JPH059722B2 - - Google Patents
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- JPH059722B2 JPH059722B2 JP740183A JP740183A JPH059722B2 JP H059722 B2 JPH059722 B2 JP H059722B2 JP 740183 A JP740183 A JP 740183A JP 740183 A JP740183 A JP 740183A JP H059722 B2 JPH059722 B2 JP H059722B2
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- JP
- Japan
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- light
- laser beam
- magnetic
- signal
- prism
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- Expired - Lifetime
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 28
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 3
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 11
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 5
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 1
- 238000004804 winding Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/48—Disposition or mounting of heads or head supports relative to record carriers ; arrangements of heads, e.g. for scanning the record carrier to increase the relative speed
- G11B5/52—Disposition or mounting of heads or head supports relative to record carriers ; arrangements of heads, e.g. for scanning the record carrier to increase the relative speed with simultaneous movement of head and record carrier, e.g. rotation of head
- G11B5/53—Disposition or mounting of heads on rotating support
- G11B5/531—Disposition of more than one recording or reproducing head on support rotating cyclically around an axis
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
［発明の目的］
（産業上の利用分野）
本発明は、回転板の周方向に沿つて取付けられ
る複数の磁気ヘツドの取付け精度を測定する組立
精度測定装置に関する。
る複数の磁気ヘツドの取付け精度を測定する組立
精度測定装置に関する。
（従来の技術）
ビデオテープレコーダー（以下、VTRとす
る。）は、走行中の磁気テープ上を磁気ヘツドが
走査することによつて、画面の録画・再生を行う
ものである。そして、通常は、回転するヘツドデ
イスクに磁気テープを巻き付ける方式で録画・再
生がなされる。
る。）は、走行中の磁気テープ上を磁気ヘツドが
走査することによつて、画面の録画・再生を行う
ものである。そして、通常は、回転するヘツドデ
イスクに磁気テープを巻き付ける方式で録画・再
生がなされる。
以下、ヘツドデイスクの構造について第１図乃
至第３図を参照して説明する。すなわち、ヘツド
デイスクは、第１図に示す通り、回転板１と、２
つの磁気ヘツド２，３とを備えており、磁気ヘツ
ド２，３は、回転板１の円周にその回転軸回りに
180度の間隔で、磁性作用面２１が外側を向くよ
うに取り付けられている。磁気ヘツド２，３は、
第２図ａに示す通りの蒲鉾形状で、曲面状の一端
面が磁性作用面２１をなしている。第２図ｂは磁
気ヘツドのＡ−Ａ断面図であり、磁性作用面２１
は垂直方向にも曲面をなしている。第３図ａ，ｂ
は磁気ヘツドの磁性作用面２１側からみた正面図
である。磁性作用面２１は中央のギヤツプ部４を
境に左右で微小な段差を有している。そして、ギ
ヤツプ部４は垂直方向に対して傾斜しており、そ
の傾斜角度（以下、ギヤツプ角度という。）は、
対をなす磁気ヘツド２，３の一方がθであれば、
