JPH0596860A - Cdまたはcd−rom対応の追記型光デイスク - Google Patents
Cdまたはcd−rom対応の追記型光デイスクInfo
- Publication number
- JPH0596860A JPH0596860A JP3292246A JP29224691A JPH0596860A JP H0596860 A JPH0596860 A JP H0596860A JP 3292246 A JP3292246 A JP 3292246A JP 29224691 A JP29224691 A JP 29224691A JP H0596860 A JPH0596860 A JP H0596860A
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- JP
- Japan
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- Thermal Transfer Or Thermal Recording In General (AREA)
- Optical Record Carriers And Manufacture Thereof (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】本発明は、従来の追記機能、編集機能を有する
CDあるいはCD−ROMの持つ欠点を解決し、770
〜810nmの波長範囲で安定した光学特性を実現し、
この波長範囲で完全に記録再生が可能なオレンジブック
に準拠した光ディスクを提供するものである。 【構成】透明基板/記録膜/反射膜/保護膜からなり、
コンパクトディスクフォーマットあるいはコンパクトデ
ィスク−ROMフォーマット信号の記録を行なう追記型
光ディスクにおいて、記録膜が下記一般式[I]で示さ
れるフタロシアニン系色素を含有することを特徴とする
CD対応またはCD−ROM対応の追記型光ディスク。 一般式[I] 【化1】
CDあるいはCD−ROMの持つ欠点を解決し、770
〜810nmの波長範囲で安定した光学特性を実現し、
この波長範囲で完全に記録再生が可能なオレンジブック
に準拠した光ディスクを提供するものである。 【構成】透明基板/記録膜/反射膜/保護膜からなり、
コンパクトディスクフォーマットあるいはコンパクトデ
ィスク−ROMフォーマット信号の記録を行なう追記型
光ディスクにおいて、記録膜が下記一般式[I]で示さ
れるフタロシアニン系色素を含有することを特徴とする
CD対応またはCD−ROM対応の追記型光ディスク。 一般式[I] 【化1】
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、レーザー光による情報
の記録、再生を行う光ディスクに関する。さらに詳しく
はCDまたはCD−ROM対応の追記型光ディスクに関
する。
の記録、再生を行う光ディスクに関する。さらに詳しく
はCDまたはCD−ROM対応の追記型光ディスクに関
する。
【0002】
【従来の技術】集光レーザー光による情報記録媒体の中
で、オーディオ等の音楽再生用としてコンパクトディス
ク(CD)、コンピュータROMとしてCD−ROMが
広く普及している。このようなCDまたはCD−ROM
は、通常ポリカーボネート等の透明基板表面にCDまた
はCD−ROMフォーマット信号を有するピット列を射
出成形時に形成し、その上からアルミニウムまたは金等
を蒸着あるいはスパッタリングにより反射膜として設
け、さらに保護層をコートして作成する。このようにし
て作成した光ディスクの基板の裏面から再生レーザー光
(780nm半導体レーザー光)を照射して、ピットの
凹凸による反射率の変化から各信号を読取り、情報を再
生するものである。しかし、このようなCDまたはCD
−ROMは再生専用であり記録ができないため、追記型
光ディスクあるいは書換え可能な光磁気ディスク等のよ
うな編集機能がないという不都合さがあった。一方、編
集機能を有する追記型光ディスクあるいは光磁気ディス
クとしては、Te等カルコゲナイト系化合物、希土類金
属化合物もしくはシアニン等の有機色素等を記録膜とし
たものが実用化されている。しかしながら、これらの光
ディスクは、基板面からの反射率が30〜40%であ
り、現在のCDの国際規格であるレッドブックに記載さ
れている基板面からの反射率70%以上には到達してお
らず、現状のままCDあるいはCD−ROMの再生装置
により信号の再生を行うことはできないという問題点が
ある。このような問題点を解決するために、シアニン等
の記録膜の上に金等の反射膜を設けて、基板面反射率で
70%以上を確保して780nmでCDフォーマットあ
るいはCD−ROMフォーマット信号を記録し、CDま
たはCD−ROMの再生装置で情報を読み出す光ディス
クおよび方法が提案されている。
で、オーディオ等の音楽再生用としてコンパクトディス
ク(CD)、コンピュータROMとしてCD−ROMが
広く普及している。このようなCDまたはCD−ROM
は、通常ポリカーボネート等の透明基板表面にCDまた
はCD−ROMフォーマット信号を有するピット列を射
出成形時に形成し、その上からアルミニウムまたは金等
を蒸着あるいはスパッタリングにより反射膜として設
け、さらに保護層をコートして作成する。このようにし
て作成した光ディスクの基板の裏面から再生レーザー光
(780nm半導体レーザー光)を照射して、ピットの
凹凸による反射率の変化から各信号を読取り、情報を再
生するものである。しかし、このようなCDまたはCD
−ROMは再生専用であり記録ができないため、追記型
光ディスクあるいは書換え可能な光磁気ディスク等のよ
うな編集機能がないという不都合さがあった。一方、編
集機能を有する追記型光ディスクあるいは光磁気ディス
クとしては、Te等カルコゲナイト系化合物、希土類金
属化合物もしくはシアニン等の有機色素等を記録膜とし
たものが実用化されている。しかしながら、これらの光
ディスクは、基板面からの反射率が30〜40%であ
り、現在のCDの国際規格であるレッドブックに記載さ
れている基板面からの反射率70%以上には到達してお
らず、現状のままCDあるいはCD−ROMの再生装置
により信号の再生を行うことはできないという問題点が
ある。このような問題点を解決するために、シアニン等
の記録膜の上に金等の反射膜を設けて、基板面反射率で
70%以上を確保して780nmでCDフォーマットあ
るいはCD−ROMフォーマット信号を記録し、CDま
たはCD−ROMの再生装置で情報を読み出す光ディス
クおよび方法が提案されている。
【0003】しかしながら、一般にシアニン色素は光安
定性が悪いため、CDあるいはCD−ROMのような単
板構成で直接太陽光にさらされるような使用条件下で
は、記録の信頼性に問題が生ずる可能性がある。そのた
め、シアニン色素に代えて、化学的、物理的安定性の優
れたフタロシアニン化合物を記録膜材料に使用する試み
が検討されている。
定性が悪いため、CDあるいはCD−ROMのような単
板構成で直接太陽光にさらされるような使用条件下で
は、記録の信頼性に問題が生ずる可能性がある。そのた
め、シアニン色素に代えて、化学的、物理的安定性の優
れたフタロシアニン化合物を記録膜材料に使用する試み
が検討されている。
【0004】このフタロシアニン化合物の場合には、熱
的にも安定なため記録感度が低い、さらに吸収バンドが
非常にシャープであるため、CDまたはCD−ROMド
ライブのピックアップに搭載される半導体レーザーの発
振波長の許容範囲(780〜800nm程度)で安定し
た光学特性(反射率および吸収)を得ることが困難であ
り、記録感度の波長依存性が大きく、汎用性のある追記
型光ディスクに成りにくいという問題点がある。
的にも安定なため記録感度が低い、さらに吸収バンドが
非常にシャープであるため、CDまたはCD−ROMド
ライブのピックアップに搭載される半導体レーザーの発
振波長の許容範囲(780〜800nm程度)で安定し
た光学特性(反射率および吸収)を得ることが困難であ
り、記録感度の波長依存性が大きく、汎用性のある追記
型光ディスクに成りにくいという問題点がある。
【0005】従って、現状では安定性に優れ、さらに記
録特性も良好なCDまたはCD−ROM対応の追記型光
ディスクは提供されていない。
録特性も良好なCDまたはCD−ROM対応の追記型光
ディスクは提供されていない。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、従来の追記
機能、編集機能を有するCDあるいはCD−ROMの持
つ欠点を解決し、安定性に優れ、さらに記録特性も良好
なCD対応の追記型光ディスクは提供するために、化学
的、物理的安定性の優れたフタロシアニン化合物を記録
膜材料として用いる場合に生ずる低記録感度および記録
感度の波長依存性を防ぎ、良好な再生信号が得られる記
録材料について鋭意検討を行った結果、本発明を得るに
至った。
機能、編集機能を有するCDあるいはCD−ROMの持
つ欠点を解決し、安定性に優れ、さらに記録特性も良好
なCD対応の追記型光ディスクは提供するために、化学
的、物理的安定性の優れたフタロシアニン化合物を記録
膜材料として用いる場合に生ずる低記録感度および記録
感度の波長依存性を防ぎ、良好な再生信号が得られる記
録材料について鋭意検討を行った結果、本発明を得るに
至った。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記のような安定性に優
れ、さらに記録特性も良好なCDあるいはCD−ROM
対応の追記型光ディスクは以下のようにして実現され
る。透明基板/記録膜/反射膜/保護膜の4層構造から
