JPH0613545Y2 - ガス絶縁開閉装置用試験装置 - Google Patents
ガス絶縁開閉装置用試験装置Info
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- JPH0613545Y2 JPH0613545Y2 JP1463988U JP1463988U JPH0613545Y2 JP H0613545 Y2 JPH0613545 Y2 JP H0613545Y2 JP 1463988 U JP1463988 U JP 1463988U JP 1463988 U JP1463988 U JP 1463988U JP H0613545 Y2 JPH0613545 Y2 JP H0613545Y2
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- Testing Relating To Insulation (AREA)
- Gas-Insulated Switchgears (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本考案は、ガス絶縁開閉装置の耐電圧試験を行う試験装
置に関するものである。
置に関するものである。
[従来の技術] ガス絶縁開閉装置及び該開閉装置に接続される電力ケー
ブルの耐電圧試験を行う試験装置として、絶縁スペーサ
を介してガス絶縁開閉装置の容器に接続された本体容器
内に試験電圧印加装置を収納して、試験電圧印加用ケー
ブルを本体容器の下方から導入するようにしたものがあ
る。この種の装置において、本体容器内には試験電圧印
加用の主回路導体が3相分収納され、各相の主回路導体
は絶縁スペーサを介してガス絶縁開閉装置の主回路に接
続される。また本体容器の下部に枝管部が設けられて該
枝管部に試験電圧印加用ケーブルの終端部(ケーブルヘ
ッド)が取付けられている。本体容器内にはまたケーブ
ル終端部と3相の主回路導体との間の接続及び切離しを
行う主回路断路部と、主回路断路部がケーブル終端部を
いずれかの相の主回路導体に接続している時に他の相の
主回路導体を接地する接地装置とが設けられ、主回路断
路部と接地装置とが操作機構により連動して操作される
ようになっている。
ブルの耐電圧試験を行う試験装置として、絶縁スペーサ
を介してガス絶縁開閉装置の容器に接続された本体容器
内に試験電圧印加装置を収納して、試験電圧印加用ケー
ブルを本体容器の下方から導入するようにしたものがあ
る。この種の装置において、本体容器内には試験電圧印
加用の主回路導体が3相分収納され、各相の主回路導体
は絶縁スペーサを介してガス絶縁開閉装置の主回路に接
続される。また本体容器の下部に枝管部が設けられて該
枝管部に試験電圧印加用ケーブルの終端部(ケーブルヘ
ッド)が取付けられている。本体容器内にはまたケーブ
ル終端部と3相の主回路導体との間の接続及び切離しを
行う主回路断路部と、主回路断路部がケーブル終端部を
いずれかの相の主回路導体に接続している時に他の相の
主回路導体を接地する接地装置とが設けられ、主回路断
路部と接地装置とが操作機構により連動して操作される
ようになっている。
この試験装置により耐電圧試験を行う場合には、主回路
断路部を操作して試験を行う相の主回路導体にケーブル
終端部を接続する。この時他の相の主回路導体は安全の
ために接地装置により接地される。この状態で試験電圧
印加用ケーブルから試験を行う相の主回路導体に試験電
圧を印加し、該主回路導体を通してガス絶縁開閉装置に
試験電圧を印加する。
断路部を操作して試験を行う相の主回路導体にケーブル
終端部を接続する。この時他の相の主回路導体は安全の
ために接地装置により接地される。この状態で試験電圧
印加用ケーブルから試験を行う相の主回路導体に試験電
圧を印加し、該主回路導体を通してガス絶縁開閉装置に
試験電圧を印加する。
[考案が解決しようとする課題] 従来の試験装置では、主回路断路部及び接地装置の摺動
接点部の摩耗により生じた塵(金属粉)が枝管部内に落