他方は−θとなるように設定されている。なお、
このギヤツプ角度θは一般的には７度に設定され
ている。
至第３図を参照して説明する。すなわち、ヘツド
デイスクは、第１図に示す通り、回転板１と、２
つの磁気ヘツド２，３とを備えており、磁気ヘツ
ド２，３は、回転板１の円周にその回転軸回りに
180度の間隔で、磁性作用面２１が外側を向くよ
うに取り付けられている。磁気ヘツド２，３は、
第２図ａに示す通りの蒲鉾形状で、曲面状の一端
面が磁性作用面２１をなしている。第２図ｂは磁
気ヘツドのＡ−Ａ断面図であり、磁性作用面２１
は垂直方向にも曲面をなしている。第３図ａ，ｂ
は磁気ヘツドの磁性作用面２１側からみた正面図
である。磁性作用面２１は中央のギヤツプ部４を
境に左右で微小な段差を有している。そして、ギ
ヤツプ部４は垂直方向に対して傾斜しており、そ
の傾斜角度（以下、ギヤツプ角度という。）は、
対をなす磁気ヘツド２，３の一方がθであれば、
他方は−θとなるように設定されている。なお、
このギヤツプ角度θは一般的には７度に設定され
ている。
VTRにおける画面の再生は、回転軸回りに180
度毎に等間隔で対向配置された磁気ヘツド２，３
が磁気テープ状のパターンを同期的に読み出すこ
とによつて行われる。したがつて、２つの磁気ヘ
ツド２，３が精密に180度の間隔で回転板１に取
付けられていなければ、TV画面状の画像にはず
れが生じてしまう。このため、VTRの製造工程
においては、回転板１に対する磁気ヘツド２，３
の組立精度の検査は極めて重要となる。
度毎に等間隔で対向配置された磁気ヘツド２，３
が磁気テープ状のパターンを同期的に読み出すこ
とによつて行われる。したがつて、２つの磁気ヘ
ツド２，３が精密に180度の間隔で回転板１に取
付けられていなければ、TV画面状の画像にはず
れが生じてしまう。このため、VTRの製造工程
においては、回転板１に対する磁気ヘツド２，３
の組立精度の検査は極めて重要となる。
従来、回転板１に対する磁気ヘツド２，３の組
立精度の検査は、一対の顕微鏡を回転板１の回転
軸回りに正確に180度の間隔で配置し、各磁気ヘ
ツド端面が各顕微鏡の視野の中心に位置するか否
かを観察することによつて、磁気ヘツド２，３が
回転板１に精密に180度の間隔で組立てられるか
どうかを測定していた。
立精度の検査は、一対の顕微鏡を回転板１の回転
軸回りに正確に180度の間隔で配置し、各磁気ヘ
ツド端面が各顕微鏡の視野の中心に位置するか否
かを観察することによつて、磁気ヘツド２，３が
回転板１に精密に180度の間隔で組立てられるか
どうかを測定していた。
（発明が解決しようとする課題）
しかしながら、このような測定手段によると、
一対の顕微鏡の光軸を回転板１の回転軸の中心に
正確に合せることや180度の間隔で配置すること
多大な労力を要するばかりか誤差が生じやすく、
また測定に際してはピント調整を行つたり、一対
の顕微鏡をそれぞれ覗かなければならないなどの
ことにより、作業性が極めて悪かつた。さらに、
顕微鏡による測定は測定者が目視で判断するか
ら、判断基準にばらつきが生じて測定精度の向上
に限界があつた。
一対の顕微鏡の光軸を回転板１の回転軸の中心に
正確に合せることや180度の間隔で配置すること
多大な労力を要するばかりか誤差が生じやすく、
また測定に際してはピント調整を行つたり、一対
の顕微鏡をそれぞれ覗かなければならないなどの
ことにより、作業性が極めて悪かつた。さらに、
顕微鏡による測定は測定者が目視で判断するか
ら、判断基準にばらつきが生じて測定精度の向上
に限界があつた。
そこで本発明は、磁気ヘツドが回転板にその回
転軸回りに取付けられた間隔を光電的に測定する
ことによつて、その組立精度を容易かつ高精度に
測定できるようにした組立精度測定装置を提供す
ることを目的とする。
転軸回りに取付けられた間隔を光電的に測定する
ことによつて、その組立精度を容易かつ高精度に
測定できるようにした組立精度測定装置を提供す
ることを目的とする。
［発明の構成］
（課題を解決するための手段及び作用）
本発明は、上記課題を参酌してなされたもので
あり、１つの側面が所定の傾斜角θまたは−θを
なすギヤツプ部を境に段差を有する磁性作用面を
形成する磁気ヘツドを前記磁性作用面を外向きに
してかつ前記ギヤツプ部の傾斜角θのものと−θ
のものとが交互に並ぶように2n個だけ回転板の
円周方向に等間隔で取り付けられてなるヘツドデ
イスクの組立精度を測定する組立精度測定装置に
おいて、下記構成を具備することを特徴とする組
立精度測定装置である。すなわち、 (1) 前記回転板を回転駆動させる回転手段 (2) 前記回転板に取り付けられた磁気ヘツドの磁
性作用面部位にレーザ光を照射する投光手段 (3) 前記レーザ光が前記ギヤツプ部を照射したと
きに発生する回折光を所定箇所に集光する集光
レンズ系 (4) 前記レーザ光が傾斜角がθをなすギヤツプ部
を照射したときに発生する回折光の光束と略同
一形状の透過面を有して透過光を前記集光レン
ズ系の集束点とは異なる方向に偏向させる第１
のプリズム (5) 前記レーザ光が傾斜角が−θをなすギヤツプ
部を照射したときに発生する回折光の光束と略
同一形状の透過面を有して透過光を前記集光レ