なり、CDまたはCD−ROMフォーマット信号の記録
を行う追記型光ディスクにおいて、その記録膜がフタロ
シアニン化合物である下記一般式[I]から選ばれる1
種、または、2種以上で構成されることを特徴とするC
DまたはCD−ROM対応の追記型光ディスクである。
一般式[I]
れ、さらに記録特性も良好なCDあるいはCD−ROM
対応の追記型光ディスクは以下のようにして実現され
る。透明基板/記録膜/反射膜/保護膜の4層構造から
なり、CDまたはCD−ROMフォーマット信号の記録
を行う追記型光ディスクにおいて、その記録膜がフタロ
シアニン化合物である下記一般式[I]から選ばれる1
種、または、2種以上で構成されることを特徴とするC
DまたはCD−ROM対応の追記型光ディスクである。
一般式[I]
【0008】
【化2】
【0009】[式中、置換基X1 〜X4 は、それぞれ独
立にフッ素置換アルコキシ基を表し、Y1 〜Y4 はそれ
ぞれ独立に水素原子、ハロゲン原子、置換基を有しても
良いアルキル基、置換基を有してもよいアリール基、置
換基を有してもよいアルコキシ基、置換基を有してもよ
いアリールオキシ基、置換基を有してもよいアルキルチ
オ基、置換基を有してもよいアリールチオ基、ニトロ
基、シアノ基、スルホン酸基、スルホン酸アミド基、ス
ルホン酸エステル基を表す。n1 〜n4 は換基X1 〜X
4 の置換数で0〜4の整数を表す。中心金属Mは、S
i、Snを表す。置換基Zは、−OC(=O)R、−O
C(=O)Arを表す。ここで、Rはフッ素置換の直
鎖、分岐または環状のアルキル基を表し、Arはフッ素
置換のアリール基を表す。mは、1または2の整数であ
り置換基Zの個数を表す。]
立にフッ素置換アルコキシ基を表し、Y1 〜Y4 はそれ
ぞれ独立に水素原子、ハロゲン原子、置換基を有しても
良いアルキル基、置換基を有してもよいアリール基、置
換基を有してもよいアルコキシ基、置換基を有してもよ
いアリールオキシ基、置換基を有してもよいアルキルチ
オ基、置換基を有してもよいアリールチオ基、ニトロ
基、シアノ基、スルホン酸基、スルホン酸アミド基、ス
ルホン酸エステル基を表す。n1 〜n4 は換基X1 〜X
4 の置換数で0〜4の整数を表す。中心金属Mは、S
i、Snを表す。置換基Zは、−OC(=O)R、−O
C(=O)Arを表す。ここで、Rはフッ素置換の直
鎖、分岐または環状のアルキル基を表し、Arはフッ素
置換のアリール基を表す。mは、1または2の整数であ
り置換基Zの個数を表す。]
【0010】本発明の記録膜が、一般式[I]で示され
る特殊な構造を有するフタロシアニン化合物により構成
することにより前述した課題を解決するに至った。つま
り、一般式[I]で示されるフタロシアニン系色素の最
大の特徴は、中心金属からフタロシアニン環の分子平面
に垂直な方向に導入されたフッ素置換アルキル基を有す
るアシル基、またはフッ素置換アリール基を有するアシ
ル基(一般式[I]中の置換基Z、)の効果によりフタ
ロシアニン化合物の分解温度が低温側に大きくシフトす
るため、これらのフタロシアニン化合物を記録膜に用い
た場合、記録感度が大幅に向上すること。また、置換基
Zに導入されたフッ素原子の効果により、汎用の有機溶
媒に高い溶解性を示すようになるとともに、記録ピット
の形状が良好になり、記録信号のコントラストが大き
く、さらに再生波形がきれいになること。さらに、置換
基Zの効果により媒体の反射レベルが高くなることであ
る。
る特殊な構造を有するフタロシアニン化合物により構成
することにより前述した課題を解決するに至った。つま
り、一般式[I]で示されるフタロシアニン系色素の最
大の特徴は、中心金属からフタロシアニン環の分子平面
に垂直な方向に導入されたフッ素置換アルキル基を有す
るアシル基、またはフッ素置換アリール基を有するアシ
ル基(一般式[I]中の置換基Z、)の効果によりフタ
ロシアニン化合物の分解温度が低温側に大きくシフトす
るため、これらのフタロシアニン化合物を記録膜に用い
た場合、記録感度が大幅に向上すること。また、置換基
Zに導入されたフッ素原子の効果により、汎用の有機溶
媒に高い溶解性を示すようになるとともに、記録ピット
の形状が良好になり、記録信号のコントラストが大き
く、さらに再生波形がきれいになること。さらに、置換
基Zの効果により媒体の反射レベルが高くなることであ
る。
【0011】中心金属からフタロシアニン環の分子平面
に垂直な方向に導入された置換基についてはこれまでア
ルコキシ基、シロキシ基等が知られているが、これらの
置換基が導入されたフタロシアニン化合物の大きな重量
減少を伴う分解温度は400℃以上であるため、記録感
度が低いことが問題であった。これらの置換基で分解点
を下げるにはアルコキシ基や、シロキシ基等をかなりか
さ高いものにする必要があったが、そのために、分解点
(融点)は下がるが、記録ピットの形状が悪くなり、き
れいな再生信号が得られないことが難点であった。本発
明におけるフタロシアニン化合物は、一般式[I]中の
置換基Zがかさ高いものでない場合でも、大きな重量減
少を伴う分解点が400℃以下となり、また、置換基Z
に導入されたフッ素原子の効果により、(基板との界面
エネルギーの関係によるものと考えられる)記録ピット
の形状が良好になるため、再生信号のコントラストが良
く、きれいな再生波形を与えるようになる。また、置換
基Zの立体的、電気的な効果によって、記録膜上でフタ
ロシアニン分子同士の会合を抑制するため、高い分子吸
光係数を示すとともに、最大反射率を示す点が半導体レ
ーザーの発信波長領域に近付くため、追記型光ディスク
としてオレンジブックの規格である65%以上の反射率
を確保することができる等の特徴を有する。
に垂直な方向に導入された置換基についてはこれまでア
ルコキシ基、シロキシ基等が知られているが、これらの
置換基が導入されたフタロシアニン化合物の大きな重量
減少を伴う分解温度は400℃以上であるため、記録感
度が低いことが問題であった。これらの置換基で分解点
を下げるにはアルコキシ基や、シロキシ基等をかなりか
さ高いものにする必要があったが、そのために、分解点
(融点)は下がるが、記録ピットの形状が悪くなり、き
れいな再生信号が得られないことが難点であった。本発
明におけるフタロシアニン化合物は、一般式[I]中の
置換基Zがかさ高いものでない場合でも、大きな重量減
少を伴う分解点が400℃以下となり、また、置換基Z
に導入されたフッ素原子の効果により、(基板との界面
エネルギーの関係によるものと考えられる)記録ピット
の形状が良好になるため、再生信号のコントラストが良
く、きれいな再生波形を与えるようになる。また、置換
基Zの立体的、電気的な効果によって、記録膜上でフタ
ロシアニン分子同士の会合を抑制するため、高い分子吸
光係数を示すとともに、最大反射率を示す点が半導体レ
ーザーの発信波長領域に近付くため、追記型光ディスク
としてオレンジブックの規格である65%以上の反射率
を確保することができる等の特徴を有する。
【0012】第2の特徴は、フタロシアニン環に導入さ
れたフッ素置換アルコキシ基(一般式[I]中の置換基
X1 〜X4 )により溶解性が飛躍的に上がり、汎用の有
機溶媒(例えばメタノールやエタノール)に高い溶解性
を持つようになり、スピンコート法による記録膜の作成
が容易となる。また、この置換基の場合でも、置換基Z
と同様に導入されたフッ素原子の効果により、記録ピッ
トの状態が良好となる。また、置換基X1 〜X4 は導入
位置により最大吸収極大のシフトに影響するため、適切
な記録感度を与える位置に記録媒体の吸収を調整し、記
録レーザーの熱エネルギーを有効に活用することができ
るとともに、記録感度の波長依存性をも調整することが
できる。
れたフッ素置換アルコキシ基(一般式[I]中の置換基
X1 〜X4 )により溶解性が飛躍的に上がり、汎用の有
機溶媒(例えばメタノールやエタノール)に高い溶解性
を持つようになり、スピンコート法による記録膜の作成
が容易となる。また、この置換基の場合でも、置換基Z
と同様に導入されたフッ素原子の効果により、記録ピッ
トの状態が良好となる。また、置換基X1 〜X4 は導入
位置により最大吸収極大のシフトに影響するため、適切
な記録感度を与える位置に記録媒体の吸収を調整し、記
録レーザーの熱エネルギーを有効に活用することができ
るとともに、記録感度の波長依存性をも調整することが
できる。
【0013】一般式[I]で示されるフタロシアニン化
合物に導入される置換基Zにおけるフッ素置換の直鎖、
分岐または環状のアルキル基Rの代表例としては、トリ
フルオロメチル基、2,2,2−トリフルオロエチル
基、ヘプタフルオロプロピル基、ペンタデカフルオロヘ
プチル基、2,2,3,3−テトラフルオロプロピル
基、2,2,3,3,3−ペンタフルオロプロピル基、
1,1,1,3,3,3−ヘキサフルオロイソプロピル
基、2,2,3,4,4,4−ヘキサフルオロブチル
基、 1H,1H,5H−オクタフルオロペンチル基、1
H,1H,7H−ドデカフルオロヘプチル基、1H、1
H、9H−ヘキサデカフルオロノニル基、2−(パーフ
ルオロヘキシル)エチル基、2−(パーフルオロオクチ
ル)エチル基、2−(パーフルオロデシル)エチル基、
2−(パーフルオロ−3−メチルブチル)エチル基、6
−(パーフルオロエチル)ヘキシル基、6−(パーフル
オロヘキシル)ヘキシル基、等がある。
合物に導入される置換基Zにおけるフッ素置換の直鎖、
分岐または環状のアルキル基Rの代表例としては、トリ
フルオロメチル基、2,2,2−トリフルオロエチル
基、ヘプタフルオロプロピル基、ペンタデカフルオロヘ
プチル基、2,2,3,3−テトラフルオロプロピル
基、2,2,3,3,3−ペンタフルオロプロピル基、
1,1,1,3,3,3−ヘキサフルオロイソプロピル
