JPH0612253B2 - ハニカム成形用口金の検査方法 - Google Patents
ハニカム成形用口金の検査方法Info
- Publication number
- JPH0612253B2 JPH0612253B2 JP1049598A JP4959889A JPH0612253B2 JP H0612253 B2 JPH0612253 B2 JP H0612253B2 JP 1049598 A JP1049598 A JP 1049598A JP 4959889 A JP4959889 A JP 4959889A JP H0612253 B2 JPH0612253 B2 JP H0612253B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- honeycomb
- die
- slit
- forming die
- photosensitive
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/956—Inspecting patterns on the surface of objects
- G01N21/95692—Patterns showing hole parts, e.g. honeycomb filtering structures
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/30—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N2021/1765—Method using an image detector and processing of image signal
- G01N2021/1768—Method using an image detector and processing of image signal using photographic film
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Press-Shaping Or Shaping Using Conveyers (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明はハニカム成形用口金の検査方法に関するもので
あり、特に坏土供給用の多数の裏孔内表面の加工状態を
正確に検査することができるハニカム成形用口金の検査
方法に関するものである。
あり、特に坏土供給用の多数の裏孔内表面の加工状態を
正確に検査することができるハニカム成形用口金の検査
方法に関するものである。
（従来の技術） 自動車の排気ガス浄化用の触媒担体として広く使用され
ているセラミックス製のハニカム構造体は、幅が０．１
〜０．２mm程度の細幅のスリットとこれに連通する数千
に及ぶ多数の坏土供給用の裏孔とを持つハニカム成形用
口金により押出成形されている。
ているセラミックス製のハニカム構造体は、幅が０．１
〜０．２mm程度の細幅のスリットとこれに連通する数千
に及ぶ多数の坏土供給用の裏孔とを持つハニカム成形用
口金により押出成形されている。
このようなハニカム成形用口金のスリット部分の形状や
寸法精度が成形されたハニカム構造体の品質に直接影響
することはいうまでもないが、坏土供給用の裏孔の内表
面の粗さによってこの部分を通過する坏土の流動抵抗が
変化するため、ハニカム構造体の成形不良を防止するた
めには多数の裏孔の内表面粗さが均一となる様に加工す
ることが必要である。ところがこれらの裏孔は数が極め
て多いうえ、孔径に比べて深さが極めて深いために表面
粗さ計等を使用することもできず、従来は適当な検査方
法がないとされていた。従って、新しいハニカム成形用
口金を使用する際には、まずその口金を押出成形機にセ
ットし、成形されたハニカム構造体に現れた欠陥からそ
の良否を判断するより外に方法がなく、製造現場に多く
の手数と混乱を生じていた。
寸法精度が成形されたハニカム構造体の品質に直接影響
することはいうまでもないが、坏土供給用の裏孔の内表
面の粗さによってこの部分を通過する坏土の流動抵抗が
変化するため、ハニカム構造体の成形不良を防止するた
めには多数の裏孔の内表面粗さが均一となる様に加工す
ることが必要である。ところがこれらの裏孔は数が極め
て多いうえ、孔径に比べて深さが極めて深いために表面
粗さ計等を使用することもできず、従来は適当な検査方
法がないとされていた。従って、新しいハニカム成形用
口金を使用する際には、まずその口金を押出成形機にセ
ットし、成形されたハニカム構造体に現れた欠陥からそ
の良否を判断するより外に方法がなく、製造現場に多く
の手数と混乱を生じていた。
（発明が解決しようとする課題） 本発明は上記したような従来の問題点を解決して、ハニ
カム構造体の品質に大きく影響する坏土供給用の裏孔の
内表面粗さの分布を簡単かつ正確に検査することができ
るハニカム成形用口金の検査方法を提供するために完成
されたものである。
カム構造体の品質に大きく影響する坏土供給用の裏孔の
