JPH06187660A - Optical pickup spot inspection device - Google Patents

Optical pickup spot inspection device

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Publication number
JPH06187660A
JPH06187660A JP35574292A JP35574292A JPH06187660A JP H06187660 A JPH06187660 A JP H06187660A JP 35574292 A JP35574292 A JP 35574292A JP 35574292 A JP35574292 A JP 35574292A JP H06187660 A JPH06187660 A JP H06187660A
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JP
Japan
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spot
intensity
pixels
predetermined value
point
Prior art date
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Pending
Application number
JP35574292A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Ikuo Maeda
育夫 前田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ricoh Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Ricoh Co Ltd filed Critical Ricoh Co Ltd
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  • Moving Of The Head For Recording And Reproducing By Optical Means (AREA)
  • Optical Head (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 異常スポットの中に存在するアスの検出工程
を自動化して、迅速かつ正確なアスの検出と、作業者の
負担の軽減とを可能にすると共に、品質のバラつきを防
止する。 【構成】 楕円スポットの短軸を径とする円で囲まれる
領域内の画素数と、その円の外側にあって楕円スポット
の中にある領域内の画素数とを測定し、短軸を径とする
円の外側の領域内の画素数が、所定値以上のときは、ス
ポットはアスをもっている、と判定する。 【効果】 スポットの画素数について、面積的な判定を
行うので、従来のスポットの長軸と短軸とを測定して判
定する方法に比べて、判定精度が向上される。
(57) [Summary] [Purpose] The process of detecting asbestos present in abnormal spots is automated to enable rapid and accurate detection of asbestos and reduce the burden on workers, and also to improve quality. Prevent. [Structure] The number of pixels in the area surrounded by a circle whose diameter is the minor axis of the elliptical spot and the number of pixels in the area outside the circle and inside the elliptical spot are measured to determine the minor axis. When the number of pixels in the area outside of the circle is equal to or larger than a predetermined value, it is determined that the spot has astigmatism. [Effect] Since the area determination is performed on the number of pixels of the spot, the determination accuracy is improved compared to the conventional method of determining by measuring the long axis and the short axis of the spot.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は、光ピックアップの組
み立て工程において使用するスポット検査装置に係り、
特に、異常スポットの中に存在するアス(非点隔差)の
検出工程を自動化して、迅速かつ正確なアスの検出と、
作業者の負担の軽減とを可能にすると共に、品質のバラ
つきを防止した光ピックアップのスポット検査装置に関
する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a spot inspection device used in an optical pickup assembly process,
In particular, by automating the process of detecting astigmatism (astigmatism) present in abnormal spots, it is possible to quickly and accurately detect asbestos.
The present invention relates to a spot inspection device for an optical pickup that can reduce the burden on the operator and prevent the quality from varying.

【0002】[0002]

【従来の技術】光ピックアップの組み立て工程では、対
物レンズアクチュエータの傾き調整が必要である。従来
から、対物レンズアクチュエータの傾きの調整方法とし
ては、顕微鏡とカメラ、モニターを使用し、光ディスク
の代りに、同じ厚さを有するカバーガラスを基準面と平
行に設置して、対物レンズのスポットを顕微鏡で拡大し
て観察する光学ヘッド調整方法が用いられている(特開
昭63−253538号公報)。
2. Description of the Related Art In the process of assembling an optical pickup, it is necessary to adjust the inclination of an objective lens actuator. Conventionally, as a method of adjusting the tilt of the objective lens actuator, a microscope, a camera, and a monitor are used, and instead of an optical disc, a cover glass having the same thickness is installed in parallel with the reference plane, and the spot of the objective lens is adjusted. An optical head adjusting method of enlarging and observing with a microscope is used (Japanese Patent Laid-Open No. 63-253538).

【0003】図14は、従来の光学ヘッド調整工程を行
う調整装置について、その要部構成の一例を示す図であ
る。図において、1は光ピックアップのハウジング、2
は偏向プリズム、3はアクチュエータ、4はネジ、5は
対物レンズ、6はカバーガラス、7は顕微鏡、8はカメ
ラコントローラ、9はTVモニター、LBはレーザ光を
示す。
FIG. 14 is a diagram showing an example of the main configuration of an adjusting device for performing a conventional optical head adjusting process. In the figure, 1 is a housing of an optical pickup, 2
Is a deflection prism, 3 is an actuator, 4 is a screw, 5 is an objective lens, 6 is a cover glass, 7 is a microscope, 8 is a camera controller, 9 is a TV monitor, and LB is a laser beam.

【0004】この図14に示すように、光ピックアップ
のハウジング1には、偏向プリズム2が設けられてい
る。また、ハウジング1の上部に、アクチュエータ3が
あり、その中に、対物レンズ5が設けられている。
As shown in FIG. 14, a deflection prism 2 is provided in a housing 1 of an optical pickup. Further, an actuator 3 is provided above the housing 1, and an objective lens 5 is provided therein.

【0005】アクチュエータ3は、ネジ4によってハウ
ジング1に固定されているが、ネジ4の締め方を調整す
ることにより、アクチュエータ3の傾きを調整すること
ができる。また、光ディスクと同じ厚み(t=1.2m
m)を有するカバーガラス6が、アクチュエータ3の上
部に、光ピックアップのハウジング1と平行に設置され
ている。
The actuator 3 is fixed to the housing 1 with a screw 4, but the inclination of the actuator 3 can be adjusted by adjusting the tightening method of the screw 4. Also, the same thickness as the optical disc (t = 1.2 m
A cover glass 6 having m) is installed above the actuator 3 in parallel with the housing 1 of the optical pickup.

【0006】従来の対物レンズアクチュエータの傾きの
調整工程は、次のように行う。偏向プリズム2に、レー
ザ光LBを入射し、対物レンズ5によって形成されるス
ポットを顕微鏡7で観察する。顕微鏡7には、図示され
ないカメラが接続されており、カメラコントローラ8を
通して、TVモニター9の画面上にスポットが表示され
る。
The conventional process of adjusting the tilt of the objective lens actuator is performed as follows. The laser beam LB is incident on the deflection prism 2, and the spot formed by the objective lens 5 is observed by the microscope 7. A camera (not shown) is connected to the microscope 7, and spots are displayed on the screen of the TV monitor 9 through the camera controller 8.

【0007】作業者は、このスポットの表示を見なが
ら、1次のサイドローブが対称となるように、アクチュ
エータ3の傾きを調整する。以上のような工程によっ
て、対物レンズアクチュエータの傾きの調整が行われ
る。
The operator adjusts the inclination of the actuator 3 while observing the display of the spot so that the primary side lobes are symmetrical. The tilt of the objective lens actuator is adjusted by the steps described above.

【0008】この調整工程は、アクチュエータに組み込
まれている対物レンズの傾きを光ディスクと並行に調整
することにより、スポット形状を良好にする目的で行わ
れるものである。そのために、図14に関連して説明し
たように、スポット像をTVモニターで観察しながら行
うが、この工程は、スポット形状を良好にすると同時
に、異常な形状のスポットを除去する工程(換言すれ
ば、スポットの形状を検査する工程)も兼ねている場合
が多い。
This adjusting step is performed for the purpose of improving the spot shape by adjusting the inclination of the objective lens incorporated in the actuator in parallel with the optical disc. Therefore, as described with reference to FIG. 14, while observing the spot image on the TV monitor, this step improves the spot shape and at the same time removes the spot having an abnormal shape (in other words, In many cases, it also serves as the step of inspecting the spot shape).

【0009】このスポット検査工程は、通常、経験的な
許容限度見本を用いて、作業者の目視によって行われ
る。そのため、作業者の負担が大きいばかりでなく、そ
の主観が入りやすいので、品質にバラつきが生じる要因
にもなる、という不都合があった。ここで、一般的なス
ポットの強度分布について説明する。
This spot inspection process is usually performed visually by an operator using an empirical allowable limit sample. Therefore, not only is the burden on the operator heavy, but the subjectivity is likely to occur, which causes a problem in that the quality varies. Here, a general spot intensity distribution will be described.

【0010】図15は、対物レンズの傾きが良好に調整
され、かつ、歪みがない場合のスポットの強度分布の一
例を示す図である。図において、x,yはそれぞれx軸
座標とy軸座標、Iはスポットの強度、Pは強度がピー
クとなる点、Isはスポットの所定の強度、21はスポ
ットの強度分布曲線、22は直線、23はx−y平面と
垂直な面、24はx−y平面と平行な面を示し、θ1は
x軸と直線22との間の角度を示す。
FIG. 15 is a diagram showing an example of the intensity distribution of the spot when the tilt of the objective lens is adjusted well and there is no distortion. In the figure, x and y are x-axis coordinates and y-axis coordinates, I is the intensity of the spot, P is the point where the intensity peaks, Is is the predetermined intensity of the spot, 21 is the intensity distribution curve of the spot, and 22 is a straight line. , 23 indicates a plane perpendicular to the xy plane, 24 indicates a plane parallel to the xy plane, and θ1 indicates an angle between the x axis and the straight line 22.

【0011】この図15に示すように、対物レンズの傾
きが良好に調整され、かつ、歪みがない場合、スポット
は釣鐘状の形状21になる。一般的なスポットの強度分
布21は、この図15のように、メインローブ(中心
部)に対して、中心軸に対して対称に1次リングが存在
し、1次リングのピークを挟んで、1次暗帯のボトム
と、2次暗帯のボトムとが存在する。
As shown in FIG. 15, when the inclination of the objective lens is well adjusted and there is no distortion, the spot has a bell-shaped shape 21. As shown in FIG. 15, the intensity distribution 21 of a general spot has a primary ring symmetrical with respect to the central axis with respect to the main lobe (central portion), and sandwiches the peak of the primary ring, There is a bottom of the primary dark zone and a bottom of the secondary dark zone.

