JPH06109407A - 電磁誘導形座標検出装置 - Google Patents
電磁誘導形座標検出装置Info
- Publication number
- JPH06109407A JPH06109407A JP26164492A JP26164492A JPH06109407A JP H06109407 A JPH06109407 A JP H06109407A JP 26164492 A JP26164492 A JP 26164492A JP 26164492 A JP26164492 A JP 26164492A JP H06109407 A JPH06109407 A JP H06109407A
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- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 2つの蛇行状の座標検出導線8,9と1つの
櫛歯状のセレクタ導線10を備え、セレクタ導線の隣接
する櫛歯間の境界近傍位置での誤検出防止のため、櫛歯
間の誘起電圧検出のスキャニングを、各櫛歯間を1ルー
プとしたときに2ループ単位で1ループずつずらして行
い、所定値V1以上の電圧が同一櫛歯間に連続して2回
検出されたときにその櫛歯間に座標指示器5が位置する
と判定するようにした電磁誘導形座標検出装置におい
て、無効エリアを減少し、タブレット7の外形寸法の縮
小化ないし有効エリアの拡大化を図る。 【構成】 上記誘起電圧検出のスキャニング方法におい
て、セレクタ導線10の最外側の2つの櫛歯間(最初
(原点側)及び最後(最大値側)のスキャニング部)に
ついては従来方法の1/2の単位(1ループ単位)でス
キャニングを行うように誘起電圧検出スキャニング手段
21を設ける。
櫛歯状のセレクタ導線10を備え、セレクタ導線の隣接
する櫛歯間の境界近傍位置での誤検出防止のため、櫛歯
間の誘起電圧検出のスキャニングを、各櫛歯間を1ルー
プとしたときに2ループ単位で1ループずつずらして行
い、所定値V1以上の電圧が同一櫛歯間に連続して2回
検出されたときにその櫛歯間に座標指示器5が位置する
と判定するようにした電磁誘導形座標検出装置におい
て、無効エリアを減少し、タブレット7の外形寸法の縮
小化ないし有効エリアの拡大化を図る。 【構成】 上記誘起電圧検出のスキャニング方法におい
て、セレクタ導線10の最外側の2つの櫛歯間(最初
(原点側)及び最後(最大値側)のスキャニング部)に
ついては従来方法の1/2の単位(1ループ単位)でス
キャニングを行うように誘起電圧検出スキャニング手段
21を設ける。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、タブレット上のペン又
はカーソルなどの座標指示器の位置を検出する電磁誘導
形座標検出装置に係り、特にタブレット上の無効エリア
(無効読取範囲)を減少させた電磁誘導形座標検出装置
に関するものである。
はカーソルなどの座標指示器の位置を検出する電磁誘導
形座標検出装置に係り、特にタブレット上の無効エリア
(無効読取範囲)を減少させた電磁誘導形座標検出装置
に関するものである。
【0002】
【従来の技術】電磁誘導形座標検出装置は、ペン又はカ
ーソルなどの座標指示器と、この座標指示器に正弦波電
圧を印加する装置と、座標検出導線が配されたX軸用ベ
ース,Y軸用ベース及びセレクタ導線が配されたセレク
タゾーン(座標域)検出用ベースを有するタブレット
と、前記座標検出導線及びセレクタ導線に発生する信号
を演算処理してタブレット上の座標指示器のX座標及び
Y座標を求める装置などで構成されている。
ーソルなどの座標指示器と、この座標指示器に正弦波電
圧を印加する装置と、座標検出導線が配されたX軸用ベ
ース,Y軸用ベース及びセレクタ導線が配されたセレク
タゾーン(座標域)検出用ベースを有するタブレット
と、前記座標検出導線及びセレクタ導線に発生する信号
を演算処理してタブレット上の座標指示器のX座標及び
Y座標を求める装置などで構成されている。
【0003】図3はこのような従来の電磁誘導形座標検
出装置のブロック図、図4(a)は図3に示すタブレッ
ト上の座標検出導線,セレクタ導線の配置及びセレクタ
導線による誘起電圧検出のスキャニングシーケンスを示
す図、同(b)は前記座標検出導線で検出される信号に
基づくPD値のグラフ、同(c)は前記セレクタ導線で
検出される電圧の波形図である。
出装置のブロック図、図4(a)は図3に示すタブレッ
ト上の座標検出導線,セレクタ導線の配置及びセレクタ
導線による誘起電圧検出のスキャニングシーケンスを示
す図、同(b)は前記座標検出導線で検出される信号に
基づくPD値のグラフ、同(c)は前記セレクタ導線で
検出される電圧の波形図である。
【0004】これらの図において、1は所定周波数のク
ロックパルスを発生する発振器、2は発振器1のクロッ
クパルスを分周する分周器、3は分周器2の矩形波を正
弦波に変換するフィルタ、4はこの正弦波を増幅する増
幅器、5は増幅された正弦波が印加されるコイル6を有
する座標指示器、ここではスタイラスペンである。7は
X軸用、Y軸用及びセレクタゾーン検出用の各ベースよ
りなるタブレットである。
ロックパルスを発生する発振器、2は発振器1のクロッ
クパルスを分周する分周器、3は分周器2の矩形波を正
弦波に変換するフィルタ、4はこの正弦波を増幅する増
幅器、5は増幅された正弦波が印加されるコイル6を有
する座標指示器、ここではスタイラスペンである。7は
X軸用、Y軸用及びセレクタゾーン検出用の各ベースよ
