JPH06130918A - 受光用センサ素子の駆動方法 - Google Patents
受光用センサ素子の駆動方法Info
- Publication number
- JPH06130918A JPH06130918A JP28418592A JP28418592A JPH06130918A JP H06130918 A JPH06130918 A JP H06130918A JP 28418592 A JP28418592 A JP 28418592A JP 28418592 A JP28418592 A JP 28418592A JP H06130918 A JPH06130918 A JP H06130918A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- sensor element
- receiving sensor
- sub
- pixel
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Liquid Crystal Display Device Control (AREA)
- Facsimile Heads (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 受光用センサ素子と蓄積容量を画素部に有す
るイメージセンサを、蓄積モードで動作させる場合に、
広いダイナミックレンジを示す良好な駆動条件を提供す
ることにある。 【構成】 本発明では、一定の光量の条件の元で、ドレ
イン電極とソース電極の間に流れる電流とドレイン電極
ソース電極間にかける電圧の関係を式1を用いて表し、
読み取り電圧(蓄積動作開始時に受光用センサ素子のド
レイン電極ソース電極の両端にかかる電圧)を式2のご
とく設定する。 【効果】 受光用センサ素子と蓄積容量を用いた蓄積モ
ードの時に、暗信号を低く抑えることができる技術を提
供する。これにより読み取り信号のダイナミックレンジ
を広くすることができ、センサの良好な駆動条件を与え
ることができるという効果を得る。
るイメージセンサを、蓄積モードで動作させる場合に、
広いダイナミックレンジを示す良好な駆動条件を提供す
ることにある。 【構成】 本発明では、一定の光量の条件の元で、ドレ
イン電極とソース電極の間に流れる電流とドレイン電極
ソース電極間にかける電圧の関係を式1を用いて表し、
読み取り電圧(蓄積動作開始時に受光用センサ素子のド
レイン電極ソース電極の両端にかかる電圧)を式2のご
とく設定する。 【効果】 受光用センサ素子と蓄積容量を用いた蓄積モ
ードの時に、暗信号を低く抑えることができる技術を提
供する。これにより読み取り信号のダイナミックレンジ
を広くすることができ、センサの良好な駆動条件を与え
ることができるという効果を得る。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、コンピュータやファク
シミリへの画像、文字入力、あるいはそのほかの画像情
報を扱う装置への画像情報入力に使用される画像入力装
置に関わるものである。
シミリへの画像、文字入力、あるいはそのほかの画像情
報を扱う装置への画像情報入力に使用される画像入力装
置に関わるものである。
【0002】
【従来の技術】従来の画像入力装置としては、光センサ
素子を1次元状に配列したラインセンサを機械的に駆動
して2次元画像を読み取る方式が主なものであった。ま
た、光センサ素子を2次元状に配列し、主走査と副走査
をいずれも電子スキャンとすることにより、レンズ系
や、機械駆動系を不要とし、合わせて画像読み取りの高
速化が可能な密着型の2次元イメージセンサも試みられ
てきた。この技術の代表的な例は、公開実用新案公報平
2−8055号あるいは中研整理番号31880246
7に見られる。図8にその基本構成を示す。各画素に
は、光センサ素子と蓄積容量が設けられ、画素スイッチ
用薄膜トランジスタ(TFT)と水平スイッチTFTと
を組み合わせて画素を選択する。この2次元センサにつ
いて、上記主走査、副走査に対応する動作は、それぞれ
水平スイッチによる信号線の順次選択、画素スイッチT
FTのゲート線の順次選択である。
素子を1次元状に配列したラインセンサを機械的に駆動
して2次元画像を読み取る方式が主なものであった。ま
た、光センサ素子を2次元状に配列し、主走査と副走査
をいずれも電子スキャンとすることにより、レンズ系
や、機械駆動系を不要とし、合わせて画像読み取りの高
速化が可能な密着型の2次元イメージセンサも試みられ
てきた。この技術の代表的な例は、公開実用新案公報平
