JPH06167547A - マルチチャンネルオーディオ用ｌｓｉテスタ - Google Patents
マルチチャンネルオーディオ用ｌｓｉテスタInfo
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- JPH06167547A JPH06167547A JP4321899A JP32189992A JPH06167547A JP H06167547 A JPH06167547 A JP H06167547A JP 4321899 A JP4321899 A JP 4321899A JP 32189992 A JP32189992 A JP 32189992A JP H06167547 A JPH06167547 A JP H06167547A
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- signal
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 比較的簡単な構成で短時間に高精度のテスト
が行えるマルチチャンネルオーディオ用ＬＳＩテスタを
実現することを目的にする。 【構成】 本発明は、マルチチャンネルオーディオ用の
被検査対象を検査するマルチチャンネルオーディオ用Ｌ
ＳＩテスタに改良を加えたものである。本装置は、被検
査対象を試験する波形を出力する波形発生部と、被検査
対象の出力系統に接続されたスキャナと、このスキャナ
ーの出力信号をサンプリングしてデジタル的に取り込む
ディジタイザと、このディジタイザの出力データに基づ
いて測定処理を行うデータ処理部と、を有することを特
徴とするマルチチャンネルオーディオ用ＬＳＩテスタで
ある。
が行えるマルチチャンネルオーディオ用ＬＳＩテスタを
実現することを目的にする。 【構成】 本発明は、マルチチャンネルオーディオ用の
被検査対象を検査するマルチチャンネルオーディオ用Ｌ
ＳＩテスタに改良を加えたものである。本装置は、被検
査対象を試験する波形を出力する波形発生部と、被検査
対象の出力系統に接続されたスキャナと、このスキャナ
ーの出力信号をサンプリングしてデジタル的に取り込む
ディジタイザと、このディジタイザの出力データに基づ
いて測定処理を行うデータ処理部と、を有することを特
徴とするマルチチャンネルオーディオ用ＬＳＩテスタで
ある。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、試験時間の短縮を図る
マルチチャンネルオーディオ用ＬＳＩテスタに関するも
のである。
マルチチャンネルオーディオ用ＬＳＩテスタに関するも
のである。
【０００２】
【従来の技術】従来のマルチチャンネルオーディオ用Ｌ
ＳＩテスタを図５に示す。図において、１は波形発生部
であるオーディオソース（以下ＡＵＳと略す）で、被検
査対象２（以下ＤＵＴと略す）を試験する波形を出力す
る。ＤＵＴ２は、マルチチャンネルオーディオ用のＬＳ
Ｉである。ここで、マルチチャンネルオーディオ用のＬ
ＳＩについて説明する。例えば、カーオーディオを考え
ると、車内に臨場感のある音場を形成するために、ライ
トとレフトのフロントスピーカ、ライトとレフトのリア
スピーカの４つのスピーカが設けられている。ＬＳＩ
は、一般の音響機器の出力のライトとレフトの信号を入
力とし、入力信号に加工を加えた信号を４つのスピーカ
に出力している。これらの加工信号は、以下の４つの信
号である。 フロントライトスピーカに出力するフロントライト信
号ＦＲ。 フロントレフトスピーカに出力するフロントレフト信
号ＦＬ。 リアライトスピーカに出力するリアライト信号ＲＲ。 リアレフトスピーカに出力するリアレフト信号ＲＬ。 ３１〜３４は測定部であるオーディオメジャー（以下Ａ
ＵＭと略す）で、ＤＵＴ２が出力するフロントライト信
号ＦＲ、フロントレフト信号ＦＬ、リアライト信号Ｒ
Ｒ、リアレフト信号ＲＬのそれぞれの出力系統に接続さ