りなるタブレットである。
【0005】図4(a)にX軸用ベースに配置された2
つの座標検出導線(以下、これら座標検出導線をそれぞ
れcos線、sin線という。)及びセレクタゾーン検出用ベ
ースに配置されたセレクタ導線が示されている。なお、
Y軸用ベースにおけるcos線、sin線の配置及びセレクタ
導線との関連は、それらの配置位置が90度異なる以外
はX軸用ベースと同じであるので、以下、X軸用ベース
についてのみ説明する。
つの座標検出導線(以下、これら座標検出導線をそれぞ
れcos線、sin線という。)及びセレクタゾーン検出用ベ
ースに配置されたセレクタ導線が示されている。なお、
Y軸用ベースにおけるcos線、sin線の配置及びセレクタ
導線との関連は、それらの配置位置が90度異なる以外
はX軸用ベースと同じであるので、以下、X軸用ベース
についてのみ説明する。
【0006】図4(a)で、8はcos線、9はsin線で、
それぞれ電気角90度の位相差をもってベース上に蛇行
状に配置されている。この図において、cos線8は実
線、sin線9は破線で示されている。10はセレクタゾ
ーン検出用ベース上に配置されたセレクタ導線であり、
櫛歯状に形成されている。セレクタ導線10は実線で示
されており、その櫛歯の間隔はcos線9及びsin線10の
1周期の間隔と一致し、cos線9及びsin線10に対して
図示配置となるように両ベースが重ね合わされている。
Tcはcos線8の端子、Tsはsin線9の端子、T0〜T4
…Tn(T5…Tnは図示せず)はセレクタ導線の各櫛歯
先端の端子である。
それぞれ電気角90度の位相差をもってベース上に蛇行
状に配置されている。この図において、cos線8は実
線、sin線9は破線で示されている。10はセレクタゾ
ーン検出用ベース上に配置されたセレクタ導線であり、
櫛歯状に形成されている。セレクタ導線10は実線で示
されており、その櫛歯の間隔はcos線9及びsin線10の
1周期の間隔と一致し、cos線9及びsin線10に対して
図示配置となるように両ベースが重ね合わされている。
Tcはcos線8の端子、Tsはsin線9の端子、T0〜T4
…Tn(T5…Tnは図示せず)はセレクタ導線の各櫛歯
先端の端子である。
【0007】図3に戻り、11はスタイラスペン5がタ
ブレット7上に置かれたとき各端子Tc,Ts,T0〜
T4…Tnに生じる信号を順次切り換えて出力するセレク
タ、12,13はそれぞれcos線9、sin線10に発生し
た信号を増幅する増幅器、14は加算器である。加算器
14は偏相用コンデンサ14a、抵抗14bよりなり、
cos線9に発生した信号及びsin線10に発生した信号に
基づいて、例えばcos線9の1周期内において、基準位
置からスタイラスペン5が置かれている位置間の距離に
対応した位相差(前記フィルタ3から出力される正弦波
に対する位相差)の正弦波を出力する。15は増幅器、
16はこの正弦波信号のレベルを判別する比較器であ
る。17は分周器2からの矩形波の立ち上がりでセット
され、比較器16からの信号でリセットされるカウンタ
であり、このセットとリセットの間に発振器1からのク
ロックパルスを導入してその数をカウントする。このカ
ウントされた数は、前述の位相差、すなわち、cos線9
の1周期内における基準位置からスタイラスペン5まで
の距離に比例する。以下、上記カウントされた数に対応
する距離をPD値という。図4(b)にこのPD値Nが
示されている。
ブレット7上に置かれたとき各端子Tc,Ts,T0〜
T4…Tnに生じる信号を順次切り換えて出力するセレク
タ、12,13はそれぞれcos線9、sin線10に発生し
た信号を増幅する増幅器、14は加算器である。加算器
14は偏相用コンデンサ14a、抵抗14bよりなり、
cos線9に発生した信号及びsin線10に発生した信号に
基づいて、例えばcos線9の1周期内において、基準位
置からスタイラスペン5が置かれている位置間の距離に
対応した位相差(前記フィルタ3から出力される正弦波
に対する位相差)の正弦波を出力する。15は増幅器、
16はこの正弦波信号のレベルを判別する比較器であ
る。17は分周器2からの矩形波の立ち上がりでセット
され、比較器16からの信号でリセットされるカウンタ
であり、このセットとリセットの間に発振器1からのク
ロックパルスを導入してその数をカウントする。このカ
ウントされた数は、前述の位相差、すなわち、cos線9
の1周期内における基準位置からスタイラスペン5まで
の距離に比例する。以下、上記カウントされた数に対応
する距離をPD値という。図4(b)にこのPD値Nが
示されている。
【0008】18はセレクタ導線10の各端子T0〜T4
…Tnがセレクタ11において順次切り換えられる(ス
キャニングされる)ことにより、スタイラスペン5が置
かれている櫛歯間(セレクタゾーン)から出力される信
号を増幅する増幅器、19は増幅器18の出力値を保持
するホールド回路、20はホールド回路19に保持され
た出力値を相当するディジタル値に変換するA/D変換
器である。21はカウンタ17及びA/D変換器20か
らの信号を入力し、これらの信号に基づいて、タブレッ
ト7上におけるスタイラスペン5の座標を演算する信号
処理回路である。
…Tnがセレクタ11において順次切り換えられる(ス
キャニングされる)ことにより、スタイラスペン5が置
かれている櫛歯間(セレクタゾーン)から出力される信
号を増幅する増幅器、19は増幅器18の出力値を保持
するホールド回路、20はホールド回路19に保持され
