JPH0619373B2 - トリガジッタ検出回路 - Google Patents
トリガジッタ検出回路Info
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- JPH0619373B2 JPH0619373B2 JP63148689A JP14868988A JPH0619373B2 JP H0619373 B2 JPH0619373 B2 JP H0619373B2 JP 63148689 A JP63148689 A JP 63148689A JP 14868988 A JP14868988 A JP 14868988A JP H0619373 B2 JPH0619373 B2 JP H0619373B2
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- pulse
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Description
【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、トリガジッタ検出回路に関するものであり、
詳しくは、ランダムサンプリングによる波形表示におけ
るトリガジッタの検出に関するものである。
詳しくは、ランダムサンプリングによる波形表示におけ
るトリガジッタの検出に関するものである。
(従来の技術) 入力繰返し波形を表示観測するのにあたって、第8図
(a)に示すように信号Aをランダムサンプリングして
デジタルデータ○,△,…に変換することにより波形メ
モリに格納するとともにトリガがかかってからデータ
○,△,…がサンプリングされるまでの時間t1t2,
…も測定し、この波形メモリに格納された波形データ
○,△,…を第8図(b)に示すようにトリガ点からの
相対時間t1t2,…に従って並べることにより第7図
(c)に示すように波形信号Aを再生表示することが行
われている。
(a)に示すように信号Aをランダムサンプリングして
デジタルデータ○,△,…に変換することにより波形メ
モリに格納するとともにトリガがかかってからデータ
○,△,…がサンプリングされるまでの時間t1t2,
…も測定し、この波形メモリに格納された波形データ
○,△,…を第8図(b)に示すようにトリガ点からの
相対時間t1t2,…に従って並べることにより第7図
(c)に示すように波形信号Aを再生表示することが行
われている。
ところで、このようなランダムサンプリングにおけるト
リガパルスの出力にあたっては、例えば第9図に示すよ
うにフリップフロップのデータ端子にトリガ制御信号S
1を加えるとともにクロック端子に繰返し入力信号とト
リガレベルとを比較する図示しないトリガコンパレータ
の出力信号S2を加えておき、第10図に示すようにト
リガ制御信号S1をコンパレータ出力信号S2でラッチ
してトリガパルスS3として出力することが行われてい
る。そして、このトリガパルスS3の立ち上がり点がト
リガ点として用いられる。
リガパルスの出力にあたっては、例えば第9図に示すよ
うにフリップフロップのデータ端子にトリガ制御信号S
1を加えるとともにクロック端子に繰返し入力信号とト
リガレベルとを比較する図示しないトリガコンパレータ
の出力信号S2を加えておき、第10図に示すようにト
リガ制御信号S1をコンパレータ出力信号S2でラッチ
してトリガパルスS3として出力することが行われてい
る。そして、このトリガパルスS3の立ち上がり点がト
リガ点として用いられる。
ところが、トリガ制御信号S1とコンパレータ出力信号
S2は全く非同期であることから、第11図に示すよう
にトリガ制御信号S1の立ち上がりとコンパレータ出力
信号S2立ち上がりが時間的に競合するように出力され
てフリップフロップの出力信号S3が不安定なメタステ
イブルになることがある。このようなメタステイブル状
態におけるフリップフロップの出力信号S3の立ち上が
りがジッタになる。
S2は全く非同期であることから、第11図に示すよう
にトリガ制御信号S1の立ち上がりとコンパレータ出力
信号S2立ち上がりが時間的に競合するように出力され
てフリップフロップの出力信号S3が不安定なメタステ
イブルになることがある。このようなメタステイブル状
態におけるフリップフロップの出力信号S3の立ち上が
りがジッタになる。
