JPH0636321A - Pickup inspection device - Google Patents

Pickup inspection device

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Publication number
JPH0636321A
JPH0636321A JP21462792A JP21462792A JPH0636321A JP H0636321 A JPH0636321 A JP H0636321A JP 21462792 A JP21462792 A JP 21462792A JP 21462792 A JP21462792 A JP 21462792A JP H0636321 A JPH0636321 A JP H0636321A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
point
intensity
peak
straight lines
primary ring
Prior art date
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Pending
Application number
JP21462792A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hiroyuki Sakuyama
宏幸 作山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ricoh Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Ricoh Co Ltd filed Critical Ricoh Co Ltd
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Publication of JPH0636321A publication Critical patent/JPH0636321A/en
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  • Moving Of The Head For Recording And Reproducing By Optical Means (AREA)
  • Optical Head (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 光ピックアップの組み立て工程における対物
レンズアクチュエータの傾き調整において、スポット検
査工程が自動的に行えるようにして、作業者の負担を軽
減すると共に、品質のバラつきを防止する。 【構成】 点P(xp,yp)を通る直線Lによって分
割される撮像素子上の2つの領域に存在する1次リング
のピークの個数を、それぞれa,bとするとき、値(a
−b)または値(a/b)と、所定の値Hとの大小を比
較する手段を設けて、ピークの個数のアンバランスの有
無により、異常スポットを検出する。 【効果】 簡単な計算で、異常なスポットを正確に検知
することができる。
(57) [Abstract] [Purpose] In the tilt adjustment of the objective lens actuator in the assembly process of the optical pickup, the spot inspection process can be automatically performed to reduce the burden on the operator and prevent the quality from varying. . When the number of peaks of a primary ring existing in two regions on an image sensor divided by a straight line L passing through a point P (xp, yp) is a and b, respectively, a value (a
-B) or a value (a / b) and a predetermined value H are compared with each other, and a means for comparing the magnitudes is provided to detect an abnormal spot based on whether or not there is an imbalance in the number of peaks. [Effect] An abnormal spot can be accurately detected by a simple calculation.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は、光ピックアップの組
み立て工程における対物レンズアクチュエータの傾き調
整で使用する光ピックアップのスポット検査装置に係
り、特に、スポット検査工程が自動的に行えるようにし
て、作業者の負担を軽減すると共に、品質のバラつきを
防止した光ピックアップのスポット検査装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a spot inspection apparatus for an optical pickup used for adjusting an inclination of an objective lens actuator in an optical pickup assembling process, and more particularly, to a spot inspection process which can be performed automatically. The present invention relates to a spot inspection device for an optical pickup that reduces the burden on the operator and prevents the quality from varying.

【0002】[0002]

【従来の技術】光ピックアップの組み立て工程では、対
物レンズアクチュエータの傾き調整が必要である。従来
から、対物レンズアクチュエータの傾きの調整方法とし
ては、顕微鏡とカメラ、モニターを使用し、光ディスク
の代りに、同じ厚さを有するカバーガラスを基準面と平
行に設置して、対物レンズのスポットを顕微鏡で拡大し
て観察する光学ヘッド調整方法が用いられている(特開
昭63−253538号公報)。
2. Description of the Related Art In the process of assembling an optical pickup, it is necessary to adjust the inclination of an objective lens actuator. Conventionally, as a method of adjusting the tilt of the objective lens actuator, a microscope, a camera, and a monitor are used, and instead of an optical disc, a cover glass having the same thickness is installed in parallel with the reference plane, and the spot of the objective lens is adjusted. An optical head adjusting method of enlarging and observing with a microscope is used (Japanese Patent Laid-Open No. 63-253538).

【0003】図16は、従来の光学ヘッド調整工程を行
う調整装置について、その要部構成の一例を示す図であ
る。図において、1は光ピックアップのハウジング、2
は偏向プリズム、3はアクチュエータ、4はネジ、5は
対物レンズ、6はカバーガラス、7は顕微鏡、8はカメ
ラコントローラ、9はTVモニター、LBはレーザ光を
示す。
FIG. 16 is a diagram showing an example of a main part configuration of a conventional adjusting device for performing an optical head adjusting step. In the figure, 1 is a housing of an optical pickup, 2
Is a deflection prism, 3 is an actuator, 4 is a screw, 5 is an objective lens, 6 is a cover glass, 7 is a microscope, 8 is a camera controller, 9 is a TV monitor, and LB is a laser beam.

【0004】この図16に示すように、光ピックアップ
のハウジング1には、偏向プリズム2が設けられてい
る。また、ハウジング1の上部に、アクチュエータ3が
あり、その中に、対物レンズ5が設けられている。
As shown in FIG. 16, a deflection prism 2 is provided in a housing 1 of an optical pickup. Further, an actuator 3 is provided above the housing 1, and an objective lens 5 is provided therein.

【0005】アクチュエータ3は、ネジ4によってハウ
ジング1に固定されているが、ネジ4の締め方を調整す
ることにより、アクチュエータ3の傾きを調整すること
ができる。また、光ディスクと同じ厚みを有するカバー
ガラス6が、アクチュエータ3の上部に、光ピックアッ
プのハウジング1と平行に設置されている。
The actuator 3 is fixed to the housing 1 with a screw 4, but the inclination of the actuator 3 can be adjusted by adjusting the tightening method of the screw 4. A cover glass 6 having the same thickness as that of the optical disc is installed above the actuator 3 in parallel with the housing 1 of the optical pickup.

【0006】従来の対物レンズアクチュエータの傾きの
調整工程は、次のように行う。偏向プリズム2に、レー
ザ光LBを入射し、対物レンズ5によって形成されるス
ポットを顕微鏡7で観察する。顕微鏡7には、図示され
ないカメラが接続されており、カメラコントローラ8を
通して、TVモニター9の画面上にスポットが表示され
る。
The conventional process of adjusting the tilt of the objective lens actuator is performed as follows. The laser beam LB is incident on the deflection prism 2, and the spot formed by the objective lens 5 is observed by the microscope 7. A camera (not shown) is connected to the microscope 7, and spots are displayed on the screen of the TV monitor 9 through the camera controller 8.

【0007】作業者は、このスポットの表示を見なが
ら、1次のサイドローブが対称となるように、アクチュ
エータ3の傾きを調整する。以上のような工程によっ
て、対物レンズアクチュエータの傾きの調整が行われ
る。
The operator adjusts the inclination of the actuator 3 while observing the display of the spot so that the primary side lobes are symmetrical. The tilt of the objective lens actuator is adjusted by the steps described above.

【0008】この調整工程は、アクチュエータに組み込
まれている対物レンズの傾きを光ディスクと並行に調整
することにより、スポット形状を良好にする目的で行わ
れるものである。そのために、図16に関連して説明し
たように、スポット像をTVモニターで観察しながら行
うが、この工程は、スポット形状を良好にすると同時
に、異常な形状のスポットを除去する工程(換言すれ
ば、スポットの形状を検査する工程)も兼ねている場合
が多い。
This adjusting step is performed for the purpose of improving the spot shape by adjusting the inclination of the objective lens incorporated in the actuator in parallel with the optical disc. Therefore, as described with reference to FIG. 16, the spot image is observed on the TV monitor, but this step is a step of improving the spot shape and simultaneously removing the spot having an abnormal shape (in other words, In many cases, it also serves as the step of inspecting the spot shape).

【0009】このスポット検査工程は、通常、経験的な
許容限度見本を用いて、作業者の目視によって行われ
る。そのため、作業者の負担が大きいばかりでなく、そ
の主観が入りやすいので、品質にバラつきが生じる要因
にもなる、という不都合があった。
This spot inspection process is usually performed visually by an operator using an empirical allowable limit sample. Therefore, not only is the burden on the operator heavy, but the subjectivity is likely to occur, which causes a problem in that the quality varies.

【0010】[0010]

【発明が解決しようとする課題】この発明では、従来の
光学的情報記録再生装置のスポット検査時に生じるこの
ような不都合を解決し、スポット検査工程が自動的に行
えるようにして、作業者の負担を軽減すると共に、品質
のバラつきを防止したピックアップ検査装置を提供する
ことを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION According to the present invention, such inconvenience that occurs during the spot inspection of the conventional optical information recording / reproducing apparatus is solved, and the spot inspection process can be automatically performed, so that the burden on the operator is reduced. It is an object of the present invention to provide a pickup inspection device that reduces the fluctuations and prevents the quality variation.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】この発明では、第1に、
レンズからの出射光を撮像素子上に結像させ、該素子上
の点(x,y)における強度I(x,y)を用いて演算
処理を行うピックアップ検査装置において、処理手段と
して、前記強度I(x,y)がピークとなる点P(x
p,yp)を求める手段と、前記点P(xp,yp)を
通り、かつ、前記撮像素子上の複数の直線の上における
強度分布I(x,y)を求める手段と、前記各強度分布
I(x,y)における1次リングのピークを検出する手
段と、前記点P(xp,yp)を通る直線Lによって分
割される撮像素子上の2つの領域に存在する1次リング
のピークの個数を、それぞれa,bとするとき、値(a
−b)または値(a/b)と、所定の値Hとの大小を比
較する手段、とを備えた構成である。
According to the present invention, firstly,
In a pickup inspection device that forms an image of light emitted from a lens on an image pickup element and performs arithmetic processing using the intensity I (x, y) at a point (x, y) on the element, the intensity is used as a processing means. The point P (x where I (x, y) is a peak
p, yp), a means for obtaining an intensity distribution I (x, y) on a plurality of straight lines passing through the point P (xp, yp) and on the image sensor, and each intensity distribution. A means for detecting the peak of the primary ring at I (x, y) and a peak of the primary ring existing in two regions on the image sensor divided by the straight line L passing through the point P (xp, yp). When the numbers are a and b, respectively, the value (a
-B) or a value (a / b) and a means for comparing the magnitude of a predetermined value H with each other.

【0012】第2に、レンズからの出射光を撮像素子上
に結像させ、該素子上の点(x,y)における強度I
(x,y)を用いて演算処理を行うピックアップ検査装
置において、処理手段として、前記強度I(x,y)が
ピークとなる点P(xp,yp)を求める手段と、前記
点P(xp,yp)を通り、かつ、前記撮像素子上の複
数の直線の上における強度分布I(x,y)を求める手
段と、前記各強度分布I(x,y)における1次リング
のピークを検出する手段と、前記点P(xp,yp)を
通る直線Lを複数個(L1,L2,……,Ln)設定す
る手段と、前記各々の直線Liによって分割される撮像
素子上の2つの領域に存在する1次リングのピークの個
数を、それぞれai,biとするとき、各Liに関し
て、値(ai−bi)または値(ai/bi)と、所定
の値Hとの大小を比較する手段、とを備えた構成であ
る。
Second, the light emitted from the lens is imaged on the image pickup device, and the intensity I at the point (x, y) on the device is measured.
In a pickup inspection apparatus that performs arithmetic processing using (x, y), as processing means, means for obtaining a point P (xp, yp) at which the intensity I (x, y) reaches a peak, and the point P (xp) , Yp) and means for obtaining an intensity distribution I (x, y) on a plurality of straight lines on the image sensor, and detecting a peak of a primary ring in each intensity distribution I (x, y). Means, a means for setting a plurality of straight lines L (L1, L2, ..., Ln) passing through the point P (xp, yp), and two regions on the image sensor divided by the respective straight lines Li. Means for comparing the value (ai-bi) or the value (ai / bi) with a predetermined value H for each Li when the number of peaks of the primary ring existing in is respectively ai and bi , And are provided.

