JPH06110073A - 表示素子の端子引出構造 - Google Patents
表示素子の端子引出構造Info
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- JPH06110073A JPH06110073A JP4261713A JP26171392A JPH06110073A JP H06110073 A JPH06110073 A JP H06110073A JP 4261713 A JP4261713 A JP 4261713A JP 26171392 A JP26171392 A JP 26171392A JP H06110073 A JPH06110073 A JP H06110073A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 透明導電層と、それに積層される金属導電層
との接合部の密着力を強化することができる端子引出構
造を提供する。 【構成】 基板21上に液晶表示素子22から引出され
た透明導電膜23が形成され、その上にクロム膜24が
形成され、さらにその上にアルミ膜25が形成されてい
る。アルミ膜25およびクロム膜24の周縁は、透明導
電膜23よりも内側である。液晶表示素子22の端子引
出部とICの端子部とは、ワイヤボンディングによって
電気的に接続される。
との接合部の密着力を強化することができる端子引出構
造を提供する。 【構成】 基板21上に液晶表示素子22から引出され
た透明導電膜23が形成され、その上にクロム膜24が
形成され、さらにその上にアルミ膜25が形成されてい
る。アルミ膜25およびクロム膜24の周縁は、透明導
電膜23よりも内側である。液晶表示素子22の端子引
出部とICの端子部とは、ワイヤボンディングによって
電気的に接続される。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、たとえば液晶表示素子
などの表示素子において、ワイヤボンディングによる電
気的接続を行うために、透明導電膜から引出される端子
部の構造に関する。
などの表示素子において、ワイヤボンディングによる電
気的接続を行うために、透明導電膜から引出される端子
部の構造に関する。
【0002】
【従来の技術】図5は、従来の液晶表示素子の端子引出
部の斜視図である。このような端子引出構造は、たとえ
ば実公平4−25729号公報において開示されてい
る。図5図示の端子引出部において、基板1上に液晶表
示素子2を外部に接続するため、酸化スズを含む酸化イ
ンジウム(ITO)などの透明導電膜3が形成され、そ
の上にクロム膜4が形成され、さらにその上にアルミ膜
5が形成されている。液晶表示素子2はコンパクト化お
よび高信頼性を図る目的で、液晶表示素子2を駆動する
ための集積回路(IC)を基板1の一方に搭載してい
る。液晶表示素子2の端子引出部とICの端子部とは、
ワイヤボンディングによって電気的に接続される。この
ように接続する方式をCOG方式と称する。このワイヤ
ボンディングによって接続を行う場合、液晶表示素子2
の端子引出部の表面は、ボンディングワイヤとの密着強
度の強い材料が必要であるので、アルミ膜5が形成され
ている。また透明導電膜3とアルミ膜5との間は密着強
度が不充分なため、クロム膜4などの中間層を介在さ
せ、密着強度の強化を図っている。
部の斜視図である。このような端子引出構造は、たとえ
ば実公平4−25729号公報において開示されてい
る。図5図示の端子引出部において、基板1上に液晶表
示素子2を外部に接続するため、酸化スズを含む酸化イ
ンジウム(ITO)などの透明導電膜3が形成され、そ
の上にクロム膜4が形成され、さらにその上にアルミ膜
5が形成されている。液晶表示素子2はコンパクト化お
よび高信頼性を図る目的で、液晶表示素子2を駆動する
ための集積回路(IC)を基板1の一方に搭載してい
る。液晶表示素子2の端子引出部とICの端子部とは、
ワイヤボンディングによって電気的に接続される。この
ように接続する方式をCOG方式と称する。このワイヤ
ボンディングによって接続を行う場合、液晶表示素子2
の端子引出部の表面は、ボンディングワイヤとの密着強
度の強い材料が必要であるので、アルミ膜5が形成され
ている。また透明導電膜3とアルミ膜5との間は密着強
度が不充分なため、クロム膜4などの中間層を介在さ
せ、密着強度の強化を図っている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】液晶表示素子は、高機
