JPH0592751U - 副表示機能付き測定機 - Google Patents

副表示機能付き測定機

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Publication number
JPH0592751U
JPH0592751U JP3948892U JP3948892U JPH0592751U JP H0592751 U JPH0592751 U JP H0592751U JP 3948892 U JP3948892 U JP 3948892U JP 3948892 U JP3948892 U JP 3948892U JP H0592751 U JPH0592751 U JP H0592751U
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
display
sub
probe
level
Prior art date
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Pending
Application number
JP3948892U
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English (en)
Inventor
英夫 野田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mutoh Industries Ltd
Original Assignee
Mutoh Industries Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Mutoh Industries Ltd filed Critical Mutoh Industries Ltd
Priority to JP3948892U priority Critical patent/JPH0592751U/ja
Publication of JPH0592751U publication Critical patent/JPH0592751U/ja
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  • Measuring Frequencies, Analyzing Spectra (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 複雑な測定にも対応できる主表示部を有した
測定機のプローブに簡単な信号情報を表示できる副表示
部を付加することにより、簡単な信号情報については主
表示画面を見ることなく、1人の測定者だけで迅速且つ
容易に測定できるようにする。 【構成】 被測定部の信号を導入するプローブ2には副
表示部21を設け、このプローブから入力した信号の時
間的変化を示す信号波形を発生する信号処理部11と、
この信号処理部から出力される信号波形を表示する主表
示部12とを備えた測定機1には、前記主表示部12で
表示されている信号波形の直流レベル又はピークレベル
を検出するレベル検出部13と、このレベル検出部で検
出されたレベルの値を副表示部21で表示させる副表示
信号の生成部14を追加することにより、簡単な信号情
報については主表示画面を見ることなく、1人の測定者
だけで迅速且つ容易に測定できるように構成した。