【0013】第3に、レンズからの出射光を撮像素子上
に結像させ、該素子上の点(x,y)における強度I
(x,y)を用いて演算処理を行うピックアップ検査装
置において、処理手段として、前記強度I(x,y)が
ピークとなる点P(xp,yp)を求める手段と、前記
点P(xp,yp)を通り、かつ、前記撮像素子上の複
数の直線の上における強度分布I(x,y)を求める手
段と、前記各強度分布I(x,y)における1次リング
のピークを検出する手段と、前記点P(xp,yp)を
通る直線Lを複数個(L1,L2,……,Ln)設定す
る手段と、前記各々の直線Liによって分割される撮像
素子上の2つの領域に存在する1次リングのピークの個
数を、それぞれai,biとするとき、
Thirdly, the light emitted from the lens is imaged on the image pickup device, and the intensity I at the point (x, y) on the device is measured.
In a pickup inspection apparatus that performs arithmetic processing using (x, y), as processing means, means for obtaining a point P (xp, yp) at which the intensity I (x, y) reaches a peak, and the point P (xp) , Yp) and means for obtaining an intensity distribution I (x, y) on a plurality of straight lines on the image sensor, and detecting a peak of a primary ring in each intensity distribution I (x, y). Means, a means for setting a plurality of straight lines L (L1, L2, ..., Ln) passing through the point P (xp, yp), and two regions on the image sensor divided by the respective straight lines Li. When the number of peaks of the primary ring existing in is respectively ai and bi,

【数3】 と、所定の値Hとの大小を比較する手段、とを備えた構
成である。
[Equation 3] And a means for comparing the magnitude with a predetermined value H.

【0014】第4に、レンズからの出射光を撮像素子上
に結像させ、該素子上の点(x,y)における強度I
(x,y)を用いて演算処理を行うピックアップ検査装
置において、処理手段として、前記強度I(x,y)が
ピークとなる点P(xp,yp)を求める手段と、前記
点P(xp,yp)を通り、かつ、前記撮像素子上の複
数の直線の上における強度分布I(x,y)を求める手
段と、前記各強度分布I(x,y)における1次リング
のピークを検出する手段と、前記点P(xp,yp)で
交わる2直線によって分割される撮像素子上の4つの領
域に存在する1次リングのピークの個数を左廻りにa,
b,c,dとするとき、値{(a+c)−(b+d)}
または値{(a+c)/(b+d)}と、所定の値Hと
の大小を比較する手段、とを備えた構成である。
Fourthly, the light emitted from the lens is imaged on the image pickup device, and the intensity I at the point (x, y) on the device is formed.
In a pickup inspection apparatus that performs arithmetic processing using (x, y), as processing means, means for obtaining a point P (xp, yp) at which the intensity I (x, y) reaches a peak, and the point P (xp) , Yp) and means for obtaining an intensity distribution I (x, y) on a plurality of straight lines on the image sensor, and detecting a peak of a primary ring in each intensity distribution I (x, y). And the number of peaks of the primary ring existing in the four regions on the image pickup device divided by the two straight lines intersecting at the point P (xp, yp) by a,
If b, c, d, then the value {(a + c)-(b + d)}
Alternatively, the configuration includes a value {(a + c) / (b + d)} and a means for comparing the magnitude of a predetermined value H.

【0015】第5に、レンズからの出射光を撮像素子上
に結像させ、該素子上の点(x,y)における強度I
(x,y)を用いて演算処理を行うピックアップ検査装
置において、処理手段として、前記強度I(x,y)が
ピークとなる点P(xp,yp)を求める手段と、前記
点P(xp,yp)を通り、かつ、前記撮像素子上の複
数の直線の上における強度分布I(x,y)を求める手
段と、前記各強度分布I(x,y)における1次リング
のピークを検出する手段と、前記点P(xp,yp)で
交わる2直線の組Mを複数個(M1,M2,……,M
n)設定する手段と、前記各々の直線Miによって分割
される撮像素子上の4つの領域に存在する1次リングの
ピークの個数を左廻りにai,bi,ci,diとする
とき、各Miに関して、値{(ai+ci)−(bi+
di)}または値{(ai+ci)/(bi+di)}
と、所定の値Hとの大小を比較する手段、とを備えた備
えた構成である。
Fifth, the light emitted from the lens is imaged on the image pickup device, and the intensity I at the point (x, y) on the device is measured.
In a pickup inspection apparatus that performs arithmetic processing using (x, y), as processing means, means for obtaining a point P (xp, yp) at which the intensity I (x, y) reaches a peak, and the point P (xp) , Yp) and means for obtaining an intensity distribution I (x, y) on a plurality of straight lines on the image sensor, and detecting a peak of a primary ring in each intensity distribution I (x, y). Means and a plurality of sets (M1, M2, ..., M) of two straight lines that intersect at the point P (xp, yp).
n) When the number of peaks of the primary ring existing in the four regions on the image pickup device divided by the respective straight lines Mi is set to ai, bi, ci, di in the counterclockwise direction, each Mi is set. With respect to the value {(ai + ci)-(bi +
di)} or value {(ai + ci) / (bi + di)}
And a means for comparing the magnitude with a predetermined value H.

【0016】第6に、レンズからの出射光を撮像素子上
に結像させ、該素子上の点(x,y)における強度I
(x,y)を用いて演算処理を行うピックアップ検査装
置において、処理手段として、前記強度I(x,y)が
ピークとなる点P(xp,yp)を求める手段と、前記
点P(xp,yp)を通り、かつ、前記撮像素子上の複
数の直線の上における強度分布I(x,y)を求める手
段と、前記各強度分布I(x,y)における1次リング
のピークを検出する手段と、前記点P(xp,yp)で
交わる2直線の組Mを複数個(M1,M2,……,M
n)設定する手段と、前記各々の2直線の組Miによっ
て分割される撮像素子上の4つの領域に存在する1次リ
ングのピークの個数を左廻りにai,bi,ci,di
とするとき、
Sixth, the light emitted from the lens is imaged on the image pickup device, and the intensity I at the point (x, y) on the device is formed.
In a pickup inspection apparatus that performs arithmetic processing using (x, y), as processing means, means for obtaining a point P (xp, yp) at which the intensity I (x, y) reaches a peak, and the point P (xp) , Yp) and means for obtaining an intensity distribution I (x, y) on a plurality of straight lines on the image sensor, and detecting a peak of a primary ring in each intensity distribution I (x, y). Means and a plurality of sets (M1, M2, ..., M) of two straight lines that intersect at the point P (xp, yp).
n) means for setting and the number of peaks of the primary ring existing in the four regions on the image pickup device divided by the respective sets of the two straight lines Mi to the left, ai, bi, ci, di
When

【数4】 と、所定の値Hとの大小を比較する手段、とを備えた構
成である。
[Equation 4] And a means for comparing the magnitude with a predetermined value H.

【0017】第7に、レンズからの出射光を撮像素子上
に結像させ、該素子上の点(x,y)における強度I
(x,y)を用いて演算処理を行うピックアップ検査装
置において、処理手段として、前記強度I(x,y)が
ピークとなる点P(xp,yp)を求める手段と、前記
点P(xp,yp)を通り、かつ、前記撮像素子上の複
数の直線の上における強度分布I(x,y)を求める手
段と、前記各強度分布I(x,y)における1次リング
のピークを検出する手段と、前記点P(xp,yp)を
通る直線Lによって分割される撮像素子上の2つの領域
に存在する1次リングのピークの個数を、それぞれ計数
する手段、とを備えた構成である。
Seventh, the light emitted from the lens is imaged on the image pickup device, and the intensity I at the point (x, y) on the device is measured.
In a pickup inspection apparatus that performs arithmetic processing using (x, y), as processing means, means for obtaining a point P (xp, yp) at which the intensity I (x, y) reaches a peak, and the point P (xp) , Yp) and means for obtaining an intensity distribution I (x, y) on a plurality of straight lines on the image sensor, and detecting a peak of a primary ring in each intensity distribution I (x, y). And a means for respectively counting the number of peaks of the primary ring existing in two regions on the image sensor divided by the straight line L passing through the point P (xp, yp). is there.

【0018】第8に、レンズからの出射光を撮像素子上
に結像させ、該素子上の点(x,y)における強度I
(x,y)を用いて演算処理を行うピックアップ検査装
置において、処理手段として、前記強度I(x,y)が
ピークとなる点P(xp,yp)を求める手段と、前記
点P(xp,yp)を通り、かつ、前記撮像素子上の複
数の直線の上における強度分布I(x,y)を求める手
段と、前記各強度分布I(x,y)における1次リング
のピークを検出する手段と、前記点P(xp,yp)で
交わる2直線によって分割される撮像素子上の4つの領
域に存在する1次リングのピークの個数を、それぞれ計
数する手段、とを備えた構成である。
Eighth, the light emitted from the lens is imaged on the image pickup device, and the intensity I at the point (x, y) on the device is formed.
In a pickup inspection apparatus that performs arithmetic processing using (x, y), as processing means, means for obtaining a point P (xp, yp) at which the intensity I (x, y) reaches a peak, and the point P (xp) , Yp) and means for obtaining an intensity distribution I (x, y) on a plurality of straight lines on the image sensor, and detecting a peak of a primary ring in each intensity distribution I (x, y). And a means for respectively counting the number of peaks of the primary ring existing in four regions on the image sensor divided by two straight lines intersecting at the point P (xp, yp). is there.

【0019】第9に、上記第1から第8の検査装置にお
いて、点P(xp,yp)の代りに、強度I(x,y)
がしきい値Ith以上である点の強度分布の重心G(x
g,yg)を用いて演算処理を行う手段を備えた構成で
ある。
Ninth, in the above first to eighth inspection devices, the intensity I (x, y) is used instead of the point P (xp, yp).
Is the center of gravity of the intensity distribution G (x
g, yg) is used to perform arithmetic processing.

【0020】[0020]

【作用】この発明では、カメラコントローラからのスポ
ット画像を一旦フレームメモリに取り込み、この画像に
演算処理を行うことによって、スポットの良否が自動的
に判定できるようにしている。具体的にいえば、撮像素
子上のスポット画像がフレームメモリ上に投影されるた
め、撮像素子上の想定したx,y座標を、フレームメモ
リのx,y座標として取り扱うことが可能となり、スポ
ットの各部分の強度Iは、フレームメモリの座標(x,
y)の関数I(x,y)として処理することができる。
According to the present invention, the spot image from the camera controller is once stored in the frame memory and the image is subjected to arithmetic processing so that the quality of the spot can be automatically determined. Specifically, since the spot image on the image sensor is projected on the frame memory, the assumed x, y coordinates on the image sensor can be treated as the x, y coordinates of the frame memory. The intensity I of each part is determined by the coordinates (x,
y) can be treated as a function I (x, y).