れていて、各出力系統の出力信号について同時並列測定
を行う。
ＳＩテスタを図５に示す。図において、１は波形発生部
であるオーディオソース（以下ＡＵＳと略す）で、被検
査対象２（以下ＤＵＴと略す）を試験する波形を出力す
る。ＤＵＴ２は、マルチチャンネルオーディオ用のＬＳ
Ｉである。ここで、マルチチャンネルオーディオ用のＬ
ＳＩについて説明する。例えば、カーオーディオを考え
ると、車内に臨場感のある音場を形成するために、ライ
トとレフトのフロントスピーカ、ライトとレフトのリア
スピーカの４つのスピーカが設けられている。ＬＳＩ
は、一般の音響機器の出力のライトとレフトの信号を入
力とし、入力信号に加工を加えた信号を４つのスピーカ
に出力している。これらの加工信号は、以下の４つの信
号である。 フロントライトスピーカに出力するフロントライト信
号ＦＲ。 フロントレフトスピーカに出力するフロントレフト信
号ＦＬ。 リアライトスピーカに出力するリアライト信号ＲＲ。 リアレフトスピーカに出力するリアレフト信号ＲＬ。 ３１〜３４は測定部であるオーディオメジャー（以下Ａ
ＵＭと略す）で、ＤＵＴ２が出力するフロントライト信
号ＦＲ、フロントレフト信号ＦＬ、リアライト信号Ｒ
Ｒ、リアレフト信号ＲＬのそれぞれの出力系統に接続さ
れていて、各出力系統の出力信号について同時並列測定
を行う。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】このような構成の場
合、複数のＤＵＴ２について同時に並列で検査を行うた
めには、ＤＵＴ２の出力系統ごとにそれぞれ個別にＡＵ
Ｍを接続しなければならず、テスタとしての装置規模が
大型になりコストが高くなるという問題点があった。そ
こで、上記の装置規模の大型化を防止するために、ＤＵ
Ｔ２の出力系統ごとにそれぞれ個別にＡＵＭを設けず
に、出力系統を切り換えて一台の共通のＡＵＭに接続す
る構成が考えられる。しかし、測定チャンネルを切り換
えた場合、ＡＵＭの入力信号が大きく変動して安定化す
るまで時間がかかる。これにより、測定項目が多くなる
と、出力系統に比例して、全体の測定時間も長くなる。
合、複数のＤＵＴ２について同時に並列で検査を行うた
めには、ＤＵＴ２の出力系統ごとにそれぞれ個別にＡＵ
Ｍを接続しなければならず、テスタとしての装置規模が
大型になりコストが高くなるという問題点があった。そ
こで、上記の装置規模の大型化を防止するために、ＤＵ
Ｔ２の出力系統ごとにそれぞれ個別にＡＵＭを設けず
に、出力系統を切り換えて一台の共通のＡＵＭに接続す
る構成が考えられる。しかし、測定チャンネルを切り換
えた場合、ＡＵＭの入力信号が大きく変動して安定化す
るまで時間がかかる。これにより、測定項目が多くなる
と、出力系統に比例して、全体の測定時間も長くなる。
【０００４】本発明の目的は、比較的簡単な構成で短時
間に高精度のテストが行えるマルチチャンネルオーディ
オ用ＬＳＩテスタを実現することにある。
間に高精度のテストが行えるマルチチャンネルオーディ
オ用ＬＳＩテスタを実現することにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明は、マルチチャン
ネルオーディオ用の被検査対象を検査するマルチチャン
ネルオーディオ用ＬＳＩテスタにおいて、前記被検査対
象を試験する波形を出力する波形発生部と、前記被検査
対象の出力系統に接続されたスキャナと、このスキャナ
ーの出力信号をサンプリングしてデジタル的に取り込む
ディジタイザと、このディジタイザの出力データに基づ
いて測定処理を行うデータ処理部と、を有することを特
徴とするものである。
ネルオーディオ用の被検査対象を検査するマルチチャン
ネルオーディオ用ＬＳＩテスタにおいて、前記被検査対
象を試験する波形を出力する波形発生部と、前記被検査
対象の出力系統に接続されたスキャナと、このスキャナ
ーの出力信号をサンプリングしてデジタル的に取り込む
