JPH0590353U - 円板に基準板を設けた品質判定機 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 （修正有） 【目的】 光学的な基準を設定する際に使用される基準
板の着脱操作やこの基準板による基準の設定操作を不要
とし得て品質判定の操作を簡略にし得て、また、判定環
境の変化による基準の変化を補正し得て安定した判定機
能を発揮し得る円板に基準板を設けた品質判定機を実現
する。 【構成】 品質判定機２において、光学的な透過特性及
び反射特性の少なくとも一方の特性が一定の基準板を、
円板８の複数の試料用穴１８の一つに取付けて設けた。
また、この考案は、品質判定機２において、光学的な透
過特性及び反射特性の少なくとも一方の特性が一定の基
準板を円板８の複数の試料用穴１８の一つに取付けて設
け、この基準板への光の照射により得られる測定データ
に対して基準となる基準データを記憶する記憶部７８を
設け、前記基準データと測定データとの差異から補正係
数を算出する。

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】

この考案は円板に基準板を設けた品質判定機に係り、特に光学的な基準を設定 する際に使用される基準板の着脱操作やこの基準板による基準の設定操作を不要 とし得て品質判定の操作を簡略にし得て、また、判定環境の変化による基準の変 化を補正し得て安定した判定機能を発揮し得る円板に基準板を設けた品質判定機 に関する。

【０００２】

【従来の技術】

米粒の品質を判定する品質判定装置は、回転可能な円板の外周縁の円周方向等 間隔に設けた複数の試料用穴に米粒を一粒毎に保持して移送し、この移送される 米粒の一粒毎に光を照射して透過光及び反射光の少なくとも一方を検出して検出 データとし、この検出データにより前記米粒の一粒毎の品質を判定する。また、 品質判定装置は、光学的な透過特性及び反射特性の少なくとも一方の特性が一定 の基準板を設け、判定に先だってこの基準板に光を照射して得られる測定データ により光学的な基準を設定している。

【０００３】 このような品質判定機としては、図６に示すものがある。図６において、２０ ２は品質判定機である。品質判定機２０２は、米粒Ｓを一粒毎に検出部位に移送 する移送部２０４を設けている。移送部２０４は、モータ２０６により回転され る円板２０８を設け、この円板２０８の外周縁の円周方向等間隔に米粒Ｓを検出 部位に移送する複数の試料用穴２１０を設けている。

【０００４】 品質判定機２０２は、円板２０８の試料用穴２１０に保持されて移送される米 粒Ｓの一粒毎に光を照射する照射部２１２を設けるとともに、照射部２１２によ り照射される光の米粒Ｓの一粒毎の透過光及び反射光を受光して電気信号に変換 する受光部２１４を設けている。

【０００５】 前記照射部２１２は、光源としてハロゲンランプユニット２１６を設けている 。ハロゲンランプユニット２１６は、ハロゲンランプや赤外カットフィルタ・集 光レンズ（図示せず）等を内蔵している。また、照射部２１２は、ハロゲンラン プユニット２１６に光ファイバ２１８の一端を接続するとともに、光ファイバ２ １８の他端に米粒Ｓにハロゲンランプユニット２１６の発光する光を照射する投 光体２２０を設けている。

【０００６】 前記受光部２１４は、米粒Ｓの透過光を受光する透過光受光素子２２２と反射 光を受光する反射光受光素子２２４とを設け、米粒Ｓの夫々波長の異なる反射光 である赤色反射光と緑色反射光とを夫々受光する赤色反射光受光素子２２６と緑 色反射光受光素子２２８とを内蔵した受光ユニット２３０を設けている。

【０００７】 また、受光部２１４は、米粒Ｓに指向する受光体２３２に一端を接続する光フ ァイバ２３４を設けるとともに、光ファイバ２３４の他端を前記受光ユニット２ ３０に接続して設け、この受光ユニット２３０内に赤色反射光受光素子２２６と 緑色反射光受光素子２２８とに反射光を分割して導くハーフミラー２３６を設け 、分割された反射光を夫々赤色及び緑色の単波長の２波長成分にするための中心 波長が異なる赤色用及び緑色用の干渉フィルタ（図示せず）を設けている。

