JPH06154207A - Ｘ線撮影装置及びその位置合わせ方法 - Google Patents
Ｘ線撮影装置及びその位置合わせ方法Info
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- JPH06154207A JPH06154207A JP4308809A JP30880992A JPH06154207A JP H06154207 A JPH06154207 A JP H06154207A JP 4308809 A JP4308809 A JP 4308809A JP 30880992 A JP30880992 A JP 30880992A JP H06154207 A JPH06154207 A JP H06154207A
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- Japan
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- ray
- grid
- ray tube
- imaging apparatus
- focusing
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 Ｘ線放射線源とグリッドの鉛箔の位置関係を
最適に、かつ簡単に合わせることを可能にする。 【構成】 Ｘ線自動露出装置のＸ線検出器を用いてグリ
ッドを透過するＸ線強度を測定する第１手段と、その測
定値を基に前記グリッドとＸ線放射源の位置合わせを行
なう第２手段を有する。
最適に、かつ簡単に合わせることを可能にする。 【構成】 Ｘ線自動露出装置のＸ線検出器を用いてグリ
ッドを透過するＸ線強度を測定する第１手段と、その測
定値を基に前記グリッドとＸ線放射源の位置合わせを行
なう第２手段を有する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、放射線を用いて被検者
のＸ線撮影を行なうＸ線撮影装置、特にグリッドとＸ線
自動露出装置の組み込まれたＸ線撮影装置に関するもの
である。
のＸ線撮影を行なうＸ線撮影装置、特にグリッドとＸ線
自動露出装置の組み込まれたＸ線撮影装置に関するもの
である。
【０００２】
【従来の技術】従来から行われている胸部、腹部などの
Ｘ線撮影システム例の概略を図３に示す。この図におい
て、１はＸ線管、２はコリメータ、３は被写体、４はグ
リッド、５は増感紙、６は増感紙に密着されたフィル
ム、７はＸ線検出器、８はＸ線自動露出制御装置で、そ
の構成は、９の電流電圧変換回路、１０の積分回路、１
１の比較回路、１２の濃度を設定するための基準電圧設
定器ないし発生器、１３のＸ線遮断信号発生回路からな
り、１４はＸ線制御回路、１５は高電圧発生器である。
Ｘ線撮影システム例の概略を図３に示す。この図におい
て、１はＸ線管、２はコリメータ、３は被写体、４はグ
リッド、５は増感紙、６は増感紙に密着されたフィル
ム、７はＸ線検出器、８はＸ線自動露出制御装置で、そ
の構成は、９の電流電圧変換回路、１０の積分回路、１
１の比較回路、１２の濃度を設定するための基準電圧設
定器ないし発生器、１３のＸ線遮断信号発生回路からな
り、１４はＸ線制御回路、１５は高電圧発生器である。
【０００３】Ｘ線検出器７として図４に示すように、１
つもしくは複数の検出器（蛍光体方式、半導体方式、イ
オンチャンバ方式等）が採光野７ａ、７ｂ、７ｃに配置
されている。Ｘ線自動露出装置は、図３に示すような装
置の構成により、Ｘ線管１から被写体３を透過したＸ線
をＸ線検出器７で受け、電流電圧変換回路９で電気信号
に変換し、この電気信号を積分回路１０で積分し、その
積分値があらかじめ基準電圧設定器１２により設定され
た基準電圧に達したとき比較回路１１によりＸ線遮断信
号を発生し、Ｘ線の曝射を遮断させ最適なフィルム濃度
を得るものである。
つもしくは複数の検出器（蛍光体方式、半導体方式、イ
オンチャンバ方式等）が採光野７ａ、７ｂ、７ｃに配置
されている。Ｘ線自動露出装置は、図３に示すような装
置の構成により、Ｘ線管１から被写体３を透過したＸ線
をＸ線検出器７で受け、電流電圧変換回路９で電気信号
に変換し、この電気信号を積分回路１０で積分し、その
積分値があらかじめ基準電圧設定器１２により設定され
た基準電圧に達したとき比較回路１１によりＸ線遮断信
号を発生し、Ｘ線の曝射を遮断させ最適なフィルム濃度
を得るものである。
【０００４】また、Ｘ線が被写体を透過するとき、発生
する散乱Ｘ線（二次Ｘ線）が画像に与える影響は大き