【0021】スポットの正常異常の判断に際しては、あ
る1本の直線Lについて、その右側と左側との1次リン
グのピークの個数(a,b等)に注目し、両側の個数の
間にアンバランスがあるとき、スポットを異常と判断す
る(請求項1から請求項3の発明)。また、ある点Pを
通る2本の直線の組合せMにより、4つの領域に分割し
て、各領域における1次リングのピークの個数(a,b
等)に注目し、4つの領域の個数の間にアンバランスが
あるとき、スポットを異常と判断する(請求項4から請
求項6の発明)。
When determining whether the spot is normal or abnormal, pay attention to the number of peaks (a, b, etc.) of the primary ring on the right side and the left side of a certain straight line L, and determine the number of peaks on both sides. When there is a balance, the spot is judged to be abnormal (the invention of claims 1 to 3). In addition, the number of peaks (a, b) of the primary ring in each region is divided into four regions by a combination M of two straight lines passing through a certain point P.
Etc.), the spot is judged to be abnormal when there is an imbalance between the numbers of the four regions (the inventions of claims 4 to 6).

【0022】検査装置としての機能を拡張するために、
1本の直線Lの両側や、2本の直線の組合せMで分割さ
れる4つの領域について、1次リングのピークの個数
(a,b等)の計数を可能にしている(請求項7と請求
項8の発明)。スポットの強度が全体的に強くて、ピー
ク付近で飽和している場合には、強度I(x,y)がし
きい値Ith以上である点の強度分布の重心G(xg,y
g)によって、スポットの正常/異常を判断する(請求
項9の発明)。
In order to expand the function as the inspection device,
It is possible to count the number of peaks (a, b, etc.) of the primary ring on both sides of one straight line L or four regions divided by a combination M of two straight lines (claim 7). Invention of claim 8). When the intensity of the spot is generally strong and saturated near the peak, the center of gravity G (xg, y) of the intensity distribution at the point where the intensity I (x, y) is equal to or greater than the threshold value Ith.
The normality / abnormality of the spot is judged by g) (the invention of claim 9).

【0023】[0023]

【実施例1】次に、この発明のピックアップ検査装置に
ついて、図面を参照しながら、その実施例を詳細に説明
する。この実施例は、主として、請求項1の発明に関連
しているが、ハード構成やスポットの正常異常の判断の
基本原理は、請求項2から請求項9の発明とも関連して
いる。
[Embodiment 1] Next, the pickup inspection apparatus of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. Although this embodiment is mainly related to the invention of claim 1, the basic principle of the hardware configuration and the determination of normality / abnormality of the spot is also related to the inventions of claims 2 to 9.

【0024】図1は、この発明のピックアップ検査装置
について、その要部構成の一実施例を示す機能ブロック
図である。図における符号は図16と同様であり、ま
た、11はフレームメモリ、12は9と同様なTVモニ
ター、13はコンピュータ、14はディスプレイを示
す。
FIG. 1 is a functional block diagram showing an embodiment of the main configuration of the pickup inspection device of the present invention. 16 are the same as those in FIG. 16, 11 is a frame memory, 12 is a TV monitor similar to 9, 13 is a computer, and 14 is a display.

【0025】この図1で、光ピックアップのハウジング
1からカメラコントローラ8までの構成と動作は、先の
図16と同様である。この図1に示すこの発明では、ス
ポットの像を、コンピュータ13からのコマンドによっ
て、顕微鏡7,カメラコントローラ8を通して、フレー
ムメモリ11に取り込み、その生画像をTVモニター1
2の画面上に表示する。
In FIG. 1, the configuration and operation from the housing 1 of the optical pickup to the camera controller 8 are the same as those in FIG. In the present invention shown in FIG. 1, a spot image is taken into a frame memory 11 through a microscope 7 and a camera controller 8 by a command from a computer 13, and a raw image thereof is taken in by a TV monitor 1.
Display on screen 2.

【0026】一方、コンピュータ13は、コマンドを出
力した後、フレームメモリ11に蓄積された画像に、請
求項1から請求項9の処理を加え、その結果をディスプ
レイ14に表示する。次に、アクチュエータに組み込ま
れている対物レンズの傾きが良好に調整された場合のス
ポットの強度分布について説明する。
On the other hand, after outputting the command, the computer 13 applies the processes of claims 1 to 9 to the image stored in the frame memory 11 and displays the result on the display 14. Next, the intensity distribution of the spot when the inclination of the objective lens incorporated in the actuator is properly adjusted will be described.

【0027】図2は、対物レンズの傾きが良好に調整さ
れ、かつ、歪みがない場合のスポットの強度分布の一例
を示す図である。図で、x,yはそれぞれx軸とy軸、
Iはスポットの強度、Pは強度がピークとなる点、21
はスポットの強度分布曲線、22は直線を示す。
FIG. 2 is a diagram showing an example of the intensity distribution of the spot when the inclination of the objective lens is well adjusted and there is no distortion. In the figure, x and y are the x and y axes,
I is the intensity of the spot, P is the point where the intensity peaks, 21
Indicates a spot intensity distribution curve, and 22 indicates a straight line.

【0028】この図2に示すように、対物レンズの傾き
が良好に調整され、かつ、歪みがない場合、スポットの
強度分布は釣鐘状の形状21になる。ここで、このスポ
ットの像が結ばれる撮像素子の面(一般に撮像素子は平
面状である)を想定して、この面上に、x軸およびy軸
を取る。
As shown in FIG. 2, when the tilt of the objective lens is well adjusted and there is no distortion, the intensity distribution of the spot has a bell-shaped shape 21. Here, assuming the surface of the image sensor (generally, the image sensor is planar) on which the image of this spot is formed, the x axis and the y axis are set on this surface.

【0029】そして、撮像素子上の点(x,y)におけ
るスポットの強度をI(x,y),強度がピークとなる
点をP(xp,yp)とする。なお、この図2では、理
解を容易にするために、点Pと座標原点とを一致させて
図示している。次に、点Pを通り、x軸と角度θ1をな
す直線22上でのスポットの強度分布を考察すると、次
の図3に示すようになる。
The intensity of the spot at the point (x, y) on the image sensor is I (x, y), and the peak intensity is P (xp, yp). Note that, in FIG. 2, the point P and the coordinate origin are shown as being coincident with each other for easy understanding. Next, considering the intensity distribution of the spot on the straight line 22 that passes through the point P and makes an angle θ1 with the x-axis, the result is shown in FIG. 3 below.

【0030】図3は、図2で、点Pを通り、x軸と角度
θ1をなす直線22上でのスポットの強度分布の一例を
示す図である。図で、23はスポットの強度分布曲線、
24はその1次リング、25と26は1次リングのピー
ク、27はメインローブを示す。
FIG. 3 is a diagram showing an example of the intensity distribution of spots on a straight line 22 passing through the point P and forming an angle θ1 with the x axis in FIG. In the figure, 23 is the intensity distribution curve of the spot,
24 is the primary ring, 25 and 26 are the peaks of the primary ring, and 27 is the main lobe.

【0031】先の図2のスポットの強度分布曲線21
で、点Pを通り、x軸と角度θ1をなす直線22上での
スポットの強度分布は、この図3に23で示すような曲
線になる。すなわち、メインローブ27の両側に、それ
ぞれ、そのピーク25,26をもつ1次リング24が生
じる。また、TVモニター12の画面上には、図2のス
ポットの生画像が次の図4のように表示される。
The intensity distribution curve 21 of the spot shown in FIG.
Then, the intensity distribution of the spot on the straight line 22 which passes through the point P and makes an angle θ1 with the x-axis becomes a curve as shown by 23 in FIG. That is, the primary rings 24 having their peaks 25 and 26 are formed on both sides of the main lobe 27. Further, the raw image of the spot of FIG. 2 is displayed on the screen of the TV monitor 12 as shown in FIG.

【0032】図4は、TVモニター12の画面上に表示
されるスポットの生画像の一例を示す図である。図にお
ける符号は図3と同様であり、また、28〜30はそれ
ぞれある直線を示す。
FIG. 4 is a diagram showing an example of a raw image of a spot displayed on the screen of the TV monitor 12. Reference numerals in the figure are the same as those in FIG. 3, and 28 to 30 indicate certain straight lines.

【0033】この図4に示すTVモニター12の画面上
のスポットの生画像は、図2をI軸の正方向から眺めた
場合の画像例である。対物レンズの傾きが良好に調整さ
れ、かつ、歪みがない場合のスポット(正常なスポッ
ト)は、この図4に示すように、1次リング24が、あ
る軸(この図4ではx軸)に対してほぼ対称な形状をな
している。
The raw image of the spot on the screen of the TV monitor 12 shown in FIG. 4 is an image example when FIG. 2 is viewed from the positive direction of the I axis. As shown in FIG. 4, the spot (normal spot) in the case where the inclination of the objective lens is well adjusted and there is no distortion is that the primary ring 24 is aligned with a certain axis (x axis in this FIG. 4). The shape is almost symmetrical to that.

【0034】したがって、2点鎖線で示す直線28上で
の強度分布は、先の図3と同様になり、1次リング24
のピークは、必ずペアで現われる。他方、別の2点鎖線
で示す直線29上での強度分布は、次の図5に示すよう
になる。
Therefore, the intensity distribution on the straight line 28 indicated by the chain double-dashed line is the same as that shown in FIG.
The peak of always appears in pairs. On the other hand, the intensity distribution on the straight line 29 shown by another two-dot chain line is as shown in FIG.

【0035】図5は、図4に2点鎖線で示した直線29
上での強度分布について、その一例を示す図である。図
の横軸は図4の直線29であり、縦軸はスポットの強度
を示す。
FIG. 5 shows a straight line 29 indicated by a chain double-dashed line in FIG.
It is a figure which shows the example about the intensity distribution above. The horizontal axis of the figure is the straight line 29 of FIG. 4, and the vertical axis shows the intensity of the spot.

【0036】この図5に示すように、図4に2点鎖線で
示した直線29上では、1次リングのピークは、1つも
現われない。なお、2点鎖線の選択の仕方によっては、
この図5と異なる場合があり、例えば、図4の直線30
の場合には、ピークが1つ現われる。
As shown in FIG. 5, no peak of the primary ring appears on the straight line 29 shown by the chain double-dashed line in FIG. In addition, depending on how to select the two-dot chain line,
This may be different from FIG. 5, for example, the straight line 30 in FIG.
In the case of, one peak appears.

【0037】この発明では、この点に着目して、図4に
示したような点Pを通る直線を複数本だけ想定し、各直
線上での強度分布に現われる1次リングのピークの個数
を考察して、ピークの個数によりスポットの正常異常を
検査する。この考察の結果によれば、正常なスポットの
場合、図4のような直線L(ここではy軸と一致する直
線)をとると、直線Lの左側と右側とで、1次リングの
ピークの個数がほぼ一致することが分る。
In the present invention, paying attention to this point, only a plurality of straight lines passing through the point P as shown in FIG. 4 are assumed, and the number of peaks of the primary ring appearing in the intensity distribution on each straight line is determined. In consideration, the number of peaks is used to inspect the spot for abnormalities. According to the result of this consideration, in the case of a normal spot, when the straight line L (here, the straight line that coincides with the y axis) is taken, the left and right sides of the straight line L show the peak of the primary ring. It can be seen that the numbers match.

【0038】この現象は、直線Lをx軸とした場合も、
同様である。他方、傾き調整が不十分だったり、歪みが
生じていたりするスポット(異常なスポット)において
は、非対称あるいは不規則な形状の1次リングが生じ
る。
This phenomenon occurs even when the straight line L is the x-axis,
It is the same. On the other hand, a primary ring having an asymmetric or irregular shape is generated at a spot (abnormal spot) where tilt adjustment is insufficient or distortion is generated.

