JPH06150424A - 光磁気情報処理装置 - Google Patents
光磁気情報処理装置Info
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- JPH06150424A JPH06150424A JP4295581A JP29558192A JPH06150424A JP H06150424 A JPH06150424 A JP H06150424A JP 4295581 A JP4295581 A JP 4295581A JP 29558192 A JP29558192 A JP 29558192A JP H06150424 A JPH06150424 A JP H06150424A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 小型・軽量な光磁気情報処理装置を実現す
る。 【構成】 PBS44で偏光分離された2つの光を受光
面の法戦がほぼ同一方向の2つの受光部51,52によ
って受光する光ヘッド400と、磁気ヘッド300と、
記録媒体1を運動させるスピンドルモータ200と、光
ヘッド400を記録トラックに沿った方向と垂直な方向
に運動させるリニアモータ900と、を備えた光磁気情
報処理装置。
る。 【構成】 PBS44で偏光分離された2つの光を受光
面の法戦がほぼ同一方向の2つの受光部51,52によ
って受光する光ヘッド400と、磁気ヘッド300と、
記録媒体1を運動させるスピンドルモータ200と、光
ヘッド400を記録トラックに沿った方向と垂直な方向
に運動させるリニアモータ900と、を備えた光磁気情
報処理装置。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、光磁気的に情報の記録
または再生を行う情報処理装置に関する。
または再生を行う情報処理装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、GdFeCo、TbFeCo等の
磁性部材からなるディスクを垂直方向に磁化して情報を
記録し、また、これを読み取る光磁気方式の記録再生装
置(以下MOドライバ)が知られている。かかるMOド
ライバは、ディスク上にレーザビームを照射することに
よって、ディスクにキュリー点以上のエネルギを与え
て、外部磁場の磁性方向に応じた磁性をディスクの垂直
方向に与えることによって情報を記録する。また、ディ
スクに記録された情報の読取りは、ディスクの磁性方向
に応じてレーザビームの偏光面がカー効果によってわず
かに回転することを利用して、ディスクからの反射光の
P偏光成分、S偏光成分の変化を検出する。
磁性部材からなるディスクを垂直方向に磁化して情報を
記録し、また、これを読み取る光磁気方式の記録再生装
置(以下MOドライバ)が知られている。かかるMOド
ライバは、ディスク上にレーザビームを照射することに
よって、ディスクにキュリー点以上のエネルギを与え
て、外部磁場の磁性方向に応じた磁性をディスクの垂直
方向に与えることによって情報を記録する。また、ディ
スクに記録された情報の読取りは、ディスクの磁性方向
に応じてレーザビームの偏光面がカー効果によってわず
かに回転することを利用して、ディスクからの反射光の
P偏光成分、S偏光成分の変化を検出する。
【0003】図1は、かかるMOドライバの一例の構成
を示すブロック図であり、図においては磁場変調方式の
MOドライバが例示されている。図において、ディスク
1は、スピンドルモータ2によって回転されており、デ
ィスク1の記録面側(図においては下面)には、レーザ
ビームを照射する光ヘッド100が、ディスク1の反記
録面側(図においては上面)には、外部磁場を発生する
磁気ヘッド300が、それぞれ設けられている。光ヘッ
ド100は、ディスク1の半径方向に図示しないキャリ
ッジによって移動される。光ヘッド100には、レーザ
ビームを出射するための半導体レーザダイオード(以下
LD)11と、LD11から出射された発散光をほぼ平
行な光束にするためのコリメータレンズ15と、光束を
複数の回折光に分岐するグレーティング素子(以下グレ
ーティング)16が設けられている。グレーティング1
6を介した出射光は、ビームスプリッタ13を介して対
物レンズ15に導かれ、ディスク1上に集光される。
を示すブロック図であり、図においては磁場変調方式の
MOドライバが例示されている。図において、ディスク
1は、スピンドルモータ2によって回転されており、デ
ィスク1の記録面側(図においては下面)には、レーザ
ビームを照射する光ヘッド100が、ディスク1の反記
録面側(図においては上面)には、外部磁場を発生する
磁気ヘッド300が、それぞれ設けられている。光ヘッ
ド100は、ディスク1の半径方向に図示しないキャリ
ッジによって移動される。光ヘッド100には、レーザ
ビームを出射するための半導体レーザダイオード(以下
LD)11と、LD11から出射された発散光をほぼ平
行な光束にするためのコリメータレンズ15と、光束を
複数の回折光に分岐するグレーティング素子(以下グレ
ーティング)16が設けられている。グレーティング1
6を介した出射光は、ビームスプリッタ13を介して対
物レンズ15に導かれ、ディスク1上に集光される。
【0004】なお、グレーティング16はトラッキング
サーボ方式として、周知な3ビーム法を使用する場合に
必要なものであり、プッシュプル法等の1ビーム方式の
トラッキングサーボ方式を用いる場合にはグレーティン
グ16を設ける必要はない。一方、ディスク1を反射し
た反射光は、対物レンズ15を介してビームスプリッタ
13に導かれ、光路を曲げられた後、λ/2板17に入
射されて偏光面が45゜回転させられる。反射光は、さ
らに集光レンズ18によって集光光束とされた後、シリ
ンドリカルレンズ19によって非点収差が与えられ、偏
光ビームスプリッタ(以下PBS)14に導かれる。P
BS14は、反射光の例えばP偏光成分を透過し、S偏
光成分を反射して、それぞれの成分の光を分離し、分離
された各偏光成分の光は受光素子20、21にそれぞれ
導かれる。
サーボ方式として、周知な3ビーム法を使用する場合に
必要なものであり、プッシュプル法等の1ビーム方式の
トラッキングサーボ方式を用いる場合にはグレーティン
グ16を設ける必要はない。一方、ディスク1を反射し
た反射光は、対物レンズ15を介してビームスプリッタ
13に導かれ、光路を曲げられた後、λ/2板17に入
射されて偏光面が45゜回転させられる。反射光は、さ
らに集光レンズ18によって集光光束とされた後、シリ
ンドリカルレンズ19によって非点収差が与えられ、偏
光ビームスプリッタ(以下PBS)14に導かれる。P
BS14は、反射光の例えばP偏光成分を透過し、S偏
光成分を反射して、それぞれの成分の光を分離し、分離
された各偏光成分の光は受光素子20、21にそれぞれ
導かれる。
【0005】図2(a)は、図1のA方向から見た受光
素子20、21及びPBS14の位置関係を示すもので
ある。ディスク1に記録された情報は、受光素子20の
出力と受光素子21の出力との差を演算して得られ、ま
た一方の受光素子(図示の例では受光素子20)を適宜
分割して、受光したビームの分布、強度などからフォー
カスサーボ、トラッキングサーボなどに必要なエラー信
号が生成される。
素子20、21及びPBS14の位置関係を示すもので
ある。ディスク1に記録された情報は、受光素子20の
出力と受光素子21の出力との差を演算して得られ、ま
た一方の受光素子(図示の例では受光素子20)を適宜
分割して、受光したビームの分布、強度などからフォー
カスサーボ、トラッキングサーボなどに必要なエラー信
号が生成される。
【0006】なお、ここでは、これら光ヘッド100の
うち、特にコリメータレンズ15からビームスプリッタ
13を経由し、対物レンズ15に至る光学系を集光光学
系と称し、ビームスプリッタ13を反射した後、受光素
子21,22に至るまでの光学系を受光光学系と称す
る。
うち、特にコリメータレンズ15からビームスプリッタ
13を経由し、対物レンズ15に至る光学系を集光光学
系と称し、ビームスプリッタ13を反射した後、受光素