内表面粗さの分布を簡単かつ正確に検査することができ
るハニカム成形用口金の検査方法を提供するために完成
されたものである。
（課題を解決するための手段） 上記の課題を解決するための本発明は、細幅のスリット
とこれに連通する多数の裏孔とを持つハニカム成形用口
金のスリット側端面から均一強度の拡散光線を入射し、
裏孔の内表面で乱反射しつつ裏孔側に達した光線の強度
をハニカム成形用口金の裏孔側の端面に設置した感光手
段により検出し、その明暗により多数の裏孔の内表面の
粗さを知ることを特徴とするものである。
とこれに連通する多数の裏孔とを持つハニカム成形用口
金のスリット側端面から均一強度の拡散光線を入射し、
裏孔の内表面で乱反射しつつ裏孔側に達した光線の強度
をハニカム成形用口金の裏孔側の端面に設置した感光手
段により検出し、その明暗により多数の裏孔の内表面の
粗さを知ることを特徴とするものである。
（実施例） 以下に本発明のハニカム成形用口金の検査方法を図示の
実施例とともに詳細に説明する。
実施例とともに詳細に説明する。
第１図及び第２図において、(1)は検査対象であるハニ
カム成形用口金であり、前述したように幅が極めて細い
スリット(2)とこれに連通する数千に及ぶ多数の坏土供
給用の裏孔(3)とを持つものである。このようなハニカ
ム成形用口金(1)は、内部に光源群(4))を備えた検査台
(5)の開放された上面に、支持ガラス板(6)及びすりガラ
スのような光拡散板(7)を介して置かれる。このとき、
ハニカム成形用口金(1)のスリット(2)側の端面を光拡散
板(7)に向けるものとし、第２図に示すように光源群(4)
からの光線が支持ガラス板面で均一強度となる様に、光
源群(4)及び支持ガラス板(6)を配置することが好まし
い。また、検査台(5)には内部冷却用のファン(8)を設け
ておくことが好ましい。一方、ハニカム成形用口金(1)
の裏孔(3)側の端面には感光手段(9)が設置されている。
感光手段(9)は例えば感光紙であり、平板状のウエイト
(10)によりハニカム成形用口金(1)の端面に密着されて
いる。この時、光源群(4)は感光紙が最も感光紙が最も
感光し易い波長を輻射するものを用いるのが好ましい。
このほか、感光手段(9)としてイメージリーダのような
光の強度を直接電気信号に変換することができる手段を
用い該電気信号を演算処理し、検査結果を例えばＴＶモ
ニター等に出力することも可能である。
カム成形用口金であり、前述したように幅が極めて細い
スリット(2)とこれに連通する数千に及ぶ多数の坏土供
給用の裏孔(3)とを持つものである。このようなハニカ
ム成形用口金(1)は、内部に光源群(4))を備えた検査台
(5)の開放された上面に、支持ガラス板(6)及びすりガラ
スのような光拡散板(7)を介して置かれる。このとき、
ハニカム成形用口金(1)のスリット(2)側の端面を光拡散
板(7)に向けるものとし、第２図に示すように光源群(4)
からの光線が支持ガラス板面で均一強度となる様に、光
源群(4)及び支持ガラス板(6)を配置することが好まし
い。また、検査台(5)には内部冷却用のファン(8)を設け
ておくことが好ましい。一方、ハニカム成形用口金(1)
の裏孔(3)側の端面には感光手段(9)が設置されている。
感光手段(9)は例えば感光紙であり、平板状のウエイト
(10)によりハニカム成形用口金(1)の端面に密着されて
いる。この時、光源群(4)は感光紙が最も感光紙が最も
感光し易い波長を輻射するものを用いるのが好ましい。
このほか、感光手段(9)としてイメージリーダのような
光の強度を直接電気信号に変換することができる手段を
用い該電気信号を演算処理し、検査結果を例えばＴＶモ
ニター等に出力することも可能である。
このようにしてハニカム成形用口金(1)のスリット(2)側
から光拡散板(7)によって拡散された均一強度の拡散光
線を入射すると、第２図に示すように拡散光線は数千に
及ぶ多数の裏孔(3)に均一に入射し、各裏孔(3)に内表面
で乱反射しつつ裏孔側の端面に達する。このとき、裏孔
(3)の内表面の粗さが大であると乱反射の程度も大きく
なり、逆に裏孔(3)の内表面の粗さが小さいと乱反射の
程度も小となるので、裏孔側の端面に達する拡散光線の
強度は、裏孔内の表面の粗さが小さい部位より裏孔内表
面の粗さが大きい部位の方が弱くなる。そしてこのよう
な拡散光線の強さは、裏孔(3)側の端面に設置された感
光手段(9)により光の明暗として取り出されることとな
る。なお、感光手段(9)はハニカム成形用口金(1)の裏孔
側の端面に密着させることが検査精度の向上のために必
要で、この部分に間隙があると鮮明な光の明暗の像を得
ることができなくなる。
から光拡散板(7)によって拡散された均一強度の拡散光
線を入射すると、第２図に示すように拡散光線は数千に
及ぶ多数の裏孔(3)に均一に入射し、各裏孔(3)に内表面
で乱反射しつつ裏孔側の端面に達する。このとき、裏孔
(3)の内表面の粗さが大であると乱反射の程度も大きく
なり、逆に裏孔(3)の内表面の粗さが小さいと乱反射の
程度も小となるので、裏孔側の端面に達する拡散光線の