ンズ系の集束点とは異なる方向に偏向させる第
２のプリズム (6) 前記レーザ光の磁性作用面からの正反射光の
進行方向を検出するビーム位置検出センサ (7) 前記ビーム位置検出センサからの検出信号を
入力する制御回路 (8) 前記制御回路からの制御信号を入力して前記
第１及び第２のプリズムをそれぞれ移動させる
移動手段 (9) 前記回転板の回転に伴う回折光の移動方向に
微小間隔で並設されて前記第１または第２のプ
リズムによつて偏向された回折光を受光する２
つの受光センサと、前記２つの受光センサのう
ち一方からの受光信号を非反転させ他方からの
受光信号を反転させて入力して両受光信号の差
を出力する差動アンプとを備えた第１の検出手
段 (10) 前記レーザ光が磁気ヘツドの端部を照射した
ときに発生する散乱反射光を検出する第２の検
出手段 (11) 前記第２の検出手段からの受光信号を入力し
てから所定時間経過後に入力した第１の検出手
段からの受光信号のみを通過させるゲート回路 (12) ゲート回路を通過した前記第１の検出手段か
ら入力した連続する３つの受光信号の第１番目
から第２番目に至るまでの時間間隔と第２番目
から第３番目に至るまでの時間間隔とを比較し
て隣接する磁気センサが等間隔で回転板に取付
けられているか否かを測定する信号処理回路。
あり、１つの側面が所定の傾斜角θまたは−θを
なすギヤツプ部を境に段差を有する磁性作用面を
形成する磁気ヘツドを前記磁性作用面を外向きに
してかつ前記ギヤツプ部の傾斜角θのものと−θ
のものとが交互に並ぶように2n個だけ回転板の
円周方向に等間隔で取り付けられてなるヘツドデ
イスクの組立精度を測定する組立精度測定装置に
おいて、下記構成を具備することを特徴とする組
立精度測定装置である。すなわち、 (1) 前記回転板を回転駆動させる回転手段 (2) 前記回転板に取り付けられた磁気ヘツドの磁
性作用面部位にレーザ光を照射する投光手段 (3) 前記レーザ光が前記ギヤツプ部を照射したと
きに発生する回折光を所定箇所に集光する集光
レンズ系 (4) 前記レーザ光が傾斜角がθをなすギヤツプ部
を照射したときに発生する回折光の光束と略同
一形状の透過面を有して透過光を前記集光レン
ズ系の集束点とは異なる方向に偏向させる第１
のプリズム (5) 前記レーザ光が傾斜角が−θをなすギヤツプ
部を照射したときに発生する回折光の光束と略
同一形状の透過面を有して透過光を前記集光レ
ンズ系の集束点とは異なる方向に偏向させる第
２のプリズム (6) 前記レーザ光の磁性作用面からの正反射光の
進行方向を検出するビーム位置検出センサ (7) 前記ビーム位置検出センサからの検出信号を
入力する制御回路 (8) 前記制御回路からの制御信号を入力して前記
第１及び第２のプリズムをそれぞれ移動させる
移動手段 (9) 前記回転板の回転に伴う回折光の移動方向に
微小間隔で並設されて前記第１または第２のプ
リズムによつて偏向された回折光を受光する２
つの受光センサと、前記２つの受光センサのう
ち一方からの受光信号を非反転させ他方からの
受光信号を反転させて入力して両受光信号の差
を出力する差動アンプとを備えた第１の検出手
段 (10) 前記レーザ光が磁気ヘツドの端部を照射した
ときに発生する散乱反射光を検出する第２の検
出手段 (11) 前記第２の検出手段からの受光信号を入力し
てから所定時間経過後に入力した第１の検出手
段からの受光信号のみを通過させるゲート回路 (12) ゲート回路を通過した前記第１の検出手段か
ら入力した連続する３つの受光信号の第１番目
から第２番目に至るまでの時間間隔と第２番目
から第３番目に至るまでの時間間隔とを比較し
て隣接する磁気センサが等間隔で回転板に取付
けられているか否かを測定する信号処理回路。
回転板の円周方向に等間隔で2n個の磁気ヘツ
ドが取付けられたヘツドデイスクの組立精度を測
定する場合に、回転板を回転させながら各磁気ヘ
ツドにレーザ光を照射してそのギヤツプ部から発
する回折光を微小な間隔で並設された２つの受光
センサで検出し、このときに生じるゼロクロス点
を差動アンプで演算するとともに、各ゼロクロス
点の時間間隔を信号処理装置で演算することによ
り、各磁気ヘツドが回転板の円周方向に等間隔で
取付けられているか否かを測定することができ
る。
ドが取付けられたヘツドデイスクの組立精度を測
定する場合に、回転板を回転させながら各磁気ヘ
ツドにレーザ光を照射してそのギヤツプ部から発
する回折光を微小な間隔で並設された２つの受光
センサで検出し、このときに生じるゼロクロス点
を差動アンプで演算するとともに、各ゼロクロス
点の時間間隔を信号処理装置で演算することによ
り、各磁気ヘツドが回転板の円周方向に等間隔で
取付けられているか否かを測定することができ
る。
回折光の検出にあたつては、磁気ヘツドのギヤ
ツプ角度に対応した２個のプリズムを設けること
によつて、回折光以外の余分な光を避けるように
している。また、ビーム位置センサでの正反射光
の検出結果に応じて各プリズムを移動させている
ので、磁性作用面の断面形状が異なるため回折光
の方向が変化する場合であつても測定できる。
ツプ角度に対応した２個のプリズムを設けること
によつて、回折光以外の余分な光を避けるように