ディジタイザと、このディジタイザの出力データに基づ
いて測定処理を行うデータ処理部と、を有することを特
徴とするものである。
【０００６】
【作用】このような本発明では、被検査対象は、試験波
形を加工したアナログ信号を各出力系統に出力する。こ
れらの被検査対象の各出力系統のアナログ出力信号は、
スキャナを介してディジタイザに選択的に入力される。
ディジタイザは、スキャナのアナログ出力信号をサンプ
リングしてデジタル的に取り込み、データ処理部に出力
する。データ処理部は、ディジタイザにより取り込まれ
た測定データに基づいて、被検査対象の各種測定を行
う。
形を加工したアナログ信号を各出力系統に出力する。こ
れらの被検査対象の各出力系統のアナログ出力信号は、
スキャナを介してディジタイザに選択的に入力される。
ディジタイザは、スキャナのアナログ出力信号をサンプ
リングしてデジタル的に取り込み、データ処理部に出力
する。データ処理部は、ディジタイザにより取り込まれ
た測定データに基づいて、被検査対象の各種測定を行
う。
【０００７】
【実施例】以下図面を用いて本発明を説明する。図１は
本発明の一実施例を示した構成図である。以下図４と同
一のものは同一符号を付す。図において、４はＤＵＴ２
を試験する波形を出力する波形発生部、５はＤＵＴ２の
出力系統に接続され、いずれか１系統の出力を選択する
スキャナ、６はスキャナ５の選択したＤＵＴ２の１系統
の出力信号をサンプリングしてデジタル的に取り込むデ
ィジタイザ、７はディジタイザ６の出力データに基づい
て測定処理を行うデータ処理部であるＤＳＰ（デジタル
シグナルプロセッサ）である。また、波形発生部は、ス
キャナ５、ディジタイザ６、およびＤＳＰ７を同期して
動作させるためのタイミング信号も供給している。
本発明の一実施例を示した構成図である。以下図４と同
一のものは同一符号を付す。図において、４はＤＵＴ２
を試験する波形を出力する波形発生部、５はＤＵＴ２の
出力系統に接続され、いずれか１系統の出力を選択する
スキャナ、６はスキャナ５の選択したＤＵＴ２の１系統
の出力信号をサンプリングしてデジタル的に取り込むデ
ィジタイザ、７はディジタイザ６の出力データに基づい
て測定処理を行うデータ処理部であるＤＳＰ（デジタル
シグナルプロセッサ）である。また、波形発生部は、ス
キャナ５、ディジタイザ６、およびＤＳＰ７を同期して
動作させるためのタイミング信号も供給している。
【０００８】このような装置の動作を以下で説明する。
ＤＵＴ２は、波形発生部４が出力する出力波形を加工を
して、それぞれの出力系統に出力する。そして、スキャ
ナ５は、波形発生部４のタイミング信号によりＤＵＴ２
の出力系統を選択し、その信号を出力する。そして、デ
ィジタイザ６は、スキャナ５が出力するアナログ信号を
デジタル信号に変換し、ＤＳＰ７に送出する。ＤＳＰ７
は、スキャナ５が出力するデジタル信号をもとに、周波
数特性，歪み率測定，ゲイン特性，クロストーク特性，
Ｓ／Ｎ比などの測定を行う。ＤＵＴ２の良否判定にあた
っては、例えば、ＤＳＰ７にあらかじめ各特性評価項目
の許容範囲データを格納しておき、測定結果が許容範囲
内か否かで判定することができる。
ＤＵＴ２は、波形発生部４が出力する出力波形を加工を
して、それぞれの出力系統に出力する。そして、スキャ
ナ５は、波形発生部４のタイミング信号によりＤＵＴ２
の出力系統を選択し、その信号を出力する。そして、デ
ィジタイザ６は、スキャナ５が出力するアナログ信号を
デジタル信号に変換し、ＤＳＰ７に送出する。ＤＳＰ７
は、スキャナ５が出力するデジタル信号をもとに、周波
数特性，歪み率測定，ゲイン特性，クロストーク特性，
Ｓ／Ｎ比などの測定を行う。ＤＵＴ２の良否判定にあた
っては、例えば、ＤＳＰ７にあらかじめ各特性評価項目
の許容範囲データを格納しておき、測定結果が許容範囲
内か否かで判定することができる。
【０００９】次にスキャナ５がＤＵＴ２の出力信号をス
キャンする動作について説明する。図２は図１の装置の
