JPH0618284Y2

JPH0618284Y2 - 穀粒の品質判定装置

Info

Publication number: JPH0618284Y2
Application number: JP1988162980U
Authority: JP
Inventors: 道夫川中
Original assignee: Shizuoka Seiki Co Ltd
Current assignee: Shizuoka Seiki Co Ltd
Priority date: 1988-12-15
Filing date: 1988-12-15
Publication date: 1994-05-11
Anticipated expiration: 2003-12-15
Also published as: JPH0283455U

Description

【考案の詳細な説明】「産業上の利用分野」この考案は、穀粒の品質判定装置に係わり、特に試料に
籾が混入している場合の誤判定を防止するようにした穀
粒の品質判定装置に関する。

「従来の技術」従来、玄米等の穀粒の品質判定装置として、例えば特開
昭６２−１５０１４１号公報に開示のものがある。この
公報に開示のものは、玄米の各一粒毎に光を照射し拡散
透過光量および拡散反射光量と拡散反射光量中任意の二
波長の光量とを検出するとともに各光量比を演算し、得
られた各光量の比を予め実験データにより設定した判定
ブロックに照合させて、玄米の品質（例えば、整粒、腹
白粒、乳白米、青未熟粒、着色粒、青死米、白死米）を
判定するものである。

「考案が解決しようとする問題点」ところで、この品質判定装置にあっては、一般的に測定
試料である玄米が、籾の状態から籾摺りされて品質判定
装置に供給されるため、例えば籾摺りが良好に行われ
ず、籾摺り後の試料に籾のままの穀粒が混入している
と、この籾を着色粒として誤判定し、試料全体の品質を
高精度に測定することができないという不都合があっ
た。この不都合を除去するためには、籾摺り後の試料中
の籾を、作業者が取り除いてから品質判定装置に供給す
る方法も考えられるが、この方法にあっては、作業効率
が低下させることなく、試料に籾が混入している場合の
誤判定を防止し得る穀粒の品質判定装置を実現するにあ
る。

「問題を解決するための手段」この目的を達成するために、この考案は、試料を一粒毎
に供給する移送装置と、この移送装置と一体的に設けら
れた各試料に光を照射し、拡散透過光量（Ｔ）及び拡散
反射光量（Ｒ）中、赤色光領域と緑色光領域の二波長の
光量（Ｒｅ、Ｇ）とを検出する検出部と、この検出部か
ら入力される検出値に基づいて光量比（Ｔ／Ｒ、Ｒｅ／
Ｇ）を演算し、これと複数の分類別に予め設定した判定
ブロックとを比較して試料の品質を個別に判定する判定
制御部とを有する穀粒の品質判定装置において、前記判
定制御部が、その判定ブロックに「籾」のブロックを設
けるとともに、この「籾」と判定された試料を測定の対
象外とすることを特徴とする。

「作用」この考案の構成によれば、判定制御部の判定ブロック
に、予め実験によって求めた「籾」のブロックを設定
し、供給される試料がこの「籾」と判定された場合は、
この試料を測定の対象外、即ち、試料数としてのカウン
トも選別処理も行わず、籾としての計数のみ行う。これ
により、籾以外の玄米に基づいて試料の品質を判定する
ことができる。

「実施例」以下、この考案の実施例を第１〜５図に基づいて詳細且
つ具体的に説明する。

第１、２図はこの考案に係る穀粒の品質判定装置１の実
施例を示す概略構成図であり、品質判定装置１は、回転
円板２と、検出部３とで構成する。

前記回転円板２は試料である穀粒を一粒毎に検出部３へ
移送するもので、その外周縁には円周方向等角度に複数
の試料採取孔４とタイミング孔５を有し、回転軸６に直
結するモータ７により矢印ａ方向に回転可能に支持され
る。また、この回転円板２は第２図の如く角度θ傾斜し
て設け、その裏面には試料採取孔４に嵌入して移送され
る試料８の下方への落下を阻止する基台９を設ける。

さらにこの回転円板２の傾斜下方には、外周縁に沿って
壁体１０を前記基台９に垂直に設け、この壁体１０と該
円板２の下方斜面２−１との間に試料８を溜める試料供
給部１１を設ける。この試料供給部１１に溜められた試
料８は、回転円板２の回転に伴い一粒毎に前記試料採取
孔４に嵌入し、基台９により落下を阻止されつつ矢印ａ
方向に移送される。