子21,22に至るまでの光学系を受光光学系と称す
る。
【0007】一方、磁気ヘッド300は、外部磁場を与
えるためのコイル31と、コイル31に流す電流を与え
るドライバ32が設けられ、ドライバ32は、エンコー
ダ33によって変調された変調信号に基づいて、コイル
31に供給する電流の極性を制御する。
えるためのコイル31と、コイル31に流す電流を与え
るドライバ32が設けられ、ドライバ32は、エンコー
ダ33によって変調された変調信号に基づいて、コイル
31に供給する電流の極性を制御する。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】上述のように、従来の
MOドライバにおける光ヘッド装置は、PBS14によ
ってほぼ直交する方向に反射光が分離され、この分離さ
れた方向に受光素子20および受光素子21を配置しな
ければならないので、両受光素子の組立配置及び調整が
複雑となるばかりでなく、光ヘッドの全体形状の大型化
が避けられない。これにより、従来のMOドライバはコ
ストが高くなり、またMOドライバ自体の大型化・高重
量化が避けられないという問題点があった。
MOドライバにおける光ヘッド装置は、PBS14によ
ってほぼ直交する方向に反射光が分離され、この分離さ
れた方向に受光素子20および受光素子21を配置しな
ければならないので、両受光素子の組立配置及び調整が
複雑となるばかりでなく、光ヘッドの全体形状の大型化
が避けられない。これにより、従来のMOドライバはコ
ストが高くなり、またMOドライバ自体の大型化・高重
量化が避けられないという問題点があった。
【0009】また、小型化を図るために、λ/2板17
を省略することも可能であるが、この場合、PBS14
に対する偏光面が傾くようにするために、PBS14自
体を、例えば45゜傾斜させて配置しなければならず、
この場合、図2(b)に示すようにλ/2板17を用い
た場合の高さh1 (図2(a))に比較して、高さh2
が大きくなる欠点を有している。
を省略することも可能であるが、この場合、PBS14
に対する偏光面が傾くようにするために、PBS14自
体を、例えば45゜傾斜させて配置しなければならず、
この場合、図2(b)に示すようにλ/2板17を用い
た場合の高さh1 (図2(a))に比較して、高さh2
が大きくなる欠点を有している。
【0010】さらに、LD11とコリメータレンズ15
との間に、受光光学系を配置して全体の小型化を図るこ
とも考えられている。すなわち、図3に示すように、L
D11とコリメータレンズ15との間にビームスプリッ
タ13を設けてディスク1からの反射光を分離し、分離
された反射光をPBS14に導くのである。
との間に、受光光学系を配置して全体の小型化を図るこ
とも考えられている。すなわち、図3に示すように、L
D11とコリメータレンズ15との間にビームスプリッ
タ13を設けてディスク1からの反射光を分離し、分離
された反射光をPBS14に導くのである。
【0011】しかしながら、光学的な素子を保持するた
めの保持部材や基板が必要であるため、図3に示すよう
な構成においては、受光素子21,22、あるいは受光
素子21とビームスプリッタ13が互いに干渉して(図
の網目部分)設計の自由度が得られない。また受光素子
21を保持する基板がLD11からの出射光束を妨げる
恐れがある。
めの保持部材や基板が必要であるため、図3に示すよう
な構成においては、受光素子21,22、あるいは受光
素子21とビームスプリッタ13が互いに干渉して(図
の網目部分)設計の自由度が得られない。また受光素子
21を保持する基板がLD11からの出射光束を妨げる
恐れがある。
【0012】このように、互いの光学素子の干渉を防ぐ
ためには、図4に示すように、凹レンズ20を用いるこ
とも考えられるが、結局装置の大型化を招くことにな
り、さらには部品点数の増加、調整工程の増加を伴うの
でコストアップの要因となる。そこで、また、2つの受
光素子21,22を同一平面に配置する方法が考えられ
ている。すなわち、図1の例におけるPBS14の代わ
りに、図5に示すウォラストンプリズム23を用いて、
P偏光成分及びS偏光成分を同じ方向において分離し、
受光素子21,22を、これらP偏光成分の光束の延長
上、及びS偏光成分の光束の延長上に、平面上に並ぶよ
うに配置するのである。しかしながら、かかる方法にお
いてもウォラストンプリズム23が高価であるばかりで
なく、ウォラストンプリズム23によって分離されるP
偏光成分の光束とS偏光成分の光束とがなす角度θが、
1゜±0.03゜程度と極めて微小な角度であるため、
ウォラストンプリズム23と各受光素子21,22との
距離を十分長くしなければ両受光素子21,22を並べ
て配置することはできず、結局、小型化には適していな
いのである。
ためには、図4に示すように、凹レンズ20を用いるこ
とも考えられるが、結局装置の大型化を招くことにな
り、さらには部品点数の増加、調整工程の増加を伴うの
でコストアップの要因となる。そこで、また、2つの受
光素子21,22を同一平面に配置する方法が考えられ
ている。すなわち、図1の例におけるPBS14の代わ
りに、図5に示すウォラストンプリズム23を用いて、
P偏光成分及びS偏光成分を同じ方向において分離し、
受光素子21,22を、これらP偏光成分の光束の延長
上、及びS偏光成分の光束の延長上に、平面上に並ぶよ
うに配置するのである。しかしながら、かかる方法にお
いてもウォラストンプリズム23が高価であるばかりで
なく、ウォラストンプリズム23によって分離されるP
偏光成分の光束とS偏光成分の光束とがなす角度θが、
1゜±0.03゜程度と極めて微小な角度であるため、
ウォラストンプリズム23と各受光素子21,22との
距離を十分長くしなければ両受光素子21,22を並べ
て配置することはできず、結局、小型化には適していな
いのである。
【0013】なお、図3の例においては、光路長がコレ
メータレンズ12の焦点距離で制限されるため、ウォラ
ストンプリズム23を用いることは非常に困難である。
メータレンズ12の焦点距離で制限されるため、ウォラ
ストンプリズム23を用いることは非常に困難である。
【0014】本発明は、かかる従来の技術の有する課題
を克服するためになされたものであり、光ヘッドを小型
・軽量化に適し、組立調整の容易な構成とすることによ
り、低コストで小型・軽量なMOドライバの光ヘッド装
置を提供することを目的とする。
を克服するためになされたものであり、光ヘッドを小型
・軽量化に適し、組立調整の容易な構成とすることによ
り、低コストで小型・軽量なMOドライバの光ヘッド装
置を提供することを目的とする。
【0015】
【課題を解決するための手段】本発明の光磁気情報処理
装置は、光ヘッドと記録媒体運動手段と光ヘッド運動手
段を備え、該光ヘッドを、光を出射する発光素子と、前
記発光素子から出射される光を記録媒体上に集光させる
とともに前記記録媒体からの反射光を受光する対物レン
ズと、前記発光素子と対物レンズとの間に配置され前記
記録媒体からの反射光を反射もしくは透過させることに
より前記発光素子から前記光学的記録媒体に至る光の光
軸から分離させる反射光分離素子と、前記分離された光
を一部反射させ一部透過させることにより互いに直交す
る2つの偏光方向の光に分離し、各偏光成分の光の光軸
のなす角度が90°未満となるように配置された偏光分
離素子と、前記2つの偏光成分に分離された光をそれぞ
れ受光する少なくとも2つの受光部を有し、該受光部の
受光面がほぼ同一方向に向けて配置された受光手段と、
で構成した。
装置は、光ヘッドと記録媒体運動手段と光ヘッド運動手
段を備え、該光ヘッドを、光を出射する発光素子と、前
記発光素子から出射される光を記録媒体上に集光させる
とともに前記記録媒体からの反射光を受光する対物レン
ズと、前記発光素子と対物レンズとの間に配置され前記
記録媒体からの反射光を反射もしくは透過させることに
より前記発光素子から前記光学的記録媒体に至る光の光
軸から分離させる反射光分離素子と、前記分離された光
を一部反射させ一部透過させることにより互いに直交す
る2つの偏光方向の光に分離し、各偏光成分の光の光軸
のなす角度が90°未満となるように配置された偏光分