【０００８】 前記照射部２１２の投光体２２０と受光部２１４の透過光受光素子２２２・反 射光受光素子２２４及び受光体２３２とは、検出部位における米粒Ｓに指向させ て、第１ヘッド部２３８に一体的に設けられている。

【０００９】 また、この品質判定機２０２は、照射部２１２及び受光部２１４と別異の照射 部２４０及び受光部２４２を設けている。照射部２４０は、米粒Ｓに照射する光 の光源として発光素子２４４を設けている。受光部２４２は、米粒Ｓの前部透過 光及び後部透過光を夫々受光する前部透過光受光素子２４６及び後部透過光受光 素子２４８を設けている。これら別異の照射部２４０の発光素子２４４と受光部 ２４２の前部透過光受光素子２４６及び後部透過光受光素子２４８とは、検出部 位における米粒Ｓに指向させて別異の第２ヘッド部２５０に一体的に設けられて いる。

【００１０】 前記モータ２０６と受光ユニット２３０と第１ヘッド部２３８と別異の第２ヘ ッド部２５０とは、マイクロコンピュータからなる処理部２５２に接続されてい る。各受光素子２２２〜２２８・２４６・２４８は、透過光および／または反射 光を受光して電気信号に変換し、処理部２５２に出力する。処理部２５２は、こ れら電気信号により米粒Ｓの一粒毎の品質を判定すべく処理する。

【００１１】 これにより、品質判定機２０２は、米粒Ｓの一粒毎に光を照射して前記米粒Ｓ の一粒毎の光の状態を検出して検出データとし、この検出データから前記米粒Ｓ の一粒毎の品質を判定する。

【００１２】 また、この品質判定機２０２は、図７〜図１０に示す如く、光学的な反射特性 及び透過特性の少なくとも一方の特性が一定の基準板２５４を設けている。品質 判定機２０２は、判定に先だって、この基準板２５４に光を照射して得られる測 定データにより、光学的な基準を設定している。

【００１３】 図７・図８に示す基準板２５４は、測定時用と玄米用と籾用との夫々測定部２ ５６〜２６０を設け、判定に先だって円板２０８の下側に装着して玄米用と籾用 との各測定部２５６・２５８を検出部位に位置させ、この状態で測定して得た値 と基準値との差から光量を調整して設定した後に、測定時用の測定部２６０を検 出部位に位置させて判定を行うものである。また、図９・図１０に示す基準板２ ５４は、マグネット２６２により必要に応じて、例えば、米粒Ｓの前部透過光及 び後部透過光を夫々受光する前部透過光受光素子２４６及び後部透過光受光素子 ２４８を設けた第２ヘッド部２５０に装着し、測定して得た値と基準値との差か ら光量を調整して設定した後に、判定を行うものである。

【００１４】

【考案が解決しようとする課題】 ところが、従来の品質判定機２０２は、光学的な基準を設定する際に、基準板 ２５４の着脱操作を必要とするとともに基準板２５４による設定操作を必要とす ることにより、品質判定の操作が煩雑となる不都合があり、また、操作を忘れる おそれがある。

【００１５】 また、品質判定機２０２は、大量の米粒を判定処理する際に、処理中に光源や 周囲温度等の判定環境が変化する場合があり、検出データが変化することにより 、米粒の検出データによる品質の判定機能を安定して発揮し得なくなる不都合が ある。

【００１６】

【課題を解決するための手段】

そこで、この考案は、上述の不都合を除去するために、回転可能な円板の外周 縁の円周方向等間隔に設けた複数の試料用穴に保持されて移送される米粒の一粒 毎に光を照射して透過光及び反射光の少なくとも一方を検出して検出データとし 、この検出データにより前記米粒の一粒毎の品質を判定するとともに、光学的な 透過特性及び反射特性の少なくとも一方の特性が一定の基準板に光を照射して得 られる測定データにより光学的な基準を設定する品質判定機において、前記光学 的な透過特性及び反射特性の少なくとも一方の特性が一定の基準板を前記円板の 複数の試料用穴の一つに取付けて設けたことを特徴とする。