している。また、ビーム位置センサでの正反射光
の検出結果に応じて各プリズムを移動させている
ので、磁性作用面の断面形状が異なるため回折光
の方向が変化する場合であつても測定できる。
また、磁気ヘツド端部からの散乱光の一部を第
２の検出手段で検出し、ゲート回路によつてギヤ
ツプ部にレーザ光が入射される時間だけゲートを
開くことにより、第１の検出手段からの検出信号
のみを選択して出力し演算処理することにより、
磁気ヘツドの磁性作用面上の傷や汚れに影響され
ることなく測定することができる。
２の検出手段で検出し、ゲート回路によつてギヤ
ツプ部にレーザ光が入射される時間だけゲートを
開くことにより、第１の検出手段からの検出信号
のみを選択して出力し演算処理することにより、
磁気ヘツドの磁性作用面上の傷や汚れに影響され
ることなく測定することができる。
さらに、反射境などの光学系を必要としない構
成なので、装置が簡略化し、若干の振動があつて
も測定精度を維持することができる。
成なので、装置が簡略化し、若干の振動があつて
も測定精度を維持することができる。
また、従来の顕微鏡による測定のように、光軸
を回転体の回転中心に正確に合わせたりピント調
整を行うなどのアライメント作業を要さず、作業
者が直接肉眼で測定する作業も介在しない。
を回転体の回転中心に正確に合わせたりピント調
整を行うなどのアライメント作業を要さず、作業
者が直接肉眼で測定する作業も介在しない。
（実施例）
以下、本発明の実施例を図面を参照して詳解す
る。
る。
第４図は本発明の実施例に係る組立精度測定装
置の概観を示す図である。同装置は、回転手段
（特に図示しない）と、投光手段としてのレーザ
発振器５、対物レンズ系６ａと、集光レンズ系６
ｂと、第１のプリズム７と、第２のプリズム８
と、ビーム位置センサ１８と、制御回路１９と、
移動手段としての各移動ステージ１６，１７と、
第１の検出手段としての検出器９、差動アンプ１
３と、第２の検出手段としての検出器１０、アン
プ１４と、ゲート回路２０と、信号処理回路１５
とを備えている。以下、まず同装置の構成につい
て説明する。
置の概観を示す図である。同装置は、回転手段
（特に図示しない）と、投光手段としてのレーザ
発振器５、対物レンズ系６ａと、集光レンズ系６
ｂと、第１のプリズム７と、第２のプリズム８
と、ビーム位置センサ１８と、制御回路１９と、
移動手段としての各移動ステージ１６，１７と、
第１の検出手段としての検出器９、差動アンプ１
３と、第２の検出手段としての検出器１０、アン
プ１４と、ゲート回路２０と、信号処理回路１５
とを備えている。以下、まず同装置の構成につい
て説明する。
回転手段は、回転板１を保持するとともにその
回転軸回りに所定の速度で回転駆動させるように
なつている。
回転軸回りに所定の速度で回転駆動させるように
なつている。
レーザ発振器５はHe−Neレーザ光を発し、対
物レンズ系６ａはこれを集光して、回転中の回転
板１の磁気ヘツド２，３部位に所定の入射角度で
照射するようになつている。そして、このレーザ
光は、磁気ヘツド２，３の端部２２を照射すると
散乱反射光を、磁性作用面２１を照射すると正反
射光を、ギヤツプ部４を照射すると回折光を、そ
れぞれ発するようになつている。ここで、ギヤツ
プ角度がθの磁気ヘツド２からの回折光をL1、
ギヤツプ角度が−θの磁気ヘツド３からの回折光
をL2とおく。
物レンズ系６ａはこれを集光して、回転中の回転
板１の磁気ヘツド２，３部位に所定の入射角度で
照射するようになつている。そして、このレーザ
光は、磁気ヘツド２，３の端部２２を照射すると
散乱反射光を、磁性作用面２１を照射すると正反
射光を、ギヤツプ部４を照射すると回折光を、そ
れぞれ発するようになつている。ここで、ギヤツ
プ角度がθの磁気ヘツド２からの回折光をL1、
ギヤツプ角度が−θの磁気ヘツド３からの回折光
をL2とおく。
集光レンズ系３ｂは、上記２つの回折光L1，
L2を集束するようになつている。
L2を集束するようになつている。
第１のプリズム７は、透過面は回折光L1の光
束に合う形状をなし、回折光L1の光路上にて磁
気ヘツド２のギヤツプ部４に直交する向きにして
設置されている。そして、回折光L1を後述の検
出器９の方向に偏向させるようになつている。
束に合う形状をなし、回折光L1の光路上にて磁
気ヘツド２のギヤツプ部４に直交する向きにして
設置されている。そして、回折光L1を後述の検
出器９の方向に偏向させるようになつている。
同様に、第２のプリズム８は、透過面は回折光
L2の光束に合う形状をなし、回折光L2の光路上
にて磁気ヘツド３のギヤツプ部４に直交する向き
にして設置され、回折光L2を検出器９の方向に
偏向させるようになつている。
L2の光束に合う形状をなし、回折光L2の光路上
にて磁気ヘツド３のギヤツプ部４に直交する向き
にして設置され、回折光L2を検出器９の方向に
偏向させるようになつている。
ビーム位置センサ１８は、磁性作用面２１から
のレーザ光の正反射光を受光してレーザ光の正反
射光の進行方向を検出するようになつている。
のレーザ光の正反射光を受光してレーザ光の正反
射光の進行方向を検出するようになつている。
制御回路１９は、上記ビーム位置センサ１８か