能化および小形化に伴い、配線パターンのピッチが狭く
なってきている。これによって、液晶表示素子の透明導
電膜上に形成された端子引出部の表面積も小さくなり、
充分な密着力が得られなくなる。このため、図6に示す
ようにワイヤボンディング10を行う場合、液晶表示素
子の端子引出部の一部が、透明導電膜3とクロム膜4と
の界面から剥離してしまうことがある。ここで図6
(a)は端子引出部のワイヤボンディングによる剥離状
態の側面図を示し、図6(b)はその斜視図を示したも
のである。このような端子引出部の剥離の原因は、端子
引出部の表面積の減少による密着力の低下もその1つで
あるけれども、この密着力は端子引出部の表面積だけで
決定されるものではない。すなわち、端子引出部の密着
力は、透明導電膜3、クロム膜4、およびアルミ膜5な
どの積層物の密着状態によって大きく影響を受ける。
能化および小形化に伴い、配線パターンのピッチが狭く
なってきている。これによって、液晶表示素子の透明導
電膜上に形成された端子引出部の表面積も小さくなり、
充分な密着力が得られなくなる。このため、図6に示す
ようにワイヤボンディング10を行う場合、液晶表示素
子の端子引出部の一部が、透明導電膜3とクロム膜4と
の界面から剥離してしまうことがある。ここで図6
(a)は端子引出部のワイヤボンディングによる剥離状
態の側面図を示し、図6(b)はその斜視図を示したも
のである。このような端子引出部の剥離の原因は、端子
引出部の表面積の減少による密着力の低下もその1つで
あるけれども、この密着力は端子引出部の表面積だけで
決定されるものではない。すなわち、端子引出部の密着
力は、透明導電膜3、クロム膜4、およびアルミ膜5な
どの積層物の密着状態によって大きく影響を受ける。
【0004】図7は、従来の端子引出部の断面図であ
る。透明導電膜3、クロム膜4、およびアルミ膜5など
の層は、全て同一面積および同一形状で積層されて、揃
った状態になっている。このような端子引出部を製造す
る場合、基板1に透明導電膜3、クロム膜4およびアル
ミ膜5の3層をスパッタと称する薄膜作成方法によって
成膜する。次にその成膜した上にポジレジストを塗布
し、所定のパターンのマスクを介して露光し、現像を行
い、さらにそれぞれの層のエッチングを行う。このと
き、まず最上層のアルミ膜5用のエッチング液を通して
エッチングを行い、洗浄し、次にクロム膜4用のエッチ
ング液を通してエッチングを行い洗浄する。さらに透明
導電膜3用のエッチング液を通してエッチングを行い、
洗浄する。このようにして、エッチングの工程が完了す
ると、レジスト剥離工程によってポジレジストを剥離
し、所望の端子引出部のパターンを形成することができ
る。ここで注目すべきは、一連の工程の中で、透明導電
膜3のエッチングのとき、エッチング液が透明導電膜3
とクロム膜4の界面に入り込み、その結果、図7のよう
にパターンエッジ部12がめくれることである。これに
よって、透明導電膜3とクロム膜4との密着力が低下
し、端子引出部全体の密着力の低下をもたらす。
る。透明導電膜3、クロム膜4、およびアルミ膜5など
の層は、全て同一面積および同一形状で積層されて、揃
った状態になっている。このような端子引出部を製造す
る場合、基板1に透明導電膜3、クロム膜4およびアル
ミ膜5の3層をスパッタと称する薄膜作成方法によって
成膜する。次にその成膜した上にポジレジストを塗布
し、所定のパターンのマスクを介して露光し、現像を行
い、さらにそれぞれの層のエッチングを行う。このと
き、まず最上層のアルミ膜5用のエッチング液を通して
エッチングを行い、洗浄し、次にクロム膜4用のエッチ
ング液を通してエッチングを行い洗浄する。さらに透明
導電膜3用のエッチング液を通してエッチングを行い、
洗浄する。このようにして、エッチングの工程が完了す
ると、レジスト剥離工程によってポジレジストを剥離
し、所望の端子引出部のパターンを形成することができ
る。ここで注目すべきは、一連の工程の中で、透明導電
膜3のエッチングのとき、エッチング液が透明導電膜3
とクロム膜4の界面に入り込み、その結果、図7のよう
にパターンエッジ部12がめくれることである。これに
よって、透明導電膜3とクロム膜4との密着力が低下
し、端子引出部全体の密着力の低下をもたらす。
【0005】本発明の目的は、透明導電層と、それに積
層される金属導電層との接合部の密着力を強化すること
ができる端子引出構造を提供することである。
層される金属導電層との接合部の密着力を強化すること
