する。トリガ発生用クロ
ツク信号源９はカウンタまたは分周器で構成され
て、クロツク信号源７からクロツクＡを受信し
て、Ｎ個のクロツクＡで１個のクロツクＢを発生
するように同期している。そしてサンプリング回
路５にトリガ信号を与える。サンプリング回路５
はトリガ信号に応答して、DAC３の出力信号
（被測定信号）をサンプルするが、トリガ信号受
信後予定時間遅れてサンプルパルスSpを発生す
る。例えば、トリガ信号受信機Ti×（Ｎ／２）の
時間経過後にSpに発生する。この時間遅れはクロ
ツク信号源７のクロツクＢを使用し、カウンタ、
分周器等で簡単に得ることができる。サンプリン
グ回路５は従来回路を使用すればよく、その詳細
は省略する。
（デジタル・アナログ変換器）に例をとり説明す
る。供試素子３の入力にはワード発生器１が、そ
の出力にはサンプリング回路５が接続される。ワ
ード発生器１は第２図に示すように、Ｔの周期を
もつ正弦波のTi毎の値に対応した値をもつ長さＮ
個のメモリで構成される。そしてワード発生器１
はワード発生用クロツク信号源７からのクロツク
パルスＡに応答して、順次デジタルワードを発生
する。DAC３は例えばこのデジタルワードに対
応した疑似正弦波を出力する。トリガ発生用クロ
ツク信号源９はカウンタまたは分周器で構成され
て、クロツク信号源７からクロツクＡを受信し
て、Ｎ個のクロツクＡで１個のクロツクＢを発生
するように同期している。そしてサンプリング回
路５にトリガ信号を与える。サンプリング回路５
はトリガ信号に応答して、DAC３の出力信号
（被測定信号）をサンプルするが、トリガ信号受
信後予定時間遅れてサンプルパルスSpを発生す
る。例えば、トリガ信号受信機Ti×（Ｎ／２）の
時間経過後にSpに発生する。この時間遅れはクロ
ツク信号源７のクロツクＢを使用し、カウンタ、
分周器等で簡単に得ることができる。サンプリン
グ回路５は従来回路を使用すればよく、その詳細
は省略する。
以下上記実施例の動作を説明する。第３図は動
作説明図である。上述したように、サンプリング
回路５はクロツク信号源９よりトリガ信号を受信
した後、Ti×（Ｎ／２）後にサンプルパルスSpを
発生するものとする。クロツク信号源９がクロツ
クＢを発生するとき、ワード発生器１はクロツク
信号源７のクロツクＡに応答してアドレス０のワ
ードを出力する（スタートアドレス：０）。そし
てクロツクＡに応答して順次１，２，……（Ｎ−
１）のワードを出力し、アドレスが（Ｎ−１）ま
で来れば再び０に戻つてこれを繰返す。このと
き、サンプリング回路５はアドレスＮ／２にある
ワードに対応する被測定信号をサンプリングする
ことになる。アドレスＮ／２対応する被測定信号
が１回または複数回（平均化）サンプリングされ
た後、クロツクＢの発生時点のワード発生器１の
スタートアドレスが１に変化される（他の設定条
件は同一）。したがつて、サンプリング回路５が
サンプリングする被測定信号の値はアドレスが
（Ｎ／２＋１）のときのものとなり、サンプリン
グ時点がクロツクＡの時間間隔だけ変化されたこ
とになる。このようにして、クロツクＢの発生時
点のスタートアドレスは順次２，３，……（Ｎ−
１）と移動され、サンプリング回路５はＮ／２か
らスタートして、（Ｎ／２＋１），……（Ｎ−１），
０，１，……（Ｎ／２−１）のアドレスにおける
ワードに対する被測定信号の値をサンプリング
し、被測定信号の一周期をサンプリングする。な
お、スタートアドレスの変化は、例えば被測定信
号の同一点を10回平均測定する場合には、クロツ
クＢが10個発生された後、アドレスポインタを１
個だけ増分するようにすればよい。また、サンプ
リング点を、クロツクＢを受信後Ti×（Ｎ／２）
に設定したが、これに限定されるものではなく、
任意に設定してよいことは勿論である。
作説明図である。上述したように、サンプリング
回路５はクロツク信号源９よりトリガ信号を受信
した後、Ti×（Ｎ／２）後にサンプルパルスSpを
発生するものとする。クロツク信号源９がクロツ
クＢを発生するとき、ワード発生器１はクロツク
信号源７のクロツクＡに応答してアドレス０のワ