【0012】なお、この図15では、理解を容易にする
ために、点Pと座標原点とを一致させて図示している。
ここで、このような強度分布21のスポットの像が結ば
れる面を想定して、この平面24上に、x軸およびy軸
を取る。
Note that, in FIG. 15, the point P and the coordinate origin are shown coincident with each other for easy understanding.
Here, the x-axis and the y-axis are set on the plane 24 on the assumption that the surface of the spot of the intensity distribution 21 is formed.

【0013】ところが、対物レンズの傾きが良好でない
と、x−y平面や平面24上に形成されるスポットは、
中心軸に対して非対称になり、異常スポットが発生す
る。そして、このような異常スポットの中には、アス
(非点隔差)のあるスポットが含まれている。
However, if the inclination of the objective lens is not good, the spot formed on the xy plane or the plane 24 will be
It becomes asymmetric with respect to the central axis and an abnormal spot occurs. Then, such abnormal spots include spots having astigmatism (astigmatism).

【0014】このようなアスが生じる原因は、レーザダ
イオードは、活性層に対して、平行方向と垂直方向と
で、発光点の位置がズレているためである。すなわち、
アスは、例えば図15のx−y平面のように、光軸に直
交する平面内の2方向での結像点のズレによって生じ
る。
The cause of such astigmatism is that the position of the light emitting point of the laser diode is deviated in the parallel direction and the vertical direction with respect to the active layer. That is,
The astigmatism is caused by the deviation of the image forming points in two directions within a plane orthogonal to the optical axis, such as the xy plane in FIG.

【0015】ところで、両結像点の中間では、スポット
はほぼ真円となるため、合焦位置を見るだけでは、アス
スポットを検出することはできない。その理由は、スポ
ット検査装置では、合焦位置は、スポットが真円となる
位置を検出する操作であり、アスのあるスポットでは、
この両結像点の中間が、合焦位置として検出されてしま
うからである(後出の図2、参照)。
By the way, since the spot is almost a perfect circle in the middle of both image forming points, the asspot cannot be detected only by looking at the in-focus position. The reason is that in the spot inspection device, the focus position is an operation for detecting the position where the spot becomes a perfect circle, and in the spot with astigmatism,
This is because the midpoint between these two image formation points is detected as the in-focus position (see FIG. 2 below).

【0016】[0016]

【発明が解決しようとする課題】この発明では、従来の
光ピックアップのスポット検査時に生じるこのような不
都合を解決し、異常スポットの中に存在するアス(非点
隔差)の検出工程を自動化して、迅速かつ正確なアスの
検出と、作業者の負担の軽減とを可能にすると共に、品
質のバラつきを防止した光ピックアップのスポット検査
装置を提供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention solves such inconvenience that occurs during the spot inspection of the conventional optical pickup, and automates the step of detecting astigmatism (astigmatic difference) existing in an abnormal spot. An object of the present invention is to provide a spot inspection device for an optical pickup, which enables quick and accurate detection of astigmatism and reduction of the burden on an operator, and which prevents variation in quality.

【0017】[0017]

【課題を解決するための手段】この発明では、第1に、
レンズからの出射光を撮像素子上に結像させ、該素子上
の点(x,y)における強度I(x,y)を用いて演算
を行う光ピックアップ装置のスポット検査装置におい
て、処理手段として、前記強度I(x,y)がピークと
なる点P(p,q)を求める手段と、前記ピークとなる
点P(p,q)を通る前記撮像素子上の複数の直線Li
(i=1〜n)上における強度分布Ii(x,y)を求
める手段と、前記各強度分布Ii(x,y)の強度がピ
ーク強度から所定の割合だけ低下する第2の強度Isと
なる位置(xi,yi)を検出する手段と、光ピックア
ップ装置の合焦位置から所定値だけデフォーカスさせた
スポットを結像させたとき、スポットのある方向での半
径に相当する長さriを、ri=√{(xi−p)2
(yi−q)2 }で求める手段と、前記長さriの内、
最も小さい値を半径rmin とし、点P(p,q)から半
径rmin の円で囲まれる範囲の外側にあって強度I
(x,y)が前記第2の強度Isよりも大きい部分の画
素数をNとするとき、Nと所定値K1との大小を比較す
る手段、とを備えた構成である。
According to the present invention, firstly,
In the spot inspection device of the optical pickup device, which is a processing unit, the light emitted from the lens is imaged on the image pickup element and the calculation is performed using the intensity I (x, y) at the point (x, y) on the element. , Means for obtaining a point P (p, q) at which the intensity I (x, y) reaches a peak, and a plurality of straight lines Li on the image sensor passing through the point P (p, q) at the peak
A means for obtaining an intensity distribution Ii (x, y) on (i = 1 to n), and a second intensity Is at which the intensity of each intensity distribution Ii (x, y) decreases from the peak intensity by a predetermined ratio. When a spot defocused by a predetermined value from the in-focus position of the optical pickup device is imaged, a length ri corresponding to the radius of the spot in a certain direction is determined. , Ri = √ {(xi-p) 2 +
(Yi-q) 2 } and the length ri,
The smallest value is the radius rmin, and the strength I is outside the range surrounded by the circle of radius rmin from the point P (p, q).
When N is the number of pixels in a portion where (x, y) is larger than the second intensity Is, N is a means for comparing the magnitude of the predetermined value K1.

【0018】第2に、上記第1のスポット検査装置にお
いて、処理手段として、点P(p,q)から半径rmin
で囲まれる範囲内にある画素数をN1とし、半径rmin
で囲まれる範囲の外側にあって強度I(x,y)が第2
の強度Isよりも大きい部分の画素数をN2とすると
き、N2/N1と所定値K2、または、N2/(N2+
N1)と所定値K2′との大小を比較する手段、を備え
た構成である。
Secondly, in the first spot inspection apparatus, as a processing means, the radius rmin from the point P (p, q) is used.
Let N1 be the number of pixels within the range surrounded by and the radius rmin
The intensity I (x, y) is outside the range surrounded by
When the number of pixels in a portion larger than the intensity Is of N2 is N2, N2 / N1 and a predetermined value K2, or N2 / (N2 +
N1) and means for comparing the magnitude of the predetermined value K2 '.

【0019】第3に、上記第1のスポット検査装置にお
いて、処理手段として、半径riの内、最大の値をrma
x とし、点P(p,q)から半径rmax の円で囲まれる
範囲の内側にあって強度I(x,y)が第2の強度Is
よりも小さい部分の画素数をN′とするとき、N′と所
定値K3との大小を比較する手段、を備えた構成であ
る。
Thirdly, in the first spot inspection apparatus, as the processing means, the maximum value of the radius ri is rma.
x, and the intensity I (x, y) within the range surrounded by the circle of radius rmax from the point P (p, q) is the second intensity Is.
When the number of pixels of the smaller portion is N ', a means for comparing the magnitude of N'and a predetermined value K3 is provided.

【0020】第4に、上記第3のスポット検査装置にお
いて、処理手段として、強度I(x,y)が第2の強度
Isよりも大きい部分の画素数をN3とし、強度I
(x,y)が第2の強度Isよりも小さく、かつ、点P
(p,q)を中心とする半径rmax の円で囲まれる範囲
の内側にある画素数をN4とするとき、N4/N3と所
定値K3、または、N4/(N3+N4)と所定値K
3′との大小を比較する手段、を備えた構成である。
Fourthly, in the third spot inspection apparatus, as the processing means, the number of pixels in the portion where the intensity I (x, y) is larger than the second intensity Is is N3, and the intensity I
(X, y) is smaller than the second intensity Is and the point P
When N4 is the number of pixels inside the range surrounded by a circle having a radius rmax centered at (p, q), N4 / N3 and a predetermined value K3, or N4 / (N3 + N4) and a predetermined value K
3'is a configuration provided with a means for comparing the magnitude with that of 3 '.

【0021】第5に、上記第1から第4のスポット検査
装置において、処理手段として、画素数のカウントに際
して、点P(p,q)を通る複数の直線上の画素のみを
カウントとする手段、を備えた構成である。
Fifthly, in the first to fourth spot inspection apparatuses, as processing means, when counting the number of pixels, only the pixels on a plurality of straight lines passing through the point P (p, q) are counted. It is the structure provided with.

【0022】[0022]

【作用】この発明では、カメラコントローラからのスポ
ット画像を一旦フレームメモリに取り込み、この画像に
演算処理を行うことによって、スポットのアスの有無が
自動的に判定できるようにしている。具体的にいえば、
撮像素子上のスポット画像がフレームメモリ上に投影さ
れるため、撮像素子上の想定したx,y座標を、フレー
ムメモリのx,y座標として取り扱うことが可能とな
り、スポットの各部分の強度Iは、フレームメモリの座
標(x,y)の関数I(x,y)として処理することが
できる。
According to the present invention, the spot image from the camera controller is once stored in the frame memory and the arithmetic processing is performed on this image so that the presence or absence of spot astigmatism can be automatically determined. Specifically,
Since the spot image on the image sensor is projected on the frame memory, the assumed x, y coordinates on the image sensor can be treated as the x, y coordinates of the frame memory, and the intensity I of each part of the spot is , Can be processed as a function I (x, y) of the coordinates (x, y) of the frame memory.