離素子と、前記2つの偏光成分に分離された光をそれぞ
れ受光する少なくとも2つの受光部を有し、該受光部の
受光面がほぼ同一方向に向けて配置された受光手段と、
で構成した。
【0016】あるいは、光ヘッドを、光を出射する発光
素子と、前記発光素子から出射される光を記録媒体上に
集光させるとともに前記記録媒体からの反射光を受光す
る対物レンズと、前記発光素子と対物レンズとの間に配
置され前記記録媒体からの反射光を反射もしくは透過さ
せることにより前記発光素子から前記光学的記録媒体に
至る光の光軸から分離させる反射光分離素子と、前記分
離された光を一部反射させ一部透過させることにより互
いに直交する2つの偏光方向の光に分離し、各偏光成分
の光の光軸のなす角度が90°未満となるように配置さ
れた偏光分離素子と、前記2つの偏光成分に分離された
光をそれぞれ受光する少なくとも2つの受光部を有し、
該受光部が一つの基板上に配置された受光手段と、で構
成した。
素子と、前記発光素子から出射される光を記録媒体上に
集光させるとともに前記記録媒体からの反射光を受光す
る対物レンズと、前記発光素子と対物レンズとの間に配
置され前記記録媒体からの反射光を反射もしくは透過さ
せることにより前記発光素子から前記光学的記録媒体に
至る光の光軸から分離させる反射光分離素子と、前記分
離された光を一部反射させ一部透過させることにより互
いに直交する2つの偏光方向の光に分離し、各偏光成分
の光の光軸のなす角度が90°未満となるように配置さ
れた偏光分離素子と、前記2つの偏光成分に分離された
光をそれぞれ受光する少なくとも2つの受光部を有し、
該受光部が一つの基板上に配置された受光手段と、で構
成した。
【0017】また、上記の構成の光ヘッドにおいて、前
記反射光分離素子を、前記発光素子と対物レンズとの間
の発散光路上に配置してもよい。
記反射光分離素子を、前記発光素子と対物レンズとの間
の発散光路上に配置してもよい。
【0018】さらにまた、上記の構成の光ヘッドにおい
て、前記偏光分離素子を、平板形状の透明部材としても
よい。
て、前記偏光分離素子を、平板形状の透明部材としても
よい。
【0019】
【作用】記録媒体運動手段は、記録媒体を記録トラック
に沿った方向に回転もしくは並進運動させる。
に沿った方向に回転もしくは並進運動させる。
【0020】光ヘッドは、発光素子から出射された光を
対物レンズによって記録媒体上に集光し、記録媒体から
の反射光を反射光分離素子によって分離し、分離された
反射光を偏光分離素子によって光軸のなす角度が90°
未満となるようにさらに偏光分離し、偏光分離された光
を2つの受光部の受光面がほぼ同一方向に向けて配置さ
れたもしくは2つの受光部が一つの基板上に配置された
受光手段によって受光する。光軸のなす角度が90°未
満となるように偏光分離することにより、2つの受光部
の受光面がほぼ同一方向に向けて配置されたもしくは2
つの受光部が一つの基板上に配置された受光手段を用い
ることができ、小型・軽量化に適し、組立調整の容易な
光ヘッドを構成することができる。
対物レンズによって記録媒体上に集光し、記録媒体から
の反射光を反射光分離素子によって分離し、分離された
反射光を偏光分離素子によって光軸のなす角度が90°
未満となるようにさらに偏光分離し、偏光分離された光
を2つの受光部の受光面がほぼ同一方向に向けて配置さ
れたもしくは2つの受光部が一つの基板上に配置された
受光手段によって受光する。光軸のなす角度が90°未
満となるように偏光分離することにより、2つの受光部
の受光面がほぼ同一方向に向けて配置されたもしくは2
つの受光部が一つの基板上に配置された受光手段を用い
ることができ、小型・軽量化に適し、組立調整の容易な
光ヘッドを構成することができる。
【0021】光ヘッドは、反射光分離素子を前記発光素
子と対物レンズとの間の発散光路上に配置することによ
り、さらに小型・軽量になる。
子と対物レンズとの間の発散光路上に配置することによ
り、さらに小型・軽量になる。
【0022】光ヘッドは、偏光分離素子として平板形状
の透明部材を用いることにより、さらに小型・軽量にな
る。また、偏光分離素子として平板形状の透明部材を用
いることにより光に非点収差を持たせることができるの
で、トラッキングエラー信号を得るための光学素子を別
に設ける必要がない。
の透明部材を用いることにより、さらに小型・軽量にな
る。また、偏光分離素子として平板形状の透明部材を用
いることにより光に非点収差を持たせることができるの
で、トラッキングエラー信号を得るための光学素子を別
に設ける必要がない。
【0023】光ヘッド運動手段は、光ヘッドを記録媒体
の記録トラックに沿った方向と垂直な方向に移動させ
る。
の記録トラックに沿った方向と垂直な方向に移動させ
る。
【0024】
【発明の効果】小型・軽量、組み立て調整の容易な光ヘ
ッドを備えることにより、光磁気情報処理装置の低コス
ト化、小型・軽量化を実現することができる。
ッドを備えることにより、光磁気情報処理装置の低コス
ト化、小型・軽量化を実現することができる。
【0025】また、軽量な光ヘッドであるために、光ヘ
ッドを高速に移動させることができるのでアクセス時間
・処理時間を短くすることができる。
ッドを高速に移動させることができるのでアクセス時間
・処理時間を短くすることができる。
【0026】また、軽量な光ヘッドであるために、光ヘ
ッド運動手段が低出力のものでも十分に光ヘッドを素早
く移動させることができ、光ヘッド運動手段の低コスト
化および小型・軽量化ひいては光磁気情報処理装置の低
コスト化および小型・軽量化を実現することができる。
ッド運動手段が低出力のものでも十分に光ヘッドを素早
く移動させることができ、光ヘッド運動手段の低コスト
化および小型・軽量化ひいては光磁気情報処理装置の低
コスト化および小型・軽量化を実現することができる。
【0027】
【実施例】以下、本発明の光磁気情報処理装置の一実施
例について図面を参照して説明する。なお、従来の技術
と対応する部分には同一の符号を付与し、その説明は適
宜省略する。
例について図面を参照して説明する。なお、従来の技術
と対応する部分には同一の符号を付与し、その説明は適
宜省略する。
【0028】図6は、本発明の光磁気情報処理装置の一
実施例の構成を示すブロック図であり、本実施例の光磁
気情報処理装置は、記録媒体運動手段としてのスピンド
ルモータ200と、光ヘッド400と、磁場発生手段と
しての磁気ヘッド300と、図示しない光ヘッド運動手
段と、から構成されている。
実施例の構成を示すブロック図であり、本実施例の光磁
気情報処理装置は、記録媒体運動手段としてのスピンド
ルモータ200と、光ヘッド400と、磁場発生手段と
しての磁気ヘッド300と、図示しない光ヘッド運動手
段と、から構成されている。
【0029】図7は、光ヘッド400の斜視図である。
光ヘッド400は、発光素子としての半導体レーザ41
と、対物レンズ42と、半導体レーザ41と対物レンズ
42との間に配置された反射光分離素子としてのBS
(ビームスプリッタ)43と、偏光分離素子としてのP
BS(偏光ビームスプリッタ)44と、受光部51およ
び受光部52が基台53上に設けられた受光手段500
とから構成されている。半導体レーザ41は、本実施例
においては、BS43の光分離面に対してP偏光の直線
偏光のレーザビームを出射するものとする。BS43
は、ディスク1からの反射光のうち、P偏光成分の反射
率RP1よりもS偏光成分の反射率RS1が大きくなるよう
になされている。このときのRP1及びRS1は、それぞれ
RP1=10〜30%、RS1=約100%とする。BS4
3にて反射されたディスク1からの反射光は、集光され
つつPBS44に入射される。
光ヘッド400は、発光素子としての半導体レーザ41
と、対物レンズ42と、半導体レーザ41と対物レンズ
42との間に配置された反射光分離素子としてのBS
(ビームスプリッタ)43と、偏光分離素子としてのP
BS(偏光ビームスプリッタ)44と、受光部51およ
び受光部52が基台53上に設けられた受光手段500
とから構成されている。半導体レーザ41は、本実施例
においては、BS43の光分離面に対してP偏光の直線
偏光のレーザビームを出射するものとする。BS43