(発明が解決しようとする問題点) しかし、このようなジッタを伴った信号を用いてトリガ
点からサンプリングパルスまでの時間を測定すると、正
確な時間が測定できないことになり、波形を再構成した
場合には第12図に示すようなデータエラーが発生する
ことになる。
点からサンプリングパルスまでの時間を測定すると、正
確な時間が測定できないことになり、波形を再構成した
場合には第12図に示すようなデータエラーが発生する
ことになる。
本発明は、このような点に着目したものであり、その目
的は、比較的簡単な構成でトリガジッタの発生の有無が
検出できるトリガジッタ検出回路を提供することにあ
る。
的は、比較的簡単な構成でトリガジッタの発生の有無が
検出できるトリガジッタ検出回路を提供することにあ
る。
(問題点を解決するための手段) 本発明のトリガジッタ検出回路は、 正弦波発振器と、 この正弦波発振器の出力信号に同期したサンプリングパ
ルスを出力するサンプリングパルス発生回路と、 トリガパルス入力信号とトリガ制御信号に従って選択的
にトリガパルスを出力するトリガ制御回路と、 このトリガ制御回路から出力されるトリガパルスに従っ
て前記正弦波信号の90゜の位相差に応じた時間差を持
った2個のパルスを出力するダブルパルス発生回路と、 このダブルパルス発生回路の出力パルスに従って各パル
スが出力される時点における前記正弦波信号の振幅Asi
nωt,Acosωtをデジタル信号X,Yに変換するA/
D変換器と、 予めトリガジッタのない正常動作時にこのA/D変換器
から出力されるデジタル信号X,Yの自乗和A2(=X
2+Y2)を求めておき、正常動作時の自乗和A2と各
測定時の測定結果を比較してトリガジッタの発生の有無
を判別する演算制御部、 を設けたことを特徴とする。
ルスを出力するサンプリングパルス発生回路と、 トリガパルス入力信号とトリガ制御信号に従って選択的
にトリガパルスを出力するトリガ制御回路と、 このトリガ制御回路から出力されるトリガパルスに従っ
て前記正弦波信号の90゜の位相差に応じた時間差を持
った2個のパルスを出力するダブルパルス発生回路と、 このダブルパルス発生回路の出力パルスに従って各パル
スが出力される時点における前記正弦波信号の振幅Asi
nωt,Acosωtをデジタル信号X,Yに変換するA/
D変換器と、 予めトリガジッタのない正常動作時にこのA/D変換器
から出力されるデジタル信号X,Yの自乗和A2(=X
2+Y2)を求めておき、正常動作時の自乗和A2と各
測定時の測定結果を比較してトリガジッタの発生の有無
を判別する演算制御部、 を設けたことを特徴とする。
(実施例) 以下、図面を用いて本発明の実施例を詳細に説明する。
第1図は、本発明の一実施例を示すブロック図である。
第1図において、1は正弦波発振器であり、その出力信
号はサンプリングパルス発生回路2に加えられるととも
にA/D変換器3に加えられている。サンプリングパル
ス発生回路2は正弦波発振器1の出力信号に同期したサ
ンプリングパルスを出力するものであり、例えば第2図
に示すような正弦波信号と零電位と比較するコンパレー
タを用いる。このサンプリングパルスは繰返し入力信号
をサンプリングして波形データを出力する図示しないA
/D変換器に加えられる。4はトリガ制御回路であり、
トリガパルス入力信号S2とトリガ制御信号S1に従っ
て選択的にトリガパルスS3を出力する。なお、トリガ
パルス入力信号S2としては、トリガコンパレータの出
力信号の他、正常動作状態での基準出力データを得るた
めに内部で生成されるキャリブレーション用ダミー出力
信号も選択的に加えられるように構成されている。5は
ダブルパルス発生回路であり、トリガ制御回路4から出
力されるトリガパルスに従って前記正弦波信号の90゜
の位相差に応じた時間差Tを持った2個のパルスを出力
する。ここで、パルス幅は、トリガ制御回路4がメタス
テイブル状態の時には異常パルスになるように設定され
ている。このダブルパルス発生回路5の出力パルスS4
はA/D変換器3に加えられる。A/D変換器3はダブ
ルパルス発生回路5から加えられるダブルパルスS4に
従って各パルスが出力される時点における前記正弦波信
号の振幅Asinωt,Acosωtをデジタル信号X,Yに
変換して演算制御部6に出力する。第3図はこのような
ダブルパルス発生回路5の具体例を示す回路図である。
図において、7はトリガ制御回路4の出力信号S3を所