【００１７】 また、この考案は、上述の不都合を除去するために、回転可能な円板の外周縁 の円周方向等間隔に設けた複数の試料用穴に保持されて移送される米粒の一粒毎 に光を照射して透過光及び反射光の少なくとも一方を検出して検出データとし、 この検出データにより前記米粒の一粒毎の品質を判定するとともに、光学的な透 過特性及び反射特性の少なくとも一方の特性が一定の基準板に光を照射して得ら れる測定データにより光学的な基準を設定する品質判定機において、前記光学的 な透過特性及び反射特性の少なくとも一方の特性が一定の基準板を前記円板の複 数の試料用穴の一つに取付けて設け、この基準板への光の照射により得られる測 定データに対して基準となる基準データを記憶する記憶部を設け、前記基準デー タと測定データとの差異から補正係数を算出し、この補正係数により前記米粒の 一粒毎に光を照射して得られる検出データを補正して補正データを算出し、この 補正データにより前記米粒の一粒毎の品質を判定すべく処理する処理部を設けた ことを特徴とする。

【００１８】

【作用】

この考案の構成によれば、品質判定機は、光学的な透過特性及び反射特性の少 なくとも一方の特性が一定の基準板を、円板の複数の試料用穴の一つに取付けて 設けていることにより、光学的な基準を設定する際に、基準板を着脱する操作を 必要とせず、したがって、操作を忘れるおそれがない。

【００１９】 また、品質判定機は、円板の複数の試料用穴の一つに取付けて設けた基準板へ の光の照射により得られる測定データに対して基準となる基準データを記憶する 記憶部を設け、処理部によって、基準データと測定データとの差異から算出され る補正係数により米粒の検出データを補正して補正データを算出し、この補正デ ータにより米粒の一粒毎の品質を判定すべく処理することにより、米粒の判定処 理中に光源や周囲温度等の判定環境が変化して設定した基準が変化しても、基準 を新たに設定する作業を必要とせず、補正することができる。

【００２０】

【実施例】

以下図面に基づいて、この考案の実施例を説明する。 図１〜図５は、この考案の実施例を示すものである。図１・図２において、２ は品質判定機、４は移送部、６はモータ、８は試料である米粒Ｓを一粒毎に所定 位置に保持して移送する円板、１０および１２はそれぞれ検出の機能を果す第１ ヘッドおよび第２ヘッド、１４は第１・第２ヘッド１０・１２からの信号を次段 に入力させるための入力部たる入力回路、１６は演算および処理の機能を果すマ イクロコンピュータなどのＣＰＵからなる処理部たる処理回路である。

【００２１】 前記円板８は、図２に示す如く、外周縁の円周方向の等間隔に米粒Ｓを一粒毎 に保持する試料用穴１８を開設している。また、この試料用穴１８内側の円周方 向の等間隔に、試料用穴１８の位置に対応させてタイミング穴２０を開設してい る。この円板８は、モータ６により回転して各試料用穴１８に保持した一粒毎の 米粒Ｓを矢印ａ方向に移送する。

【００２２】 円板８により移送される米粒Ｓの一粒毎の各光量を検出データとして検出する 第１ヘッド１０および第２ヘッド１２は、以下の如く構成している。第１ヘッド １０は、ランプ等の発光具２４と赤外線カットフィルタ２６と集光レンズ２８と から構成される照射部により、米粒Ｓに光を照射する。照射された光の透過光量 および反射光量は、フォトダイオード等よりなる受光部である透過光受光阻止３ ０及び反射光受光素子３２により電気量に変換して検出され、次段の入力回路１ ４に出力される。

【００２３】 また、拡散反射光の一部は、受光部を構成する集光レンズ３４で集光された後 に、ハーフミラー３６で二分割される。一方の光は、６６０nmバンドパスフィル タ３８と赤外線カットフィルタ４０とにより赤色光を透過され、赤色光受光素子 ４２によりその光量を電気量に変換して検出され、次段に出力される。他方の光 は、５５０nmバンドパスフィルタ４４と赤外線カットフィルタ４６とにより緑色 光を透過され、緑色光受光素子４８によりその光量を電気量に変換して検出され 、次段に出力される。これら発光具２４〜緑色光受光素子４８は、第１ヘッド１ ０を構成している。