スキャナ５の出力信号である。図において、ＦＲ〜ＲＬ
は、ＤＵＴ２が加工処理を行った各出力系統の出力波形
である。実線がスキャナ５が取り込むときの波形で、破
線は、その他のときの波形である。スキャナ５は、始め
に、ｔ1からｔ2までの時間、フロントライト信号ＦＲを
スキャンする。そして、ｔ2からｔ3までの時間、フロン
トレフト信号ＦＬをスキャンする。続いて、ｔ3からｔ4
までの時間、リアライト信号ＲＲをスキャンし、最後
に、ｔ4からｔ5までの時間、リアレフト信号ＲＬをスキ
ャンする。なお、各出力系統の位相と出力波形を等しく
しているけれども、位相あるいは出力波形が異なる場合
もある。
キャンする動作について説明する。図２は図１の装置の
スキャナ５の出力信号である。図において、ＦＲ〜ＲＬ
は、ＤＵＴ２が加工処理を行った各出力系統の出力波形
である。実線がスキャナ５が取り込むときの波形で、破
線は、その他のときの波形である。スキャナ５は、始め
に、ｔ1からｔ2までの時間、フロントライト信号ＦＲを
スキャンする。そして、ｔ2からｔ3までの時間、フロン
トレフト信号ＦＬをスキャンする。続いて、ｔ3からｔ4
までの時間、リアライト信号ＲＲをスキャンし、最後
に、ｔ4からｔ5までの時間、リアレフト信号ＲＬをスキ
ャンする。なお、各出力系統の位相と出力波形を等しく
しているけれども、位相あるいは出力波形が異なる場合
もある。
【００１０】このように、順次、スキャナ５でＤＵＴ２
の出力系統をスキャンすることにより、出力系統を高速
に切り換えることができる。そして、ディジタイザでデ
ジタル的に取り込むので、アナログ信号のようにセトリ
ングタイムを考慮する必要がなく、測定データを瞬時に
取り込むことができる。これにより、従来のように出力
系統ごとに測定部を設ける必要はないので、テスタ装置
の規模を小型化できる。
の出力系統をスキャンすることにより、出力系統を高速
に切り換えることができる。そして、ディジタイザでデ
ジタル的に取り込むので、アナログ信号のようにセトリ
ングタイムを考慮する必要がなく、測定データを瞬時に
取り込むことができる。これにより、従来のように出力
系統ごとに測定部を設ける必要はないので、テスタ装置
の規模を小型化できる。
【００１１】ここで、周波数特性測定，歪み率測定，ク
ロストーク特性測定を例にあげて説明する。 周波数特性測定 図３に図１の装置での周波数特性測定の説明図を示す。
（ａ）はマルチトーン信号波形、（ｂ）は周波数スペク
トル図である。ＤＵＴ２の周波数特性を測定するには、
従来は、ＡＵＳから出力される正弦波の周波数を順番に
変化させ、ＤＵＴ２に入力していた。これに対し、本発
明では、波形発生器４により、レベルが同じで周波数の
異なる複数の正弦波を（ａ）のようなマルチトーン波形
として合成し、ＤＵＴ２に入力する。そして、ＤＳＰ７
は、ＤＵＴ２からスキャナ５とディジタイザ６とを介し
て得られた信号に対して高速フーリエ変換を行い、
（ｂ）のような周波数スペクトル図を得る。周波数スペ
クトル図において、一定レベルの直線ＡはＤＵＴ２に入
力するマルチトーン信号波形のスペクトルである。そし
て、●で表される曲線ＢはＤＵＴ２から出力する信号の
周波数スペクトル解析結果である。この●で表されるス
ペクトルＢと入力したマルチトーン信号波形のスペクト
ルＡとを比較することにより、周波数特性がわかる。以
上のように、異なる周波数の正弦波を合成してＤＵＴへ
入力するので、従来のように正弦波の周波数を変化させ
て被検査対象に入力する必要はなくなり、測定時間が短
縮される。
ロストーク特性測定を例にあげて説明する。 周波数特性測定 図３に図１の装置での周波数特性測定の説明図を示す。
（ａ）はマルチトーン信号波形、（ｂ）は周波数スペク
トル図である。ＤＵＴ２の周波数特性を測定するには、
従来は、ＡＵＳから出力される正弦波の周波数を順番に
変化させ、ＤＵＴ２に入力していた。これに対し、本発