定のパルス幅のトリガパルスS3′に整形するパルス整
形回路である。8はオアゲートであり、一方の入力端子
には整形トリガパルスS3′が直接加えられ、他方の入
力端子には整形トリガパルスS3′がバッファアンプ
9,90゜の位相差を与える遅延回路10およびバッフ
ァアンプ11の直列回路を介して加えられている。演算
制御部6は、予めトリガジッタのない正常動作時にA/
D変換器3から出力されるデジタル信号X,Yの自乗和
A2(=X2+Y2)を求めておき、正常動作時の自乗
和A2と各測定時の測定結果を比較してトリガジッタの
発生の有無を判別する。
第1図において、1は正弦波発振器であり、その出力信
号はサンプリングパルス発生回路2に加えられるととも
にA/D変換器3に加えられている。サンプリングパル
ス発生回路2は正弦波発振器1の出力信号に同期したサ
ンプリングパルスを出力するものであり、例えば第2図
に示すような正弦波信号と零電位と比較するコンパレー
タを用いる。このサンプリングパルスは繰返し入力信号
をサンプリングして波形データを出力する図示しないA
/D変換器に加えられる。4はトリガ制御回路であり、
トリガパルス入力信号S2とトリガ制御信号S1に従っ
て選択的にトリガパルスS3を出力する。なお、トリガ
パルス入力信号S2としては、トリガコンパレータの出
力信号の他、正常動作状態での基準出力データを得るた
めに内部で生成されるキャリブレーション用ダミー出力
信号も選択的に加えられるように構成されている。5は
ダブルパルス発生回路であり、トリガ制御回路4から出
力されるトリガパルスに従って前記正弦波信号の90゜
の位相差に応じた時間差Tを持った2個のパルスを出力
する。ここで、パルス幅は、トリガ制御回路4がメタス
テイブル状態の時には異常パルスになるように設定され
ている。このダブルパルス発生回路5の出力パルスS4
はA/D変換器3に加えられる。A/D変換器3はダブ
ルパルス発生回路5から加えられるダブルパルスS4に
従って各パルスが出力される時点における前記正弦波信
号の振幅Asinωt,Acosωtをデジタル信号X,Yに
変換して演算制御部6に出力する。第3図はこのような
ダブルパルス発生回路5の具体例を示す回路図である。
図において、7はトリガ制御回路4の出力信号S3を所
定のパルス幅のトリガパルスS3′に整形するパルス整
形回路である。8はオアゲートであり、一方の入力端子
には整形トリガパルスS3′が直接加えられ、他方の入
力端子には整形トリガパルスS3′がバッファアンプ
9,90゜の位相差を与える遅延回路10およびバッフ
ァアンプ11の直列回路を介して加えられている。演算
制御部6は、予めトリガジッタのない正常動作時にA/
D変換器3から出力されるデジタル信号X,Yの自乗和
A2(=X2+Y2)を求めておき、正常動作時の自乗
和A2と各測定時の測定結果を比較してトリガジッタの
発生の有無を判別する。
このように構成された装置の動作を第4図のタイミング
チャートを用いて説明する。
チャートを用いて説明する。
図において、(a)はトリガ制御回路4から出力される
トリガパルスS3を示し、(b)はパルス整形回路7か
ら出力される整形トリガパルスS3′を示し、(c)は
ダブルパルス発生回路5から出力されるダブルパルスS
4を示し、(d)は正弦波発振器1から出力される正弦
波信号を示している。
トリガパルスS3を示し、(b)はパルス整形回路7か
ら出力される整形トリガパルスS3′を示し、(c)は
ダブルパルス発生回路5から出力されるダブルパルスS
4を示し、(d)は正弦波発振器1から出力される正弦
波信号を示している。
トリガ制御信号S1とトリガコンパレータ出力信号S2
の時間関係がメタステイブルになっていないトリガジッ
タのない正常状態で出力されるダブルパルスS4の1発
目のパルスによりサンプリングされたA/D変換器3の
出力データをXとし、2発目のパルスによりサンプリン
グされたA/D変換器3の出力データをYとすると、 X=Asinωt Y=Acosωt ただし、A2=X2+Y2 の関係が成立する。
の時間関係がメタステイブルになっていないトリガジッ
タのない正常状態で出力されるダブルパルスS4の1発
目のパルスによりサンプリングされたA/D変換器3の
出力データをXとし、2発目のパルスによりサンプリン
グされたA/D変換器3の出力データをYとすると、 X=Asinωt Y=Acosωt ただし、A2=X2+Y2 の関係が成立する。