た出力値を相当するディジタル値に変換するA/D変換
器である。21はカウンタ17及びA/D変換器20か
らの信号を入力し、これらの信号に基づいて、タブレッ
ト7上におけるスタイラスペン5の座標を演算する信号
処理回路である。
【0009】すなわち、セレクタ導線10の信号によ
り、スタイラスペン5がどのセレクタゾーンにあるかが
検出され、また、カウンタ17から得られるPD値によ
りcos線9の1周期内におけるスタイラスペン5の位置
が判明するので、これからスタイラスペン5の座標の演
算が可能となる。なお、信号処理回路21はセレクタ1
に対して各端子の切換(セレクタ端子のスキャニングを
含む)指令をも行う。
り、スタイラスペン5がどのセレクタゾーンにあるかが
検出され、また、カウンタ17から得られるPD値によ
りcos線9の1周期内におけるスタイラスペン5の位置
が判明するので、これからスタイラスペン5の座標の演
算が可能となる。なお、信号処理回路21はセレクタ1
に対して各端子の切換(セレクタ端子のスキャニングを
含む)指令をも行う。
【0010】ところでこのような電磁誘導形座標検出装
置において、スタイラスペン5がタブレット7の面に対
してほぼ垂直に置かれる場合は、セレクタ導線10の相
当するセレクタゾーンのみに出力信号が現れるのでセレ
クタゾーン検出に問題はない。
置において、スタイラスペン5がタブレット7の面に対
してほぼ垂直に置かれる場合は、セレクタ導線10の相
当するセレクタゾーンのみに出力信号が現れるのでセレ
クタゾーン検出に問題はない。
【0011】しかしながら、一般に、スタイラスペン5
の使用に際しては、これをタブレット7の面に対して相
当傾斜させる場合が多く、この場合、セレクタ導線10
には、スタイラスペン5が存在するセレクタゾーンばか
りでなく、隣接するセレクタゾーンにも信号が発生し、
正確な座標検出が不可能となる。このような状態を避け
るため、従来、セレクタ導線10によるセレクタゾーン
の検出には図4(a),(c)に示すような手段が採用
されていた。すなわち、セレクタ導線10の隣接するセ
レクタゾーンを順次スキャニングして行くのではなく、
1つ飛ばしてスキャニングして行く方法である。図4
(a)に示すように、まず、端子T1−T3間、次に端子
T2−T4間、次に端子T3−T5間というようにスキャニ
ングして行くのである。以下、これらの端子間をルー
プ、何番目のループかを示す番号をループ番号という。
図4(a)で、端子T1−T3間はループ1番(ループN
o.1)、端子T2−T4間はループ2番(ループNo.
2)…となる。
の使用に際しては、これをタブレット7の面に対して相
当傾斜させる場合が多く、この場合、セレクタ導線10
には、スタイラスペン5が存在するセレクタゾーンばか
りでなく、隣接するセレクタゾーンにも信号が発生し、
正確な座標検出が不可能となる。このような状態を避け
るため、従来、セレクタ導線10によるセレクタゾーン
の検出には図4(a),(c)に示すような手段が採用
されていた。すなわち、セレクタ導線10の隣接するセ
レクタゾーンを順次スキャニングして行くのではなく、
1つ飛ばしてスキャニングして行く方法である。図4
(a)に示すように、まず、端子T1−T3間、次に端子
T2−T4間、次に端子T3−T5間というようにスキャニ
ングして行くのである。以下、これらの端子間をルー
プ、何番目のループかを示す番号をループ番号という。
図4(a)で、端子T1−T3間はループ1番(ループN
o.1)、端子T2−T4間はループ2番(ループNo.
2)…となる。
【0012】このようなスキャニング方法(シーケン
ス)とこれにより得られるPD値(周期内検出座標値)
により、スタイラスペン5の位置に応じて図4(c)に
示すように変化する電圧波形が得られる。そして、この
電圧波形中、所定の電圧レベルV1より大きい場合に座
標値決定用電圧レベルが検出されたとし、その検出回数
(1回又は2回)によりスタイラスペン5が何番目のル
ープ(セレクタゾーン)に位置するかを決定し、これに
PD値を用いることによりスタイラスペン5が指示する
座標値が決定されるものである。すなわち、座標指示器
の位置Bを検出する場合、図4(c)に示されるように
ループNo.1ではVb1の電圧レベルが検出され、ル
ープNo.2では、Vb2の電圧レベルが検出され、座
標値決定用電圧レベルの検出回数2回ということで、座
標指示器は端子T2−T3間のセレクタゾーンに位置する
と判定される。
ス)とこれにより得られるPD値(周期内検出座標値)
により、スタイラスペン5の位置に応じて図4(c)に
示すように変化する電圧波形が得られる。そして、この
電圧波形中、所定の電圧レベルV1より大きい場合に座
標値決定用電圧レベルが検出されたとし、その検出回数
(1回又は2回)によりスタイラスペン5が何番目のル
ープ(セレクタゾーン)に位置するかを決定し、これに
PD値を用いることによりスタイラスペン5が指示する
座標値が決定されるものである。すなわち、座標指示器
の位置Bを検出する場合、図4(c)に示されるように
ループNo.1ではVb1の電圧レベルが検出され、ル
ープNo.2では、Vb2の電圧レベルが検出され、座
標値決定用電圧レベルの検出回数2回ということで、座
標指示器は端子T2−T3間のセレクタゾーンに位置する
と判定される。
【0013】図4(a)に示すように、有効エリア(有
効読取範囲)の外側(無効エリア)にまでセレクタ導線
10の櫛歯(端子T0,T1へのセレクタ導線10)が必
要とするのは、有効エリアの外側にスタイラスペン5が
置かれたことを正しく判定するためである。すなわち、