い。この散乱Ｘ線を効率よく除去するために散乱Ｘ線除
去用グリッド４が使用され、Ｘ線コントラストと鮮鋭度
を向上させた診断性の高いＸ線画像を得るのに役立って
いる。使用されるグリッドには、直線グリッドと、クロ
スグリッドの２つの基本型があり、それぞれ平行グリッ
ドと集束グリッドに分けられる。
する散乱Ｘ線（二次Ｘ線）が画像に与える影響は大き
い。この散乱Ｘ線を効率よく除去するために散乱Ｘ線除
去用グリッド４が使用され、Ｘ線コントラストと鮮鋭度
を向上させた診断性の高いＸ線画像を得るのに役立って
いる。使用されるグリッドには、直線グリッドと、クロ
スグリッドの２つの基本型があり、それぞれ平行グリッ
ドと集束グリッドに分けられる。
【０００５】図５は平行グリッドの断面図であり、鉛箔
４０は、中間物質４１と交互に平行に配置されている。
図６は集束グリッドの断面図であり、鉛箔４０と、中間
物質４１は集束点４２に向いて配置されている。
４０は、中間物質４１と交互に平行に配置されている。
図６は集束グリッドの断面図であり、鉛箔４０と、中間
物質４１は集束点４２に向いて配置されている。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】グリッドを使用したＸ
線撮影では、グリッド・カットオフの影響により、撮影
されたＸ線写真に明暗のむらが生じたり、全体的に明る
くなることがある。グリッド・カットオフとは、一次Ｘ
線とグリッドの鉛箔の位置関係が適正でないために生じ
る一次Ｘ線損失のことである。図７は平行グリッドによ
りグリッド・カットオフが生じた場合を示すもので、４
３はＸ線管焦点、４４はフィルム、４５はＸ線がグリッ
ドの鉛箔４０を透過した際の影をそれぞれ示す。鉛箔４
０ａは一次Ｘ線の方向に配列された鉛箔４０ｂの像４５
ｂよりも広い像４５ａとして投影され、そのぶんだけ一
次Ｘ線はフィルム４４に到達しない。その結果、Ｘ線写
真では、カットオフの起きている部分はカットオフの起
きていないところに比べ明るくなる。カットオフの量
は、一般にグリッド比（鉛箔４０の高さと間隔の比）が
高く、グリッド４とＸ線管焦点４３の距離が短いほど多
くなる。
線撮影では、グリッド・カットオフの影響により、撮影
されたＸ線写真に明暗のむらが生じたり、全体的に明る
くなることがある。グリッド・カットオフとは、一次Ｘ
線とグリッドの鉛箔の位置関係が適正でないために生じ
る一次Ｘ線損失のことである。図７は平行グリッドによ
りグリッド・カットオフが生じた場合を示すもので、４
３はＸ線管焦点、４４はフィルム、４５はＸ線がグリッ
ドの鉛箔４０を透過した際の影をそれぞれ示す。鉛箔４
０ａは一次Ｘ線の方向に配列された鉛箔４０ｂの像４５
ｂよりも広い像４５ａとして投影され、そのぶんだけ一
次Ｘ線はフィルム４４に到達しない。その結果、Ｘ線写
真では、カットオフの起きている部分はカットオフの起
きていないところに比べ明るくなる。カットオフの量
は、一般にグリッド比（鉛箔４０の高さと間隔の比）が
高く、グリッド４とＸ線管焦点４３の距離が短いほど多
くなる。
【０００７】つぎに、一次Ｘ線とグリッド４の鉛箔４０
の位置関係が適正でないために生じるグリッド・カット
オフの例について述べる。
の位置関係が適正でないために生じるグリッド・カット
オフの例について述べる。
【０００８】図８は、裏と表が逆さまになった集束グリ
ッド４の鉛箔４０にＸ線が放射される例を示している。
この例では、グリッドの集束点４２とされるところにＸ
線管の焦点４３（放射源）があるが、この場合Ｘ線写真
の中央部は暗く、周辺部はカットオフがひどいので明る
くなる。
ッド４の鉛箔４０にＸ線が放射される例を示している。
この例では、グリッドの集束点４２とされるところにＸ
線管の焦点４３（放射源）があるが、この場合Ｘ線写真
の中央部は暗く、周辺部はカットオフがひどいので明る
くなる。
【０００９】図９は、Ｘ線管焦点４３は正確に集束距離
に設置されているが、グリッド４の集束点４２から横に
ずれている横方向偏位の例である。この場合、すべての
鉛箔４０は均等に一次Ｘ線をカットオフするので、フィ
ルム４４の全面にわたり均等に明るいＸ線写真となる。
横方向偏位による一次Ｘ線損失量の計算式はつぎの通り
である。
に設置されているが、グリッド４の集束点４２から横に
ずれている横方向偏位の例である。この場合、すべての
鉛箔４０は均等に一次Ｘ線をカットオフするので、フィ
ルム４４の全面にわたり均等に明るいＸ線写真となる。
横方向偏位による一次Ｘ線損失量の計算式はつぎの通り
である。