【0023】従来は、スポットのアスの有無の検出に際
しては、図15に示したスポットの強度分布で、x−y
平面に平行に切った断面について、そのスポットの径
を、最長と最短の方向に測定し、両者の比を求めてアス
の有無を判定している。ところが、実際上は、径の測定
に誤差を伴ない易いので、この発明では、誤差の少ない
正確なアスの検出を実現するために、従来の長径と短径
との検出による判定の代りに、面積的(2次元的)に検
出して判定するようにしている。
Conventionally, when the presence or absence of spot astigmatism is detected, the intensity distribution of the spot shown in FIG.
With respect to a cross section cut parallel to the plane, the diameter of the spot is measured in the longest and shortest directions, and the ratio of the two is obtained to determine the presence or absence of ashes. However, in practice, since it is easy to cause an error in the measurement of the diameter, in the present invention, in order to realize accurate detection of the ass with a small error, instead of the conventional determination by the detection of the major axis and the minor axis, The area is detected (two-dimensionally) for determination.

【0024】図2は、図15に示したスポットの強度分
布で、x−y平面に平行に切った断面において、光量が
強度のピークから所定の割合だけ低下した面のスポット
形状の各一例を示す図で、(1) はアスなし、(2) はアス
ありを示す。図において、Soはアスのないスポット、
Saはアスのあるスポットを示す。
FIG. 2 is an example of the spot intensity distribution of the spot shown in FIG. 15 in which the light amount in the cross section cut parallel to the xy plane is reduced by a predetermined ratio from the intensity peak. In the figure, (1) shows no asbestos and (2) shows ashes. In the figure, So is a spot without asbestos,
Sa indicates a spot with asbestos.

【0025】この場合に、所定の割合としては、適当な
値を選択することができる。例えば、半値、1/e2
その他任意の値でよい。この図2(1) と(2) に示す断面
図は、いわゆるスポット形状と呼ばれ、アスがないスポ
ットでは、図2(1) に示すように、合焦時でも、デフォ
ーカス時でも、ほぼ円形になる。
In this case, an appropriate value can be selected as the predetermined ratio. For example, half value, 1 / e 2 ,
Any other value may be used. The cross-sectional views shown in Figs. 2 (1) and 2 (2) are so-called spot shapes. As shown in Fig. 2 (1), the spots without spots are almost in focus and defocus. It becomes circular.

【0026】これに対して、アスのあるスポットは、図
2(2) に示すように、合焦時には、円形になるが、デフ
ォーカスさせると、縦軸あるいは横軸の楕円状のスポッ
トになる。この場合に、楕円率(長軸と短軸の比)は、
デフォーカス量の増加に伴って変化すると共に、スポッ
ト自体がデフォーカスによって劣化するので、アスの有
無を判断するためには、合焦点から適当な距離だけデフ
ォーカスさせればよい。
On the other hand, the spot with astigmatism becomes a circle at the time of focusing as shown in FIG. 2B, but when defocused, it becomes an elliptical spot of the vertical axis or the horizontal axis. . In this case, the ellipticity (ratio of major axis and minor axis) is
Since the spot itself deteriorates due to defocusing while changing with an increase in defocusing amount, defocusing may be performed by an appropriate distance from the in-focus point in order to determine the presence or absence of astigmatism.

【0027】一般的には、デフォーカス量が、±2μm
程度のとき、アスによる楕円化が顕著に現われる。アス
の検出は、この楕円化を検出することによって行われ、
従来の一般的な検出方法では、楕円の長径と短径とを検
出することによって行われていた。
Generally, the defocus amount is ± 2 μm.
At about a certain degree, the ovalization due to ashes appears remarkably. The detection of the ass is performed by detecting this ellipse,
In the conventional general detection method, it is performed by detecting the major axis and the minor axis of the ellipse.

【0028】この発明では、誤差の少ない正確なアス検
出のために、長径と短径とを検出する代りに、面積的
(2次元的)に検出する点に特徴を有している。この発
明のスポット検査装置によるアスの有無の判定の原理
を、次の図3によって説明する。
The present invention is characterized in that, in order to accurately detect astigmatism with a small error, instead of detecting the major axis and the minor axis, the area is detected (two-dimensionally). The principle of the presence / absence determination by the spot inspection apparatus of the present invention will be described with reference to FIG.

【0029】図3は、この発明のスポット検査装置にお
いて、アス検出時における被検出スポットの形状と判定
方法を説明する図である。図において、Pはスポットの
強度分布の中心位置、rmin は短軸方向の半径、S1は
半径rmin の円の領域、S2は全面積から円S1の領域
を除いた領域を示す。
FIG. 3 is a diagram for explaining the shape of the spot to be detected and the judging method at the time of detecting astigmatism in the spot inspection apparatus of the present invention. In the figure, P is the center position of the intensity distribution of the spot, rmin is the radius in the minor axis direction, S1 is the area of the circle with radius rmin, and S2 is the area excluding the area of circle S1 from the total area.

【0030】この図3では、先の図15のスポットにつ
いて、その強度のピーク値から所定の割合だけ低下した
強度(光量)レベルIsで、x−y平面に平行に切った
断面の状態、すなわち、所定値だけデフォーカスさせた
スポットの撮影素子上の形状を示している。この図3に
示すように、楕円スポットの短軸を径とする円で囲まれ
る領域S1と、その円の外側にあって楕円スポットの中
にある領域S2とを測定し、短軸を径とする円の外側の
領域S2が、所定値以上のとき、スポットはアスをもっ
ている、と判定する(請求項1の発明)。
In FIG. 3, the state of the cross section cut parallel to the xy plane at the intensity (light amount) level Is of the spot shown in FIG. 15 is lowered by a predetermined ratio from the peak value of the intensity, that is, , The shape of the spot defocused by a predetermined value on the imaging element is shown. As shown in FIG. 3, an area S1 surrounded by a circle whose diameter is the minor axis of the elliptical spot and an area S2 outside the circle and inside the elliptical spot are measured, and the minor axis is defined as the diameter. When the area S2 outside the circle to be circled is equal to or larger than a predetermined value, it is determined that the spot has astigmatism (the invention of claim 1).

【0031】また、楕円スポットの面積は、スポットの
形状によって変化し、楕円率が同じ場合でも、スポット
面積が大きくなれば、図3の短軸を径とする円S1の外
側にあって、楕円スポットの中にある領域S2も大きく
なる。そこで、判定精度をより向上させるために、外側
の面積S2の割合、具体的には、両者の比率(S2/S
1)、あるいは全面積(S1+S2)に対する外側の面
積S2の比率{S2/(S1+S2)}が、所定値以上
のとき、スポットはアスをもっている、と判定する(請
求項2の発明)。
Further, the area of the elliptical spot changes depending on the shape of the spot, and even if the ellipticity is the same, if the spot area becomes large, it is outside the circle S1 having the minor axis of FIG. The area S2 in the spot also becomes larger. Therefore, in order to further improve the determination accuracy, the ratio of the outer area S2, specifically, the ratio of the two (S2 / S
1) or when the ratio of the outer area S2 to the total area (S1 + S2) {S2 / (S1 + S2)} is greater than or equal to a predetermined value, it is determined that the spot has astigmatism (the invention of claim 2).

【0032】さらに、楕円スポットの面積(S3)と、
楕円スポットの長径を径とする円で囲まれる面積と、そ
の円の内側にあって楕円スポット(S3)との間の面積
(斜線部のS4)を測定し、長径と楕円スポットとの間
の面積(S4)が、所定値以上のときは、スポットはア
スをもっている、と判定する(請求項3の発明)。
Further, the area (S3) of the elliptical spot,
The area enclosed by a circle having the major axis of the elliptical spot as the diameter and the area between the elliptical spot (S3) inside the circle (S4 in the shaded area) was measured, and the area between the major axis and the elliptical spot was measured. When the area (S4) is equal to or larger than the predetermined value, it is determined that the spot has astigmatism (the invention of claim 3).

【0033】この場合にも、両者の比率(S4/S
3)、あるいは全面積(S3+S4)に対する比率{S
4/(S3+S4)}が、所定値以上のとき、スポット
はアスをもっている、と判定すれば、同様に、判定精度
をより向上させることができる(請求項4の発明)。以
上の判定では、楕円の面積を演算して判定しているが、
演算を簡略化するために、強度のピーク点Pを通る複数
本の直線上の画素数をカウントし、全面積による判定に
代えて、画素数が、所定値以上のときは、スポットはア
スをもっている、と判定する(請求項5の発明)。
Also in this case, the ratio of both (S4 / S
3) or ratio to total area (S3 + S4) {S
If 4 / (S3 + S4)} is greater than or equal to a predetermined value, it is similarly determined that the spot has astigmatism, whereby the determination accuracy can be further improved (the invention of claim 4). In the above judgment, the area of the ellipse is calculated and judged.
In order to simplify the calculation, the number of pixels on a plurality of straight lines passing through the intensity peak point P is counted, and instead of the determination by the total area, when the number of pixels is a predetermined value or more, the spot has an astigmatism. It is determined that there is (invention of claim 5).

【0034】[0034]

【実施例1】次に、この発明のスポット検査装置につい
て、図面を参照しながら、その実施例を詳細に説明す
る。この実施例は、主として、請求項1の発明に関連し
ているが、ハード構成やアスの有無の判定の基本原理
は、請求項2から請求項5の発明とも関連している。
[Embodiment 1] Next, a spot inspection apparatus of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. This embodiment is mainly related to the invention of claim 1, but the basic principle of the hardware configuration and the determination of the presence / absence of asbestos are also related to the inventions of claims 2 to 5.

