JPH06194399A - 印刷配線回路の検査方法 - Google Patents
印刷配線回路の検査方法Info
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- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
安価で取リ扱い易い装置により迅速に検査する方法を提
供する。 【構成】 電気絶縁性樹脂よりなる基板2上に形成した
印刷配線回路1を構成する導電ライン3の電気特性の検
査方法において、導電ライン3の一端に検査用触針8
を、他端に可撓性導電片9を接触させ、導電ライン3の
断線を検査する。
Description
成した印刷配線回路の検査方法に関するものである。
うに、電気絶縁性樹脂よりなる基板2上に複数の導電ラ
イン3を印刷して形成したものである。この印刷配線回
路1を製造する際は、生産効率をあげるため基板2の一
面にこれを複数個形成して印刷回路原板4とし、ついで
これをカットして個々の印刷配線回路1を得る。
っている。この不良を検出するには印刷配線回路1個の
もつ導電ラインの本数に相当する数の検査用触針を配置
したプローブカードを個々の印刷配線回路に位置合わせ
し、検査用触針を導電ラインの両端に接触させて検査し
たり(第1の検査方法)、導電ラインが平行線パターン
である時には、特開昭63-85468に開示されるように、ピ
ン、プローブ、ピン受け等から構成される検査装置を走
査し、2本の検査用触針を導電ラインの両端に接触させ
検査(第2の検査方法)していた。
査方法では、検査の対象となる印刷配線回路の種類(パ
ターン)毎にプローブカードを用意する必要があって費
用がかさむほか、精密なピッチで検査用触針を配置して
いるために、保管、精度管理に細心の注意を払う必要が
あり、さらに使用にあたっては、プローブカードを精密
に位置合わせして、導電ラインに検査用触針を正確に接
触させなければならないため、かなり高い精度を有する
検査装置を用いなければならない。
類(パターン)毎にプローブカードを用意する必要はな
く、導電ラインが平行等間隔のパターンである場合に広
く用いられている。このプローブによる検査の手順は、
図3に示すように、印刷回路原板4をテーブル5上に載
置固定し、ホルダー6に保持したプローブ7の先端に取
りつけた検査用触針8が印刷回路原板4上の印刷配線回
路1を構成する導電ライン3に接触するよう、ホルダー
6を導電ライン3に平行方向、直角方向に移動調整し
て、導電ライン3上を走査することにより、1本の導電
ラインの両端に接触させた検査用触針8に生ずるパルス
の有無を検出器(図示しない)で検出するものである。
の高度化、小型化とともに導電ラインの微細化が極端に
進み、前記した第1の検査方法ではもちろん、第2の検
査方法においても、印刷回路原板上の導電ラインと2本
の検査用触針をたがいに精密に直角を保ちながら走査し
なければ、正確に導電ライン両端に検査用触針を接触さ
せ続けることができないため、両方法ともに高精度の検
査装置を必要とする不利があった。さらに第2の検査方
法では、導電ラインの形状が平行等間隔のものに限定さ
れるため、自由形状を容易に形成可能であるという印刷
配線回路の特徴を生かしたものを除外せざるを得ず、従
ってその適用範囲が限定される。
の問題点を解決し、迅速かつ正確に印刷回路原板上の導
電ラインの断線を検査できる印刷配線回路の検査方法を
提供するもので、これは電気絶縁性樹脂よりなる基板上
に形成した印刷配線回路を構成する導電ラインの電気特
性の検査方法において、導電ラインの一端に検査用触針
を、他端に可撓性導電片を接触させ、導電ラインの断線
を検査することを特徴とする印刷配線回路の検査方法を
要旨とする。
に同時に2本以上の導電ラインと接触してはならないか
ら、太さ、および取付角度が限定されるが、近時の印刷
配線回路が 0.2mmピッチ程度まで小さくなっていること
から、直径1mm以下好ましくは 0.5mm以下とし、先端を
円錐形状とするのがよく、 0.2mm未満となった場合に
は、検査用触針の加工および、強度の点から好ましいも
のとは言えない。
に対して90°とすると、電気的接触を十分安定なものと
するための検査用触針に与える圧力によって導電ライン
が損傷するおそれがあり、また極端に低角度になると、
取付方法に支障をきたすので20°〜60°好ましくは30°
〜45°とするのがよい。
耐摩耗性に優れていることが要求されるので、ニッケ
ル、銅、タングステン、鋼等から選ばれるが、ニッケ
ル、銅、鋼等は酸化して接触抵抗が上昇するおそれがあ
り、金めっき等による防蝕処理を要する。しかしなが
ら、金めっき等防蝕処理したものでは耐摩耗性に優れた
ものはないので、最も好ましくはタングステンとするの
がよい。
述したように、従来は検査用触針と導電ラインを精密に
位置合わせする必要があったため、検査用触針を導電ラ
インに対して直角方向および平行方向に微動させる機構
を要し、複雑かつ高価なものとなっていたが、本発明に
おいては、その必要がなく、構造は単純で、安価なもの
とすることができる。
ラインに確実に接触させる必要があることから、板ばね
等によって与圧を加えるのが好ましい。この与圧は、小
さすぎると導電ラインとの接触が不確実になるし、大き
すぎた場合には導電ラインを損傷するおそれがあるの
で、 0.5〜5g 好ましくは1〜2g の範囲とするのがよ
い。
る検査用触針と他端に接触させる可撓性導電片は、ポリ
イミド、ポリエステル等可撓性基材に銅箔、アルミ箔等
を積層接着した従来公知のものでよく、また、上記のよ
うな可撓性基材に検査対象のごとく印刷によって配線を
施したものであってよい。
片は検査対象となる印刷配線回路の凹凸に追従可能とす
るため可撓性であることが必要とされ、上述したポリイ
ミド、ポリエステル等のフィルムを用いる場合、10〜50
μm、好ましくは20〜40μmの厚みとするのがよい。可