らの検出信号を入力して、各プリズム７，８が各
回折光L1，L2を検出器９の方向に偏向させるた
めの移動量を算出して制御信号を出力するように
なつている。
らの検出信号を入力して、各プリズム７，８が各
回折光L1，L2を検出器９の方向に偏向させるた
めの移動量を算出して制御信号を出力するように
なつている。
各移動ステージ１６，１７は、上記制御回路１
９からの制御信号に応じて各プリズム７，８の指
示量だけ移動させるようになつている。
９からの制御信号に応じて各プリズム７，８の指
示量だけ移動させるようになつている。
検出器９は、第５図に示す通り、受光強度に応
じた電気信号を出力する２つの受光センサ１１，
１２が回折光L1，L2の移動方向（同図中矢印方
向）に僅かに離間して並設された構成となつてい
る。そして、受光センサ１１は差動アンプ１３の
非反転入力端子に、受光センサ１２は差動アンプ
１３の反転入力端子にそれぞれ接続されており、
差動アンプ１３は受光センサ１１からの信号値
E1と受光センサ１２からの信号値E2との差ΔE
（＝E1−E2）を出力するようになつている。
じた電気信号を出力する２つの受光センサ１１，
１２が回折光L1，L2の移動方向（同図中矢印方
向）に僅かに離間して並設された構成となつてい
る。そして、受光センサ１１は差動アンプ１３の
非反転入力端子に、受光センサ１２は差動アンプ
１３の反転入力端子にそれぞれ接続されており、
差動アンプ１３は受光センサ１１からの信号値
E1と受光センサ１２からの信号値E2との差ΔE
（＝E1−E2）を出力するようになつている。
検出器１０は、磁気ヘツド２，３の端部２２か
らのレーザ光の散乱反射光の一部を、集光レンズ
系６ｂを介して受光して、その受光強度に応じた
電気信号を出力するようになつている。そして、
アンプ１４はこの電気信号を増幅してゲート回路
２０に出力するようになつている。
らのレーザ光の散乱反射光の一部を、集光レンズ
系６ｂを介して受光して、その受光強度に応じた
電気信号を出力するようになつている。そして、
アンプ１４はこの電気信号を増幅してゲート回路
２０に出力するようになつている。
ゲート回路２０は、アンプ１４からの電気信号
を入力してから所定時間Ｔ［sec］経過後の微小時
間だけゲートが開いて、その間だけ差動アンプ１
３からの電気信号ΔEを信号処理回路１５に出力
するようになつている。この時間Ｔは、レーザ光
が磁気ヘツド２，３の端部２２を通過してからギ
ヤツプ部４に到達するまでの時間（例えば、端部
２２とギヤツプ部４との距離を１［mm］、回転板１
の周速度をＶ［mm／sec］とおくと、Ｔ＝１／Ｖと
なる。）が設定されており、各プリズム１６，１
７で偏向された光束のうちギヤツプ部４からの回
折光L1，L2に該当するものの電気信号のみを出
力するようになつている。
を入力してから所定時間Ｔ［sec］経過後の微小時
間だけゲートが開いて、その間だけ差動アンプ１
３からの電気信号ΔEを信号処理回路１５に出力
するようになつている。この時間Ｔは、レーザ光
が磁気ヘツド２，３の端部２２を通過してからギ
ヤツプ部４に到達するまでの時間（例えば、端部
２２とギヤツプ部４との距離を１［mm］、回転板１
の周速度をＶ［mm／sec］とおくと、Ｔ＝１／Ｖと
なる。）が設定されており、各プリズム１６，１
７で偏向された光束のうちギヤツプ部４からの回
折光L1，L2に該当するものの電気信号のみを出
力するようになつている。
信号処理回路１５は、上記電気信号ΔEを入力
して、信号値の正負が逆転する点（以下、ゼロク
ロス点という。）の時刻を順次記憶するとともに、
各ゼロクロス点間の時間を算出して、これに基づ
いて各磁気ヘツド２，３の回転板１への組立精度
を測定するようになつている。
して、信号値の正負が逆転する点（以下、ゼロク
ロス点という。）の時刻を順次記憶するとともに、
各ゼロクロス点間の時間を算出して、これに基づ
いて各磁気ヘツド２，３の回転板１への組立精度
を測定するようになつている。
次に、上記装置の動作とともに本実施例の作用
について説明する。
について説明する。
まず、回転板１を回転させてレーザ光が磁気ヘ
ツド２の磁性作用面２１を照射するようにする。
ビーム位置検出センサ１８は磁性作用面２１から
の正反射光を受光してその進行方向を検出する。
制御回路１９は検出結果に基づいてギヤツプ面４
からの回折光L1の光路を求め、回折光L1を検出
器９の方向に偏向させるために必要な第１のプリ
ズム７の移動量を算出して制御信号を発する。そ
して移動ステージ１６は上記制御信号に基づいて
第１のプリズム７を移動させる。次に、回転板１
をさらに回転させてレーザ光が磁気ヘツド３の磁
性作用面２１を照射するようにする。そして、ビ
ーム位置検出センサ１８が正反射光を受光し、上
記と同様の作用により、制御回路１９の制御信号
によつて移動ステージ１７は駆動して、回折光
L2が検出器９の方向に偏向されるよう第２のプ
リズム８を移動させる。かかるアライメント動作
の後、以下の組立精度測定を行う。
ツド２の磁性作用面２１を照射するようにする。
ビーム位置検出センサ１８は磁性作用面２１から
の正反射光を受光してその進行方向を検出する。
制御回路１９は検出結果に基づいてギヤツプ面４