【0039】図6は、異常なスポットの一例であり、1
次リングが非対称の場合を示す図である。図における符
号は図4と同様であり、また、31と32は1次リン
グ、33と34はそれぞれある直線を示す。図7は、同
じく異常なスポットの各一例であり、(1) と(2) はそれ
ぞれ1次リングが不規則の場合を示す図である。図にお
ける符号は図6と同様であり、35〜37と40〜41
は1次リングを示し、38〜39と42はそれぞれある
直線を示す。
FIG. 6 shows an example of an abnormal spot.
It is a figure which shows the case where the following ring is asymmetric. Reference numerals in the figure are the same as those in FIG. 4, 31 and 32 are primary rings, and 33 and 34 are straight lines. FIG. 7 is also an example of each abnormal spot, and (1) and (2) are diagrams showing the case where the primary ring is irregular. The reference numerals in the figure are the same as those in FIG. 6, and are 35 to 37 and 40 to 41.
Indicates a primary ring, and 38 to 39 and 42 indicate straight lines.

【0040】図6の場合には、直線L(ここではy軸と
一致する直線)をとると、直線Lの左側と右側とで、1
次リングのピークの個数にアンバランスが生じている。
図7(1) と(2) の場合についても、同様である。
In the case of FIG. 6, if a straight line L (here, a straight line that coincides with the y-axis) is taken, the left side and the right side of the straight line L are 1
There is an imbalance in the number of peaks in the next ring.
The same applies to the cases of FIGS. 7 (1) and 7 (2).

【0041】ここで、ある直線Lの右側にある1次リン
グのピークの個数をa、左側にある1次リングのピーク
の個数をbとすれば、値(a−b)または値(a/b)
が、所定の値Hを超えた場合に、異常なスポットであ
る、と判断する。このような判断は、次の〜の手順
で行う。
Here, when the number of peaks of the primary ring on the right side of a certain straight line L is a and the number of peaks of the primary ring on the left side is b, the value (ab) or the value (a / b)
When it exceeds a predetermined value H, it is determined to be an abnormal spot. Such a judgment is made by the following steps.

【0042】 図1のフレームメモリ11上にスポッ
ト画像を取り込む。 強度I(x,y)がピークとなる点P(xp,y
p)を求める。
A spot image is captured on the frame memory 11 of FIG. Point P (xp, y) at which intensity I (x, y) reaches a peak
p) is calculated.

【0043】 点P(xp,yp)を通る複数の直線
lnを設定し、各直線ln上での強度分布In(x,
y)を求める。ここで、直線lnは、y=(tan θn)
×(x−xp)+ypで表わすことができ、θnは直線
lnとx軸とのなす角である。
A plurality of straight lines ln passing through the point P (xp, yp) are set, and the intensity distribution In (x,
y) is calculated. Here, the straight line ln is y = (tan θn)
It can be represented by x (x−xp) + yp, and θn is an angle formed by the straight line ln and the x axis.

【0044】 先ので求めた強度分布In(x,
y)における1次リングのピークを検出する。 (a−b)>H、または(b−a)>Hであれば、
スポットを異常と判断する。あるいは、(a/b)>
H、または(b/a)>Hのとき、スポットを異常と判
断してもよい。
The intensity distribution In (x,
Detect the peak of the primary ring in y). If (ab)> H or (ba)> H,
Judge the spot as abnormal. Alternatively, (a / b)>
When H or (b / a)> H, the spot may be determined to be abnormal.

【0045】 先の以外のスポットは、正常と判断
する。 以上の手順〜の内、〜は、請求項1から請求項
9の発明と基本的に共通する手順であり、手順とが
異なる。
The spots other than the above spots are judged to be normal. Among the above procedures (1) to (5), the procedures (1) to (9) are basically common to the inventions of claims 1 to 9, and the procedures are different.

【0046】図8は、この発明のピックアップ検査装置
において、スポット検査時の基本的な処理の流れを示す
フローチャートである。図において、#1〜#4はステ
ップを示す。
FIG. 8 is a flow chart showing the flow of basic processing at the time of spot inspection in the pickup inspection device of the present invention. In the figure, # 1 to # 4 indicate steps.

【0047】ステップ#1で、図1のフレームメモリ1
1上にスポット画像を取り込む。次のステップ#2で、
強度I(x,y)がピークとなる点P(xp,yp)を
求める。
In step # 1, the frame memory 1 of FIG.
Capture the spot image on 1. In the next step # 2,
A point P (xp, yp) at which the intensity I (x, y) reaches a peak is obtained.

【0048】ステップ#3で、点P(xp,yp)を通
る複数の直線lnを設定し、各直線ln上での強度分布
In(x,y)を求める。ステップ#4へ進み、先のス
テップ#3で求めた強度分布In(x,y)における1
次リングのピークを検出する。
In step # 3, a plurality of straight lines ln passing through the point P (xp, yp) are set, and the intensity distribution In (x, y) on each straight line ln is obtained. Proceeding to step # 4, 1 in the intensity distribution In (x, y) obtained in the previous step # 3
Detect the peak of the next ring.

【0049】以上のステップ#1〜#4の処理は、先に
述べた手順〜の処理であり、この発明のピックアッ
プ検査装置に共通の処理であるが、ステップ#4におけ
る1次リングのピークの検出の処理は、請求項1から請
求項4の発明と、請求項5から請求項9の発明とで、多
少異なる。以下の説明では、ステップ#1〜#4の処理
を、基本的な処理と呼ぶ。
The processes of steps # 1 to # 4 described above are the processes of steps 1 to 4 described above, which are common to the pickup inspection apparatus of the present invention, but the peak of the primary ring in step # 4 The detection processing is slightly different between the inventions of claims 1 to 4 and the inventions of claims 5 to 9. In the following description, the processes of steps # 1 to # 4 are called basic processes.

【0050】この実施例(請求項1の発明)では、その
後、先に述べた手順との処理を行う。図9は、この
発明のピックアップ検査装置において、スポット検査時
の主要な処理の流れを示すフローチャートである。図に
おいて、#11〜#14はステップを示す。
In this embodiment (the invention of claim 1), thereafter, the processing according to the procedure described above is performed. FIG. 9 is a flow chart showing the main processing flow during spot inspection in the pickup inspection apparatus of the present invention. In the figure, # 11 to # 14 indicate steps.

【0051】ステップ#11で、先の図8のフローの処
理を行い、強度分布In(x,y)における1次リング
のピークを検出する。ステップ#12で、(a−b)>
H、または(b−a)>Hであるかどうかチェックす
る。
In step # 11, the processing of the flow shown in FIG. 8 is performed to detect the peak of the primary ring in the intensity distribution In (x, y). In step # 12, (ab)>
Check if H, or (ba)> H.

【0052】もし、(a−b)>H、または(b−a)
>Hであれば、次のステップ#13で、スポットを異常
と判断して、この図9のフローを終了する。また、(a
−b)>H、または(b−a)>Hでなければ、ステッ
プ#14へ進み、スポットは正常と判断して、この図9
のフローを終了する。
If (ab)> H, or (ba)
If> H, the spot is judged to be abnormal in the next step # 13, and the flow of FIG. 9 is terminated. Also, (a
-B)> H or (b-a)> H, the process proceeds to step # 14, the spot is judged to be normal, and this spot in FIG.
Ends the flow.

【0053】なお、先の図8のフローのステップ#4で
行う処理、すなわち、強度分布In(x,y)における
1次リングのピークを検出する処理は、従来から公知で
あるが、ここで、そのフローを示す。図10は、1次リ
ングのピーク検出時の主要な処理の流れを示すフローチ
ャートである。図において、#21〜#23はステップ
を示す。
The process performed in step # 4 of the flow shown in FIG. 8, that is, the process for detecting the peak of the primary ring in the intensity distribution In (x, y) is well known in the art. , Shows the flow. FIG. 10 is a flowchart showing the flow of the main processing when the peak of the primary ring is detected. In the figure, # 21 to # 23 indicate steps.

【0054】ステップ#21で、直線L上での強度分布
In(x,y)を平滑化する。ステップ#22で、点P
(xp,yp)からx座標の正の方向の極値を求め、最
大極値を与える点を1次リングのピークとする。
In step # 21, the intensity distribution In (x, y) on the straight line L is smoothed. In step # 22, point P
The extreme value in the positive direction of the x coordinate is obtained from (xp, yp), and the point that gives the maximum extreme value is the peak of the primary ring.

【0055】ステップ#23で、点P(xp,yp)か
らx座標の負の方向の極値を求め、最大極値を与える点
を1次リングのピークとする。以上のステップ#21〜
#23の処理によって、強度分布In(x,y)におけ
る1次リングのピークが検出される。
In step # 23, the extreme value in the negative direction of the x coordinate is obtained from the point P (xp, yp), and the point that gives the maximum extreme value is the peak of the primary ring. Step # 21-
By the process of # 23, the peak of the primary ring in the intensity distribution In (x, y) is detected.

【0056】[0056]

【実施例2】次に、第2の実施例を説明する。この実施
例は、請求項2の発明に対応している。先の第1の実施
例では、ある1本の直線Lについて、その右側と左側と
の1次リングのピークの個数a,bに注目し、(a−
b)>H、または(b−a)>Hであれば、スポットを
異常と判断した。あるいは、(a/b)>H、または
(b/a)>Hのときに、スポットを異常と判断した。
Second Embodiment Next, a second embodiment will be described. This embodiment corresponds to the invention of claim 2. In the first embodiment, attention is paid to the numbers a and b of peaks of the primary rings on the right side and the left side of a certain straight line L, and (a-
If b)> H or (ba)> H, the spot was judged to be abnormal. Alternatively, when (a / b)> H or (b / a)> H, the spot was judged to be abnormal.

【0057】しかし、このように、ある1本の直線Lに
ついてだけの判断では、直線Lの選択によって異なる場
合がある。例えば、図6の場合、y軸を直線Lとする
と、a<bであり、異常なスポットと判断されるが、x
軸を直線Lとすると、a=bであり、正常なスポットと
誤って判断される。
However, in this way, the judgment for only one straight line L may differ depending on the selection of the straight line L. For example, in the case of FIG. 6, assuming that the y-axis is the straight line L, a <b, and it is determined that the spot is abnormal, but x
When the axis is a straight line L, a = b, which is erroneously determined as a normal spot.

【0058】この第2の実施例では、このような不都合
を解消するために、直線Lとして、複数を選択する。こ
のように、複数の直線Lを選択(設定)すれば、先のよ
うな誤った判断を行う恐れが少なくなる(請求項2の発
明)。
In the second embodiment, in order to eliminate such inconvenience, a plurality of straight lines L are selected. In this way, when a plurality of straight lines L are selected (set), there is less risk of making an erroneous determination as described above (the invention of claim 2).

【0059】この場合の判断方法としては、ある1本の
直線Lについて異常と判断された場合に、残りの直線L
については正常と判断されても、スポットとしては異常
と判断してもよいし、ある一定本数以上の直線について
異常と判断されたときのみ、スポットとして異常と判断
するようにしてもよい。このような判断基準は、スポッ
トに要求される品質の厳しさや測定の精度に応じて、任
意に設定することができる。
In this case, if one straight line L is determined to be abnormal, the remaining straight line L is determined.
May be determined to be normal or may be determined to be abnormal as a spot, or may be determined to be abnormal as a spot only when it is determined to be abnormal for a certain number of straight lines or more. Such criteria can be arbitrarily set according to the strictness of quality required for the spot and the accuracy of measurement.