ができる端子引出構造を提供することである。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明は、透明導電層上
に少なくとも1つの金属導電層を積層して、ワイヤボン
ディング用パターンが形成されて成る表示素子の端子引
出構造において、前記金属導電層の周縁が透明導電層の
周縁よりも内側であることを特徴とする表示素子の端子
引出構造である。
に少なくとも1つの金属導電層を積層して、ワイヤボン
ディング用パターンが形成されて成る表示素子の端子引
出構造において、前記金属導電層の周縁が透明導電層の
周縁よりも内側であることを特徴とする表示素子の端子
引出構造である。
【0007】
【作用】本発明に従えば、表示素子の端子引出部である
ワイヤボンディング用パターンにおいて、金属導電層の
周縁は、透明導電層の周縁よりも内側となるように形成
される。たとえば、透明導電膜のパターン製造工程と金
属導電層のパターン製造工程とを別にして、各層を形成
する。このような製法が可能であるので、透明導電層と
金属導電層の界面に透明導電層のエッチング液が染み込
まないため、ワイヤボンディン用パターンエッジ部のめ
くれを防止することができる。したがって、透明導電層
とそれに積層されている金属導電層との接合部の密着強
度の強化を図ることができる。
ワイヤボンディング用パターンにおいて、金属導電層の
周縁は、透明導電層の周縁よりも内側となるように形成
される。たとえば、透明導電膜のパターン製造工程と金
属導電層のパターン製造工程とを別にして、各層を形成
する。このような製法が可能であるので、透明導電層と
金属導電層の界面に透明導電層のエッチング液が染み込
まないため、ワイヤボンディン用パターンエッジ部のめ
くれを防止することができる。したがって、透明導電層
とそれに積層されている金属導電層との接合部の密着強
度の強化を図ることができる。
【0008】
【実施例】図1は、本発明の一実施例における液晶表示
素子の端子引出部の斜視図である。基板21上に液晶表
示素子22から引出された透明導電膜23が形成され、
その上にクロム膜24が形成され、さらにその上にアル
ミ膜25が形成されている。液晶表示素子22は、この
端子引出部と透明導電膜23を介して、電気的に接続さ
れている。液晶表示素子22は、コンパクト化および高
信頼性を図る目的で、液晶表示素子22を駆動するため
のICをこの基板21の一方に搭載している。液晶表示
素子22の端子引出部とICの端子部とは、ワイヤボン
ディングによって電気的に接続されている。このワイヤ
ボンディングによって接続を行う場合、液晶表示素子2
2の端子引出部の表面は、ボンディングワイヤとの密着
強度の強い材料が必要であるため、アルミ膜25が形成
されている。また透明導電膜23とアルミ膜25との間
の密着強度が不充分なため、クロム膜24などの中間層
を介在させ、密着強度の強化を図っている。また、クロ
ム膜24のパターンエッジは透明導電膜用のパターンエ
ッジより内側に形成されており、製造工程におけるエッ
チング液の染み込みによるパターンエッジ部のめくれを
防止している。
素子の端子引出部の斜視図である。基板21上に液晶表
示素子22から引出された透明導電膜23が形成され、
その上にクロム膜24が形成され、さらにその上にアル
ミ膜25が形成されている。液晶表示素子22は、この
端子引出部と透明導電膜23を介して、電気的に接続さ
れている。液晶表示素子22は、コンパクト化および高
信頼性を図る目的で、液晶表示素子22を駆動するため
のICをこの基板21の一方に搭載している。液晶表示
素子22の端子引出部とICの端子部とは、ワイヤボン
ディングによって電気的に接続されている。このワイヤ
ボンディングによって接続を行う場合、液晶表示素子2
2の端子引出部の表面は、ボンディングワイヤとの密着
強度の強い材料が必要であるため、アルミ膜25が形成
されている。また透明導電膜23とアルミ膜25との間
の密着強度が不充分なため、クロム膜24などの中間層
を介在させ、密着強度の強化を図っている。また、クロ
ム膜24のパターンエッジは透明導電膜用のパターンエ
ッジより内側に形成されており、製造工程におけるエッ
チング液の染み込みによるパターンエッジ部のめくれを
防止している。
【0009】図2は、図1図示の実施例における液晶表
示素子の端子引出部の製造工程を示す。図2(a)図示
の工程は、基板21上に、ITOによる透明導電膜(2
000A)23、クロム膜(500A)24およびアル
ミ膜(10000A)25を順次、スパッタと称する薄
膜作成方法によって成膜する。なお、「A」はオングス