は、ディスク1からの反射光のうち、P偏光成分の反射
率RP1よりもS偏光成分の反射率RS1が大きくなるよう
になされている。このときのRP1及びRS1は、それぞれ
RP1=10〜30%、RS1=約100%とする。BS4
3にて反射されたディスク1からの反射光は、集光され
つつPBS44に入射される。
【0030】PBS44は、ディスク1からの反射光の
うち、PBS44の反射面に対するP偏光成分を透過し
て、受光部51にこれを導き、一方、S偏光成分を反射
して受光部52に導く。このため、PBS44のP偏光
成分に対する反射率RP2は、RP2≦10%、S偏光成分
に対する反射率RS2は、RS2≧90%程度とする。また
PBS44の反射面は、透過するP偏光成分の光の光軸
と、反射するS偏光成分の光の光軸とがなす角度が90
゜未満となるようにするため、入射角が45゜以上にな
るように設けられており、この結果、受光部51,52
は図示のごとく一つの基台53上に受光面をほぼ同一方
向に向けて配置することが可能となる。また、PBS4
4は、ディスク1による偏光面の回転を検出するため、
PBS44によって分離されるそれぞれの光の偏光方向
が、BS43の光分離面に対するP偏光の方向に対して
ほぼ45度の角度を持つように傾けられている。
うち、PBS44の反射面に対するP偏光成分を透過し
て、受光部51にこれを導き、一方、S偏光成分を反射
して受光部52に導く。このため、PBS44のP偏光
成分に対する反射率RP2は、RP2≦10%、S偏光成分
に対する反射率RS2は、RS2≧90%程度とする。また
PBS44の反射面は、透過するP偏光成分の光の光軸
と、反射するS偏光成分の光の光軸とがなす角度が90
゜未満となるようにするため、入射角が45゜以上にな
るように設けられており、この結果、受光部51,52
は図示のごとく一つの基台53上に受光面をほぼ同一方
向に向けて配置することが可能となる。また、PBS4
4は、ディスク1による偏光面の回転を検出するため、
PBS44によって分離されるそれぞれの光の偏光方向
が、BS43の光分離面に対するP偏光の方向に対して
ほぼ45度の角度を持つように傾けられている。
【0031】また、PBS44は、PBS44を透過す
る光に対して非点収差を持たせるという機能も有してい
る。
る光に対して非点収差を持たせるという機能も有してい
る。
【0032】図8は、図6のA方向からBS43、PB
S44、受光部51,52を臨んだ時の平面図であり、
A方向から見た高さ方向の距離はPBS44の対角線の
長さ程度に短縮される。
S44、受光部51,52を臨んだ時の平面図であり、
A方向から見た高さ方向の距離はPBS44の対角線の
長さ程度に短縮される。
【0033】図9は、PBS44、受光部51,52
と、これらの光学素子に入射される光の関係を拡大して
示すものであり、PBS44を透過したPBS44の反
射面に対するP偏光成分の光が、その集光点の手前で受
光部51に入射されるようになされている。PBS44
を透過した光は非点収差をもっている。またPBS44
を反射したS成分の光は、その集光点の後方にて受光部
52に入射されるようになされている。これら受光部5
1,52は同一の基台53上に設けられ、基台53上の
入射面には検光子54が設けられている。検光子54
は、各偏光成分の光の消光比を向上させるものである。
と、これらの光学素子に入射される光の関係を拡大して
示すものであり、PBS44を透過したPBS44の反
射面に対するP偏光成分の光が、その集光点の手前で受
光部51に入射されるようになされている。PBS44
を透過した光は非点収差をもっている。またPBS44
を反射したS成分の光は、その集光点の後方にて受光部
52に入射されるようになされている。これら受光部5
1,52は同一の基台53上に設けられ、基台53上の
入射面には検光子54が設けられている。検光子54
は、各偏光成分の光の消光比を向上させるものである。
【0034】次に、本実施例の動作について説明する。
半導体レーザ41から出射されたP偏光成分の出射光
は、BS43に入射されるが、BS43はP偏光成分の
透過率を高めているため、ほとんどが対物レンズ42を
介してディスク1に照射される。ディスク1に照射され
た光は、ディスク1の磁化の方向に応じて偏光面が回転
させられてS偏光成分を含む反射光となり、反射光は対
物レンズ42を介した後、BS43にて反射される。B
S43は、S偏光成分に対する反射率が高いので、反射
光に含まれるわずかなS偏光成分の光を支配的に反射
し、P偏光成分は相対的にわずかしか反射されない。
半導体レーザ41から出射されたP偏光成分の出射光
は、BS43に入射されるが、BS43はP偏光成分の
透過率を高めているため、ほとんどが対物レンズ42を
介してディスク1に照射される。ディスク1に照射され
た光は、ディスク1の磁化の方向に応じて偏光面が回転
させられてS偏光成分を含む反射光となり、反射光は対
物レンズ42を介した後、BS43にて反射される。B
S43は、S偏光成分に対する反射率が高いので、反射
光に含まれるわずかなS偏光成分の光を支配的に反射
し、P偏光成分は相対的にわずかしか反射されない。
【0035】従って、BS43を反射した光に含まれる
P偏光成分に対するS偏光成分の比は、ディスク1から
反射された時点での比と比べて増大することになり、B
S43がP偏光成分に対するS偏光成分の増幅作用を有
することが理解される。
P偏光成分に対するS偏光成分の比は、ディスク1から
反射された時点での比と比べて増大することになり、B
S43がP偏光成分に対するS偏光成分の増幅作用を有
することが理解される。
【0036】BS43を反射した光は、PBS44に入
射される。PBS44は、BS43の光分離面に対する
P偏光成分の光に対してそれぞれ45度の角度をなす2
つの偏光成分、即ち、PBS44におけるP偏光成分と
S偏光成分とに光を分離する作用を有するので、PBS
44を透過したPBS44の反射面に対するP偏光成分
の光を受光する受光部51にて得られる総和信号、及び
PBS44を反射したS偏光成分の光を受光する受光部
52にて得られる総和信号の差を差動増幅器61で演算
すれば、ディスク1の磁化の方向に応じた被変調信号を
得ることができる。
射される。PBS44は、BS43の光分離面に対する
P偏光成分の光に対してそれぞれ45度の角度をなす2
つの偏光成分、即ち、PBS44におけるP偏光成分と
S偏光成分とに光を分離する作用を有するので、PBS
44を透過したPBS44の反射面に対するP偏光成分
の光を受光する受光部51にて得られる総和信号、及び
PBS44を反射したS偏光成分の光を受光する受光部
52にて得られる総和信号の差を差動増幅器61で演算
すれば、ディスク1の磁化の方向に応じた被変調信号を
得ることができる。
【0037】図10は、受光部51,52の詳細と、こ
れら受光部51,52に入射される光から再生信号、フ
ォーカスエラー信号、及びトラッキングエラー信号を生
成するための生成回路とを示すブロック図である。図1
0に示すように、各受光部51,52は、それぞれ3つ
の受光領域51a乃至51c、及び52a乃至52cに
分割されており、その分割線の方向は、ディスク1に形
成されたトラック溝の方向と平行になされている。各受
光領域51a乃至51c、及び52a乃至52cは、各
受光領域に入射された光を光電変換して、光量に応じた
電気信号を出力する。受光部51における受光領域51
a乃至51cの出力信号は、差動増幅器41の非反転入
力端子に、また受光部52における受光領域52a乃至
52cの出力信号が、差動増幅器61の反転入力端子に
供給されており、差動増幅器61で演算される受光部5
1の総和出力と受光部52の総和出力との差が再生信号
となる。また受光部51において、受光領域51aの出
力と受光領域51bの出力の差が差動増幅器62で演算
され、いわゆるプッシュプル法を用いたトラッキングエ
ラー信号が差動増幅器62から得られる。むろんプッシ
ュプルエラーは、受光部52の受光領域52aと52c
から検出する用にしてもよい。
れら受光部51,52に入射される光から再生信号、フ
ォーカスエラー信号、及びトラッキングエラー信号を生