【0060】図11は、この発明の第2の実施例につい
て、スポット検査時の主要な処理の流れを示すフローチ
ャートである。図において、#31〜#37はステップ
を示す。
FIG. 11 is a flow chart showing the main processing flow at the time of spot inspection in the second embodiment of the present invention. In the figure, # 31 to # 37 indicate steps.

【0061】ステップ#31で、先の図8のフローの処
理を行い、強度分布In(x,y)における1次リング
のピークを検出する。次のステップ#32で、i=1に
する。ステップ#33へ進み、i≦nであるかどうかチ
ェックする。
In step # 31, the processing of the flow shown in FIG. 8 is performed to detect the peak of the primary ring in the intensity distribution In (x, y). In the next step # 32, i = 1 is set. The process proceeds to step # 33 to check whether i ≦ n.

【0062】もし、i≦nでなければ、ステップ#34
で、スポットは正常と判断して、この図11のフローを
終了する。また、i≦nであれば、ステップ#35へ進
み、(ai−bi)>H、または(bi−ai)>Hで
あるかどうかチェックする。
If i≤n, step # 34
Then, the spot is judged to be normal, and the flow of FIG. 11 is terminated. If i ≦ n, the process proceeds to step # 35 to check whether (ai-bi)> H or (bi-ai)> H.

【0063】もし、(ai−bi)>H、または(bi
−ai)>Hでなければ、ステップ#36で、i=i+
1にして、再び先のステップ#33へ戻り、以下同様の
処理を行う。また、ステップ#35で判断した結果、
(ai−bi)>H、または(bi−ai)>Hであれ
ば、ステップ#37へ進み、スポットは異常と判断し
て、この図11のフローを終了する。
If (ai-bi)> H, or (bi
-Ai)> H, i = i + in step # 36.
The value is set to 1, the process returns to the previous step # 33 again, and the same processing is performed thereafter. In addition, as a result of the judgment in step # 35,
If (ai-bi)> H or (bi-ai)> H, the process proceeds to step # 37, the spot is judged to be abnormal, and the flow of FIG. 11 is terminated.

【0064】以上のステップ#31〜#37の処理によ
って、複数本の直線Liについての右側と左側の1次リ
ングのピークの個数が、所定値Hと比較されるので、先
の第1の実施例に比べて、判断の精度が向上される。な
お、ステップ#35では、(ai−bi)>H、または
(bi−ai)>Hについて判断したが、代りに、(a
i/bi)>H、または(bi/ai)>Hについて判
断することもできる。
By the processes of steps # 31 to # 37, the number of peaks of the right and left primary rings for the plurality of straight lines Li is compared with the predetermined value H. The accuracy of judgment is improved as compared with the example. In step # 35, it is determined that (ai-bi)> H or (bi-ai)> H, but instead of (a
It is also possible to judge whether i / bi)> H or (bi / ai)> H.

【0065】[0065]

【実施例3】次に、第3の実施例を説明する。この実施
例は、請求項3の発明に対応している。先の第2の実施
例では、複数本の直線Liについて、その右側と左側と
の1次リングのピークの個数ai,biに注目し、(a
i−bi)>H、または(bi−ai)>Hであれば、
スポットを異常と判断した。
Third Embodiment Next, a third embodiment will be described. This embodiment corresponds to the invention of claim 3. In the second embodiment, attention is paid to the number of peaks ai and bi of the primary rings on the right side and the left side of a plurality of straight lines Li, and (a
If i-bi)> H or (bi-ai)> H,
The spot was judged abnormal.

【0066】この第3の実施例でも、複数本の直線Li
について、その右側と左側との1次リングのピークの個
数ai,biに注目する点は共通であり、判断基準も類
似している。具体的には、1次リングのピークの個数の
アンバランスを、全n本の直線Liに関する平均値で評
価する。
Also in this third embodiment, a plurality of straight lines Li
Regarding the number of peaks ai and bi of the primary rings on the right side and the left side are common, and the determination criteria are also similar. Specifically, the imbalance in the number of peaks of the primary ring is evaluated by the average value of all n straight lines Li.

【0067】この評価方法によれば、ある直線Lについ
てはアンバランスでも、他の直線Lについてはバランス
がとれている場合、全体の平均で良否を判断するので、
先の第2の実施例の評価方法よりも、ノイズに強い、と
いう利点がある。先の第1の実施例で述べた手順では、
とをn回繰り返えし、n回の平均値について、手順
とを行うことに相当する。
According to this evaluation method, if one straight line L is unbalanced but the other straight line L is balanced, the quality of the whole is judged.
There is an advantage that it is more resistant to noise than the evaluation method of the second embodiment. In the procedure described in the first embodiment above,
It is equivalent to repeating and with n times and performing the procedure with respect to the average value of n times.

【0068】図12は、この発明の第3の実施例につい
て、スポット検査時の主要な処理の流れを示すフローチ
ャートである。図において、#41〜#49はステップ
を示す。
FIG. 12 is a flow chart showing the main processing flow at the time of spot inspection in the third embodiment of the present invention. In the figure, # 41 to # 49 indicate steps.

【0069】ステップ#41で、フレームメモリ11上
にスポット画像を取り込む。次のステップ#42で、強
度I(x,y)がピークとなる点P(xp,yp)を求
める。
In step # 41, the spot image is captured on the frame memory 11. At the next step # 42, a point P (xp, yp) at which the intensity I (x, y) reaches a peak is obtained.

【0070】ステップ#43で、i=0,S=0にす
る。ステップ#44で、S=S+(ai−bi)にす
る。次のステップ#45へ進み、i≦nであるかどうか
チェックする。
At step # 43, i = 0 and S = 0 are set. In step # 44, S = S + (ai-bi) is set. Proceed to the next Step # 45, and check whether i ≦ n.

【0071】もし、i≦nであれば、ステップ#46へ
進み、i=i+1にして、再び先のステップ#44へ戻
り、以下同様の処理を繰り返えす。また、ステップ#4
5で判断した結果、i≦nでなければ、ステップ#47
へ進む。
If i≤n, the process proceeds to step # 46, i = i + 1 is set, the process returns to the previous step # 44 again, and the same processing is repeated. Also, step # 4
If i ≦ n as a result of the determination in step 5, step # 47
Go to.

【0072】ステップ#47では、(S/n)>H、ま
たは(−S/n)>Hであるかどうかチェックする。も
し、(S/n)>H、または(−S/n)>Hでなけれ
ば、スポットは正常と判断して、この図12のフローを
終了する。
At step # 47, it is checked whether (S / n)> H or (-S / n)> H. If (S / n)> H or (-S / n)> H, the spot is judged to be normal and the flow of FIG. 12 is terminated.

【0073】また、ステップ#47で判断した結果、
(S/n)>H、または(−S/n)>Hであれば、ス
テップ#49へ進み、スポットは異常と判断して、この
図12のフローを終了する。以上のステップ#41〜#
49の処理によって、1次リングのピークの個数のアン
バランスが、全n本の直線Liに関する平均値で評価さ
れるので、ノイズに強い判断が実現される。
Further, as a result of the judgment in step # 47,
If (S / n)> H or (-S / n)> H, the process proceeds to step # 49, the spot is judged to be abnormal, and the flow of FIG. 12 is terminated. Steps # 41- # above
By the processing of 49, the imbalance in the number of peaks of the primary ring is evaluated by the average value of all n straight lines Li, so that a strong judgment on noise is realized.

【0074】[0074]

【実施例4】次に、第4の実施例を説明する。この実施
例は、請求項4の発明に対応している。先に説明した第
1から第3の実施例では、直線の両側に存在する1次リ
ングのピークの個数のアンバランスによって、スポット
の正常異常を判断した。
Fourth Embodiment Next, a fourth embodiment will be described. This embodiment corresponds to the invention of claim 4. In the above-described first to third examples, the normality / abnormality of the spot was judged by the imbalance in the number of peaks of the primary ring existing on both sides of the straight line.

【0075】この第4から第6の実施例では、領域の境
界線を単一の直線でなく、2本の直線で分割される4つ
の領域における1次リングのピークの個数によって、ス
ポットの正常異常を判断するようにしている。具体的に
いえば、点P(xp,yp)で交わる2直線の組合せを
Mとすれば、4つの領域に存在する1次リングのピーク
の個数を左廻りにa,b,c,dとするとき、値{(a
+c)−(b+d)}または値{(a+c)/(b+
d)}が、所定の値Hを超えたとき、異常なスポットと
判断することによって、より正確にスポットの異常が判
定できるようにしている。
In the fourth to sixth embodiments, the boundary line of the region is not a single straight line, but the number of peaks of the primary ring in four regions divided by two straight lines makes the spot normal. I try to judge abnormalities. Specifically, if the combination of two straight lines intersecting at the point P (xp, yp) is M, the number of peaks of the primary ring existing in the four regions is counterclockwise a, b, c, d. Value {(a
+ C)-(b + d)} or the value {(a + c) / (b +
d)} exceeds a predetermined value H, it is determined that the spot is abnormal, so that the abnormality of the spot can be more accurately determined.

【0076】理解を容易にするために、2直線Mをx軸
とy軸とすれば、先の図7(2) に示したような不規則に
歪んだスポットの場合に、特に顕著な効果が得られる。
この第4の実施例は、2直線Mによる4つの領域に分割
する点を除けば、先の第1の実施例に相当する場合であ
る。
In order to facilitate understanding, if the two straight lines M are the x-axis and the y-axis, a particularly remarkable effect is obtained in the case of the irregularly distorted spot as shown in FIG. 7 (2). Is obtained.
The fourth embodiment is a case corresponding to the first embodiment except that it is divided into four regions by the two straight lines M.

【0077】図13は、この発明の第4の実施例につい
て、スポット検査時の主要な処理の流れを示すフローチ
ャートである。図において、#51〜#54はステップ
を示す。
FIG. 13 is a flow chart showing the main processing flow at the time of spot inspection in the fourth embodiment of the present invention. In the figure, # 51 to # 54 indicate steps.

【0078】この図13のフローは、第1の実施例で説
明した先の図9のフローの処理と基本的に同様であり、
ステップ#12の判断の代りに、ステップ#52で、
(a+c)−(b+d)>H、または(b+d)−(a
+c)>Hであるかどうかチェックする点が異なってい
る。
The flow of FIG. 13 is basically the same as the process of the flow of FIG. 9 described in the first embodiment,
Instead of the judgment in step # 12, in step # 52,
(A + c)-(b + d)> H, or (b + d)-(a
The difference is that whether or not + c)> H is checked.

【0079】[0079]

【実施例5】次に、第5の実施例を説明する。この実施
例は、請求項5の発明に対応している。この第5の実施
例は、2直線Mによる4つの領域に分割する点を除け
ば、先の第2の実施例に相当する場合である。
Fifth Embodiment Next, a fifth embodiment will be described. This embodiment corresponds to the invention of claim 5. The fifth embodiment is a case corresponding to the second embodiment described above except that it is divided into four regions by two straight lines M.

