JPH06203484A - ディスク検査装置及びディスク検査方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【構成】 可変レベルエラー発生回路４よりエラー比率
Ａ％のエラー信号を比較器１に送り、エラー検出できる
第１の基準電圧ａを閾値電圧可変回路６により設定す
る。次に、エラー比率Ｂ％に対応する第２の基準電圧ｂ
を、ｂ＝ａ・（Ｂ／Ａ）により設定し、エラー検出され
るエラー比率Ｂ´％を求める。再生信号３についてエラ
ー比率Ｘ％のエラー検出を行うときには、基準電圧を、
ａ−｛（ａ−ｂ）／（Ａ−Ｂ´）｝・（Ａ−Ｘ）により
算出される値に設定する。 【効果】 広範囲のエラー比率について高精度のエラー
検出が可能である。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、磁気ディスク等の如き
情報信号の記録媒体となるディスクの特性等を検査する
ためのディスク検査装置及びディスク検査方法に関す
る。

【０００２】

【従来の技術】従来、いわゆるフレキシブルディスク等
の磁気ディスクの如き、情報信号の記録媒体となるディ
スクが提案されており、また、このようなディスクの特
性等を検査するためのディスク検査装置及びディスク検
査方法が提案されている。

【０００３】上記ディスクの特性を検査するにあたって
は、該ディスク上の情報信号を全て消去（ＤＣイレー
ス）した後の、図１に示すような、突発的パルス成分
（エクストラパルス：以下「ＥＰ」と称する）の有無を
検出することが行われる。

【０００４】また、上記ディスクの特性を検査するにあ
たっては、該ディスク上に一定周波数の正弦波信号（２
ｆ信号）を書込み、この信号を読出したときの、図２に
示すような、ドロップアウト成分（ミッシングパルス：
以下「ＭＰ」と称する）の有無を検出することが行われ
る。

【０００５】上記「ＥＰ」を検出するにあたっては、図
３に示すように、上記ディスクより読み出した信号を、
ディスク検査装置となる比較器（コンパレータ）１に入
力し、適宜設定された基準電圧Ｖｒ（ｖ）と比較するこ
とにより、該比較器１の出力信号における矩形波パルス
の有無を判断する。すなわち、上記基準電圧Ｖｒは、上
記ＥＰを検出するための閾値電圧となっている。

【０００６】また、上記「ＭＰ」を検出するにあたって
は、図４に示すように、上記ディスクより読み出した信
号を上記比較器１に入力し、適宜設定された基準電圧Ｖ
ｒ（ｖ）と比較することにより、該比較器１の出力信号
における周期的な矩形波パルスの欠落の有無を判断す
る。すなわち、上記基準電圧Ｖｒは、上記ＭＰを検出す
るための閾値電圧となっている。

【０００７】なお、「ＥＰ」については、上記ディスク
における記録信号の基準レベルを±Ｓ（ｖ）とし、この
「ＥＰ」の波高レベルをｐ（ｖ）としたとき、ｐ／Ｓ
（％）をエラー比率という。また、「ＭＰ」について
は、上記ディスクにおける記録信号の基準レベルを±Ｓ
（ｖ）とし、この「ＭＰ」の波高レベルをｐ（ｖ）とし
たとき、ｐ／Ｓ（％）をエラー比率という。

【０００８】そして、上記基準電圧Ｖｒを定めるには、
先ず、既知のエラー比率Ａ％を有する「ＥＰ」または
「ＭＰ」の第１のエラー信号を上記比較器１に入力し、
このエラー信号についてエラー検出を行える第１の基準
電圧ａを設定する。次に、Ｘ％のエラー比率を有するエ
ラー信号についてエラー検出を行う場合には、上記基準
電圧を、Ｙ＝ａ（Ｘ／Ａ）により算出されるＹ（ｖ）に
設定する。