成するための生成回路とを示すブロック図である。図1
0に示すように、各受光部51,52は、それぞれ3つ
の受光領域51a乃至51c、及び52a乃至52cに
分割されており、その分割線の方向は、ディスク1に形
成されたトラック溝の方向と平行になされている。各受
光領域51a乃至51c、及び52a乃至52cは、各
受光領域に入射された光を光電変換して、光量に応じた
電気信号を出力する。受光部51における受光領域51
a乃至51cの出力信号は、差動増幅器41の非反転入
力端子に、また受光部52における受光領域52a乃至
52cの出力信号が、差動増幅器61の反転入力端子に
供給されており、差動増幅器61で演算される受光部5
1の総和出力と受光部52の総和出力との差が再生信号
となる。また受光部51において、受光領域51aの出
力と受光領域51bの出力の差が差動増幅器62で演算
され、いわゆるプッシュプル法を用いたトラッキングエ
ラー信号が差動増幅器62から得られる。むろんプッシ
ュプルエラーは、受光部52の受光領域52aと52c
から検出する用にしてもよい。
【0038】さらに受光部51の受光領域51aと51
cとの和信号が、差動増幅器63の非反転入力端子に、
受光領域51bの出力信号が、差動増幅器63の反転入
力端子に供給され、両者の差信号が差動増幅器63にて
演算される一方、受光部52の受光領域52aと52c
との和信号と、受光領域51bとの差信号が受光部51
の場合と同様にして差動増幅器64にて検出される。
cとの和信号が、差動増幅器63の非反転入力端子に、
受光領域51bの出力信号が、差動増幅器63の反転入
力端子に供給され、両者の差信号が差動増幅器63にて
演算される一方、受光部52の受光領域52aと52c
との和信号と、受光領域51bとの差信号が受光部51
の場合と同様にして差動増幅器64にて検出される。
【0039】そして、差動増幅器63の出力が差動増幅
器65の非反転入力端子に、差動増幅器64の出力が差
動増幅器65の反転入力端子に供給され、差動増幅器6
5は両者の差を演算することにより、いわゆるビームサ
イズ法によるフォーカスエラー信号を生成する。これは
受光部51が入射光の集光点の前方に配置され、受光部
52が入射光の集光点の後方に配置されているため、フ
ォーカス状態が変化すると、両受光部51,52に入射
される光の径が相補的に変化することを利用するもので
あり、差動増幅器65の出力はフォーカスが取れている
場合に0となり、フォーカスがずれると、その方向に応
じた極性のフォーカスエラー信号を出力する。
器65の非反転入力端子に、差動増幅器64の出力が差
動増幅器65の反転入力端子に供給され、差動増幅器6
5は両者の差を演算することにより、いわゆるビームサ
イズ法によるフォーカスエラー信号を生成する。これは
受光部51が入射光の集光点の前方に配置され、受光部
52が入射光の集光点の後方に配置されているため、フ
ォーカス状態が変化すると、両受光部51,52に入射
される光の径が相補的に変化することを利用するもので
あり、差動増幅器65の出力はフォーカスが取れている
場合に0となり、フォーカスがずれると、その方向に応
じた極性のフォーカスエラー信号を出力する。
【0040】なお、受光部52に入射するS偏光成分の
入射角度が大きいと、受光部52上でコマ収差の影響に
よりビームの形状が歪むため、正しいビームサイズ法に
よるフォーカスエラー信号の検出ができなくなる恐れが
ある。そこでS偏光成分の光の光軸と、受光部52の法
線とのなす角度は50゜未満程度とすることが望まし
い。
入射角度が大きいと、受光部52上でコマ収差の影響に
よりビームの形状が歪むため、正しいビームサイズ法に
よるフォーカスエラー信号の検出ができなくなる恐れが
ある。そこでS偏光成分の光の光軸と、受光部52の法
線とのなす角度は50゜未満程度とすることが望まし
い。
【0041】図11は、受光部51,52の他の実施例
を示す図である。図11において、図10に示す回路図
に対応する部分には同一の符号を付してあり、その説明
は適宜省略する。図11において、各受光部51、52
の受光領域をa、b、c、d、eとし、再生信号、トラ
ッキングエラー信号及びフォーカスエラー信号をそれぞ
れS、Tes、Fesとすると、 S=(e)−(a+b+c+d) Tes=(a+b)−(c+d) Fes=(a+d)−(b+c) となる。
を示す図である。図11において、図10に示す回路図
に対応する部分には同一の符号を付してあり、その説明
は適宜省略する。図11において、各受光部51、52
の受光領域をa、b、c、d、eとし、再生信号、トラ
ッキングエラー信号及びフォーカスエラー信号をそれぞ
れS、Tes、Fesとすると、 S=(e)−(a+b+c+d) Tes=(a+b)−(c+d) Fes=(a+d)−(b+c) となる。
【0042】このようにすると、PBS44の反射光を
受光する受光部52は分割する必要がなく、分割ギャッ
プによる受光量の損失がなくなり、より大きな再生信号
レベルが得られる。また、受光部52は、PBS44か
らの反射光を受光するだけでよく、調整が容易となる。
図12に、ディスクのフォーカス移動による受光部51
上のビームの形状変化を示し、(a)は近すぎた場合、
(b)は合焦している場合、(c)は遠すぎた場合を示
す。
受光する受光部52は分割する必要がなく、分割ギャッ
プによる受光量の損失がなくなり、より大きな再生信号
レベルが得られる。また、受光部52は、PBS44か
らの反射光を受光するだけでよく、調整が容易となる。
図12に、ディスクのフォーカス移動による受光部51
上のビームの形状変化を示し、(a)は近すぎた場合、
(b)は合焦している場合、(c)は遠すぎた場合を示
す。
【0043】図13は、受光部51,52のさらに他の
実施例を示す図である。図13において、受光部51
は、6つの受光領域51a乃至51fに分割され、受光
部52は、3つの受光領域52a乃至52cに分割され
ている。但し、図10の場合と異なり、受光部52に着
目すれば、その分割線の方向はトラック溝方向と直交す
る方向となっている。そして、受光領域51a乃至51
fから得られる光電変換出力をa乃至f、受光領域52
a乃至52cから得られる光電変換出力をg乃至iとす
ると、 再生信号 S=(a+b+c+d+e+
f)−(g+h+i) トラッキングエラー信号 Tes=(a+b+c)−(d
+e+f) フォーカスエラー信号 Fes={(a+d+c+f)
−(b+e)}−(g+i−h) となる。
実施例を示す図である。図13において、受光部51
は、6つの受光領域51a乃至51fに分割され、受光
部52は、3つの受光領域52a乃至52cに分割され
ている。但し、図10の場合と異なり、受光部52に着
目すれば、その分割線の方向はトラック溝方向と直交す
る方向となっている。そして、受光領域51a乃至51
fから得られる光電変換出力をa乃至f、受光領域52
a乃至52cから得られる光電変換出力をg乃至iとす
ると、 再生信号 S=(a+b+c+d+e+
f)−(g+h+i) トラッキングエラー信号 Tes=(a+b+c)−(d
+e+f) フォーカスエラー信号 Fes={(a+d+c+f)
−(b+e)}−(g+i−h) となる。
【0044】このようにすると、トラッキングサーボの
作用により、ディスク1上のビームをトラックに追従さ
せる場合に、受光部上でのビームが図13の左右方向に
移動した場合でも、その影響はフォーカスエラー信号に
現われず、安定したフォーカスサーボ特性が得られる。
なお、上記までの実施例において、BS43としては、
偏光膜を一方の面に施したプリズムが用いられ得るが、
一般的には、BS43の他方の面に無反射コーティング
を施しておくことが多い。
作用により、ディスク1上のビームをトラックに追従さ
せる場合に、受光部上でのビームが図13の左右方向に
移動した場合でも、その影響はフォーカスエラー信号に
現われず、安定したフォーカスサーボ特性が得られる。
なお、上記までの実施例において、BS43としては、
偏光膜を一方の面に施したプリズムが用いられ得るが、
一般的には、BS43の他方の面に無反射コーティング
を施しておくことが多い。