基、2,2,3,4,4,4−ヘキサフルオロブチル
基、 1H,1H,5H−オクタフルオロペンチル基、1
H,1H,7H−ドデカフルオロヘプチル基、1H、1
H、9H−ヘキサデカフルオロノニル基、2−(パーフ
ルオロヘキシル)エチル基、2−(パーフルオロオクチ
ル)エチル基、2−(パーフルオロデシル)エチル基、
2−(パーフルオロ−3−メチルブチル)エチル基、6
−(パーフルオロエチル)ヘキシル基、6−(パーフル
オロヘキシル)ヘキシル基、等がある。
【0014】一般式[I]で示されるフタロシアニン化
合物に導入される置換基X1 〜X4 の代表例としては、
2,2,2−トリフルオロエトキシ基、2,2,3,3
−テトラフルオロプロポキシ基、2,2,3,3,3−
ペンタフルオロプロポキシ基、1,1,1,3,3,3
−ヘキサフルオロ−2−プロポキシ基、2,2,3,
4,4,4−ヘキサフルオロブトキシ基、 1H,1H,
5H−オクタフルオロペントキシ基、1H,1H,7H
−ドデカフルオロヘプトキシ基、1H、1H、9H−ヘ
キサデカフルオロノニルオキシ基、2−(パーフルオロ
ヘキシル)エトキシ基、2−(パーフルオロオクチル)
エトキシ基、2−(パーフルオロデシル)エトキシ基、
2−(パーフルオロ−3−メチルブチル)エトキシ基、
6−(パーフルオロエチル)ヘキシルオキシ基、6−
(パーフルオロヘキシル)ヘキシルオキシ基等がある。
合物に導入される置換基X1 〜X4 の代表例としては、
2,2,2−トリフルオロエトキシ基、2,2,3,3
−テトラフルオロプロポキシ基、2,2,3,3,3−
ペンタフルオロプロポキシ基、1,1,1,3,3,3
−ヘキサフルオロ−2−プロポキシ基、2,2,3,
4,4,4−ヘキサフルオロブトキシ基、 1H,1H,
5H−オクタフルオロペントキシ基、1H,1H,7H
−ドデカフルオロヘプトキシ基、1H、1H、9H−ヘ
キサデカフルオロノニルオキシ基、2−(パーフルオロ
ヘキシル)エトキシ基、2−(パーフルオロオクチル)
エトキシ基、2−(パーフルオロデシル)エトキシ基、
2−(パーフルオロ−3−メチルブチル)エトキシ基、
6−(パーフルオロエチル)ヘキシルオキシ基、6−
(パーフルオロヘキシル)ヘキシルオキシ基等がある。
【0015】一般式[I]で示されるフタロシアニン化
合物に導入されるY1 〜Y4 を構成する原子および有機
置換基の代表例としては、置換基を持たない場合に相当
する水素原子をはじめ、ハロゲン原子としては塩素、臭
素、ヨウ素、フッ素があり、置換基を有しても良いアル
キル基としては、メチル基、n−ブチル基、tert−
ブチル基、ステアリル基、トリクロロメチル基、トリフ
ルオロメチル基、2−メトキシエチル基、フタルイミド
メチル基等を、置換基を有しても良いアリール基として
は、フェニル基、ナフチル基、p−ニトロフェニル基、
p−tert−ブチルフェニル基等があり、置換基を有
してもよいアルコキシ基としては、メトキシ基、エトキ
シ基、n−ブトキシ基、tert−ブトキシ基、2−エ
チルヘキシルオキシ基、2,2,2−トリクロロエトキ
シ基等があり、置換基を有してもよいアリールオキシ基
としてはフェノキシ基、p−ニトロフェノキシ基p−t
ert−ブチルフェノキシ基、3−フルオロフェノキシ
基、ペンタフルオロフェニル基、3−トリフルオロメチ
ルフェノキシ基等があり、置換基を有しても良いアルキ
ルチオ基としては、メチルチオ基、エチルチオ基、te
rt−ブチルチオ基、ヘキシルチオ基、オクチルチオ基
等があり、置換基を有してもよいアリールチオ基として
はフェニルチオ基、p−ニトロフェニルチオ基、p−t
ert−ブチルフェニルチオ基、3−フルオロフェニル
チオ基、ペンタフルオロフェニルチオ基、3−トリフル
オロフェニルチオ基等がそれぞれ挙げられるが、これら
に限定されるものではない。
合物に導入されるY1 〜Y4 を構成する原子および有機
置換基の代表例としては、置換基を持たない場合に相当
する水素原子をはじめ、ハロゲン原子としては塩素、臭
素、ヨウ素、フッ素があり、置換基を有しても良いアル
キル基としては、メチル基、n−ブチル基、tert−
ブチル基、ステアリル基、トリクロロメチル基、トリフ
ルオロメチル基、2−メトキシエチル基、フタルイミド
メチル基等を、置換基を有しても良いアリール基として
は、フェニル基、ナフチル基、p−ニトロフェニル基、
p−tert−ブチルフェニル基等があり、置換基を有
してもよいアルコキシ基としては、メトキシ基、エトキ
シ基、n−ブトキシ基、tert−ブトキシ基、2−エ
チルヘキシルオキシ基、2,2,2−トリクロロエトキ
シ基等があり、置換基を有してもよいアリールオキシ基
としてはフェノキシ基、p−ニトロフェノキシ基p−t
ert−ブチルフェノキシ基、3−フルオロフェノキシ
基、ペンタフルオロフェニル基、3−トリフルオロメチ
ルフェノキシ基等があり、置換基を有しても良いアルキ
ルチオ基としては、メチルチオ基、エチルチオ基、te
rt−ブチルチオ基、ヘキシルチオ基、オクチルチオ基
等があり、置換基を有してもよいアリールチオ基として
はフェニルチオ基、p−ニトロフェニルチオ基、p−t
ert−ブチルフェニルチオ基、3−フルオロフェニル
チオ基、ペンタフルオロフェニルチオ基、3−トリフル
オロフェニルチオ基等がそれぞれ挙げられるが、これら
に限定されるものではない。
【0016】一般式[I]で示される化合物は、例え
ば、以下の方法により製造することができる。
ば、以下の方法により製造することができる。
【0017】すなわち、下記一般式[II]で示される
無置換のフタロニトリル、3位置換フタロニトリル類、
あるいは4位置換フタロニトリル類、または、下記一般
式[III]で示される無置換の1,3−ジイミノイソ
インドリン、4位置換1,3−ジイミノイソインドリン
化合物、あるいは、5位置換1,3−ジイミノイソイン
ドリン化合物、または、相当するフタル酸無水物類、フ
タルイミド類と一般式[I]中のMで示される金属の各
種金属塩を出発原料として常法により、一般式[IV]
で示されるフタロシアニン系化合物を製造できる。
無置換のフタロニトリル、3位置換フタロニトリル類、
あるいは4位置換フタロニトリル類、または、下記一般
式[III]で示される無置換の1,3−ジイミノイソ
インドリン、4位置換1,3−ジイミノイソインドリン
化合物、あるいは、5位置換1,3−ジイミノイソイン
ドリン化合物、または、相当するフタル酸無水物類、フ
タルイミド類と一般式[I]中のMで示される金属の各
種金属塩を出発原料として常法により、一般式[IV]
で示されるフタロシアニン系化合物を製造できる。
【0018】一般式[II]
【化3】
【0019】[式中、X、Y、nはそれぞれ一般式
[I]におけるX1 〜X4 、Y1 〜Y4 、n1 〜n4 と
同じ意味を表す。]
[I]におけるX1 〜X4 、Y1 〜Y4 、n1 〜n4 と
同じ意味を表す。]
【0020】一般式[III]
【化4】
【0021】[式中、X、Y、nはそれぞれ一般式
[I]におけるX1 〜X4 、Y1 〜Y4 、n1 〜n4 と
同じ意味を表す。]
[I]におけるX1 〜X4 、Y1 〜Y4 、n1 〜n4 と
同じ意味を表す。]
【0022】一般式[IV]
【化5】
【0023】[式中、X1 〜X4 、Y1 〜Y4 、n1 〜
n4 、M、mはそれぞれ一般式[I]におけるX1 〜X
4 、Y1 〜Y4 、n1 〜n4 、M、mと同じ意味を表
す。
n4 、M、mはそれぞれ一般式[I]におけるX1 〜X
4 、Y1 〜Y4 、n1 〜n4 、M、mと同じ意味を表
す。
【0024】次に、得られた一般式[IV]で示される
フタロシアニン化合物に、種々のフッ素置換の直鎖、分
岐または環状のアルキル基を有するアシル化剤、または
フッ素置換のアリール基を有するアシル化剤を反応させ
ることにより、一般式[I]で示されるフタロシアニン
化合物を製造することができる。
フタロシアニン化合物に、種々のフッ素置換の直鎖、分
岐または環状のアルキル基を有するアシル化剤、または
フッ素置換のアリール基を有するアシル化剤を反応させ
ることにより、一般式[I]で示されるフタロシアニン
化合物を製造することができる。
【0025】本発明で使用される一般式[I]で示され
るフタロシアニン化合物の代表的な例として下記に示す
フタロシアニン化合物(a)〜(j)等が挙げられる
が、これらに限定される物ではない。
るフタロシアニン化合物の代表的な例として下記に示す
フタロシアニン化合物(a)〜(j)等が挙げられる
が、これらに限定される物ではない。
【0026】(a)
【化6】
【0027】(b)
【化7】
【0028】(c)
【化8】
【0029】(d)
【化9】
【0030】(e)
【化10】
【0031】(f)
【化11】
【0032】(g)
【化12】
【0033】(h)
【化13】
【0034】(i)
【化14】
【0035】(j)
【化15】
【0036】本発明における一般式[I]で示されるフ
タロシアニン化合物を用いた記録膜には、記録膜の耐光
性、耐環境性等の安定性、繰り返し再生の安定性をさら
に向上させる目的で、酸素クエンチャー、紫外線吸収剤
等の添加剤を加えてもよい。
タロシアニン化合物を用いた記録膜には、記録膜の耐光
性、耐環境性等の安定性、繰り返し再生の安定性をさら
に向上させる目的で、酸素クエンチャー、紫外線吸収剤
等の添加剤を加えてもよい。
【0037】記録膜の成膜方法としては、ドライプロセ
ス、例えば、真空蒸着法、スパッタリング法によっても
可能であるが、ウェットプロセス、例えば、スピンコー
ト法、ディップ法、スプレー法、ロールコート法あるい
はLB(ラングミュア−ブロジェット)法によっても可
能である。記録膜素材は、汎用の有機溶媒、例えば、ア