明では、波形発生器４により、レベルが同じで周波数の
異なる複数の正弦波を（ａ）のようなマルチトーン波形
として合成し、ＤＵＴ２に入力する。そして、ＤＳＰ７
は、ＤＵＴ２からスキャナ５とディジタイザ６とを介し
て得られた信号に対して高速フーリエ変換を行い、
（ｂ）のような周波数スペクトル図を得る。周波数スペ
クトル図において、一定レベルの直線ＡはＤＵＴ２に入
力するマルチトーン信号波形のスペクトルである。そし
て、●で表される曲線ＢはＤＵＴ２から出力する信号の
周波数スペクトル解析結果である。この●で表されるス
ペクトルＢと入力したマルチトーン信号波形のスペクト
ルＡとを比較することにより、周波数特性がわかる。以
上のように、異なる周波数の正弦波を合成してＤＵＴへ
入力するので、従来のように正弦波の周波数を変化させ
て被検査対象に入力する必要はなくなり、測定時間が短
縮される。
【００１２】歪み率測定 図４に図１の装置の歪み率測定の説明図を示す。（ａ）
は純正弦波、（ｂ）は周波数スペクトル図である。波形
発生部４は（ａ）のような純正弦波をＤＵＴ２に入力す
る。そして、ＤＳＰ７は、ＤＵＴ２からスキャナ５とデ
ィジタイザ６とを介して得られた信号について高速フー
リエ変換を行い、（ｂ）のような周波数スペクトル解析
結果を得る。周波数スペクトル図には、純正弦波の基本
周波数のスペクトルが、一番高いレベルで現れる。そし
て、基本周波数より高い周波数である第２高調波，第３
高調波と続いて小さいレベルで現れる。これらのレベル
をもとに、歪み率が算出できる。 クロストーク特性測定 例えば、波形発生部４がＤＵＴ２のライト信号Ｒの入力
端子だけに信号を入力する。そして、ＤＵＴ２は信号を
加工し、フロントライト信号ＦＲとリアライト信号を出
力する。理論的には、ＤＵＴ２から出力されるのは、フ
ロントライト信号ＦＲとリアライト信号ＲＲの２つの信
号だけのはずであるが、フロントレフト信号ＦＬとリア
レフト信号ＲＬも出力される。これがクロストークと呼
ばれるものである。このクロストーク特性測定を行うた
めに、本発明では、スキャナ５で、順次、ＤＵＴ２の出
力系統を選択し、出力系統のデータを取り込んでいる。
は純正弦波、（ｂ）は周波数スペクトル図である。波形
発生部４は（ａ）のような純正弦波をＤＵＴ２に入力す
る。そして、ＤＳＰ７は、ＤＵＴ２からスキャナ５とデ
ィジタイザ６とを介して得られた信号について高速フー
リエ変換を行い、（ｂ）のような周波数スペクトル解析
結果を得る。周波数スペクトル図には、純正弦波の基本
周波数のスペクトルが、一番高いレベルで現れる。そし
て、基本周波数より高い周波数である第２高調波，第３
高調波と続いて小さいレベルで現れる。これらのレベル
をもとに、歪み率が算出できる。 クロストーク特性測定 例えば、波形発生部４がＤＵＴ２のライト信号Ｒの入力
端子だけに信号を入力する。そして、ＤＵＴ２は信号を
加工し、フロントライト信号ＦＲとリアライト信号を出
力する。理論的には、ＤＵＴ２から出力されるのは、フ
ロントライト信号ＦＲとリアライト信号ＲＲの２つの信
号だけのはずであるが、フロントレフト信号ＦＬとリア
レフト信号ＲＬも出力される。これがクロストークと呼
ばれるものである。このクロストーク特性測定を行うた
めに、本発明では、スキャナ５で、順次、ＤＵＴ２の出
力系統を選択し、出力系統のデータを取り込んでいる。
【００１３】なお、本発明は、これに限定されるもので
はなく、例えば、波形発生部がタイミング信号を出力せ
ずに、別にタイミングをつかさどる制御部を設けてもよ
い。また、本発明のＬＳＩテスタは、４出力を有するＤ
ＵＴを測定するだけでなく、５出力、６出力などのＤＵ
Ｔでもよい。
はなく、例えば、波形発生部がタイミング信号を出力せ
ずに、別にタイミングをつかさどる制御部を設けてもよ
い。また、本発明のＬＳＩテスタは、４出力を有するＤ
ＵＴを測定するだけでなく、５出力、６出力などのＤＵ
Ｔでもよい。
【００１４】
【発明の効果】本発明によれば、スキャナにより出力系