【0080】この第5の実施例では、交わった2直線M
も、先の第2の実施例と同様に、1通りではなく、複数
の場合を想定している。したがって、先の第4の実施例
よりも、さらに正確にスポットの異常を判断することが
できる。なお、フローチャートも、図11のステップ#
35の判断の代りに、先の図13のステップ#52と同
様に、(a+c)−(b+d)>H、または(b+d)
−(a+c)>Hであるかどうかチェックればよい。
In this fifth embodiment, two intersecting straight lines M
Similarly to the second embodiment, a plurality of cases are assumed instead of one. Therefore, it is possible to more accurately determine the spot abnormality than in the fourth embodiment. Note that the flow chart also includes steps # in FIG.
Instead of the determination of 35, (a + c)-(b + d)> H, or (b + d) as in step # 52 of FIG. 13 above.
It is only necessary to check whether − (a + c)> H.

【0081】[0081]

【実施例6】次に、第6の実施例を説明する。この実施
例は、請求項6の発明に対応している。この第6の実施
例も、2直線Mによる4つの領域に分割する点を除け
ば、先の第3の実施例に相当する場合である。
Sixth Embodiment Next, a sixth embodiment will be described. This embodiment corresponds to the invention of claim 6. The sixth embodiment is also a case corresponding to the third embodiment described above, except that it is divided into four regions by the two straight lines M.

【0082】この第6の実施例でも、先の第3の実施例
と類似の判断基準として、1次リングのピークの個数の
アンバランスを、全n本の直線Mに関する平均値で評価
するようにしている。したがって、先の第5の実施例よ
りも、ノイズに強い評価が可能になる。なお、フローチ
ャートも、図12のステップ#47の判断基準を変更す
るだけでよい。
Also in this sixth embodiment, the imbalance in the number of peaks of the primary ring is evaluated by the average value of all the n straight lines M as a criterion similar to the above third embodiment. I have to. Therefore, it is possible to make a stronger evaluation on noise than the fifth embodiment. It should be noted that in the flowchart as well, it is only necessary to change the judgment criterion in step # 47 of FIG.

【0083】[0083]

【実施例7】次に、第7の実施例を説明する。この実施
例は、請求項7と請求項8の発明に対応している。以上
の第1から第6の実施例では、評価のための判断式とし
て、(a−b)や(a+c)−(b+d)等を採用し
た。
Seventh Embodiment Next, a seventh embodiment will be described. This embodiment corresponds to the inventions of claims 7 and 8. In the above-described first to sixth embodiments, (a-b), (a + c)-(b + d), or the like is adopted as the judgment formula for evaluation.

【0084】しかし、実際上は、スポット形状の傾向の
違いや、異常とみなす判断基準の違い、測定精度等によ
って、異なる判断式を採用する方が良い場合が存在する
可能性がある。このような場合のために、1次リングの
ピーク値a,b(さらに、c,d)の各値を別個に計数
しておく手段を設けておく。
However, in practice, there may be a case where it is better to adopt different judgment formulas depending on the difference in the tendency of the spot shape, the difference in the judgment standard to be regarded as abnormal, the measurement accuracy and the like. For such a case, means for separately counting the respective peak values a and b (and further c and d) of the primary ring is provided.

【0085】このように、各種の値a,b,c,d等を
計数する手段を備えることにより、検査装置としての用
途を広くすることが可能になる。図14は、この発明の
第7の実施例について、スポット検査時の主要な処理の
流れを示すフローチャートである。図において、#61
〜#63はステップを示す。
As described above, by providing the means for counting various values a, b, c, d, etc., it becomes possible to widen the use as an inspection device. FIG. 14 is a flow chart showing the main processing flow at the time of spot inspection in the seventh embodiment of the present invention. In the figure, # 61
~ # 63 indicate steps.

【0086】ステップ#61で、先の図8のフローの処
理を行い、強度分布In(x,y)における1次リング
のピークを検出する。次のステップ#62で、値ai,
biを計数し、ステップ#63へ進み、次の処理を行
う。
In step # 61, the processing of the flow shown in FIG. 8 is performed to detect the peak of the primary ring in the intensity distribution In (x, y). In the next step # 62, the value ai,
Bi is counted, and the process proceeds to step # 63 to perform the next process.

【0087】なお、請求項8の発明では、ステップ#6
2で、値ai,biだけでなく、値ci,diも計数す
る。以上のステップ#61〜#63の処理に得られる計
数値により、必要に応じてスポットの他の状態に関する
検査が可能になる。
In the invention of claim 8, step # 6
At 2, not only the values ai, bi but also the values ci, di are counted. The count value obtained in the processing of steps # 61 to # 63 described above enables the inspection regarding other states of the spot as necessary.

【0088】[0088]

【実施例8】次に、第8の実施例を説明する。この実施
例は、請求項9の発明に対応しているが、請求項1から
請求項8の発明にも関連する。以上に説明した第1から
第7の実施例は、常に、スポットの強度がピークとなる
点Pを中心にして検査する場合である。
Eighth Embodiment Next, an eighth embodiment will be described. This embodiment corresponds to the invention of claim 9, but also relates to the inventions of claims 1 to 8. The first to seventh embodiments described above are the cases where the inspection is always performed with the point P at which the intensity of the spot has a peak as the center.

【0089】しかし、スポットの強度が全体的に強く、
カメラからの出力がピーク付近で飽和している場合に
は、強度がピークとなる点Pを検知することができな
い。図15は、カメラからの出力がピーク付近で飽和し
ている場合のスポットの強度分布の一例を示す図であ
る。図の43は飽和部分を示す。
However, the intensity of the spot is strong as a whole,
When the output from the camera is saturated near the peak, the point P where the intensity reaches the peak cannot be detected. FIG. 15 is a diagram showing an example of the intensity distribution of the spot when the output from the camera is saturated near the peak. Reference numeral 43 in the figure indicates a saturated portion.

【0090】この図15に示すように、スポットの強度
が全体的に強く、カメラからの出力がピーク付近で飽和
している場合には、点Pにおける強度I(x,y)は、
しきい値Ith以上である点の強度分布の重心G(xg,
yg)で代用する。この場合の強度分布I(x,y)の
重心G(xg,yg)は、次に示す式(1)と(2) で定義
される。
As shown in FIG. 15, when the intensity of the spot is high as a whole and the output from the camera is saturated near the peak, the intensity I (x, y) at the point P is
The center of gravity G (xg, x) of the intensity distribution at a point equal to or greater than the threshold value Ith
Substitute with yg). The center of gravity G (xg, yg) of the intensity distribution I (x, y) in this case is defined by the following equations (1) and (2).

【0091】[0091]

【数5】 [Equation 5]

【0092】ここで、総和は、I(i,j)≧Ith以上
である全ての(i,j)について演算する。
Here, the sum is calculated for all (i, j) where I (i, j) ≧ Ith.

【0093】このような演算によって得られるの重心G
(xg,yg)を用いれば、ピーク付近の飽和を気にす
る必要なしに、スポットの強度を上げて、その正常/異
常の判断を行うことができる。また、このように、全体
の強度を上げた場合には、リング部分の強度も上がるの
で、1次リングのピークが検出し易くなる、という利点
も生じる。
The center of gravity G of obtained by such calculation
If (xg, yg) is used, the intensity of the spot can be increased and the normality / abnormality can be determined without having to worry about saturation near the peak. Further, when the strength of the entire ring is increased as described above, the strength of the ring portion is also increased, so that there is an advantage that the peak of the primary ring is easily detected.

【0094】この第8の実施例では、先の説明した各実
施例で、点P(x,y)を、先の式(1) と(2) に示した
点G(xg,yg)に置き換えればよい。したがって、
請求項1から請求項8の各発明に適用することができ
る。
In the eighth embodiment, the point P (x, y) in each of the above-described embodiments is replaced with the point G (xg, yg) shown in the equations (1) and (2). You can replace it. Therefore,
The invention can be applied to each invention of claims 1 to 8.

【0095】[0095]

【発明の効果】請求項1の発明は、各強度分布I(x,
y)における1次リングのピークを検出する手段と、点
P(xp,yp)を通る直線Lによって分割される撮像
素子上の2つの領域に存在する1次リングのピークの個
数を、それぞれa,bとするとき、値(a−b)または
値(a/b)と、所定の値Hとの大小を比較する手段、
とを有している。したがって、簡単な計算で、異常なス
ポットを検知することができる。
According to the invention of claim 1, each intensity distribution I (x,
The number of primary ring peaks existing in two regions on the image sensor divided by the means for detecting the primary ring peak in y) and the straight line L passing through the point P (xp, yp) is a , B, means for comparing the value (ab) or the value (a / b) with a predetermined value H,
And have. Therefore, an abnormal spot can be detected by a simple calculation.

【0096】請求項2の発明は、点P(xp,yp)を
通る直線Lを複数個(L1,L2,……,Ln)設定す
る手段と、前記各々の直線Liによって分割される撮像
素子上の2つの領域に存在する1次リングのピークの個
数を、それぞれai,biとするとき、各Liに関し
て、値(ai−bi)または値(ai/bi)と、所定
の値Hとの大小を比較する手段、とを有している。した
がって、簡単な計算で、より正確に異常なスポットを検
知することができる。
According to a second aspect of the present invention, means for setting a plurality of straight lines L (L1, L2, ..., Ln) passing through the point P (xp, yp) and an image pickup device divided by each of the straight lines Li. When the number of peaks of the primary ring existing in the above two regions is ai and bi, respectively, for each Li, the value (ai-bi) or the value (ai / bi) and the predetermined value H And means for comparing large and small. Therefore, an abnormal spot can be detected more accurately by a simple calculation.

【0097】請求項3の発明は、点P(xp,yp)を
通る直線Lを複数個(L1,L2,……,Ln)設定す
る手段と、前記各々の直線Liによって分割される撮像
素子上の2つの領域に存在する1次リングのピークの個
数を、それぞれai,biとするとき、
According to a third aspect of the present invention, a means for setting a plurality of straight lines L (L1, L2, ..., Ln) passing through the point P (xp, yp) and an image pickup device divided by each of the straight lines Li. When the number of peaks of the primary ring existing in the above two regions is ai and bi respectively,

【数6】 と、所定の値Hとの大小を比較する手段、とを有してい
る。したがって、簡単な計算で、より正確に異常なスポ
ットを検知することができる。
[Equation 6] And means for comparing the magnitude with a predetermined value H. Therefore, an abnormal spot can be detected more accurately by a simple calculation.

【0098】請求項4の発明は、点P(xp,yp)で
交わる2直線によって分割される撮像素子上の4つの領
域に存在する1次リングのピークの個数を左廻りにa,
b,c,dとするとき、値{(a+c)−(b+d)}
または値{(a+c)/(b+d)}と、所定の値Hと
の大小を比較する手段、を有している。したがって、簡
単な計算で、より正確に異常なスポットを検知すること
ができる上、特に、不規則に歪んだスポットの検出に有
効である。
According to the fourth aspect of the present invention, the number of peaks of the primary ring existing in four regions on the image pickup device divided by two straight lines intersecting at the point P (xp, yp) is a, counterclockwise.
If b, c, d, then the value {(a + c)-(b + d)}
Alternatively, it has means for comparing the value {(a + c) / (b + d)} with a predetermined value H. Therefore, it is possible to detect an abnormal spot more accurately by a simple calculation, and it is particularly effective for detecting an irregularly distorted spot.

