JPH059630Y2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH059630Y2 JPH059630Y2 JP1985150323U JP15032385U JPH059630Y2 JP H059630 Y2 JPH059630 Y2 JP H059630Y2 JP 1985150323 U JP1985150323 U JP 1985150323U JP 15032385 U JP15032385 U JP 15032385U JP H059630 Y2 JPH059630 Y2 JP H059630Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- specimen
- bearing
- unbalance
- vibration
- pick
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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- Testing Of Balance (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
＜産業上の利用分野＞
本考案は振動検出方式の動つりあい試験機に関
する。
する。
＜従来の技術＞
振動検出方式の動つりあい試験機においては、
一般に、平行ばねによつて基台に対して変位し得
るよう支持された軸受台上に供試体を回動自在に
支承して、回転を与える。そして、その回転によ
つて発生する軸受振動を、ムービングコイル型ピ
ツクアツプで検出し、その出力信号を不つりあい
計測回路に導き、供試体に存在する不つりあいの
大きさと位置とを求める。従来、上述の軸受振動
の検出は、軸受部分１箇所について１個のピツク
アツプを設けて行つていた。
一般に、平行ばねによつて基台に対して変位し得
るよう支持された軸受台上に供試体を回動自在に
支承して、回転を与える。そして、その回転によ
つて発生する軸受振動を、ムービングコイル型ピ
ツクアツプで検出し、その出力信号を不つりあい
計測回路に導き、供試体に存在する不つりあいの
大きさと位置とを求める。従来、上述の軸受振動
の検出は、軸受部分１箇所について１個のピツク
アツプを設けて行つていた。
＜考案が解決しようとする問題点＞
上述のような従来の試験機によると、ピツクア
ツプによる測定感度が不足する場合、不つりあい
計測回路内での増巾量を大きくすることが考えら
れるが、Ｓ／Ｎ比の低下等種々の問題が発生する
ばかりでなく、増巾量を大きくするだけでは実質
的に測定の分解能を向上させることはできない。
ツプによる測定感度が不足する場合、不つりあい
計測回路内での増巾量を大きくすることが考えら
れるが、Ｓ／Ｎ比の低下等種々の問題が発生する
ばかりでなく、増巾量を大きくするだけでは実質
的に測定の分解能を向上させることはできない。
本考案の目的は、振動検出信号の増巾量を変化
させることなく、振動測定感度を向上させること
ができ、もつて、高精度かつ高分解能の動つりあ
い試験機を提供することにある。
させることなく、振動測定感度を向上させること
ができ、もつて、高精度かつ高分解能の動つりあ
い試験機を提供することにある。
＜問題点を解決する為の手段＞
上記の目的を達成する為の構成を、実施例図面
である第１図を参照しつつ説明すると、本考案は
互いに平行な板ばね２ａ，２ｂによつて基台１に
支持された軸受台３上に、供試体Ｗを回動自在に
支承し、その供試体Ｗに回転を与えることによつ
て発生する軸受台３の振動を検出して、その検出
信号を不つりあい計測回路に導くことにより、供
試体Ｗの不つりあいを測定する装置において、軸
受台３の振動を検出する為のピツクアツプを複数
個配設し、その各ピツクアツプ４ａ，４ｂの出力
電圧信号を直列接続して不つりあい計測回路に供
給するよう構成したことを特徴としている。
である第１図を参照しつつ説明すると、本考案は
互いに平行な板ばね２ａ，２ｂによつて基台１に
支持された軸受台３上に、供試体Ｗを回動自在に
支承し、その供試体Ｗに回転を与えることによつ
て発生する軸受台３の振動を検出して、その検出
信号を不つりあい計測回路に導くことにより、供
試体Ｗの不つりあいを測定する装置において、軸
受台３の振動を検出する為のピツクアツプを複数
個配設し、その各ピツクアツプ４ａ，４ｂの出力
電圧信号を直列接続して不つりあい計測回路に供
給するよう構成したことを特徴としている。
＜作用＞
基台１に対して、互いに平行な板ばね２ａ，２
ｂによつて支持された軸受台３は、第２図にその
運動の説明図を示すように、常に基台１に対して
平行に振動する。従つて、このような軸受台３に
おいて、互いに異なる箇所で振動を測定した場
合、その変位および位相は同一と見做すことがで
きる。
ｂによつて支持された軸受台３は、第２図にその
運動の説明図を示すように、常に基台１に対して