撓性導電片には上記したフィルムの少なくとも片面に導
電性を付与し、検査器とリード線により結線すればよい
ので、特別パターンを形成する必要がない。ポリイミ
ド、ポリエステル等フィルムと同等の可撓性が得られれ
ば、銅箔、アルミ箔等その他金属箔そのものでもよい。
査方法を説明すると、図1に示すように、テーブル5上
に載置した印刷回路原板4に複数個形成・面付けされた
印刷配線回路1の導電ライン3の一端に接触するよう、
検査用触針8を保持したホルダー6と、他端を他の導電
ラインも一緒に覆う大きさの可撓性導電片9をおおまか
に位置合わせして接触させ、導電ラインの断線を検査す
る。この時、導電ラインに断線がなければ検査用触針と
可撓性導電片の間に閉回路が形成されるので、生ずるパ
ルス数により導電ラインの良否が判定される。他の導電
ラインも検査用触針だけを移動させてつぎつぎに判定す
るすることができる。
て電気的に接続するには、図2(a)に示すように、圧
縮空気圧または電磁石を動力源としたシリンダー等従来
公知の押圧器10を用いてよい。11は可撓性導電片に
接続したリード線である。この場合圧力を均一に分布さ
せるため、および、印刷回路原板の凹凸に追従して接触
を十分に保つためスポンジ12を介して押圧するのがよ
い。検査の対象となる印刷配線回路がフィルム状である
場合や、常磁性のものである場合には、図2(b)に示
すように、可撓性導電片9を検査する印刷配線回路1の
導電ライン3の他端に接触させた状態で永久磁石13で
挟むよう固定してもよい。永久磁石としては可撓性であ
るマグネットテープMGO−1016(住友スリーエム社製
品名)等が好適である。
の検査方法によれば、導電ラインの一端に検査用触針
を、他端に可撓性導電片を接触するので、プローブの位
置合わせを精密に行う必要がなく、検査装置の単純化、
段取り時間の低減を図ることが可能となった。さらに検
査対象の導電ラインの形状は平行等間隔のものに限定さ
れず、汎用的に検査が可能である。
図。
従来の検査方法の説明図。
器により可撓性導電片を導電ラインに押圧する場合の説
明図、(b)は永久磁石により可撓性導電片を導電ライ
ンに押圧する場合の説明図。
器により可撓性導電片を導電ラインに押圧する場合の説
明図、(b)は永久磁石により可撓性導電片を導電ライ
ンに押圧する場合の説明図。 ─────────────────────────────────────────────────────
従来の検査方法の説明図。
Claims (3)
- 【請求項1】 電気絶縁性樹脂よりなる基板上に形成し
た印刷配線回路を構成する導電ラインの電気特性の検査
方法において、導電ラインの一端に検査用触針を、他端
に可撓性導電片を接触させ、導電ラインの断線を検査す
ることを特徴とする印刷配線回路の検査方法。 - 【請求項2】 導電ラインの他端に、可撓性導電片を空
圧、電磁力を動力源とするシリンダーにより接触させる
請求項1に記載の検査方法。 - 【請求項3】 導電ラインの他端に、可撓性導電片を永
久磁石により接触させる請求項1に記載の検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31143892A JP3230857B2 (ja) | 1992-10-27 | 1992-10-27 | 印刷配線回路の検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31143892A JP3230857B2 (ja) | 1992-10-27 | 1992-10-27 | 印刷配線回路の検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06194399A true JPH06194399A (ja) | 1994-07-15 |
| JP3230857B2 JP3230857B2 (ja) | 2001-11-19 |
Family
ID=18017220
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP31143892A Expired - Lifetime JP3230857B2 (ja) | 1992-10-27 | 1992-10-27 | 印刷配線回路の検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3230857B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20020091691A (ko) * | 2001-05-31 | 2002-12-06 | 주식회사 현대 디스플레이 테크놀로지 | 액정표시장치 테스트 프레임 |
| KR100382344B1 (ko) * | 2001-03-14 | 2003-05-09 | 엘지전자 주식회사 | 플렉시블 인쇄 회로 기판의 검사장치 및 그 검사방법 |
-
1992
- 1992-10-27 JP JP31143892A patent/JP3230857B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100382344B1 (ko) * | 2001-03-14 | 2003-05-09 | 엘지전자 주식회사 | 플렉시블 인쇄 회로 기판의 검사장치 및 그 검사방법 |
| KR20020091691A (ko) * | 2001-05-31 | 2002-12-06 | 주식회사 현대 디스플레이 테크놀로지 | 액정표시장치 테스트 프레임 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3230857B2 (ja) | 2001-11-19 |
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