【０００９】このようなディスク検査装置は、例えば、
図１６に示すように、ディスクドライブ装置を含む検査
ユニット１０５と、この検査ユニット１０５よりの信号
がケーブル１０４を介して送られるシステムラック部１
０１とを有して構成される。このディスク検査装置にお
いては、上記検査ユニット１０５において上記ディスク
より読出された再生信号は、上記ケーブル１０４を介し
て、上記システムラック部１０１の計測制御基板１０３
に送られる。この計測制御基板１０３には、上記検査ユ
ニット１０５を制御するとともに上記再生信号について
の信号処理を行うための上記比較器１を含む計測制御回
路が構成されている。また、上記システムラック部１０
１には、上記計測制御基板１０３と専用パス１０６によ
り接続されたシステムコントローラ（シスコン）基板１
０２が設けられている。このシステムコントローラ基板
１０２には、上記計測制御基板１０３の動作を制御する
ＣＰＵ（信号処理ユニット）等が設けられている。

【００１０】

【発明が解決しようとする課題】ところで、上述のよう
な比較器１からなるディスク検査装置を用い、上述のよ
うにして基準電圧を定めるディスク検査方法において
は、上記エラー比率と上記基準電圧とがリニアな関係で
変化する場合には、正確なエラー検出が行えるが、上記
比較器１を含む回路にオフセットが存在する場合には、
正確なエラー検出が行えない。

【００１１】すなわち、上記第１のエラー信号のエラー
比率であるＡ％の近傍のエラー比率のエラー信号につい
ては、略々正確なエラー検出が行えるものの、エラー比
率がＡ％より離れるにつれて、正確なエラー検出が行え
なくなる。したがって、このディスク検査装置及びディ
スク検査方法においては、エラー検出の結果を信頼する
ことができるエラー比率の範囲、すなわち、検査精度の
有効範囲が狭い。

【００１２】また、上述のように検査ユニット１０５と
システムラック部１０１とを有して構成されたディスク
検査装置においては、該検査ユニット１０５と該システ
ムラック部１０１とがアナログ信号を送るケーブル１０
４により接続されているため、検査の信頼性が低下する
虞れがある。すなわち、このディスク検査装置において
は、上記ケーブル１０４における外来ノイズによる再生
信号のＳ／Ｎ比の低下や、該ケーブル１０４を介して行
われる制御速度の低下等が生ずる虞れがある。

【００１３】そして、このディスク検査装置は、上記シ
ステムラック部１０１を有して構成されているため、シ
ステム形態の変更が困難であり、また、小型化が困難で
ある。

【００１４】そこで、本発明は、上述の実情に鑑みて提
案されるものであって、広い範囲のエラー比率について
高精度のエラー検出が行えるディスク検査装置及びディ
スク検査方法を提供することを目的とする。

【００１５】また、本発明は、システム形態の変更や小
型化が容易化されながら、検査結果の信頼性の向上及び
制御の高速化が実現できるディスク検査装置を提供する
ことを目的とする。

【００１６】

【課題を解決するための手段】上述の課題を解決し上記
目的を達成するため、本発明に係るディスク検査装置
は、被検査ディスクよりの情報信号の読出しを行うディ
スクドライブ部と、このディスクドライブ部を制御する
とともにこのディスクドライブ部より送られる情報信号
を処理する計測制御回路部と、この計測制御回路部と外
部機器との間の双方向通信を行うインターフェイスユニ
ットとを備えてなるものである。

【００１７】また、本発明に係るディスク検査方法は、
所定のエラー比率のエラー信号を発生する可変レベルエ
ラー発生回路と、被検査ディスクより情報信号を読出し
て読出信号を送出するディスクドライブ部と、上記エラ
ー信号と上記読出信号とがスイッチを介して選択的に送
られる比較器と、上記スイッチにより選択されたエラー
信号または読出信号のレベル判定を行うための基準電圧
を上記比較器に対して供給する閾値電圧可変回路とを備
えてなるものである。

【００１８】そして、本発明に係るディスク検査方法
は、上記ディスク検査装置を用い、上記可変レベルエラ
ー発生回路により既知のエラー比率Ａ％を有する第１の
エラー信号を発生させて上記比較器に送り、この比較器
の出力信号が上記第１のエラー信号についてエラー検出
をした信号となるように上記閾値電圧可変回路により第
１の基準電圧ａを設定し、次に、上記閾値電圧可変回路
によりエラー比率Ｂ％の第２のエラー信号についてエラ
ー検出するための基準電圧として第２の基準電圧ｂを、
ｂ＝ａ・（Ｂ／Ａ）が成立するように設定し、このとき
エラー検出されるエラー信号のエラー比率Ｂ´％を求
め、上記比較器にディスクドライブ部より読出信号を送
り、エラー比率Ｘ％についてエラー検出を行うときに
は、上記閾値電圧可変回路により上記基準電圧を、Ｙ＝
ａ−｛（ａ−ｂ）／（Ａ−Ｂ´）｝・（Ａ−Ｘ）により
算出されるＹに設定してなるものである。