平行に振動する。従つて、このような軸受台３に
おいて、互いに異なる箇所で振動を測定した場
合、その変位および位相は同一と見做すことがで
きる。
また、ピツクアツプ４ａおよび４ｂの出力電圧
は、同じ型式のピツクアツプを用いることによつ
て、同一振動に対して同一の値を採る。
は、同じ型式のピツクアツプを用いることによつ
て、同一振動に対して同一の値を採る。
以上のことから、ピツクアツプ４ａ，４ｂの出
力電圧を直列に接続してとり出すと、振動の測定
感度は実質的にＳ／Ｎ比等を悪化させることなく
２倍（接続個数倍）となる。
力電圧を直列に接続してとり出すと、振動の測定
感度は実質的にＳ／Ｎ比等を悪化させることなく
２倍（接続個数倍）となる。
＜実施例＞
本考案の実施例を、以下、図面に基づいて説明
する。
する。
第１図は本考案実施例の軸受台３を供試体Ｗの
軸方向から見て示す要部構成図である。
軸方向から見て示す要部構成図である。
基台１には、互いに平行な板ばね２ａ，２ｂの
一端が押え板５ａ，５ｂによつて固着されてい
る。各板ばね２ａ，２ｂの他端は、同様な押え板
６ａ，６ｂによつて軸受台３に固着されている。
一端が押え板５ａ，５ｂによつて固着されてい
る。各板ばね２ａ，２ｂの他端は、同様な押え板
６ａ，６ｂによつて軸受台３に固着されている。
軸受台３の上面には、回動自在の軸受ローラ７
ａ，７ｂが配設されており、この軸受ローラ７
ａ，７ｂ上に供試体Ｗが支承される。
ａ，７ｂが配設されており、この軸受ローラ７
ａ，７ｂ上に供試体Ｗが支承される。
基台１にはムービングコイル型のピツクアツプ
４ａ，４ｂが固着されており、その各ピツクアツ
プ４ａ，４ｂの感振棒４１ａ，４１ｂが軸受台３
に装着されている。各ピツクアツプ４ａ，４ｂの
出力コードは、直列接続されて不つりあい計測回
路に導かれている。
４ａ，４ｂが固着されており、その各ピツクアツ
プ４ａ，４ｂの感振棒４１ａ，４１ｂが軸受台３
に装着されている。各ピツクアツプ４ａ，４ｂの
出力コードは、直列接続されて不つりあい計測回
路に導かれている。
供試体Ｗに軸受ローラ７ａ，７ｂ上で所定の回
転数を与えると、その供試体Ｗの不つりあいに起
因して振動が発生する。その振動は軸受台３に伝
達されるが、軸受台３は、第２図にその運動を模
式的に説明する図を示すように、平行な板ばね２
ａ，２ｂによつて支持されている関係上、基台１
に対して常に平行に振動する。すなわち、軸受台
３の振動を、 ｘ＝l0sin ωt ……(1) で表現すると、ｘは常に図中左右方向の変位とな
り、従つて、例えば第２図ＡおよびＢの位置でそ
の振動を測定したとき、変位、位相等は同一と見
做すことができる。従つて、ピツクアツプ４ａ，
４ｂの配設位置において、軸受台３の振動はいず
れも式(1)で表現できる。
転数を与えると、その供試体Ｗの不つりあいに起
因して振動が発生する。その振動は軸受台３に伝
達されるが、軸受台３は、第２図にその運動を模
式的に説明する図を示すように、平行な板ばね２
ａ，２ｂによつて支持されている関係上、基台１
に対して常に平行に振動する。すなわち、軸受台
３の振動を、 ｘ＝l0sin ωt ……(1) で表現すると、ｘは常に図中左右方向の変位とな
り、従つて、例えば第２図ＡおよびＢの位置でそ
の振動を測定したとき、変位、位相等は同一と見
做すことができる。従つて、ピツクアツプ４ａ，
４ｂの配設位置において、軸受台３の振動はいず
れも式(1)で表現できる。
ムービングコイル型のピツクアツプ４ａまたは
４ｂは、Ｂをピツクアツプのムービングコイル空
隙の平均磁束（Wb／m2）、Ｌをコイル巻線の磁
界中での長さ（ｍ）、Ｖを振動速度（ｍ／ｓ，Ｖ
＝lOω）としたとき、その出力電圧Ｅ(v)は、 Ｅ＝Ｂ×Ｌ×Ｖ ……(2) となる。
４ｂは、Ｂをピツクアツプのムービングコイル空
隙の平均磁束（Wb／m2）、Ｌをコイル巻線の磁
界中での長さ（ｍ）、Ｖを振動速度（ｍ／ｓ，Ｖ
＝lOω）としたとき、その出力電圧Ｅ(v)は、 Ｅ＝Ｂ×Ｌ×Ｖ ……(2) となる。
ピツクアツプ４ａ，４ｂの配設位置において、
前述したように軸受台３はいずれも(1)式で示す振
動をしているから、ピツクアツプ４ａ，４ｂの出
力電圧Ｅを直列接続すれば、不つりあい計測回路
に供給される振動検出信号E0は、 E0＝Ｅ×２ ……(3) となり、同じ振動でも２倍の電圧となる。
前述したように軸受台３はいずれも(1)式で示す振
動をしているから、ピツクアツプ４ａ，４ｂの出
力電圧Ｅを直列接続すれば、不つりあい計測回路
に供給される振動検出信号E0は、 E0＝Ｅ×２ ……(3) となり、同じ振動でも２倍の電圧となる。
なお、ピツクアツプの配設個数をｎ個とすれ
ば、 E0＝Ｅ×ｎ ……(4) となり、適宜にｎを選択することによつて、任意
倍数の感度を得ることができる。また、ピツクア
ツプは上述の実施例のように上下に配列する場合
に限られることなく、供試体Ｗの軸方向に複数個
配列してもよい。更に、本考案は１面および２面
不つりあい測定のいずれにも適用し得ることは勿