【００２４】 前記第２ヘッド１２は、ＬＥＤなどの発光素子５０と照射用光ファイバ５２と から構成される照射部により、米粒Ｓに光を照射する。矢印ａ方向に移送される 米粒Ｓに照射された光の米粒長軸方向の前部透過光および後部透過光は、受光部 を構成するそれぞれ前部透過光用光ファイバ５４および後部透過光用光ファイバ ５６により前部透過光受光素子５８および後部透過光受光素子６０に導かれる。 照射された光の米粒長軸方向の前部透過光量および後部透過光量は、それぞれ前 部透過光受光素子５８および後部透過光受光素子６０により電気量に変換して検 出され、次段に出力される。

【００２５】 また、第２ヘッド１２には、円板８のタイミング穴２０を検出するために、こ のタイミング穴２０に向って光を照射する発光素子６２を設け、固定穴６４とタ イミング穴２０とが一致したときの透過した光を検出する受光素子６６を設けて いる。この受光素子６６の検出した光は、電気量に変換して波形成形した後に、 タイミング穴２０を検出したタイミングパルスの信号として次段に出力される。 これら発光素子５０〜受光素子６６は、第２ヘッド１２を構成している。

【００２６】 前記第１ヘッド１０および第２ヘッド１２からの信号、即ち、透過光受光素子 ３０、反射光受光素子３２、赤色光受光素子４２、緑色光受光素子４６、前部透 過光受光素子５８、後部透過光受光素子６０の各素子から入力する各光量の信号 は、入力部たる入力回路１４のマルチプレクサ６８に入力される。入力した信号 は、Ａ／Ｄコンバータ７０によりＡ／Ｄ変換され、処理部たる処理回路１６に検 出データとして入力される。一方、第２ヘッドの受光素子６６から入力するタイ ミング穴２０を検知した信号は、割込みコントローラ７２を介してコントローラ ７４に入力される。コントローラ７４は、タイミング穴２０を検出したタイミン グパルスの信号によりマルチプレクサ６８およびＡ／Ｄコンバータ７０を制御す るために、処理回路１６に接続される。

【００２７】 前記処理回路１６は、入力回路１４から入力する前記各光量の信号を検出デー タとしてメモリに記憶し、この検出データから各光量の比を演算し、以下のよう に判定処理する。

【００２８】 即ち、拡散透過光量および拡散反射光量の検出データから透過反射比を算出す るとともに、拡散反射光中の赤色光量および緑色光量の検出データから分光比を 算出する。また、米粒Ｓの一粒毎の米粒長軸方向の前部透過光量および後部透過 光量の検出データから前後透過比を算出する。ついで、前記米粒Ｓの一粒毎の品 質を判定するように、得られた各光量の比により判定処理する。

【００２９】 また、処理回路１６は、前記米粒Ｓの一粒毎の品質を判定するように、透過反 射比と分光比と前後透過比とにより判定処理し、さらには、米粒Ｓの品位を規格 に照して等級を判定するように、品質を判定した前記米粒Ｓの米粒Ｓ全体への混 入率を判定処理する。

【００３０】 この品質判定機２は、光学的な透過特性及び反射特性の少くとも一方の特性が 一定の基準板７６を設け、この基準板７６に光を照射して得られる測定データに より光学的な基準を設定している。前記基準板７６は、図２に示す如く、円板８ の試料用穴１８の一つに取付けられている。また、基準板７６は、例えば、白色 のセラミックス等のように、照射される光の全部を透過させずに反射する光不透 過体や、乳白色のガラス・プラスチックのように照射される光の一部を透過させ るとともに残部を反射する光半透過体から形成する。

【００３１】 なお、この実施例においては、透過光及び反射光の全ての検出データを補正す るために、光半透過体からなる基準板７６を試料用穴１８に取付けている。した がって、反射光の検出データのみを補正する場合は、光不透過体からなる基準板 ７６でも良い。