【００１９】

【作用】本発明に係るディスク検査装置においては、被
検査ディスクよりの情報信号の読出しを行うディスクド
ライブ部を制御するとともにこのディスクドライブ部よ
り送られる情報信号を処理する計測制御回路部は、イン
ターフェイスユニットを介して、外部機器との間で双方
向通信を行うことができる。

【００２０】また、本発明に係るディスク検査装置は、
所定のエラー比率のエラー信号を発生する可変レベルエ
ラー発生回路と、被検査ディスクより情報信号を読出し
て読出信号を送出するディスクドライブ部と、上記エラ
ー信号と上記読出信号とがスイッチを介して選択的に送
られる比較器と、上記スイッチにより選択されたエラー
信号または読出信号のレベル判定を行うための基準電圧
を上記比較器に対して供給する閾値電圧可変回路とを備
えているので、基準電圧をエラー比率に応じて調整する
ことができる。

【００２１】そして、本発明に係るディスク検査方法に
おいては、上記可変レベルエラー発生回路により既知の
エラー比率Ａ％を有する第１のエラー信号を発生させて
上記比較器に送り、この比較器の出力信号が上記第１の
エラー信号についてエラー検出をした信号となるように
上記閾値電圧可変回路により第１の基準電圧ａを設定
し、次に、上記閾値電圧可変回路によりエラー比率Ｂ％
の第２のエラー信号についてエラー検出するための基準
電圧として第２の基準電圧ｂを、ｂ＝ａ・（Ｂ／Ａ）が
成立するように設定し、このときエラー検出されるエラ
ー信号のエラー比率Ｂ´％を求め、上記比較器にディス
クドライブ部より読出信号を送り、エラー比率Ｘ％につ
いてエラー検出を行うときには、上記閾値電圧可変回路
により上記基準電圧を、Ｙ＝ａ−｛（ａ−ｂ）／（Ａ−
Ｂ´）｝・（Ａ−Ｘ）により算出されるＹに設定するの
で、広い範囲のエラー比率について、高精度のエラー検
出を行うことができる。

【００２２】

【実施例】以下、本発明の具体的な実施例を図面を参照
しながら説明する。本発明に係るディスク検査装置は、
図５に示すように、比較器（コンパレータ）１を有して
構成される。この比較器１には、再生信号の発生源、す
なわち、被検査ディスクに記録された情報信号の読出し
を行うディスクドライブ部３より送出される読出信号
と、可変レベルエラー発生路４より送出されるエラー信
号とが、スイッチ５を介して、選択的に送られる。

【００２３】上記ディスクは、いわゆるフレキシブルデ
ィスク等の磁気ディスクの如き情報信号の記録媒体とな
るディスクである。上記可変レベルエラー発生回路４
は、図１に示すような「ＥＰ」（エクストラパルス）で
あるエラー信号、または、図２に示すような「ＭＰ」
（ミッシングパルス）であるエラー信号を生成して出力
する回路である。この可変レベルエラー発生回路４は、
発生するエラー信号のエラー比率を、所定の既知のエラ
ー比率とすることができる。

【００２４】上記比較器１には、上記読出信号または上
記エラー信号のレベル判別を行うための比較の基準とな
る基準電圧が供給される。この基準電圧は、閾値電圧可
変回路により供給される。この閾値電圧可変回路は、数
値設定スイッチ１０と、この数値設定スイッチ１０に設
定された数値を読み込むための入力ポート９と、この入
力ポート９を介して数値の入力を行うＣＰＵ（信号処理
ユニット）８と、このＣＰＵ８に制御されるＤ／Ａ変換
器７と、このＤ／Ａ変換器７の出力電圧を可変するバリ
オーム６とを有して構成されている。上記比較器１に
は、上記Ｄ／Ａ変換器７より出力された電圧が、上記バ
リオーム６を介して、基準電圧として供給される。