【００１０】Ｌ＝（ｒｂ／ｆ0）×１００％、Ｌは一次
Ｘ線損失量、ｒはグリッド比、ｂは横方向偏位距離（ｃ
ｍ）、ｆ0はグリッド４の集束距離（ｃｍ）である。た
とえば、集束距離が１８０ｃｍのグリッドでは、グリッ
ド比が５：１のときには６ｃｍの横方向偏位で一次Ｘ線
損失は１７％であるが、１６：１では一次Ｘ線損失は５
３％にもなる。
Ｘ線損失量、ｒはグリッド比、ｂは横方向偏位距離（ｃ
ｍ）、ｆ0はグリッド４の集束距離（ｃｍ）である。た
とえば、集束距離が１８０ｃｍのグリッドでは、グリッ
ド比が５：１のときには６ｃｍの横方向偏位で一次Ｘ線
損失は１７％であるが、１６：１では一次Ｘ線損失は５
３％にもなる。
【００１１】図１０は、グリッド４が傾斜した場合の例
である。グリッドの集束距離が比較的長い場合、グリッ
ド４の集束点４２とＸ線管焦点４３との横方向偏位に対
して、Ｘ線管焦点４３とグリッド４間距離偏位は小さい
ので前記横方向の偏位と同等と考えられるため、一次Ｘ
線は均等に失われる。
である。グリッドの集束距離が比較的長い場合、グリッ
ド４の集束点４２とＸ線管焦点４３との横方向偏位に対
して、Ｘ線管焦点４３とグリッド４間距離偏位は小さい
ので前記横方向の偏位と同等と考えられるため、一次Ｘ
線は均等に失われる。
【００１２】図１１は、Ｘ線管焦点４３は正確にグリッ
ド４の中心線上にあるが、Ｘ線管焦点４３がグリッド４
の集束点４２の遠くか近くかに位置している、Ｘ線管焦
点−グリッド間距離偏位の例である。
ド４の中心線上にあるが、Ｘ線管焦点４３がグリッド４
の集束点４２の遠くか近くかに位置している、Ｘ線管焦
点−グリッド間距離偏位の例である。
【００１３】カットオフは、フィルムの中心から離れる
につれて、徐々に大きくなり、Ｘ線写真では、中心部は
影響を受けないが、周辺部は明るくなる。
につれて、徐々に大きくなり、Ｘ線写真では、中心部は
影響を受けないが、周辺部は明るくなる。
【００１４】図１２、図１３は、横方向偏位とＸ線管焦
点−グリッド間距離偏位の両方の偏位が生じた場合の例
である。この場合には、カットオフが均等ではないの
で、Ｘ線写真の一方では明るく、反対側では暗くなる。
点−グリッド間距離偏位の両方の偏位が生じた場合の例
である。この場合には、カットオフが均等ではないの
で、Ｘ線写真の一方では明るく、反対側では暗くなる。
【００１５】以上は、理想的なグリッドを使用したとき
の現象であるが、実際には、グリッドの製造における精
度には限界がある。すなわち、鉛箔４０と、中間物質４
１の並びの間隔を均一にしたり、グリッド４の集束点４
２への向きにこれらを精度よく合わせたりする事は非常
にむずかしい。とくに、近年多用されている高グリッド
比のグリッドでは、前記したような一次Ｘ線とグリッド
の鉛箔の位置関係が適正でないために生じるグリッド・
カットオフや、製造上の精度のばらつきに起因するカッ
トオフの影響が特に出やすくなっている。
の現象であるが、実際には、グリッドの製造における精
度には限界がある。すなわち、鉛箔４０と、中間物質４
１の並びの間隔を均一にしたり、グリッド４の集束点４
２への向きにこれらを精度よく合わせたりする事は非常
にむずかしい。とくに、近年多用されている高グリッド
比のグリッドでは、前記したような一次Ｘ線とグリッド
の鉛箔の位置関係が適正でないために生じるグリッド・
カットオフや、製造上の精度のばらつきに起因するカッ
トオフの影響が特に出やすくなっている。
【００１６】また、グリッド４をＸ線撮影装置に取り付
ける場合に、グリッド４に歪みが生じる場合がある。こ
の場合には、グリッド４の集束点４２が位置ずれを起こ
し、正規の位置にＸ線焦点４３があったとしても、横方
向偏位とＸ線管焦点−グリッド間距離偏位の両方の偏位
が生じた状態となり、図１２、図１３で示したようなＸ
線写真の一方では明るく、反対側では暗くなる現象が起
こる。
ける場合に、グリッド４に歪みが生じる場合がある。こ
の場合には、グリッド４の集束点４２が位置ずれを起こ
し、正規の位置にＸ線焦点４３があったとしても、横方
向偏位とＸ線管焦点−グリッド間距離偏位の両方の偏位
が生じた状態となり、図１２、図１３で示したようなＸ
線写真の一方では明るく、反対側では暗くなる現象が起
こる。
【００１７】一般的なＸ線撮影室内には、一つの放射線
源に対して、撮影部位に応じて２つ以上の撮影装置（例
えば、立位で撮影する場合、ベッドの下に撮影装置を入
れて臥位で撮影する場合等）を配置する場合が多く、撮
影目的に応じて放射線源を撮影装置と相対向させ、中心
合わせをする必要がある。また、検診車にＸ線撮影シス