【0035】図1は、この発明のスポット検査装置につ
いて、その要部構成の一実施例を示す機能ブロック図で
ある。図における符号は図14と同様であり、また、1
1はフレームメモリ、12は9と同様なTVモニター、
13はコンピュータ、14はディスプレイを示す。
FIG. 1 is a functional block diagram showing an embodiment of the main configuration of the spot inspection apparatus of the present invention. The reference numerals in the figure are the same as those in FIG.
1 is a frame memory, 12 is a TV monitor similar to 9,
Reference numeral 13 denotes a computer, and 14 denotes a display.

【0036】この図1で、光ピックアップのハウジング
1からカメラコントローラ8までの構成と動作は、先の
図14と同様である。この図1に示すこの発明のスポッ
ト検査装置では、スポットの像を、コンピュータ13か
らのコマンドによって、顕微鏡7,カメラコントローラ
8を通して、フレームメモリ11に取り込み、その生画
像をTVモニター12の画面上に表示する。
In FIG. 1, the configuration and operation from the housing 1 of the optical pickup to the camera controller 8 are the same as those in FIG. In the spot inspection apparatus of the present invention shown in FIG. 1, a spot image is taken into a frame memory 11 through a microscope 7 and a camera controller 8 by a command from a computer 13, and the raw image is displayed on a screen of a TV monitor 12. indicate.

【0037】一方、コンピュータ13は、コマンドを送
信した後、フレームメモリ11に蓄積された画像に、請
求項1から請求項5の処理を加え、その結果をディスプ
レイ14に表示する。この図1に示した検査装置は、ス
ポットのアス(非点隔差)を検出することを目的として
いる。
On the other hand, after transmitting the command, the computer 13 applies the processes of claims 1 to 5 to the image stored in the frame memory 11 and displays the result on the display 14. The inspection apparatus shown in FIG. 1 is intended to detect spot astigmatism (astigmatism).

【0038】そして、先の図3では、この発明におい
て、スポットのアス検出時の原理を説明するために、楕
円スポットの各面積S1,S2によって、アスの有無を
判定する方法を述べた。しかし、実際の処理では、楕円
スポットの各領域(面積S1,S2)内に存在する画素
数をカウントして、各領域の画素数によって判定を行
う。
In FIG. 3 described above, in order to explain the principle of spot detection of astigmatism in the present invention, a method of determining the presence or absence of astigmatism based on the areas S1 and S2 of the elliptical spot has been described. However, in the actual processing, the number of pixels existing in each region (areas S1 and S2) of the elliptical spot is counted, and the determination is performed based on the number of pixels in each region.

【0039】すでに、先の図15に関連して詳しく説明
したように、対物レンズの傾きが良好に調整され、か
つ、歪みがない場合、スポットの強度分布は釣鐘状の形
状21になる。ここで、このスポットの像が結ばれる撮
像素子のx−y面(一般に撮像素子は平面状である)を
想定して、この平面上に、x軸とy軸を取る。
As already described in detail with reference to FIG. 15 above, when the inclination of the objective lens is well adjusted and there is no distortion, the intensity distribution of the spot has a bell-shaped shape 21. Here, assuming the xy plane of the image sensor (generally, the image sensor is planar) on which the image of this spot is formed, the x axis and the y axis are set on this plane.

【0040】そして、撮像素子上の点(x,y)におけ
るスポットの強度をI(x,y),強度がピークとなる
点をP(p,q)とする。次に、点Pを通り、x軸と角
度θ1をなす直線22上でのスポットの強度分布を考察
する。先の図15で、点Pを通る撮像素子上の直線Li
は、一般的に、 Li=(x−p)×tan θ1+q で表わすことができる。
The intensity of the spot at the point (x, y) on the image pickup device is I (x, y), and the point at which the intensity peaks is P (p, q). Next, consider the intensity distribution of the spot on the straight line 22 that passes through the point P and forms an angle θ1 with the x-axis. In FIG. 15 above, a straight line Li on the image sensor passing through the point P
Can be generally expressed by Li = (x−p) × tan θ1 + q.

【0041】そして、各直線Li上での強度分布Ii
(x,y)を求め、それぞれの直線Liについて、強度
Iiがピーク強度から所定の割合だけ低下し、第2の強
度Isとなる点を求める。このような処理によって、先
の図3に示したように、フレームメモリ(撮影素子)1
1上には、所定値だけデフォーカスされたスポットが得
られる。
Then, the intensity distribution Ii on each straight line Li
(X, y) is obtained, and for each straight line Li, a point at which the intensity Ii decreases from the peak intensity by a predetermined ratio and becomes the second intensity Is is obtained. By such processing, as shown in FIG. 3, the frame memory (imaging element) 1
On 1, a spot defocused by a predetermined value is obtained.

【0042】図4は、強度ピーク値から所定値だけデフ
ォーカスされたスポットについて、撮像素子上に形成さ
れた状態の一例を示す図である。図において、N1は短
軸方向の半径を径とする円で囲まれる領域の画素数(○
印の画素)、N2は画素数N1の円で囲まれる領域の外
側の領域の画素数(●印の画素)を示す。
FIG. 4 is a diagram showing an example of a state in which a spot defocused by a predetermined value from the intensity peak value is formed on the image pickup device. In the figure, N1 is the number of pixels in a region surrounded by a circle having a radius in the minor axis direction (○)
Pixels) and N2 indicate the number of pixels in the area outside the area surrounded by the circle having the number of pixels N1 (pixels indicated by ●).

【0043】この図4では、先の図3に示した半径rmi
n の円の領域S1内の画素の数をN1、その円の外側に
あって楕円スポットの中にある領域S2内の画素の数を
N2で示している。そして、この場合の画素数N2(請
求項1ではN)が、所定値K1より大きいとき、スポッ
トはアスをもっている、と判定する。
In this FIG. 4, the radius rmi shown in FIG.
The number of pixels in the area S1 of the circle of n is shown by N1, and the number of pixels in the area S2 outside the circle and inside the elliptical spot is shown by N2. Then, when the number of pixels N2 (N in claim 1) in this case is larger than the predetermined value K1, it is determined that the spot has astigmatism.

【0044】次の図5は、強度ピーク値から所定値だけ
デフォーカスされたスポットについて、撮像素子上に形
成された状態の他の一例を示す図である。図における符
号は図4と同様である。
FIG. 5 is a diagram showing another example of a state in which a spot defocused by a predetermined value from the intensity peak value is formed on the image pickup device. Reference numerals in the figure are the same as those in FIG.

【0045】楕円スポットの場合、一般的には、この図
5に示すように、その軸方向は、撮像素子上の画素の配
列方向と異なっている。けれども、撮像素子上には、こ
の図5のような状態でスポットが形成される場合が大半
である
In the case of an elliptical spot, its axial direction is generally different from the arrangement direction of the pixels on the image pickup device, as shown in FIG. However, in most cases, spots are formed on the image sensor in the state as shown in FIG.

【0046】しかし、画素の配列方向が、図4の状態で
も、図5の状態でも、スポットのアス検出の処理は、同
様である。この実施例では、スポットのアスの検出操作
は、次の図6のフローによって行われる。
However, the processing for spot astigmatism detection is the same whether the pixel arrangement direction is the state shown in FIG. 4 or the state shown in FIG. In this embodiment, the spot astigmatism detection operation is performed by the following flow of FIG.

【0047】図6は、この発明のスポット検査装置にお
いて、スポットのアス検出時の基本的な処理の流れを示
すフローチャートである。図において、#1〜#9はス
テップを示す。
FIG. 6 is a flow chart showing the basic processing flow when spot astigmatism is detected in the spot inspection apparatus of the present invention. In the figure, # 1 to # 9 indicate steps.

【0048】ステップ#1で、図1のフレームメモリ1
1上にスポット画像を取り込む。次のステップ#2で、
強度I(x,y)がピークとなる点P(p,q)を求め
る。
In step # 1, the frame memory 1 of FIG.
Capture the spot image on 1. In the next step # 2,
A point P (p, q) at which the intensity I (x, y) reaches a peak is obtained.

【0049】ステップ#3で、点P(p,q)を通る複
数の直線Li:y=tan θi×(x−p)+qを想定
し、各直線上での強度分布Ii(x,y)を求める。ス
テップ#4で、それぞれの直線Liについて、強度Ii
がピーク強度から所定の割合だけ低下して、強度Isと
なる点Si(xi,yi)を求め、これらの点Siか
ら、ri=√{(xi−p)2 +(yi−q)2 }を求
める。
In step # 3, assuming a plurality of straight lines Li: y = tan θi × (x−p) + q passing through the point P (p, q), the intensity distribution Ii (x, y) on each straight line is assumed. Ask for. In step # 4, for each straight line Li, the intensity Ii
Is reduced from the peak intensity by a predetermined ratio to obtain points Si (xi, yi) that become the intensity Is, and ri = √ {(xi-p) 2 + (yi-q) 2 } from these points Si. Ask for.

【0050】ステップ#5へ進み、riの最小値rmin
(=短軸半径)を求める。ステップ#6で、r=√
{(x−p)2 +(y−q)2 }>rmin で、かつ、強
度I(x,y)>Isの画素数N(図4や図5のN2)
を求める。
Proceed to step # 5, and the minimum value rmin of ri
(= Minor axis radius) In step # 6, r = √
The number N of pixels with {(x−p) 2 + (y−q) 2 }> rmin and intensity I (x, y)> Is (N2 in FIGS. 4 and 5)
Ask for.