下するのを避けられなかった。そのため該枝管部内に取
付けられている試験電圧印加用ケーブルの終端部を絶縁
する絶縁物表面に塵が付着して絶縁の低下を招き、その
まま試験電圧を印加した場合にケーブル終端部の絶縁物
表面に沿って沿面放電が生じるおそれがあった。
接点部の摩耗により生じた塵(金属粉)が枝管部内に落
下するのを避けられなかった。そのため該枝管部内に取
付けられている試験電圧印加用ケーブルの終端部を絶縁
する絶縁物表面に塵が付着して絶縁の低下を招き、その
まま試験電圧を印加した場合にケーブル終端部の絶縁物
表面に沿って沿面放電が生じるおそれがあった。
本考案の目的は、枝管の内部に塵が落下するのを防止し
てケーブル終端部を絶縁する絶縁物の絶縁耐力が低下す
るのを防止したガス絶縁開閉装置用試験装置を提供する
ことにある。
てケーブル終端部を絶縁する絶縁物の絶縁耐力が低下す
るのを防止したガス絶縁開閉装置用試験装置を提供する
ことにある。
[課題を解決するための手段] 本考案は、軸線を水平方向に向けて配置されて一端がガ
ス絶縁開閉装置の容器に絶縁スペーサを介して接続され
た本体容器と、該本体容器の下部に設けられた枝管部
と、本体容器内に設けられ絶縁スペーサを通してガス絶
縁開閉装置の主回路に接続された3相の主回路導体と、
枝管部に取付けられた試験電圧印加用ケーブル終端部
と、ケーブル終端部と3相の主回路導体との間の接続及
び切離しを行う主回路断路部と、主回路断路部がケーブ
ル終端部をいずれかの相の主回路導体に接続している時
に他の相の主回路導体を接地する接地装置とを備えたガ
ス絶縁開閉装置用試験装置において、枝管部内に塵が落
下するのを防止したものである。
ス絶縁開閉装置の容器に絶縁スペーサを介して接続され
た本体容器と、該本体容器の下部に設けられた枝管部
と、本体容器内に設けられ絶縁スペーサを通してガス絶
縁開閉装置の主回路に接続された3相の主回路導体と、
枝管部に取付けられた試験電圧印加用ケーブル終端部
と、ケーブル終端部と3相の主回路導体との間の接続及
び切離しを行う主回路断路部と、主回路断路部がケーブ
ル終端部をいずれかの相の主回路導体に接続している時
に他の相の主回路導体を接地する接地装置とを備えたガ
ス絶縁開閉装置用試験装置において、枝管部内に塵が落
下するのを防止したものである。
そのため請求項1に記載した考案においては、主回路断
路部及び接地装置を本体容器の軸線方向に間隔をあけて
配置し、枝管部は主回路断路部及び接地装置のそれぞれ
の可動側と固定側との摺動接点部の直下位置から外れた
位置で本体容器内に開口するように設けた。
路部及び接地装置を本体容器の軸線方向に間隔をあけて
配置し、枝管部は主回路断路部及び接地装置のそれぞれ
の可動側と固定側との摺動接点部の直下位置から外れた
位置で本体容器内に開口するように設けた。
また請求項2に記載した考案においては、枝管内への塵
の進入を更に効果的に防止するために、枝管部の周囲の
少なくとも本体容器の最下部位置に該本体容器の下部に
存在する塵が枝管部内に落下するのを阻止する塵止め用
突出部を設けた。
の進入を更に効果的に防止するために、枝管部の周囲の
少なくとも本体容器の最下部位置に該本体容器の下部に
存在する塵が枝管部内に落下するのを阻止する塵止め用
突出部を設けた。
[作用] 上記のように、主回路断路部及び接地装置を本体容器の
軸線方向に間隔をあけて配置し、枝管部を主回路断路部
及び接地装置のそれぞれの可動側と固定側との摺動接点
部の直下位置から外れた位置で本体容器内に開口するよ
うに設けると、主回路断路部及び接地装置の摺動接点部
の摩耗により生じる塵が枝管内に直接落下することがな
いため、枝管内に取付けられた試験電圧印加用ケーブル
の終端部の絶縁部に塵が付着して絶縁耐力が低下するの
を防ぐことができる。
軸線方向に間隔をあけて配置し、枝管部を主回路断路部
及び接地装置のそれぞれの可動側と固定側との摺動接点
部の直下位置から外れた位置で本体容器内に開口するよ
うに設けると、主回路断路部及び接地装置の摺動接点部