有効エリアの外側に置かれたスタイラスペン5の位置A
を検出する場合、図4(c)に示されるようにループN
o.0ではVa1の電圧レベルが検出され、ループN
o.1では、Va2の電圧レベルが検出され、座標値決
定用電圧レベルの検出回数2回ということで、スタイラ
スペン5は端子T1−T2間のセレクタゾーンに位置する
こととなり、有効エリアの外側(無効エリア)にあると
判定される。
効読取範囲)の外側(無効エリア)にまでセレクタ導線
10の櫛歯(端子T0,T1へのセレクタ導線10)が必
要とするのは、有効エリアの外側にスタイラスペン5が
置かれたことを正しく判定するためである。すなわち、
有効エリアの外側に置かれたスタイラスペン5の位置A
を検出する場合、図4(c)に示されるようにループN
o.0ではVa1の電圧レベルが検出され、ループN
o.1では、Va2の電圧レベルが検出され、座標値決
定用電圧レベルの検出回数2回ということで、スタイラ
スペン5は端子T1−T2間のセレクタゾーンに位置する
こととなり、有効エリアの外側(無効エリア)にあると
判定される。
【0014】ここで、従来技術のシーケンスで端子T0
へのセレクタ導線10(櫛歯)を除去し、無効エリアを
減らした場合は、図4(d)に示すように、ループN
o.1からの検出(スキャニング)となり、スタイラス
ペン5の位置Aを検出した場合、座標値決定用電圧レベ
ルの検出回数としてはVa3の電圧レベル1回のみの検
出となる。座標値決定用電圧レベルの検出回数が1回の
場合のセレクタゾーン判定は、PD値を使用し、このP
D値が例えば512未満(最大で1024)の場合は、
後のセレクタゾーン、512以上の場合は、前のセレク
タゾーンと判定され、スタイラスペン5の位置Aでは、
PD値が512未満のため、有効エリア内のT2−T3間
のセレクタゾーン(位置B)と間違って判定されてしま
う。
へのセレクタ導線10(櫛歯)を除去し、無効エリアを
減らした場合は、図4(d)に示すように、ループN
o.1からの検出(スキャニング)となり、スタイラス
ペン5の位置Aを検出した場合、座標値決定用電圧レベ
ルの検出回数としてはVa3の電圧レベル1回のみの検
出となる。座標値決定用電圧レベルの検出回数が1回の
場合のセレクタゾーン判定は、PD値を使用し、このP
D値が例えば512未満(最大で1024)の場合は、
後のセレクタゾーン、512以上の場合は、前のセレク
タゾーンと判定され、スタイラスペン5の位置Aでは、
PD値が512未満のため、有効エリア内のT2−T3間
のセレクタゾーン(位置B)と間違って判定されてしま
う。
【0015】
【発明が解決しようとする課題】したがって従来装置に
おいては、スタイラスペン5(座標指示器)の置かれた
位置が、有効エリア(有効読取範囲)の外側か内側かを
判定するため、有効エリアの外側のそれぞれの箇所に、
すなわち原点側及び最大値側の各々に、セレクタ導線1
0(櫛歯)を各2本ずつ(端子T0,T1への各セレクタ
導線10(櫛歯)及び端子Tn-1,Tnへの各セレクタ導
線10(櫛歯))の布線が必要である。このため、無効
エリアを減少することができず、タブレット7の外形寸
法の縮小化(同一外形寸法時の有効エリアの拡大化)が
難しいという問題点があった。
おいては、スタイラスペン5(座標指示器)の置かれた
位置が、有効エリア(有効読取範囲)の外側か内側かを
判定するため、有効エリアの外側のそれぞれの箇所に、
すなわち原点側及び最大値側の各々に、セレクタ導線1
0(櫛歯)を各2本ずつ(端子T0,T1への各セレクタ
導線10(櫛歯)及び端子Tn-1,Tnへの各セレクタ導
線10(櫛歯))の布線が必要である。このため、無効
エリアを減少することができず、タブレット7の外形寸
法の縮小化(同一外形寸法時の有効エリアの拡大化)が
難しいという問題点があった。
【0016】本発明の目的は、無効エリアを減少するこ
とができ、タブレットの外形寸法の縮小化(同一外形寸
法時の有効エリアの拡大化)が図れる電磁誘導形座標検
出装置を提供することにある。
とができ、タブレットの外形寸法の縮小化(同一外形寸
法時の有効エリアの拡大化)が図れる電磁誘導形座標検
出装置を提供することにある。
【0017】
【課題を解決するための手段】上記目的は、交流電源に
より励磁されるコイルを備えた座標指示器と、電気角9
0度の位相差をもち、相互に絶縁されてベース上に蛇行
状に配置された2つの座標検出導線と、この2つの座標
検出導線と絶縁されて前記ベース上に配置され、かつ前
記2つの座標検出導線のうちの一方の座標検出導線の1
周期間隔と櫛歯間隔を一致させて形成された櫛歯状のセ
レクタ導線と、前記ベース上に前記座標指示器が置かれ
たときの前記2つの座標検出導線の誘起電圧信号で前記
一方の座標検出導線の1周期内における基準位置からの
前記座標指示器の位置を、同じく前記セレクタ導線の誘
起電圧で前記2つの座標検出導線の周期域を、各々検出
し、これら2つの検出結果から前記座標指示器の位置を
座標値として検出する信号処理回路とを備えてなる電磁
誘導形座標検出装置において、前記セレクタ導線に誘起
された電圧が当該セレクタ導線のどの櫛歯間であるかの
判定のための櫛歯間の誘起電圧検出のスキャニングを、
各櫛歯間を1ループとしたときに、最外側の2つの櫛歯
間については最初に1ループ単位で、次にその1ループ
及びそれに隣接する1ループの2ループ単位で、それ以
降は2ループ単位で1ループずつずらして行う誘起電圧
検出スキャニング手段を備え、前記信号処理回路は、前
記スキャニングにおいて所定値以上の電圧が同一櫛歯間