からの回折光L1の光路を求め、回折光L1を検出
器９の方向に偏向させるために必要な第１のプリ
ズム７の移動量を算出して制御信号を発する。そ
して移動ステージ１６は上記制御信号に基づいて
第１のプリズム７を移動させる。次に、回転板１
をさらに回転させてレーザ光が磁気ヘツド３の磁
性作用面２１を照射するようにする。そして、ビ
ーム位置検出センサ１８が正反射光を受光し、上
記と同様の作用により、制御回路１９の制御信号
によつて移動ステージ１７は駆動して、回折光
L2が検出器９の方向に偏向されるよう第２のプ
リズム８を移動させる。かかるアライメント動作
の後、以下の組立精度測定を行う。
測定は、常時レーザ光を照射させながら回転板
１を一定速度（例えば周速Ｖ［mm／sec］で回転さ
せながら行う。
１を一定速度（例えば周速Ｖ［mm／sec］で回転さ
せながら行う。
レーザ光が磁気ヘツド２の端部２２を照射する
と強い散乱光を生ずる。この散乱光は四方に発散
するが、その一部は集光レンズ系６ｂを介して検
出器１０に入射する。そして、検出器１０はこの
受光強度に応じた電気信号を出力し、アンプ１４
はこの電気信号を増幅してゲート回路２０に出力
する。
と強い散乱光を生ずる。この散乱光は四方に発散
するが、その一部は集光レンズ系６ｂを介して検
出器１０に入射する。そして、検出器１０はこの
受光強度に応じた電気信号を出力し、アンプ１４
はこの電気信号を増幅してゲート回路２０に出力
する。
さらに回転板１が回転して、レーザ光が磁性作
用面２１を照射する。磁性作用面２１に傷や汚れ
があると強い散乱光を生じて、その一部は集光レ
ンズ系６ｂ、プリズム７，８を介して検出器９に
受光されるため、ギヤツプ部４からの回折光L1
の誤認する危険がある。しかし、ゲート回路２０
は検出器１０から電気信号を入力してから所定時
間Ｔ（＝１／Ｖ）［sec］以内はゲートを閉じたま
まであり、これら傷や汚れに因る電気信号は信号
処理回路１５には出力されず、したがつて、誤動
作を生ずることはない。
用面２１を照射する。磁性作用面２１に傷や汚れ
があると強い散乱光を生じて、その一部は集光レ
ンズ系６ｂ、プリズム７，８を介して検出器９に
受光されるため、ギヤツプ部４からの回折光L1
の誤認する危険がある。しかし、ゲート回路２０
は検出器１０から電気信号を入力してから所定時
間Ｔ（＝１／Ｖ）［sec］以内はゲートを閉じたま
まであり、これら傷や汚れに因る電気信号は信号
処理回路１５には出力されず、したがつて、誤動
作を生ずることはない。
さらに回転板１が回転して、レーザ光がギヤツ
プ部４を照射し、ギヤツプ部４から回折光L1が
発される。そして、回折光L1は、集光レンズ系
６ｂで集光され、第１のプリズム７で偏向されて
検出器９に入射する。そして、回折光L1は、回
転板１の回転に伴つて第５図に示す矢印方向に走
査して、微小間隔で離設される２つの受光センサ
１１，１２を順次照射する。各受光センサ１１，
１２はそれぞれの受光強度に応じたパルス波形
E1，E2の電気信号を出力する。電気信号E1，E2
はそれぞれ非反射入力端子、反転入力端子を介し
て差動アンプ１３に入力され、差動アンプ１３は
両信号の差分ΔE（＝E1−E2）をゲート回路２０
に出力する。そして、この電気信号ΔEのチヤー
トは、最初の受光センサ１１への照射を示す極大
値凸とこれに次ぐ受光センサ１２への照射を示す
極小値凹とが連なつた凸凹形状を示す（第６図ａ
参照）。
プ部４を照射し、ギヤツプ部４から回折光L1が
発される。そして、回折光L1は、集光レンズ系
６ｂで集光され、第１のプリズム７で偏向されて
検出器９に入射する。そして、回折光L1は、回
転板１の回転に伴つて第５図に示す矢印方向に走
査して、微小間隔で離設される２つの受光センサ
１１，１２を順次照射する。各受光センサ１１，
１２はそれぞれの受光強度に応じたパルス波形
E1，E2の電気信号を出力する。電気信号E1，E2
はそれぞれ非反射入力端子、反転入力端子を介し
て差動アンプ１３に入力され、差動アンプ１３は
両信号の差分ΔE（＝E1−E2）をゲート回路２０
に出力する。そして、この電気信号ΔEのチヤー
トは、最初の受光センサ１１への照射を示す極大
値凸とこれに次ぐ受光センサ１２への照射を示す
極小値凹とが連なつた凸凹形状を示す（第６図ａ
参照）。
レーザ光が端部２２を照射してからギヤツプ部
４を照射するまでには、両者間の距離１［mm］を
周速Ｖ［mm／sec］で走査する時間、すなわちＴ
［sec］が経過しており、ゲート回路２０のゲート
は開いているので、回折光L1に基づく電気信号
ΔEは信号処理回路１５に出力される。
４を照射するまでには、両者間の距離１［mm］を
周速Ｖ［mm／sec］で走査する時間、すなわちＴ
［sec］が経過しており、ゲート回路２０のゲート
は開いているので、回折光L1に基づく電気信号
ΔEは信号処理回路１５に出力される。
信号処理回路１５は、前記信号ΔEの正負が逆
転する転、すなわち第６図ａのゼロクロス点Z1を
検出して、その時刻を記憶保持する。
転する転、すなわち第６図ａのゼロクロス点Z1を
検出して、その時刻を記憶保持する。
さらに回転板１が回転して、レーザ光が磁気ヘ