【0051】次のステップ#7で、N>K1であるか否
かチェックする。もし、N>K1でなければ、ステップ
#9で、スポットにアスなし、と判定して、この図6の
フローを終了する。
In the next step # 7, it is checked whether N> K1. If it is not N> K1, it is determined in step # 9 that there is no spot on the spot, and the flow of FIG. 6 is terminated.

【0052】N>K1であれば、ステップ#8で、スポ
ットにアスあり、と判定して、この図6のフローを終了
する。以上のステップ#1〜#9の処理によって、図4
や図5に示したスポットについてのアスの有無が検出さ
れる。
If N> K1, it is determined in step # 8 that there is a spot on the spot, and the flow of FIG. 6 is terminated. As a result of the processing in steps # 1 to # 9 described above, FIG.
The presence / absence of astigmatism in the spots shown in FIG.

【0053】[0053]

【実施例2】次に、第2の実施例を説明する。この実施
例は、請求項2の発明に対応している。先の第1の実施
例では、スポットについて、短軸方向の半径を径とする
円の外側の領域の画素数N2が、所定値以上のとき、ス
ポットはアスをもっている、と判定した。
Second Embodiment Next, a second embodiment will be described. This embodiment corresponds to the invention of claim 2. In the first embodiment described above, when the number N2 of pixels in the area outside the circle having the radius in the minor axis direction as the diameter of the spot is equal to or greater than a predetermined value, it is determined that the spot has astigmatism.

【0054】この第2の実施例では、判定精度をより向
上させるために、外側の領域の画素数N2と、短軸方向
の半径を径とする円で囲まれる領域の画素数N1との割
合、具体的には、両者の比率(N2/N1)、あるいは
画素数(N1+N2)に対する比率{N2/(N1+N
2)}が、所定値以上のときは、スポットはアスをもっ
ている、と判定する。その他は、先の第1の実施例と同
様である。
In the second embodiment, in order to further improve the determination accuracy, the ratio of the number of pixels N2 in the outer area to the number of pixels N1 in the area surrounded by the circle having the radius in the minor axis direction as the diameter. Specifically, the ratio of both (N2 / N1) or the ratio of the number of pixels (N1 + N2) {N2 / (N1 + N)
2)} is greater than or equal to a predetermined value, it is determined that the spot has astigmatism. Others are the same as those in the first embodiment.

【0055】図7は、この発明の第2の実施例におい
て、スポットのアス検出時の基本的な処理の流れを示す
フローチャートである。図において、#11〜#19は
ステップを示す。
FIG. 7 is a flow chart showing the basic processing flow at the time of spot astigmatism detection in the second embodiment of the present invention. In the figure, # 11 to # 19 indicate steps.

【0056】ステップ#11で、図1のフレームメモリ
11上にスポット画像を取り込む。ステップ#12へ進
み、強度I(x,y)がピークとなる点P(p,q)を
求める。
In step # 11, the spot image is captured on the frame memory 11 of FIG. Proceeding to step # 12, a point P (p, q) at which the intensity I (x, y) reaches a peak is obtained.

【0057】次のステップ#13で、点P(p,q)を
通る複数の直線Li:y=tan θi×(x−p)+qを
想定し、各直線上での強度分布Ii(x,y)を求め
る。ステップ#14で、それぞれの直線Liについて、
強度Iiがピーク強度から所定の割合だけ低下して、強
度Isとなる点Si(xi,yi)を求め、これらの点
Siから、ri=√{(xi−p)2 +(yi−q)
2 }を求める。
In the next step # 13, assuming a plurality of straight lines Li: y = tan θi × (x−p) + q passing through the point P (p, q), the intensity distribution Ii (x, y) is calculated. In step # 14, for each straight line Li,
A point Si (xi, yi) at which the intensity Ii is reduced from the peak intensity by a predetermined ratio to become the intensity Is is obtained, and ri = √ {(xi-p) 2 + (yi-q) is obtained from these points Si.
2 } is calculated.

【0058】ステップ#15へ進み、riの最小値rmi
n (=短軸半径)を求める。ステップ#16で、r=√
{(x−p)2 +(y−q)2 }≦rmin の画素数N1
と、r=√{(xi−p)2 +(yi−q)2 }>rmi
n で、かつ、強度I(x,y)>Isの画素数N2をカ
ウントする。
The process proceeds to step # 15, and the minimum value rmi of ri
Find n (= minor axis radius). In step # 16, r = √
{(X-p) 2 + (y-q) 2} The number of pixels of ≦ rmin N1
And r = √ {(xi-p) 2 + (yi-q) 2 }> rmi
The number N2 of pixels with n and intensity I (x, y)> Is is counted.

【0059】次のステップ#17で、N2/N1>K
2、または、N2/(N2+N1)>K2′であるか否
かチェックする。もし、N2/N1>K2、または、N
2/(N2+N1)>K2′であれば、ステップ#18
で、スポットにアスあり、と判定して、この図7のフロ
ーを終了する。
At the next step # 17, N2 / N1> K
2 or check if N2 / (N2 + N1)> K2 '. If N2 / N1> K2, or N
If 2 / (N2 + N1)> K2 ', step # 18
Then, it is determined that there is a spot on the spot, and the flow of FIG. 7 is ended.

【0060】N2/N1>K2、または、N2/(N2
+N1)>K2′でなければ、ステップ#19で、スポ
ットにアスなし、と判定して、同様に、この図7のフロ
ーを終了する。以上のステップ#11〜#19の処理に
より、スポットの短軸方向の半径を径とする円で囲まれ
る領域の画素数N1と、外側の領域の画素数N2との割
合の大小によって、スポットのアスの有無が判定され
る。
N2 / N1> K2, or N2 / (N2
Unless + N1)> K2 ', it is determined in step # 19 that there is no astigmatism in the spot, and the flow of FIG. 7 is similarly ended. Through the above processing of steps # 11 to # 19, the size of the spot varies depending on the ratio between the number N1 of pixels in the area surrounded by a circle whose radius is the radius of the spot in the minor axis direction and the number N2 of pixels in the outer area. The presence or absence of ass is determined.

【0061】[0061]

【実施例3】次に、第3の実施例を説明する。この実施
例は、請求項3の発明に対応している。先の第1や第2
の実施例では、楕円スポットの短軸方向の径を半径とす
る円で囲まれる領域を用いた画素数によって、スポット
のアスの有無を判定した。この第3の実施例では、楕円
スポットの長軸方向の径を半径とする領域を用いた画素
数によって、スポットのアスの有無を判定する。
Third Embodiment Next, a third embodiment will be described. This embodiment corresponds to the invention of claim 3. The first and second
In the example, the presence or absence of spot astigmatism was determined by the number of pixels using an area surrounded by a circle having a radius in the minor axis direction of the elliptical spot. In the third embodiment, the presence / absence of spot astigmatism is determined by the number of pixels using a region whose radius is the diameter of the elliptical spot in the major axis direction.

【0062】図8は、この発明のスポット検査装置にお
いて、アス検出時における被検出スポットの形状と判定
方法を説明する図である。図において、rmax は長軸方
向の半径、S3は楕円スポットの領域、S4は半径rma
x の円の領域を示す。
FIG. 8 is a diagram for explaining the shape of the spot to be detected and the judging method at the time of detecting astigmatism in the spot inspection apparatus of the present invention. In the figure, rmax is the radius in the major axis direction, S3 is the elliptical spot area, and S4 is the radius rma.
Indicates the area of the circle of x.

【0063】この図8でも、先の図3と同様に、強度の
ピーク値から所定の割合だけ低下した強度(光量)レベ
ル、すなわち、所定値だけデフォーカスさせたスポット
の撮影素子上の形状を示している。この第3の実施例で
は、楕円スポットの領域S3と、楕円スポットの長径を
径とする円で囲まれる領域と、その円の内側にあって楕
円スポットの領域S3との間の領域S4(斜線部)とを
測定し、長径を径とする円の内側の面積S4が、所定値
以上のときは、スポットはアスをもっている、と判定す
る。
In this FIG. 8 as well, similar to FIG. 3 described above, the intensity (light intensity) level reduced from the peak value of intensity by a predetermined ratio, that is, the shape of the spot defocused by a predetermined value on the image pickup element is shown. Shows. In the third embodiment, a region S4 (diagonal line) between an ellipse spot region S3, a region surrounded by a circle having the major axis of the ellipse spot as a diameter, and an ellipse spot region S3 inside the circle. Section) and the area S4 inside the circle having the major axis as the diameter is equal to or larger than a predetermined value, it is determined that the spot has astigmatism.

【0064】図9は、強度ピーク値から所定値だけデフ
ォーカスされたスポットについて、撮像素子上に形成さ
れた状態の一例を示す図である。図において、N3は楕
円スポットの画素数(○印の画素)、N4は楕円スポッ
トの長軸方向の半径を径とする円で囲まれる領域と、そ
の内側の楕円スポットとの間の領域の画素数(●印の画
素の画素数を示す。
FIG. 9 is a diagram showing an example of a state in which a spot defocused by a predetermined value from the intensity peak value is formed on the image sensor. In the figure, N3 is the number of pixels of the elliptical spot (pixels marked with ◯), N4 is the pixel of the area between the area surrounded by a circle having the radius of the major axis direction of the elliptical spot and the elliptical spot inside thereof. Number (Indicates the number of pixels marked with ●.