に連続して2回検出されたときにその櫛歯間に前記座標
指示器が位置するとの判定を行うことにより達成され
る。
より励磁されるコイルを備えた座標指示器と、電気角9
0度の位相差をもち、相互に絶縁されてベース上に蛇行
状に配置された2つの座標検出導線と、この2つの座標
検出導線と絶縁されて前記ベース上に配置され、かつ前
記2つの座標検出導線のうちの一方の座標検出導線の1
周期間隔と櫛歯間隔を一致させて形成された櫛歯状のセ
レクタ導線と、前記ベース上に前記座標指示器が置かれ
たときの前記2つの座標検出導線の誘起電圧信号で前記
一方の座標検出導線の1周期内における基準位置からの
前記座標指示器の位置を、同じく前記セレクタ導線の誘
起電圧で前記2つの座標検出導線の周期域を、各々検出
し、これら2つの検出結果から前記座標指示器の位置を
座標値として検出する信号処理回路とを備えてなる電磁
誘導形座標検出装置において、前記セレクタ導線に誘起
された電圧が当該セレクタ導線のどの櫛歯間であるかの
判定のための櫛歯間の誘起電圧検出のスキャニングを、
各櫛歯間を1ループとしたときに、最外側の2つの櫛歯
間については最初に1ループ単位で、次にその1ループ
及びそれに隣接する1ループの2ループ単位で、それ以
降は2ループ単位で1ループずつずらして行う誘起電圧
検出スキャニング手段を備え、前記信号処理回路は、前
記スキャニングにおいて所定値以上の電圧が同一櫛歯間
に連続して2回検出されたときにその櫛歯間に前記座標
指示器が位置するとの判定を行うことにより達成され
る。
【0018】
【作用】2つの座標検出導線と1つのセレクタ導線(座
標軸1軸につき)を備えた電磁誘導形座標検出装置にお
いて、従来、セレクタ導線の隣接する櫛歯間の境界(各
端子T1〜Tnへのセレクタ導線(櫛歯))近傍位置にお
ける誤検出を防止するため、櫛歯間の誘起電圧検出のス
キャニングを、各櫛歯間を1ループとしたときに2ルー
プ単位で1ループずつずらして行う方法(シーケンス)
を採っている。このスキャニング方法を採った場合、所
定値以上の電圧が同一櫛歯間に連続して2回検出された
ときにその櫛歯間に前記座標指示器が位置するとの判定
を行うことになるが、そのため、従来、有効エリア(有
効読取範囲)の外側(無効エリア)に2ループ分のセレ
クタ導線10の櫛歯(端子T0,T1へのセレクタ導線1
0)が必要とした(図4(a)参照)。
標軸1軸につき)を備えた電磁誘導形座標検出装置にお
いて、従来、セレクタ導線の隣接する櫛歯間の境界(各
端子T1〜Tnへのセレクタ導線(櫛歯))近傍位置にお
ける誤検出を防止するため、櫛歯間の誘起電圧検出のス
キャニングを、各櫛歯間を1ループとしたときに2ルー
プ単位で1ループずつずらして行う方法(シーケンス)
を採っている。このスキャニング方法を採った場合、所
定値以上の電圧が同一櫛歯間に連続して2回検出された
ときにその櫛歯間に前記座標指示器が位置するとの判定
を行うことになるが、そのため、従来、有効エリア(有
効読取範囲)の外側(無効エリア)に2ループ分のセレ
クタ導線10の櫛歯(端子T0,T1へのセレクタ導線1
0)が必要とした(図4(a)参照)。
【0019】本発明による前記誘起電圧検出スキャニン
グ手段は、前記セレクタ導線に誘起された電圧が当該セ
レクタ導線のどの櫛歯間であるかの判定のための櫛歯間
の誘起電圧検出のスキャニングを、各櫛歯間を1ループ
としたときに、最外側の2つの櫛歯間については最初に
1ループ単位で、次にその1ループ及びそれに隣接する
1ループの2ループ単位で、それ以降は2ループ単位で
1ループずつずらして行う。すなわち本発明では、櫛歯
間の誘起電圧検出のスキャニング方法として、基本的に
従来と同様の方法を採るが、最外側の2つの櫛歯間(最
初及び最後のスキャニング部)については従来方法の1
/2の単位(1ループ単位)で検出を行い、2回目以降
は従来方法と同様の検出ピッチとした。
グ手段は、前記セレクタ導線に誘起された電圧が当該セ
レクタ導線のどの櫛歯間であるかの判定のための櫛歯間
の誘起電圧検出のスキャニングを、各櫛歯間を1ループ
としたときに、最外側の2つの櫛歯間については最初に
1ループ単位で、次にその1ループ及びそれに隣接する
1ループの2ループ単位で、それ以降は2ループ単位で
1ループずつずらして行う。すなわち本発明では、櫛歯
間の誘起電圧検出のスキャニング方法として、基本的に
従来と同様の方法を採るが、最外側の2つの櫛歯間(最
初及び最後のスキャニング部)については従来方法の1
/2の単位(1ループ単位)で検出を行い、2回目以降
は従来方法と同様の検出ピッチとした。
【0020】これによれば、所定値以上の電圧が同一櫛
歯間に連続して2回検出されたときにその櫛歯間に前記
座標指示器が位置するとの判定手法を採りつつ、無効エ
リアは従来の1/2で済み(1ループ分のセレクタ導線
10の櫛歯(端子T1へのセレクタ導線10)のみ必要
で、端子T0へのセレクタ導線10は不要となり)、タ
ブレットの外形寸法の縮小化ないし有効エリアの拡大化
が図れることになる。
歯間に連続して2回検出されたときにその櫛歯間に前記
座標指示器が位置するとの判定手法を採りつつ、無効エ
リアは従来の1/2で済み(1ループ分のセレクタ導線
10の櫛歯(端子T1へのセレクタ導線10)のみ必要
で、端子T0へのセレクタ導線10は不要となり)、タ
ブレットの外形寸法の縮小化ないし有効エリアの拡大化
が図れることになる。
【0021】
【実施例】以下、図面を参照して本発明の実施例を説明
する。図1は、本発明による電磁誘導形座標検出装置の
一実施例の説明図で、このうち(a)は図2に示すタブ
