JPH06176729A - 走査型電子顕微鏡およびその類似装置 - Google Patents

走査型電子顕微鏡およびその類似装置

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JPH06176729A
JPH06176729A JP4343560A JP34356092A JPH06176729A JP H06176729 A JPH06176729 A JP H06176729A JP 4343560 A JP4343560 A JP 4343560A JP 34356092 A JP34356092 A JP 34356092A JP H06176729 A JPH06176729 A JP H06176729A
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JP
Japan
Prior art keywords
sample
electron microscope
scanning electron
objective lens
sample stage
Prior art date
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Pending
Application number
JP4343560A
Other languages
English (en)
Inventor
Takashi Kimura
隆志 木村
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Topcon Corp
Original Assignee
Topcon Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Topcon Corp filed Critical Topcon Corp
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Publication of JPH06176729A publication Critical patent/JPH06176729A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 振動の影響を最小限に防止できる走査型電子
顕微鏡およびその類似装置を提供する。 【構成】 対物レンズと試料ステージとを備えた走査型
電子顕微鏡およびその類似装置において、前記対物レン
ズと前記試料ステージとを一体化したことを特徴とする
走査型電子顕微鏡およびその類似装置。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、対物レンズと試料ス
テージとを備えた走査型電子顕微鏡およびその類似装置
に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来の技術を図4を参照して説明する。
従来の走査型電子顕微鏡では、一般に対物レンズ1と試
料ステージ2が試料室3に別々に離れた状態で取付けら
れている。すなわち、対物レンズ1が試料室3の上壁に
直接固定され、一方試料ステージ2は試料室3の側壁に
片持ち式に固定されている。
【0003】電子顕微鏡は一般に振動に弱いため、きわ
めて微小な振動であっても試料像に揺らぎが生じ、解像
度や分解能が低下してしまう。振動は主に床面から電子
顕微鏡に伝わるが、試料室3が前述のような構成になっ
ているので、床面からの振動は試料室の壁面を介して試
料ステージ2と対物レンズ1に異なった形で伝達され
る。このため、試料4と対物レンズ1が異なる位相、変
位で振動することになる。その結果、電子ビーム5に対
して試料4が相対的な振動を行い、画像に揺らぎが生じ
てしまうのである。
【0004】このため、試料室3と対物レンズ1の接触
面の剛性を高めたり、接触面を面当たりにしたり、また
試料ステージ2の自由端を反対側の側壁6に突っ張るよ
うに当接させて振動の影響を軽減する試みがなされてい
る。
【0005】他方、除振台を設けて試料室3を床から隔
離し、これを防振することも一般に行われている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかし、これらの防振
手段を設けても、特に低い周波数の振動を完全に除くこ
とは難しい。また、高性能の防振台を設けることはコス
ト高にもつながる。
【0007】従って、従来は走査型電子顕微鏡の設置条
件がかなりきびしく、設置場所を自由に選定することが
できなかった。
【0008】以上のような従来技術の問題点に鑑み、本
発明は振動の影響を最小限に防止して試料像の揺らぎが
生じないか最小限に抑制される走査型電子顕微鏡および
その類似装置を提供することを目的としている。
【0009】
【課題を解決するための手段】この発明は、対物レンズ
と試料ステージとを備えた走査型電子顕微鏡およびその
類似装置において、前記対物レンズと前記試料ステージ
とを一体化したことを特徴とする走査型電子顕微鏡およ
びその類似装置を要旨としている。
【0010】
【実施例】以下、図面を参照して本発明の実施例を説明
する。
【0011】図1は本発明による走査型電子顕微鏡の試
料室付近を示す断面図、図2は図1の矢印A方向から見
た断面図、図3は図1のB−B線に沿った断面図であ
る。
【0012】走査型電子顕微鏡は、長筒状の筒体を有
し、筒体には電子銃、集束レンズ、走査コイル、非点補