【0065】この図9では、先の図8に示した楕円スポ
ットの領域S3内の画素数をN3、楕円スポットの長径
を径とする円で囲まれる領域と、その円の内側にあって
楕円スポットの領域S3との間の領域S4(斜線部)内
の画素の数をN4で示している。そして、この場合の画
素数N4(請求項3ではN′)が、所定値K3より大き
いとき、スポットはアスをもっている、と判定する。
In FIG. 9, a region surrounded by a circle having N3 as the number of pixels in the region S3 of the elliptical spot shown in FIG. 8 and the major axis of the elliptical spot as a diameter, and an ellipse inside the circle. The number of pixels in a region S4 (hatched portion) between the spot region S3 and N4 is shown. Then, when the number of pixels N4 in this case (N 'in claim 3) is larger than the predetermined value K3, it is determined that the spot has astigmatism.

【0066】次の図10は、強度ピーク値から所定値だ
けデフォーカスされたスポットについて、撮像素子上に
形成された状態の他の一例を示す図である。図における
符号は図9と同様である。
FIG. 10 is a diagram showing another example of a state in which a spot defocused by a predetermined value from the intensity peak value is formed on the image pickup device. Reference numerals in the figure are the same as those in FIG.

【0067】楕円スポットの場合、一般的には、この図
10に示すように、その軸方向は、撮像素子上の画素の
配列方向と異なっているが、画素の配列方向が、図9の
状態でも、図10の状態でも、スポットのアス検出の処
理は、同様である。次に、第3の実施例のフローを示
す。
In the case of an elliptical spot, generally, as shown in FIG. 10, its axial direction is different from the arrangement direction of the pixels on the image pickup element, but the arrangement direction of the pixels is as shown in FIG. However, even in the state of FIG. 10, the spot astigmatism detection processing is the same. Next, a flow of the third embodiment will be shown.

【0068】図11は、この発明の第3の実施例におい
て、スポットのアス検出時の基本的な処理の流れを示す
フローチャートである。図において、#21〜#29は
ステップを示す。
FIG. 11 is a flow chart showing a basic processing flow at the time of spot astigmatism detection in the third embodiment of the present invention. In the figure, # 21 to # 29 indicate steps.

【0069】ステップ#21で、図1のフレームメモリ
11上にスポット画像を取り込む。ステップ#22へ進
み、強度I(x,y)がピークとなる点P(p,q)を
求める。
At step # 21, the spot image is captured in the frame memory 11 of FIG. Proceeding to step # 22, a point P (p, q) at which the intensity I (x, y) reaches a peak is obtained.

【0070】次のステップ#23で、点P(p,q)を
通る複数の直線Li:y=tan θi×(x−p)+qを
想定し、各直線上での強度分布Ii(x,y)を求め
る。ステップ#24で、それぞれの直線Liについて、
強度Iiがピーク強度から所定の割合だけ低下して、強
度Isとなる点Si(xi,yi)を求め、これらの点
Siから、ri=√{(xi−p)2 +(yi−q)
2 }を求める。
At the next step # 23, a plurality of straight lines Li: y = tan θi × (x−p) + q passing through the point P (p, q) are assumed, and the intensity distribution Ii (x, y) is calculated. In step # 24, for each straight line Li,
A point Si (xi, yi) at which the intensity Ii is reduced from the peak intensity by a predetermined ratio to become the intensity Is is obtained, and ri = √ {(xi-p) 2 + (yi-q) is obtained from these points Si.
2 } is calculated.

【0071】ステップ#25へ進み、riの最大値rma
x (=長軸半径)を求める。次のステップ#26で、r
=√{(x−p)2 +(y−q)2 }≦rmax で、か
つ、強度I(x,y)<Isの画素数N′をカウントす
る。
The process proceeds to step # 25 and the maximum value rma of ri
Find x (= major axis radius). In the next step # 26, r
= √ {(x−p) 2 + (y−q) 2 } ≦ rmax, and count the number N ′ of pixels with intensity I (x, y) <Is.

【0072】次のステップ#27で、N′>K3である
か否かチェックする。もし、N′>K3であれば、ステ
ップ#28で、スポットにアスあり、と判定して、この
図11のフローを終了する。
At the next step # 27, it is checked whether N '> K3. If N '> K3, in step # 28, it is determined that there is a spot, and the flow of FIG. 11 is terminated.

【0073】N′>K3でなければ、ステップ#29へ
進み、スポットにアスなし、と判定して、同様に、この
図11のフローを終了する。以上のステップ#21〜#
29の処理により、楕円スポットの長軸方向の径を半径
とする領域を用いた画素数、特に、図8の楕円スポット
の長径を径とする円で囲まれる領域と、その円の内側に
あって楕円スポットの領域S3との間の領域S4(斜線
部)内の画素数N4の大小とが比較されて、スポットの
アスの有無の判定が実行される。
If N '> K3 is not satisfied, the process proceeds to step # 29 to determine that there is no spot on the spot, and similarly, the flow of FIG. 11 is ended. Steps # 21- # above
By the processing of No. 29, the number of pixels using an area whose radius is the diameter of the ellipse spot in the major axis direction, in particular, an area surrounded by a circle whose diameter is the major axis of the ellipse spot in FIG. And the size of the number N4 of pixels in the area S4 (hatched portion) between the area S3 of the elliptical spot and the area S3 of the elliptic spot are compared, and the presence or absence of spot astigmatism is determined.

【0074】[0074]

【実施例4】次に、第4の実施例を説明する。この実施
例は、請求項4の発明に対応している。先3の実施例で
は、楕円スポットの長軸方向の径を半径とする領域を用
いた画素数(図9のN4)によって、スポットのアスの
有無を判定した。
Fourth Embodiment Next, a fourth embodiment will be described. This embodiment corresponds to the invention of claim 4. In the third embodiment, the presence or absence of spot astigmatism was determined by the number of pixels (N4 in FIG. 9) using a region whose radius is the diameter of the elliptical spot in the long axis direction.

【0075】この場合にも、両者の比率(N4/N
3)、あるいは全画素数(N3+N4)に対する比率
{N4/(N3+N4)}が、所定値以上のとき、スポ
ットはアスをもっている、と判定すれば、先の第2の実
施例と同様に、判定精度をより向上させることができ
る。
In this case also, the ratio of both (N4 / N
3), or if the ratio {N4 / (N3 + N4)} to the total number of pixels (N3 + N4) is equal to or more than a predetermined value, if the spot has an astigmatism, the determination is performed as in the second embodiment. The accuracy can be further improved.

【0076】図12は、この発明の第4の実施例におい
て、スポットのアス検出時の基本的な処理の流れを示す
フローチャートである。図において、#31〜#39は
ステップを示す。
FIG. 12 is a flow chart showing a basic processing flow at the time of spot astigmatism detection in the fourth embodiment of the present invention. In the figure, # 31 to # 39 indicate steps.

【0077】ステップ#31で、図1のフレームメモリ
11上にスポット画像を取り込む。ステップ#32へ進
み、強度I(x,y)がピークとなる点P(p,q)を
求める。
At step # 31, the spot image is captured in the frame memory 11 of FIG. Proceeding to step # 32, a point P (p, q) at which the intensity I (x, y) reaches a peak is obtained.

【0078】次のステップ#33で、点P(p,q)を
通る複数の直線Li:y=tan θi×(x−p)+qを
想定し、各直線上での強度分布Ii(x,y)を求め
る。ステップ#34で、それぞれの直線Liについて、
強度Iiがピーク強度から所定の割合だけ低下して、強
度Isとなる点Si(xi,yi)を求め、これらの点
Siから、ri=√{(xi−p)2 +(yi−q)
2 }を求める。
At the next step # 33, a plurality of straight lines Li: y = tan θi × (x−p) + q passing through the point P (p, q) are assumed, and the intensity distribution Ii (x, y) is calculated. In step # 34, for each straight line Li,
A point Si (xi, yi) at which the intensity Ii is reduced from the peak intensity by a predetermined ratio to become the intensity Is is obtained, and ri = √ {(xi-p) 2 + (yi-q) is obtained from these points Si.
2 } is calculated.

【0079】ステップ#35へ進み、riの最大値rma
x (=長軸半径)を求める。次のステップ#36で、強
度I(x,y)≧Isの画素数N3、および、r=√
{(x−p)2 +(y−q)2 }≦rmax で、かつ、強
度I(x,y)<Isの画素数N4、をそれぞれカウン
トする。
The process proceeds to step # 35, where the maximum value rma of ri
Find x (= major axis radius). In the next step # 36, the number of pixels N3 with intensity I (x, y) ≧ Is and r = √
The number of pixels N4 with {(x−p) 2 + (y−q) 2 } ≦ rmax and intensity I (x, y) <Is is counted.

【0080】次のステップ#37で、N4/N3>K
4、または、N4/(N3+N4)>K4′であるか否
かチェックする。もし、N4/N3>K4、または、N
4/(N3+N4)>K4′であれば、ステップ#38
で、スポットにアスあり、と判定して、この図12のフ
ローを終了する。
At the next step # 37, N4 / N3> K
4 or N4 / (N3 + N4)> K4 '. If N4 / N3> K4 or N
If 4 / (N3 + N4)> K4 ', step # 38
Then, it is determined that there is a spot on the spot, and the flow of FIG. 12 is ended.