レット上の座標検出導線,セレクタ導線の配置及びセレ
クタ導線による誘起電圧検出のスキャニングシーケンス
を示す図、(b)は前記座標検出導線で検出される信号
に基づくPD値のグラフ、(c)は前記セレクタ導線で
検出される電圧の波形図である。なお図1においては、
X軸についての原点座標側を代表例として示した。
する。図1は、本発明による電磁誘導形座標検出装置の
一実施例の説明図で、このうち(a)は図2に示すタブ
レット上の座標検出導線,セレクタ導線の配置及びセレ
クタ導線による誘起電圧検出のスキャニングシーケンス
を示す図、(b)は前記座標検出導線で検出される信号
に基づくPD値のグラフ、(c)は前記セレクタ導線で
検出される電圧の波形図である。なお図1においては、
X軸についての原点座標側を代表例として示した。
【0022】この図1において、Tc,Ts、T1〜T4
(…Tn)及び5は各々図4と同様である。8,9及び
10も図4と同様にcos線,sin線及びセレクタ導線を示
すが、ここでは、図4に比べて最外側(原点側及び最大
値側、ここでは原点側)が1周期分削減されている。す
なわち、1ループ分のセレクタ導線10の櫛歯(図4に
おける端子T0へのセレクタ導線10)がなく、無効エ
リアが図4の従来装置の場合の1/2に減少している。
(…Tn)及び5は各々図4と同様である。8,9及び
10も図4と同様にcos線,sin線及びセレクタ導線を示
すが、ここでは、図4に比べて最外側(原点側及び最大
値側、ここでは原点側)が1周期分削減されている。す
なわち、1ループ分のセレクタ導線10の櫛歯(図4に
おける端子T0へのセレクタ導線10)がなく、無効エ
リアが図4の従来装置の場合の1/2に減少している。
【0023】図2は、本発明による電磁誘導形座標検出
装置の一実施例の要部を示すブロック図で、この図2に
おいて、5〜7、11、18〜20は各々図3と同様で
ある。21も図3と同様に信号処理回路を示すが、ここ
では、櫛歯間(セレクタゾーン)の誘起電圧検出のスキ
ャニングを、各櫛歯間を1ループとしたときに、最外側
の2つの櫛歯間については最初に1ループ単位で、次に
その1ループ及びそれに隣接する1ループの2ループ単
位で、それ以降は2ループ単位で1ループずつずらして
行う誘起電圧検出スキャニング手段を備えなる。そし
て、このようなスキャニングにおいて、所定値V1以上
の電圧が同一櫛歯間に連続して2回検出されたときにそ
の櫛歯間(セレクタゾーン)にスタイラスペン5が位置
するとの判定を行うものである。
装置の一実施例の要部を示すブロック図で、この図2に
おいて、5〜7、11、18〜20は各々図3と同様で
ある。21も図3と同様に信号処理回路を示すが、ここ
では、櫛歯間(セレクタゾーン)の誘起電圧検出のスキ
ャニングを、各櫛歯間を1ループとしたときに、最外側
の2つの櫛歯間については最初に1ループ単位で、次に
その1ループ及びそれに隣接する1ループの2ループ単
位で、それ以降は2ループ単位で1ループずつずらして
行う誘起電圧検出スキャニング手段を備えなる。そし
て、このようなスキャニングにおいて、所定値V1以上
の電圧が同一櫛歯間に連続して2回検出されたときにそ
の櫛歯間(セレクタゾーン)にスタイラスペン5が位置
するとの判定を行うものである。
【0024】次に上述本発明装置の動作について説明す
る。座標軸1軸について、2つの座標検出導線と1つの
セレクタ導線を備えた電磁誘導形座標検出装置におい
て、セレクタ導線の隣接する櫛歯間の境界(各端子T1
〜Tnへのセレクタ導線(櫛歯))近傍位置における誤
検出を防止するため、櫛歯間の誘起電圧検出のスキャニ
ングを、各櫛歯間を1ループとしたときに2ループ単位
で1ループずつずらして行う方法がある。このスキャニ
ング方法を採った場合、所定値以上の電圧が同一櫛歯間
に連続して2回検出されたときにその櫛歯間に前記座標
指示器が位置するとの判定を行うことになる。そこで、
従来装置では、有効エリア(有効読取範囲)の外側(無
効エリア)に2ループ分のセレクタ導線10の櫛歯(端
子T0,T1へのセレクタ導線10)を配置していた(図
4(a)参照)。
る。座標軸1軸について、2つの座標検出導線と1つの
セレクタ導線を備えた電磁誘導形座標検出装置におい
て、セレクタ導線の隣接する櫛歯間の境界(各端子T1
〜Tnへのセレクタ導線(櫛歯))近傍位置における誤
検出を防止するため、櫛歯間の誘起電圧検出のスキャニ
ングを、各櫛歯間を1ループとしたときに2ループ単位
で1ループずつずらして行う方法がある。このスキャニ
ング方法を採った場合、所定値以上の電圧が同一櫛歯間
に連続して2回検出されたときにその櫛歯間に前記座標
指示器が位置するとの判定を行うことになる。そこで、
従来装置では、有効エリア(有効読取範囲)の外側(無
効エリア)に2ループ分のセレクタ導線10の櫛歯(端
子T0,T1へのセレクタ導線10)を配置していた(図
4(a)参照)。
【0025】本発明による前記誘起電圧検出スキャニン
グ手段は、セレクタ導線10に誘起された電圧が当該セ
レクタ導線10のどの櫛歯間であるかの判定のための櫛
歯間の誘起電圧検出スキャニングを、各櫛歯間を1ルー
プとしたときに、最外側の2つの櫛歯間については最初
に1ループ単位で、次にその1ループ及びそれに隣接す
る1ループの2ループ単位で、それ以降は2ループ単位
で1ループずつずらして行う。すなわち本発明では、図
1(a)に示すように、まず、端子T1−T2間、次に端
子T1−T3間、次に端子T2−T4間というようにスキャ
ニングして行くのである。以下、これらの端子間をルー