論で、供試体Ｗの軸支箇所の各軸受台に適用され
る。
ば、 E0＝Ｅ×ｎ ……(4) となり、適宜にｎを選択することによつて、任意
倍数の感度を得ることができる。また、ピツクア
ツプは上述の実施例のように上下に配列する場合
に限られることなく、供試体Ｗの軸方向に複数個
配列してもよい。更に、本考案は１面および２面
不つりあい測定のいずれにも適用し得ることは勿
論で、供試体Ｗの軸支箇所の各軸受台に適用され
る。
また、軸受台３の平行板ばね２ａ，２ｂによる
基台１への支持方式は、上述のような懸下タイプ
に限られることなく、第３図に示す如く、到立タ
イプであつてもよい。
基台１への支持方式は、上述のような懸下タイプ
に限られることなく、第３図に示す如く、到立タ
イプであつてもよい。
＜考案の効果＞
以上説明したように、本考案によれば、供試体
Ｗの回転によつて発生する軸受振動を、１箇所に
ついて複数個のピツクアツプで検出し、その各ピ
ツクアツプの出力電圧を直列接続して不つりあい
計測回路に供給し得るように構成したから、ピツ
クアツプの出力の増巾量を大きくすることなく、
実質的に感度を向上させることができ、高感度で
高分解能の動つりあい試験機を得ることができ
る。
Ｗの回転によつて発生する軸受振動を、１箇所に
ついて複数個のピツクアツプで検出し、その各ピ
ツクアツプの出力電圧を直列接続して不つりあい
計測回路に供給し得るように構成したから、ピツ
クアツプの出力の増巾量を大きくすることなく、
実質的に感度を向上させることができ、高感度で
高分解能の動つりあい試験機を得ることができ
る。
第１図は本考案実施例の要部構成図、第２図は
その軸受台３の運動を模式的に説明する図、第３
図は本考案の他の実施例の軸受台３の支持方式を
説明する図である。 １……基台、２ａ，２ｂ……板ばね、３……軸
受台、４ａ，４ｂ……ピツクアツプ、７ａ，７ｂ
……軸受ローラ。
その軸受台３の運動を模式的に説明する図、第３
図は本考案の他の実施例の軸受台３の支持方式を
説明する図である。 １……基台、２ａ，２ｂ……板ばね、３……軸
受台、４ａ，４ｂ……ピツクアツプ、７ａ，７ｂ
……軸受ローラ。
Claims (1)
- 互いに平行な板ばねによつて基台に支持された
軸受台上に、供試体を回動自在に支承し、その供
試体に回転を与えることによつて発生する上記軸
受台の振動を検出して、その検出信号を不つりあ
い計測回路に導くことにより、供試体の不つりあ
いを測定する装置において、上記軸受台の振動を
検出する為のピツクアツプを複数個配設し、その
各ピツクアツプの出力電圧信号を直列接続して上
記不つりあい計測回路に供給し得るよう構成した
ことを特徴とする動つりあい試験機。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1985150323U JPH059630Y2 (ja) | 1985-09-30 | 1985-09-30 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1985150323U JPH059630Y2 (ja) | 1985-09-30 | 1985-09-30 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6258728U JPS6258728U (ja) | 1987-04-11 |
| JPH059630Y2 true JPH059630Y2 (ja) | 1993-03-10 |
Family
ID=31066360
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1985150323U Expired - Lifetime JPH059630Y2 (ja) | 1985-09-30 | 1985-09-30 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH059630Y2 (ja) |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57151838A (en) * | 1981-03-16 | 1982-09-20 | Nippon Soken Inc | Knocking detector for internal-combustion engine |
| JPS5935846U (ja) * | 1982-08-31 | 1984-03-06 | 株式会社島津製作所 | 動釣合試験機の軸受高さ調節装置 |
-
1985
- 1985-09-30 JP JP1985150323U patent/JPH059630Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6258728U (ja) | 1987-04-11 |
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