強度は、裏孔内の表面の粗さが小さい部位より裏孔内表
面の粗さが大きい部位の方が弱くなる。そしてこのよう
な拡散光線の強さは、裏孔(3)側の端面に設置された感
光手段(9)により光の明暗として取り出されることとな
る。なお、感光手段(9)はハニカム成形用口金(1)の裏孔
側の端面に密着させることが検査精度の向上のために必
要で、この部分に間隙があると鮮明な光の明暗の像を得
ることができなくなる。
第３図は感光手段(9)によって取り出された像の一例を
示すもので、部分的な暗部(11)に対応するハニカム成形
用口金(1)の裏孔(3)の加工状態が悪く、その内表面の粗
さが大であることが分かる。また第３図の像が得られた
ハニカム成形用口金(1)を押出成形機にセットして実際
にハニカム構造体を成形してみたところ、暗部(11)に対
応する部分の坏土の流動抵抗が他の部分よりも大となる
ため、この部位の坏土の押出が遅れ、均一断面をもつ構
造物（成形体）が押出成形し得ない事が確認された。
示すもので、部分的な暗部(11)に対応するハニカム成形
用口金(1)の裏孔(3)の加工状態が悪く、その内表面の粗
さが大であることが分かる。また第３図の像が得られた
ハニカム成形用口金(1)を押出成形機にセットして実際
にハニカム構造体を成形してみたところ、暗部(11)に対
応する部分の坏土の流動抵抗が他の部分よりも大となる
ため、この部位の坏土の押出が遅れ、均一断面をもつ構
造物（成形体）が押出成形し得ない事が確認された。
（発明の効果） 本発明は以上に説明したように、ハニカム成形用口金の
スリット側端面から均一強度の拡散光線を入射し、裏孔
側に達した光線の強さをその端面に設置した感光手段に
より検出するという簡単な方法によって、ハニカム成形
用口金の数千に及ぶ極めて多数の裏孔の内表面の粗さの
分布を一度に容易かつ正確に検査することができるもの
であるから、従来のように試験成形を行わなくても、ハ
ニカム成形用口金の良否を迅速に知ることができる。
スリット側端面から均一強度の拡散光線を入射し、裏孔
側に達した光線の強さをその端面に設置した感光手段に
より検出するという簡単な方法によって、ハニカム成形
用口金の数千に及ぶ極めて多数の裏孔の内表面の粗さの
分布を一度に容易かつ正確に検査することができるもの
であるから、従来のように試験成形を行わなくても、ハ
ニカム成形用口金の良否を迅速に知ることができる。
よって本発明は、従来の問題点を解決したハニカム成形
用口金の検査方法として、産業の発展に寄与するところ
は極めて大なるものである。
用口金の検査方法として、産業の発展に寄与するところ
は極めて大なるものである。
第１図は本発明の検査方法を説明する断面図、第２図は
要部の拡大断面図、第３図は感光手段に現れた像を示す
平面図である。 (1)：ハニカム成形用口金、(2)：スリット、 (3)：裏孔、(9)：感光手段。
要部の拡大断面図、第３図は感光手段に現れた像を示す
平面図である。 (1)：ハニカム成形用口金、(2)：スリット、 (3)：裏孔、(9)：感光手段。
Claims (3)
- 【請求項１】細幅のスリットとこれに連通する多数の裏
孔とを持つハニカム成形用口金のスリット側端面から均
一強度の拡散光線を入射し、裏孔の内表面で乱反射しつ
つ裏孔側に達した光線の強度をハニカム成形用口金の裏
孔側端面に設置した感光手段により検出し、その明暗に
より多数の裏孔の内表面の粗さの分布を知ることを特徴
とするハニカム成形用口金の検査方法。 - 【請求項２】感光手段に感光紙を用いることを特徴とす
る請求項１項記載のハニカム成形用口金の検査方法。 - 【請求項３】感光手段がイメージリーダーより成ること
を特徴とする請求項１記載のハニカム成形用口金の検査
方法。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1049598A JPH0612253B2 (ja) | 1989-03-01 | 1989-03-01 | ハニカム成形用口金の検査方法 |
| DE69010280T DE69010280T2 (de) | 1989-03-01 | 1990-02-27 | Verfahren zur Inspektion einer Düse zur Herstellung einer Wabenstruktur. |
| EP90302070A EP0400777B1 (en) | 1989-03-01 | 1990-02-27 | Method of inspecting die for forming honeycomb structure |
| US07/486,921 US4988887A (en) | 1989-03-01 | 1990-03-01 | Method of inspecting die for forming honeycomb structure |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1049598A JPH0612253B2 (ja) | 1989-03-01 | 1989-03-01 | ハニカム成形用口金の検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02228513A JPH02228513A (ja) | 1990-09-11 |