ルコール系、ケトン系、セロソルブ系、ハロゲン化炭化
水素系、フロン系等に溶解するため、生産性および記録
膜の均一性からスピンコート法により成膜する方法が好
ましい。
ス、例えば、真空蒸着法、スパッタリング法によっても
可能であるが、ウェットプロセス、例えば、スピンコー
ト法、ディップ法、スプレー法、ロールコート法あるい
はLB(ラングミュア−ブロジェット)法によっても可
能である。記録膜素材は、汎用の有機溶媒、例えば、ア
ルコール系、ケトン系、セロソルブ系、ハロゲン化炭化
水素系、フロン系等に溶解するため、生産性および記録
膜の均一性からスピンコート法により成膜する方法が好
ましい。
【0038】このように、いわゆる塗布法で成膜する場
合には、必要に応じて高分子バインダーを加えても良
い。高分子バインダーとしてはアクリル樹脂、ポリカー
ボネート樹脂、ポリエステル樹脂、ポリアミド樹脂、塩
化ビニル系樹脂、酢酸ビニル系樹脂、ニトロセルロー
ス、フェノール樹脂等が挙げられるがこれに限られるも
のではない。高分子バインダーの混合比としては特に制
限はないが、フタロシアニン化合物に対して30重量%
以下が好ましい。
合には、必要に応じて高分子バインダーを加えても良
い。高分子バインダーとしてはアクリル樹脂、ポリカー
ボネート樹脂、ポリエステル樹脂、ポリアミド樹脂、塩
化ビニル系樹脂、酢酸ビニル系樹脂、ニトロセルロー
ス、フェノール樹脂等が挙げられるがこれに限られるも
のではない。高分子バインダーの混合比としては特に制
限はないが、フタロシアニン化合物に対して30重量%
以下が好ましい。
【0039】記録膜の最適膜厚は、記録膜材料の種類お
よび組合せにより異なるため特に制限はなく、500〜
3000オングストロームが好ましく、さらに1000
〜2500オングストロームが最適膜厚範囲である。
よび組合せにより異なるため特に制限はなく、500〜
3000オングストロームが好ましく、さらに1000
〜2500オングストロームが最適膜厚範囲である。
【0040】反射膜素材としては、金、銀、銅、白金、
アルミニウム、コバルト、スズ等の金属およびこれらを
主成分とした合金、MgO、ZnO、SnO等の金属酸
化物、SiN4 、AlN、TiN等の窒化物等が挙げら
れるが、絶対反射率が高く安定性に優れている点から金
が最適である。このように、反射膜素材としては金が最
適であるが、金は高価であるため、安価な追記型光ディ
スクを得ることが困難となる問題点がある。この問題点
を解決する目的で、金の膜厚を最小限に小さくし、膜厚
不足分を他の金属、金属酸化物(例えば、アルミニウ
ム、銀、ZnO等)で補うような積層膜を反射膜に用い
ることも可能である。なお、この場合、絶対反射率を金
単独膜とほぼ同等にするためには、積層する下層(記録
膜に接する層)の金膜厚は最低200オングストローム
以上必要であり、反射膜の厚みは800〜2500オン
グストロームが最適である。また、場合によっては有機
系の高反射膜を使用することもできる。このような反射
膜の成膜方法としては、ドライプロセス例えば真空蒸着
法、スパッタリング法が最も好ましいがこれに限られる
ものではない。反射膜の最適膜厚については、特に制限
はないが400〜1300オングストロームの範囲が好
ましい。
アルミニウム、コバルト、スズ等の金属およびこれらを
主成分とした合金、MgO、ZnO、SnO等の金属酸
化物、SiN4 、AlN、TiN等の窒化物等が挙げら
れるが、絶対反射率が高く安定性に優れている点から金
が最適である。このように、反射膜素材としては金が最
適であるが、金は高価であるため、安価な追記型光ディ
スクを得ることが困難となる問題点がある。この問題点
を解決する目的で、金の膜厚を最小限に小さくし、膜厚
不足分を他の金属、金属酸化物(例えば、アルミニウ
ム、銀、ZnO等)で補うような積層膜を反射膜に用い
ることも可能である。なお、この場合、絶対反射率を金
単独膜とほぼ同等にするためには、積層する下層(記録
膜に接する層)の金膜厚は最低200オングストローム
以上必要であり、反射膜の厚みは800〜2500オン
グストロームが最適である。また、場合によっては有機
系の高反射膜を使用することもできる。このような反射
膜の成膜方法としては、ドライプロセス例えば真空蒸着
法、スパッタリング法が最も好ましいがこれに限られる
ものではない。反射膜の最適膜厚については、特に制限
はないが400〜1300オングストロームの範囲が好
ましい。
【0041】さらに、反射膜の上より、ディスク特に記
録膜および反射膜の化学的劣化(例えば酸化、吸水等)
および物理的劣化(例えば傷、けずれ等)を防ぐ目的で
ディスクを保護するための保護膜を設ける。保護膜用の
材料としては、紫外線硬化型樹脂を用いて、スピンコー
トにより塗布し、紫外線照射により硬化させる方法が好
ましいがこれに限られるものではない。保護膜の最適膜
厚については、薄い場合には、保護の効果が低下し、厚
い場合には樹脂の硬化時の収縮によりディスクのそり等
の機械特性の悪化の原因になるため、2〜20ミクロン
の範囲で成膜することが好ましい。
録膜および反射膜の化学的劣化(例えば酸化、吸水等)
および物理的劣化(例えば傷、けずれ等)を防ぐ目的で
ディスクを保護するための保護膜を設ける。保護膜用の
材料としては、紫外線硬化型樹脂を用いて、スピンコー
トにより塗布し、紫外線照射により硬化させる方法が好
ましいがこれに限られるものではない。保護膜の最適膜
厚については、薄い場合には、保護の効果が低下し、厚
い場合には樹脂の硬化時の収縮によりディスクのそり等
の機械特性の悪化の原因になるため、2〜20ミクロン
の範囲で成膜することが好ましい。
【0042】また、ディスク基板としては信号の書込や
読み出しを行うための光の透過率が好ましくは85%以
上であり、かつ光学異方性の小さいものが望ましい。例
えば、ガラス、またはアクリル樹脂、ポリカーボネート
樹脂、ポリエステル樹脂、ポリアミド樹脂、塩化ビニル
系樹脂、酢酸ビニル系樹脂、ポリスチレン系樹脂、ポリ
オレフィン系樹脂(ポリ−4−メチルペンテン等)、ポ
リエーテルスルホン樹脂などの熱可塑性樹脂やエポキシ
樹脂、アリル樹脂等の熱硬化性樹脂からなる基板が挙げ
られる。これらの中で、成形のしやすさ、ATIP用の
ウォブル信号および案内溝等の付与のしやすさなどから
熱可塑性樹脂からなるものが好ましく、さらに光学特性
や機械特性およびコストからみてアクリル樹脂やポリカ
ーボネート樹脂からなるものが特に好ましい。また、A
TIP用ウォブル信号および案内溝などの付与は熱可塑
性樹脂を成形(射出成形、圧縮成形)する際にスタンパ
ーなどを用いて付与する方法が好ましいが、フォトポリ
マー樹脂を用いるいわゆる2P法による方法によっても
行うことができる。
読み出しを行うための光の透過率が好ましくは85%以
上であり、かつ光学異方性の小さいものが望ましい。例
えば、ガラス、またはアクリル樹脂、ポリカーボネート
樹脂、ポリエステル樹脂、ポリアミド樹脂、塩化ビニル
系樹脂、酢酸ビニル系樹脂、ポリスチレン系樹脂、ポリ
オレフィン系樹脂(ポリ−4−メチルペンテン等)、ポ
リエーテルスルホン樹脂などの熱可塑性樹脂やエポキシ
樹脂、アリル樹脂等の熱硬化性樹脂からなる基板が挙げ
られる。これらの中で、成形のしやすさ、ATIP用の
ウォブル信号および案内溝等の付与のしやすさなどから
熱可塑性樹脂からなるものが好ましく、さらに光学特性
や機械特性およびコストからみてアクリル樹脂やポリカ
ーボネート樹脂からなるものが特に好ましい。また、A
TIP用ウォブル信号および案内溝などの付与は熱可塑
性樹脂を成形(射出成形、圧縮成形)する際にスタンパ
ーなどを用いて付与する方法が好ましいが、フォトポリ
マー樹脂を用いるいわゆる2P法による方法によっても
行うことができる。
【0043】本発明の案内溝の形状については、特に制
限はなく矩形、台形あるいはU字形であってもよい。ま
た、案内溝の寸法については、記録膜材料の種類および
組合せ等により最適値はそれぞれ異なるが、平均溝幅
(溝深さの1/2の位置の幅)が0.3〜0.6ミクロ
ン、また、溝深さが800〜2000オングストローム
の範囲が好ましい。
限はなく矩形、台形あるいはU字形であってもよい。ま
た、案内溝の寸法については、記録膜材料の種類および
組合せ等により最適値はそれぞれ異なるが、平均溝幅
(溝深さの1/2の位置の幅)が0.3〜0.6ミクロ
ン、また、溝深さが800〜2000オングストローム
の範囲が好ましい。
【0044】本発明のディスク形態は、記録後CDある
いはCD−ROMとして機能する必要があるため、CD
あるいはCD−ROMの規格(レッドブック)およびR
−CDの規格(オレンジブック)に準拠していることが
好ましい。
いはCD−ROMとして機能する必要があるため、CD
あるいはCD−ROMの規格(レッドブック)およびR
−CDの規格(オレンジブック)に準拠していることが
好ましい。
【0045】
【実施例】以下の実施例により本発明を具体的に説明す
るが、本発明は以下の実施例に限られるものではない。
はじめに、本発明で使用されるフタロシアニン化合物の
代表例の製造法について説明する。
るが、本発明は以下の実施例に限られるものではない。
はじめに、本発明で使用されるフタロシアニン化合物の
代表例の製造法について説明する。
【0046】製造例1:フタロシアニン化合物(a)の
製造 キノリン150部に1,3−ジイミノイソインドレニン
14.5部および四塩化ケイ素5.7部を加え、160
〜170℃で3時間加熱攪拌後、冷却し、メタノール1
000部で希釈、析出した沈殿をろ過、メタノールで洗
浄、乾燥して緑青色の粉末8.3部を得た。この粉末を
濃硫酸300部に溶解した後、氷水6000部に注入、
析出した沈殿をろ過、水洗、乾燥して緑青色の粉末7.
