JPH0599983A - 試験装置 - Google Patents
試験装置Info
- Publication number
- JPH0599983A JPH0599983A JP3353064A JP35306491A JPH0599983A JP H0599983 A JPH0599983 A JP H0599983A JP 3353064 A JP3353064 A JP 3353064A JP 35306491 A JP35306491 A JP 35306491A JP H0599983 A JPH0599983 A JP H0599983A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- container
- state
- heat insulating
- test
- heater
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Testing Resistance To Weather, Investigating Materials By Mechanical Methods (AREA)
- Other Air-Conditioning Systems (AREA)
- Control Of Temperature (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 被試験物の大小あるいは試験条件の違いによ
って最適な断熱容器が選択でき、もって効率のよい試験
行うことができる。 【構成】 断熱容器30の外側面には、おす型コネクタ
31とステム32とが取り付けられている。おす型コネ
クタ31からは容器30内をケーブル33aと34aが
導出されそれぞれ温度センサ33とヒータ34に接続さ
れている。また、ステム32からは容器30内を配管3
5aが導出され冷却ノズル35が接続されている。めす
型コネクタ36とボディ37からはそれぞれケーブル3
6aと冷却ホース37aが導出され、これらは制御回路
に接続されている。制御回路では、温度センサ33の検
出温度に基づき、冷却ノズル35からの冷気とヒータ3
4との作動を制御して、容器30内を所定の温度環境に
保持する。そして、コネクタ31とコネクタ36および
ステム32とボディ37とは、それぞれ着脱自在で、容
器30を選択的に交換自在としている。
って最適な断熱容器が選択でき、もって効率のよい試験
行うことができる。 【構成】 断熱容器30の外側面には、おす型コネクタ
31とステム32とが取り付けられている。おす型コネ
クタ31からは容器30内をケーブル33aと34aが
導出されそれぞれ温度センサ33とヒータ34に接続さ
れている。また、ステム32からは容器30内を配管3
5aが導出され冷却ノズル35が接続されている。めす
型コネクタ36とボディ37からはそれぞれケーブル3
6aと冷却ホース37aが導出され、これらは制御回路
に接続されている。制御回路では、温度センサ33の検
出温度に基づき、冷却ノズル35からの冷気とヒータ3
4との作動を制御して、容器30内を所定の温度環境に
保持する。そして、コネクタ31とコネクタ36および
ステム32とボディ37とは、それぞれ着脱自在で、容
器30を選択的に交換自在としている。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、周囲の条件等による試
験物の挙動等を試験する試験装置に関し、特に、電気部
品等の比較的小容積の被試験物を試験する試験装置に関
する。
験物の挙動等を試験する試験装置に関し、特に、電気部
品等の比較的小容積の被試験物を試験する試験装置に関
する。
【0002】
【従来の技術】この種装置の典型的なものとしては、比
較的大容積の機器等を試験するためのいわゆる環境試験
装置があった。この環境試験装置は、周囲から隔絶され
た密閉構造を有しており、この密閉構造(容器)内に試
験すべき装置本体または装置ブロックを設置する。そし
て、この密閉容器内を所定の環境条件(温度、湿度等)
にするため強力な熱源及び冷熱源を必要とし、また湿度
試験を行うためにも強力な加湿手段と除湿手段を必要と
した。
較的大容積の機器等を試験するためのいわゆる環境試験
装置があった。この環境試験装置は、周囲から隔絶され
た密閉構造を有しており、この密閉構造(容器)内に試