ードを出力する（スタートアドレス：０）。そし
てクロツクＡに応答して順次１，２，……（Ｎ−
１）のワードを出力し、アドレスが（Ｎ−１）ま
で来れば再び０に戻つてこれを繰返す。このと
き、サンプリング回路５はアドレスＮ／２にある
ワードに対応する被測定信号をサンプリングする
ことになる。アドレスＮ／２対応する被測定信号
が１回または複数回（平均化）サンプリングされ
た後、クロツクＢの発生時点のワード発生器１の
スタートアドレスが１に変化される（他の設定条
件は同一）。したがつて、サンプリング回路５が
サンプリングする被測定信号の値はアドレスが
（Ｎ／２＋１）のときのものとなり、サンプリン
グ時点がクロツクＡの時間間隔だけ変化されたこ
とになる。このようにして、クロツクＢの発生時
点のスタートアドレスは順次２，３，……（Ｎ−
１）と移動され、サンプリング回路５はＮ／２か
らスタートして、（Ｎ／２＋１），……（Ｎ−１），
０，１，……（Ｎ／２−１）のアドレスにおける
ワードに対する被測定信号の値をサンプリング
し、被測定信号の一周期をサンプリングする。な
お、スタートアドレスの変化は、例えば被測定信
号の同一点を10回平均測定する場合には、クロツ
クＢが10個発生された後、アドレスポインタを１
個だけ増分するようにすればよい。また、サンプ
リング点を、クロツクＢを受信後Ti×（Ｎ／２）
に設定したが、これに限定されるものではなく、
任意に設定してよいことは勿論である。
第４図は本発明の他の実施例によるサンプリン
グ測定方法の動作説明図である。回路構成は第１
図に示したものと同様である。本実施例は被測定
信号の周期Ｔがサンプリング回路５の最小サンプ
ル可能間隔Tsに比べ十分に長い場合に適用でき
るものである。例えば、供試素子３がDACの場
合、その全コード（10ビツトならＮ＝1024個、12
ビツトならＮ＝4094個）を試験する場合である。
Ｎ個のワードは、Ti×ＭがTsに等しいか、少し
長くなる程度に、Ｍ個のグループに分割される。
第４図ではＭ＝８である。測定１においてはアド
レス０から７が選択され、この間でのアドレスの
みが繰返し選択される。第１図から第３図で説明
したと同様に、クロツクＢに応答してアドレス５
のワードに対応する値が繰返しサンプルされる
（矢印ａ）。このとき、繰返し周期はTi×８（≧
Ts）なので、サンプリング回路５のムダ（待ち）
時間は著しく短かくなる。アドレス５に対するサ
ンプリングを必要回数繰返した後、測定２に移行
する。既ち、スタートアドレスが１に移り、アド
レス１から８の８個の繰返しでアドレス６に対す
るサンプリングが行なわれる。順次スタートアド
レスが移動されて、最後はアドレス（Ｎ−１）か
ら６の繰返しでアドレス４のワードに対する被測
定信号がサンプリングされる。なお、例えばアド
レス０から７までの繰返しはスタートおよびスト
ツプアドレスを指定してクロツクＡを用いて循環
するようにすればよい。なおＮ個のワードをＭ個
のグループに分割してサンプリングする場合に
は、Ｎ個のワードを繰返して発生する場合に比
べ、DUT３の入出力に不連続点が（例えばアド
レス７から０への変化）がより多く発生するが、
Ｍの値をある程度大きくとり、またサンプリング
点をスタートアドレスからなるべく後の方とする
ことで（本実施例では６番目）、不連続の影響を
除去することができる。不連続点直後にサンプリ
ング点が来ると、その不連続による影響を受ける
可能性があるからである。
グ測定方法の動作説明図である。回路構成は第１
図に示したものと同様である。本実施例は被測定
信号の周期Ｔがサンプリング回路５の最小サンプ
ル可能間隔Tsに比べ十分に長い場合に適用でき
るものである。例えば、供試素子３がDACの場
合、その全コード（10ビツトならＮ＝1024個、12
ビツトならＮ＝4094個）を試験する場合である。
Ｎ個のワードは、Ti×ＭがTsに等しいか、少し
長くなる程度に、Ｍ個のグループに分割される。
第４図ではＭ＝８である。測定１においてはアド
レス０から７が選択され、この間でのアドレスの
みが繰返し選択される。第１図から第３図で説明