の摩耗により生じる塵が枝管内に直接落下することがな
いため、枝管内に取付けられた試験電圧印加用ケーブル
の終端部の絶縁部に塵が付着して絶縁耐力が低下するの
を防ぐことができる。
特に請求項2に記載した考案のように、枝管部の周囲の
少なくとも本体容器の最下部位置に塵が枝管部内に落下
するのを阻止する塵止め用突出部を設けると、摺動接点
部から本体容器の下部に落下した塵が振動により移動し
て枝管部内に落下するのを阻止できるため、ケーブル終
端部の絶縁劣化を一層効果的に防止できる。
少なくとも本体容器の最下部位置に塵が枝管部内に落下
するのを阻止する塵止め用突出部を設けると、摺動接点
部から本体容器の下部に落下した塵が振動により移動し
て枝管部内に落下するのを阻止できるため、ケーブル終
端部の絶縁劣化を一層効果的に防止できる。
[実施例] 以下添附図面を参照して本考案の実施例を説明する。
第1図及び第2図は本考案の実施例の要部を示したもの
で、第1図は縦断面図、第2図は本体容器内の導体配置
及び塵止め用突出部の形状を示す横断面図である。
で、第1図は縦断面図、第2図は本体容器内の導体配置
及び塵止め用突出部の形状を示す横断面図である。
第1図及び第2図において1は中心軸線を水平方向に向
けて配置されて一端がガス絶縁開閉装置の容器2に絶縁
スペーサ3を介して接続された金属製の本体容器であ
る。本体容器1は管状に形成され、該本体容器の最下部
には枝管部101が設けられている。
けて配置されて一端がガス絶縁開閉装置の容器2に絶縁
スペーサ3を介して接続された金属製の本体容器であ
る。本体容器1は管状に形成され、該本体容器の最下部
には枝管部101が設けられている。
本体容器1内には3相の試験電圧印加用主回路導体4u
ないし4wがそれぞれの軸線を容器1の軸線と平行させ
た状態で配置されている。これらの主回路導体はそれぞ
れの中心軸線が容器1の横断面上で正三角形の頂点を通
るように三角配置され、主回路導体4uないし4wの一
端は絶縁スペーサ3に2等辺三角配置で設けられた貫通
導体5uないし5wに所定形状の接続部41uないし4
1w(41w及び5wは図示せず。)を介して接続され
ている。
ないし4wがそれぞれの軸線を容器1の軸線と平行させ
た状態で配置されている。これらの主回路導体はそれぞ
れの中心軸線が容器1の横断面上で正三角形の頂点を通
るように三角配置され、主回路導体4uないし4wの一
端は絶縁スペーサ3に2等辺三角配置で設けられた貫通
導体5uないし5wに所定形状の接続部41uないし4
1w(41w及び5wは図示せず。)を介して接続され
ている。
枝管部101はその軸線を本体容器1の軸線に対してガ
ス絶縁開閉装置の容器2と反対側に傾けた状態で設けら
れ、この枝管部101の下端を気密に閉じる蓋板6に試
験電圧印加用ケーブルの終端部を構成するケーブルヘッ
ド8が取付けられている。このケーブルヘッドは中心導
体801と、該導体を被包する絶縁物802とからなる
もので、容器の外部から試験電圧印加用ケーブル9の端
末部901を抜き差し自在に接続し得るようになってい
る。
ス絶縁開閉装置の容器2と反対側に傾けた状態で設けら
れ、この枝管部101の下端を気密に閉じる蓋板6に試
験電圧印加用ケーブルの終端部を構成するケーブルヘッ
ド8が取付けられている。このケーブルヘッドは中心導
体801と、該導体を被包する絶縁物802とからなる
もので、容器の外部から試験電圧印加用ケーブル9の端
末部901を抜き差し自在に接続し得るようになってい
る。
ケーブルヘッドの中心導体801の先端には導体10が
接続され、該導体10には集電コンタクトをシールド内
に配置した構造の支持導体11が接続されている。支持
導体11には導体からなる回転軸12が回転自在に支持
され、該回転軸12の一端には主回路接触子13を支持
した回動部材14が、枝管部101の開口部101aの
位置よりも絶縁スペーサ3側に位置させて取付けられて
いる。3相の主回路導体4uないし4wの接続部41u
ないし41wのそれぞれには、枝管部101の開口部位
