JPH0595023A - 半導体集積回路封止装置用リードフレーム - Google Patents
半導体集積回路封止装置用リードフレームInfo
- Publication number
- JPH0595023A JPH0595023A JP3255451A JP25545191A JPH0595023A JP H0595023 A JPH0595023 A JP H0595023A JP 3255451 A JP3255451 A JP 3255451A JP 25545191 A JP25545191 A JP 25545191A JP H0595023 A JPH0595023 A JP H0595023A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- lead frame
- semiconductor
- integrated circuit
- semiconductor integrated
- sealing device
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/50—Bond wires
- H10W72/541—Dispositions of bond wires
- H10W72/5449—Dispositions of bond wires not being orthogonal to a side surface of the chip, e.g. fan-out arrangements
Landscapes
- Wire Bonding (AREA)
- Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【構成】半導体封止装置用リードフレームにおいて、リ
ードフレーム先端部の半導体集積回路との被接続部分
が、穴明き状に形成されている。 【効果】従来の長ワイヤーボンディングによる信頼性の
低下を防止することが出来るだけでなく、テープアッセ
ンブル技術による接続方法においても、接続強度を増加
させることが出来かつ信頼性も向上する。
ードフレーム先端部の半導体集積回路との被接続部分
が、穴明き状に形成されている。 【効果】従来の長ワイヤーボンディングによる信頼性の
低下を防止することが出来るだけでなく、テープアッセ
ンブル技術による接続方法においても、接続強度を増加
させることが出来かつ信頼性も向上する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は半導体集積回路封止装置
用リードフレームに関する。
用リードフレームに関する。
【0002】
【従来の技術】従来、半導体集積回路用封止装置は図4
に示す様な形状が使用されていた。
に示す様な形状が使用されていた。
【0003】すなわち、リードフレーム1には半導体集
積回路2が取り付けられ、ボンディングワイヤー3によ
り接続され、樹脂封止材や、セラミック材料により封止
されていた。
積回路2が取り付けられ、ボンディングワイヤー3によ
り接続され、樹脂封止材や、セラミック材料により封止
されていた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】従来技術においては、
特にボンディングによって半導体集積回路を半導体封止
装置(以下パッケージと呼ぶ)に組み立てる場合、チッ
プサイズがパッケージのキャビティサイズよりも相対的
に小さい場合、ボンディングワイヤー3の長さが長くな
り、特にコーナー部図4のボンディングワイヤー4のワ
イヤー長が長くなるため、この部分でボンディング可能
なチップサイズの範囲が決っていた。
特にボンディングによって半導体集積回路を半導体封止
装置(以下パッケージと呼ぶ)に組み立てる場合、チッ
プサイズがパッケージのキャビティサイズよりも相対的
に小さい場合、ボンディングワイヤー3の長さが長くな
り、特にコーナー部図4のボンディングワイヤー4のワ
イヤー長が長くなるため、この部分でボンディング可能
なチップサイズの範囲が決っていた。
【0005】このため信頼性の低下を招いていた。
【0006】またテープアッセンブリボンディング技術
においても、リードフレーム先端部の半導体集積回路と
の被接続面形状が平坦な為、ボンディング強度が弱くな
る、ボンディング精度が悪化した場合組立歩留りが悪く
なる等の問題を持っていた。
においても、リードフレーム先端部の半導体集積回路と
の被接続面形状が平坦な為、ボンディング強度が弱くな
る、ボンディング精度が悪化した場合組立歩留りが悪く
なる等の問題を持っていた。
【0007】本発明が解決しようとする課題は信頼性の
向上及び、歩留まりの向上を図ることである。
向上及び、歩留まりの向上を図ることである。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記問題点を解決するた
めに、本発明はリードフレーム先端部の半導体集積回路
との被接続面が、穴明き状に形成されてなる手段をとる
事を特徴とする。
めに、本発明はリードフレーム先端部の半導体集積回路
との被接続面が、穴明き状に形成されてなる手段をとる
事を特徴とする。
【0009】また、リードフレーム先端部の半導体集積
回路との被接続面が、穴明き状に形成され、かつ穴明き
面がスルーホールメッキされて成る手段をとる事を特徴
とする。
回路との被接続面が、穴明き状に形成され、かつ穴明き
面がスルーホールメッキされて成る手段をとる事を特徴
とする。
【0010】
【実施例】以下、実施例により本発明を詳述する。
【0011】図1に本発明の半導体封止装置用リードフ
レームの1実施例を示す。
レームの1実施例を示す。
【0012】1は本発明のリードフレーム、2は半導体
集積回路、3は半導体集積回路上のボンディング用のパ
ッド、4は穴明き状に形成されたリードフレーム先端部
である。
集積回路、3は半導体集積回路上のボンディング用のパ
ッド、4は穴明き状に形成されたリードフレーム先端部
である。
【0013】図2は本発明の半導体封止装置用リードフ