【００３２】 また、この品質判定機２は、前記基準板７６を円板８の試料用穴１８の一つに 取付けて設け、この基準板７６への光の照射により得られる測定データに対して 基準となる基準データを記憶する記憶部たる記憶回路７８を設けている。記憶回 路７８は、検出データや測定データ、基準データ、補正係数、補正データを書込 み、読出しするために、ＲＯＭ８０及びＲＡＭ８２を設けている。

【００３３】 前記処理回路１６は、記憶回路７８の基準データと基準板７６の測定データと の差異から補正係数を算出し、この補正係数により米粒Ｓの検出データを補正し て補正データを算出し、この補正データにより米粒Ｓの一粒毎の品質を判定すべ く処理する。

【００３４】 次に作用を説明する。

【００３５】 品質判定機２は、回転する円板８のタイミング穴２０を第２ヘッド１２の発光 素子６２〜受光素子６６により検出する。

【００３６】 次いで、タイミング穴２０を検知したタイミングパルスの信号に対応する米粒 Ｓの一粒毎の透過光量、反射光量、反射光中の赤色光量及び緑色光量を第１ヘッ ド１０の発光具２４〜受光素子３２により検出し、入力回路１４により処理回路 １６に入力してメモリに記憶する。また、各米粒Ｓの一粒毎の米粒長軸方向の前 部透過光量および後部透過光量を第２ヘッド１２の発光素子５０〜受光素子６０ により検出し、前記タイミング穴２０を検知したタイミングパルスの信号ととも に入力回路１４により処理回路１６に入力してメモリに記憶する。米粒Ｓの一粒 についてのデータを全て検出すると、処理回路１６のメモリ中の前記透過光量お よび反射光量から透過反射比を算出するとともに、赤色光量および緑色光量から 分光比を算出し、また、前部透過光量および後部透過光量から前後透過比を算出 する。算出により得られた透過反射比と分光比と前後透過比とを判定処理し、米 粒Ｓの一粒毎の品質を判定する。

【００３７】 各光量の検出は、試料の米粒Ｓの所定粒数を検出するまで続ける。

【００３８】 所定粒数を検出すると、検出は終了する。検出を終了すると、品質を判定した 各米粒Ｓの米粒Ｓ全体への混入率を判定処理し、規格に照して米粒Ｓの品位を判 定する。

【００３９】 このような品質判定機２において、光学的な透過特性及び反射特性の少なくと も一方の特性が一定の基準板７６を、円板８の複数の試料用穴１８の一つに取付 けて設けている。これにより、この品質判定機２は、光学的な基準を設定する際 に、従来のように基準板７６を着脱する操作を必要とせず、したがって、操作を 忘れるおそれがない。

【００４０】 このため、光学的な基準を設定する際に使用される基準板７６の着脱操作や、 この基準板７６による基準の設定操作を不要とすることができ、品質判定の操作 を簡略にすることができる。

【００４１】 また、この品質判定機２は、安定した判定機能を発揮させるために、以下のよ うに処理している。

【００４２】 品質判定機２は、図３に示す如く、スタート（ステップ１００）すると、円板 ８を回転（ステップ１０１）する。回転する円板８のタイミング穴２０によりタ イミングパルスが有る否かを判断（ステップ１０２）する。

【００４３】 タイミングパルスが無い場合は、リターンする。タイミングパルスが有る場合 は、米粒Ｓの検出データをＡ／Ｄ変換（ステップ１０３）する。

【００４４】 また、米粒Ｓが検出部位に位置していないときに、オフセットデータを検出し て格納（１０４）する。

【００４５】 ここで、オフセットデータについて説明する。受光素子は、光が当たらない状 態、つまり光が試料用穴１８を通らない状態でも電流が流れるために、そのとき 検出される値を予め算出しておき、実測値との調整を図る必要がある。その予め 算出される値が、オフセットデータである。このオフセットデータは、温度変化 により変移する。また、受光素子の特性も変化する。このため、オフセットデー タのみでなく、傾きの変化が起る。そこで、このような変化分を含む実測値を正 確な値に補正する必要がある。この補正に用いる値が補正係数である。米粒Ｓの 検出データは、この補正係数により補正されて補正データとなり、品質の判定に 使用される。