テムを搭載する場合には、スペースの関係で放射線源ま
たは撮影装置を移動もしくは回転させることがあり、撮
影の度に放射線源と撮影装置の中心合わせを行なう必要
がある。この位置合わせを行なうのに、グリッドによる
カットオフを最小にするように試し撮りをするので時間
がかかるため、一次Ｘ線とグリッドの鉛箔の位置関係を
最適、かつ簡単に合わせられる装置や方法が望まれてい
る。
源に対して、撮影部位に応じて２つ以上の撮影装置（例
えば、立位で撮影する場合、ベッドの下に撮影装置を入
れて臥位で撮影する場合等）を配置する場合が多く、撮
影目的に応じて放射線源を撮影装置と相対向させ、中心
合わせをする必要がある。また、検診車にＸ線撮影シス
テムを搭載する場合には、スペースの関係で放射線源ま
たは撮影装置を移動もしくは回転させることがあり、撮
影の度に放射線源と撮影装置の中心合わせを行なう必要
がある。この位置合わせを行なうのに、グリッドによる
カットオフを最小にするように試し撮りをするので時間
がかかるため、一次Ｘ線とグリッドの鉛箔の位置関係を
最適、かつ簡単に合わせられる装置や方法が望まれてい
る。
【００１８】本発明は、このような事情に鑑みなされた
もので、その目的は、Ｘ線放射源とグリッドの鉛箔の位
置関係を最適に、かつ簡単に合わせることのできるＸ線
撮影装置及びその位置合わせ方法を提供することにあ
る。
もので、その目的は、Ｘ線放射源とグリッドの鉛箔の位
置関係を最適に、かつ簡単に合わせることのできるＸ線
撮影装置及びその位置合わせ方法を提供することにあ
る。
【００１９】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記目的を達
成するために、Ｘ線撮影装置において、Ｘ線自動露出装
置のＸ線検出器を用いてグリッドを透過するＸ線強度を
測定し、その測定値をもとにグリッドとＸ線放射源の位
置合わせを行うことを特徴としている。
成するために、Ｘ線撮影装置において、Ｘ線自動露出装
置のＸ線検出器を用いてグリッドを透過するＸ線強度を
測定し、その測定値をもとにグリッドとＸ線放射源の位
置合わせを行うことを特徴としている。
【００２０】
【実施例】以下、本発明におけるＸ線管焦点とグリッド
の自動位置合わせ機能を有するＸ線撮影装置の一実施例
について図を参照しながら説明する。
の自動位置合わせ機能を有するＸ線撮影装置の一実施例
について図を参照しながら説明する。
【００２１】図１は、図３に示すような従来から行われ
ているＸ線自動露出制御装置付きＸ線撮影装置例に、本
発明の一実施例を付加したＸ線撮影装置を示す図であ
り、１はＸ線管、２はコリメータ、４はグリッド、７
ａ，７ｂはＸ線検出器、８はＸ線自動露出制御装置で、
その構成は、９の電流電圧変換回路、１６の加算器、１
０の積分回路、１１の比較回路、１２の濃度を設定する
ための基準電圧設定器ないし発生器、１３のＸ線遮断信
号発生回路からなり、１４はＸ線制御回路、１５は高電
圧発生器である。
ているＸ線自動露出制御装置付きＸ線撮影装置例に、本
発明の一実施例を付加したＸ線撮影装置を示す図であ
り、１はＸ線管、２はコリメータ、４はグリッド、７
ａ，７ｂはＸ線検出器、８はＸ線自動露出制御装置で、
その構成は、９の電流電圧変換回路、１６の加算器、１
０の積分回路、１１の比較回路、１２の濃度を設定する
ための基準電圧設定器ないし発生器、１３のＸ線遮断信
号発生回路からなり、１４はＸ線制御回路、１５は高電
圧発生器である。
【００２２】Ｘ線自動露出制御撮影では、Ｘ線管から被
写体を透過したＸ線をＸ線検出器７ａ，７ｂで受け、電
流電圧変換回路９で電気信号に変換し、加算器１６を介
しこの電気信号を積分回路１０で積分し、その積分値が
あらかじめ設定された基準電圧に達したとき比較回路１
１によりＸ線遮断信号を発生し、Ｘ線の曝射を遮断させ
最適なフィルム濃度を得るものである。
写体を透過したＸ線をＸ線検出器７ａ，７ｂで受け、電
流電圧変換回路９で電気信号に変換し、加算器１６を介
しこの電気信号を積分回路１０で積分し、その積分値が
あらかじめ設定された基準電圧に達したとき比較回路１
１によりＸ線遮断信号を発生し、Ｘ線の曝射を遮断させ
最適なフィルム濃度を得るものである。
【００２３】次に示すものが、本発明により付加された
Ｘ線管焦点とグリッドの自動位置合わせを行うための装
置の構成であり、１７はアナログ信号をデジタル信号に
変換するためのＡ／Ｄ変換器、１８は情報処理装置、１
９はＸ線管球を動かすパルスモータのドライバ、２０ａ
はＸ線管球を図中Ｘ方向に動かすパルスモータ、２０ｂ