プ、何番目のループかを示す番号をループ番号という
と、図1(a)で、端子T1−T2間はループ1番(ルー
プNo.1)、端子T1−T3間はループ2番(ループN
o.2)…となる。
グ手段は、セレクタ導線10に誘起された電圧が当該セ
レクタ導線10のどの櫛歯間であるかの判定のための櫛
歯間の誘起電圧検出スキャニングを、各櫛歯間を1ルー
プとしたときに、最外側の2つの櫛歯間については最初
に1ループ単位で、次にその1ループ及びそれに隣接す
る1ループの2ループ単位で、それ以降は2ループ単位
で1ループずつずらして行う。すなわち本発明では、図
1(a)に示すように、まず、端子T1−T2間、次に端
子T1−T3間、次に端子T2−T4間というようにスキャ
ニングして行くのである。以下、これらの端子間をルー
プ、何番目のループかを示す番号をループ番号という
と、図1(a)で、端子T1−T2間はループ1番(ルー
プNo.1)、端子T1−T3間はループ2番(ループN
o.2)…となる。
【0026】そしてこのようなスキャニング方法(シー
ケンス)とこれにより得られるPD値(周期内検出座標
値)により、スタイラスペン5の位置に応じて図1
(c)に示すように変化する電圧波形が得られる。そし
て、この電圧波形中、所定の電圧レベルV1より大きい
場合に座標値決定用電圧レベルが検出されたとし、その
検出回数(2回)によりスタイラスペン5が何番目のル
ープ(セレクタゾーン)に位置するかを決定し、これに
PD値を用いることによりスタイラスペン5が指示する
座標値が決定されるものである。すなわち、座標指示器
の位置Bを検出する場合、図1(c)に示されるように
ループNo.1ではVb5の電圧レベルが検出され、ル
ープNo.2では、Vb6の電圧レベルが検出され、座
標値決定用電圧レベルの検出回数2回ということで、ス
タイラスペン5は端子T2−T3間のセレクタゾーンに位
置すると判定される。
ケンス)とこれにより得られるPD値(周期内検出座標
値)により、スタイラスペン5の位置に応じて図1
(c)に示すように変化する電圧波形が得られる。そし
て、この電圧波形中、所定の電圧レベルV1より大きい
場合に座標値決定用電圧レベルが検出されたとし、その
検出回数(2回)によりスタイラスペン5が何番目のル
ープ(セレクタゾーン)に位置するかを決定し、これに
PD値を用いることによりスタイラスペン5が指示する
座標値が決定されるものである。すなわち、座標指示器
の位置Bを検出する場合、図1(c)に示されるように
ループNo.1ではVb5の電圧レベルが検出され、ル
ープNo.2では、Vb6の電圧レベルが検出され、座
標値決定用電圧レベルの検出回数2回ということで、ス
タイラスペン5は端子T2−T3間のセレクタゾーンに位
置すると判定される。
【0027】図1(a)に示すように、有効エリア(有
効読取範囲)の外側(無効エリア)にまでセレクタ導線
10の櫛歯(端子T1へのセレクタ導線10)が必要
(但し、従来装置の1/2のエリア)とするのは、有効
エリアの外側にスタイラスペン5が置かれたことを正し
く判定するためである。すなわち、有効エリアの外側に
置かれたスタイラスペン5の位置Aを検出する場合、図
1(c)に示されるようにループNo.0ではVa4の
電圧レベルが検出され、ループNo.1では、Va5の
電圧レベルが検出され、座標値決定用電圧レベルの検出
回数2回ということで、スタイラスペン5は端子T1−
T2間のセレクタゾーンに位置することとなり、有効エ
リアの外側(無効エリア)にあると判定される。
効読取範囲)の外側(無効エリア)にまでセレクタ導線
10の櫛歯(端子T1へのセレクタ導線10)が必要
(但し、従来装置の1/2のエリア)とするのは、有効
エリアの外側にスタイラスペン5が置かれたことを正し
く判定するためである。すなわち、有効エリアの外側に
置かれたスタイラスペン5の位置Aを検出する場合、図
1(c)に示されるようにループNo.0ではVa4の
電圧レベルが検出され、ループNo.1では、Va5の
電圧レベルが検出され、座標値決定用電圧レベルの検出
回数2回ということで、スタイラスペン5は端子T1−
T2間のセレクタゾーンに位置することとなり、有効エ
リアの外側(無効エリア)にあると判定される。
【0028】本発明装置では、このように有効エリアの
外側に置かれたスタイラスペン5の位置Aを誤りなく検
出できる一方で、図1(a)と図4(a)を比べてみれ
ば分かるように、有効エリア(有効読取範囲)の外側
(無効エリア)は、本発明装置(図1(a))のほうが
図4(a)に比べて1/2となっている。
外側に置かれたスタイラスペン5の位置Aを誤りなく検
出できる一方で、図1(a)と図4(a)を比べてみれ
ば分かるように、有効エリア(有効読取範囲)の外側
(無効エリア)は、本発明装置(図1(a))のほうが
図4(a)に比べて1/2となっている。
【0029】これによれば、所定値V1以上の電圧が同
一櫛歯間(セレクタゾーン)に連続して2回検出された
ときにその櫛歯間にスタイラスペン5が位置するとの判
定手法を採りつつ、無効エリアは従来の1/2で済み
(1ループ分のセレクタ導線10の櫛歯(端子T1への
セレクタ導線10)のみ必要で、端子T0へのセレクタ
導線10は不要となり)、タブレット7の外形寸法の縮
小化ないし有効エリアの拡大化が図れることになる。
一櫛歯間(セレクタゾーン)に連続して2回検出された
ときにその櫛歯間にスタイラスペン5が位置するとの判
定手法を採りつつ、無効エリアは従来の1/2で済み
(1ループ分のセレクタ導線10の櫛歯(端子T1への