【００４６】 次いで、米粒Ｓ又は基準板７６が検出部に位置している間の最大値をホールド するまでの間、待ち時間を設け（ステップ１０５）、待ち時間を経過した後に実 測値をＡ／Ｄ変換（ステップ１０６）する。次いで、基準板７６が検出部位に位 置していて、基準板７６があるか否かを判断（ステップ１０７）する。基準板７ ６があるか否かの判断は、記憶回路７８に予め記憶して格納してある基準板７６ の反射光量の設定値とそのときの実測値である反射光量との比較により行われる 。基準板７６の反射光は、基準板７６が白色のセラミックやガラス等の乳白色で あれば、米粒Ｓの反射光量よりも大きいので、基準板７６であると判断できる。 なお、基準板７６の設定値は、この状態でのデータが未補正なので、マージンを 持たせた値に設定してある。

【００４７】 前記判断（ステップ１０７）がＹＥＳの場合は、補正係数を算出（ステップ１ ０８）し、この補正係数を記憶回路７８に格納（ステップ１０９）し、ステップ １０２にリターンする。補正係数は、図５に示す如く、補正係数＝基準データ／ ｛（測定データ）−（オフセットデータ）｝の式より算出される。基準データに は、予め正常な状態の装置の基準板７６のデータを設定しておく。このパス（ス テップ１０８、ステップ１０９）を１回通過すると、補正係数を算出する。した がって、このパスによって、検出部位を基準板が通過する度に、新たな補正係数 が算出され、修正されることになる。

【００４８】 前記判断（ステップ１０７）がＮＯの場合は、米粒Ｓがあるか否かを判断（ス テップ１１０）する。この判断は、予め設定して格納してある米粒Ｓの反射光量 の設定値とそのときの実測値である反射光量との比較により行われる。米粒Ｓの 反射光量は、試料用穴１８に米粒Ｓがない場合の反射光量よりも大きいので、米 粒Ｓがあると判断できる。なお、米粒Ｓの設定値は、この状態でのデータが未補 正なので、マージンを持たせた値に設定してある。

【００４９】 前記判断（ステップ１１０）がＮＯの場合は、ステップ１０２にリターンする 。前記判断（ステップ１１０）がＹＥＳの場合は、既に基準板７６が検出部位を 通過して補正係数を算出しているか否かを判断（ステップ１１１）する。この判 断には、フラグを使用する。

【００５０】 前記判断（ステップ１１１）がＮＯの場合は、ステップ１０２にリターンする 。前記判断（ステップ１１１）がＹＥＳの場合は、補正係数によって全てのデー タを補正して補正データを算出（ステップ１１２）する。この補正データは、図 ５に示す如く、｛（検出データ）−（オフセットデータ）｝×補正係数の式より 算出される。

【００５１】 この補正データにより米粒Ｓの品質や品位の判定の処理（ステップ１１３）を 行い、すべての判定が終了したか否かを判断（ステップ１１４）する。

【００５２】 前記判断（ステップ１１４）がＮＯの場合は、ステップ１０２にリターンする 。これ以後は、米粒Ｓの光を検出する毎に補正係数により補正データを算出する が、円板８が回転して基準板７６が検出部位を通過する毎に補正係数を新たに算 出して修正するので、常に正しい補正データを得ることができる。

【００５３】 前記判断（ステップ１１４）がＹＥＳの場合は、エンド（ステップ１１５）に なる。

【００５４】 以上の処理により、正常な状態での検出と等価となり、全てのデータから変動 を排除して安定したデータを得ることができる。

【００５５】 このように、品質判定機２は、円板８の複数の試料用穴１８の一つに取付けて 設けて基準板７６への光の照射により得られる測定データに対して基準となる基 準データを記憶する記憶部７８を設け、処理部１６によって、基準データと測定 データとの差異から算出される補正係数により米粒Ｓの検出データを補正して補 正データを算出し、この補正データにより米粒の一粒毎の品質や品位を判定すべ く処理することにより、米粒Ｓの判定処理中に光源や周囲温度等の判定環境が変 化して検出データが変化しても、基準を新たに設定する作業を必要とせず、補正 することができる。