2部を得た。この粉末はFD−MS分析の結果、一般式
[IV]に相当するジヒドロキシシリコンフタロシアニ
ンであることが確認された。上記で得られたジヒドロキ
シシリコンフタロシアニン5.0部をピリジン100
部、トリ−n−ブチルアミン10部に攪拌溶解した後、
冷却しながらヘプタフルオロブタノイルクロリド5.0
部を滴下し、室温で1時間攪拌後、50℃で3時間加熱
攪拌した。冷却後、反応液を5%塩酸水2000部に注
入、析出した沈殿をろ過、水洗した後、メタノール/水
(3/1)混合溶液で洗浄、乾燥して緑色の粉末5.2
部を得た。FD−MS分析の結果、この粉末はフタロシ
アニン化合物(a)であることが確認された。
製造 キノリン150部に1,3−ジイミノイソインドレニン
14.5部および四塩化ケイ素5.7部を加え、160
〜170℃で3時間加熱攪拌後、冷却し、メタノール1
000部で希釈、析出した沈殿をろ過、メタノールで洗
浄、乾燥して緑青色の粉末8.3部を得た。この粉末を
濃硫酸300部に溶解した後、氷水6000部に注入、
析出した沈殿をろ過、水洗、乾燥して緑青色の粉末7.
2部を得た。この粉末はFD−MS分析の結果、一般式
[IV]に相当するジヒドロキシシリコンフタロシアニ
ンであることが確認された。上記で得られたジヒドロキ
シシリコンフタロシアニン5.0部をピリジン100
部、トリ−n−ブチルアミン10部に攪拌溶解した後、
冷却しながらヘプタフルオロブタノイルクロリド5.0
部を滴下し、室温で1時間攪拌後、50℃で3時間加熱
攪拌した。冷却後、反応液を5%塩酸水2000部に注
入、析出した沈殿をろ過、水洗した後、メタノール/水
(3/1)混合溶液で洗浄、乾燥して緑色の粉末5.2
部を得た。FD−MS分析の結果、この粉末はフタロシ
アニン化合物(a)であることが確認された。
【0047】製造例2:フタロシアニン化合物(b)の
製造 キノリン150部に1,3−ジイミノイソインドレニン
14.5部および塩化第1スズ4.2部を加え、160
〜170℃で3時間加熱攪拌後、冷却し、メタノール1
000部で希釈、析出した沈殿をろ過、メタノールで洗
浄、乾燥して緑青色の粉末7.6部を得た。この粉末を
アンモニア水500部中で3時間加熱攪拌し、冷却後、
ろ過、水洗、乾燥して緑青色の粉末6.5部を得た。こ
の粉末はFD−MS分析の結果、一般式[IV]に相当
するジヒドロキシスズフタロシアニンであることが確認
された。上記で得られたジヒドロキシスズフタロシアニ
ン5.0部をピリジン100部に攪拌溶解した後、冷却
しながらトリフルオロ無水酢酸5.0部を滴下し、室温
で1時間攪拌後、50℃で3時間加熱攪拌した。冷却
後、反応液を5%塩酸水2000部に注入、析出した沈
殿をろ過、水洗した後、メタノール/水(3/1)混合
溶液で洗浄、乾燥して緑色の粉末3.8部を得た。FD
−MS分析の結果、この粉末はフタロシアニン化合物
(b)であることが確認された。
製造 キノリン150部に1,3−ジイミノイソインドレニン
14.5部および塩化第1スズ4.2部を加え、160
〜170℃で3時間加熱攪拌後、冷却し、メタノール1
000部で希釈、析出した沈殿をろ過、メタノールで洗
浄、乾燥して緑青色の粉末7.6部を得た。この粉末を
アンモニア水500部中で3時間加熱攪拌し、冷却後、
ろ過、水洗、乾燥して緑青色の粉末6.5部を得た。こ
の粉末はFD−MS分析の結果、一般式[IV]に相当
するジヒドロキシスズフタロシアニンであることが確認
された。上記で得られたジヒドロキシスズフタロシアニ
ン5.0部をピリジン100部に攪拌溶解した後、冷却
しながらトリフルオロ無水酢酸5.0部を滴下し、室温
で1時間攪拌後、50℃で3時間加熱攪拌した。冷却
後、反応液を5%塩酸水2000部に注入、析出した沈
殿をろ過、水洗した後、メタノール/水(3/1)混合
溶液で洗浄、乾燥して緑色の粉末3.8部を得た。FD
−MS分析の結果、この粉末はフタロシアニン化合物
(b)であることが確認された。
【0048】製造例3:フタロシアニン化合物(c)の
製造 o−ジクロロベンゼン50部、トリ−n−ブチルアミン
25部に、4−(2,2,2−トリフルオロエチル)オ
キシ−1,3−ジイミノイソインドリン7.8部および
四塩化ケイ素5.0部を加え、160〜170℃で3時
間加熱攪拌後、冷却し、メタノール1000部で希釈、
析出した沈殿をろ過、メタノール/水(3/1)混合溶
液で洗浄、乾燥して緑色の粉末6.3部を得た。この粉
末を濃硫酸300部に溶解した後、氷水6000部に注
入、析出した沈殿をろ過、水洗、乾燥して緑青色の粉末
5.0部を得た。この粉末はFD−MS分析の結果、一
般式[IV]に相当するジヒドロキシシリコンフタロシ
アニンであることが確認された。上記で得られたジヒド
ロキシシリコンフタロシアニン5.0部をピリジン10
0部に攪拌溶解した後、冷却しながらトリフルオロ無水
酢酸5.0部を滴下し、室温で1時間攪拌後、60℃で
3時間加熱攪拌した。冷却後、反応液を5%塩酸水20
00部に注入、析出した沈殿をろ過、水洗した後、メタ
ノール/水(2/1)混合溶液で洗浄、乾燥して緑色の
粉末4.9部を得た。FD−MS分析の結果、この粉末
はフタロシアニン化合物(c)であることが確認され
た。
製造 o−ジクロロベンゼン50部、トリ−n−ブチルアミン
25部に、4−(2,2,2−トリフルオロエチル)オ
キシ−1,3−ジイミノイソインドリン7.8部および
四塩化ケイ素5.0部を加え、160〜170℃で3時
間加熱攪拌後、冷却し、メタノール1000部で希釈、
析出した沈殿をろ過、メタノール/水(3/1)混合溶
液で洗浄、乾燥して緑色の粉末6.3部を得た。この粉
末を濃硫酸300部に溶解した後、氷水6000部に注
入、析出した沈殿をろ過、水洗、乾燥して緑青色の粉末
5.0部を得た。この粉末はFD−MS分析の結果、一
般式[IV]に相当するジヒドロキシシリコンフタロシ
アニンであることが確認された。上記で得られたジヒド
ロキシシリコンフタロシアニン5.0部をピリジン10
0部に攪拌溶解した後、冷却しながらトリフルオロ無水
酢酸5.0部を滴下し、室温で1時間攪拌後、60℃で
3時間加熱攪拌した。冷却後、反応液を5%塩酸水20
00部に注入、析出した沈殿をろ過、水洗した後、メタ
ノール/水(2/1)混合溶液で洗浄、乾燥して緑色の
粉末4.9部を得た。FD−MS分析の結果、この粉末
はフタロシアニン化合物(c)であることが確認され
た。
【0049】製造例4:フタロシアニン化合物(d)の
製造 製造例3の4−(2,2,2−トリフルオロエチル)オ
キシ−1,3−ジイミノイソインドリン7.8部の代り
に5−(2,2,3,3−テトラフルオロプロピル)オ
キシ−1,3−ジイミノイソインドリン7.6部とし、
製造例3と同様に処理して、一般式[IV]に相当する
ジヒドロキシシリコンフタロシアニンの青緑色粉末4.