レームの一部分の詳細図面である。1のリードフレーム
の接続部には円形状あるいは四角状の穴が明いている。
この部分と3のボンディングパッドが、導電接着剤や半
田、金等の材料により接続される。
レームの一部分の詳細図面である。1のリードフレーム
の接続部には円形状あるいは四角状の穴が明いている。
この部分と3のボンディングパッドが、導電接着剤や半
田、金等の材料により接続される。
【0014】従って従来のボンディング線は不要とな
り、先に述べた長ワイヤーボンディングによる品質不良
等の問題が発生しにくくなる。
り、先に述べた長ワイヤーボンディングによる品質不良
等の問題が発生しにくくなる。
【0015】また、リードフレーム先端に穴があるた
め、接続材料を充分塗布できる。
め、接続材料を充分塗布できる。
【0016】従ってリードフレームを接続材料が包み込
む形状となり、接続強度の向上が可能となる。
む形状となり、接続強度の向上が可能となる。
【0017】接続順序は種々の方法が考えられ、 1.接続材料を予め3のボンディングパッドに塗布して
おく。
おく。
【0018】2.接続材料を予め1のリードフレームに
塗布しておく。
塗布しておく。
【0019】3.1のリードフレームと3ボンディング
パッドをアライメントした後に接続材料をボンダーと同
様の装置により塗布、接続する。
パッドをアライメントした後に接続材料をボンダーと同
様の装置により塗布、接続する。
【0020】等が考えられる。
【0021】図3は本発明の半導体封止装置用リードフ
レームの1実施例であるが、リードフレームが樹脂等の
絶縁材料で形成された場合の詳細図面である。
レームの1実施例であるが、リードフレームが樹脂等の
絶縁材料で形成された場合の詳細図面である。
【0022】1のリードフレームは絶縁材料であるため
導電性のメタライズが、片面、或は両面に施される。
導電性のメタライズが、片面、或は両面に施される。
【0023】このとき、4の接続部円形状の穴の側面は
接続強度を強化するためスルーホールとしてもよい。
接続強度を強化するためスルーホールとしてもよい。
【0024】
【発明の効果】本発明の半導体封止装置用リードフレー
ムによれば、従来の長ワイヤーボンディングによる信頼
性の低下を防止することが出来るだけでなく、テープア
ッセンブル技術による接続方法においても、接続強度を
増加させることが出来かつ信頼性も向上する。
ムによれば、従来の長ワイヤーボンディングによる信頼
性の低下を防止することが出来るだけでなく、テープア
ッセンブル技術による接続方法においても、接続強度を
増加させることが出来かつ信頼性も向上する。
【図1】本発明の半導体封止装置用リードフレームの1
実施例をしめす図。
実施例をしめす図。
【図2】本発明の半導体封止装置用リードフレームの1
実施例をしめす図。
実施例をしめす図。
【図3】本発明の半導体封止装置用リードフレームの1
実施例をしめす図。
実施例をしめす図。
【図4】従来の半導体封止装置用リードフレームをしめ
す図。
す図。
1.リードフレーム 2.半導体集積回路 3.ボンディングパッド 4.接続部円形状穴 5.接続材料 6.スルーホール面 7.メタライズ面
Claims (2)
- 【請求項1】セラミック、及び樹脂等の封止材料、リー
ドフレームからなる半導体封止装置において、リードフ
レーム先端部の半導体集積回路との被接続面が、穴明き
状に形成されていることを特徴とする半導体集積回路封
止装置用リードフレーム。 - 【請求項2】リードフレーム先端部の半導体集積回路と
の被接続面が、穴明き状に形成され、かつ穴明き面がス
ルーホールメッキされて成ることを特徴とする半導体集
積回路封止装置用リードフレーム。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3255451A JPH0595023A (ja) | 1991-10-02 | 1991-10-02 | 半導体集積回路封止装置用リードフレーム |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3255451A JPH0595023A (ja) | 1991-10-02 | 1991-10-02 | 半導体集積回路封止装置用リードフレーム |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0595023A true JPH0595023A (ja) | 1993-04-16 |
Family
ID=17278954
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3255451A Pending JPH0595023A (ja) | 1991-10-02 | 1991-10-02 | 半導体集積回路封止装置用リードフレーム |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0595023A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1009026A3 (en) * | 1998-12-11 | 2000-12-13 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Power semiconductor module |
-
1991
- 1991-10-02 JP JP3255451A patent/JPH0595023A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1009026A3 (en) * | 1998-12-11 | 2000-12-13 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Power semiconductor module |
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