【００５６】 このため、判定環境の変化による検出データの変化を補正し得て、安定した判 定機能を発揮することができる。

【００５７】

【考案の効果】

このように、この考案によれば、光学的な基準を設定する際に、基準板を着脱 する操作を必要とせず、したがって、操作を忘れるおそれがない。このため、光 学的な基準を設定する際に使用される基準板の着脱操作やこの基準板による基準 の設定操作を不要と得て、品質判定の操作を簡略にし得る。

【００５８】 また、品質判定機は、米粒の判定処理中に光源や周囲温度等の判定環境が変化 して検出データが変化しても、基準を新たに設定する作業を必要とせず、補正す ることができる。このため、判定環境の変化による検出データの変化を補正し得 て、安定した判定機能を発揮し得る。

【図面の簡単な説明】

【図１】この考案の実施例を示す品質判定機の概略構成
図である。

【図２】回転板の平面図である。

【図３】品質判定機による処理のフローチャートであ
る。

【図４】（Ａ）はタイミングパルスを示す波形図であ
る。（Ｂ）は拡散反射光量を示す波形図である。（Ｃ）
はＡ／Ｄ変換のタイミングを示す波形図である。

【図５】補正係数及び補正データの算出の説明図であ
る。

【図６】従来例を示す品質判定機の概略構成図である。

【図７】従来例を示す回転板の平面図である。

【図８】従来例を示す基準板の平面図である。

【図９】別の従来例を示す回転板の平面図である。

【図１０】別の従来例を示す基準板の平面図である。

【符号の説明】

２ 品質判定機 ４ 移送部 ８ 円板 １４ 入力回路 １６ 処理回路 ７６ 基準板 ７８ 記憶回路

Claims (4)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】 回転可能な円板の外周縁の円周方向等間
   隔に設けた複数の試料用穴に保持されて移送される米粒
   の一粒毎に光を照射して透過光及び反射光の少なくとも
   一方を検出して検出データとし、この検出データにより
   前記米粒の一粒毎の品質を判定するとともに、光学的な
   透過特性及び反射特性の少なくとも一方の特性が一定の
   基準板に光を照射して得られる測定データにより光学的
   な基準を設定する品質判定機において、前記光学的な透
   過特性及び反射特性の少なくとも一方の特性が一定の基
   準板を前記円板の複数の試料用穴の一つに取付けて設け
   たことを特徴とする円板に基準板を設けた品質判定機。
2. 【請求項２】 回転可能な円板の外周縁の円周方向等間
   隔に設けた複数の試料用穴に保持されて移送される米粒
   の一粒毎に光を照射して透過光及び反射光の少なくとも
   一方を検出して検出データとし、この検出データにより
   前記米粒の一粒毎の品質を判定するとともに、光学的な
   透過特性及び反射特性の少なくとも一方の特性が一定の
   基準板に光を照射して得られる測定データにより光学的
   な基準を設定する品質判定機において、前記光学的な透
   過特性及び反射特性の少なくとも一方の特性が一定の基
   準板を前記円板の複数の試料用穴の一つに取付けて設
   け、この基準板への光の照射により得られる測定データ
   に対して基準となる基準データを記憶する記憶部を設
   け、前記基準データと測定データとの差異から補正係数
   を算出し、この補正係数により前記米粒の一粒毎に光を
   照射して得られる検出データを補正して補正データを算
   出し、この補正データにより前記米粒の一粒毎の品質を
   判定すべく処理する処理部を設けたことを特徴とする円
   板に基準板を設けた品質判定機。
3. 【請求項３】 前記基準板は、照射される光の全部を透
   過させずに反射する光不透過体からなる基準板である請
   求項１または請求項２に記載の円板に基準板を設けた品
   質判定機。
4. 【請求項４】 前記基準板は、照射される光の一部を透
   過させるとともに残部を反射する光半透過体からなる基
   準板である請求項１または請求項２に記載の円板に基準
   板を設けた品質判定機。