正子等(いずれも図示せず)が適宜設けられるが、これ
らは通常の走査型電子顕微鏡と同様に構成できる。筒体
の下部には、試料を設定するための試料室3が気密に接
続されている。筒体と試料室3の中は排気系によって真
空にすることができる。
【0013】試料室3の上壁3aには開口が形成されて
いて、そこに対物レンズ1の保持手段例えばポールピー
ス21が固定されている。ポールピース21の外周縁部
が試料室3の上壁3aに固定されている。図には示して
ないが、試料室3の上壁3aとポールピース21との間
に防振手段を設けるのが望ましい。
【0014】ポールピース21の外周縁部には4本の支
柱8が固定されていて、試料室3の上壁3aの開口から
支柱8は垂直方向に下向きに伸びている。また、これら
4本の支柱8がポールピースの中心軸を中心として点対
称に配置されている。これにより更にポールピース21
と一体性が保たれ、ポールピース21と試料4の振動同
期性の効果が得られる。
【0015】支柱8の下端には板形状の試料ステージベ
ース7が取付けられている。図示されている支柱8は円
柱形状をしているが、他の任意の形状にしてもよい。こ
れらの支柱8はそれ自体が剛体に構成されているだけで
なく、試料ステージベース7とポールピース21に対し
て剛性的な固定関係に結合されている。つまり、支柱8
と試料ステージベース7とポールピース21は全体的に
一つの剛体に構成されている。
【0016】支柱8および試料ステージベース7は試料
室3の内壁面に非接触となるように配置されている。こ
のように、試料ステージベース7は試料室3の内壁面と
は離されており、剛体の支柱8を介してポールピース2
1に固定されているので、対物レンズ1から試料4への
振動伝達函数は非常に似かよったものになる。従って、
対物レンズ1と試料4はほぼ同期して振動する事にな
り、試料像が動くことなく、画像の揺らぎを生じない。
【0017】試料ステージベース7にはX移動台10と
Y移動台12が取付けられている。Y移動台12の上部
には試料4が設定してあり、これに電子ビーム5を照射
するようになっている。X移動台10はガイドレール9
に案内され、送りネジ13と駆動モータ14によって、
Y移動台12と試料4をX方向に移動する。一方、Y移
動台12はガイドレール11に案内され、送りネジ15
と駆動モータ16によって試料4をY方向に移動する。
【0018】試料室3の側方には試料交換室17が気密
に設けられている。試料交換室17内には試料交換ベー
ス19が固定してあり、その上に2本のガイドレール2
0が配置されている。
【0019】試料4を交換する際には、モータ14を動
かしてX移動台10を試料交換室17の方向に移動させ
る。X移動台は、ガイドレール9及び試料交換ベース1
9上のガイドレール20に案内されて試料交換室17に
移動する。
【0020】試料交換室17には、外部から試料4を交
換するための開閉自在の蓋18が取付けてある。蓋18
を開けて試料4を交換し、蓋18を閉めた後X移動台を
反対方向に移動させ、試料4を対物レンズ1の下に移動
させる。
【0021】なお、本発明は前述の実施例に限定されな
い。例えば、対物レンズは筒体の下部付近に固定しても
よく、その場合にも同様にして試料ステージを対物レン
ズに対して一体的に固定すればよい。また、支柱の本数
は4本に限らず何本でもよい。
【0022】
【発明の効果】本発明の走査型電子顕微鏡およびその類
似装置においては、試料ステージと対物レンズを一体化
する構成になっているので、対物レンズに対する外部か
ら伝わる振動の影響を最小限に抑え、走査型電子顕微鏡
の解像度および分解能を向上することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による走査型電子顕微鏡の試料室付近を
示す断面図。
【図2】図1の矢印A方向から見た断面図。
【図3】図1のB−B断面図。
【図4】従来の走査型電子顕微鏡の試料室付近を示す断
面図。
【符号の説明】
1 対物レンズ 2 試料ステージ 3 試料室 4 試料 5 電子ビーム 6 試料室壁面 7 試料ステージベース 8 支柱 9 ガイドレール 10 X移動台 11 ガイドレール 12 Y移動台 13 送りネジ 14 駆動モータ 15 送りネジ 16 駆動モータ 17 試料交換室 18 蓋 19 試料交換ベース 20 ガイドレール 21 ポールピース◆

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 対物レンズと試料ステージとを備えた走
    査型電子顕微鏡およびその類似装置において、前記対物
    レンズと前記試料ステージとを一体化したことを特徴と
    する走査型電子顕微鏡およびその類似装置。
  2. 【請求項2】 前記対物レンズのポールピース外周縁部
    に支柱を設けたことを特徴とする請求項1に記載の走査
    型電子顕微鏡およびその類似装置。
  3. 【請求項3】 ポールピースの中心軸を中心として点対
    称に少なくとも2対の支柱を配置したことを特徴とする
    請求項1または2に記載の走査型電子顕微鏡およびその
    類似装置。
JP4343560A 1992-12-01 1992-12-01 走査型電子顕微鏡およびその類似装置 Pending JPH06176729A (ja)

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