置よりも絶縁スペーサ3側に位置させて、主回路接触子
13が摺動接触する接点部42uないし42w(42w
は図示せず。)が設けられ、本体容器1の最下部には、
接点部42v及び42wの間に位置させて、接地用接点
部材16が支持されている。
接続され、該導体10には集電コンタクトをシールド内
に配置した構造の支持導体11が接続されている。支持
導体11には導体からなる回転軸12が回転自在に支持
され、該回転軸12の一端には主回路接触子13を支持
した回動部材14が、枝管部101の開口部101aの
位置よりも絶縁スペーサ3側に位置させて取付けられて
いる。3相の主回路導体4uないし4wの接続部41u
ないし41wのそれぞれには、枝管部101の開口部位
置よりも絶縁スペーサ3側に位置させて、主回路接触子
13が摺動接触する接点部42uないし42w(42w
は図示せず。)が設けられ、本体容器1の最下部には、
接点部42v及び42wの間に位置させて、接地用接点
部材16が支持されている。
接続部41uないし41wにそれぞれ設けられた一連の
接点部42uないし42w及び接地用接点部材16の先
端の接点部16aは回転軸12と同心的な円周上に位置
するように設けられ、回転軸12を回転操作することに
より、回動部材14を回動させて主回路接触子13を接
点部42u,42v,16a及び42wに順次接触させ
ることができるようになっている。
接点部42uないし42w及び接地用接点部材16の先
端の接点部16aは回転軸12と同心的な円周上に位置
するように設けられ、回転軸12を回転操作することに
より、回動部材14を回動させて主回路接触子13を接
点部42u,42v,16a及び42wに順次接触させ
ることができるようになっている。
回転軸12、主回路接触子13、回動部材14及び接点
部42uないし42wによりケーブル終端部と3相の主
回路導体4uないし4wとの間の接続及び切離しを行う
主回路断路部20が構成され、この主回路断路部20
は、その摺動接点部(主回路接触子13と該接触子が接
触する各接点部)が枝管部101の開口部101aの真
上に位置しないように配置されている。
部42uないし42wによりケーブル終端部と3相の主
回路導体4uないし4wとの間の接続及び切離しを行う
主回路断路部20が構成され、この主回路断路部20
は、その摺動接点部(主回路接触子13と該接触子が接
触する各接点部)が枝管部101の開口部101aの真
上に位置しないように配置されている。
本体容器1の他端は蓋板21により気密に閉じられ、該
蓋板21に軸受22を介して回転軸23が支持されてい
る。回転軸23の先端には腕部24a及び24b(第2
図参照)を有するV字形の可動アーム24が取付けら
れ、該アームの腕部24a,24bの先端にそれぞれ接
地回路接触子25a,25bが取付けられている。主回
路導体4uないし4wの他端には接地回路接触子25
a,25bが接触する接点部43uないし43wが設け
られ、接地回路接触子25a,25bが隣接する2相の
主回路導体の接点部に同時に接触し得るようになってい
る。回転軸23、アーム24、接地回路接触子25a,
25b及び接点部43uないし43wにより、主回路断
路部20がケーブル終端部(ケーブルヘッド8)をいず
れかの相の主回路導体に接続している時に他の相の主回
路導体を接地する接地装置26が構成され、この接地装
置もその摺動接点部(接触子25a,25b及び接点部
43uないし43wの接触部)を枝管部101の開口部
101aの真上に位置させないように設けられている。
蓋板21に軸受22を介して回転軸23が支持されてい
る。回転軸23の先端には腕部24a及び24b(第2
図参照)を有するV字形の可動アーム24が取付けら
れ、該アームの腕部24a,24bの先端にそれぞれ接
地回路接触子25a,25bが取付けられている。主回
路導体4uないし4wの他端には接地回路接触子25
a,25bが接触する接点部43uないし43wが設け
られ、接地回路接触子25a,25bが隣接する2相の