験すべき装置本体または装置ブロックを設置する。そし
て、この密閉容器内を所定の環境条件(温度、湿度等)
にするため強力な熱源及び冷熱源を必要とし、また湿度
試験を行うためにも強力な加湿手段と除湿手段を必要と
した。
【0003】ところで、近年、プリント基板に実装され
た回路ブロック等の比較的小さな容積の被試験物の環境
試験をしたいと云った要求がある。この場合、上述した
大型の環境試験装置では効率が悪く不向きであった。そ
こで、従来においては、一点に冷気を吹き付けて温度を
下げるピンスポットクーラーや、ドライヤーと同様な構
成により一点に熱風を吹き付けて温度を上げる方法で行
っていた。また、別の従来の方法として、密閉容器の容
量を小さくした小型の試験装置も提案されている。
た回路ブロック等の比較的小さな容積の被試験物の環境
試験をしたいと云った要求がある。この場合、上述した
大型の環境試験装置では効率が悪く不向きであった。そ
こで、従来においては、一点に冷気を吹き付けて温度を
下げるピンスポットクーラーや、ドライヤーと同様な構
成により一点に熱風を吹き付けて温度を上げる方法で行
っていた。また、別の従来の方法として、密閉容器の容
量を小さくした小型の試験装置も提案されている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来の第1の方法では、単に、冷気を吹き付けたり、
熱風を吹き付けたりするだけであるので、温度管理が何
らなされず、このため、環境条件を一定に保持すること
ができないといった不都合があった。また、第2の小型
試験装置では、小容積の被試験物に適しているとはい
え、大型の試験装置と同様に、恒温槽内部に配設された
ヒーター、温度センサあるいは冷却用ノズルと恒温槽外
部に配設されたヒーター、センサケーブルあるいは冷却
用ホースとが直結された構造、すなわち断熱容器が常時
本体に接続された構造となっているため、被試験物の形
状にあった断熱容器を選択することができず、例えば小
容積の被試験物であっても、プリント基板に実装された
IC等、回路ブロックと比較してきわめて小さくて、か
つ、大幅に試験条件が異なる被試験物の場合には、依然
として効率が悪いといった欠点がある。また、従来の試
験装置は、窓が開閉扉側に設けられているのみであるた
め、一方向からしか観察することができず、観察が部分
的なものとなり完全な観察ができないといった不都合が
あった。また、容器内の採光も窓からの部分採光に頼ら
ざるをえなく、このため容器内が観察するには充分な照
度が得られないといった問題もあった。
た従来の第1の方法では、単に、冷気を吹き付けたり、
熱風を吹き付けたりするだけであるので、温度管理が何
らなされず、このため、環境条件を一定に保持すること
ができないといった不都合があった。また、第2の小型
試験装置では、小容積の被試験物に適しているとはい
え、大型の試験装置と同様に、恒温槽内部に配設された
ヒーター、温度センサあるいは冷却用ノズルと恒温槽外
部に配設されたヒーター、センサケーブルあるいは冷却
用ホースとが直結された構造、すなわち断熱容器が常時
本体に接続された構造となっているため、被試験物の形
状にあった断熱容器を選択することができず、例えば小
容積の被試験物であっても、プリント基板に実装された
IC等、回路ブロックと比較してきわめて小さくて、か
つ、大幅に試験条件が異なる被試験物の場合には、依然
として効率が悪いといった欠点がある。また、従来の試
験装置は、窓が開閉扉側に設けられているのみであるた
め、一方向からしか観察することができず、観察が部分
的なものとなり完全な観察ができないといった不都合が
あった。また、容器内の採光も窓からの部分採光に頼ら
ざるをえなく、このため容器内が観察するには充分な照
度が得られないといった問題もあった。
【0005】したがって、本発明は上記した従来の不都
合、問題あるいは欠点に鑑みてなされたものであり、そ
の目的とするところは、被試験物の大小あるいは試験条
件の違いによって最適な断熱容器が選択でき、もって効
率のよい試験ができる試験装置を提供することにある。
また、別の目的とするところは、容器のあらゆる角度か
ら観察できると共に、観察に充分な照度が得られるよう
にして、もって被試験物の観察を詳細にかつ完全に行え
るようにした試験装置を提供することにある。
合、問題あるいは欠点に鑑みてなされたものであり、そ