トロームを表すものとする。次に図2(b)図示の工程
で、成膜したアルミ膜25上に、ポジレジスト26を塗
布し、所定のパターンのマスク27を介して露光し、図
2(c)図示の工程において現像を行う。次に図2
(d)図示の工程において、現像された所定のパターン
に基づいて、エッチングを行う。まず最上層のアルミ膜
25に、リン酸を含む混酸溶液などのアルミ用エッチン
グ液を通し、エッチングを行い洗浄する。その後、クロ
ム膜24に、硝酸第2セリウムアンモニウム溶液などの
クロム用エッチング液を通しエッチングを行い洗浄す
る。次に図2(e)図示の工程では、レジスト剥離を行
い、ポジレジスト26を剥離し、アルミ膜25およびク
ロム膜24を所望のパターンに形成することができる。
図2(f)〜(i)図示の工程は、透明導電膜23のパ
ターンエッジを、前の工程で形成されたアルミ膜25お
よびクロム膜24のパターンエッジよりも5〜10μm
外側に形成するための工程である。図2(f)図示の工
程において、図2(e)図示の工程で形成されたパター
ンに、再度ポジレジスト30を塗布し、透明導電膜23
のパターンを形成するためのマスク31を介して、露光
し、図2(g)図示の工程で現像を行う。図2(h)図
示の工程において、塩酸系混酸などのITO透明導電膜
用のエッチング液を通してエッチングを行い、洗浄を行
う。ここで注目すべきは、透明導電膜用のエッチング液
を通すときに、クロム膜24は、ポジレジスト30によ
って保護されているため、エッチング液が透明導電膜2
3とクロム膜24との界面に染み込むことはない。した
がって、クロム膜24のパターンエッジ部のめくれを防
止することができる。図2(i)図示のレジスト剥離の
工程では、ポジレジスト30の剥離が行われ、所望のパ
ターンを形成することができる。したがって、アルミや
クロムといった金属導電膜のパターンエッジが透明導電
膜23のパターンエッジより内側にある引出端子部を形
成することができる。またこの後、透明導電膜の低抵抗
化のために、300℃で焼成することもできる。
示素子の端子引出部の製造工程を示す。図2(a)図示
の工程は、基板21上に、ITOによる透明導電膜(2
000A)23、クロム膜(500A)24およびアル
ミ膜(10000A)25を順次、スパッタと称する薄
膜作成方法によって成膜する。なお、「A」はオングス
トロームを表すものとする。次に図2(b)図示の工程
で、成膜したアルミ膜25上に、ポジレジスト26を塗
布し、所定のパターンのマスク27を介して露光し、図
2(c)図示の工程において現像を行う。次に図2
(d)図示の工程において、現像された所定のパターン
に基づいて、エッチングを行う。まず最上層のアルミ膜
25に、リン酸を含む混酸溶液などのアルミ用エッチン
グ液を通し、エッチングを行い洗浄する。その後、クロ
ム膜24に、硝酸第2セリウムアンモニウム溶液などの
クロム用エッチング液を通しエッチングを行い洗浄す
る。次に図2(e)図示の工程では、レジスト剥離を行
い、ポジレジスト26を剥離し、アルミ膜25およびク
ロム膜24を所望のパターンに形成することができる。
図2(f)〜(i)図示の工程は、透明導電膜23のパ
ターンエッジを、前の工程で形成されたアルミ膜25お
よびクロム膜24のパターンエッジよりも5〜10μm
外側に形成するための工程である。図2(f)図示の工
程において、図2(e)図示の工程で形成されたパター
ンに、再度ポジレジスト30を塗布し、透明導電膜23
のパターンを形成するためのマスク31を介して、露光
し、図2(g)図示の工程で現像を行う。図2(h)図
示の工程において、塩酸系混酸などのITO透明導電膜
用のエッチング液を通してエッチングを行い、洗浄を行
う。ここで注目すべきは、透明導電膜用のエッチング液
を通すときに、クロム膜24は、ポジレジスト30によ
って保護されているため、エッチング液が透明導電膜2
3とクロム膜24との界面に染み込むことはない。した
がって、クロム膜24のパターンエッジ部のめくれを防
止することができる。図2(i)図示のレジスト剥離の
工程では、ポジレジスト30の剥離が行われ、所望のパ
ターンを形成することができる。したがって、アルミや
クロムといった金属導電膜のパターンエッジが透明導電
膜23のパターンエッジより内側にある引出端子部を形
成することができる。またこの後、透明導電膜の低抵抗
化のために、300℃で焼成することもできる。
【0010】図3は、本発明の他の実施例における液晶
表示素子の端子引出部の製造工程を示す。本実施例は図