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】
本考案は、被測定部の簡単な信号情報をプローブでも表示する副表示機能付き 測定機に関する。
【0002】
【従来の技術】
信号の時間的変化をCRT画面に表示するオシロスコープは、表示部を有する 測定機の代表的なものの一つである。このオシロスコープを使用する場合、測定 者はプローブを回路基板等の被測定部に接触させ、そのときの信号波形をCRT の画面表示から確認する。
【0003】 オシロスコープを用いた測定を迅速に行うには、一般には2人で作業を分担し 、1人が複数の被測定部に順番にプローブを接触させ、他の1人が各時点のCR T画面表示から各被測定部の信号情報を読み取るようにする。測定しようとする 信号情報には、信号の種類に応じて、アナログ電圧、発振の有無、周波数、デュ ーティー、H/L(ハイ/ロー)のレベル、位相差、パルス幅等がある。
【0004】
【考案が解決しようとする課題】
デジタル信号を対象にした場合、上述した信号情報の内、H/Lレベルや発振 の有無等の簡単なものを、テスタの導通チェックのように測定して回路チェック することが多い。この様な簡単な測定を2人の作業者で行うのは工数がかかりす ぎる。しかしながら、1人で測定するには、プローブを測定部に接触させながら CRT画面を見る必要があるため、作業効率が悪い。
【0005】 本考案は、このような点を改善し、複雑な測定にも対応できる主表示部を有し た測定機のプローブに副表示部を設け、簡単な信号情報については主表示画面を 見ることなく、手元の副表示情報を参考に、1人の測定者だけで迅速且つ容易に 測定できるようにすることを目的としている。
【0006】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するため本考案では、被測定部の信号を導入するプローブと、 このプローブから入力した信号の時間的変化を示す信号波形を発生する信号処理 部と、この信号処理部から出力される信号波形を表示する主表示部と、この主表 示部で表示されている信号波形の直流レベル又はピークレベルを検出するレベル 検出部と、このレベル検出部で検出されたレベルの値を副表示信号に変換する副 表示信号生成部と、この副表示信号に応じた表示をする、前記プローブに設けら れた副表示部とを備えてなることを第1の特徴としている。
【0007】 本考案ではまた、被測定部の信号を導入するプローブと、このプローブから入 力した信号の時間的変化を示す信号波形を発生する信号処理部と、この信号処理 部から出力される信号波形を表示する主表示部と、この主表示部で表示されてい る信号波形の周波数を検出する周波数検出部と、この周波数検出部で検出された 周波数の値を副表示信号に変換する副表示信号生成部と、この副表示信号に応じ た表示をする、前記プローブに設けられた副表示部とを備えてなることを第2の 特徴としている。
【0008】
【作用】
本考案の第1の特徴によれば、測定者はプローブに設けた副表示部の表示から 被測定部の信号レベルを知ることができるので、その都度測定機本体の主表示画 面を見て信号レベルを確認する必要がない。副表示部による信号レベルの表示は 、例えば、デジタル信号のH/Lレベルを、「5」/「0」のように電圧表示( V)することができる。アナログ信号を対象とした場合には、より精密なレベル を電圧値(V)で表示することも可能である。例えば、「3.4」のようにであ る。
【0009】 本考案の第2の特徴によれば、測定者はプローブに設けた副表示部の表示から 被測定部の信号周波数を知ることができるので、その都度測定機本体の主表示画 面を見て周波数を確認する必要がない。副表示部による周波数(kHz)の表示 は、例えば、「50」のように行う。
【0010】
【実施例】
以下、図面を参照して本考案の実施例を説明する。 図1は、本考案の第1の実施例に係る副表示機能付き測定機の構成図である。 図中、1はオシロスコープ等の測定機本体、2はこの本体1に対しコード3で接 続されるプローブ、4は回路基板、5はこの基板上に搭載された回路部品である 。1例としてこの回路部品5のリード端子部が被測定部になり、ここにプローブ 2の先端を接触させて測定信号を取り込む。 本考案のプローブ2には、LED等の表示素子を使用した副表示部21が設け られ、ここで簡単な信号情報を見ることができる。22は測定機本体1からの後 述する副表示信号を受けて副表示部21の表示を制御する表示制御部である。
【0011】 測定機本体1内には、このプローブ2から入力した測定信号の時間的変化を示 す信号波形を発生する信号処理部11と、この信号処理部11から出力される信 号波形を表示する主表示部12(一般にCRT)と、この主表示部12で表示さ れている信号波形の直流レベル又はピークレベルを検出するレベル検出部13と 、このレベル検出部13で検出されたレベルの値を副表示信号に変換する副表示 信号生成部14とが設けられている。
【0012】 信号処理部11および主表示部12は測定機本体1に既設の部分であるのに対 し、レベル検出部13、副表示信号生成部14は本考案で追加された部分である 。 主表示部12は、信号処理部11から入力する信号波形を2次元的に表示する 。通常、横軸は時間、縦軸は電圧である。したがって、この表示から信号のレベ ルや周波数、位相差、デューティー等の詳細な信号情報を得ることができる。
【0013】 これに対し、副表示信号生成部14から出力される副表示信号は、簡単な信号 情報だけを有する。ここでは、プローブ2から入力する測定信号レベル(直流レ ベルまたはピークレベル)を検出し、その値をプローブ2の副表示部21に表示 させる副表示信号を例とする。 副表示部21を7セグメントのLED配列(例えば、小数1桁を含む3桁配列 )とした場合、表示制御部22はこれらを駆動するLEDドライバとなる。この 場合、副表示信号は副表示信号生成部14からシリアルに転送し、これを表示制 御部22で受信して副表示部21の各セグメントを選択的に駆動するようにする と、コード3の芯線数が少なくて済む。
【0014】 この様に構成された測定機を使用する場合、測定者はプローブ2を被測定部、 例えば回路部品5のリードに接触させると、そのとき検出された信号レベルがプ ローブ2に設けられた副表示部21(被測定部に近く、同一視野内に入る)で見 ることができるので、遠くの主表示部12の波形表示を見ることなく、信号レベ ルを確認することができる。このため、1人の測定者だけで次々に被測定部を変 えることができ、作業効率が改善される。 副表示部21による信号レベルの表示は、3桁のLEDを使用している場合に は、デジタル信号のH/Lレベルを、「5.0」/「0.0」のように電圧表示 するか、或いはまた、「H」/「L」のように表示する。アナログ信号を対象と した場合には、より精密なレベルを電圧値で表示することも可能であり、この場 合は、例えば、「3.4」のように電圧(V)で表示する。
【0015】 図2は、本考案の第2の実施例に係る副表示機能付き測定機を示す構成図であ る。この実施例は、被測定部の信号情報の内、周波数情報を副表示部21で表示 するように構成したものである。このため、図1の構成におけるレベル検出部1 3を図2では周波数検出部15に置き換えてある。 この周波数検出部15は、入力信号の周波数検出機能を備え、検出した周波数 情報を副表示信号生成部14に入力する。
【0016】 副表示部21による周波数の表示は、「50.0」(単位は例えばkHz)の ように行うことができる。 この様にすれば、測定者は手元の副表示部21の表示から被測定部の信号周波 数を知ることができるので、その都度遠くの主表示画面を見て周波数を確認する 必要がない。
【0017】
【考案の効果】
以上述べたように本考案によれば、複雑な測定にも対応できる主表示部を有し た測定機のプローブに簡単な信号情報を表示できる副表示部を設けたので、簡単 な信号情報については主表示画面を見ることなく、1人の測定者だけで迅速且つ 容易に測定できる利点がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本考案の第1の実施例に係る副表示機能付き
測定機の構成図である。
【図2】 本考案の第2の実施例に係る副表示機能付き
測定機の構成図である。
【符号の説明】
1…測定機本体、2…プローブ、3…コード、4…回路
基板、5…回路部品、11…信号処理部、12…表示
部、13…レベル検出部、14…副表示信号生成部、1
5…周波数検出部、21…副表示部、22…表示制御
部。