ツド３の端部２２を照射する。そして、上記と同
様の作用により、端部２２からの散乱光を検出器
１０が受光してからＴ［sec］経過後に、検出器９
が回折光L2を受光して、差動アンプ１３、ゲー
ト回路２０を介して電気信号ΔEが信号処理回路
１５に入力される。
ツド３の端部２２を照射する。そして、上記と同
様の作用により、端部２２からの散乱光を検出器
１０が受光してからＴ［sec］経過後に、検出器９
が回折光L2を受光して、差動アンプ１３、ゲー
ト回路２０を介して電気信号ΔEが信号処理回路
１５に入力される。
信号処理回路１５は電気信号ΔEのゼロクロス
点Z2を検出するとともに点Z1Z2間の周期T1を求
めて記憶保持する（第６図ｂ参照）。
点Z2を検出するとともに点Z1Z2間の周期T1を求
めて記憶保持する（第６図ｂ参照）。
さらに回転板１が回転して、レーザ光が再び磁
気ヘツド２を照射する。そして、上記と同様の作
用により、回折光L1に因る電気信号ΔEを信号処
理回路１５に出力する。
気ヘツド２を照射する。そして、上記と同様の作
用により、回折光L1に因る電気信号ΔEを信号処
理回路１５に出力する。
信号処理回路１５は、回折光L1に因る２度目
の電気信号ΔEからゼロクロス点Z3を検出して点
Z2Z3間の周期T2を求める（第６図参照）。
の電気信号ΔEからゼロクロス点Z3を検出して点
Z2Z3間の周期T2を求める（第６図参照）。
いま、回転板１は一定速度で回転しており、ゼ
ロクロス点間の周期は磁気ヘツド２，３間の距離
に比例するので、磁気ヘツド２，３が回転板１の
円周上に正確に180度毎に取付けられていればT1
＝T2、等間隔でなければT1≠T2となる。信号処
理回路１５は上記作用によつて求められたゼロク
ロス点間の周期T1，T2を比較演算し、両者の大
小関係に基づいて磁気ヘツド２，３相互間の組立
精度を測定する。
ロクロス点間の周期は磁気ヘツド２，３間の距離
に比例するので、磁気ヘツド２，３が回転板１の
円周上に正確に180度毎に取付けられていればT1
＝T2、等間隔でなければT1≠T2となる。信号処
理回路１５は上記作用によつて求められたゼロク
ロス点間の周期T1，T2を比較演算し、両者の大
小関係に基づいて磁気ヘツド２，３相互間の組立
精度を測定する。
なお、本発明の構成は、上記実施例に限定され
るものではなく、発明の要旨を変更しない範囲で
変形可能である。上記実施例では、通常のVTR
製品に即して、回転板１に２つの磁気ヘツド２，
３が取付けられている場合について説明したが、
磁気ヘツドが３つあるいはそれ以上取付けられた
場合であつても、それぞれのギヤツプ部のギヤツ
プ角度に対応してプリズムを設置して各々からの
回折光を検出するようにすれば、ゼロクロス点間
の周期を算出でき、組立精度を測定することがで
きる。
るものではなく、発明の要旨を変更しない範囲で
変形可能である。上記実施例では、通常のVTR
製品に即して、回転板１に２つの磁気ヘツド２，
３が取付けられている場合について説明したが、
磁気ヘツドが３つあるいはそれ以上取付けられた
場合であつても、それぞれのギヤツプ部のギヤツ
プ角度に対応してプリズムを設置して各々からの
回折光を検出するようにすれば、ゼロクロス点間
の周期を算出でき、組立精度を測定することがで
きる。
［発明の効果］
以上詳記したように本発明に係る組立精度測定
装置によれば、回転板の円周方向に磁気ヘツドが
等間隔に精密に取付けられているか否かを、磁気
ヘツドの磁性作用面上の傷や汚れに影響されるこ
となく、高精度かつ効率的に測定することができ
る。また、反射鏡などの光学系を必要としない構
成を採用したので、装置が簡略でアライメント作
業も容易であり、若干の振動があつても測定精度
が維持することができる。この結果、VTRの製
造工程において組立不良のヘツドデイスクを好適
に峻別でき、大きな工業的効果が得られる。
装置によれば、回転板の円周方向に磁気ヘツドが
等間隔に精密に取付けられているか否かを、磁気
ヘツドの磁性作用面上の傷や汚れに影響されるこ
となく、高精度かつ効率的に測定することができ
る。また、反射鏡などの光学系を必要としない構
成を採用したので、装置が簡略でアライメント作
業も容易であり、若干の振動があつても測定精度
が維持することができる。この結果、VTRの製
造工程において組立不良のヘツドデイスクを好適
に峻別でき、大きな工業的効果が得られる。
第１図は磁気ヘツドの取付け状態を示す平面
図、第２図ａは磁気ヘツドの拡大斜視図、同図ｂ
はそのAA断面図、第３図は磁気ヘツドの磁性作
用面を示す正面図、第４図は本発明の実施例に係
る組立精度測定装置の構成を示す図、第５図は第
１の検出手段に設けられた２つの受光センサの構
成を示す図、第６図は差動アンプから出力される
電気信号のチヤートを示す図である。 １……回転板、２，３……磁気ヘツド、４……
ギヤツプ部、５……レーザ発振器、６ａ……対物
レンズ系、６ｂ……集光レンズ系、７……第１の
プリズム、８……第２のプリズム、９……第１の
検出器、１０……第２の検出器、１１……第１の
センサ、１２……第２のセンサ、１３……差動ア
ンプ、１４……アンプ、１５……信号処理回路、
１６……移動ステージ、１７……移動ステージ、