2の実施例に類似し、対応する部分には同一の参照符を
付す。図3(a)図示の工程は、基板21上に、透明導
電膜(2000A)23、クロム膜(500A)24お
よびアルミ膜(10000A)25を順次スパッタと称
する薄膜作成方法で成膜する。次に図3(b)図示の工
程では、成膜したアルミ膜25上に、ポジレジスト26
を塗布し、所定のパターンのマスク40を介して露光
し、図3(c)図示の工程において現像を行う。次に図
3(d)図示の工程において、現像された所定のパター
ンに基づいてエッチングを行う。まず最上層のアルミ膜
25に、アルミ用エッチング液を通し、エッチングを行
い洗浄する。その後、クロム膜24に、クロム用エッチ
ング液を通しエッチングを行い洗浄する。さらに透明導
電膜23に、透明導電膜用エッチング液を通しエッチン
グを行い洗浄する。参照符41の部分は、透明導電膜2
3のエッチングのときに、エッチング液が透明導電膜2
3とクロム膜24との界面に入り込み、めくれが生じ、
密着力が低下している部分である。次に図3(e)図示
の工程では、レジストを剥離を行い、ポジレジスト26
を剥離する。このときの形成されたパターンは、完成さ
れた透明導電膜21のパターンに各層が全て揃えられた
状態であり、同一形状になる。次に図3(f)図示の工
程では、パターンが形成された基板21に、再度ポジレ
ジスト42を塗布する。この後、すでにパターンが形成
されている透明導電膜23のパターンエッジよりも少し
内側に、アルミ膜25およびクロム膜24を形成するよ
うにパターンのマスク43を行い、露光し、図3(g)
図示の工程で現像を行う。これは、図3(d)図示の工
程で形成された密着力の低下している部分41を除去す
るためである。次に図3(h)図示の工程において、現
像された所定のパターンに基づいてエッチングを行う。
まず最上層のアルミ膜25に、アルミ用エッチング液を
通し、エッチングを行い洗浄する。その後、クロム膜2
4に、クロム用エッチング液を通し、エッチングを行い
洗浄する。したがって、この工程において図3(d)図
示の工程で形成された密着力の低下している部分41を
除去することができる。図3(i)図示の工程では、レ
ジスト剥離を行い、ポジレジスト42を剥離し、所望の
パターンを形成することができる。したがって、アルミ
およびクロムといった金属導電層のパターンエッジが透
明導電膜のパターンエッジより内側にある端子引出部を
形成することができる。
表示素子の端子引出部の製造工程を示す。本実施例は図
2の実施例に類似し、対応する部分には同一の参照符を
付す。図3(a)図示の工程は、基板21上に、透明導
電膜(2000A)23、クロム膜(500A)24お
よびアルミ膜(10000A)25を順次スパッタと称
する薄膜作成方法で成膜する。次に図3(b)図示の工
程では、成膜したアルミ膜25上に、ポジレジスト26
を塗布し、所定のパターンのマスク40を介して露光
し、図3(c)図示の工程において現像を行う。次に図
3(d)図示の工程において、現像された所定のパター
ンに基づいてエッチングを行う。まず最上層のアルミ膜
25に、アルミ用エッチング液を通し、エッチングを行
い洗浄する。その後、クロム膜24に、クロム用エッチ
ング液を通しエッチングを行い洗浄する。さらに透明導
電膜23に、透明導電膜用エッチング液を通しエッチン
グを行い洗浄する。参照符41の部分は、透明導電膜2
3のエッチングのときに、エッチング液が透明導電膜2
3とクロム膜24との界面に入り込み、めくれが生じ、
密着力が低下している部分である。次に図3(e)図示
の工程では、レジストを剥離を行い、ポジレジスト26
を剥離する。このときの形成されたパターンは、完成さ
れた透明導電膜21のパターンに各層が全て揃えられた
状態であり、同一形状になる。次に図3(f)図示の工
程では、パターンが形成された基板21に、再度ポジレ
ジスト42を塗布する。この後、すでにパターンが形成
されている透明導電膜23のパターンエッジよりも少し
内側に、アルミ膜25およびクロム膜24を形成するよ
うにパターンのマスク43を行い、露光し、図3(g)
図示の工程で現像を行う。これは、図3(d)図示の工
程で形成された密着力の低下している部分41を除去す
るためである。次に図3(h)図示の工程において、現
像された所定のパターンに基づいてエッチングを行う。
まず最上層のアルミ膜25に、アルミ用エッチング液を
通し、エッチングを行い洗浄する。その後、クロム膜2
4に、クロム用エッチング液を通し、エッチングを行い
洗浄する。したがって、この工程において図3(d)図