【0081】N4/N3>K4、または、N4/(N3
+N4)>K4′でなければ、ステップ#39へ進み、
スポットにアスなし、と判定して、同様に、この図12
のフローを終了する。以上のステップ#31〜#39の
処理によって、図8の楕円スポットの長径を径とする円
で囲まれる領域と、その円の内側にあって楕円スポット
の領域S3との間の領域S4(斜線部)内の画素数N4
と、楕円スポットの領域S3内の画素数N3との比率が
比較され、スポットのアスの有無が判定される。
N4 / N3> K4 or N4 / (N3
+ N4)> K4 ', the process proceeds to step # 39,
It is determined that there is no ass in the spot, and similarly, as shown in FIG.
Ends the flow. By the above processing of steps # 31 to # 39, a region S4 (diagonal line) between a region surrounded by a circle having the major axis of the elliptical spot of FIG. 8 as a diameter and a region S3 of the elliptical spot inside the circle. Number of pixels in part) N4
And the number N3 of pixels in the elliptical spot area S3 are compared to determine whether or not there is spot astigmatism.

【0082】[0082]

【実施例5】次に、第5の実施例を説明する。この実施
例は、請求項5の発明に対応している。先の第1から第
4の実施例では、楕円スポットの短軸方向あるいは長軸
方向の半径を径とする円の領域に注目し、各領域の画素
数(図4のN1,N2、図9のN3,N4)によって、
スポットのアスの有無を判定した。
Fifth Embodiment Next, a fifth embodiment will be described. This embodiment corresponds to the invention of claim 5. In the first to fourth embodiments described above, attention is paid to the area of a circle whose radius is the radius of the elliptical spot in the short axis direction or the long axis direction, and the number of pixels in each area (N1, N2 in FIG. 4, FIG. 9) is used. N3, N4)
The presence or absence of spot ashes was judged.

【0083】この第5の実施例では、各領域の全ての画
素をカウントする代りに、強度がピークとなる点P
(p,q)を通る複数の直線上の画素のみをカウントし
て、先の第1から第4の実施例と同様の判定方法によ
り、スポットのアスの有無を判定する。したがって、こ
の第5の実施例によれば、画素数のカウント時間が短縮
され、また、メモリ容量の節減も可能になる。
In the fifth embodiment, instead of counting all the pixels in each area, the point P at which the intensity peaks is displayed.
Only the pixels on a plurality of straight lines passing through (p, q) are counted, and the presence or absence of spot astigmatism is determined by the same determination method as in the first to fourth embodiments. Therefore, according to the fifth embodiment, the time for counting the number of pixels can be shortened and the memory capacity can be saved.

【0084】図13は、この発明のスポット検査装置に
おいて、アス検出時における被検出スポットの形状と判
定方法を説明する図で、(1) は楕円スポットの短軸方向
の半径を径とする円の領域に注目して画素数をカウント
する場合、(2) は長軸方向の半径を径とする円の領域に
注目して画素数をカウントする場合である。図におい
て、Liは直線、n1〜n4は図5や図10のN1〜N
4に対応する画素数を示す。
FIG. 13 is a diagram for explaining the shape of the spot to be detected and the determination method at the time of detecting asbestos in the spot inspection apparatus of the present invention. (1) is a circle whose radius is the radius of the elliptical spot in the minor axis direction. In the case of counting the number of pixels by paying attention to the area of (2), (2) is a case of counting the number of pixels by paying attention to the area of a circle having a radius in the major axis direction. In the figure, Li is a straight line, n1 to n4 are N1 to N in FIG. 5 and FIG.
The number of pixels corresponding to 4 is shown.

【0085】第1の実施例と同様に、楕円スポットの短
軸方向の半径を径とする円の領域に注目して画素数をカ
ウントする場合には、図13(1) に示す直線Li(i=
1〜n)を適当に設定して、各直線Li上の画素数のみ
をカウントする。そして、画素数n2が、所定値以上の
ときは、スポットはアスをもっている、と判定する。
As in the case of the first embodiment, when the number of pixels is counted by paying attention to the area of a circle whose radius is the radius of the elliptical spot in the minor axis direction, the line Li (shown in FIG. i =
1 to n) are set appropriately and only the number of pixels on each straight line Li is counted. Then, when the number of pixels n2 is equal to or larger than a predetermined value, it is determined that the spot has astigmatism.

【0086】同様に、第2の実施例の場合には、両画素
の比率(n2/n1)、あるいは画素数(n1+n2)
に対する比率{n2/(n1+n2)}が、所定値以上
のとき、スポットはアスをもっている、と判定する。第
3の実施例の場合には、図13(2) に示すように、楕円
スポットの長軸方向の半径を径とする円の領域に注目し
て、画素数n4(請求項3ではN′)が、所定値より大
きいとき、スポットはアスをもっている、と判定する。
Similarly, in the case of the second embodiment, the ratio of both pixels (n2 / n1) or the number of pixels (n1 + n2).
When the ratio {n2 / (n1 + n2)} with respect to is greater than or equal to a predetermined value, it is determined that the spot has astigmatism. In the case of the third embodiment, as shown in FIG. 13 (2), attention is paid to the area of a circle having the radius in the major axis direction of the elliptical spot as the number of pixels n4 (N 'in claim 3). ) Is larger than a predetermined value, it is determined that the spot has astigmatism.

【0087】第4の実施例の場合も同様で、両画素の比
率(n4/n3)、あるいは画素数(n3+n4)に対
する比率{n4/(n3+n4)}が、所定値以上のと
き、スポットはアスをもっている、と判定する。この第
5の実施例では、以上のように、複数の直線Li上の画
素数のみをカウントして、スポットのアスの有無を判定
する。
The same applies to the case of the fourth embodiment, and when the ratio (n4 / n3) of both pixels or the ratio {n4 / (n3 + n4)} to the number of pixels (n3 + n4) is a predetermined value or more, the spot is It is determined to have. In the fifth embodiment, as described above, only the number of pixels on the plurality of straight lines Li is counted to determine the presence / absence of spot astigmatism.

【0088】[0088]

【発明の効果】請求項1のスポット検査装置では、合焦
位置から所定値だけデフォーカスさせたスポットを撮像
素子上に結像させ、スポットの短軸よりも外側にあり、
かつ、スポットの内部にある部分の画素数(図4のN
2)が、所定の値より大きいか否かによって、アスの有
無を判定している。したがって、従来のスポットの長軸
と短軸とを測定して判定する方法に比べ、面積的な判定
が可能となり、判定精度が向上される。
According to the spot inspection apparatus of the first aspect, a spot defocused from the in-focus position by a predetermined value is imaged on the image pickup device, and the spot is outside the minor axis of the spot.
In addition, the number of pixels inside the spot (N in FIG.
The presence / absence of asbestos is determined by whether or not 2) is larger than a predetermined value. Therefore, as compared with the conventional method of measuring and determining the long axis and the short axis of the spot, the area determination can be performed, and the determination accuracy is improved.

【0089】請求項2のスポット検査装置では、より判
定精度を向上させるために、画素数の比率を使用してい
る。なお、カウント対象の領域が増えるので画素数(図
4のN1)のカウント時間は、その分だけ長くなる。し
たがって、請求項1のスポット検査装置に比べて、さら
に判定精度が向上される。
In the spot inspection apparatus according to the second aspect, the ratio of the number of pixels is used in order to further improve the determination accuracy. Since the area to be counted increases, the count time of the number of pixels (N1 in FIG. 4) becomes longer accordingly. Therefore, the determination accuracy is further improved as compared with the spot inspection apparatus according to claim 1.

【0090】請求項3のスポット検査装置では、スポッ
トの長軸よりも内側にあり、かつ、スポットの外部にあ
る部分の画素数(図9のN4)が、所定の値より大きい
か否かによって、アスの有無を判定している。したがっ
て、請求項2のスポット検査装置と同様に、判定精度が
一層向上される。
In the spot inspection apparatus according to the third aspect of the present invention, it depends on whether or not the number of pixels (N4 in FIG. 9) of the portion inside the long axis of the spot and outside the spot is larger than a predetermined value. , The presence of asses is determined. Therefore, similarly to the spot inspection apparatus of claim 2, the determination accuracy is further improved.

【0091】請求項4のスポット検査装置では、より判
定精度を向上させるために、画素数の比率を使用してい
る。なお、カウント対象の領域が増えるので画素数(図
9のN3)のカウント時間は、その分だけ長くなる。し
たがって、請求項3のスポット検査装置に比べて、さら
に判定精度が向上される。
In the spot inspection apparatus of the fourth aspect, the ratio of the number of pixels is used in order to improve the determination accuracy. It should be noted that since the count target area increases, the count time of the number of pixels (N3 in FIG. 9) becomes longer accordingly. Therefore, the determination accuracy is further improved as compared with the spot inspection apparatus according to the third aspect.

【0092】請求項5のスポット検査装置では、スポッ
トの画素数のカウントを、強度がピークとなる点を通る
複数本のライン上に絞っている。したがって、画素数の
カウント時間が短縮され、また、その分だけデータ量も
減るので、メモリ容量も減少される。
In the spot inspection apparatus according to the fifth aspect, the number of spot pixels is narrowed down to a plurality of lines passing through the point where the intensity reaches a peak. Therefore, the counting time of the number of pixels is shortened, and the amount of data is reduced accordingly, so that the memory capacity is also reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】この発明のスポット検査装置について、その要
部構成の一実施例を示す機能ブロック図である。
FIG. 1 is a functional block diagram showing an embodiment of the main configuration of a spot inspection device of the present invention.

【図2】図15に示したスポットの強度分布で、x−y
平面に平行に切った断面において、光量が強度のピーク
から所定の割合だけ低下した面のスポット形状の各一例
を示す図である。
2 is an intensity distribution of the spot shown in FIG.
It is a figure which shows each example of the spot shape of the surface in which the light quantity fell from the peak of intensity by the predetermined ratio in the cross section cut | disconnected parallel to a plane.