2−8055号あるいは中研整理番号31880246
7に見られる。図8にその基本構成を示す。各画素に
は、光センサ素子と蓄積容量が設けられ、画素スイッチ
用薄膜トランジスタ(TFT)と水平スイッチTFTと
を組み合わせて画素を選択する。この2次元センサにつ
いて、上記主走査、副走査に対応する動作は、それぞれ
水平スイッチによる信号線の順次選択、画素スイッチT
FTのゲート線の順次選択である。
【0003】これらのセンサに用いられている受光用セ
ンサ素子において、光導電型と呼ばれる素子が利用され
るようになってきた。この光導電型素子の一例を図9に
示す。この光導電型素子は、図9にあるように2つの上
部電極を持ち上部電極A、21に正の電圧をかけ、上部
電極Aと上部電極B、22の間に流れる電流を入射する
光量によって変調する素子である。
ンサ素子において、光導電型と呼ばれる素子が利用され
るようになってきた。この光導電型素子の一例を図9に
示す。この光導電型素子は、図9にあるように2つの上
部電極を持ち上部電極A、21に正の電圧をかけ、上部
電極Aと上部電極B、22の間に流れる電流を入射する
光量によって変調する素子である。
【0004】しかしながら、これらのセンサに対して良
好な駆動条件を与える受光用センサ素子の上部電極AB
間の電圧についてはなんら述べられてきてはいない。
好な駆動条件を与える受光用センサ素子の上部電極AB
間の電圧についてはなんら述べられてきてはいない。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】受光用センサ素子と蓄
積容量を画素部に有するイメージセンサを、蓄積モード
で動作させる場合に、広いダイナミックレンジを示す良
好な駆動条件を提供することにある。
積容量を画素部に有するイメージセンサを、蓄積モード
で動作させる場合に、広いダイナミックレンジを示す良
好な駆動条件を提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明では、一定の光量
の条件で、受光用センサ素子の上部電極ABの間に流れ
る電流と上部電極AB間にかける電圧の関係をI=aV
+bV2+cV3+dV4+eV5(式1)を用いて表し、
読み取り電圧(蓄積動作開始時に受光用センサ素子の上
部電極ABの両端にかかる電圧)を2b+6cVr+1
2dVr2+20e*Vr3=0(式2)で得られるVr
以下に設定する。
の条件で、受光用センサ素子の上部電極ABの間に流れ
る電流と上部電極AB間にかける電圧の関係をI=aV
+bV2+cV3+dV4+eV5(式1)を用いて表し、
読み取り電圧(蓄積動作開始時に受光用センサ素子の上
部電極ABの両端にかかる電圧)を2b+6cVr+1
2dVr2+20e*Vr3=0(式2)で得られるVr
以下に設定する。
【0007】
【作用】式2のごとく読み取り電圧を設定した結果、蓄
積モードにおける暗時の出力信号を低く抑えることがで
き、ダイナミックレンジの広い駆動条件を得ることがで
きた。
積モードにおける暗時の出力信号を低く抑えることがで
き、ダイナミックレンジの広い駆動条件を得ることがで
きた。
【0008】
【実施例】以下本発明を適用する受光用センサ素子の例
として非晶質シリコンフォトセンサを図2に示す。本素
子は、非晶質シリコン薄膜技術により形成できる光導電
型の受光用センサ素子である。本素子はガラス基板10
上に形成され、下部電極14、上部電極A21、上部電
極B22、感光性半導体層17より成る。
として非晶質シリコンフォトセンサを図2に示す。本素
子は、非晶質シリコン薄膜技術により形成できる光導電
型の受光用センサ素子である。本素子はガラス基板10
上に形成され、下部電極14、上部電極A21、上部電
極B22、感光性半導体層17より成る。
【0009】次に、非晶質シリコンフォトセンサの作製
方法を説明する。ガラス基板上10に、通常のスパッタ
リング法により金属クロム膜を堆積する。これを通常の
フォトリソグラフィによりパターン化し、下部遮光膜1
1を形成する。この後、スパッタリング法により第一の
層間絶縁膜として、酸化シリコン膜12を堆積する。次
に、スパッタリング法により金属クロムを堆積し、パタ
ーン化して非晶質シリコンフォトセンサの下部電極14
を形成する。さらに、CVD法によりゲート絶縁膜であ
る窒化シリコン膜16、半導体能動層のa−Si17、
オーミックコンタクト層のn+a−Si膜18を堆積
し、パターン化する。この上に、スパッタリング法によ
りCr/Al金属2重層を堆積し、非晶質シリコンフォ
トセンサの上部電極21、22を形成する。最後に、C