の目的とするところは、被試験物の大小あるいは試験条
件の違いによって最適な断熱容器が選択でき、もって効
率のよい試験ができる試験装置を提供することにある。
また、別の目的とするところは、容器のあらゆる角度か
ら観察できると共に、観察に充分な照度が得られるよう
にして、もって被試験物の観察を詳細にかつ完全に行え
るようにした試験装置を提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に、本発明に係る試験装置は、被試験物を覆う容器と、
この容器内に配設されこの容器の内部の状態を検出する
状態検出手段と、前記容器内に配設されこの容器内を所
定の状態に維持する状態維持手段と、前記容器外に配設
され前記状態検出手段の検出情報に基づき前記状態維持
手段を作動させる制御手段と、この制御手段と前記状態
検出手段および状態維持手段とを着脱自在に結合する結
合手段とを備え、前記容器を密閉保持構造としたもので
ある。また、本発明に係る試験装置は、被試験物を覆う
容器と、この容器内に配設されこの容器の内部の状態を
検出する状態検出手段と、前記容器内に配設されこの容
器内を所定の状態に維持する状態維持手段と、前記容器
外に配設され前記状態検出手段の検出情報に基づき前記
状態維持手段を作動させる制御手段と、この制御手段と
前記状態検出手段および状態維持手段とを着脱自在に結
合する結合手段とを備え、前記容器の底面に開口部を設
けたものである。また、本発明に係る試験装置は、被試
験物を覆う容器と、この容器内に配設されこの容器の内
部の状態を検出する状態検出手段と、前記容器内に配設
されこの容器内を所定の状態に維持する状態維持手段
と、前記容器外に配設され前記状態検出手段の検出情報
に基づき前記状態維持手段を作動させる制御手段とを備
え、前記容器を透明部材で形成したものである。
に、本発明に係る試験装置は、被試験物を覆う容器と、
この容器内に配設されこの容器の内部の状態を検出する
状態検出手段と、前記容器内に配設されこの容器内を所
定の状態に維持する状態維持手段と、前記容器外に配設
され前記状態検出手段の検出情報に基づき前記状態維持
手段を作動させる制御手段と、この制御手段と前記状態
検出手段および状態維持手段とを着脱自在に結合する結
合手段とを備え、前記容器を密閉保持構造としたもので
ある。また、本発明に係る試験装置は、被試験物を覆う
容器と、この容器内に配設されこの容器の内部の状態を
検出する状態検出手段と、前記容器内に配設されこの容
器内を所定の状態に維持する状態維持手段と、前記容器
外に配設され前記状態検出手段の検出情報に基づき前記
状態維持手段を作動させる制御手段と、この制御手段と
前記状態検出手段および状態維持手段とを着脱自在に結
合する結合手段とを備え、前記容器の底面に開口部を設
けたものである。また、本発明に係る試験装置は、被試
験物を覆う容器と、この容器内に配設されこの容器の内
部の状態を検出する状態検出手段と、前記容器内に配設
されこの容器内を所定の状態に維持する状態維持手段
と、前記容器外に配設され前記状態検出手段の検出情報
に基づき前記状態維持手段を作動させる制御手段とを備
え、前記容器を透明部材で形成したものである。
【0007】
【作用】本発明においては、結合手段の着脱により、断
熱容器のみが交換される。また、本発明においては、容
器を透明部材で形成したので、容器内の被試験物の挙動
が監視される。
熱容器のみが交換される。また、本発明においては、容
器を透明部材で形成したので、容器内の被試験物の挙動
が監視される。
【0008】
【実施例】図1は、本発明に係る試験装置の実施例を示
す概略構成図である。図1に示す試験装置は、電気部品
等を試験するために特に適した装置に係わるものであ
る。図中、11は温度設定器、12は制御回路、13は
バルブ、14はフレキシブルパイプ、15は断熱容器、
16は温度センサ、17はヒーター、21は被試験部品
である。
す概略構成図である。図1に示す試験装置は、電気部品
等を試験するために特に適した装置に係わるものであ
る。図中、11は温度設定器、12は制御回路、13は
バルブ、14はフレキシブルパイプ、15は断熱容器、
16は温度センサ、17はヒーター、21は被試験部品
である。
【0009】被試験部品21は例えば線材等により、図
示しない電源または信号源等に接続されいわゆる実動作