【0099】請求項5の発明では、点P(xp,yp)
で交わる2直線の組Mを複数個(M1,M2,……,M
n)設定する手段と、前記各々の直線Miによって分割
される撮像素子上の4つの領域に存在する1次リングの
ピークの個数を左廻りにai,bi,ci,diとする
とき、各Miに関して、値{(ai+ci)−(bi+
di)}または値{(ai+ci)/(bi+di)}
と、所定の値Hとの大小を比較する手段、とを有してい
る。したがって、簡単な計算で、より正確に異常なスポ
ットを検知することができる上、特に、不規則に歪んだ
スポットの検出に有効である。
In the invention of claim 5, the point P (xp, yp)
A plurality of pairs M of two straight lines that intersect at (M1, M2, ..., M
n) When the number of peaks of the primary ring existing in the four regions on the image pickup device divided by the respective straight lines Mi is set to ai, bi, ci, di in the counterclockwise direction, each Mi is set. With respect to the value {(ai + ci)-(bi +
di)} or value {(ai + ci) / (bi + di)}
And means for comparing the magnitude with a predetermined value H. Therefore, it is possible to detect an abnormal spot more accurately by a simple calculation, and it is particularly effective for detecting an irregularly distorted spot.

【0100】請求項6の発明では、点P(xp,yp)
で交わる2直線の組Mを複数個(M1,M2,……,M
n)設定する手段と、前記各々の2直線の組Miによっ
て分割される撮像素子上の4つの領域に存在する1次リ
ングのピークの個数を左廻りにai,bi,ci,di
とするとき、
In the invention of claim 6, the point P (xp, yp)
A plurality of pairs M of two straight lines that intersect at (M1, M2, ..., M
n) means for setting and the number of peaks of the primary ring existing in the four regions on the image pickup device divided by the respective sets of the two straight lines Mi to the left, ai, bi, ci, di
When

【数7】 と、所定の値Hとの大小を比較する手段、とを有してい
る。したがって、簡単な計算で、より正確に異常なスポ
ットを検知することができる上、特に、不規則に歪んだ
スポットの検出に有効である。
[Equation 7] And means for comparing the magnitude with a predetermined value H. Therefore, it is possible to detect an abnormal spot more accurately by a simple calculation, and it is particularly effective for detecting an irregularly distorted spot.

【0101】請求項7の発明では、点P(xp,yp)
を通る直線Lによって分割される撮像素子上の2つの領
域に存在する1次リングのピークの個数を、それぞれ計
数する手段、を有している。したがって、多様な判断基
準に即して、スポットの異常を検知することができる。
In the invention of claim 7, the point P (xp, yp)
And a means for counting the number of peaks of the primary ring existing in two regions on the image pickup device divided by a straight line L passing through. Therefore, it is possible to detect the spot abnormality in accordance with various determination criteria.

【0102】請求項8の発明では、点P(xp,yp)
で交わる2直線によって分割される撮像素子上の4つの
領域に存在する1次リングのピークの個数を、それぞれ
計数する手段、を有している。したがって、多様な判断
基準に即して、スポットの異常を検知することができ
る。
In the eighth aspect of the invention, the point P (xp, yp)
And means for counting the number of peaks of the primary ring existing in the four regions on the image pickup device divided by the two straight lines intersecting with each other. Therefore, it is possible to detect the spot abnormality in accordance with various determination criteria.

【0103】請求項9の発明では、点P(xp,yp)
の代りに、強度I(x,y)がしきい値Ith以上である
点の強度分布の重心G(xg,yg)を用いて演算処理
を行う手段、を有している。したがって、ピーク付近の
飽和を気にする必要なしに、スポットの強度を上げて、
その正常/異常の判断を行うことができる。また、全体
の強度を上げた場合には、リング部分の強度も上がるの
で、1次リングのピークが検出し易くなる、という利点
も有する。
In the ninth aspect of the invention, the point P (xp, yp)
In place of the above, there is provided means for performing arithmetic processing using the center of gravity G (xg, yg) of the intensity distribution of the point where the intensity I (x, y) is equal to or greater than the threshold value Ith. Therefore, increase the intensity of the spot without worrying about saturation near the peak,
The normality / abnormality can be judged. Further, when the strength of the entire ring is increased, the strength of the ring portion is also increased, so that there is also an advantage that the peak of the primary ring is easily detected.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】この発明のピックアップ検査装置について、そ
の要部構成の一実施例を示す機能ブロック図である。
FIG. 1 is a functional block diagram showing an embodiment of the main configuration of a pickup inspection device according to the present invention.

【図2】対物レンズの傾きが良好に調整され、かつ、歪
みがない場合のスポットの強度分布の一例を示す図であ
る。
FIG. 2 is a diagram showing an example of the intensity distribution of a spot when the tilt of the objective lens is adjusted well and there is no distortion.

【図3】図2で、点Pを通り、x軸と角度θ1をなす直
線22上でのスポットの強度分布の一例を示す図であ
る。
FIG. 3 is a diagram showing an example of intensity distribution of spots on a straight line 22 that passes through a point P and forms an angle θ1 with the x-axis in FIG.

【図4】TVモニター12の画面上に表示されるスポッ
トの生画像の一例を示す図である。
FIG. 4 is a diagram showing an example of a raw image of a spot displayed on the screen of the TV monitor 12.

【図5】図4に2点鎖線で示した直線29上での強度分
布について、その一例を示す図である。
5 is a diagram showing an example of an intensity distribution on a straight line 29 indicated by a chain double-dashed line in FIG.

【図6】異常なスポットの一例であり、1次リングが非
対称の場合を示す図である。
FIG. 6 is an example of an abnormal spot, showing a case where the primary ring is asymmetric.

【図7】同じく異常なスポットの各一例であり、(1) と
(2) はそれぞれ1次リングが不規則の場合を示す図であ
る。
[Fig. 7] Similarly, each is an example of an abnormal spot.
(2) is a diagram showing a case where each primary ring is irregular.

【図8】この発明のピックアップ検査装置において、ス
ポット検査時の基本的な処理の流れを示すフローチャー
トである。
FIG. 8 is a flowchart showing a basic processing flow during spot inspection in the pickup inspection apparatus of the present invention.

【図9】この発明のピックアップ検査装置において、ス
ポット検査時の主要な処理の流れを示すフローチャート
である。
FIG. 9 is a flowchart showing a main processing flow during spot inspection in the pickup inspection device of the present invention.

【図10】1次リングのピーク検出時の主要な処理の流
れを示すフローチャートである。
FIG. 10 is a flowchart showing a main processing flow when a peak of the primary ring is detected.

【図11】この発明の第2の実施例について、スポット
検査時の主要な処理の流れを示すフローチャートであ
る。
FIG. 11 is a flowchart showing a main processing flow at the time of spot inspection in the second embodiment of the present invention.

【図12】この発明の第3の実施例について、スポット
検査時の主要な処理の流れを示すフローチャートであ
る。
FIG. 12 is a flowchart showing a main processing flow at the time of spot inspection according to the third embodiment of the present invention.

【図13】この発明の第4の実施例について、スポット
検査時の主要な処理の流れを示すフローチャートであ
る。
FIG. 13 is a flowchart showing a main processing flow at the time of spot inspection according to the fourth embodiment of the present invention.

【図14】この発明の第7の実施例について、スポット
検査時の主要な処理の流れを示すフローチャートであ
る。
FIG. 14 is a flowchart showing the main processing flow during spot inspection in the seventh embodiment of the present invention.

【図15】カメラからの出力がピーク付近で飽和してい
る場合のスポットの強度分布の一例を示す図である。
FIG. 15 is a diagram showing an example of the intensity distribution of spots when the output from the camera is saturated near the peak.

【図16】従来の光学ヘッド調整工程を行う調整装置に
ついて、その要部構成の一例を示す図である。
FIG. 16 is a diagram showing an example of a main part configuration of a conventional adjusting device for performing an optical head adjusting step.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 光ピックアップのハウジング 2 偏向プリズム 3 アクチュエータ 4 ネジ 5 対物レンズ 6 カバーガラス 7 顕微鏡 11 フレームメモリ 12 9と同様なTVモニター 13 コンピュータ 14 ディスプレイ 1 Optical pickup housing 2 Deflection prism 3 Actuator 4 Screw 5 Objective lens 6 Cover glass 7 Microscope 11 Frame memory 12 9 TV monitor similar to 13 Computer 14 Display