VD法により保護層の窒化シリコン膜23を堆積する。
また、上記の各パターン化で電圧供給用配線も同時に形
成される(図示せず)。
方法を説明する。ガラス基板上10に、通常のスパッタ
リング法により金属クロム膜を堆積する。これを通常の
フォトリソグラフィによりパターン化し、下部遮光膜1
1を形成する。この後、スパッタリング法により第一の
層間絶縁膜として、酸化シリコン膜12を堆積する。次
に、スパッタリング法により金属クロムを堆積し、パタ
ーン化して非晶質シリコンフォトセンサの下部電極14
を形成する。さらに、CVD法によりゲート絶縁膜であ
る窒化シリコン膜16、半導体能動層のa−Si17、
オーミックコンタクト層のn+a−Si膜18を堆積
し、パターン化する。この上に、スパッタリング法によ
りCr/Al金属2重層を堆積し、非晶質シリコンフォ
トセンサの上部電極21、22を形成する。最後に、C
VD法により保護層の窒化シリコン膜23を堆積する。
また、上記の各パターン化で電圧供給用配線も同時に形
成される(図示せず)。
【0010】図1は、以上のように作製した非晶質シリ
コンフォトセンサのチャネル幅を100μm、チャネル
長を10μmとし暗状態で上部電極A上部電極B間の電
圧を変化させながら上部電極Bを流れる電流の変化を示
したものである。図中A点のように、下に凸の変曲点が
あり電圧に対する電流の変化の割合が大きくなる。図3
に示すようにセンサの画素が受光用センサ素子と蓄積容
量を組み合わせによりなり、蓄積容量に充電した電荷を
受光用センサ素子を用いて放電し、その放電量を検知す
る蓄積モードによる動作は、受光用センサ素子がこのよ
うな特性を示す場合、蓄積容量に貯められていた電荷量
から発生する電圧の大きさによって、図4に示す様に出
力される暗時の信号に違いが生じる。図4は、本受光用
センサ素子に1.4pFの蓄積容量を接続し、図1中の
a点b点c点を読み取り電圧とし、蓄積モードで動作さ
せた場合の放電電荷比(=暗電流による放電電荷量/蓄
積可能な電荷量)の時間変化を示したものである。図中
よりわかるように、b点の動作結果は暗信号を低く抑え
ることができ広いダイナミックレンジを持つことができ
た。
コンフォトセンサのチャネル幅を100μm、チャネル
長を10μmとし暗状態で上部電極A上部電極B間の電
圧を変化させながら上部電極Bを流れる電流の変化を示
したものである。図中A点のように、下に凸の変曲点が
あり電圧に対する電流の変化の割合が大きくなる。図3
に示すようにセンサの画素が受光用センサ素子と蓄積容
量を組み合わせによりなり、蓄積容量に充電した電荷を
受光用センサ素子を用いて放電し、その放電量を検知す
る蓄積モードによる動作は、受光用センサ素子がこのよ
うな特性を示す場合、蓄積容量に貯められていた電荷量
から発生する電圧の大きさによって、図4に示す様に出
力される暗時の信号に違いが生じる。図4は、本受光用
センサ素子に1.4pFの蓄積容量を接続し、図1中の
a点b点c点を読み取り電圧とし、蓄積モードで動作さ
せた場合の放電電荷比(=暗電流による放電電荷量/蓄
積可能な電荷量)の時間変化を示したものである。図中
よりわかるように、b点の動作結果は暗信号を低く抑え
ることができ広いダイナミックレンジを持つことができ
た。
【0011】図5は,本駆動方法を適用する密着型2次
元イメージセンサの例である。各画素は、非晶質シリコ
ンTFTによる画素スイッチ(TM11〜TMnm)
1、光センサとして画素スイッチと同一の作製プロセス
で形成が可能な非晶質シリコン薄膜フォトセンサ2、蓄
積容量(C11〜Cnm)3から構成される。画素スイ
ッチのゲート電極は、主走査方向(X方向)に延在した
副走査線(Hi:i=1〜n)4に接続されている。各
副走査線には、副走査回路5によって順次画素スイッチ
をオンするパルス電圧が加えられる。また、画素スイッ
チのドレイン電極は、副走査方向(Y方向)に延在した
主走査線(Vi:i=1〜m)6に接続されている。こ
の主走査線は、主走査回路7によって駆動される水平ス
イッチトランジスタ8に接続されている。水平スイッチ
トランジスタとしては、所望の駆動能力が確保できれば
よく、ここでは非晶質シリコンによるTFTを用いた。
水平スイッチトランジスタのドレイン電極は共通の出力
線9に接続されている。隣接する2本の主走査線及び2
本の副走査線の間隔は、この例ではいずれも0.16m
mである。本実施例では、m=240、n=140とし
た。
元イメージセンサの例である。各画素は、非晶質シリコ
ンTFTによる画素スイッチ(TM11〜TMnm)
1、光センサとして画素スイッチと同一の作製プロセス