【0045】しかし、この無反射コーティングを施さな
くとも、図10に示す信号生成回路を用いることによっ
て、BS43の両面で反射される場合にも正しい読み取
り信号、サーボ用エラー信号を生成することが可能であ
る。
くとも、図10に示す信号生成回路を用いることによっ
て、BS43の両面で反射される場合にも正しい読み取
り信号、サーボ用エラー信号を生成することが可能であ
る。
【0046】また、PBS44と入射光のなす角度θ1
を大きくすると、受光部51と受光部52との間の距離
を長くすることができ、それぞれの受光部51,52に
入射される光同志の干渉を防いだり、あるいは受光部5
1,52の配置の自由度を向上させることが可能とな
る。
を大きくすると、受光部51と受光部52との間の距離
を長くすることができ、それぞれの受光部51,52に
入射される光同志の干渉を防いだり、あるいは受光部5
1,52の配置の自由度を向上させることが可能とな
る。
【0047】しかしながら、θ1 を大きくしすぎると、
受光部52上でのコマ収差の影響によってビーム形状が
歪んでしまう。この場合には、両受光部51,52を載
置する基台を角度θ2 だけ傾斜させて、両受光部51,
52にできるだけ垂直に光が投光されるようにすること
が考えられる。ところが受光部51に至るまでの光路長
と、受光部52に至るまでの光路長の差が小さくなるた
め、ビームサイズ法によるフォーカスエラー信号の生成
が困難になる。
受光部52上でのコマ収差の影響によってビーム形状が
歪んでしまう。この場合には、両受光部51,52を載
置する基台を角度θ2 だけ傾斜させて、両受光部51,
52にできるだけ垂直に光が投光されるようにすること
が考えられる。ところが受光部51に至るまでの光路長
と、受光部52に至るまでの光路長の差が小さくなるた
め、ビームサイズ法によるフォーカスエラー信号の生成
が困難になる。
【0048】そこで、図14に示すように、受光部51
の前面に屈折率n、厚さdの光路長調整素子としてのプ
リズム55を配置して、実質的な光路長の差が大きくな
るようにする。図14の場合、受光部51に入射される
光(すなわちP偏光成分の光)の光路長は、 Δl=(d/cosθ2 )−(1/n)・(d/cos
θ2 ′) 但し、 θ2 ′=arcsin{(1/n)・sinθ2 )} だけ短くなる。すなわち、屈折率nと厚さdを適宜選択
することによって、任意の光路長を選ぶことができる。
の前面に屈折率n、厚さdの光路長調整素子としてのプ
リズム55を配置して、実質的な光路長の差が大きくな
るようにする。図14の場合、受光部51に入射される
光(すなわちP偏光成分の光)の光路長は、 Δl=(d/cosθ2 )−(1/n)・(d/cos
θ2 ′) 但し、 θ2 ′=arcsin{(1/n)・sinθ2 )} だけ短くなる。すなわち、屈折率nと厚さdを適宜選択
することによって、任意の光路長を選ぶことができる。
【0049】また、受光手段のその他の具体的構成を図
15,図16,図17,図18,図19および図20に
示す。各図の(a)及び(b)は、それぞれ受光手段の
側面図及び斜視図を示す。
15,図16,図17,図18,図19および図20に
示す。各図の(a)及び(b)は、それぞれ受光手段の
側面図及び斜視図を示す。
【0050】図15に示す受光手段500は、受光部5
1、52の受光面のなす角度が90゜より大きくなるよ
うに、受光部51、52を載置する基台53に斜面が形
成されている。
1、52の受光面のなす角度が90゜より大きくなるよ
うに、受光部51、52を載置する基台53に斜面が形
成されている。
【0051】図16に示す受光手段500は、PBS4
4によって分離された光の焦点と受光部51、52の位
置が一致するように受光部51、52を載置する基台5
3に段差が形成されている。
4によって分離された光の焦点と受光部51、52の位
置が一致するように受光部51、52を載置する基台5
3に段差が形成されている。
【0052】図17に示す受光手段500は、受光部5
1、52を載置する基台53の受光表面に凸状のレンズ
58を設けることによって光を集光している。レンズ5
8は透明樹脂によって形成されている。
1、52を載置する基台53の受光表面に凸状のレンズ
58を設けることによって光を集光している。レンズ5
8は透明樹脂によって形成されている。
【0053】図18に示す受光手段500は、受光部5
1、52を載置する基台53の受光表面に光の入射角を
かえる屈折部材59を設けることによって光を集光して
いる。59は透明樹脂によって形成されている。
1、52を載置する基台53の受光表面に光の入射角を
かえる屈折部材59を設けることによって光を集光して
いる。59は透明樹脂によって形成されている。
【0054】図15,図16,図17および図18に示
す受光手段は、受光部51、52の距離を小さくでき、
受光手段の小型化を図ることができる。
す受光手段は、受光部51、52の距離を小さくでき、
受光手段の小型化を図ることができる。
【0055】図19に示す受光手段500は、一つの半
導体基板から受光部51、52を形成したものであり、
同図(a)、(b)、(c)は、それぞれ受光手段50
0の上面図、正面図、側面図である。半導体基板56に
は受光部51、52がIC化されている。また、受光部
51、52に電気的に接続している端子57が設けられ
ている。
導体基板から受光部51、52を形成したものであり、
同図(a)、(b)、(c)は、それぞれ受光手段50
0の上面図、正面図、側面図である。半導体基板56に
は受光部51、52がIC化されている。また、受光部
51、52に電気的に接続している端子57が設けられ
ている。
【0056】さらに、図20は、半導体基板56の具体
的な配線パターンを示したものである。
的な配線パターンを示したものである。
【0057】次に、光ヘッド400の他の実施例につい
て説明する。図21に示す光ヘッドは、BS43に平板
形状のビームスプリッタを用いたものであり、さらに小
型・軽量化を実現することができる。図22に示す光ヘ
ッドは、図21に示す光ヘッドにおいて、BS24によ
って発生してしまう収差を補正するための平板形状の透
明部材から成る収差補正板45を、半導体レーザ41と
BS43との間に設けたものである。
て説明する。図21に示す光ヘッドは、BS43に平板
形状のビームスプリッタを用いたものであり、さらに小
型・軽量化を実現することができる。図22に示す光ヘ
ッドは、図21に示す光ヘッドにおいて、BS24によ
って発生してしまう収差を補正するための平板形状の透
明部材から成る収差補正板45を、半導体レーザ41と
BS43との間に設けたものである。
【0058】図23に示す光ヘッドは、BS43と対物
レンズ42の間に立ち上げミラー46を設けたものであ
る。図24に示す光ヘッドは、BS43によって半導体
レーザ41からの光を反射させてディスク1に導くとと
もに、ディスク1からの反射光をBS43で透過させ、
BS43を透過したディスク1からの反射光を受光手段
500が受光する構成としたものである。
レンズ42の間に立ち上げミラー46を設けたものであ
る。図24に示す光ヘッドは、BS43によって半導体
レーザ41からの光を反射させてディスク1に導くとと
もに、ディスク1からの反射光をBS43で透過させ、
BS43を透過したディスク1からの反射光を受光手段
500が受光する構成としたものである。
【0059】また、とくに図示はしないが、半導体レー
ザ41と対物レンズ42の間にコリメートレンズを設
け、コリメートレンズと対物レンズ42の間の平行光路
上にBS43を配置してもよい。PBS44は平板形状
のものに限る必要はなく、透過するP偏光成分の光の光
軸と反射するS偏光成分の光の光軸とがなす角度が90
゜未満となるようなものであれば、どのようなものを用
いてもよい。
ザ41と対物レンズ42の間にコリメートレンズを設
け、コリメートレンズと対物レンズ42の間の平行光路
上にBS43を配置してもよい。PBS44は平板形状
のものに限る必要はなく、透過するP偏光成分の光の光
軸と反射するS偏光成分の光の光軸とがなす角度が90
゜未満となるようなものであれば、どのようなものを用
いてもよい。