したと同様に、クロツクＢに応答してアドレス５
のワードに対応する値が繰返しサンプルされる
（矢印ａ）。このとき、繰返し周期はTi×８（≧
Ts）なので、サンプリング回路５のムダ（待ち）
時間は著しく短かくなる。アドレス５に対するサ
ンプリングを必要回数繰返した後、測定２に移行
する。既ち、スタートアドレスが１に移り、アド
レス１から８の８個の繰返しでアドレス６に対す
るサンプリングが行なわれる。順次スタートアド
レスが移動されて、最後はアドレス（Ｎ−１）か
ら６の繰返しでアドレス４のワードに対する被測
定信号がサンプリングされる。なお、例えばアド
レス０から７までの繰返しはスタートおよびスト
ツプアドレスを指定してクロツクＡを用いて循環
するようにすればよい。なおＮ個のワードをＭ個
のグループに分割してサンプリングする場合に
は、Ｎ個のワードを繰返して発生する場合に比
べ、DUT３の入出力に不連続点が（例えばアド
レス７から０への変化）がより多く発生するが、
Ｍの値をある程度大きくとり、またサンプリング
点をスタートアドレスからなるべく後の方とする
ことで（本実施例では６番目）、不連続の影響を
除去することができる。不連続点直後にサンプリ
ング点が来ると、その不連続による影響を受ける
可能性があるからである。
上記説明においては供試素子としてDACを用
いたが、増幅器等アナログ入力のものでもよい。
この場合には第５図に示すように、ワード発生器
１中にDACを内蔵させたもの、またはさらにロ
ーパスフイルタを内蔵させたものを信号源とし、
その出力を供試素子に出力するようにすればよ
い。
いたが、増幅器等アナログ入力のものでもよい。
この場合には第５図に示すように、ワード発生器
１中にDACを内蔵させたもの、またはさらにロ
ーパスフイルタを内蔵させたものを信号源とし、
その出力を供試素子に出力するようにすればよ
い。
以上説明したように本発明によれば、(1)サンプ
リングのデイレイは固定のままで、ワード発生器
のスタートアドレスが変化され、その変化量はク
ロツク信号の精度で定まるので被測定信号の所望
点を正確にサンプリング測定することができる。
(2)被測定信号の周期がサンプリング回路の最小サ
ンプル可能間隔に比べ著しく長い場合でも、ワー
ド発生器で全ワードのうちの一部分のワードを繰
返し発生し、当該部分を順次移動させることによ
り、被測定信号の一周期分のサンプリング測定と
等価な測定を高速に行なうことができる。(3)スタ
ートアドレスを変化させたとき、被測定信号の連
続性が失なわれるが、その影響を受けないように
サンプリング点を任意の点に設定できる、(4)被測
定信号の同一点を複数回、自由にサンプリングす
ることができる。
リングのデイレイは固定のままで、ワード発生器
のスタートアドレスが変化され、その変化量はク
ロツク信号の精度で定まるので被測定信号の所望
点を正確にサンプリング測定することができる。
(2)被測定信号の周期がサンプリング回路の最小サ
ンプル可能間隔に比べ著しく長い場合でも、ワー
ド発生器で全ワードのうちの一部分のワードを繰
返し発生し、当該部分を順次移動させることによ
り、被測定信号の一周期分のサンプリング測定と
等価な測定を高速に行なうことができる。(3)スタ
ートアドレスを変化させたとき、被測定信号の連
続性が失なわれるが、その影響を受けないように
サンプリング点を任意の点に設定できる、(4)被測
定信号の同一点を複数回、自由にサンプリングす
ることができる。
第１図は本発明によるサンプリング測定方法を
実現するためのサンプリング測定器の一例を示し
たブロツク図、第２図および第３図は本発明によ
るサンプリング測定方法の動作説明図、第４図は
本発明の他の実施例によるサンプリング測定方法
の動作説明図、第５図は本発明によるサンプリン
グ測定方法を実現するための他のサンプリング測
定器の一例を示したブロツク図、第６図および第
７図はサンプリング測定の原理を示した図であ
る。 １…ワード発生器、３…供試素子、５…サンプ
リング回路、７，９…クロツク信号源。
実現するためのサンプリング測定器の一例を示し