はＸ線管球をＹ方向に動かすパルスモータである。
Ｘ線管焦点とグリッドの自動位置合わせを行うための装
置の構成であり、１７はアナログ信号をデジタル信号に
変換するためのＡ／Ｄ変換器、１８は情報処理装置、１
９はＸ線管球を動かすパルスモータのドライバ、２０ａ
はＸ線管球を図中Ｘ方向に動かすパルスモータ、２０ｂ
はＸ線管球をＹ方向に動かすパルスモータである。
【００２４】情報処理装置１８は、Ｘ線管１をＸ軸方
向、Ｙ軸方向に動かすステージ２０のパルスモータ２０
ａ，２０ｂを制御し、ＸＹステージ内の希望の位置にＸ
線管１を移動するとともにステージ内でのＸ線管１の座
標も管理する。また、情報処理装置１８はＸ線検出器７
ａ，７ｂでのＸ線強度が電気信号に変換されたものをＡ
／Ｄ変換器１７を通して検出する。
向、Ｙ軸方向に動かすステージ２０のパルスモータ２０
ａ，２０ｂを制御し、ＸＹステージ内の希望の位置にＸ
線管１を移動するとともにステージ内でのＸ線管１の座
標も管理する。また、情報処理装置１８はＸ線検出器７
ａ，７ｂでのＸ線強度が電気信号に変換されたものをＡ
／Ｄ変換器１７を通して検出する。
【００２５】図１で、Ｙ軸を固定し、Ｘ線管１からＸ線
を出しながらＸ軸方向にＸ線管１を移動しつつ、同時に
グリッド４を透過してくるＸ線の強度をＸ線検出器７
ａ，７ｂを介して測定する。つぎに、ある距離だけＹ軸
方向にＸ線管１を移動した後、同様にＹ軸を固定し、Ｘ
線管１からＸ線を出しながらＸ軸方向にＸ線管１を移動
しつつ、同時にグリッド４を透過してくるＸ線の強度を
Ｘ線検出器７ａ，７ｂを介して測定する。
を出しながらＸ軸方向にＸ線管１を移動しつつ、同時に
グリッド４を透過してくるＸ線の強度をＸ線検出器７
ａ，７ｂを介して測定する。つぎに、ある距離だけＹ軸
方向にＸ線管１を移動した後、同様にＹ軸を固定し、Ｘ
線管１からＸ線を出しながらＸ軸方向にＸ線管１を移動
しつつ、同時にグリッド４を透過してくるＸ線の強度を
Ｘ線検出器７ａ，７ｂを介して測定する。
【００２６】図２は、現在一般的に使用されている集束
点４２を持ったグリッド４と図４の例で示される位置に
ある７ａ，７ｂを使用し、前記の測定方法により得られ
た集束グリッド４を透過するＸ線強度とＸＹ座標の位置
関係を表している。２１はＸ線検出器７ａで検出したＸ
線強度のピーク部の波形、２２はＸ線検出器７ｂで検出
したＸ線強度のピーク部の波形を示している。
点４２を持ったグリッド４と図４の例で示される位置に
ある７ａ，７ｂを使用し、前記の測定方法により得られ
た集束グリッド４を透過するＸ線強度とＸＹ座標の位置
関係を表している。２１はＸ線検出器７ａで検出したＸ
線強度のピーク部の波形、２２はＸ線検出器７ｂで検出
したＸ線強度のピーク部の波形を示している。
【００２７】Ｘ線検出器７ａ，７ｂがある程度の面積を
持っているため、この測定では、検出器のＸ線検出出力
に鋭いピーク波形は現れないが、Ｘ線検出器７ａ，７ｂ
の中心部と集束グリッド４の実際の集束点４２を結ぶ直
線上にＸ線管焦点４３が来たときにグリッド４を透過し
てＸ線検出器７ａ，７ｂのＸ線検出出力は最大となる。
ここで、Ｘ線強度の最大点をＸ線強度ピーク部の半値幅
の中心の座標とすれば、２回の測定で各Ｘ線検出器７
ａ，７ｂの各Ｘ線強度の最大点が２点ずつ得られる。
持っているため、この測定では、検出器のＸ線検出出力
に鋭いピーク波形は現れないが、Ｘ線検出器７ａ，７ｂ
の中心部と集束グリッド４の実際の集束点４２を結ぶ直
線上にＸ線管焦点４３が来たときにグリッド４を透過し
てＸ線検出器７ａ，７ｂのＸ線検出出力は最大となる。
ここで、Ｘ線強度の最大点をＸ線強度ピーク部の半値幅
の中心の座標とすれば、２回の測定で各Ｘ線検出器７
ａ，７ｂの各Ｘ線強度の最大点が２点ずつ得られる。
【００２８】図２に示すように、Ｘ線検出器７ａで得ら
れたピーク点をそれぞれ、Ｐa1（ｘa1，ｙa1）、Ｐ
a2（ｘa2，ｙa2）、Ｘ線検出器７ｂで得られたピーク点
をＰb1（ｘb1，ｙb1）、Ｐb2（ｘb2，ｙb2）とすれば、
集束グリッド４の集束点４２は、Ｐa1Ｐa2を結んだ直線
とＰb1Ｐb2を結んだ直線の交点の座標Ｐ（ｘ，ｙ）であ
る。この座標のｘ，ｙを計算すると以下のようになる。
れたピーク点をそれぞれ、Ｐa1（ｘa1，ｙa1）、Ｐ
a2（ｘa2，ｙa2）、Ｘ線検出器７ｂで得られたピーク点
をＰb1（ｘb1，ｙb1）、Ｐb2（ｘb2，ｙb2）とすれば、
集束グリッド４の集束点４２は、Ｐa1Ｐa2を結んだ直線
とＰb1Ｐb2を結んだ直線の交点の座標Ｐ（ｘ，ｙ）であ