これに対し、トリガ制御信号S1とトリガコンパレータ
出力信号S2の時間関係がメタステイブルになっている
トリガジッタを生じる状態では、ダブルパルス発生回路
5がECLロジックで構成されているものとすると、出
力パルスのエッジが正常動作状態よりも緩慢に変化する
ことから、ダブルパルス発生回路5の出力パルスは、 時間差Tが不定 パルスが1発しか出ない パルスが1発も出ない などの異常状態になる。第5図はこのようなダブルパル
ス発生回路5の出力パルスの波形説明図であって、
(a)は正常状態における出力パルスを示し、(b)は
第3図のオアゲート8の各入力端子に加えられる2個の
パルスが緩慢に変化することからジッタや立ち上がり時
間の差などによってて出力パルスの時間差Tが不定にな
っている状態()を示し、(c)は第3図のオアゲー
ト8の各入力端子に加えられる2個のパルスが緩慢に変
化することにより2個のパルスの立ち下がりと立ち上が
りが重なって結果的に1個のパルスしか出力されない状
態()を示し、(d)は第3図のオアゲート8の各入
力端子に加えられる2個のパルスが緩慢に変化する結果
1個のパルスも出力されない状態()を示している。
ここで、第3図のオアゲート8の各入力端子に加えられ
る2個のパルスのパルス幅を適切に設定することによ
り、ほとんどのメタステイブル状態におけるダブルパル
ス発生回路5の出力パルスを(c)とすることができ
る。具体的には、正弦波発振器から出力される周波数の
90゜に相当するダブルパルスのパルス間隔に対して第
3図の遅延回路10の遅延時間を適切に設定すればよ
い。このような異常状態におけるA/D変換器3の出力
データX,Yに着目すると、の場合には、 X2+Y2≠A2 になり、,のい場合には、 X2+Y2≠A2 X=Y X,Yの値が前回と変化なし のいずれかになる。
出力信号S2の時間関係がメタステイブルになっている
トリガジッタを生じる状態では、ダブルパルス発生回路
5がECLロジックで構成されているものとすると、出
力パルスのエッジが正常動作状態よりも緩慢に変化する
ことから、ダブルパルス発生回路5の出力パルスは、 時間差Tが不定 パルスが1発しか出ない パルスが1発も出ない などの異常状態になる。第5図はこのようなダブルパル
ス発生回路5の出力パルスの波形説明図であって、
(a)は正常状態における出力パルスを示し、(b)は
第3図のオアゲート8の各入力端子に加えられる2個の
パルスが緩慢に変化することからジッタや立ち上がり時
間の差などによってて出力パルスの時間差Tが不定にな
っている状態()を示し、(c)は第3図のオアゲー
ト8の各入力端子に加えられる2個のパルスが緩慢に変
化することにより2個のパルスの立ち下がりと立ち上が
りが重なって結果的に1個のパルスしか出力されない状
態()を示し、(d)は第3図のオアゲート8の各入
力端子に加えられる2個のパルスが緩慢に変化する結果
1個のパルスも出力されない状態()を示している。
ここで、第3図のオアゲート8の各入力端子に加えられ
る2個のパルスのパルス幅を適切に設定することによ
り、ほとんどのメタステイブル状態におけるダブルパル
ス発生回路5の出力パルスを(c)とすることができ
る。具体的には、正弦波発振器から出力される周波数の
90゜に相当するダブルパルスのパルス間隔に対して第
3図の遅延回路10の遅延時間を適切に設定すればよ
い。このような異常状態におけるA/D変換器3の出力
データX,Yに着目すると、の場合には、 X2+Y2≠A2 になり、,のい場合には、 X2+Y2≠A2 X=Y X,Yの値が前回と変化なし のいずれかになる。
従って、トリガ制御信号S1とトリガコンパレータ出力
信号S2の時間関係がメタステイブルになっていないト
リガジッタのない正常な状態における正弦波信号の振幅
データAを予め演算制御部6に格納しておき、この値と
その後の各測定時の測定結果を比較することにより、ト
リガジッタの発生の有無を判別することができる。そし
て、トリガジッタが発生していると判定した場合にはそ
のデータを波形再生演算から除去すればよく、信頼性の
高い波形再生が行える。
信号S2の時間関係がメタステイブルになっていないト
リガジッタのない正常な状態における正弦波信号の振幅
データAを予め演算制御部6に格納しておき、この値と
その後の各測定時の測定結果を比較することにより、ト
リガジッタの発生の有無を判別することができる。そし