【0060】さらに、BS43によってPBS44とは
反対側に反射される半導体レーザ41からの出射光の強
度を検出するモニタ用受光素子を配置し、半導体レーザ
41の出射光強度に応じた出力を検出して、この検出出
力が予め定められた所定の出力レベルとなるように半導
体レーザ41の出力を制御する、いわゆるAPC(Auto
matic Power Control )サーボを形成する事もできる。
反対側に反射される半導体レーザ41からの出射光の強
度を検出するモニタ用受光素子を配置し、半導体レーザ
41の出射光強度に応じた出力を検出して、この検出出
力が予め定められた所定の出力レベルとなるように半導
体レーザ41の出力を制御する、いわゆるAPC(Auto
matic Power Control )サーボを形成する事もできる。
【0061】図25は、本発明の光磁気情報処理装置の
一実施例の外観図である、700は光磁気情報処理装置
本体であり、本体700の内部にはCPU710と情報
記録再生部720が格納されており、また本体700に
はディスク挿入口730、スピーカー740、および、
外部の情報入出力装置を接続するための外部装置接続部
750が設けられている。外部装置接続部750には、
イメージスキャナ760が接続されているが、この他、
集音マイク770やプリンタ780を接続することがで
きる。790はキーボード、800はCRT表示装置で
ある。
一実施例の外観図である、700は光磁気情報処理装置
本体であり、本体700の内部にはCPU710と情報
記録再生部720が格納されており、また本体700に
はディスク挿入口730、スピーカー740、および、
外部の情報入出力装置を接続するための外部装置接続部
750が設けられている。外部装置接続部750には、
イメージスキャナ760が接続されているが、この他、
集音マイク770やプリンタ780を接続することがで
きる。790はキーボード、800はCRT表示装置で
ある。
【0062】図26は、図25に示した光磁気情報処理
装置のブロック図である。情報記録再生部720は、デ
ィスクを記録トラックに沿って回転運動させるスピンド
ルモータ200と、ディスクに光を照射させる光ヘッド
400と、ディスクに磁場をかけるための磁気ヘッド3
00と、光ヘッドをディスクの記録トラックに沿った方
向と垂直な方向(ディスクの半径方向)に移動させるリ
ニアモータ900とから構成されている。
装置のブロック図である。情報記録再生部720は、デ
ィスクを記録トラックに沿って回転運動させるスピンド
ルモータ200と、ディスクに光を照射させる光ヘッド
400と、ディスクに磁場をかけるための磁気ヘッド3
00と、光ヘッドをディスクの記録トラックに沿った方
向と垂直な方向(ディスクの半径方向)に移動させるリ
ニアモータ900とから構成されている。
【0063】本発明の光磁気情報処理装置に用いる光ヘ
ッド400は小型であるので、本体700の内部に、さ
らに別の記録再生方式(例えば磁気記録再生方式や書替
え不能な光記録再生方式)のヘッドを格納することもで
きる。これにより、修正の可能性のある情報はとりあえ
ず光磁気ディスクに記録させておき、光磁気ディスクの
情報を整理し修正の必要のなくなった状態で書替え不能
な光ディスクに転記する、ということ一台の装置で行う
こともできる。また、重要な情報のみ書替え不能な光デ
ィスクに記録し、その他の情報は光磁気ディスクに記録
させるということも可能である。これらの処理はキーボ
ードからの入力により実行することができる。
ッド400は小型であるので、本体700の内部に、さ
らに別の記録再生方式(例えば磁気記録再生方式や書替
え不能な光記録再生方式)のヘッドを格納することもで
きる。これにより、修正の可能性のある情報はとりあえ
ず光磁気ディスクに記録させておき、光磁気ディスクの
情報を整理し修正の必要のなくなった状態で書替え不能
な光ディスクに転記する、ということ一台の装置で行う
こともできる。また、重要な情報のみ書替え不能な光デ
ィスクに記録し、その他の情報は光磁気ディスクに記録
させるということも可能である。これらの処理はキーボ
ードからの入力により実行することができる。
【0064】また、光ヘッド400は小型かつ軽量であ
るので、携帯用の光磁気情報処理装置においてもいっそ
うの効果を発揮することができる。
るので、携帯用の光磁気情報処理装置においてもいっそ
うの効果を発揮することができる。
【0065】記録媒体はディスク状のものに限る必要は
なく、例えば直線状の記録トラックを多数本設けたカー
ド状のものであってもよい。この場合、記録媒体運動手
段としてはスピンドルモータではなく、記録媒体を記録
トラックに沿って往復運動させる構成の手段を用いれば
よい。
なく、例えば直線状の記録トラックを多数本設けたカー
ド状のものであってもよい。この場合、記録媒体運動手
段としてはスピンドルモータではなく、記録媒体を記録
トラックに沿って往復運動させる構成の手段を用いれば
よい。
【図1】従来の光ヘッド装置の一例の構成を示すブロッ
ク図である。
ク図である。
【図2】図1の光ヘッド装置をA方向から見た平面図で
ある。
ある。
【図3】従来の光ヘッド装置の他の一例の要部構成を示
すブロック図である。
すブロック図である。
【図4】従来の光ヘッド装置のさらに他の一例の要部構
成を示すブロック図である。
成を示すブロック図である。
【図5】ウォラストンプリズムの一例を示す斜視図であ
る。
る。
【図6】本発明の光磁気情報処理装置における、光ヘッ
ド装置の一実施例の構成を示すブロック図である。
ド装置の一実施例の構成を示すブロック図である。
【図7】本発明の光磁気情報処理装置における、光ヘッ
ド装置の一実施例の要部構成を示す斜視図である。
ド装置の一実施例の要部構成を示す斜視図である。
【図8】図6の光ヘッド装置をA方向から見た平面図で
ある。
ある。
【図9】図6のPBS44、及び受光手段500の一実
施例を示す側面図である。
施例を示す側面図である。
【図10】受光部51,52及びその周辺回路の一実施
例を示すブロック図である。
例を示すブロック図である。
【図11】受光部51,52及びその周辺回路の他の実
施例を示すブロック図である。
施例を示すブロック図である。
【図12】図12の実施例の受光部上のビーム形状変化
の一例を示す平面図である。
の一例を示す平面図である。
【図13】受光部51,52の他の実施例を示すブロッ
ク図である。
ク図である。
【図14】受光手段500の他の実施例を示す側面図及
び斜視図である。
び斜視図である。
【図15】受光手段500の他の実施例を示す側面図及
び斜視図である。
び斜視図である。
【図16】受光手段500の他の実施例を示す側面図及
び斜視図である。
び斜視図である。
【図17】受光手段500の他の実施例を示す側面図及
び斜視図である。
び斜視図である。
【図18】受光手段500の他の実施例を示す側面図及
び斜視図である。
び斜視図である。
【図19】受光手段500の他の実施例を示す平面図、
正面図及び側面図である。
正面図及び側面図である。
【図20】図19の受光手段の配線パターンの構成を示
す平面図である。
す平面図である。
【図21】本発明の光磁気情報処理装置における、光ヘ
ッド装置の他の実施例の要部構成を示す斜視図である。
ッド装置の他の実施例の要部構成を示す斜視図である。
【図22】本発明の光磁気情報処理装置における、光ヘ
ッド装置の他の実施例の要部構成を示す斜視図である。
ッド装置の他の実施例の要部構成を示す斜視図である。
【図23】本発明の光磁気情報処理装置における、光ヘ
ッド装置の他の実施例の要部構成を示す側面図である。
ッド装置の他の実施例の要部構成を示す側面図である。
【図24】本発明の光磁気情報処理装置における、光ヘ
ッド装置の他の実施例の要部構成を示す側面図である。
ッド装置の他の実施例の要部構成を示す側面図である。
【図25】本発明の光磁気情報処理装置の一実施例の構
成を示す外観図である。
成を示す外観図である。
【図26】図25の光磁気情報処理装置の構成を示すブ
ロック図である。
ロック図である。