6部を得た。上記で得られたジヒドロキシシリコンフタ
ロシアニン4.6部をピコリン150部に攪拌溶解した
後、冷却しながらヘプタフルオロブタノイルクロリド
5.0部を滴下し、室温で1時間攪拌後、60℃で3時
間加熱攪拌した。冷却後、反応液を5%塩酸水2000
部に注入し、クロロホルム500部で抽出、有機層を炭
酸水素ナトリウム溶液で中和洗浄、水洗し、硫酸ナトリ
ウムで乾燥、溶媒を留去して緑色のハルツ状の物質を得
た。次いで、カラム精製(シリカゲル/クロロホルム)
により暗緑色の粉末2.3部を得た。FD−MS分析の
結果、この粉末はフタロシアニン化合物(d)であるこ
とが確認された。
製造 製造例3の4−(2,2,2−トリフルオロエチル)オ
キシ−1,3−ジイミノイソインドリン7.8部の代り
に5−(2,2,3,3−テトラフルオロプロピル)オ
キシ−1,3−ジイミノイソインドリン7.6部とし、
製造例3と同様に処理して、一般式[IV]に相当する
ジヒドロキシシリコンフタロシアニンの青緑色粉末4.
6部を得た。上記で得られたジヒドロキシシリコンフタ
ロシアニン4.6部をピコリン150部に攪拌溶解した
後、冷却しながらヘプタフルオロブタノイルクロリド
5.0部を滴下し、室温で1時間攪拌後、60℃で3時
間加熱攪拌した。冷却後、反応液を5%塩酸水2000
部に注入し、クロロホルム500部で抽出、有機層を炭
酸水素ナトリウム溶液で中和洗浄、水洗し、硫酸ナトリ
ウムで乾燥、溶媒を留去して緑色のハルツ状の物質を得
た。次いで、カラム精製(シリカゲル/クロロホルム)
により暗緑色の粉末2.3部を得た。FD−MS分析の
結果、この粉末はフタロシアニン化合物(d)であるこ
とが確認された。
【0050】製造例5:フタロシアニン化合物(e)の
製造 o−ジクロロベンゼン80部、トリ−n−ブチルアミン
20部に、5−(2,2,2−トリフルオロエチル)オ
キシ−1,3−ジイミノイソインドリン6.0部、塩化
第1スズ4.8部を加え、150〜160℃で3時間加
熱攪拌した後、冷却、ヘキサン1000部で希釈、デカ
ンテーションによりヘキサン層を除去した後、2回ヘキ
サン500部で洗浄、ハルツ状の沈殿を5%塩酸水で洗
浄した後、アンモニア水500部中で2時間加熱環流し
た。冷却後、ろ過、水洗、乾燥して一般式[IV]に相
当するジヒドロキシスズフタロシアニンの青緑色粉末
3.1部を得た。上記で得られたジヒドロキシシリコン
フタロシアニン3.0部をピリジン100部に攪拌溶解
した後、冷却しながらトリフルオロ無水酢酸5.0部を
滴下し、室温で1時間攪拌後、60℃で3時間加熱攪拌
した。冷却後、反応液を5%塩酸水2000部に注入
し、クロロホルム500部で抽出、有機層を炭酸水素ナ
トリウム溶液で中和洗浄、水洗し、硫酸ナトリウムで乾
燥、溶媒を留去して緑色のハルツ状の物質を得た。次い
で、カラム精製(シリカゲル/クロロホルム)により暗
緑色の粉末2.2部を得た。FD−MS分析の結果、こ
の粉末はフタロシアニン化合物(e)であることが確認
された。
製造 o−ジクロロベンゼン80部、トリ−n−ブチルアミン
20部に、5−(2,2,2−トリフルオロエチル)オ
キシ−1,3−ジイミノイソインドリン6.0部、塩化
第1スズ4.8部を加え、150〜160℃で3時間加
熱攪拌した後、冷却、ヘキサン1000部で希釈、デカ
ンテーションによりヘキサン層を除去した後、2回ヘキ
サン500部で洗浄、ハルツ状の沈殿を5%塩酸水で洗
浄した後、アンモニア水500部中で2時間加熱環流し
た。冷却後、ろ過、水洗、乾燥して一般式[IV]に相
当するジヒドロキシスズフタロシアニンの青緑色粉末
3.1部を得た。上記で得られたジヒドロキシシリコン
フタロシアニン3.0部をピリジン100部に攪拌溶解
した後、冷却しながらトリフルオロ無水酢酸5.0部を
滴下し、室温で1時間攪拌後、60℃で3時間加熱攪拌
した。冷却後、反応液を5%塩酸水2000部に注入
し、クロロホルム500部で抽出、有機層を炭酸水素ナ
トリウム溶液で中和洗浄、水洗し、硫酸ナトリウムで乾
燥、溶媒を留去して緑色のハルツ状の物質を得た。次い
で、カラム精製(シリカゲル/クロロホルム)により暗
緑色の粉末2.2部を得た。FD−MS分析の結果、こ
の粉末はフタロシアニン化合物(e)であることが確認
された。
【0051】製造例4:フタロシアニン化合物(f)の
製造 製造例3の4−(2,2,2−トリフルオロエチル)オ
キシ−1,3−ジイミノイソインドリン7.8部の代り
に5,8−ジ−nブトキシ−1,3−ジイミノイソイン
ドリン7.2部とし、製造例3と同様に処理して、一般
式[IV]に相当するジヒドロキシシリコンフタロシア
ニンの青緑色粉末5.3部を得た。上記で得られたジヒ
ドロキシシリコンフタロシアニン5.0部をピコリン1
50部に攪拌溶解した後、冷却しながら3,3,4,4
−テトラフルオロブタノイルクロリド5.0部を滴下
し、室温で1時間攪拌後、60℃で3時間加熱攪拌し
た。冷却後、反応液を5%塩酸水2000部に注入し、
クロロホルム500部で抽出、有機層を炭酸水素ナトリ
ウム溶液で中和洗浄、水洗し、硫酸ナトリウムで乾燥、
溶媒を留去して緑色のハルツ状の物質を得た。次いで、
カラム精製(シリカゲル/クロロホルム)により暗緑色
の粉末3.3部を得た。FD−MS分析の結果、この粉
末はフタロシアニン化合物(f)であることが確認され
た。
製造 製造例3の4−(2,2,2−トリフルオロエチル)オ
キシ−1,3−ジイミノイソインドリン7.8部の代り
に5,8−ジ−nブトキシ−1,3−ジイミノイソイン
ドリン7.2部とし、製造例3と同様に処理して、一般
式[IV]に相当するジヒドロキシシリコンフタロシア
ニンの青緑色粉末5.3部を得た。上記で得られたジヒ
ドロキシシリコンフタロシアニン5.0部をピコリン1
50部に攪拌溶解した後、冷却しながら3,3,4,4
−テトラフルオロブタノイルクロリド5.0部を滴下
し、室温で1時間攪拌後、60℃で3時間加熱攪拌し
た。冷却後、反応液を5%塩酸水2000部に注入し、
クロロホルム500部で抽出、有機層を炭酸水素ナトリ
ウム溶液で中和洗浄、水洗し、硫酸ナトリウムで乾燥、
溶媒を留去して緑色のハルツ状の物質を得た。次いで、
カラム精製(シリカゲル/クロロホルム)により暗緑色
の粉末3.3部を得た。FD−MS分析の結果、この粉
末はフタロシアニン化合物(f)であることが確認され
た。
【0052】製造例6:フタロシアニン化合物(h)の
製造 製造例3の4−(2,2,2−トリフルオロエチル)オ
キシ−1,3−ジイミノイソインドリン7.8部の代り
に4−(2,2,3,3−テトラフルオロプロピル)オ
キシ−1,3−ジイミノイソインドリン7.6部とし、
製造例3と同様に処理して、一般式[IV]に相当する
ジヒドロキシシリコンフタロシアニン体の青緑色粉末
3.0部を得た。上記で得られたジヒドロキシシリコン
フタロシアニン体3.0部をピリジン100部に攪拌溶
解した後、冷却しながらトリフルオロ無水酢酸5.0部
を滴下し、室温で1時間攪拌後、60℃で3時間加熱攪
拌した。冷却後、反応液を5%塩酸水2000部に注入
し、クロロホルム500部で抽出、有機層を炭酸水素ナ
トリウム溶液で中和洗浄、水洗し、硫酸ナトリウムで乾
燥、溶媒を留去して緑色のハルツ状の物質を得た。次い
で、カラム精製(シリカゲル/クロロホルム)により暗
緑色の粉末1.7部を得た。FD−MS分析の結果、こ
の粉末はフタロシアニン化合物(h)であることが確認
された。
製造 製造例3の4−(2,2,2−トリフルオロエチル)オ
キシ−1,3−ジイミノイソインドリン7.8部の代り
に4−(2,2,3,3−テトラフルオロプロピル)オ
キシ−1,3−ジイミノイソインドリン7.6部とし、
製造例3と同様に処理して、一般式[IV]に相当する
ジヒドロキシシリコンフタロシアニン体の青緑色粉末
3.0部を得た。上記で得られたジヒドロキシシリコン
フタロシアニン体3.0部をピリジン100部に攪拌溶
解した後、冷却しながらトリフルオロ無水酢酸5.0部
を滴下し、室温で1時間攪拌後、60℃で3時間加熱攪
拌した。冷却後、反応液を5%塩酸水2000部に注入
し、クロロホルム500部で抽出、有機層を炭酸水素ナ
トリウム溶液で中和洗浄、水洗し、硫酸ナトリウムで乾
燥、溶媒を留去して緑色のハルツ状の物質を得た。次い
で、カラム精製(シリカゲル/クロロホルム)により暗
緑色の粉末1.7部を得た。FD−MS分析の結果、こ
の粉末はフタロシアニン化合物(h)であることが確認
された。
【0053】製造例6:フタロシアニン化合物(j)の
製造 製造例3の4−(2,2,2−トリフルオロエチル)オ
キシ−1,3−ジイミノイソインドリン7.8部の代り
に4−(1H,1H,5H−パーフルオロヘプチル)オ
キシ−1,3−ジイミノイソインドリン9.2部とし、
製造例3と同様に処理して、一般式[IV]に相当する
ジヒドロキシシリコンフタロシアニン体の青緑色粉末
4.5部を得た。上記で得られたジヒドロキシシリコン
フタロシアニン体4.0部をピコリン200部に攪拌溶
解した後、冷却しながらp−フルオロ安息香酸クロリド
7.0部を滴下し、室温で1時間攪拌後、80℃で3時
間加熱攪拌した。冷却後、反応液を5%塩酸水2000
部に注入し、クロロホルム500部で抽出、有機層を炭
酸水素ナトリウム溶液で中和洗浄、水洗し、硫酸ナトリ
ウムで乾燥、溶媒を留去して緑色のハルツ状の物質を得