前記検出部３は、例えば透過反射光量、及び二波長の拡
散反射光量を検出する第１ヘッド３−１と、試料８の長
軸方向前後の透過光量を検出する胴割検出用の第２ヘッ
ド３−２とからなり、移送されてくる試料８の一粒毎に
光線を照射し、その拡散透過光量（Ｔ）と拡散反射光量
（Ｒ）、及び拡散反射光量中、赤色光領域と緑色光領域
二波長の光量（Ｒｅ、Ｇ）を検出する。この検出値は、
後述する判定制御部１２に入力され、試料８を良質粒、
未熟粒、被害粒、着色粒、死米、籾の６つの品質に分類
するためのデータとなる。

第３図は前記検出部３の第１ヘッド３−１及び第２ヘッ
ド３−２と、前記判定制御部１２との接続関係を示す説
明図である。以下これについて説明する。

前記第１ヘッド３−１は、発光源１３と赤外線カットフ
ィルター１４と集光レンズ１５とにより、試料８に光線
を照射する。この照射された光の拡散透過光量（Ｔ）お
よび拡散反射光量（Ｒ）は、フォトダイオード等よりな
る透過光受光素子１６および反射光受光素子１７により
電気信号に変換されて、その信号が判定制御部１２に出
力される。

また、拡散反射光の一部は集光レンズ１８で集光し、ハ
ーフミラー１９により二方向に分割した後に任意の二波
長を抽出する。分割する一方の光は、６６０ｎｍバンド
パスフィルタ２０と赤外線カットフィルタ２１とにより
赤色光が通過し、赤色光受光素子２２によりその光量が
電気信号に変換されて、判定制御部１２に出力される。
他方の光は、５５０ｎｍバンドパスフィルタ２３と赤外
線カットフィルタ２４とにより緑色光が通過し、緑色光
受光素子２５によりその光量が電気信号に変換されて、
前記判定制御部１２に出力される。これらの発光源１３
〜緑色光受光素子２５により、第１ヘッド３−１が構成
される。

前記第２ヘッド３−２は、ＬＥＤなどの発光素子２６と
照明用光ファイバー２７とにより、試料８に光線を照射
する。矢印ａ方向に移送される試料８に照射された光線
の試料８の長軸方向の前部透過光および後部透過光は、
それぞれ前部透過光用光ファイバー２８および後部透過
光用光ファイバー２９により、前部透過光受光素子３０
および後部透過光受光素子３１に導かれる。これによ
り、照射された光線の前部透光量および後部透過光量
が、それぞれ前部透過光受光素子３０及び後部透過光受
光素子３１により検出されて電気信号に変換され、前記
判定制御部１２に出力される。

また、この第２ヘッド３−２には、回転円板２のタイミ
ング孔５に向かって光線を照射する発光素子３２を設
け、固定孔３３とタイミング孔５とが一致したときに光
線を検出する受光素子３４を設ける。この、受光素子３
４の検出した光線は、電気信号に変換されて波形成形さ
れた後、タイミング孔５の検出信号として判定制御部１
２に出力される。これらの発光素子２６〜受光素子３４
により、第２ヘッド３−２が構成される。

前記第１ヘッド３−１および第２ヘッド３−２からの信
号、即ち、透過光受光素子１６、反射光受光素子１７、
赤色光受光素子２２、緑色光受光素子２５、前部透過光
受光素子３０、後部透過光受光素子３１の各素子からの
光量の信号は、前記判定制御部１２を構成するＡ／Ｄコ
ンバータ３５に入力されて、Ａ／Ｄ変換された後、ＣＰ
Ｕ３６に入力される。

ＣＰＵ３６は、この入力データに基づいて次の演算処理
を行う。即ち、入力される各光量の信号をメモリー（Ｒ
ＡＭ）に記憶し、この記憶した拡散透過光量（Ｔ）、お
よび拡散反射光量（Ｒ）から透過反射率（Ｔ／Ｒ）を演
算するとともに、拡散反射光量（Ｒ）中の波長６６０ｎ
ｍの赤色の拡散反射光量（Ｒｅ）および波長５５０ｎｍ
の緑色の拡散反射光量（Ｇ）から分光比（Ｒｅ／Ｇ）を
演算し、判定データとしてＲＡＭに記憶する。また、各
試料８の一粒毎の長軸方向の前部透過光量（ＦＴ）およ
び後部透過光量（ＢＴ）から前後透過比（ＦＴ／ＢＴ）
を演算し、判定データとしてＲＡＭに記憶するととも
に、これらのＲＡＭに記憶した判定データを予め設定し
た６つの判定ブロックに照合させることにより試料８一
粒毎の品質を判定する。

前記第２ヘッド３−２の受光素子３４から入力するタイ
ミング孔５の検出信号もＣＰＵ３６に入力され、ＣＰＵ
３６はこの信号に基づいて前記Ａ／Ｄコンバータ３５等
を制御する。なお、第３図中符号３７は、判定結果等を
印字するプリンタである。