1 ディスク(光磁気記録媒体) 200 ズピンドルモータ 300 磁気ヘッド 100,400 光ヘッド 900 リニアモータ 11,41 半導体レーザ 12,42 対物レンズ 13,43 BS(反射光分離素子) 14,44 PBS(偏光分離素子) 15 コリメータレンズ 16 グレーティング 17 λ/2板 18 集光レンズ 19 シリンドリカルレンズ 20 凹レンズ 23 ウォラストンプリズム 45 収差補正板 46 立ち上げミラー 500 受光手段 21,22,51、52 受光部 53 基台 54 検光子 55 プリズム 56 半導体基板 57 端子 700 光磁気情報処理装置本体 710 CPU 720 情報記録再生部 730 ディスク挿入口 740 スピーカー 750 外部装置接続部 760 イメージスキャナ 770 集音マイク 780 プリンタ 790 キーボード 800 CRT表示装置
Claims (13)
- 【請求項1】 光を出射する発光素子と、前記発光素子
から出射される光を記録媒体上に集光させるとともに前
記記録媒体からの反射光を受光する対物レンズと、前記
発光素子と対物レンズとの間に配置され前記記録媒体か
らの反射光を反射もしくは透過させることにより前記発
光素子から前記光学的記録媒体に至る光の光軸から分離
させる反射光分離素子と、前記分離された光を一部反射
させ一部透過させることにより互いに直交する2つの偏
光方向の光に分離し、各偏光成分の光の光軸のなす角度
が90°未満となるように配置された偏光分離素子と、
前記2つの偏光成分に分離された光をそれぞれ受光する
少なくとも2つの受光部を有し、該受光部の受光面がほ
ぼ同一方向に向けて配置された受光手段と、を備えた光
ヘッド装置、 前記記録媒体を回転運動もしくは並進運動させる記録媒
体運動手段、 および、前記光ヘッドを前記記録媒体に対して運動させ
る光ヘッド運動手段を備え、 前記光ヘッドの受光手段が出力する出力信号に基づい
て、前記記録媒体に記録されている情報を読取る光磁気
情報処理装置。 - 【請求項2】 光を出射する発光素子と、前記発光素子
から出射される光を記録媒体上に集光させるとともに前
記記録媒体からの反射光を受光する対物レンズと、前記
発光素子と対物レンズとの間に配置され前記記録媒体か
らの反射光を反射もしくは透過させることにより前記発
光素子から前記光学的記録媒体に至る光の光軸から分離
させる反射光分離素子と、前記分離された光を一部反射
させ一部透過させることにより互いに直交する2つの偏
光方向の光に分離し、各偏光成分の光の光軸のなす角度
が90°未満となるように配置された偏光分離素子と、
前記2つの偏光成分に分離された光をそれぞれ受光する
少なくとも2つの受光部を有し、該受光部が一つの基板
上に配置された受光手段と、を備えた光ヘッド装置、
前記記録媒体を回転運動もしくは並進運動させる記録媒
体運動手段、 および、前記光ヘッドを前記記録媒体に対して運動させ
る光ヘッド運動手段を備え、 前記光ヘッドの受光手段が出力する出力信号に基づい
て、前記記録媒体に記録されている情報を読取る光磁気
情報処理装置。 - 【請求項3】 前記発光素子は発散光を出射し、前記反
射光分離素子は、前記発光素子と対物レンズとの間の発
散光路上に配置されている事を特徴とする請求項1また
は2に記載の光磁気情報処理装置。 - 【請求項4】 前記偏光分離素子は、平板形状の透明部
材である事を特徴とする請求項1,2または3に記載の
光磁気情報処理装置。 - 【請求項5】 さらに、前記記録媒体を挟んで前記光ヘ
ッド装置と対向する位置に配置された磁場発生手段を備
え、 前記記録媒体に対して前記光ヘッド装置によって光を照
射する事により前記記録媒体を加熱するとともに、前記
磁場発生手段によって前記記録媒体の加熱部分に磁場を
与える事により、前記記録媒体に情報を記録する請求項
1,2,3または4に記載の光磁気情報処理装置。 - 【請求項6】 さらに、前記記録媒体から読取った情報
を音声信号に変換する音声信号変換手段と、前記音声信
号変換手段によって変換された音声信号に基づいて音声
を出力する音声出力手段と、を備えた事を特徴とする請
求項1,2,3または4に記載の光磁気情報処理装置。 - 【請求項7】 さらに、音声を入力する音声入力手段
と、入力された音声を音声信号に変換する音声信号変換
手段とを備え、 前記音声信号変換手段からの音声信号に基づいて前記記
録媒体に音声の情報を記録する事を特徴とする請求項5
に記載の光磁気情報処理装置。 - 【請求項8】 さらに、前記記録媒体から読取った情報
を画像信号に変換する画像信号変換手段と、前記画像信
号変換手段によって変換された画像信号に基づいて画像
を表示する画像表示手段と、を備えた事を特徴とする請
求項1,2,3または4に記載の光磁気情報処理装置。 - 【請求項9】 さらに、画像を入力する画像入力手段
と、入力された画像を画像信号に変換する画像信号変換
手段とを備え、 前記画像信号変換手段からの画像信号に基づいて前記記
録媒体に画像の情報を記録する事を特徴とする請求項5
に記載の光磁気情報処理装置。 - 【請求項10】 さらに、前記記録媒体から読取った情
報を文字・記号に変換して印字出力する印字出力手段を
備えたことを特徴とする請求項1,2,3または4に記
載の光磁気情報処理装置。 - 【請求項11】 さらに、文字・記号を入力する文字・
記号入力手段と、前記文字・記号入力手段に入力された
文字・記号に対応する文字・記号信号を出力する文字・
記号信号出力手段とを備え、 文字・記号信号出力手段からの文字・記号信号に基づい
て前記記録媒体に文字・記号の情報を記録する事を特徴
とする請求項5に記載の光磁気情報処理装置。 - 【請求項12】 さらに、前記記録媒体に音声,画像,
文字・記号,等の情報を入力するための外部情報入力機
器が接続できるように、外部情報入力機器接続手段を備
えたことを特徴とする請求項1,2,3または4に記載
の光磁気情報処理装置。 - 【請求項13】 さらに、前記記録媒体から読取った情
報を音声,画像,文字・記号,等の情報として出力する
ための外部情報出力機器が接続できるように、外部情報
出力機器接続手段を備えたことを特徴とする請求項5に
記載の光磁気情報処理装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4295581A JPH06150424A (ja) | 1992-11-05 | 1992-11-05 | 光磁気情報処理装置 |
| US08/025,687 US5444677A (en) | 1992-03-03 | 1993-03-03 | Optical read/write head low angle beamsplitter and coplanar detectors |
| US08/493,841 US5615181A (en) | 1992-03-03 | 1995-06-22 | Optical read/write head with low angle beam splitter and coplanar detectors |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4295581A JPH06150424A (ja) | 1992-11-05 | 1992-11-05 | 光磁気情報処理装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06150424A true JPH06150424A (ja) | 1994-05-31 |
Family
ID=17822488
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4295581A Pending JPH06150424A (ja) | 1992-03-03 | 1992-11-05 | 光磁気情報処理装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06150424A (ja) |
-
1992
- 1992-11-05 JP JP4295581A patent/JPH06150424A/ja active Pending
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