で形成が可能な非晶質シリコン薄膜フォトセンサ2、蓄
積容量(C11〜Cnm)3から構成される。画素スイ
ッチのゲート電極は、主走査方向(X方向)に延在した
副走査線(Hi:i=1〜n)4に接続されている。各
副走査線には、副走査回路5によって順次画素スイッチ
をオンするパルス電圧が加えられる。また、画素スイッ
チのドレイン電極は、副走査方向(Y方向)に延在した
主走査線(Vi:i=1〜m)6に接続されている。こ
の主走査線は、主走査回路7によって駆動される水平ス
イッチトランジスタ8に接続されている。水平スイッチ
トランジスタとしては、所望の駆動能力が確保できれば
よく、ここでは非晶質シリコンによるTFTを用いた。
水平スイッチトランジスタのドレイン電極は共通の出力
線9に接続されている。隣接する2本の主走査線及び2
本の副走査線の間隔は、この例ではいずれも0.16m
mである。本実施例では、m=240、n=140とし
た。
【0012】図6に、本発明による密着型2次元イメー
ジセンサの駆動電圧関係を示す。以下では、各画素にお
いて、蓄積容量の一回目の充電が完了し、入射光量に応
じた信号電荷が順次蓄積されるているものとする。
ジセンサの駆動電圧関係を示す。以下では、各画素にお
いて、蓄積容量の一回目の充電が完了し、入射光量に応
じた信号電荷が順次蓄積されるているものとする。
【0013】まず、時刻0で副走査回路により、副走査
線H1に接続された画素スイッチTFT(TM11から
TM1m)をオンとするパルス幅TLの電圧を加える。
次に、主走査回路で水平スイッチトランジスタTH1か
らTHmのゲートを順次開いて画素を選択する。一画素
あたりの選択時間はTP(ほぼTL/mに等しい)であ
る。水平スイッチトランジスタTH1のゲートが開いて
いるTPの間に、主走査線の容量CV1および蓄積容量
C11はトランジスタTH1を通して2回目の充電がな
される。この充電電荷が読み取り信号電荷である。この
後、水平スイッチトランジスタをTH2からTHmへと
順次オンしていき、最後のトランジスタTHmが閉じる
と同時に副走査線H1を閉じ、副走査線H2をオンとす
る。同様に順次画素の選択を行う。これを副走査線Hn
が選択されるまで繰り返すことにより、ひと通りの2次
元の画像読み取りが終了する。この動作においても前述
の図2中のb点を読み取り電圧に選択することにより広
いダイナミックレンジを有する2次元センサとすること
ができた。
線H1に接続された画素スイッチTFT(TM11から
TM1m)をオンとするパルス幅TLの電圧を加える。
次に、主走査回路で水平スイッチトランジスタTH1か
らTHmのゲートを順次開いて画素を選択する。一画素
あたりの選択時間はTP(ほぼTL/mに等しい)であ
る。水平スイッチトランジスタTH1のゲートが開いて
いるTPの間に、主走査線の容量CV1および蓄積容量
C11はトランジスタTH1を通して2回目の充電がな
される。この充電電荷が読み取り信号電荷である。この
後、水平スイッチトランジスタをTH2からTHmへと
順次オンしていき、最後のトランジスタTHmが閉じる
と同時に副走査線H1を閉じ、副走査線H2をオンとす
る。同様に順次画素の選択を行う。これを副走査線Hn
が選択されるまで繰り返すことにより、ひと通りの2次
元の画像読み取りが終了する。この動作においても前述
の図2中のb点を読み取り電圧に選択することにより広
いダイナミックレンジを有する2次元センサとすること
ができた。
【0014】このセンサ基板を用いて画像読み取りをす
るには、センサ基板、原稿、及び光源を図7のように配
置する。図7(a)は反射光検出である。この場合、光
源は基板の裏側に配置される。光源を出た光は、センサ
基板に一定周期で設けられた窓部分を通過し原稿面に到
達する。原稿の画像の濃淡に応じた反射光がフォトセン
サで検出される。図7(b)は透過光検出である。この
場合は、原稿が光源とセンサ基板の間に置かれる。光
は、原稿を透過しその透過光量がフォトセンサに検出さ
れる。
るには、センサ基板、原稿、及び光源を図7のように配
置する。図7(a)は反射光検出である。この場合、光
源は基板の裏側に配置される。光源を出た光は、センサ
基板に一定周期で設けられた窓部分を通過し原稿面に到
達する。原稿の画像の濃淡に応じた反射光がフォトセン
サで検出される。図7(b)は透過光検出である。この
場合は、原稿が光源とセンサ基板の間に置かれる。光
は、原稿を透過しその透過光量がフォトセンサに検出さ
れる。
【0015】以上、受光用センサ素子として下部電極を
有するものを例に挙げて説明してきたが、必ずしも下部