Claims (2)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被測定部の信号を導入するプローブと、 このプローブから入力した信号の時間的変化を示す信号
    波形を発生する信号処理部と、 この信号処理部から出力される信号波形を表示する主表
    示部と、 この主表示部で表示されている信号波形の直流レベル又
    はピークレベルを検出するレベル検出部と、 このレベル検出部で検出されたレベルの値を副表示信号
    に変換する副表示信号生成部と、 この副表示信号に応じた表示をする、前記プローブに設
    けられた副表示部とを備えてなることを特徴とする副表
    示機能付き測定機。
  2. 【請求項2】 被測定部の信号を導入するプローブと、 このプローブから入力した信号の時間的変化を示す信号
    波形を発生する信号処理部と、 この信号処理部から出力される信号波形を表示する主表
    示部と、 この主表示部で表示されている信号波形の周波数を検出
    する周波数検出部と、 この周波数検出部で検出された周波数の値を副表示信号
    に変換する副表示信号生成部と、 この副表示信号に応じた表示をする、前記プローブに設
    けられた副表示部とを備えてなることを特徴とする副表
    示機能付き測定機。
JP3948892U 1992-05-18 1992-05-18 副表示機能付き測定機 Pending JPH0592751U (ja)

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JP3948892U JPH0592751U (ja) 1992-05-18 1992-05-18 副表示機能付き測定機

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JPH0592751U true JPH0592751U (ja) 1993-12-17

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ID=12554443

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JP3948892U Pending JPH0592751U (ja) 1992-05-18 1992-05-18 副表示機能付き測定機

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012251920A (ja) * 2011-06-06 2012-12-20 Hioki Ee Corp 電気測定器およびプローブ
JP2014074673A (ja) * 2012-10-05 2014-04-24 Hioki Ee Corp 測定装置

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