示の工程で形成された密着力の低下している部分41を
除去することができる。図3(i)図示の工程では、レ
ジスト剥離を行い、ポジレジスト42を剥離し、所望の
パターンを形成することができる。したがって、アルミ
およびクロムといった金属導電層のパターンエッジが透
明導電膜のパターンエッジより内側にある端子引出部を
形成することができる。
【0011】図4は、以上の各実施例における液晶表示
素子の端子引出部のパターン構成図である。この端子引
出部において実際にICとのワイヤボンディングを行
い、そのときの条件は、九州松下電器株式会社製ワイヤ
ボンディンダHW2200を使用し、接続は32μm金
線を使用して行った。この場合の端子引出部のパターン
の状態は、従来品と比較した結果、従来品より良好な密
着性を示した。すなわち図6図示のような剥離状態は発
生しなかった。
素子の端子引出部のパターン構成図である。この端子引
出部において実際にICとのワイヤボンディングを行
い、そのときの条件は、九州松下電器株式会社製ワイヤ
ボンディンダHW2200を使用し、接続は32μm金
線を使用して行った。この場合の端子引出部のパターン
の状態は、従来品と比較した結果、従来品より良好な密
着性を示した。すなわち図6図示のような剥離状態は発
生しなかった。
【0012】また、本発明の実施例では、導電層として
アルミを使用し、中間層としてクロムを使用した場合に
ついて説明したけれども、導電層として、金、銀などの
ボンディングワイヤとの密着力のよい材料、また中間層
としてニッケル、チタンなどの材料を使用してもよいの
は勿論である。また製造工程を増やして、中間層と最上
層との形状を異なったものとしてもよい。さらに、導電
層と透明導電層のエッチング工程を分けた製造方法にお
いては、透明導電層のエッチング液がアルミなどの導電
層に接触しないため、透明導電層の膜質の選択自由度は
大きくなる。
アルミを使用し、中間層としてクロムを使用した場合に
ついて説明したけれども、導電層として、金、銀などの
ボンディングワイヤとの密着力のよい材料、また中間層
としてニッケル、チタンなどの材料を使用してもよいの
は勿論である。また製造工程を増やして、中間層と最上
層との形状を異なったものとしてもよい。さらに、導電
層と透明導電層のエッチング工程を分けた製造方法にお
いては、透明導電層のエッチング液がアルミなどの導電
層に接触しないため、透明導電層の膜質の選択自由度は
大きくなる。
【0013】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、ワイヤボ
ンディング用パターンが形成される表示素子の端子引出
構造において、金属導電層の周縁が透明導電層の周縁よ
りも内側となるように形成することによって、金属導電
層と透明導電層との接合部の密着力を強化することがで
きる。これによって、ワイヤボンディング時の配線パッ
ドの剥がれを防止することができ、信頼性および製造歩
留りを向上させることができる。また本発明は、製造工
程においてマスク変更の必要性はあるけれども、従来の
工程を組合わせるだけで容易に実施することができる。
ンディング用パターンが形成される表示素子の端子引出
構造において、金属導電層の周縁が透明導電層の周縁よ
りも内側となるように形成することによって、金属導電
層と透明導電層との接合部の密着力を強化することがで
きる。これによって、ワイヤボンディング時の配線パッ
ドの剥がれを防止することができ、信頼性および製造歩
留りを向上させることができる。また本発明は、製造工
程においてマスク変更の必要性はあるけれども、従来の
工程を組合わせるだけで容易に実施することができる。
【図1】本発明の一実施例における液晶表示素子の端子
引出部の斜視図である。
引出部の斜視図である。
【図2】図1図示の実施例における液晶表示素子の端子
引出部の製造工程を示す断面図である。
引出部の製造工程を示す断面図である。
【図3】本発明の他の実施例における液晶表示素子の端
子引出部の製造工程を示す断面図である。
子引出部の製造工程を示す断面図である。
【図4】図1および図3図示の実施例における液晶表示
素子の端子引出部のパターン構成を示す平面図である。
素子の端子引出部のパターン構成を示す平面図である。
【図5】従来の液晶表示素子の端子引出部の斜視図であ
る。
る。
【図6】従来のワイヤボンディング時の端子引出部にお
ける導電層の剥離例を示す断面図および斜視図である。
ける導電層の剥離例を示す断面図および斜視図である。
【図7】従来の端子引出部の断面図である。