統をスキャンしてディジタイザで取り込むので、出力系
統を高速に切り換えて瞬時に取り込むことができる。そ
の結果、比較的簡単な構成で高精度の測定ができ、テス
タを小型化できるという効果がある。
統をスキャンしてディジタイザで取り込むので、出力系
統を高速に切り換えて瞬時に取り込むことができる。そ
の結果、比較的簡単な構成で高精度の測定ができ、テス
タを小型化できるという効果がある。
【図１】本発明の一実施例を示した構成図である。
【図２】図１の装置のスキャナ５の出力信号である。
【図３】図１の装置での周波数特性測定の説明図を示
す。
す。
【図４】図１の装置の歪み率測定の説明図を示す。
【図５】従来のマルチチャンネルオーディオ用ＬＳＩテ
スタの構成図である。
スタの構成図である。
２ ＤＵＴ ４ 波形発生部 ５ スキャナ ６ ディジタイザ ７ ＤＳＰ
Claims (1)
- 【請求項１】 マルチチャンネルオーディオ用の被検査
対象を検査するマルチチャンネルオーディオ用ＬＳＩテ
スタにおいて、 前記被検査対象を試験する波形を出力する波形発生部
と、 前記被検査対象の出力系統に接続されたスキャナと、 このスキャナーの出力信号をサンプリングしてデジタル
的に取り込むディジタイザと、 このディジタイザの出力データに基づいて測定処理を行
うデータ処理部と、を有することを特徴とするマルチチ
ャンネルオーディオ用ＬＳＩテスタ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4321899A JPH06167547A (ja) | 1992-12-01 | 1992-12-01 | マルチチャンネルオーディオ用ｌｓｉテスタ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4321899A JPH06167547A (ja) | 1992-12-01 | 1992-12-01 | マルチチャンネルオーディオ用ｌｓｉテスタ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06167547A true JPH06167547A (ja) | 1994-06-14 |
Family
ID=18137651
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4321899A Pending JPH06167547A (ja) | 1992-12-01 | 1992-12-01 | マルチチャンネルオーディオ用ｌｓｉテスタ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06167547A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN107356859A (zh) * | 2017-06-09 | 2017-11-17 | 上海航空电器有限公司 | 多路音频电路bit测试电路及方法 |
| JP2023025353A (ja) * | 2021-08-10 | 2023-02-22 | 株式会社アドバンテスト | 測定装置、測定方法およびプログラム |
-
1992
- 1992-12-01 JP JP4321899A patent/JPH06167547A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN107356859A (zh) * | 2017-06-09 | 2017-11-17 | 上海航空电器有限公司 | 多路音频电路bit测试电路及方法 |
| JP2023025353A (ja) * | 2021-08-10 | 2023-02-22 | 株式会社アドバンテスト | 測定装置、測定方法およびプログラム |
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