主回路導体の接点部に同時に接触し得るようになってい
る。回転軸23、アーム24、接地回路接触子25a,
25b及び接点部43uないし43wにより、主回路断
路部20がケーブル終端部(ケーブルヘッド8)をいず
れかの相の主回路導体に接続している時に他の相の主回
路導体を接地する接地装置26が構成され、この接地装
置もその摺動接点部(接触子25a,25b及び接点部
43uないし43wの接触部)を枝管部101の開口部
101aの真上に位置させないように設けられている。
蓋板21の外面には操作機構27が取付けられ、該操作
機構の回転操作軸が絶縁部材を介して回転軸23の後端
部に連結されている。そして回転軸23は絶縁ロッド2
8を介して回転軸12に連結され、操作機構27により
接地装置26と主回路断路部20とが連動して操作され
るようになっている。
機構の回転操作軸が絶縁部材を介して回転軸23の後端
部に連結されている。そして回転軸23は絶縁ロッド2
8を介して回転軸12に連結され、操作機構27により
接地装置26と主回路断路部20とが連動して操作され
るようになっている。
蓋板21を気密に貫通させて接地導体29が取付けら
れ、該接地導体29は、回転軸23の回転を妨げないよ
うに渦巻きバネ状に形成された接続導体30を介して回
転軸23に接続され、接地回路接触子25a,25bが
アーム24と回転軸23と接続導体30と接地導体29
とを通して接地電位部に接続されている。
れ、該接地導体29は、回転軸23の回転を妨げないよ
うに渦巻きバネ状に形成された接続導体30を介して回
転軸23に接続され、接地回路接触子25a,25bが
アーム24と回転軸23と接続導体30と接地導体29
とを通して接地電位部に接続されている。
絶縁スペーサ3の貫通導体5uないし5wは容器2内に
設けられた主回路導体31に接続され、該主回路導体3
1を介してガス絶縁開閉装置の主回路に接続されてい
る。
設けられた主回路導体31に接続され、該主回路導体3
1を介してガス絶縁開閉装置の主回路に接続されてい
る。
上記のように、本考案の試験装置においては、主回路断
路部20及び接地装置26を本体容器1の軸線方向に間
隔をあけて配置し、枝管部101を主回路断路部及び接
地装置のそれぞれの可動側と固定側との摺動接点部の直
下位置から外れた位置で本体容器内に開口させてあるた
め、主回路断路部及び接地装置の摺動接点部の摩耗によ
り生じる塵が枝管部内に直接落下するのを防ぐことがで
きる。
路部20及び接地装置26を本体容器1の軸線方向に間
隔をあけて配置し、枝管部101を主回路断路部及び接
地装置のそれぞれの可動側と固定側との摺動接点部の直
下位置から外れた位置で本体容器内に開口させてあるた
め、主回路断路部及び接地装置の摺動接点部の摩耗によ
り生じる塵が枝管部内に直接落下するのを防ぐことがで
きる。
摺動接点部の摩耗により生じた塵は本体容器1の下部に
落下するが、この塵が機械的振動を受けると本体容器の
軸線方向に移動して枝管部101内に落下するおそれが
ある。
落下するが、この塵が機械的振動を受けると本体容器の
軸線方向に移動して枝管部101内に落下するおそれが
ある。
これを防ぐため、本実施例では、枝管部101の周囲の
少なくとも本体容器の最下部位置に塵止め用突出部32
を設けてある。図示の塵止め用突出部32は容器1の円
周方向に伸びる2個の円弧状の突起からなり、これら2
個の突出部32,32は枝管部32の開口部101aを
容器1の軸線方向の両側から挟むように配置されてい
る。この様に塵止め用突出部32,32を設けると、容
器1の最下部を軸線方向に移動する塵に対して堰を構成
して、該塵が枝管部101内に落下するのを阻止するこ
とができる。
少なくとも本体容器の最下部位置に塵止め用突出部32
を設けてある。図示の塵止め用突出部32は容器1の円
周方向に伸びる2個の円弧状の突起からなり、これら2
個の突出部32,32は枝管部32の開口部101aを
容器1の軸線方向の両側から挟むように配置されてい