| JPH0612253B2 true JPH0612253B2 (ja) | 1994-02-16 |
Family
ID=12835667
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1049598A Expired - Lifetime JPH0612253B2 (ja) | 1989-03-01 | 1989-03-01 | ハニカム成形用口金の検査方法 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4988887A (ja) |
| EP (1) | EP0400777B1 (ja) |
| JP (1) | JPH0612253B2 (ja) |
| DE (1) | DE69010280T2 (ja) |
Families Citing this family (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH07113523B2 (ja) * | 1990-06-19 | 1995-12-06 | 日本碍子株式会社 | ハニカムの表面粗度測定法及びそれに用いる表面粗度測定用測定子 |
| DE69414297T2 (de) * | 1993-03-31 | 1999-05-06 | Ngk Insulators, Ltd., Nagoya, Aichi | Verfahren und Vorrichtung zum Prüfen wabenförmiger Objekte mit mehreren Durchgangslöchern |
| DE19648272A1 (de) | 1996-11-21 | 1998-05-28 | Emitec Emissionstechnologie | Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung einer Zelldichte eines Wabenkörpers, insbesondere für einen Abgaskatalysator |
| US7701570B2 (en) * | 2005-12-12 | 2010-04-20 | Corning Incorporated | Collimated light method and system for detecting defects in honeycombs |
| JP2008139184A (ja) * | 2006-12-04 | 2008-06-19 | Denso Corp | 微小間隙溝保有物体の検査方法及びその物体の修正方法 |
| JP7206234B2 (ja) * | 2020-03-30 | 2023-01-17 | 日本碍子株式会社 | セラミックス製の円柱状ハニカム構造体の検査方法及び検査装置 |
| CN116642829A (zh) * | 2023-07-26 | 2023-08-25 | 合肥金星智控科技股份有限公司 | 一种钢管端面检测装置及方法 |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3264481A (en) * | 1963-07-12 | 1966-08-02 | Fmc Corp | Method and apparatus for inspecting spinnerets |
| US4145714A (en) * | 1978-02-27 | 1979-03-20 | Robert W. MacDonald | Television flaw detector for inspecting the wall surface of a hole through a circuit board |
| US4560273A (en) * | 1982-11-30 | 1985-12-24 | Fujitsu Limited | Method and apparatus for inspecting plated through holes in printed circuit boards |
| US4707132A (en) * | 1985-08-05 | 1987-11-17 | Dutton G Wayne | Process for sensing defects on a smooth cylindrical interior surface in tubing |
| JP2522666B2 (ja) * | 1987-03-10 | 1996-08-07 | 日本セメント株式会社 | アルミナ・シリカ系焼結体の製造方法 |
| US4806774A (en) * | 1987-06-08 | 1989-02-21 | Insystems, Inc. | Inspection system for array of microcircuit dies having redundant circuit patterns |
-
1989
- 1989-03-01 JP JP1049598A patent/JPH0612253B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1990
- 1990-02-27 EP EP90302070A patent/EP0400777B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1990-02-27 DE DE69010280T patent/DE69010280T2/de not_active Expired - Lifetime
- 1990-03-01 US US07/486,921 patent/US4988887A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0400777B1 (en) | 1994-06-29 |
| EP0400777A2 (en) | 1990-12-05 |
| DE69010280D1 (de) | 1994-08-04 |
| EP0400777A3 (en) | 1991-09-25 |
| DE69010280T2 (de) | 1995-01-19 |
| JPH02228513A (ja) | 1990-09-11 |
| US4988887A (en) | 1991-01-29 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP3832295B1 (en) | Device and method for checking for surface defect, using image sensor | |
| KR970077432A (ko) | 회절광을 사용한 기판검사 방법 및 장치 | |
| EP0990891B1 (en) | Method for inspection of rubber product | |
| JPH0612253B2 (ja) | ハニカム成形用口金の検査方法 | |
| JPS6349681Y2 (ja) | ||
| JPH04122839A (ja) | 表面検査方法 | |
| JPH0290645A (ja) | 撮像素子の検査方法及びそれに使用する検査装置 | |
| US5110213A (en) | Method and apparatus for measuring concentration of a material in a sample | |
| JP3618545B2 (ja) | 欠陥検査方法 | |
| JP3098369U (ja) | 発泡シート材のピンホール検査装置 | |
| KR102744196B1 (ko) | 광택을 가진 표면 검사 및 측정 방법 | |
| JPH11287764A (ja) | 欠陥検査方法 | |
| JPH1196812A (ja) | 欠陥検出用の照明装置 | |
| JPH0810565B2 (ja) | 線状照明装置及びラインイメージセンサ検査装置 | |
| JPS62150144A (ja) | 不織布の欠陥検出方法 | |
| JPH06317621A (ja) | 半導体測定装置 | |
| KR100914971B1 (ko) | 반도체웨이퍼 가장자리지역의 불량검사방법 | |
| KR100768448B1 (ko) | 샘플 측정 장치 및 방법 | |
| JPH0352889B2 (ja) | ||
| JPH0469552A (ja) | セラミック部材の非破壊検査方法 | |
| JP2000146557A (ja) | 貫通孔内面の精度測定方法及びそれを用いた口金の製造方法 | |
| JPH04136747A (ja) | 板体の外観検査装置 | |
| JPH0536354U (ja) | 製品不良検査装置 | |
| JPH0915169A (ja) | 透明シート検査装置 | |
| KR19980048011A (ko) | 마스크 검사장치 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090216 Year of fee payment: 15 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090216 Year of fee payment: 15 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100216 Year of fee payment: 16 |
|
| EXPY | Cancellation because of completion of term | ||
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100216 Year of fee payment: 16 |