１８……ビーム検出回路、１９……制御回路、２
０……ゲート回路。
図、第２図ａは磁気ヘツドの拡大斜視図、同図ｂ
はそのAA断面図、第３図は磁気ヘツドの磁性作
用面を示す正面図、第４図は本発明の実施例に係
る組立精度測定装置の構成を示す図、第５図は第
１の検出手段に設けられた２つの受光センサの構
成を示す図、第６図は差動アンプから出力される
電気信号のチヤートを示す図である。 １……回転板、２，３……磁気ヘツド、４……
ギヤツプ部、５……レーザ発振器、６ａ……対物
レンズ系、６ｂ……集光レンズ系、７……第１の
プリズム、８……第２のプリズム、９……第１の
検出器、１０……第２の検出器、１１……第１の
センサ、１２……第２のセンサ、１３……差動ア
ンプ、１４……アンプ、１５……信号処理回路、
１６……移動ステージ、１７……移動ステージ、
１８……ビーム検出回路、１９……制御回路、２
０……ゲート回路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ １つの側面が所定の傾斜角θまたは−θをな
すギヤツプ部を境に段差を有する磁性作用面を形
成する磁気ヘツドを前記磁性作用面を外向きにし
てかつ前記ギヤツプ部の傾斜角θのものと−θの
ものとが交互に並ぶように2n個（但し、ｎは正
の整数）だけ回転板の円周方向に等間隔で取り付
けらてれなるヘツドデイスクの組立精度を測定す
る組立精度測定装置において、下記構成を具備す
ることを特徴とする組立精度測定装置。 (1) 前記回転板を回転駆動させる回転手段 (2) 前記回転板に取り付けられた磁気ヘツドの磁
性作用面部位にレーザ光を照射する投光手段 (3) 前記レーザ光が前記ギヤツプ部を照射したと
きに発生する回折光を所定箇所に集光する集光
レンズ系 (4) 前記レーザ光が傾斜角がθをなすギヤツプ部
を照射したときに発生する回折光の光束と略同
一形状の透過面を有して透過光を前記集光レン
ズ系の集束点とは異なる方向に偏向させる第１
のプリズム (5) 前記レーザ光が傾斜角が−θをなすギヤツプ
部を照射したときに発生する回折光の光束と略
同一形状の透過面を有して透過光を前記集光レ
ンズ系の集束点とは異なる方向に偏向させる第
２のプリズム (6) 前記レーザ光の磁性作用面からの正反射光の
進行方向を検出するビーム位置検出センサ (7) 前記ビーム位置検出センサからの検出信号を
入力する制御回路 (8) 前記制御回路からの制御信号を入力して前記
第１及び第２のプリズムをそれぞれ移動させる
移動手段 (9) 前記回転板の回転に伴う回折光の移動方向に
微小間隔で並設されて前記第１または第２のプ
リズムによつて偏向された回折光を受光する２
つの受光センサと、前記２つの受光センサのう
ち一方からの受光信号を非反転させ他方からの
受光信号を反転させて入力して両受光信号の差
を出力する差動アンプとを備えた第１の検出手
段 (10) 前記レーザ光が磁気ヘツドの端部を照射した
ときに発生する散乱反射光を検出する第２の検
出手段 (11) 前記第２の検出手段からの受光信号を入力し
てから所定時間経過後に入力した第１の検出手
段からの受光信号のみを通過させるゲート回路 (12) ゲート回路を通過した前記第１の検出手段か
ら入力した連続する３つの受光信号の第１番目
から第２番目に至るまでの時間間隔と第２番目
から第３番目に至るまでの時間間隔とを比較し
て隣接する磁気センサが等間隔で回転板に取付
けられているか否かを測定する信号処理回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP740183A JPS59133412A (ja) | 1983-01-21 | 1983-01-21 | 組立精度測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP740183A JPS59133412A (ja) | 1983-01-21 | 1983-01-21 | 組立精度測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59133412A JPS59133412A (ja) | 1984-07-31 |
| JPH059722B2 true JPH059722B2 (ja) | 1993-02-05 |
Family
ID=11664859
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP740183A Granted JPS59133412A (ja) | 1983-01-21 | 1983-01-21 | 組立精度測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59133412A (ja) |
-
1983
- 1983-01-21 JP JP740183A patent/JPS59133412A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS59133412A (ja) | 1984-07-31 |
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