る。この様に塵止め用突出部32,32を設けると、容
器1の最下部を軸線方向に移動する塵に対して堰を構成
して、該塵が枝管部101内に落下するのを阻止するこ
とができる。
本体容器1は気密構造を有し、該容器内には、ガス絶縁
開閉装置の容器2内と同様にSF6ガスが封入されてい
る。
開閉装置の容器2内と同様にSF6ガスが封入されてい
る。
上記実施例の概略構成を電気的構成を加味して示した構
成図を第3図に示してある。この試験装置によりガス絶
縁開閉装置の課電試験を行う場合には、主回路断路部2
0により試験電圧印加用ケーブルの終端部を主回路導体
4uないし4wに順次接続する。例えばU相の試験を行
う場合には、主回路断路部20の接触子13を主回路導
体4uの接点部42uに接触させる。この時接地装置2
6の接触子25a,25bが他の2相の主回路導体4
v,4wの接点部43v,43wに接触して該2相の主
回路導体を接地する。
成図を第3図に示してある。この試験装置によりガス絶
縁開閉装置の課電試験を行う場合には、主回路断路部2
0により試験電圧印加用ケーブルの終端部を主回路導体
4uないし4wに順次接続する。例えばU相の試験を行
う場合には、主回路断路部20の接触子13を主回路導
体4uの接点部42uに接触させる。この時接地装置2
6の接触子25a,25bが他の2相の主回路導体4
v,4wの接点部43v,43wに接触して該2相の主
回路導体を接地する。
試験を行わないガス絶縁開閉装置の定常運転時には、主
回路断路部20の接触子13が接地用接点部材16に接
触させられてケーブル終端部(ケーブルヘッド8)が接
地される。この時接地装置26の接触子25a及び25
bはそれぞれ接点部43wと43uとの間及び接点部4
3uと43vとの間に位置していずれの主回路導体にも
接触しない状態を保持する。
回路断路部20の接触子13が接地用接点部材16に接
触させられてケーブル終端部(ケーブルヘッド8)が接
地される。この時接地装置26の接触子25a及び25
bはそれぞれ接点部43wと43uとの間及び接点部4
3uと43vとの間に位置していずれの主回路導体にも
接触しない状態を保持する。
[考案の効果] 以上のように、本考案によれば、主回路断路部及び接地
装置を本体容器の軸線方向に間隔をあけて配置し、枝管
部を主回路断路部及び接地装置のそれぞれの可動側と固
定側との摺動接点部の直下位置から外れた位置で本体容
器内に開口させたので、主回路断路部及び接地装置の摺
動接点部の摩耗により生じる塵が枝管内に直接落下する
のを防ぐことができ、枝管内に取付けられた試験電圧印
加用ケーブルの終端部の絶縁部に塵が付着して絶縁耐力
が低下するのを防ぐことができる利点がある。
装置を本体容器の軸線方向に間隔をあけて配置し、枝管
部を主回路断路部及び接地装置のそれぞれの可動側と固
定側との摺動接点部の直下位置から外れた位置で本体容
器内に開口させたので、主回路断路部及び接地装置の摺
動接点部の摩耗により生じる塵が枝管内に直接落下する
のを防ぐことができ、枝管内に取付けられた試験電圧印
加用ケーブルの終端部の絶縁部に塵が付着して絶縁耐力
が低下するのを防ぐことができる利点がある。
特に請求項2に記載した考案によれば、枝管部の周囲の
少なくとも本体容器の最下部位置に塵が枝管部内に落下
するのを阻止する塵止め用突出部を設けたので、摺動接
点部から本体容器の下部に落下した塵が振動により移動
して枝管部内に落下するのをも阻止して、ケーブル終端
部の絶縁劣化を一層効果的に防止できる利点がある。
少なくとも本体容器の最下部位置に塵が枝管部内に落下
するのを阻止する塵止め用突出部を設けたので、摺動接
点部から本体容器の下部に落下した塵が振動により移動
して枝管部内に落下するのをも阻止して、ケーブル終端
部の絶縁劣化を一層効果的に防止できる利点がある。
第1図は本考案の実施例を示す縦断面図、第2図は同実
施例の本体容器内の導体配置を示した概略横断面図、第
3図は同実施例の概略構成をその電気的構成を加味して
示した構成図である。 1……本体容器、101……枝管部、2……ガス絶縁開