が可能に構成されている。
示しない電源または信号源等に接続されいわゆる実動作
が可能に構成されている。
【0010】試験装置の断熱容器15としては、例えば
50mm立方の大きさの1面に開口扉18が設けられたも
のを使用する。この開口扉18を開けて被試験部品21
を断熱容器15内に収納し、開口扉18を閉めることに
より被試験部品21を密閉状態とする。
50mm立方の大きさの1面に開口扉18が設けられたも
のを使用する。この開口扉18を開けて被試験部品21
を断熱容器15内に収納し、開口扉18を閉めることに
より被試験部品21を密閉状態とする。
【0011】この断熱容器15内にはヒーター17が設
置されるとともにバルブ13を有した折り曲げ可能なフ
レキシブルパイプ14を介して例えばLCO2 ボンベか
ら冷気が導入される構成を有している。制御回路12に
よりこの断熱容器15内を所定の温度(この温度は温度
設定器11を用いて使用者が所定の温度に設定する。)
に加熱または冷却するため前記ヒーター17またはバル
ブ13が制御される。
置されるとともにバルブ13を有した折り曲げ可能なフ
レキシブルパイプ14を介して例えばLCO2 ボンベか
ら冷気が導入される構成を有している。制御回路12に
よりこの断熱容器15内を所定の温度(この温度は温度
設定器11を用いて使用者が所定の温度に設定する。)
に加熱または冷却するため前記ヒーター17またはバル
ブ13が制御される。
【0012】さらに、前記断熱容器15内には状態検出
センサとしての温度センサ16が設置されており、容器
15内の温度を検出し、その検出結果を制御回路12に
伝達する。制御回路12においては、温度センサ16の
検出結果に基づき被試験物の試験条件と合致するよう
に、ヒーター17とバルブ13との作動を制御する信号
を送出する。図5は、被試験物がICの場合の温度サイ
クルの試験条件を示す図であり、被試験物は、試験装置
によって、断熱容器15内において、この図に示された
時間経過に対する温度環境が保持される。
センサとしての温度センサ16が設置されており、容器
15内の温度を検出し、その検出結果を制御回路12に
伝達する。制御回路12においては、温度センサ16の
検出結果に基づき被試験物の試験条件と合致するよう
に、ヒーター17とバルブ13との作動を制御する信号
を送出する。図5は、被試験物がICの場合の温度サイ
クルの試験条件を示す図であり、被試験物は、試験装置
によって、断熱容器15内において、この図に示された
時間経過に対する温度環境が保持される。
【0013】制御回路12と断熱容器15内のヒーター
17及び温度センサ16との接続は図示しないコネクタ
により着脱自在とし、またフレキシブルパイプ14と断
熱容器15との接続、フレキシブルパイプ14と冷熱源
との接続も着脱可能な図示しない接続子を介して接続す
る。そして、種々の形状及び大きさの断熱容器15と冷
熱源とを用意する。このように構成することにより、試
験すべき電気部品に応じて断熱容器15と冷熱源とを適
宜選択することができる。
17及び温度センサ16との接続は図示しないコネクタ
により着脱自在とし、またフレキシブルパイプ14と断
熱容器15との接続、フレキシブルパイプ14と冷熱源
との接続も着脱可能な図示しない接続子を介して接続す
る。そして、種々の形状及び大きさの断熱容器15と冷
熱源とを用意する。このように構成することにより、試
験すべき電気部品に応じて断熱容器15と冷熱源とを適
宜選択することができる。
【0014】上述のようにして、断熱容器15内が所定
の温度に達すると、使用者は被試験部品21を実動作さ
せる。この被試験部品21には、駆動回路とオシロスコ
ープ等の他の試験装置のプローブが接続されており、被
試験部品21が所定の温度環境にある時の挙動が測定さ
れる。
の温度に達すると、使用者は被試験部品21を実動作さ
せる。この被試験部品21には、駆動回路とオシロスコ
ープ等の他の試験装置のプローブが接続されており、被
試験部品21が所定の温度環境にある時の挙動が測定さ
れる。
【0015】なお、この発明の実施例装置においては、
冷熱源としてLCO2 等を直接断熱容器15内に導入す
る構成としたが、コンプレッサを使用する形式としても
よく、また設定する温度に応じて例えばLN2、LO2を
使用することも可能である。
冷熱源としてLCO2 等を直接断熱容器15内に導入す
