JPH0616544B2 - 半導体装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は半導体装置に関し、特にどの内部回路とも接続
しないノンコネクトピンを有する半導体装置に関する。

〔従来の技術〕 従来、この種の半導体装置は、第３図に示すように、ノ
ンコネクトピンＰ_NCは半導体装置内部のどの内部回路と
も接続されておらず、電気的に開放状態であり、この半
導体装置が情報処理装置等に実装されるときは、通常、
電源端子または接地端子に接続される構成となってい
た。

一方、通常の接続ピンＰ_ｃは、内部回路ブロック２を異
常な入力信号から保護すると共に試験用信号に対し予め
設定された電流を流す入力保護回路１_ａと接続され、こ
の入力保護回路１_ａを介して内部回路ブロック２と外部
回路との間の信号の伝達を行っていた。

〔発明が解決しようとする問題点］ 上述した従来の半導体装置は、ノンコネクトピンＰ_NCが
電気的に開放状態となっており、情報処理装置等に実装
されたときに電源端子または接続端子と接続される構成
となっているので、電気的特性測定時、第４図（ａ）に
示すように、特性測定回路２１とノンコネクトピンＰ_NC
とが正常に接続されていても、第４図（ｂ）に示すよう
に、未接続であっても、何れも電気的には開放状態であ
るため、特性測定回路２１側から確実に接続されている
か否かを確認することができないという欠点がある。

また、第４図（ｃ）に示すように、ノンコネクタピンＰ
_NCと隣接する通常の接続ピンＰ_ｃとの間に異常な電流パ
スＲが存在し、かつノンコネクトピンＰ_NCが特性測定回
路２１と接続されていない場合には、この異常な電流パ
スＲの存在を検知することができないという欠点があ
る。

この異常な電流パスＲがあると、情報処理装置等に実装
された場合、第５図に示すように、ノンコネクトピンＰ
_NCと隣接するピンＰ_ｃとの間に異常な電流Ｉが流れ、情
報処理装置３０等に異常が発生したり、最悪の場合、情
報処理装置３０等を破壊してしまうという欠点がある。

本発明の目的は、ノンコネクトピンと特性測定回路との
間が確実に接続されているか否かが確認でき、かつノン
コネクトピンと隣接する通常の接続ピンとの間の異常な
電流パスを検知することができ、実装された情報処理装
置等の異常の発生や破壊を防止することができる半導体
装置を提供することにある。

〔問題点を解決するための手段〕

本発明の半導体装置は、内部回路ブロックと、この内部
回路ブロックを異常な入力信号から保護すると共に試験
用信号に対し予め設定された電流を流す入力保護回路
と、この入力保護回路と接続し信号の伝達をする接続ピ
ンと、前記内部回路ブロック及び入力保護回路を含むど
の内部回路とも接続しないノンコネクトピンを有する半
導体装置において、前記ノンコネクトピンと接続し、前
記入力保護回路と同一の回路構成を付加入力保護回路を
設けて構成される。

〔実施例〕

次に、本発明の実施例について図面を参照して説明す
る。

第１図は本発明の一実施例を示す回路図である。

この実施例が第３図に示された従来の半導体装置と相違
する点は、ノンコネクトピンＰ_NCと接続し、入力保護回
路１_ａと同一の回路構成をもつ付加入力保護回路１_ｂを
設けた点にある。

この様に、ノンコネクトピンＰ_NCに付加入力保護回路１
_ｂを設けることにより、第２図（ａ）に示すように、特
性測定装置２０と測定用ピンＰ_T1とノンコネクトピンＰ
_NCとが正常に接続されていれば、測定用ピンＰ_T1に試験
用信号を与えることにより付加入力保護回路１_ｂを通し
て予め設定された値の電流が流れる。

また、第２図（ｂ）の示すように、測定用ピンＰ_T1とノ
ンコネクトピンＰ_NCとが接触不良等により接続されてい
なければ、測定用ピンＰ_T1に試験用信号を与えても電流
は流れない。

従って、この電流の有無により測定用ピンＰ_T1とノンコ
ネクトピンＰ_NCとが確実に接続されているか否かが判定
できる。

また、第２図（ｃ）に示すように、ノンコネクトピンＰ
_NCと測定用ピンＰ_T1とを接続し、隣接する接続ピンＰ_ｃ
と測定用ピンＰ_T2とを接続しないで測定用ピンＰ_T1に試
験用信号を与え電流を測定することにより、ノンコネク
トピンＰ_NCと隣接する接続ピンＰcとの間に存在する異
常な電流パスＲを検知することができる。

ちなみに、現在一般化しているハンドラに関してコンタ
クトの失敗を考えると、失敗率０．１％としてロットの
不良率１０％とした場合、１００ｐｐｍと不良混入率と
なる。

半導体デバイスの信頼性品質は、近年、不良混入率数１
０ｐｐｍ以下になるような品質管理が求められており、
この不良混入率は容認できない数字であるが、本発明に
より大幅に改善された。

〔発明の効果〕

以上説明したように本発明は、ノンコネクトピンと接続
する付加入力保護回路を設けることにより、ノンコネク
トピンを特性測定装置の測定用ピンとの間が確実に接続
されているか否かが確認でき、かつノンコネクトピンと
隣接する接続ピンとの間の異常な電流パスを検知するこ
とができ、実装された情報処理装置等の異常の発生や破
壊を防止することができる効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例を示す回路図、第２図（ａ）
〜（ｃ）はそれぞれ第１図に示された実施例の試験方法
を説明するためのブロック図、第３図は従来の半導体装
置の一例を示す回路図、第４図（ａ）〜（ｃ）は第３図
に示された半導体装置の試験方法を説明するためのブロ
ック図、第５図は第３図に示された半導体装置の問題点
を説明するための回路図である。 １_ａ……入力保護回路、１_ｂ……付加入力保護回路、２
……内部回路ブロック、１０，１０_ａ……半導体装置、
２０……特性測定装置、２１……特性測定回路、Ｐ_ｃ…
…接続ピン、Ｐ_NC……ノンコネクトピン、Ｐ_T1，Ｐ_T2…
…測定用ピン。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】内部回路ブロックと、この内部回路ブロッ
   クを異常な入力信号から保護すると共に試験用信号に対
   し予め設定された電流を流す入力保護回路と、この入力
   保護回路と接続し信号の伝達をする接続ピンと、前記内
   部回路ブロック及び入力保護回路を含むどの内部回路と
   も接続しないノンコネクトピンを有する半導体装置にお
   いて、前記ノンコネクトピンと接続し、前記入力保護回
   路と同一の回路構成の付加入力保護回路を設けたことを
   特徴とする半導体装置。