閉装置の容器、3……絶縁スペーサ、4uないし4w…
…主回路導体、42uないし42w……接点部、43u
ないし43w……接点部、8……ケーブル終端部、9…
…試験電圧印加用ケーブル、20……主回路断路部、2
1……蓋板、24……アーム、25a,25b……接地
回路接触子、26……接地装置、32……塵止め用突出
部。
施例の本体容器内の導体配置を示した概略横断面図、第
3図は同実施例の概略構成をその電気的構成を加味して
示した構成図である。 1……本体容器、101……枝管部、2……ガス絶縁開
閉装置の容器、3……絶縁スペーサ、4uないし4w…
…主回路導体、42uないし42w……接点部、43u
ないし43w……接点部、8……ケーブル終端部、9…
…試験電圧印加用ケーブル、20……主回路断路部、2
1……蓋板、24……アーム、25a,25b……接地
回路接触子、26……接地装置、32……塵止め用突出
部。
Claims (2)
- 【請求項1】軸線を水平方向に向けて配置されて一端が
ガス絶縁開閉装置の容器に絶縁スペーサを介して接続さ
れた本体容器と、前記本体容器の下部に設けられた枝管
部と、前記本体容器内に設けられ前記絶縁スペーサを通
してガス絶縁開閉装置の主回路に接続された3相の主回
路導体と、前記枝管部に取付けられた試験電圧印加用ケ
ーブル終端部と、前記ケーブル終端部と3相の主回路導
体との間の接続及び切離しを行う主回路断路部と、前記
主回路断路部が前記ケーブル終端部をいずれかの相の主
回路導体に接続している時に他の相の主回路導体を接地
する接地装置とを備えたガス絶縁開閉装置用試験装置に
おいて、 前記主回路断路部及び接地装置は前記本体容器の軸線方
向に間隔をあけて配置され、 前記枝管部は前記主回路断路部及び接地装置のそれぞれ
の可動側と固定側との摺動接点部の直下位置から外れた
位置で本体容器内に開口するように設けられていること
を特徴とするガス絶縁開閉装置用試験装置。 - 【請求項2】前記枝管部の周囲の少なくとも前記本体容
器の最下部位置に該本体容器の下部に存在する塵が前記
枝管部内に落下するのを阻止する塵止め用突出部を設け
たことを特徴とする請求項1に記載のガス絶縁開閉装置
用試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1463988U JPH0613545Y2 (ja) | 1988-02-08 | 1988-02-08 | ガス絶縁開閉装置用試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1463988U JPH0613545Y2 (ja) | 1988-02-08 | 1988-02-08 | ガス絶縁開閉装置用試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01120712U JPH01120712U (ja) | 1989-08-16 |
| JPH0613545Y2 true JPH0613545Y2 (ja) | 1994-04-06 |
Family
ID=31226020
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1463988U Expired - Lifetime JPH0613545Y2 (ja) | 1988-02-08 | 1988-02-08 | ガス絶縁開閉装置用試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0613545Y2 (ja) |
-
1988
- 1988-02-08 JP JP1463988U patent/JPH0613545Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01120712U (ja) | 1989-08-16 |
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