る。この座標のｘ，ｙを計算すると以下のようになる。
【００２９】
【外１】
【００３０】ここで、集束グリッド４の集束点４２とＸ
線管球の焦点４３を合わせるためには、管球を上記で求
めた座標Ｐ（ｘ，ｙ）に移動すればよい。この原理は、
Ｘ線管のステージのＸ軸に対してグリッドが平行でない
場合でも同様に位置合わせができる。また、Ｘ線管球の
ステージに対するＸ線撮影装置の位置、すなわちグリッ
ドやＸ線検出器の位置が不明な場合でも位置合わせが可
能である。
線管球の焦点４３を合わせるためには、管球を上記で求
めた座標Ｐ（ｘ，ｙ）に移動すればよい。この原理は、
Ｘ線管のステージのＸ軸に対してグリッドが平行でない
場合でも同様に位置合わせができる。また、Ｘ線管球の
ステージに対するＸ線撮影装置の位置、すなわちグリッ
ドやＸ線検出器の位置が不明な場合でも位置合わせが可
能である。
【００３１】ここで、Ｘ線検出器のピークを鋭くするた
めには、Ｘ線検出器７ａ，７ｂのＸ軸方向の幅を狭くし
たり、Ｘ線を遮る鉛板のようなもので検出器７ａ，７ｂ
をマスクすればよい。
めには、Ｘ線検出器７ａ，７ｂのＸ軸方向の幅を狭くし
たり、Ｘ線を遮る鉛板のようなもので検出器７ａ，７ｂ
をマスクすればよい。
【００３２】（第２の実施例）先に説明した第１の実施
例において、Ｘ線管１のステージ２０に対するＸ線検出
器７ａ，７ｂの位置が明確な場合にはＸ線検出器７ａ，
７ｂの中心の座標がわかるので、図１でＹ軸を固定しＸ
線管１からＸ線を出しながらＸ軸方向にＸ線管１を移動
しつつ、同時にグリッド４を透過してくるＸ線の強度の
測定は１回だけでよく、第１の実施例と同等の位置合わ
せが可能となる。この場合、測定時間は、第１の実施例
に対し半分になる。
例において、Ｘ線管１のステージ２０に対するＸ線検出
器７ａ，７ｂの位置が明確な場合にはＸ線検出器７ａ，
７ｂの中心の座標がわかるので、図１でＹ軸を固定しＸ
線管１からＸ線を出しながらＸ軸方向にＸ線管１を移動
しつつ、同時にグリッド４を透過してくるＸ線の強度の
測定は１回だけでよく、第１の実施例と同等の位置合わ
せが可能となる。この場合、測定時間は、第１の実施例
に対し半分になる。
【００３３】（第３の実施例）第１、第２の実施例では
Ｘ線検出器は２カ所であったが、３カ所以上のＸ線検出
器を用いて、検出器の組み合わせを変えグリッド４の集
束点を計算し位置合わせを行ってもよい。測定結果から
集束点Ｐが複数求められた場合には、それらの座標位置
の平均をとるなどすれば、さまざまなグリッド４に対し
より最適な位置合わせが可能となる。複数の検出器のＸ
線強度出力の取り込みを同時に行えば、管球１を動かし
ながらの測定は、前記実施例で説明したように１回また
は２回でよい。
Ｘ線検出器は２カ所であったが、３カ所以上のＸ線検出
器を用いて、検出器の組み合わせを変えグリッド４の集
束点を計算し位置合わせを行ってもよい。測定結果から
集束点Ｐが複数求められた場合には、それらの座標位置
の平均をとるなどすれば、さまざまなグリッド４に対し
より最適な位置合わせが可能となる。複数の検出器のＸ
線強度出力の取り込みを同時に行えば、管球１を動かし
ながらの測定は、前記実施例で説明したように１回また
は２回でよい。
【００３４】（第４の実施例）第１、第２、第３の実施
例では、複数のＸ線検出器を使用しているが、Ｘ線検出
器が１つしかない場合には、採光野が複数あったとして
も検出器の出力は一つなので、Ｘ線の強度測定時にピー
クが検出されてもそのピークがどの採光野でのピークな
のか判定できない。この場合には、グリッドの前面また
は、Ｘ線検出器とグリッドの間にマスクを入れ、ひとつ
の採光野ごとに測定すればよい。これにより、前記実施
例と同等の座標を得ることができるため位置合わせが可
能となる。
例では、複数のＸ線検出器を使用しているが、Ｘ線検出
器が１つしかない場合には、採光野が複数あったとして
も検出器の出力は一つなので、Ｘ線の強度測定時にピー
クが検出されてもそのピークがどの採光野でのピークな
のか判定できない。この場合には、グリッドの前面また
は、Ｘ線検出器とグリッドの間にマスクを入れ、ひとつ
の採光野ごとに測定すればよい。これにより、前記実施
例と同等の座標を得ることができるため位置合わせが可
能となる。
【００３５】（第５実施例）前記実施例では、Ｘ線管球
を平行移動する方法をとっているが、Ｘ線撮影装置を平
行移動しても前記実施例と同様に位置合わせが可能であ
る。
を平行移動する方法をとっているが、Ｘ線撮影装置を平
行移動しても前記実施例と同様に位置合わせが可能であ
る。
【００３６】（第６実施例）Ｘ線撮影装置側を動かす場
合に、Ｘ線管球１と、Ｘ線検出器７の相対位置がわかっ
ていてＸ線撮影装置の回転角度を検出する方法があれ
ば、Ｘ線撮影装置の平行移動だけでなく回転する方法を
とっても位置合わせが可能である。
合に、Ｘ線管球１と、Ｘ線検出器７の相対位置がわかっ
ていてＸ線撮影装置の回転角度を検出する方法があれ
ば、Ｘ線撮影装置の平行移動だけでなく回転する方法を
とっても位置合わせが可能である。
【００３７】
【発明の効果】以上詳述したように、本発明によれば、
グリッド・カットオフによる影響の少ないＸ線写真を撮
るための位置の調整が、撮影、現像を繰り返す従来の位
置合わせ方法にくらべ、簡単に短時間でできるようにな
る。
グリッド・カットオフによる影響の少ないＸ線写真を撮
るための位置の調整が、撮影、現像を繰り返す従来の位
置合わせ方法にくらべ、簡単に短時間でできるようにな
る。
【００３８】さらに、実測値をもとに位置合わせを行う
ため、グリッドの設計値として指定された集束点にＸ線
管の焦点を合わせる場合に比べ、よりグリッド・カット
オフによる影響の少ないＸ線写真を撮るための位置の調
整ができるようになる。
ため、グリッドの設計値として指定された集束点にＸ線
管の焦点を合わせる場合に比べ、よりグリッド・カット
オフによる影響の少ないＸ線写真を撮るための位置の調
整ができるようになる。
【００３９】３カ所以上の検出器を用いれば、たとえ歪
んだグリッドを使用している場合でも、グリッド・カッ
トオフによる明暗差が最小になる位置にＸ線管焦点を合
わせることも可能となる。
んだグリッドを使用している場合でも、グリッド・カッ
トオフによる明暗差が最小になる位置にＸ線管焦点を合
わせることも可能となる。
【図１】本発明による一実施例であるＸ線撮影装置を示
す説明図
す説明図
【図２】集束点を持ったグリッドと２つのＸ線検出器を
使用し、第１の実施例の測定方法により得られた集束グ
リッドを透過するＸ線強度とＸＹ座標の位置関係と、Ｘ
線検出器で検出したＸ線強度のピーク部の波形を示した
図
使用し、第１の実施例の測定方法により得られた集束グ
リッドを透過するＸ線強度とＸＹ座標の位置関係と、Ｘ
線検出器で検出したＸ線強度のピーク部の波形を示した
図
【図３】被検者の胸部・腹部などのＸ線撮影を行うた
め、従来から行われているＸ線撮影システム例の概略を
示す図、
め、従来から行われているＸ線撮影システム例の概略を
示す図、
【図４】胸部撮影において複数の採光野を使用する場合
の一例を示す図、
の一例を示す図、
【図５】平行グリッドの断面図、
【図６】集束グリッドの断面図、
【図７】グリッド・カットオフが生じた場合を示す図、
【図８】裏と表が逆さまになった集束グリッドの鉛箔に
Ｘ線が放射される例を示す図、
Ｘ線が放射される例を示す図、
【図９】Ｘ線管焦点は正確に集束距離に設置されている
が、グリッドの集束点から横にずれている横方向偏位の
例を示す図、
が、グリッドの集束点から横にずれている横方向偏位の
例を示す図、
【図１０】グリッドが傾斜した場合を示す図、
【図１１】Ｘ線管焦点は正確にグリッドの中心線上にあ
るが、Ｘ線管焦点がグリッドの集束点の遠くか近くかに
位置している、Ｘ線管焦点−グリッド間距離偏位の例を
示す図、
るが、Ｘ線管焦点がグリッドの集束点の遠くか近くかに
位置している、Ｘ線管焦点−グリッド間距離偏位の例を
示す図、
【図１２】横方向偏位とＸ線管焦点−グリッド間距離偏
位の両方の偏位が生じた場合の例を示す図、
位の両方の偏位が生じた場合の例を示す図、
【図１３】横方向偏位とＸ線管焦点−グリッド間距離偏
位の両方の偏位が生じた場合の例を示す図である。
位の両方の偏位が生じた場合の例を示す図である。
１Ｘ線管 ２ コリメータ ３ 被写体 ４ グリッド ５ 増感紙 ６ 増感紙に密着されたフィルム ７Ｘ線検出器 ８Ｘ線自動露出装置 ９ 電流電圧変換回路 １０ 積分回路 １１ 比較回路 １２ 基準電圧設定器 １３ Ｘ線遮断信号発生回路 １４ Ｘ線制御回路 １５ 高電圧発生器 １６ 加算器 １７ Ａ／Ｄ変換器 １８ 情報処理装置 １９ モータドライバ ２０ａ Ｘ軸駆動モータ ２０ｂ Ｙ軸駆動モータ ２１ Ｘ線検出器７ａで検出したＸ線強度のピーク部の
波形 ２２ Ｘ線検出器７ｂで検出したＸ線強度のピーク部の
波形 ４０ 鉛箔 ４１ 中間物質 ４２ 集束点 ４３ Ｘ線管焦点 ４４ フィルム ４５ 鉛箔の影の幅
波形 ２２ Ｘ線検出器７ｂで検出したＸ線強度のピーク部の
波形 ４０ 鉛箔 ４１ 中間物質 ４２ 集束点 ４３ Ｘ線管焦点 ４４ フィルム ４５ 鉛箔の影の幅
Claims (2)
- 【請求項１】 Ｘ線自動露出装置のＸ線検出器を用いて
グリッドを透過するＸ線強度を測定する第１手段と、そ
の測定値を基に前記グリッドとＸ線放射源の位置合わせ
を行なう第２手段を有することを特徴とするＸ線撮影装
置。 - 【請求項２】 Ｘ線自動露出装置のＸ線検出器を用いて
グリッドを透過するＸ線強度を測定し、その測定値を基
に前記グリッドとＸ線放射源の位置合わせを行なうこと
を特徴とするＸ線撮影装置の位置合わせ方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4308809A JPH06154207A (ja) | 1992-11-18 | 1992-11-18 | Ｘ線撮影装置及びその位置合わせ方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4308809A JPH06154207A (ja) | 1992-11-18 | 1992-11-18 | Ｘ線撮影装置及びその位置合わせ方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06154207A true JPH06154207A (ja) | 1994-06-03 |
Family
ID=17985576
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4308809A Pending JPH06154207A (ja) | 1992-11-18 | 1992-11-18 | Ｘ線撮影装置及びその位置合わせ方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06154207A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001340331A (ja) * | 2000-06-06 | 2001-12-11 | Shimadzu Corp | 放射線画像撮影装置 |
| WO2002004932A1 (fr) * | 2000-07-10 | 2002-01-17 | Hitachi Medical Corporation | Appareil de mesure a rayons x |
| JP2006075295A (ja) * | 2004-09-08 | 2006-03-23 | Shimadzu Corp | Ｘ線撮影装置 |
| JP2008086471A (ja) * | 2006-09-29 | 2008-04-17 | Fujifilm Corp | 放射線画像撮影装置 |
| JP2011101686A (ja) * | 2009-11-10 | 2011-05-26 | Shimadzu Corp | 放射線撮影装置 |
| WO2012102052A1 (ja) * | 2011-01-27 | 2012-08-02 | 富士フイルム株式会社 | 放射線画像撮影装置および方法 |
-
1992
- 1992-11-18 JP JP4308809A patent/JPH06154207A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001340331A (ja) * | 2000-06-06 | 2001-12-11 | Shimadzu Corp | 放射線画像撮影装置 |
| WO2002004932A1 (fr) * | 2000-07-10 | 2002-01-17 | Hitachi Medical Corporation | Appareil de mesure a rayons x |
| JP2006075295A (ja) * | 2004-09-08 | 2006-03-23 | Shimadzu Corp | Ｘ線撮影装置 |
| JP2008086471A (ja) * | 2006-09-29 | 2008-04-17 | Fujifilm Corp | 放射線画像撮影装置 |
| JP2011101686A (ja) * | 2009-11-10 | 2011-05-26 | Shimadzu Corp | 放射線撮影装置 |
| WO2012102052A1 (ja) * | 2011-01-27 | 2012-08-02 | 富士フイルム株式会社 | 放射線画像撮影装置および方法 |
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