たブロツク図、第２図および第３図は本発明によ
るサンプリング測定方法の動作説明図、第４図は
本発明の他の実施例によるサンプリング測定方法
の動作説明図、第５図は本発明によるサンプリン
グ測定方法を実現するための他のサンプリング測
定器の一例を示したブロツク図、第６図および第
７図はサンプリング測定の原理を示した図であ
る。 １…ワード発生器、３…供試素子、５…サンプ
リング回路、７，９…クロツク信号源。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ Ｎ個のアドレスにそれぞれ対応したデジタル
ワード信号または該デジタルワード信号に対応す
るアナログ信号である測定信号を第１クロツク信
号に応答して供試素子に与え、そして前記第１ク
ロツク信号の１／Ｎの周波数で発生される第２ク
ロツク信号に応答し且つ該第２クロツク信号より
予定時間だけ遅れてサンプリングパルスを発生
し、該サンプリングパルスにより前記供試素子の
出力信号をサンプリングすると共に、前記デジタ
ルワード信号が順次発生されるスタートアドレス
を変化することにより、前記デジタルワード信号
に関する前記サンプリングパルスの発生時点を変
化させ、前記出力信号の異なる点をサンプルする
ようにし、前記第２クロツク信号と前記サンプリ
ングパルスとの時間間隔はサンプル測定中固定で
あるサンプリング測定方法。 ２ アドレス０からアドレスＭ（Ｍ＜Ｎ）を一つ
のグループとして前記測定信号を繰返し発生させ
て前記サンプリングを行うと共に、前記スタート
アドレスを順次一個ずらした各グループについて
順次サンプリング行い、前記出力信号の一周期に
わたつてサンプリングするようにした特許請求の
範囲第１項記載のサンプリング測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60177382A JPS6238596A (ja) | 1985-08-12 | 1985-08-12 | サンプリング測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60177382A JPS6238596A (ja) | 1985-08-12 | 1985-08-12 | サンプリング測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6238596A JPS6238596A (ja) | 1987-02-19 |
| JPH0588428B2 true JPH0588428B2 (ja) | 1993-12-22 |
Family
ID=16029960
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60177382A Granted JPS6238596A (ja) | 1985-08-12 | 1985-08-12 | サンプリング測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6238596A (ja) |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS576844B2 (ja) * | 1972-02-22 | 1982-02-06 | ||
| JPS5938999A (ja) * | 1982-08-27 | 1984-03-03 | Seiko Instr & Electronics Ltd | アナログ信号記憶装置 |
| JPS5972487A (ja) * | 1982-10-19 | 1984-04-24 | 三洋電機株式会社 | 表示方法 |
-
1985
- 1985-08-12 JP JP60177382A patent/JPS6238596A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6238596A (ja) | 1987-02-19 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |