JPH06176408A - 回転走査方式の露光装置 - Google Patents
回転走査方式の露光装置Info
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- JPH06176408A JPH06176408A JP4324020A JP32402092A JPH06176408A JP H06176408 A JPH06176408 A JP H06176408A JP 4324020 A JP4324020 A JP 4324020A JP 32402092 A JP32402092 A JP 32402092A JP H06176408 A JPH06176408 A JP H06176408A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- mask substrate
- circular
- photosensitive
- gas
- reticle
- Prior art date
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Landscapes
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
- Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 円形レチクルの平面度を良好に維持して、円
形ディスク板上の全面で高精度にパターンを露光する。 【構成】 円形レチクルRを回転駆動部3の保持部4に
載置し、円形レチクルRの上に僅かな間隔を隔てて平面
板5を配置して、平面板5の中央部の貫通孔5cを介し
て平面板5と円形レチクルRとの間に所定圧力の気体を
供給する。ベルヌーイの原理により、円形レチクルRは
平面板5に吸着されて、円形レチクルRの撓みが矯正さ
れる。
形ディスク板上の全面で高精度にパターンを露光する。 【構成】 円形レチクルRを回転駆動部3の保持部4に
載置し、円形レチクルRの上に僅かな間隔を隔てて平面
板5を配置して、平面板5の中央部の貫通孔5cを介し
て平面板5と円形レチクルRとの間に所定圧力の気体を
供給する。ベルヌーイの原理により、円形レチクルRは
平面板5に吸着されて、円形レチクルRの撓みが矯正さ
れる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、例えばコンパクト・デ
ィスク(CD)、ビデオ・ディスク(VD)等のディス
ク状媒体をリソグラフィ工程で製造する際に使用して好
適な回転走査方式の露光装置に関する。
ィスク(CD)、ビデオ・ディスク(VD)等のディス
ク状媒体をリソグラフィ工程で製造する際に使用して好
適な回転走査方式の露光装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、コンパクト・ディスク(CD)、
ビデオ・ディスク(VD)等のディスク状記録再生媒体
を製造する際には、グルーブやピットとなるパターン情
報をレーザスポットを用いてマスターディスク上に直接
形成し、そのマスターディスクから電鋳スタンパーにレ
プリカを複製していた。そして、その電鋳スタンパーか
らスタンピングにより、CD及びVDの製品レベルのデ
ィスク状媒体が量産されていた。しかしながら、この製
造方法ではグルーブやピットの幅又は間隔が0.5〜
0.3μm程度に微細化すると、正確にそのグルーブや
ピットを複製することが困難になる。
ビデオ・ディスク(VD)等のディスク状記録再生媒体
を製造する際には、グルーブやピットとなるパターン情
報をレーザスポットを用いてマスターディスク上に直接
形成し、そのマスターディスクから電鋳スタンパーにレ
プリカを複製していた。そして、その電鋳スタンパーか
らスタンピングにより、CD及びVDの製品レベルのデ
ィスク状媒体が量産されていた。しかしながら、この製
造方法ではグルーブやピットの幅又は間隔が0.5〜
0.3μm程度に微細化すると、正確にそのグルーブや
ピットを複製することが困難になる。
【0003】そこで、本出願人はディスク状媒体により
微細化された同心円状又は螺旋状のパターンを形成する
方法として、特願平3−34257号において、リソグ
ラフィ工程でそのディスク状媒体を製造する方法を提案
した。この本出願人の先願に係る製造方法では、先ず回
転走査方式の露光装置により、ディスク状媒体の原版と
そのディスク状媒体とを同期して回転した状態で、その
原版のパターンが所定の円周角分ずつその感光材が塗布
されたディスク状媒体に露光される。そして、全周に露
光が行われたディスク状媒体に現像等の処理を施すこと
により、そのディスク状媒体上に同心円状又は螺旋状の
パターン(グルーブ又はピット等)が凹凸のパターンと
して形成される。
微細化された同心円状又は螺旋状のパターンを形成する
方法として、特願平3−34257号において、リソグ
ラフィ工程でそのディスク状媒体を製造する方法を提案
した。この本出願人の先願に係る製造方法では、先ず回
転走査方式の露光装置により、ディスク状媒体の原版と
そのディスク状媒体とを同期して回転した状態で、その
原版のパターンが所定の円周角分ずつその感光材が塗布
されたディスク状媒体に露光される。そして、全周に露
光が行われたディスク状媒体に現像等の処理を施すこと
により、そのディスク状媒体上に同心円状又は螺旋状の
パターン(グルーブ又はピット等)が凹凸のパターンと
して形成される。
【0004】図3はその本出願人の先願に係る回転走査
方式の露光装置の概略構成を示し、この図3において、
照明光学系の一部を構成するコンデンサーレンズ1から
は、ディスク状媒体の原版としての円形レチクルRの輪
帯状の原画パターン領域PA上を扇形の照明領域IAで
照明する露光光が射出される。扇形の照明領域IAの原
点は、輪帯パターン領域PAの中心軸、即ち円形レチク
ルRの回転軸C1にほぼ一致している。そして、投影光
学系PLにより、原画パターン領域PA内の扇形の照明
領域IA上のパターン像が感光材(フォトレジスト等)
が塗布された円形ディスク板D上に投影される。
方式の露光装置の概略構成を示し、この図3において、
照明光学系の一部を構成するコンデンサーレンズ1から
は、ディスク状媒体の原版としての円形レチクルRの輪
帯状の原画パターン領域PA上を扇形の照明領域IAで
照明する露光光が射出される。扇形の照明領域IAの原
点は、輪帯パターン領域PAの中心軸、即ち円形レチク
ルRの回転軸C1にほぼ一致している。そして、投影光
学系PLにより、原画パターン領域PA内の扇形の照明
領域IA上のパターン像が感光材(フォトレジスト等)
が塗布された円形ディスク板D上に投影される。
【0005】通常の屈折系による投影光学系PLでは、
物体側のパターンが反転像(鏡像)として投影されるた
め、円形ディスク板Dの回転軸C2は、投影光学系PL
の光軸AXを挟んで円形レチクルRの回転軸C1の反対
側に位置する。この状態で、円形レチクルRを回転駆動
系RRCで時計方向φ1に回転させ、円形ディスク板D
を回転駆動系DRCによって反時計方向φ2に回転させ
る。このとき、主制御系MCUによって、円形レチクル
Rと円形ディスク板Dとが同一角速度で回転するように
制御が行われる。そして、角速度が同一になった状態
で、扇形の照明領域IA内に照明光学系から露光光が照
射され、その後、円形レチクルRと円形ディスク板Dと
が整数回(1回も含まれる)だけ回転してから露光が中
止される。
物体側のパターンが反転像(鏡像)として投影されるた
め、円形ディスク板Dの回転軸C2は、投影光学系PL
の光軸AXを挟んで円形レチクルRの回転軸C1の反対
側に位置する。この状態で、円形レチクルRを回転駆動
系RRCで時計方向φ1に回転させ、円形ディスク板D
を回転駆動系DRCによって反時計方向φ2に回転させ
る。このとき、主制御系MCUによって、円形レチクル
Rと円形ディスク板Dとが同一角速度で回転するように
制御が行われる。そして、角速度が同一になった状態
で、扇形の照明領域IA内に照明光学系から露光光が照
射され、その後、円形レチクルRと円形ディスク板Dと
が整数回(1回も含まれる)だけ回転してから露光が中
止される。
【0006】これによって、円形ディスク板Dの表面の
感光材層には、輪帯状の原画パターン領域PA全体の潜
像が転写され、その後円形ディスク板Dを現像し、エッ
チング(又は蒸着等)等の工程を通すことによって、円
形ディスク板D上にグルーブ又はピット列よりなる周回
トラックを構成する微細な凹凸パターンが刻設される。
感光材層には、輪帯状の原画パターン領域PA全体の潜
像が転写され、その後円形ディスク板Dを現像し、エッ
チング(又は蒸着等)等の工程を通すことによって、円
形ディスク板D上にグルーブ又はピット列よりなる周回
トラックを構成する微細な凹凸パターンが刻設される。
【0007】図4は、図3の露光装置のより詳細な構成
を示し、この図4において、水銀灯又はエキシマレーザ
光源等の光源を含む照明系10からの露光光は、ミラー
2で反射されてコンデンサーレンズ1に入射する。ま
た、円形レチクルRの中心部には回転軸C1を中心とし
た円形開口が形成され、この円形開口にはレチクル回転
支持機構20の回転軸21が係合されている。また、レ
チクル回転支持機構20には、回転軸21を介して円形
レチクルRを回転するための回転駆動系RRCが設けら
れている。その回転軸21は、円形レチクルRの中心の
円形開口を上下から挟み込むことでその円形レチクルR
を保持し、レチクル回転支持機構20は全体としてコの
字形になっている。
を示し、この図4において、水銀灯又はエキシマレーザ
光源等の光源を含む照明系10からの露光光は、ミラー
2で反射されてコンデンサーレンズ1に入射する。ま
た、円形レチクルRの中心部には回転軸C1を中心とし
た円形開口が形成され、この円形開口にはレチクル回転
支持機構20の回転軸21が係合されている。また、レ
チクル回転支持機構20には、回転軸21を介して円形
レチクルRを回転するための回転駆動系RRCが設けら
れている。その回転軸21は、円形レチクルRの中心の
円形開口を上下から挟み込むことでその円形レチクルR
を保持し、レチクル回転支持機構20は全体としてコの
字形になっている。
【0008】また、レチクル回転支持機構20は、軸2
0Aを介してサブコラム22に回転自在に接続され、円
形レチクルRの交換時等には、軸20Aを中心としてレ
チクル回転支持機構20を回転することにより、円形レ
チクルRが投影光露外に搬送される。サブコラム22
は、モータ、ピエゾ素子等により、投影光学系PLを保
持するメインコラム(図示省略)に対して水平方向に微
動できるように配設され、その微動は主制御系MCUか
らの指令により行われる。これは照明光学系による扇形
の照明領域IAと円形レチクルRの輪帯状の原画パター
ン領域PAとを正確に位置合わせするためである。
0Aを介してサブコラム22に回転自在に接続され、円
形レチクルRの交換時等には、軸20Aを中心としてレ
チクル回転支持機構20を回転することにより、円形レ
チクルRが投影光露外に搬送される。サブコラム22
は、モータ、ピエゾ素子等により、投影光学系PLを保
持するメインコラム(図示省略)に対して水平方向に微
動できるように配設され、その微動は主制御系MCUか
らの指令により行われる。これは照明光学系による扇形
の照明領域IAと円形レチクルRの輪帯状の原画パター
ン領域PAとを正確に位置合わせするためである。
【0009】一方、円形ディスク板Dには、回転軸C2
を軸として開口部が形成され、円形ディスク板Dは、そ
の開口部に嵌合するピボット状の中心突起を備えた回転
テーブル30上に真空吸着等により固定される。回転テ
ーブル30は回転駆動系DRCによって回転され、その
回転テーブル30と回転駆動系DRCとは、水平方向
(図4の紙面の左右方向及び図4の紙面に垂直な方向と
で定まる面内)に移動自在なXYステージ40上に配置
され、そのXYステージ40の移動量がレーザ干渉計4
2によって常時検出されている。このようにレーザ干渉
計42を設けたのは、円形ディスク板Dの交換時に、回
転テーブル30を投影光学系PLの真下から待避させ
て、未処理の円形ディスク板と露光済みの円形ディスク
板とを交換する必要があるからである。更に、円形ディ
スク板の交換後、再びXYステージ40を元の露光位置
に正確に復帰させる必要もあるからである。そのレーザ
干渉計42の測定値は主制御系MCUへ供給され、その
測定値に基づいて主制御系MCUはXYステージ40の
位置決め用のモータ等の制御を行う。
を軸として開口部が形成され、円形ディスク板Dは、そ
の開口部に嵌合するピボット状の中心突起を備えた回転
テーブル30上に真空吸着等により固定される。回転テ
ーブル30は回転駆動系DRCによって回転され、その
回転テーブル30と回転駆動系DRCとは、水平方向
(図4の紙面の左右方向及び図4の紙面に垂直な方向と
で定まる面内)に移動自在なXYステージ40上に配置
され、そのXYステージ40の移動量がレーザ干渉計4
2によって常時検出されている。このようにレーザ干渉
計42を設けたのは、円形ディスク板Dの交換時に、回
転テーブル30を投影光学系PLの真下から待避させ
て、未処理の円形ディスク板と露光済みの円形ディスク
板とを交換する必要があるからである。更に、円形ディ
スク板の交換後、再びXYステージ40を元の露光位置
に正確に復帰させる必要もあるからである。そのレーザ
干渉計42の測定値は主制御系MCUへ供給され、その
測定値に基づいて主制御系MCUはXYステージ40の
位置決め用のモータ等の制御を行う。
【0010】更に、図4において、円形レチクルRの回
転時の平行度(光軸AXとの垂直度)を検出するための
センサー50と、レチクルRの回転時の平行度を調整す
るためのエアベアリング方式等のレベリング機構60と
が設けられている。同様に、円形ディスク板Dについて
も、平行度を検出するためのセンサー70が設けられ、
それらセンサー50及び70のそれぞれからの検出信号
は、フォーカス制御系80に供給されている。フォーカ
ス制御系80は、そのレベリング機構60や、フォーカ
ス合わせのために回転テーブル30を光軸AXの方向へ
微動させる機構(図示省略)の制御を行う。
転時の平行度(光軸AXとの垂直度)を検出するための
センサー50と、レチクルRの回転時の平行度を調整す
るためのエアベアリング方式等のレベリング機構60と
が設けられている。同様に、円形ディスク板Dについて
も、平行度を検出するためのセンサー70が設けられ、
それらセンサー50及び70のそれぞれからの検出信号
は、フォーカス制御系80に供給されている。フォーカ
ス制御系80は、そのレベリング機構60や、フォーカ
ス合わせのために回転テーブル30を光軸AXの方向へ
微動させる機構(図示省略)の制御を行う。
【0011】このように、図3及び図4に示す露光装置
においては、円形レチクルRと円形ディスク板Dとを同
期して回転した状態で、円形レチクルRの扇形の照明領
域IA内のパターンを円形ディスク板Dの露光面に投影
することにより、円形ディスク板Dの全周への周回パタ
ーンの露光が行われていた。また、図4に示すように、
レベリング機構60が設けられてはいるが、その機能は
主に円形レチクルRの回転の案内であり、円形レチクル
Rの撓みを矯正する作用は弱かった。従って、円形レチ
クルRは、原則としてレチクル自身の剛性で平面度を維
持しなければならず、レチクルの厚さや材質に制約を受
けていた。
においては、円形レチクルRと円形ディスク板Dとを同
期して回転した状態で、円形レチクルRの扇形の照明領
域IA内のパターンを円形ディスク板Dの露光面に投影
することにより、円形ディスク板Dの全周への周回パタ
ーンの露光が行われていた。また、図4に示すように、
レベリング機構60が設けられてはいるが、その機能は
主に円形レチクルRの回転の案内であり、円形レチクル
Rの撓みを矯正する作用は弱かった。従って、円形レチ
クルRは、原則としてレチクル自身の剛性で平面度を維
持しなければならず、レチクルの厚さや材質に制約を受
けていた。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】上記の如き従来の技術
に於いては、円形レチクルRの厚さ、材質又は大きさ等
によっては円形レチクルRが撓んでしまい、投影光学系
PLの結像性能が悪化してしまう不都合があった。特
に、大面積の円形レチクルの原画パターンを円形ディス
ク上に露光する場合には、その円形レチクルの周縁部で
の撓みが大きくなり、円形レチクルRの中央部と周縁部
とで投影されるパターン像の結像特性が大きく変化し
て、円形ディスク板Dの歩留まりが大きく低下する虞が
あった。
に於いては、円形レチクルRの厚さ、材質又は大きさ等
によっては円形レチクルRが撓んでしまい、投影光学系
PLの結像性能が悪化してしまう不都合があった。特
に、大面積の円形レチクルの原画パターンを円形ディス
ク上に露光する場合には、その円形レチクルの周縁部で
の撓みが大きくなり、円形レチクルRの中央部と周縁部
とで投影されるパターン像の結像特性が大きく変化し
て、円形ディスク板Dの歩留まりが大きく低下する虞が
あった。
【0013】本発明は斯かる点に鑑み、円形レチクルの
平面度を良好に維持して、感光基板上の全露光面で高精
度にパターンを露光できる回転走査方式の露光装置を提
供することを目的とする。
平面度を良好に維持して、感光基板上の全露光面で高精
度にパターンを露光できる回転走査方式の露光装置を提
供することを目的とする。
【0014】
【課題を解決するための手段】本発明による回転走査方
式の露光装置は、例えば図1及び図3に示すように、感
光性円板(D)上に同心円状又は螺旋状のパターンを露
光する装置において、感光性円板(D)上に形成すべき
同心円状又は螺旋状のパターンに対応した原画パターン
が所定の軸(C1)の回りに形成されたマスク基板
(R)を、所定の軸(C1)を回転中心として回転自在
に保持する第1の回転保持手段(RRC)と、この第1
の回転保持手段に保持されたマスク基板(R)の撓み
を、マスク基板(R)に接触することなく補正する非接
触の撓み補正手段(5)と、マスク基板(R)の原画パ
ターンの内の、所定の軸(C1)を中心として所定の円
周角の範囲内のスリット状又は扇状の照明領域を露光光
で照明する照明手段(1)とを有する。
式の露光装置は、例えば図1及び図3に示すように、感
光性円板(D)上に同心円状又は螺旋状のパターンを露
光する装置において、感光性円板(D)上に形成すべき
同心円状又は螺旋状のパターンに対応した原画パターン
が所定の軸(C1)の回りに形成されたマスク基板
(R)を、所定の軸(C1)を回転中心として回転自在
に保持する第1の回転保持手段(RRC)と、この第1
の回転保持手段に保持されたマスク基板(R)の撓み
を、マスク基板(R)に接触することなく補正する非接
触の撓み補正手段(5)と、マスク基板(R)の原画パ
ターンの内の、所定の軸(C1)を中心として所定の円
周角の範囲内のスリット状又は扇状の照明領域を露光光
で照明する照明手段(1)とを有する。
【0015】更に、本発明は、その原画パターンのその
スリット状又は扇状の照明領域内の像を、所定の結像面
内に投影する投影光学系(PL)と、感光性円板(D)
の露光面をその結像面内に保持すると共に、感光性円板
(D)の中心点(C2)を投影光学系(PL)に関して
マスク基板(R)の所定の軸(C1)とほぼ共役な位置
に配置した状態で、感光性円板(D)を中心点(C2)
を軸として回転させる第2の回転保持手段(DRC)
と、マスク基板(R)と感光性基板(D)とがほぼ等し
い角速度で同期して回転するように、それら第1及び第
2の回転保持手段を同期して駆動する駆動制御手段(M
CU)とを有し、マスク基板(R)と感光性円板(D)
とを同期して回転した状態で、その原画パターンの像を
感光性円板(D)上に露光するものである。
スリット状又は扇状の照明領域内の像を、所定の結像面
内に投影する投影光学系(PL)と、感光性円板(D)
の露光面をその結像面内に保持すると共に、感光性円板
(D)の中心点(C2)を投影光学系(PL)に関して
マスク基板(R)の所定の軸(C1)とほぼ共役な位置
に配置した状態で、感光性円板(D)を中心点(C2)
を軸として回転させる第2の回転保持手段(DRC)
と、マスク基板(R)と感光性基板(D)とがほぼ等し
い角速度で同期して回転するように、それら第1及び第
2の回転保持手段を同期して駆動する駆動制御手段(M
CU)とを有し、マスク基板(R)と感光性円板(D)
とを同期して回転した状態で、その原画パターンの像を
感光性円板(D)上に露光するものである。
【0016】この場合、その非接触の撓み補正手段は、
一例として、基準平面板(5)と、基準平面板(5)と
マスク基板(R)の一面との間に気体を流通させる気体
供給手段とよりなり、その気体の負圧により基準平面板
(5)側にマスク基板(R)の一面を倣わせることによ
り、マスク基板(R)の撓みを補正するものである。ま
た、その非接触の撓み補正手段は、他の例として、例え
ば図2に示すように、マスク基板(R)の一面に気体を
吹き付ける気体噴出手段(9)よりなり、その気体の圧
力によりマスク基板(R)の撓みを補正するものであ
る。
一例として、基準平面板(5)と、基準平面板(5)と
マスク基板(R)の一面との間に気体を流通させる気体
供給手段とよりなり、その気体の負圧により基準平面板
(5)側にマスク基板(R)の一面を倣わせることによ
り、マスク基板(R)の撓みを補正するものである。ま
た、その非接触の撓み補正手段は、他の例として、例え
ば図2に示すように、マスク基板(R)の一面に気体を
吹き付ける気体噴出手段(9)よりなり、その気体の圧
力によりマスク基板(R)の撓みを補正するものであ
る。
【0017】
【作用】斯かる本発明によれば、マスク基板(R)の平
面度はその非接触の撓み補正手段により良好に維持され
る。従って、マスク基板(R)の回転精度が良好に維持
された状態で、マスク基板(R)の原画パターンの像が
感光性円板(D)の全露光面に良好な結像特性で転写さ
れる。
面度はその非接触の撓み補正手段により良好に維持され
る。従って、マスク基板(R)の回転精度が良好に維持
された状態で、マスク基板(R)の原画パターンの像が
感光性円板(D)の全露光面に良好な結像特性で転写さ
れる。
【0018】また、その非接触の撓み補正手段が、基準
平面板(5)と、基準平面板(5)とマスク基板(R)
の一面との間に気体を流通させる気体供給手段とよりな
る場合には、マスク基板(R)と基準平面板(5)の間
に高速の気体を流すことによって、ベルヌーイの原理に
よりマスク基板(R)が基準平面板(5)に吸い寄せら
れる。従って、マスク基板(R)の平面度が基準平面板
(5)によって矯正され、マスク基板(R)の平面度が
良好に維持される。
平面板(5)と、基準平面板(5)とマスク基板(R)
の一面との間に気体を流通させる気体供給手段とよりな
る場合には、マスク基板(R)と基準平面板(5)の間
に高速の気体を流すことによって、ベルヌーイの原理に
よりマスク基板(R)が基準平面板(5)に吸い寄せら