た。次いで、カラム精製(シリカゲル/クロロホルム)
により暗緑色の粉末1.7部を得た。FD−MS分析の
結果、この粉末はフタロシアニン化合物(j)であるこ
とが確認された。
製造 製造例3の4−(2,2,2−トリフルオロエチル)オ
キシ−1,3−ジイミノイソインドリン7.8部の代り
に4−(1H,1H,5H−パーフルオロヘプチル)オ
キシ−1,3−ジイミノイソインドリン9.2部とし、
製造例3と同様に処理して、一般式[IV]に相当する
ジヒドロキシシリコンフタロシアニン体の青緑色粉末
4.5部を得た。上記で得られたジヒドロキシシリコン
フタロシアニン体4.0部をピコリン200部に攪拌溶
解した後、冷却しながらp−フルオロ安息香酸クロリド
7.0部を滴下し、室温で1時間攪拌後、80℃で3時
間加熱攪拌した。冷却後、反応液を5%塩酸水2000
部に注入し、クロロホルム500部で抽出、有機層を炭
酸水素ナトリウム溶液で中和洗浄、水洗し、硫酸ナトリ
ウムで乾燥、溶媒を留去して緑色のハルツ状の物質を得
た。次いで、カラム精製(シリカゲル/クロロホルム)
により暗緑色の粉末1.7部を得た。FD−MS分析の
結果、この粉末はフタロシアニン化合物(j)であるこ
とが確認された。
【0054】実施例1 深さ1200オングストローム、幅0.50ミクロン、
ピッチ1.6ミクロンの案内溝を有する厚さ1.20m
m、外径120mm、内径15mmのポリカーボネート
基板上に、フタロシアニン化合物[c]を2,2,3,
3−テトラフルオロプロパノールに50mg/mlの濃
度で溶解し、0.2ミクロンのフィルタリングを行い塗
液を調製し、この塗液を用いて、スピンコーターにより
記録膜厚1300オングストロームに成膜した。次に、
このようにして得た記録膜の上に真空蒸着により金を膜
厚800オングストロームに成膜した。さらに、この上
に紫外線硬化型樹脂により保護膜を5ミクロンの膜厚で
設けて光ディスクを作成した。このようにして作成した
光ディスクの反射率は76%であった。このようにして
作成した光ディスクを用い、波長785nmの半導体レ
ーザーを使用して線速度1.4m/secで、EFM−
CDフォーマット信号を記録したところ、最適記録レー
ザーパワーが6.1mWで記録が可能であった。次に、
この信号をCDプレーヤーによりレーザーパワー0.5
mWで再生を行ったところ、得られた信号は良好であ
り、市販のCDプレーヤーに十分かかるレベルであっ
た。
ピッチ1.6ミクロンの案内溝を有する厚さ1.20m
m、外径120mm、内径15mmのポリカーボネート
基板上に、フタロシアニン化合物[c]を2,2,3,
3−テトラフルオロプロパノールに50mg/mlの濃
度で溶解し、0.2ミクロンのフィルタリングを行い塗
液を調製し、この塗液を用いて、スピンコーターにより
記録膜厚1300オングストロームに成膜した。次に、
このようにして得た記録膜の上に真空蒸着により金を膜
厚800オングストロームに成膜した。さらに、この上
に紫外線硬化型樹脂により保護膜を5ミクロンの膜厚で
設けて光ディスクを作成した。このようにして作成した
光ディスクの反射率は76%であった。このようにして
作成した光ディスクを用い、波長785nmの半導体レ
ーザーを使用して線速度1.4m/secで、EFM−
CDフォーマット信号を記録したところ、最適記録レー
ザーパワーが6.1mWで記録が可能であった。次に、
この信号をCDプレーヤーによりレーザーパワー0.5
mWで再生を行ったところ、得られた信号は良好であ
り、市販のCDプレーヤーに十分かかるレベルであっ
た。
【0055】実施例2 深さ1500オングストローム、幅0.52ミクロン、
ピッチ1.6ミクロンの案内溝を有する厚さ1.20m
m、外径120mm、内径15mmのポリカーボネート
基板上に、フタロシアニン化合物[d]をジアセトンア
ルコールに65mg/mlの濃度で溶解し、0.2ミク
ロンのフィルタリングを行い塗液を調製し、この塗液を
用いて、スピンコーターにより記録膜厚1500オング
ストロームに成膜した。次に、このようにして得た記録
膜の上に真空蒸着により金を膜厚500オングストロー
ムに成膜した。さらに、この上に紫外線硬化型樹脂によ
り保護膜を5ミクロンの膜厚で設けて光ディスクを作成
した。このようにして作成した光ディスクの反射率は7
7%であった。このようにして作成した光ディスクを用
い、波長785nmの半導体レーザーを使用して線速度
1.4m/secで、EFM−CDフォーマット信号を
記録したところ、最適記録レーザーパワーが5.9mW
で記録が可能であった。次に、この信号をCDプレーヤ
ーによりレーザーパワー0.5mWで再生を行ったとこ
ろ、得られた信号は良好であり、市販のCDプレーヤー
に十分かかるレベルであった。
ピッチ1.6ミクロンの案内溝を有する厚さ1.20m
m、外径120mm、内径15mmのポリカーボネート
基板上に、フタロシアニン化合物[d]をジアセトンア
ルコールに65mg/mlの濃度で溶解し、0.2ミク
ロンのフィルタリングを行い塗液を調製し、この塗液を
用いて、スピンコーターにより記録膜厚1500オング
ストロームに成膜した。次に、このようにして得た記録
膜の上に真空蒸着により金を膜厚500オングストロー
ムに成膜した。さらに、この上に紫外線硬化型樹脂によ
り保護膜を5ミクロンの膜厚で設けて光ディスクを作成
した。このようにして作成した光ディスクの反射率は7
7%であった。このようにして作成した光ディスクを用
い、波長785nmの半導体レーザーを使用して線速度
1.4m/secで、EFM−CDフォーマット信号を
記録したところ、最適記録レーザーパワーが5.9mW
で記録が可能であった。次に、この信号をCDプレーヤ
ーによりレーザーパワー0.5mWで再生を行ったとこ
ろ、得られた信号は良好であり、市販のCDプレーヤー
に十分かかるレベルであった。
【0056】実施例3 深さ1250オングストローム、幅0.48ミクロン、
ピッチ1.6ミクロンの案内溝を有する厚さ1.20m
m、外径120mm、内径15mmのポリカーボネート
基板上に、フタロシアニン化合物[e]をエチルセロソ
ルブに50mg/mlの濃度で溶解し、0.2ミクロン
のフィルタリングを行い塗液を調製し、この塗液を用い
て、スピンコーターにより記録膜厚1400オングスト
ロームに成膜した。次に、このようにして得た記録膜の
上に真空蒸着により金を膜厚500オングストロームに
成膜した。さらに、この上に紫外線硬化型樹脂により保
護膜を5ミクロンの膜厚で設けて光ディスクを作成し
た。このようにして作成した光ディスクの反射率は70
%であった。このようにして作成した光ディスクを用
い、波長785nmの半導体レーザーを使用して線速度
1.4m/secで、EFM−CDフォーマット信号を
記録したところ、最適記録レーザーパワーが5.2mW
で記録が可能であった。次に、この信号をCDプレーヤ
ーによりレーザーパワー0.5mWで再生を行ったとこ
ろ、得られた信号は良好であり、市販のCDプレーヤー
に十分かかるレベルであった。
ピッチ1.6ミクロンの案内溝を有する厚さ1.20m
m、外径120mm、内径15mmのポリカーボネート
基板上に、フタロシアニン化合物[e]をエチルセロソ
ルブに50mg/mlの濃度で溶解し、0.2ミクロン
のフィルタリングを行い塗液を調製し、この塗液を用い
て、スピンコーターにより記録膜厚1400オングスト
ロームに成膜した。次に、このようにして得た記録膜の
上に真空蒸着により金を膜厚500オングストロームに
成膜した。さらに、この上に紫外線硬化型樹脂により保
護膜を5ミクロンの膜厚で設けて光ディスクを作成し
た。このようにして作成した光ディスクの反射率は70
%であった。このようにして作成した光ディスクを用
い、波長785nmの半導体レーザーを使用して線速度
1.4m/secで、EFM−CDフォーマット信号を
記録したところ、最適記録レーザーパワーが5.2mW
で記録が可能であった。次に、この信号をCDプレーヤ
ーによりレーザーパワー0.5mWで再生を行ったとこ
ろ、得られた信号は良好であり、市販のCDプレーヤー
に十分かかるレベルであった。
【0057】実施例4 深さ1500オングストローム、幅0.6ミクロン、ピ
ッチ1.6ミクロンの案内溝を有する厚さ1.20m
m、外径120mm、内径15mmのポリカーボネート
基板上に、フタロシアニン化合物[h]をエチルセロソ
ルブに60mg/mlの濃度で溶解し、0.2ミクロン
のフィルタリングを行い塗液を調製し、この塗液を用い
て、スピンコーターにより記録膜厚1600オングスト
ロームに成膜した。次に、このようにして得た記録膜の
上に真空蒸着により金を膜厚500オングストロームに
成膜した。さらに、この上に紫外線硬化型樹脂により保
護膜を5ミクロンの膜厚で設けて光ディスクを作成し
た。このようにして作成した光ディスクの反射率は78
%であった。このようにして作成した光ディスクを用
い、波長785nmの半導体レーザーを使用して線速度
1.4m/secで、EFM−CDフォーマット信号を
記録したところ、最適記録レーザーパワーが5.6mW
で記録が可能であった。次に、この信号をCDプレーヤ
ーによりレーザーパワー0.5mWで再生を行ったとこ
ろ、得られた信号は良好であり、市販のCDプレーヤー
に十分かかるレベルであった。
ッチ1.6ミクロンの案内溝を有する厚さ1.20m