て、トリガジッタが発生していると判定した場合にはそ
のデータを波形再生演算から除去すればよく、信頼性の
高い波形再生が行える。
第6図は、演算制御部6におけるトリガジッタの判別処
理の流れを示すフローチャートである。
理の流れを示すフローチャートである。
すなわち、ステップにおいて、トリガ制御回路4にダ
ミー出力信号を加え、トリガ制御信号S1とトリガコン
パレータ出力信号S2の時間関係がメタステイブルにな
っていないトリガジッタのない正常な状態における正弦
波発振器1の正弦波信号の振幅データAを測定して演算
制御部6に格納する。このようにして振幅データAを測
定した後、ステップ以降の測定動作を開始する。ステ
ップにおいてX,Yの直交データにより振幅Aを計算
し、X2Y2≒A2が成立するか否かを判定する(ステ
ップ)。X2+Y2≠A2の場合にはジッタが大きい
のでその測定データは捨てて(ステップ)、再びステ
ップまで戻る。X2+Y2≒A2が成立する場合に
は、X=Yが成立するか否かを判定する(ステップ
)。X=Yの場合にはジッタが大きいことになるので
その測定データは捨てる(ステップ)が、X≠Yが成
立する場合にはX,Yの値が前回から変化しているか否
かを判定する(ステップ)。値が変化していない場合
にはジッタが大きいことになるのでその測定データは捨
てる(ステップ)が、値が変化している場合にはジッ
タの少ない有効データであり、データ処理に用いる。
(ステップ)。このようにして波形の再構成に必要な
所定数のデータが取り込まれるまでのステップ以降の
処理を繰り返すことにより一連の処理を終了する(ステ
ップ)。
ミー出力信号を加え、トリガ制御信号S1とトリガコン
パレータ出力信号S2の時間関係がメタステイブルにな
っていないトリガジッタのない正常な状態における正弦
波発振器1の正弦波信号の振幅データAを測定して演算
制御部6に格納する。このようにして振幅データAを測
定した後、ステップ以降の測定動作を開始する。ステ
ップにおいてX,Yの直交データにより振幅Aを計算
し、X2Y2≒A2が成立するか否かを判定する(ステ
ップ)。X2+Y2≠A2の場合にはジッタが大きい
のでその測定データは捨てて(ステップ)、再びステ
ップまで戻る。X2+Y2≒A2が成立する場合に
は、X=Yが成立するか否かを判定する(ステップ
)。X=Yの場合にはジッタが大きいことになるので
その測定データは捨てる(ステップ)が、X≠Yが成
立する場合にはX,Yの値が前回から変化しているか否
かを判定する(ステップ)。値が変化していない場合
にはジッタが大きいことになるのでその測定データは捨
てる(ステップ)が、値が変化している場合にはジッ
タの少ない有効データであり、データ処理に用いる。
(ステップ)。このようにして波形の再構成に必要な
所定数のデータが取り込まれるまでのステップ以降の
処理を繰り返すことにより一連の処理を終了する(ステ
ップ)。
第7図はダブルパルス発生回路5の他の具体例を示す回
路図である。図において、Inは入力パルスVinが加え
られる入力端子であり、ナンドゲートU4の一方の入力
端子に直接接続されるとともにインバータゲートU3お
よび遅延時間lを有する遅延回路L1の直列回路を介し
てナンドゲートU4の他方の入力端子に接続されてい
る。これにより、ナンドゲートU4からパルス幅lのパ
ルスが出力されることになる。ここで、ナンドゲートU
4から出力されるパルスのパルス幅lは、前述のように
メタステイブル状態では第5図(c)に示したようなパ
ルスが出力されるように適切な値に設定する。U1は差
動出力が得られるバッファゲート、U2は入,出力が差
動になるように構成されたバッファゲートである。R
1,R1′,R2,R2′は終端抵抗であり、一端はそ
れぞれバッフアゲートU1の出力端子に接続され、抵抗
R1,R1′の他端は電圧源Vに接続されている。Q,
Q′はインピーダンス変換用のトランジスタであり、各
ベースは終端抵抗R2,R2′を介してバッフアゲート
U1の出力端子に接続され、各エミッタは電流値決定用
の抵抗R3を介して電圧源−Vに接続され、各コレクタ
は抵抗R6,R6′を介して電圧源Vに接続されるとと
もにコンデンサC,C′を介してバッファゲートU2の
入力端子に接続されている。DLYは遅延時間がダブル
パルスの間隔Tの1/2になるようにケーブルの長さが
調整された片側開放の同軸ケーブルであり、外部導体は