21 基板 22 液晶表示素子 23 透明導電膜 24 クロム膜 25 アルミ膜
Claims (1)
- 【請求項1】 透明導電層上に少なくとも1つの金属導
電層を積層して、ワイヤボンディング用パターンが形成
されて成る表示素子の端子引出構造において、 前記金属導電層の周縁が透明導電層の周縁よりも内側で
あることを特徴とする表示素子の端子引出構造。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26171392A JP3208187B2 (ja) | 1992-09-30 | 1992-09-30 | 表示素子の端子引出部の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26171392A JP3208187B2 (ja) | 1992-09-30 | 1992-09-30 | 表示素子の端子引出部の製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06110073A true JPH06110073A (ja) | 1994-04-22 |
| JP3208187B2 JP3208187B2 (ja) | 2001-09-10 |
Family
ID=17365676
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP26171392A Expired - Fee Related JP3208187B2 (ja) | 1992-09-30 | 1992-09-30 | 表示素子の端子引出部の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3208187B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100516067B1 (ko) * | 1998-08-03 | 2005-11-25 | 삼성전자주식회사 | 액정 표시 장치용 패널 |
| JP2006032952A (ja) * | 2004-07-12 | 2006-02-02 | Shogen Koden Kofun Yugenkoshi | 透明性導電層を含む全方向性リフレクタを有する発光ダイオード |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS53145496A (en) * | 1977-05-24 | 1978-12-18 | Sharp Corp | Display device |
| JPS57103479U (ja) * | 1980-12-15 | 1982-06-25 | ||
| JPH01195285A (ja) * | 1988-01-29 | 1989-08-07 | Stanley Electric Co Ltd | メタライズガラス基板の製造方法 |
-
1992
- 1992-09-30 JP JP26171392A patent/JP3208187B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS53145496A (en) * | 1977-05-24 | 1978-12-18 | Sharp Corp | Display device |
| JPS57103479U (ja) * | 1980-12-15 | 1982-06-25 | ||
| JPH01195285A (ja) * | 1988-01-29 | 1989-08-07 | Stanley Electric Co Ltd | メタライズガラス基板の製造方法 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100516067B1 (ko) * | 1998-08-03 | 2005-11-25 | 삼성전자주식회사 | 액정 표시 장치용 패널 |
| JP2006032952A (ja) * | 2004-07-12 | 2006-02-02 | Shogen Koden Kofun Yugenkoshi | 透明性導電層を含む全方向性リフレクタを有する発光ダイオード |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3208187B2 (ja) | 2001-09-10 |
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