電極が必要ではなく、下部電極の数もなん枚であっても
良い。
有するものを例に挙げて説明してきたが、必ずしも下部
電極が必要ではなく、下部電極の数もなん枚であっても
良い。
【0016】
【発明の効果】以上本発明では、受光用センサ素子と蓄
積容量を用いた蓄積モードの時に、暗信号を低く抑える
ことができる技術を提供する。これにより読み取り信号
のダイナミックレンジを広くすることができ、センサの
良好な駆動条件を与えることができるという効果を得
る。
積容量を用いた蓄積モードの時に、暗信号を低く抑える
ことができる技術を提供する。これにより読み取り信号
のダイナミックレンジを広くすることができ、センサの
良好な駆動条件を与えることができるという効果を得
る。
【図1】本発明の実施例を適用する受光用センサ素子の
例の電流−電圧関係の図。
例の電流−電圧関係の図。
【図2】本発明の実施例を適用する受光用センサ素子の
例の図。
例の図。
【図3】本発明の実施例を適用する受光用センサ素子と
蓄積容量の図。
蓄積容量の図。
【図4】本発明の実施例を適用する受光用センサ素子と
蓄積容量の駆動状況を示す図。
蓄積容量の駆動状況を示す図。
【図5】本発明の実施例の密着型2次元イメージセンサ
の等価回路図。
の等価回路図。
【図6】本発明の実施例の密着型2次元イメージセンサ
の駆動電圧関係を示す図。
の駆動電圧関係を示す図。
【図7】画像読み取り時の原稿、光源、センサ基板の配
置図。
置図。
【図8】従来の2次元センサを説明するための図。
【図9】従来の受光用センサ素子を説明するための図。
1…画素スイッチ、2…非晶質シリコンフォトセンサ、
3…蓄積容量、4…副走査線、5…副走査回路、6…主
走査線、7…主走査回路、8…水平スイッチトランジス
タ、9…出力線、10…ガラス基板、11…下部遮光
膜、12…酸化シリコン膜、14…フォトセンサの下部
電極、16…ゲート絶縁膜、17…a−Si膜、18…
n+a−Si膜、21…フォトセンサの上部電極A、2
2…フォトセンサの上部電極B、23…保護層。
3…蓄積容量、4…副走査線、5…副走査回路、6…主
走査線、7…主走査回路、8…水平スイッチトランジス
タ、9…出力線、10…ガラス基板、11…下部遮光
膜、12…酸化シリコン膜、14…フォトセンサの下部
電極、16…ゲート絶縁膜、17…a−Si膜、18…
n+a−Si膜、21…フォトセンサの上部電極A、2
2…フォトセンサの上部電極B、23…保護層。
Claims (7)
- 【請求項1】少なくとも二つの電極を有し、動作時に上
記電極の一方に他方より高い信号電圧をかけ、その時に
素子を流れる信号電流を検出する受光用センサ素子であ
って、上記信号電流の上記信号電圧依存性において、下
に凸の変曲点をもち上記変曲点より大きな信号電圧の範
囲で上記信号電圧に対する上記信号電流の変化の割合が
大きくなる電圧の範囲を少なくとも有する受光用センサ
素子において、上記変曲点以下の信号電圧において駆動
することを特徴とする受光用センサ素子の駆動方法。 - 【請求項2】少なくとも受光用センサ素子と蓄積容量を
有し、上記蓄積容量中に蓄えられた電荷を上記受光用セ
ンサ素子を通して放電し、上記放電量を検知する受光装
置において、上記特許請求項1記載の受光用センサ素子
の駆動方法を用いたことを特徴とする受光装置。 - 【請求項3】少なくとも受光用センサ素子と、蓄積容量
とスイッチ用薄膜トランジスタからなる画素を複数個備
え、それぞれの画素におけるスイッチング用薄膜トラン
ジスタのゲート電極に接続され主走査方向と平行に延在
した副走査線と、上記副走査線及び上記副走査線に接続
された上記画素列を配列し、上記各画素のスイッチング
用薄膜トランジスタのドレイン電極に接続され副走査方
向と平行に延在した複数個の主走査線からなる密着型リ
ニアイメージセンサにおいて、上記特許請求項1記載の
受光用センサ素子の駆動方法を用いたことを特徴とする
密着型リニアイメージセンサ。 - 【請求項4】少なくとも受光用センサ素子と、蓄積容量
とスイッチ用薄膜トランジスタからなる画素を複数個備
え、それぞれの画素におけるスイッチング用薄膜トラン
ジスタのゲート電極に接続され主走査方向と平行に延在
した副走査線と、上記副走査線及び上記副走査線に接続
された上記画素列を複数個副走査方向に配列し、上記各
画素のスイッチング用薄膜トランジスタのドレイン電極
に接続され副走査方向と平行に延在した複数個の主走査
線からなる密着型2次元イメージセンサにおいて、上記
特許請求項1記載の受光用センサ素子の駆動方法を用い
たことを特徴とする密着型2次元イメージセンサ。 - 【請求項5】上記受光用センサ素子が、非晶質シリコン