れる。従って、マスク基板(R)の平面度が基準平面板
(5)によって矯正され、マスク基板(R)の平面度が
良好に維持される。
【0019】また、その非接触の撓み補正手段が、マス
ク基板(R)の一面に気体を吹き付ける気体噴出手段
(9)よりなる場合には、その気体の圧力によりマスク
基板(R)の平面度が良好に維持される。
ク基板(R)の一面に気体を吹き付ける気体噴出手段
(9)よりなる場合には、その気体の圧力によりマスク
基板(R)の平面度が良好に維持される。
【0020】
【実施例】以下、本発明による回転走査方式の露光装置
の一実施例につき図2を参照して説明する。本実施例
は、図3及び図4に示した露光装置の円形レチクルRの
回転保持部を改良したものであり、その円形レチクルR
の回転保持部の構成だけを説明する。
の一実施例につき図2を参照して説明する。本実施例
は、図3及び図4に示した露光装置の円形レチクルRの
回転保持部を改良したものであり、その円形レチクルR
の回転保持部の構成だけを説明する。
【0021】図1(a)は本実施例の円形レチクルRの
回転保持部の斜視図、図1(b)はその回転保持部の断
面図であり、これら図1(a)及び(b)において、円
形レチクルRを回転駆動部3に連結された保持部4上に
保持し、その円形レチクルRの上に僅かな間隔を隔てて
平面板5を配置する。平面板5の一部には扇形の開口部
5aを設け、この開口部5a内に図3の扇形の照明領域
IAが設定されるようにする。
回転保持部の斜視図、図1(b)はその回転保持部の断
面図であり、これら図1(a)及び(b)において、円
形レチクルRを回転駆動部3に連結された保持部4上に
保持し、その円形レチクルRの上に僅かな間隔を隔てて
平面板5を配置する。平面板5の一部には扇形の開口部
5aを設け、この開口部5a内に図3の扇形の照明領域
IAが設定されるようにする。
【0022】また、平面板5の中心部の上部に突起5b
を植設し、突起5b中の貫通孔5cを介して外部の図示
省略した気体供給源より、平面板5と円形レチクルRと
の間に空気等の気体を高速に供給する。この気体は温度
調節されていると共に、集塵フィルターを経ている。平
面板5の円形レチクルRとの対向面を高精度の平面に仕
上げておく。また、円形レチクルRの半径方向の端部の
下側に、その円形レチクルRとの距離を非接触で検出す
る変位センサー6を配置し、この変位センサー6の検出
信号を制御装置7に供給する。制御装置7は、変位セン
サー6により検出される円形レチクルRとの距離が所定
範囲に維持されるように、その気体供給源から平面板5
に供給される気体の圧力を調整する。
を植設し、突起5b中の貫通孔5cを介して外部の図示
省略した気体供給源より、平面板5と円形レチクルRと
の間に空気等の気体を高速に供給する。この気体は温度
調節されていると共に、集塵フィルターを経ている。平
面板5の円形レチクルRとの対向面を高精度の平面に仕
上げておく。また、円形レチクルRの半径方向の端部の
下側に、その円形レチクルRとの距離を非接触で検出す
る変位センサー6を配置し、この変位センサー6の検出
信号を制御装置7に供給する。制御装置7は、変位セン
サー6により検出される円形レチクルRとの距離が所定
範囲に維持されるように、その気体供給源から平面板5
に供給される気体の圧力を調整する。
【0023】本例によれば、平面板5の貫通孔5cを介
して平面板5と円形レチクルRとの間に気体を供給する
ことにより、ベルヌーイの原理で円形レチクルRが平面
板5に吸着されて、円形レチクルRの撓みが矯正され
る。また、変位センサー6により円形レチクルRの撓み
を測定し、その撓み量の変化に応じて制御装置7により
気体の供給圧力を調整することによって、円形レチクル
Rの平面度が常に高精度に維持される。特に、回転走査
方式の露光装置で、円形レチクルRのφ1方向への角速
度を切り換えたような場合には、円形レチクルRの撓み
量が変化する虞があるため、変位センサー6及び制御装
置7により供給する気体の圧力を調整する機構は有効で
ある。
して平面板5と円形レチクルRとの間に気体を供給する
ことにより、ベルヌーイの原理で円形レチクルRが平面
板5に吸着されて、円形レチクルRの撓みが矯正され
る。また、変位センサー6により円形レチクルRの撓み
を測定し、その撓み量の変化に応じて制御装置7により
気体の供給圧力を調整することによって、円形レチクル
Rの平面度が常に高精度に維持される。特に、回転走査
方式の露光装置で、円形レチクルRのφ1方向への角速
度を切り換えたような場合には、円形レチクルRの撓み
量が変化する虞があるため、変位センサー6及び制御装
置7により供給する気体の圧力を調整する機構は有効で
ある。
【0024】以上のよう本実施例によれば、円形レチク
ルRの平面度を高精度に維持することができ、図3の円
形ディスク板Dの全露光面に円形レチクルRのパターン
像を高精度に露光することができる。また、温度制御さ
れたクリーンな気体を円形レチクルRの上面に流すこと
によって、円形レチクルRへの異物の付着を防止し、更
に照明光学系からの露光光の照射による円形レチクルR
の温度上昇を抑えることもできる。また、平面板5を傾
けることによって、円形レチクルRを回転させたままで
円形レチクルRに接触することなく円形レチクルRを傾
けることもでき、投影像を補正することも可能となる。
ルRの平面度を高精度に維持することができ、図3の円
形ディスク板Dの全露光面に円形レチクルRのパターン
像を高精度に露光することができる。また、温度制御さ
れたクリーンな気体を円形レチクルRの上面に流すこと
によって、円形レチクルRへの異物の付着を防止し、更
に照明光学系からの露光光の照射による円形レチクルR
の温度上昇を抑えることもできる。また、平面板5を傾
けることによって、円形レチクルRを回転させたままで
円形レチクルRに接触することなく円形レチクルRを傾
けることもでき、投影像を補正することも可能となる。
【0025】次に、本発明の他の実施例につき図2を参
照して説明する。本実施例も図3及び図4の回転走査方
式の露光装置の、円形レチクルRの回転保持部に本発明
を適用したものである。図2は本例の円形レチクルRの
回転保持部の断面図であり、この図2において、円形レ
チクルRを回転駆動部3に連結された保持部4上に保持
し、その円形レチクルRの上に僅かな間隔を隔てて平面
板8を配置する。平面板8の一部には扇形の開口部(図
1(a)の開口部5aに対応するもの)を設け、この開
口部内に図3の扇形の照明領域IAが設定されるように
する。その平面板8の周縁部の近傍に多数の貫通孔8
a,8b,‥‥を穿ち、それら貫通孔8a,8b,‥‥
を介して平面板8と円形レチクルRとの間に、外部の図
示省略した気体供給源より温度調節され集塵フィルター
を通過した所定圧力の気体を供給する。それら貫通孔8
a,8b,‥‥の気体の噴出側には、円形レチクルRに
対して凹の気体溜り8c,8d,‥‥を形成する。
照して説明する。本実施例も図3及び図4の回転走査方
式の露光装置の、円形レチクルRの回転保持部に本発明
を適用したものである。図2は本例の円形レチクルRの
回転保持部の断面図であり、この図2において、円形レ
チクルRを回転駆動部3に連結された保持部4上に保持
し、その円形レチクルRの上に僅かな間隔を隔てて平面
板8を配置する。平面板8の一部には扇形の開口部(図
1(a)の開口部5aに対応するもの)を設け、この開
口部内に図3の扇形の照明領域IAが設定されるように
する。その平面板8の周縁部の近傍に多数の貫通孔8
a,8b,‥‥を穿ち、それら貫通孔8a,8b,‥‥
を介して平面板8と円形レチクルRとの間に、外部の図
示省略した気体供給源より温度調節され集塵フィルター
を通過した所定圧力の気体を供給する。それら貫通孔8
a,8b,‥‥の気体の噴出側には、円形レチクルRに
対して凹の気体溜り8c,8d,‥‥を形成する。
【0026】また、円形レチクルRの下側にも僅かな間
隔を隔てて平面板9を配置する。平面板9の一部にも扇
形の開口部(平面板8の扇形の開口部に対応するもの)
を設け、平面板9の周縁部の近傍に多数の貫通孔9a,
9b,‥‥を穿ち、それら貫通孔9a,9b,‥‥を介
して平面板9と円形レチクルRとの間に、外部の図示省
略した気体供給源より温度調節され集塵フィルターを通
過した所定圧力の気体を供給する。この下側の平面板9
から円形レチクルRに供給される気体の圧力は、上側の
平面板8から円形レチクルRに供給される気体の圧力よ
りも大きく設定されている。それら貫通孔9a,9b,
‥‥の気体の噴出側にも、円形レチクルRに対して凹の
気体溜り9c,9d,‥‥を形成する。また、下側の平
面板9の中央の開口部9e内に回転駆動部3を収納し、
上側の平面板8の中央の開口部8e内には、必要に応じ
て例えば図4の回転軸21を収納する。
隔を隔てて平面板9を配置する。平面板9の一部にも扇
形の開口部(平面板8の扇形の開口部に対応するもの)
を設け、平面板9の周縁部の近傍に多数の貫通孔9a,
9b,‥‥を穿ち、それら貫通孔9a,9b,‥‥を介
して平面板9と円形レチクルRとの間に、外部の図示省
略した気体供給源より温度調節され集塵フィルターを通
過した所定圧力の気体を供給する。この下側の平面板9
から円形レチクルRに供給される気体の圧力は、上側の
平面板8から円形レチクルRに供給される気体の圧力よ
りも大きく設定されている。それら貫通孔9a,9b,
‥‥の気体の噴出側にも、円形レチクルRに対して凹の
気体溜り9c,9d,‥‥を形成する。また、下側の平
面板9の中央の開口部9e内に回転駆動部3を収納し、
上側の平面板8の中央の開口部8e内には、必要に応じ
て例えば図4の回転軸21を収納する。
【0027】本実施例によれば、平面板8及び平面板9
で円形レチクルRを挟み、平面板8及び平面板9からそ
れぞれ円形レチクルR側に所定圧力の気体を供給するこ
とにより、円形レチクルRの平面度が平面板8及び平面
板9に倣って、円形レチクルRの平面度が高精度に維持
される。なお、図2の実施例では、上側の平面板8から
も円形レチクルRに対して小さな圧力の気体を供給する
ようにしているが、その平面板8の代わりに図1の平面
板5を配置してもよい。この場合には、下側の平面板9
に対して円形レチクルRが持ち上げられると共に、上側
の平面板に円形レチクルRが吸着されるので、円形レチ
クルRの撓みの矯正効果が大きくなる。
で円形レチクルRを挟み、平面板8及び平面板9からそ
れぞれ円形レチクルR側に所定圧力の気体を供給するこ
とにより、円形レチクルRの平面度が平面板8及び平面
板9に倣って、円形レチクルRの平面度が高精度に維持
される。なお、図2の実施例では、上側の平面板8から
も円形レチクルRに対して小さな圧力の気体を供給する
ようにしているが、その平面板8の代わりに図1の平面
板5を配置してもよい。この場合には、下側の平面板9
に対して円形レチクルRが持ち上げられると共に、上側
の平面板に円形レチクルRが吸着されるので、円形レチ
クルRの撓みの矯正効果が大きくなる。
【0028】このように、本発明は上述実施例に限定さ
れず、本発明の要旨を逸脱しない範囲で種々の構成を取
り得る。
れず、本発明の要旨を逸脱しない範囲で種々の構成を取
り得る。
【0029】
【発明の効果】本発明によれば、非接触の撓み補正手段
によりマスク基板の平面度を高精度に維持することがで
き、感光性円板の全面に高精度にパターンを露光するこ
とができる利点がある。また、マスク基板の剛性に依ら
ずにマスク基板の平面度が維持されるため、マスク基板
を薄くすることができる。従って、マスク基板のハンド
リングが容易となり、マスク基板のコストを低減でき
る。
によりマスク基板の平面度を高精度に維持することがで
き、感光性円板の全面に高精度にパターンを露光するこ
とができる利点がある。また、マスク基板の剛性に依ら
ずにマスク基板の平面度が維持されるため、マスク基板
を薄くすることができる。従って、マスク基板のハンド
リングが容易となり、マスク基板のコストを低減でき
る。
【0030】また、その非接触の撓み補正手段が、気体
の負圧により基準平面板側にそのマスク基板の一面を倣
わせることにより、そのマスク基板の撓みを補正するも
のである場合には、例えば温度制御されたクリーンな気
体をマスク基板面に流すことによって、マスク基板への
異物の付着を防止し、照明光学系からの露光光の照射に
よるマスク基板の温度上昇を抑えることもできる。更
に、その基準平面板を傾けることによって、マスク基板
を回転させたままマスク基板に接触することなくマスク
基板を傾けることもでき、投影像を補正することも可能
となる。
の負圧により基準平面板側にそのマスク基板の一面を倣
わせることにより、そのマスク基板の撓みを補正するも
のである場合には、例えば温度制御されたクリーンな気
体をマスク基板面に流すことによって、マスク基板への
異物の付着を防止し、照明光学系からの露光光の照射に
よるマスク基板の温度上昇を抑えることもできる。更
に、その基準平面板を傾けることによって、マスク基板
を回転させたままマスク基板に接触することなくマスク
基板を傾けることもでき、投影像を補正することも可能
となる。
【0031】また、その非接触の撓み補正手段が、気体
の圧力によりそのマスク基板の撓みを補正するものであ
る場合にも、同様の利点がある。
の圧力によりそのマスク基板の撓みを補正するものであ
る場合にも、同様の利点がある。
【図1】(a)は本発明による回転走査方式の露光装置
の一実施例の円形レチクルの回転保持部を示す斜視図、
(b)は図1(a)の断面図である。
の一実施例の円形レチクルの回転保持部を示す斜視図、
(b)は図1(a)の断面図である。
【図2】本発明の他の実施例の円形レチクルの回転保持
部を示す断面図である。
部を示す断面図である。
【図3】本出願人の先願に係る回転走査方式の露光装置
の概略構成を示す斜視図である。
の概略構成を示す斜視図である。
【図4】図3の露光装置のより詳細な構造を示す一部断
面図を含む構成図である。
面図を含む構成図である。
1 コンデンサーレンズ R 円形レチクル 3 回転駆動部 4 保持部 5 平面板 6 変位センサー 7 制御装置 8,9 平面板 10 照明系 PL 投影光学系 D 円形ディスク板 RRC,DRC 回転駆動系 MCU 主制御系
Claims (3)
- 【請求項1】 感光性円板上に同心円状又は螺旋状のパ
ターンを露光する装置において、 前記感光性円板上に形成すべき同心円状又は螺旋状のパ
ターンに対応した原画パターンが所定の軸の回りに形成
されたマスク基板を、前記所定の軸を回転中心として回
転自在に保持する第1の回転保持手段と、 該第1の回転保持手段に保持された前記マスク基板の撓
みを、該マスク基板に接触することなく補正する非接触
の撓み補正手段と、 前記マスク基板の原画パターンの内の、前記所定の軸を
中心として所定の円周角の範囲内のスリット状又は扇状
の照明領域を露光光で照明する照明手段と、 前記原画パターンの前記スリット状又は扇状の照明領域
内の像を、所定の結像面内に投影する投影光学系と、 前記感光性円板の露光面を前記結像面内に保持すると共
に、前記感光性円板の中心点を前記投影光学系に関して
前記マスク基板の所定の軸とほぼ共役な位置に配置した
状態で、前記感光性円板を前記中心点を軸として回転さ
せる第2の回転保持手段と、 前記マスク基板と前記感光性円板とがほぼ等しい角速度
で同期して回転するように、前記第1及び第2の回転保
持手段を同期して駆動する駆動制御手段とを有し、 前記マスク基板と前記感光性円板とを同期して回転した
状態で、前記原画パターンの像を前記感光性円板上に露
光する事を特徴とする回転走査方式の露光装置。 - 【請求項2】 前記非接触の撓み補正手段は、基準平面
板と、該基準平面板と前記マスク基板の一面との間に気
体を流通させる気体供給手段とよりなり、前記気体の負
圧により前記基準平面板側に前記マスク基板の一面を倣
わせることにより、前記マスク基板の撓みを補正するも
のである事を特徴とする請求項1記載の回転走査方式の
露光装置。 - 【請求項3】 前記非接触の撓み補正手段は、前記マス
ク基板の一面に気体を吹き付ける気体噴出手段よりな
り、前記気体の圧力により前記マスク基板の撓みを補正
するものである事を特徴とする請求項1記載の回転走査
方式の露光装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4324020A JPH06176408A (ja) | 1992-12-03 | 1992-12-03 | 回転走査方式の露光装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4324020A JPH06176408A (ja) | 1992-12-03 | 1992-12-03 | 回転走査方式の露光装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06176408A true JPH06176408A (ja) | 1994-06-24 |
Family
ID=18161252
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4324020A Withdrawn JPH06176408A (ja) | 1992-12-03 | 1992-12-03 | 回転走査方式の露光装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06176408A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6432790B1 (en) | 2000-10-30 | 2002-08-13 | Hitachi, Ltd. | Method of manufacturing photomask, photomask, and method of manufacturing semiconductor integrated circuit device |
| JP2002299231A (ja) * | 2001-04-03 | 2002-10-11 | Nikon Corp | 露光装置 |
| US6951766B2 (en) | 2000-12-22 | 2005-10-04 | Canon Kabushiki Kaisha | Correcting device, exposure apparatus, device production method, and device produced by the device production method |
| WO2011046169A1 (ja) * | 2009-10-14 | 2011-04-21 | 国立大学法人京都大学 | 微細構造体の作製方法 |
| JP2013160804A (ja) * | 2012-02-01 | 2013-08-19 | Tokyo Electron Ltd | 周縁露光装置、周縁露光方法及び記憶媒体 |
| JP2013165208A (ja) * | 2012-02-13 | 2013-08-22 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 基板処理装置、および、基板処理方法 |
-
1992
- 1992-12-03 JP JP4324020A patent/JPH06176408A/ja not_active Withdrawn
Cited By (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6432790B1 (en) | 2000-10-30 | 2002-08-13 | Hitachi, Ltd. | Method of manufacturing photomask, photomask, and method of manufacturing semiconductor integrated circuit device |
| US6951766B2 (en) | 2000-12-22 | 2005-10-04 | Canon Kabushiki Kaisha | Correcting device, exposure apparatus, device production method, and device produced by the device production method |
| US7138282B2 (en) | 2000-12-22 | 2006-11-21 | Canon Kabushiki Kaisha | Correcting device, exposure apparatus, device production method, and device produced by the device production method |
| US7182794B2 (en) | 2000-12-22 | 2007-02-27 | Canon Kabushiki Kaisha | Correcting device, exposure apparatus, device production method, and device produced by the device production method |
| US7214549B2 (en) | 2000-12-22 | 2007-05-08 | Canon Kabushiki Kaisha | Correcting device, exposure apparatus, device production method, and device produced by the device production method |
| JP2002299231A (ja) * | 2001-04-03 | 2002-10-11 | Nikon Corp | 露光装置 |
| WO2011046169A1 (ja) * | 2009-10-14 | 2011-04-21 | 国立大学法人京都大学 | 微細構造体の作製方法 |
| JP5458241B2 (ja) * | 2009-10-14 | 2014-04-02 | 国立大学法人京都大学 | 微細構造体の作製方法 |
| US8871433B2 (en) | 2009-10-14 | 2014-10-28 | Kyoto University | Method for producing microstructure |
| JP2013160804A (ja) * | 2012-02-01 | 2013-08-19 | Tokyo Electron Ltd | 周縁露光装置、周縁露光方法及び記憶媒体 |
| JP2013165208A (ja) * | 2012-02-13 | 2013-08-22 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 基板処理装置、および、基板処理方法 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
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