る構成としたが、コンプレッサを使用する形式としても
よく、また設定する温度に応じて例えばLN2、LO2を
使用することも可能である。
【0016】図2は本発明に係る試験装置の第2の実施
例を示す概略外観図である。この第2の実施例において
は、冷気を直接断熱容器15内に導入するのではなく、
断熱容器15の内面に冷気が通る冷却パイプ23を設置
したものである。
例を示す概略外観図である。この第2の実施例において
は、冷気を直接断熱容器15内に導入するのではなく、
断熱容器15の内面に冷気が通る冷却パイプ23を設置
したものである。
【0017】図3は本発明に係る試験装置の第3の実施
例の側断面図である。同図において、30は厚肉円筒状
の断熱容器で、底面に開口部30aを有し、クッション
材30bが取り付けられ、外側面にヒーター、センサ用
おす型コネクタ31と冷却ホース用ステム32が取り付
けられている。断熱容器30内に配設された温度センサ
33およびシートヒーター34は、コネクタ31から断
熱容器30内を導出されたケーブル33a、34aにそ
れぞれ接続されている。断熱容器30内に配設された冷
却ノズル35は、ステム32から断熱容器30内を導出
された配管35aの先端に取り付けられている。
例の側断面図である。同図において、30は厚肉円筒状
の断熱容器で、底面に開口部30aを有し、クッション
材30bが取り付けられ、外側面にヒーター、センサ用
おす型コネクタ31と冷却ホース用ステム32が取り付
けられている。断熱容器30内に配設された温度センサ
33およびシートヒーター34は、コネクタ31から断
熱容器30内を導出されたケーブル33a、34aにそ
れぞれ接続されている。断熱容器30内に配設された冷
却ノズル35は、ステム32から断熱容器30内を導出
された配管35aの先端に取り付けられている。
【0018】36は、めす型コネクタで、前記おす型コ
ネクタ31に螺合させて取り付け、解除することによっ
て取り外すことができるように構成されて、着脱自在と
なっており、ヒーター、センサケーブル36aが導出さ
れている。また、このヒーター、センサケーブル36a
は図示しない制御回路に接続されている。37は、冷却
ホース用ボディで、前記ステム32にスリーブ37bを
スライドさせて取り付け、取り外すときは再びスリーブ
37bをスライドさせる。冷却用ボディ37には冷却ホ
ース37aが導出されている。
ネクタ31に螺合させて取り付け、解除することによっ
て取り外すことができるように構成されて、着脱自在と
なっており、ヒーター、センサケーブル36aが導出さ
れている。また、このヒーター、センサケーブル36a
は図示しない制御回路に接続されている。37は、冷却
ホース用ボディで、前記ステム32にスリーブ37bを
スライドさせて取り付け、取り外すときは再びスリーブ
37bをスライドさせる。冷却用ボディ37には冷却ホ
ース37aが導出されている。
【0019】このような構成において、図3に示すよう
に電子部品をプリント基板に実装したものを試験する場
合には、試験するIC39に開口部30aを合わせて、
断熱容器30を被せて行う。この場合、内径D、シート
ヒーター34のヒーター容量あるいは冷却ホースの冷却
出力が種々異なる断熱容器30を用意しておき、これら
の中から被試験物であるIC39の形状、容積あるいは
試験条件に合わせた断熱容器30を選択して、めす型コ
ネクタ36と冷却ボディ37とにおす型コネクタ31と
ステム32とを取り付ける。
に電子部品をプリント基板に実装したものを試験する場
合には、試験するIC39に開口部30aを合わせて、
断熱容器30を被せて行う。この場合、内径D、シート
ヒーター34のヒーター容量あるいは冷却ホースの冷却
出力が種々異なる断熱容器30を用意しておき、これら
の中から被試験物であるIC39の形状、容積あるいは
試験条件に合わせた断熱容器30を選択して、めす型コ
ネクタ36と冷却ボディ37とにおす型コネクタ31と
ステム32とを取り付ける。
【0020】このように、被試験物に合わせて断熱容器
を選択することにより、被試験物にあった効率のよい試
験を行うことができる。また、開口部を有しているの
で、プリント基板等に実装されている電子部品等の試験
を行う場合にも好適である。また、断熱容器30は円筒
状を呈しているので、熱の伝達がよく、かつ内周面に貼
着するシートヒーター34を折り曲げずに貼着すること
ができる。なお、本実施例では、プリント基板38に実
装した電子部品39の試験方法を示したが、これに限定
されず、例えばトランスやトランジスタ等の発熱部品に
隣接する個所に実装するプリント基板について、発熱部
品からプリント基板が受ける影響を調べる場合に、前述
した発熱部品の代わりに、本発明の断熱容器自体を発熱
部品としてみなして使用することができ、この場合に
は、プリント基板を装置に実装することなく試験するこ
とが可能となる。
を選択することにより、被試験物にあった効率のよい試
験を行うことができる。また、開口部を有しているの
で、プリント基板等に実装されている電子部品等の試験
を行う場合にも好適である。また、断熱容器30は円筒
状を呈しているので、熱の伝達がよく、かつ内周面に貼
着するシートヒーター34を折り曲げずに貼着すること
ができる。なお、本実施例では、プリント基板38に実
装した電子部品39の試験方法を示したが、これに限定
されず、例えばトランスやトランジスタ等の発熱部品に
隣接する個所に実装するプリント基板について、発熱部
品からプリント基板が受ける影響を調べる場合に、前述
した発熱部品の代わりに、本発明の断熱容器自体を発熱
部品としてみなして使用することができ、この場合に
は、プリント基板を装置に実装することなく試験するこ
とが可能となる。
【0021】図4は本発明の第4の実施例の側断面図で
ある。同図において、41は半円球状を呈した断熱容器
で、断熱容器41は、透明ガラスあるいは透明樹脂から
なる外装部42、内装部43と透明ガラス繊維からなる
断熱層45を有する真空部44とからなり、底面に開口
部46を有して一体成形で形成されている。断熱容器4
1の内周面には、先端が容器41の中心部に向いた冷却
用ノズル48が配設され、また容器41の内周面上部に
は、温度センサ50が、また内周面側部には透明なシー
トヒーター51がそれぞれ貼着されている。
ある。同図において、41は半円球状を呈した断熱容器
で、断熱容器41は、透明ガラスあるいは透明樹脂から
なる外装部42、内装部43と透明ガラス繊維からなる
断熱層45を有する真空部44とからなり、底面に開口
部46を有して一体成形で形成されている。断熱容器4
1の内周面には、先端が容器41の中心部に向いた冷却
用ノズル48が配設され、また容器41の内周面上部に
は、温度センサ50が、また内周面側部には透明なシー
トヒーター51がそれぞれ貼着されている。
【0022】これら冷却ノズル48および温度センサ5
0、シートヒーター51は容器41の内周面を這わせた
冷却ホース49およびセンサ、ヒーターケーブル52に
接続され、スリーブ54によって束ねられリング56か
ら外部に導出される。円環状のクッション材からなるリ
ング56は、アンダーカット状に形成した嵌合凸部56
aの弾性変形を利用して容器41の底面部に着脱自在と
しており、容器41に取付けることにより、容器41を
被試験物に覆ったときに容器の密閉性を確保している。
容器41の外部に導出された冷却ホース9およびセン
サ、ヒーターケーブル12は、第1の実施例と同様に、
バルブ13と制御回路12とにそれぞれ接続されて、温
度設定器11で設定された温度に容器41内が制御され
る。
0、シートヒーター51は容器41の内周面を這わせた
冷却ホース49およびセンサ、ヒーターケーブル52に
接続され、スリーブ54によって束ねられリング56か
ら外部に導出される。円環状のクッション材からなるリ
ング56は、アンダーカット状に形成した嵌合凸部56
aの弾性変形を利用して容器41の底面部に着脱自在と
しており、容器41に取付けることにより、容器41を
被試験物に覆ったときに容器の密閉性を確保している。
容器41の外部に導出された冷却ホース9およびセン
サ、ヒーターケーブル12は、第1の実施例と同様に、
バルブ13と制御回路12とにそれぞれ接続されて、温
度設定器11で設定された温度に容器41内が制御され
る。
【0023】このような構成において、図4に示すよう
に電子部品をプリント基板に実装したものを試験する場
合には、試験するIC39に容器1の開口部46を合わ
せて、リング56をプリント基板38上に密着させて載
置する。容器1内で試験されているIC39の挙動は容
器41が透明部材で形成され、容器41の内周面に貼着
されたシートヒーター51が透明であるため、容器41
のあらゆる角度から観察することができる。また、外部
照明が透明容器41から採光されるので、容器41内は
観察するのに充分な照度が得られる。また、容器41は
半円球状をしているので、どの角度の観察位置からも被
試験物の距離がほぼ同一となると共に、観察の障害とな
る稜線がなく、このため、あらゆる角度からの観察を同
条件で行うことができる。
に電子部品をプリント基板に実装したものを試験する場
合には、試験するIC39に容器1の開口部46を合わ
せて、リング56をプリント基板38上に密着させて載
置する。容器1内で試験されているIC39の挙動は容
器41が透明部材で形成され、容器41の内周面に貼着
されたシートヒーター51が透明であるため、容器41
のあらゆる角度から観察することができる。また、外部
照明が透明容器41から採光されるので、容器41内は
観察するのに充分な照度が得られる。また、容器41は
半円球状をしているので、どの角度の観察位置からも被
試験物の距離がほぼ同一となると共に、観察の障害とな
る稜線がなく、このため、あらゆる角度からの観察を同
条件で行うことができる。
【0024】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
容器内に配設された容器内の状態を検出する状態検出手
段および容器内を所定の状態に維持する状態維持手段
と、容器外に配設された制御手段とを着脱自在に結合す
るようにしたので、被試験物の形状、容積あるいは試験
条件に応じて容器を交換でき、このため効率のよい試験
を行うことができ、特に小型の被試験物に適用されて最
適な試験装置を提供することができる。
容器内に配設された容器内の状態を検出する状態検出手
段および容器内を所定の状態に維持する状態維持手段
と、容器外に配設された制御手段とを着脱自在に結合す
るようにしたので、被試験物の形状、容積あるいは試験
条件に応じて容器を交換でき、このため効率のよい試験
を行うことができ、特に小型の被試験物に適用されて最
適な試験装置を提供することができる。
【0025】また、容器の底面に開口部を設け、被試験
物がプリント基板に実装されていても被試験物のみを試
験することができるようにしたので、効率のよい試験を
行うことができる効果がある。また、被試験物を覆う容
器を透明部材で形成したので、被試験物の挙動を容器の
あらゆる角度から観察でき、しかも、容器の外部照明が
透明容器から採光されるので、容器内は観察するのに充
分な照度が得られる効果がある。
物がプリント基板に実装されていても被試験物のみを試
験することができるようにしたので、効率のよい試験を
行うことができる効果がある。また、被試験物を覆う容
器を透明部材で形成したので、被試験物の挙動を容器の
あらゆる角度から観察でき、しかも、容器の外部照明が
透明容器から採光されるので、容器内は観察するのに充
分な照度が得られる効果がある。
【図1】本発明に係る試験装置の概略構成図である。
【図2】本発明に係る試験装置の第2の実施例の概略構
成図である。
成図である。
【図3】本発明に係る試験装置の第3の実施例の側断面
図である。
図である。
【図4】本発明に係る試験装置の第4の実施例の側断面
図である。
図である。
【図5】一般的な試験装置における温度環境試験の温度
サイクルの一例である。
サイクルの一例である。
12 制御回路 15 断熱容器 16 温度センサ 17 ヒーター 21 被試験部品 23 冷却パイプ 30 断熱容器 31 おす型コネクタ 32 ステム 33 温度センサ 34 シートヒーター 35 冷却ノズル 36 めす型コネクタ 37 ボディ 39 IC 41 断熱容器 48 冷却ノズル 50 温度センサ 51 シートヒーター
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 飯野 欽三 神奈川県横浜市戸塚区品濃町503番10号 グラフテツク株式会社内
Claims (3)
- 【請求項1】 被試験物を覆う容器と、この容器内に配
設されこの容器の内部の状態を検出する状態検出手段
と、前記容器内に配設されこの容器内を所定の状態に維
持する状態維持手段と、前記容器外に配設され前記状態
検出手段の検出情報に基づき前記状態維持手段を作動さ
せる制御手段と、この制御手段と前記状態検出手段およ
び状態維持手段とを着脱自在に結合する結合手段とを備
え、前記容器を密閉保持構造としたことを特徴とする試
験装置。 - 【請求項2】 被試験物を覆う容器と、この容器内に配
設されこの容器の内部の状態を検出する状態検出手段
と、前記容器内に配設されこの容器内を所定の状態に維
持する状態維持手段と、前記容器外に配設され前記状態
検出手段の検出情報に基づき前記状態維持手段を作動さ
せる制御手段と、この制御手段と前記状態検出手段およ
び状態維持手段とを着脱自在に結合する結合手段とを備
え、前記容器の底面に開口部を設けたことを特徴とする
試験装置。 - 【請求項3】 被試験物を覆う容器と、この容器内に配
設されこの容器の内部の状態を検出する状態検出手段
と、前記容器内に配設されこの容器内を所定の状態に維
持する状態維持手段と、前記容器外に配設され前記状態
検出手段の検出情報に基づき前記状態維持手段を作動さ
せる制御手段とを備え、前記容器を透明部材で形成した
ことを特徴とする試験装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6305191 | 1991-07-15 | ||
| JP3-63051 | 1991-07-15 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0599983A true JPH0599983A (ja) | 1993-04-23 |
Family
ID=13218150
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3353064A Pending JPH0599983A (ja) | 1991-07-15 | 1991-12-18 | 試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0599983A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08226888A (ja) * | 1995-02-22 | 1996-09-03 | Japan Atom Energy Res Inst | 構造物検査装置 |
| JP2007071457A (ja) * | 2005-09-07 | 2007-03-22 | Ishikawajima Inspection & Instrumentation Co | 環境試験用空調装置 |
| JP2010249803A (ja) * | 2009-03-24 | 2010-11-04 | Toyota Central R&D Labs Inc | 熱疲労試験装置、及びプログラム |
| JP2015072128A (ja) * | 2013-10-01 | 2015-04-16 | 三菱電機株式会社 | 半導体装置の検査装置および半導体装置の検査方法 |
| CN108871954A (zh) * | 2018-06-26 | 2018-11-23 | 胡沛 | 一种电力电缆生产用性能检测装置 |
-
1991
- 1991-12-18 JP JP3353064A patent/JPH0599983A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08226888A (ja) * | 1995-02-22 | 1996-09-03 | Japan Atom Energy Res Inst | 構造物検査装置 |
| JP2007071457A (ja) * | 2005-09-07 | 2007-03-22 | Ishikawajima Inspection & Instrumentation Co | 環境試験用空調装置 |
| JP2010249803A (ja) * | 2009-03-24 | 2010-11-04 | Toyota Central R&D Labs Inc | 熱疲労試験装置、及びプログラム |
| JP2015072128A (ja) * | 2013-10-01 | 2015-04-16 | 三菱電機株式会社 | 半導体装置の検査装置および半導体装置の検査方法 |
| CN108871954A (zh) * | 2018-06-26 | 2018-11-23 | 胡沛 | 一种电力电缆生产用性能检测装置 |
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