薄膜フォトセンサであることを特徴とする上記特許請求
項1記載の受光用センサ素子の駆動方法を用いたことを
特徴とする密着型2次元イメージセンサ。 - 【請求項6】上記主走査によって得られる少なくとも1
ライン分の画像信号を並列に読み出す機能を有すること
を特徴とする上記特許請求項1記載の受光用センサ素子
の駆動方法を用いたことを特徴とする密着型2次元イメ
ージセンサ。 - 【請求項7】特許請求項3乃至6記載のイメージセンサ
を用いた文書、画像読み取り装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28418592A JPH06130918A (ja) | 1992-10-22 | 1992-10-22 | 受光用センサ素子の駆動方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28418592A JPH06130918A (ja) | 1992-10-22 | 1992-10-22 | 受光用センサ素子の駆動方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06130918A true JPH06130918A (ja) | 1994-05-13 |
Family
ID=17675279
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP28418592A Pending JPH06130918A (ja) | 1992-10-22 | 1992-10-22 | 受光用センサ素子の駆動方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06130918A (ja) |
-
1992
- 1992-10-22 JP JP28418592A patent/JPH06130918A/ja active Pending
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR100650109B1 (ko) | 박막 포토트랜지스터, 그 포토트랜지스터를 이용하는액티브 매트릭스 기판, 및 그 기판을 이용하는 화상 주사장치 | |
| KR950009816B1 (ko) | 광전변환장치 | |
| JPH05160379A (ja) | イメージセンサ及び画像読取装置 | |
| KR910007142A (ko) | 박막 광트랜지스터와 그것을 사용한 광센서어레이 | |
| US4575638A (en) | Thin film photoelectric converting device | |
| JPH0568132A (ja) | 原稿読取り装置 | |
| US4886977A (en) | Photoelectric converter provided with voltage dividing means | |
| JPH07120765B2 (ja) | センサ装置、光導電型センサの駆動方法及び駆動装置 | |
| JPH0379910B2 (ja) | ||
| JP3064737B2 (ja) | 画像入出力装置 | |
| JPH05121715A (ja) | 密着型2次元ホトセンサおよびその製造方法 | |
| JP3673567B2 (ja) | 画像入出力装置 | |
| JPH06130918A (ja) | 受光用センサ素子の駆動方法 | |
| KR20040044117A (ko) | 화상 판독 장치 및 화상 판독 방법 | |
| US5539458A (en) | TFT-drive image sensor capable of producing an offset-free image signal | |
| JPH0678113A (ja) | コンタクト映像センサのモジュール | |
| JPH0380385B2 (ja) | ||
| JPH06132510A (ja) | 薄膜光センサ | |
| JPH03120947A (ja) | イメージセンサ | |
| JPH0662175A (ja) | 密着型2次元イメージセンサ | |
| JP3144091B2 (ja) | 2次元イメージセンサ | |
| JP2660046B2 (ja) | イメージセンサ | |
| JPH065834A (ja) | イメージセンサ | |
| JP3146509B2 (ja) | 2次元密着型イメージセンサ | |
| JPH084128B2 (ja) | 画像読取装置 |