バルンLを介してトランジスタQのコレクタに接続さ
れ、内部導体はバルンLを介してトランジスタQ′のコ
レクタに接続されている。バッファゲートU2の入力端
子はそれぞれ抵抗R4,R4′を介して正の電圧源+V
に接続されるとともに抵抗R5,R5′を介して負の電
圧源−Vに接続されている。
路図である。図において、Inは入力パルスVinが加え
られる入力端子であり、ナンドゲートU4の一方の入力
端子に直接接続されるとともにインバータゲートU3お
よび遅延時間lを有する遅延回路L1の直列回路を介し
てナンドゲートU4の他方の入力端子に接続されてい
る。これにより、ナンドゲートU4からパルス幅lのパ
ルスが出力されることになる。ここで、ナンドゲートU
4から出力されるパルスのパルス幅lは、前述のように
メタステイブル状態では第5図(c)に示したようなパ
ルスが出力されるように適切な値に設定する。U1は差
動出力が得られるバッファゲート、U2は入,出力が差
動になるように構成されたバッファゲートである。R
1,R1′,R2,R2′は終端抵抗であり、一端はそ
れぞれバッフアゲートU1の出力端子に接続され、抵抗
R1,R1′の他端は電圧源Vに接続されている。Q,
Q′はインピーダンス変換用のトランジスタであり、各
ベースは終端抵抗R2,R2′を介してバッフアゲート
U1の出力端子に接続され、各エミッタは電流値決定用
の抵抗R3を介して電圧源−Vに接続され、各コレクタ
は抵抗R6,R6′を介して電圧源Vに接続されるとと
もにコンデンサC,C′を介してバッファゲートU2の
入力端子に接続されている。DLYは遅延時間がダブル
パルスの間隔Tの1/2になるようにケーブルの長さが
調整された片側開放の同軸ケーブルであり、外部導体は
バルンLを介してトランジスタQのコレクタに接続さ
れ、内部導体はバルンLを介してトランジスタQ′のコ
レクタに接続されている。バッファゲートU2の入力端
子はそれぞれ抵抗R4,R4′を介して正の電圧源+V
に接続されるとともに抵抗R5,R5′を介して負の電
圧源−Vに接続されている。
このような構成において、バッファゲートU2の出力端
子OUT1,OUT2にはそれぞれ差動の関係にあるダ
ブルパルスが出力されることになる。ここで、バルンL
は、同軸ケーブルDLYの外部導体と内部導体のライン
上での対地容量を見掛け上等しくして波形品位が差動で
著しく異なるのを防止する。また、コンデンサC,C′
と抵抗R4,R4′,R5,R5′をを含む回路は、発
生するダブルパルスのレベルをECLレベルに変換する
レベル変換回路を構成している。このように構成するこ
とにより、第3図の回路のような経路の違いによる時間
のズル(スキュー)を生じることはなく、安定した差動
のダブルパルス出力を得ることができる。
子OUT1,OUT2にはそれぞれ差動の関係にあるダ
ブルパルスが出力されることになる。ここで、バルンL
は、同軸ケーブルDLYの外部導体と内部導体のライン
上での対地容量を見掛け上等しくして波形品位が差動で
著しく異なるのを防止する。また、コンデンサC,C′
と抵抗R4,R4′,R5,R5′をを含む回路は、発
生するダブルパルスのレベルをECLレベルに変換する
レベル変換回路を構成している。このように構成するこ
とにより、第3図の回路のような経路の違いによる時間
のズル(スキュー)を生じることはなく、安定した差動
のダブルパルス出力を得ることができる。
なお、上記実施例では、ダブルパルスの位相差を90゜
に設定した例を説明したが、−90゜や±270゜など
であっても同様の効果が得られることは明らかである。
に設定した例を説明したが、−90゜や±270゜など
であっても同様の効果が得られることは明らかである。
(発明の効果) 以上説明したように、本発明によれば、比較的簡単な構
成でトリガジッタの発生の有無が検出できるトリガジッ
タ検出回路が実現でき、実用上の効果は大きい。
成でトリガジッタの発生の有無が検出できるトリガジッ
タ検出回路が実現でき、実用上の効果は大きい。
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図、第2図お
よび第3図は第1図の要部の具体例を示す回路図、第4
図は第1図の動作を説明するためのタイミングチャー
ト、第5図はダブルパルス発生回路の出力パルスの波形
例図、第6図は第1図の演算制御部における処理の流れ
の具体例を示すフローチャート、第7図は第1図の要部