第４図は、籾摺りした後の試料を測定した場合の実験デ
ータに基づいて作成した判定ブロックを示す図である。
この図において、横軸が透過反射比Ｔ／Ｒで縦軸が分光
比Ｒｅ／Ｇであり、Ａが良質粒のブロック、Ｂが未熟粒
のブロック、Ｃが被害粒のブロック、Ｄが着色粒のブロ
ック、Ｅが死米のブロック、Ｆが籾のブロックである。
この６つの各ブロックＡ〜Ｆの横軸及び縦軸の値の範囲
を、予め前記ＣＰＵ３６に設定する。

次に、この考案の動作について、第５図のフローチャー
トに基づき説明する。

試料供給部１１に籾摺り後の試料８を投入し、測定する
試料数ｎを設定して、測定を開始（５０）すると測定タ
イミングか否かを判断（５１）し、測定のタイミングで
ある場合は、この判断（５１）でＹＥＳとなり、ＣＰＵ
３６の前述した演算処理によって求めたＲｅ／及びＴ／
Ｒの値により試料を分類（５２）する。この分類は、測
定した試料８のＲｅ／Ｇ及びＴ／Ｒの値と予め設定した
前記６つの判定ブロックとを比較することによって行
う。

そして、試料が分類されたら、その分類が「籾」か否か
を判断（５３）し、この判断（５３）でＮＯの場合、即
ち、分類が「籾」以外の場合は、試料数ｎのカウント及
び試料８の判定結果に基づく選別等の通常の処理（５
４）を行う。また判断（５３）でＹＥＳの場合、即ち分
類が「籾」の場合は、試料数ｎのカウントと試料８の選
別を行わず（５５）、籾の数ｎ０に１を加える（５６）。この籾の数ｎ０に１
を加えるということは、籾の計数のみを行うことを意味
し、この「籾」は選別されずに残粒として、残粒ケース
（図示せず）に落ちる。

次に、所定の試料数ｎの測定が完了したか否かを判断
（５７）し、ＮＯの場合は前記ステップ（５１）に戻
り、ステップ（５１）〜（５６）を判断（５７）でＹＥ
Ｓになるまで繰り返し、判断（５７）でＹＥＳになった
場合は、前記プリンタ３７により測定結果を印字して、
測定を終了（５９）する。ステップ（５８）における印
字は、例えば、測定した試料数ｎ、前記６つの分類の各
割合（％表示）、胴割れ米の割合、空孔の数、籾の数ｎ
０、品質ランク（例えばＡ〜Ｃの３段階）、籾摺りラン
ク等を適宜印字する。なお、印字方法は、プリンタによ
る印字に限らず、例えば測定結果をディスプレイに表示
させるようにしてもよい。

なお、上記実施例においては、判定ブロックを６つ設け
る場合について設定したが、その数は適宜に増減し得
る。

「考案の効果」以上詳細に説明したようにこの考案によれば、判定制御
部の判定ブロックに「籾」の分類を設け、試料が「籾」
と判定された場合は測定対象外としたので、試料に籾が混入していても、自動的に判別し、測定対
象外とするので、籾を着色粒と判定するような誤判定が
なくなり、試料の品質を高精度に測定できる。

測定前の試料から籾を除去する必要がなく、作業効率
を低下させることがない。

籾と判定された数により、試料中の籾の混入割合がわ
かり、籾摺りの作業指導が可能となる。

等の効果を奏する。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの考案を実施した穀粒の品質判定装置の概略
平面図、第２図は同右側面図、第３図は検出部と判定制
御部との関係を示す回路図、第４図は判定ブロックを示
す図、第５図はこの考案の動作の一例を示すフローチャ
ートである。１……品質判定装置、２……回転円板、３……検出部、４……試料採取孔、５……タイミング孔、８……試料、１１……試料供給部、１２……判定制御部、３５……Ａ／Ｄコンバータ、３６……ＣＰＵ、３７……プリンタ。

Claims

【実用新案登録請求の範囲】

【請求項１】試料を一粒毎に供給する移送装置と、この
移送装置と一体的に設けられた各試料に光を照射し、拡
散透過光量（Ｔ）及び拡散反射光量（Ｒ）と拡散反射光
量中、赤色光領域と緑色光領域の二波長の光量（Ｒｅ、
Ｇ）とを検出する検出部と、この検出部から入力される
検出値に基づいて光量比（Ｔ／Ｒ、Ｒｅ／Ｇ）を演算
し、これと複数の分類別に予め設定した判定ブロックと
を比較して試料の品質を個別に判定する判定制御部とを
有する穀粒の品質判定装置において、前記判定制御部が、その判定ブロックに「籾」のブロッ
クを設けるとともに、この「籾」と判定された試料を測
定の対象外とすることを特徴とする穀粒の品質判定装
置。