m、外径120mm、内径15mmのポリカーボネート
基板上に、フタロシアニン化合物[h]をエチルセロソ
ルブに60mg/mlの濃度で溶解し、0.2ミクロン
のフィルタリングを行い塗液を調製し、この塗液を用い
て、スピンコーターにより記録膜厚1600オングスト
ロームに成膜した。次に、このようにして得た記録膜の
上に真空蒸着により金を膜厚500オングストロームに
成膜した。さらに、この上に紫外線硬化型樹脂により保
護膜を5ミクロンの膜厚で設けて光ディスクを作成し
た。このようにして作成した光ディスクの反射率は78
%であった。このようにして作成した光ディスクを用
い、波長785nmの半導体レーザーを使用して線速度
1.4m/secで、EFM−CDフォーマット信号を
記録したところ、最適記録レーザーパワーが5.6mW
で記録が可能であった。次に、この信号をCDプレーヤ
ーによりレーザーパワー0.5mWで再生を行ったとこ
ろ、得られた信号は良好であり、市販のCDプレーヤー
に十分かかるレベルであった。
【0058】実施例5〜10 深さ1250オングストローム、幅0.48ミクロン、
ピッチ1.6ミクロンの案内溝を有する厚さ1.20m
m、外径120mm、内径15mmのポリカーボネート
基板上に、表1に示すフタロシアニン化合物をエチルセ
ロソルブに50mg/mlの濃度で溶解し、0.2ミク
ロンのフィルタリングを行い塗液を調製し、この塗液を
用いて、スピンコーターにより記録膜厚1300オング
ストロームとして記録膜を成膜した。次に、このように
して得た記録膜の上に真空蒸着により金を膜厚500オ
ングストロームに成膜した。さらに、この上に紫外線硬
化型樹脂により保護膜を5ミクロンの膜厚で設けて光デ
ィスクを作成した。このようにして作成した光ディスク
の反射率および実施例1と同様の方法で記録、再生を行
った場合の最適記録レーザーパワーを表1に示す。
ピッチ1.6ミクロンの案内溝を有する厚さ1.20m
m、外径120mm、内径15mmのポリカーボネート
基板上に、表1に示すフタロシアニン化合物をエチルセ
ロソルブに50mg/mlの濃度で溶解し、0.2ミク
ロンのフィルタリングを行い塗液を調製し、この塗液を
用いて、スピンコーターにより記録膜厚1300オング
ストロームとして記録膜を成膜した。次に、このように
して得た記録膜の上に真空蒸着により金を膜厚500オ
ングストロームに成膜した。さらに、この上に紫外線硬
化型樹脂により保護膜を5ミクロンの膜厚で設けて光デ
ィスクを作成した。このようにして作成した光ディスク
の反射率および実施例1と同様の方法で記録、再生を行
った場合の最適記録レーザーパワーを表1に示す。
【0059】
【表1】
【0060】
【発明の効果】本発明の構成により光ディスクを作成す
ることにより、770nmから800nmの半導体レー
ザーに対して安定した記録再生特性を示す追記機能編集
機能を有するCDあるいはCD−ROM対応の追記型光
ディスクを提供することができる。
ることにより、770nmから800nmの半導体レー
ザーに対して安定した記録再生特性を示す追記機能編集
機能を有するCDあるいはCD−ROM対応の追記型光
ディスクを提供することができる。
Claims (4)
- 【請求項1】 透明基板/記録膜/反射膜/保護膜の4
層構造からなり、CDまたはCD−ROMフォーマット
信号の記録を行う追記型光ディスクにおいて、その記録
膜がフタロシアニン化合物である下記一般式[I]から
選ばれる1種、または、2種以上で構成されることを特
徴とするCDまたはCD−ROM対応の追記型光ディス
ク。 一般式[I] 【化1】 [式中、置換基X1 〜X4 は、それぞれ独立にフッ素置
換アルコキシ基を表し、Y1 〜Y4 はそれぞれ独立に水
素原子、ハロゲン原子、置換基を有しても良いアルキル
基、置換基を有してもよいアリール基、置換基を有して
もよいアルコキシ基、置換基を有してもよいアリールオ
キシ基、置換基を有してもよいアルキルチオ基、置換基
を有してもよいアリールチオ基、ニトロ基、シアノ基、
スルホン酸基、スルホン酸アミド基、スルホン酸エステ
ル基を表す。n1 〜n4 は換基X1 〜X4 の置換数で0
〜4の整数を表す。中心金属Mは、Si、Snを表す。
置換基Zは、−OC(=O)R、−OC(=O)Arを
表す。ここで、Rはフッ素置換の直鎖、分岐または環状
のアルキル基を表し、Arはフッ素置換のアリール基を
表す。mは、1または2の整数であり置換基Zの個数を
表す。] - 【請求項2】一般式[I]のn1 〜n4 のすべてが0
で、かつ、Y1 〜Y4 のすべてが水素原子であることを
特徴とする請求項1記載のCDまたはCD−ROM対応
の追記型光ディスク。 - 【請求項3】一般式[I]のX1 〜X4 の置換位置が、
それぞれX1 が式中の2位または3位のいずれか、また
は両方に、X2 が式中の6位または7位のいずれか、ま
たは両方に、X3 が式中の10位または11位のいずれ
か、または両方に、X4が式中の14位または15位の
いずれか、または両方に必ず置換している、ことを特徴
とする請求項1ないし2いずれか記載のCDまたはCD
−ROM対応の追記型光ディスク。 - 【請求項4】一般式[I]のX1 〜X4 の置換位置が、
それぞれX1 が式中の1位または4位のいずれか、また
は両方に、X2 が式中の5位または8位のいずれか、ま
たは両方に、X3 が式中の9位または12位のいずれ
か、または両方に、X4 が式中の13位または16位の
いずれか、または両方に必ず置換している、ことを特徴
とする請求項1ないし2いずれか記載のCDまたはCD
−ROM対応の追記型光ディスク。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3292246A JPH0596860A (ja) | 1991-10-11 | 1991-10-11 | Cdまたはcd−rom対応の追記型光デイスク |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3292246A JPH0596860A (ja) | 1991-10-11 | 1991-10-11 | Cdまたはcd−rom対応の追記型光デイスク |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0596860A true JPH0596860A (ja) | 1993-04-20 |
Family
ID=17779345
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3292246A Pending JPH0596860A (ja) | 1991-10-11 | 1991-10-11 | Cdまたはcd−rom対応の追記型光デイスク |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0596860A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6936323B2 (en) | 2003-04-30 | 2005-08-30 | Ricoh Company, Ltd. | Optical recording medium, and method and device using the same |
| JP2017075156A (ja) * | 2012-06-06 | 2017-04-20 | シーメンス アクチエンゲゼルシヤフトSiemens Aktiengesellschaft | 有機電子マトリクス材料のためのp−ドーパントとしての主族金属錯体 |
-
1991
- 1991-10-11 JP JP3292246A patent/JPH0596860A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6936323B2 (en) | 2003-04-30 | 2005-08-30 | Ricoh Company, Ltd. | Optical recording medium, and method and device using the same |
| JP2017075156A (ja) * | 2012-06-06 | 2017-04-20 | シーメンス アクチエンゲゼルシヤフトSiemens Aktiengesellschaft | 有機電子マトリクス材料のためのp−ドーパントとしての主族金属錯体 |
| US10305047B2 (en) | 2012-06-06 | 2019-05-28 | Siemens Aktiengesellschaft | Main group metal complexes as p-dopants for organic electronic matrix materials |
| US10411197B2 (en) | 2012-06-06 | 2019-09-10 | Siemens Aktiengesellschaft | Main group metal complexes as P-dopants for organic electronic matrix materials |
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