の他の具体例を示す回路図、第8図はランダムサンプリ
ングによる波形測定の説明図、第9図はトリガパルス出
力回路の一例を示すブロック図、第10図〜第12図は
それぞれ従来の動作説明図である。 1……正弦波発振器、2……サンプリングパルス発生回
路、3……A/D変換器、4……トリガ制御回路、5…
…ダブルパルス発生回路、6……演算制御部。
よび第3図は第1図の要部の具体例を示す回路図、第4
図は第1図の動作を説明するためのタイミングチャー
ト、第5図はダブルパルス発生回路の出力パルスの波形
例図、第6図は第1図の演算制御部における処理の流れ
の具体例を示すフローチャート、第7図は第1図の要部
の他の具体例を示す回路図、第8図はランダムサンプリ
ングによる波形測定の説明図、第9図はトリガパルス出
力回路の一例を示すブロック図、第10図〜第12図は
それぞれ従来の動作説明図である。 1……正弦波発振器、2……サンプリングパルス発生回
路、3……A/D変換器、4……トリガ制御回路、5…
…ダブルパルス発生回路、6……演算制御部。
Claims (1)
- 【請求項1】正弦波発振器と、 この正弦波発振器の出力信号に同期したサンプリングパ
ルスを出力するサンプリングパルス発生回路と、 トリガパルス入力信号とトリガ制御信号に従って選択的
にトリガパルスを出力するトリガ制御回路と、 このトリガ制御回路から出力されるトリガパルスに従っ
て前記正弦波信号の90゜の位相差に応じた時間差を持
った2個のパルスを出力するダブルパルス発生回路と、 このダブルパルス発生回路の出力パルスに従って各パル
スが出力される時点における前記正弦波信号の振幅Asi
nωt,Acosωtをデジタル信号X,Yに変換するA/
D変換器と、 予めトリガジッタのない正常動作時にこのA/D変換器
から出力されるデジタル信号X,Yの自乗和A2(=X
2+Y2)を求めておき、正常動作時の自乗和A2と各
測定時の測定結果を比較してトリガジッタの発生の有無
を判別する演算制御部、 を設けたことを特徴とするトリガジッタ検出回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63148689A JPH0619373B2 (ja) | 1988-06-16 | 1988-06-16 | トリガジッタ検出回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63148689A JPH0619373B2 (ja) | 1988-06-16 | 1988-06-16 | トリガジッタ検出回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01314971A JPH01314971A (ja) | 1989-12-20 |
| JPH0619373B2 true JPH0619373B2 (ja) | 1994-03-16 |
Family
ID=15458398
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63148689A Expired - Lifetime JPH0619373B2 (ja) | 1988-06-16 | 1988-06-16 | トリガジッタ検出回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0619373B2 (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5721144B2 (ja) | 2012-02-07 | 2015-05-20 | 株式会社日本製鋼所 | 超電導多層構造薄膜 |
-
1988
- 1988-06-16 JP JP63148689A patent/JPH0619373B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5721144B2 (ja) | 2012-02-07 | 2015-05-20 | 株式会社日本製鋼所 | 超電導多層構造薄膜 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01314971A (ja) | 1989-12-20 |
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