【図3】この発明のスポット検査装置において、アス検
出時における被検出スポットの形状と判定方法を説明す
る図である。
FIG. 3 is a diagram illustrating a shape of a detected spot and a determination method when an asth is detected in the spot inspection apparatus of the present invention.

【図4】強度ピーク値から所定値だけデフォーカスされ
たスポットについて、撮像素子上に形成された状態の一
例を示す図である。
FIG. 4 is a diagram showing an example of a state in which a spot defocused by a predetermined value from an intensity peak value is formed on an image sensor.

【図5】強度ピーク値から所定値だけデフォーカスされ
たスポットについて、撮像素子上に形成された状態の他
の一例を示す図である。
FIG. 5 is a diagram showing another example of a state in which a spot defocused from the intensity peak value by a predetermined value is formed on the image sensor.

【図6】この発明のスポット検査装置において、スポッ
トのアス検出時の基本的な処理の流れを示すフローチャ
ートである。
FIG. 6 is a flowchart showing a basic processing flow when spot astigmatism is detected in the spot inspection apparatus of the present invention.

【図7】この発明の第2の実施例において、スポットの
アス検出時の基本的な処理の流れを示すフローチャート
である。
FIG. 7 is a flowchart showing a basic processing flow when spot astigmatism is detected in the second embodiment of the present invention.

【図8】この発明のスポット検査装置において、アス検
出時における被検出スポットの形状と判定方法を説明す
る図である。
FIG. 8 is a diagram illustrating a shape of a detected spot and a determination method when an asth is detected in the spot inspection apparatus of the present invention.

【図9】強度ピーク値から所定値だけデフォーカスされ
たスポットについて、撮像素子上に形成された状態の一
例を示す図である。
FIG. 9 is a diagram showing an example of a state in which a spot defocused by a predetermined value from an intensity peak value is formed on an image sensor.

【図10】強度ピーク値から所定値だけデフォーカスさ
れたスポットについて、撮像素子上に形成された状態の
他の一例を示す図である。
FIG. 10 is a diagram showing another example of a state in which a spot defocused by a predetermined value from the intensity peak value is formed on the image sensor.

【図11】この発明の第3の実施例において、スポット
のアス検出時の基本的な処理の流れを示すフローチャー
トである。
FIG. 11 is a flowchart showing a basic processing flow at the time of spot astigmatism detection in the third embodiment of the present invention.

【図12】この発明の第4の実施例において、スポット
のアス検出時の基本的な処理の流れを示すフローチャー
トである。
FIG. 12 is a flowchart showing a basic processing flow when spot astigmatism is detected in the fourth embodiment of the present invention.

【図13】この発明のスポット検査装置において、アス
検出時における被検出スポットの形状と判定方法を説明
する図である。
FIG. 13 is a diagram illustrating a shape of a detected spot and a determination method when an asth is detected in the spot inspection apparatus of the present invention.

【図14】従来の光学ヘッド調整工程を行う調整装置に
ついて、その要部構成の一例を示す図である。
FIG. 14 is a diagram showing an example of a main part configuration of a conventional adjusting device that performs an optical head adjusting step.

【図15】対物レンズの傾きが良好に調整され、かつ、
歪みがない場合のスポットの強度分布の一例を示す図で
ある。
FIG. 15 shows that the tilt of the objective lens is well adjusted, and
It is a figure which shows an example of the intensity distribution of the spot when there is no distortion.

【符号の説明】 1 光ピックアップのハウジング 2 偏向プリズム 3 アクチュエータ 4 ネジ 5 対物レンズ 6 カバーガラス 7 顕微鏡 8 カメラコントローラ 9 TVモニター 11 フレームメモリ 12 TVモニター 13 コンピュータ 14 ディスプレイ[Explanation of reference numerals] 1 housing of optical pickup 2 deflection prism 3 actuator 4 screw 5 objective lens 6 cover glass 7 microscope 8 camera controller 9 TV monitor 11 frame memory 12 TV monitor 13 computer 14 display

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 レンズからの出射光を撮像素子上に結像
させ、該素子上の点(x,y)における強度I(x,
y)を用いて演算を行う光ピックアップ装置のスポット
検査装置において、 処理手段として、 前記強度I(x,y)がピークとなる点P(p,q)を
求める手段と、 前記ピークとなる点P(p,q)を通る前記撮像素子上
の複数の直線Li(i=1〜n)上における強度分布I
i(x,y)を求める手段と、 前記各強度分布Ii(x,y)の強度がピーク強度から
所定の割合だけ低下する第2の強度Isとなる位置(x
i,yi)を検出する手段と、 光ピックアップ装置の合焦位置から所定値だけデフォー
カスさせたスポットを結像させたとき、スポットのある
方向での半径に相当する長さriを、 ri=√{(xi−p)2 +(yi−q)2 }で求める
手段と、 前記長さriの内、最も小さい値を半径rmin とし、点
P(p,q)から半径rmin の円で囲まれる範囲の外側
にあって強度I(x,y)が前記第2の強度Isよりも
大きい部分の画素数をNとするとき、Nと所定値K1と
の大小を比較する手段、とを備えたことを特徴とする光
ピックアップのスポット検査装置。
1. Intensity I (x, y) at a point (x, y) on the imaging device is formed by forming an image of light emitted from a lens on the imaging device.
In the spot inspection device of the optical pickup device for performing the calculation using y), as processing means, means for obtaining a point P (p, q) at which the intensity I (x, y) reaches a peak, and point at which the peak is reached Intensity distribution I on a plurality of straight lines Li (i = 1 to n) on the image sensor passing through P (p, q)
a means for obtaining i (x, y), and a position (x where the intensity of each intensity distribution Ii (x, y) becomes a second intensity Is which is reduced from the peak intensity by a predetermined ratio.
i, yi) and a spot defocused by a predetermined value from the in-focus position of the optical pickup device is imaged, the length ri corresponding to the radius of the spot in a certain direction is expressed as ri = √ {(xi-p) 2 + (yi-q) 2 } means, and the smallest value of the length ri is the radius rmin, which is surrounded by a circle of radius rmin from the point P (p, q) And N is the number of pixels in a portion outside the range where the intensity I (x, y) is greater than the second intensity Is, and means for comparing the magnitude of N with a predetermined value K1. A spot inspection device for an optical pickup.
【請求項2】 請求項1のスポット検査装置において、 処理手段として、 点P(p,q)から半径rmin で囲まれる範囲内にある
画素数をN1とし、半径rmin で囲まれる範囲の外側に
あって強度I(x,y)が第2の強度Isよりも大きい
部分の画素数をN2とするとき、N2/N1と所定値K
2、または、N2/(N2+N1)と所定値K2′との
大小を比較する手段を備えたことを特徴とする光ピック
アップのスポット検査装置。
2. The spot inspection apparatus according to claim 1, wherein as a processing means, the number of pixels within a range surrounded by a radius rmin from the point P (p, q) is set to N1, and the pixel is outside the range surrounded by the radius rmin. If the number of pixels in a portion where the intensity I (x, y) is larger than the second intensity Is is N2, N2 / N1 and a predetermined value K
2. A spot inspection apparatus for an optical pickup, characterized by comprising means for comparing the magnitude of 2 or N2 / (N2 + N1) with a predetermined value K2 '.
【請求項3】 請求項1のスポット検査装置において、 処理手段として、 半径riの内、最大の値をrmax とし、点P(p,q)
から半径rmax の円で囲まれる範囲の内側にあって強度
I(x,y)が第2の強度Isよりも小さい部分の画素
数をN′とするとき、N′と所定値K3との大小を比較
する手段を備えた構成である。
3. The spot inspection apparatus according to claim 1, wherein as a processing means, a maximum value of the radius ri is rmax, and a point P (p, q).
From N to the predetermined value K3, where N'is the number of pixels in the area surrounded by the circle of radius rmax and the intensity I (x, y) is smaller than the second intensity Is. This is a configuration provided with a means for comparing.
【請求項4】 請求項3のスポット検査装置において、 処理手段として、 強度I(x,y)が第2の強度Isよりも大きい部分の
画素数をN3とし、強度I(x,y)が第2の強度Is
よりも小さく、かつ、点P(p,q)を中心とする半径
rmax の円で囲まれる範囲の内側にある画素数をN4と
するとき、N4/N3と所定値K3、または、N4/
(N3+N4)と所定値K3′との大小を比較する手段
を備えたことを特徴とする光ピックアップのスポット検
査装置。
4. The spot inspection apparatus according to claim 3, wherein as a processing means, the number of pixels in a portion where the intensity I (x, y) is larger than the second intensity Is is N3, and the intensity I (x, y) is Second intensity Is
Is smaller than N4 and the number of pixels inside a range surrounded by a circle having a radius rmax centered on the point P (p, q) is N4, N4 / N3 and a predetermined value K3 or N4 /
A spot inspection device for an optical pickup, comprising means for comparing the magnitude of (N3 + N4) with a predetermined value K3 '.
【請求項5】 請求項1から請求項4のスポット検査装
置において、 処理手段として、 画素数のカウントに際して、点P(p,q)を通る複数
の直線上の画素のみをカウントとする手段を備えたこと
を特徴とする光ピックアップのスポット検査装置。
5. The spot inspection apparatus according to any one of claims 1 to 4, wherein as processing means, when counting the number of pixels, means for counting only pixels on a plurality of straight lines passing through a point P (p, q) is provided. An optical pickup spot inspection device characterized by being provided.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08329245A (en) * 1995-06-06 1996-12-13 Canon Inc Graphic processing method and apparatus

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JPH08329245A (en) * 1995-06-06 1996-12-13 Canon Inc Graphic processing method and apparatus

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