Claims (9)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 レンズからの出射光を撮像素子上に結像
させ、該素子上の点(x,y)における強度I(x,
y)を用いて演算処理を行うピックアップ検査装置にお
いて、 処理手段として、 前記強度I(x,y)がピークとなる点P(xp,y
p)を求める手段と、 前記点P(xp,yp)を通り、かつ、前記撮像素子上
の複数の直線の上における強度分布I(x,y)を求め
る手段と、 前記各強度分布I(x,y)における1次リングのピー
クを検出する手段と、 前記点P(xp,yp)を通る直線Lによって分割され
る撮像素子上の2つの領域に存在する1次リングのピー
クの個数を、それぞれa,bとするとき、 値(a−b)または値(a/b)と、所定の値Hとの大
小を比較する手段、とを備えたことを特徴とする光ピッ
クアップのスポット検査装置。
1. Intensity I (x, y) at a point (x, y) on the imaging device is formed by forming an image of light emitted from a lens on the imaging device.
In a pickup inspecting apparatus that performs calculation processing using y), as a processing means, a point P (xp, y) at which the intensity I (x, y) reaches a peak.
p), a means for obtaining an intensity distribution I (x, y) on a plurality of straight lines passing through the point P (xp, yp) and on the image sensor, and each intensity distribution I ( x, y) means for detecting the peak of the primary ring, and the number of peaks of the primary ring existing in two regions on the image sensor divided by the straight line L passing through the point P (xp, yp). , A and b respectively, and means for comparing the value (ab) or the value (a / b) with a predetermined value H, and a spot inspection of an optical pickup. apparatus.
【請求項2】 レンズからの出射光を撮像素子上に結像
させ、該素子上の点(x,y)における強度I(x,
y)を用いて演算処理を行うピックアップ検査装置にお
いて、 処理手段として、 前記強度I(x,y)がピークとなる点P(xp,y
p)を求める手段と、 前記点P(xp,yp)を通り、かつ、前記撮像素子上
の複数の直線の上における強度分布I(x,y)を求め
る手段と、 前記各強度分布I(x,y)における1次リングのピー
クを検出する手段と、 前記点P(xp,yp)を通る直線Lを複数個(L1,
L2,……,Ln)設定する手段と、 前記各々の直線Liによって分割される撮像素子上の2
つの領域に存在する1次リングのピークの個数を、それ
ぞれai,biとするとき、 各Liに関して、値(ai−bi)または値(ai/b
i)と、所定の値Hとの大小を比較する手段、とを備え
たことを特徴とする光ピックアップのスポット検査装
置。
2. Intensity I (x, y at a point (x, y) on the image pickup device is formed by forming an image of light emitted from the lens on the image pickup device.
In a pickup inspecting apparatus that performs calculation processing using y), as a processing means, a point P (xp, y) at which the intensity I (x, y) reaches a peak.
p), a means for obtaining an intensity distribution I (x, y) on a plurality of straight lines passing through the point P (xp, yp) and on the image sensor, and each intensity distribution I ( (x, y) means for detecting the peak of the primary ring, and a plurality of straight lines L (L1, L1 passing through the point P (xp, yp)).
L2, ..., Ln) setting means, and 2 on the image pickup device divided by each of the straight lines Li.
When the number of primary ring peaks existing in two regions is ai and bi respectively, a value (ai-bi) or a value (ai / b) is obtained for each Li.
i) and a means for comparing the magnitude with a predetermined value H, and a spot inspection device for an optical pickup.
【請求項3】 レンズからの出射光を撮像素子上に結像
させ、該素子上の点(x,y)における強度I(x,
y)を用いて演算処理を行うピックアップ検査装置にお
いて、 処理手段として、 前記強度I(x,y)がピークとなる点P(xp,y
p)を求める手段と、 前記点P(xp,yp)を通り、かつ、前記撮像素子上
の複数の直線の上における強度分布I(x,y)を求め
る手段と、 前記各強度分布I(x,y)における1次リングのピー
クを検出する手段と、 前記点P(xp,yp)を通る直線Lを複数個(L1,
L2,……,Ln)設定する手段と、 前記各々の直線Liによって分割される撮像素子上の2
つの領域に存在する1次リングのピークの個数を、それ
ぞれai,biとするとき、 【数1】 と、所定の値Hとの大小を比較する手段、とを備えたこ
とを特徴とする光ピックアップのスポット検査装置。
3. Intensity I (x, y) at a point (x, y) on the image pickup element is formed by forming light emitted from the lens on the image pickup element.
In a pickup inspecting apparatus that performs calculation processing using y), as a processing means, a point P (xp, y) at which the intensity I (x, y) reaches a peak.
p), a means for obtaining an intensity distribution I (x, y) on a plurality of straight lines passing through the point P (xp, yp) and on the image sensor, and each intensity distribution I ( (x, y) means for detecting the peak of the primary ring, and a plurality of straight lines L (L1, L1 passing through the point P (xp, yp)).
L2, ..., Ln) setting means, and 2 on the image pickup device divided by each of the straight lines Li.
When the number of peaks of the primary ring existing in two regions is ai and bi, respectively, And a means for comparing the magnitude with a predetermined value H, and a spot inspection apparatus for an optical pickup.
【請求項4】 レンズからの出射光を撮像素子上に結像
させ、該素子上の点(x,y)における強度I(x,
y)を用いて演算処理を行うピックアップ検査装置にお
いて、 処理手段として、 前記強度I(x,y)がピークとなる点P(xp,y
p)を求める手段と、 前記点P(xp,yp)を通り、かつ、前記撮像素子上
の複数の直線の上における強度分布I(x,y)を求め
る手段と、 前記各強度分布I(x,y)における1次リングのピー
クを検出する手段と、 前記点P(xp,yp)で交わる2直線によって分割さ
れる撮像素子上の4つの領域に存在する1次リングのピ
ークの個数を左廻りにa,b,c,dとするとき、 値{(a+c)−(b+d)}または値{(a+c)/
(b+d)}と、所定の値Hとの大小を比較する手段、 とを備えたことを特徴とする光ピックアップのスポット
検査装置。
4. Light emitted from the lens is imaged on an image pickup device, and an intensity I (x, y) at a point (x, y) on the device is formed.
In a pickup inspecting apparatus that performs calculation processing using y), as a processing means, a point P (xp, y) at which the intensity I (x, y) reaches a peak.
p), a means for obtaining an intensity distribution I (x, y) on a plurality of straight lines passing through the point P (xp, yp) and on the image sensor, and each intensity distribution I ( x, y) means for detecting the peak of the primary ring, and the number of peaks of the primary ring existing in four regions on the image sensor divided by two straight lines intersecting at the point P (xp, yp) When a, b, c, d are turned counterclockwise, the value {(a + c)-(b + d)} or the value {(a + c) /
(B + d)} and a means for comparing the magnitude of a predetermined value H with a spot inspection apparatus for an optical pickup.
【請求項5】 レンズからの出射光を撮像素子上に結像
させ、該素子上の点(x,y)における強度I(x,
y)を用いて演算処理を行うピックアップ検査装置にお
いて、 処理手段として、 前記強度I(x,y)がピークとなる点P(xp,y
p)を求める手段と、 前記点P(xp,yp)を通り、かつ、前記撮像素子上
の複数の直線の上における強度分布I(x,y)を求め
る手段と、 前記各強度分布I(x,y)における1次リングのピー
クを検出する手段と、 前記点P(xp,yp)で交わる2直線の組Mを複数個
(M1,M2,……,Mn)設定する手段と、 前記各々の直線Miによって分割される撮像素子上の4
つの領域に存在する1次リングのピークの個数を左廻り
にai,bi,ci,diとするとき、 各Miに関して、値{(ai+ci)−(bi+d
i)}または値{(ai+ci)/(bi+di)}
と、所定の値Hとの大小を比較する手段、とを備えたこ
とを特徴とする光ピックアップのスポット検査装置。
5. The light emitted from the lens is imaged on an image pickup device, and the intensity I (x, y) at a point (x, y) on the device is formed.
In a pickup inspecting apparatus that performs calculation processing using y), as a processing means, a point P (xp, y) at which the intensity I (x, y) reaches a peak.
p), a means for obtaining an intensity distribution I (x, y) on a plurality of straight lines passing through the point P (xp, yp) and on the image sensor, and each intensity distribution I ( x, y) means for detecting the peak of the primary ring, and means for setting a plurality (M1, M2, ..., Mn) of a set of two straight lines M intersecting at the point P (xp, yp), 4 on the image sensor divided by each straight line Mi
When the number of peaks of the primary ring existing in one region is set to ai, bi, ci, di in the counterclockwise direction, the value {(ai + ci)-(bi + d) is obtained for each Mi.
i)} or the value {(ai + ci) / (bi + di)}
And a means for comparing the magnitude with a predetermined value H, and a spot inspection apparatus for an optical pickup.
【請求項6】 レンズからの出射光を撮像素子上に結像
させ、該素子上の点(x,y)における強度I(x,
y)を用いて演算処理を行うピックアップ検査装置にお
いて、 処理手段として、 前記強度I(x,y)がピークとなる点P(xp,y
p)を求める手段と、 前記点P(xp,yp)を通り、かつ、前記撮像素子上
の複数の直線の上における強度分布I(x,y)を求め
る手段と、 前記各強度分布I(x,y)における1次リングのピー
クを検出する手段と、 前記点P(xp,yp)で交わる2直線の組Mを複数個
(M1,M2,……,Mn)設定する手段と、 前記各々の2直線の組Miによって分割される撮像素子
上の4つの領域に存在する1次リングのピークの個数を
左廻りにai,bi,ci,diとするとき、 【数2】 と、所定の値Hとの大小を比較する手段、とを備えたこ
とを特徴とする光ピックアップのスポット検査装置。
6. Intensity I (x, y) at a point (x, y) on the image pickup element is formed by forming the light emitted from the lens on the image pickup element.
In a pickup inspecting apparatus that performs calculation processing using y), as a processing means, a point P (xp, y) at which the intensity I (x, y) reaches a peak.
p), a means for obtaining an intensity distribution I (x, y) on a plurality of straight lines passing through the point P (xp, yp) and on the image sensor, and each intensity distribution I ( x, y) means for detecting the peak of the primary ring, and means for setting a plurality (M1, M2, ..., Mn) of a set of two straight lines M intersecting at the point P (xp, yp), When the number of peaks of the primary ring existing in the four regions on the image pickup device divided by each set of two straight lines Mi is set to ai, bi, ci, di in the counterclockwise direction, And a means for comparing the magnitude with a predetermined value H, and a spot inspection apparatus for an optical pickup.
【請求項7】 レンズからの出射光を撮像素子上に結像
させ、該素子上の点(x,y)における強度I(x,
y)を用いて演算処理を行うピックアップ検査装置にお
いて、 処理手段として、 前記強度I(x,y)がピークとなる点P(xp,y
p)を求める手段と、 前記点P(xp,yp)を通り、かつ、前記撮像素子上
の複数の直線の上における強度分布I(x,y)を求め
る手段と、 前記各強度分布I(x,y)における1次リングのピー
クを検出する手段と、 前記点P(xp,yp)を通る直線Lによって分割され
る撮像素子上の2つの領域に存在する1次リングのピー
クの個数を、それぞれ計数する手段、とを備えたことを
特徴とする光ピックアップのスポット検査装置。
7. Intensity I (x, y at a point (x, y) on the image pickup device is formed by forming light emitted from the lens on the image pickup device.
In a pickup inspecting apparatus that performs calculation processing using y), as a processing means, a point P (xp, y) at which the intensity I (x, y) reaches a peak.
p), a means for obtaining an intensity distribution I (x, y) on a plurality of straight lines passing through the point P (xp, yp) and on the image sensor, and each intensity distribution I ( x, y) means for detecting the peak of the primary ring, and the number of peaks of the primary ring existing in two regions on the image sensor divided by the straight line L passing through the point P (xp, yp). A spot inspection device for an optical pickup, comprising:
【請求項8】 レンズからの出射光を撮像素子上に結像
させ、該素子上の点(x,y)における強度I(x,
y)を用いて演算処理を行うピックアップ検査装置にお
いて、 処理手段として、 前記強度I(x,y)がピークとなる点P(xp,y
p)を求める手段と、 前記点P(xp,yp)を通り、かつ、前記撮像素子上
の複数の直線の上における強度分布I(x,y)を求め
る手段と、 前記各強度分布I(x,y)における1次リングのピー
クを検出する手段と、 前記点P(xp,yp)で交わる2直線によって分割さ
れる撮像素子上の4つの領域に存在する1次リングのピ
ークの個数を、それぞれ計数する手段、とを備えたこと
を特徴とする光ピックアップのスポット検査装置。
8. Intensity I (x, y at a point (x, y) on the image pickup device is formed by forming light emitted from the lens on the image pickup device.
In a pickup inspecting apparatus that performs calculation processing using y), as a processing means, a point P (xp, y) at which the intensity I (x, y) reaches a peak.
p), a means for obtaining an intensity distribution I (x, y) on a plurality of straight lines passing through the point P (xp, yp) and on the image sensor, and each intensity distribution I ( x, y) means for detecting the peak of the primary ring, and the number of peaks of the primary ring existing in four regions on the image sensor divided by two straight lines intersecting at the point P (xp, yp) A spot inspection device for an optical pickup, comprising:
【請求項9】 請求項1から請求項8の検査装置におい
て、 点P(xp,yp)の代りに、強度I(x,y)がしき
い値Ith以上である点の強度分布の重心G(xg,y
g)を用いて演算処理を行う手段を備えたことを特徴と
する光ピックアップのスポット検査装置。
9. The inspection apparatus according to any one of claims 1 to 8, wherein instead of the point P (xp, yp), the center of gravity G of the intensity distribution at a point where the intensity I (x, y) is equal to or greater than a threshold value Ith. (Xg, y
A spot inspection device for an optical pickup, characterized in that it is provided with means for performing arithmetic processing using g).
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6550944B2 (en) 2000-05-15 2003-04-22 Koito Manufacturing Co., Ltd. Vehicle headlamp
WO2008136315A1 (en) * 2007-04-26 2008-11-13 Ricoh Company, Ltd. Optical pickup and optical information processing device

Cited By (3)

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US6550944B2 (en) 2000-05-15 2003-04-22 Koito Manufacturing Co., Ltd. Vehicle headlamp
WO2008136315A1 (en) * 2007-04-26 2008-11-13 Ricoh Company, Ltd. Optical pickup and optical information processing device
US8259555B2 (en) 2007-04-26 2012-09-04 Ricoh Company, Ltd. Optical pickup and optical information processing device

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