セレクタ導線10)のみ必要で、端子T0へのセレクタ
導線10は不要となり)、タブレット7の外形寸法の縮
小化ないし有効エリアの拡大化が図れることになる。
【0030】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、座
標軸1軸につき2つの蛇行状の座標検出導線と1つの櫛
歯状のセレクタ導線を備えたもので、セレクタ導線の隣
接する櫛歯間の境界近傍位置における誤検出を防止する
ため、櫛歯間の誘起電圧検出のスキャニングを、各櫛歯
間を1ループとしたときに2ループ単位で1ループずつ
ずらして行う方法を採った電磁誘導形座標検出装置にお
いて、最外側の2つの櫛歯間(最初(原点側)及び最後
(最大値側)のスキャニング部)については従来方法の
1/2の単位(1ループ単位)で検出を行うようにした
ので、所定値以上の電圧が同一櫛歯間に連続して2回検
出されたときにその櫛歯間に座標指示器が位置するとの
判定手法を採りつつ、無効エリアは従来の1/2で済
み、タブレットの外形寸法の縮小化ないし有効エリアの
拡大化が図れるという効果がある。
標軸1軸につき2つの蛇行状の座標検出導線と1つの櫛
歯状のセレクタ導線を備えたもので、セレクタ導線の隣
接する櫛歯間の境界近傍位置における誤検出を防止する
ため、櫛歯間の誘起電圧検出のスキャニングを、各櫛歯
間を1ループとしたときに2ループ単位で1ループずつ
ずらして行う方法を採った電磁誘導形座標検出装置にお
いて、最外側の2つの櫛歯間(最初(原点側)及び最後
(最大値側)のスキャニング部)については従来方法の
1/2の単位(1ループ単位)で検出を行うようにした
ので、所定値以上の電圧が同一櫛歯間に連続して2回検
出されたときにその櫛歯間に座標指示器が位置するとの
判定手法を採りつつ、無効エリアは従来の1/2で済
み、タブレットの外形寸法の縮小化ないし有効エリアの
拡大化が図れるという効果がある。
【図1】本発明装置の一実施例の説明図である。
【図2】本発明装置の一実施例の要部を示すブロック図
である。
である。
【図3】従来装置の一実施例を示すブロック図である。
【図4】従来装置の説明図である。
5 スタイラスペン(座標指示器) 6 コイル 7 タブレット(ベース) 8 cos線(座標検出導線) 9 sin線(座標検出導線) 10 セレクタ導線 21 信号処理回路(誘起電圧検出スキャニング手
段) V セレクタ導線の誘起電圧(セレクタ導線検出電
圧)
段) V セレクタ導線の誘起電圧(セレクタ導線検出電
圧)
Claims (1)
- 【請求項1】 交流電源により励磁されるコイルを備え
た座標指示器と、電気角90度の位相差をもち、相互に
絶縁されてベース上に蛇行状に配置された2つの座標検
出導線と、この2つの座標検出導線と絶縁されて前記ベ
ース上に配置され、かつ前記2つの座標検出導線のうち
の一方の座標検出導線の1周期間隔と櫛歯間隔を一致さ
せて形成された櫛歯状のセレクタ導線と、前記ベース上
に前記座標指示器が置かれたときの前記2つの座標検出
導線の誘起電圧信号で前記一方の座標検出導線の1周期
内における基準位置からの前記座標指示器の位置を、同
じく前記セレクタ導線の誘起電圧で前記2つの座標検出
導線の周期域を、各々検出し、これら2つの検出結果か
ら前記座標指示器の位置を座標値として検出する信号処
理回路とを備えてなる電磁誘導形座標検出装置におい
て、 前記セレクタ導線に誘起された電圧が当該セレクタ導線
のどの櫛歯間であるかの判定のための櫛歯間の誘起電圧
検出のスキャニングを、各櫛歯間を1ループとしたとき
に、最外側の2つの櫛歯間については最初に1ループ単
位で、次にその1ループ及びそれに隣接する1ループの
2ループ単位で、それ以降は2ループ単位で1ループず
つずらして行う誘起電圧検出スキャニング手段を備え、 前記信号処理回路は、前記スキャニングにおいて所定値
以上の電圧が同一櫛歯間に連続して2回検出されたとき
にその櫛歯間に前記座標指示器が位置するとの判定を行
うことを特徴とする電磁誘導形座標検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26164492A JPH06109407A (ja) | 1992-09-30 | 1992-09-30 | 電磁誘導形座標検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26164492A JPH06109407A (ja) | 1992-09-30 | 1992-09-30 | 電磁誘導形座標検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06109407A true JPH06109407A (ja) | 1994-04-19 |
Family
ID=17364768
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP26164492A Withdrawn JPH06109407A (ja) | 1992-09-30 | 1992-09-30 | 電磁誘導形座標検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06109407A (ja) |
-
1992
- 1992-09-30 JP JP26164492A patent/JPH06109407A/ja not_active Withdrawn
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19991130 |