【００２５】そして、上記比較器１の出力信号は、認識
回路２に送られる。この認識回路２は、上記比較器１の
出力信号において、上記エラー信号が「ＥＰ」であると
きには、図３に示すうよな、矩形波パルスの有無を判別
し、上記エラー信号が「ＭＰ」であるときには、図４に
示すうよな、矩形波パルスの欠損の有無を判別する。

【００２６】このディスク検査装置においては、上記数
値設定スイッチ１０における数値設定と、上記バリオー
ム６の調整とにより、上記基準電圧を適宜設定すること
ができる。

【００２７】そして、本発明に係るディスク検査方法
は、上述のように構成された本発明に係るディスク検査
装置を用いて行う。すなわち、このディスク検査方法に
おいては、先ず、上記スイッチ５を上記可変レベルエラ
ー発生回路４側に切り換え、この可変レベルエラー発生
回路４により既知のエラー比率Ａ％を有する第１のエラ
ー信号を発生させ、この第１のエラー信号を上記比較器
１に送る。

【００２８】そして、上記バリオーム６を調整して、上
記比較器１の出力信号において上記第１のエラー信号に
ついてエラー検出がなされるように、第１の基準電圧ａ
（ｖ）を設定する。

【００２９】次に、上記Ｄ／Ａ変換器７より出力される
基準電圧を、エラー比率Ｂ％の第２のエラー信号につい
てエラー検出するための基準電圧として、第２の基準電
圧ｂ（ｖ）に設定する。この第２の基準電圧ｂ（ｖ）
は、 ｂ＝ａ・（Ｂ／Ａ） ・・・・・・・・・・・・（式１） が成立するように設定する。

【００３０】そして、上記第２の基準電圧ｂ（ｖ）が設
定されているときに実際にエラー検出されるエラー信号
のエラー比率Ｂ´％を求める。このＢ´％を、上記数値
設定スイッチ１０に数値設定する。

【００３１】この状態において、上記スイッチ５を、上
記ディスクドライブ部３側に切り換える。すると、上記
比較器１には、上記ディスクドライブ部３より上記読出
信号が送られる。そして、上記ＣＰＵ８は、任意のエラ
ー比率Ｘ％についてエラー検出を行うときには、上記入
力ポート９を介して上記数値設定スイッチ１０に設定さ
れた数値を読み込むとともに、上記Ｄ／Ａ変換器７を制
御することにより、上記基準電圧を、 Ｙ＝ａ−｛（ａ−ｂ）／（Ａ−Ｂ´）｝・（Ａ−Ｘ）・・・・・・・・・・・・（式２） により算出されるＹに設定する。なお、上記ＣＰＵ８に
は、上記第１のエラー信号のエラー比率Ａ％、任意のエ
ラー比率Ｘ％、上記第１及び第２の基準電圧ａ（ｖ），
ｂ（ｖ）が、上記式２に基づく制御を行うに先立って入
力されている。

【００３２】このようにして基準電圧が設定されると、
このディスク検査装置を構成する回路にオフセットが存
在している場合においても、このオフセットが補正され
るため、広い範囲のエラー比率について高精度のエラー
検出を行うことができる。

【００３３】そして、上述のディスク検査装置は、図８
乃至図１２に示すように、一体的に構成することができ
る。

【００３４】すなわち、このディスク検査装置は、図８
に示すように、シャーシ２１を有し、このシャーシ２１
上に、前面パネル２２、電源コントロール基板２３、デ
ジタル基板２４、アナログ基板２５及びディスクドライ
ブ部１２を有して構成されている。上記電源コントロー
ル基板２３、デジタル基板２４及びアナログ基板２５
は、上記シャーシ２１上に配設された基板ラック２６に
支持されている。

【００３５】上記ディスクドライブ部１２は、図９に示
すように、ヘッド２７、ヘッドシークモータ２９、００
センサ３０、ディスク種別検出スイッチ３１及びスピン
ドル回転数切り換えポート３２等を有して構成されてい
る。上記ヘッド２７は、ヘッドハーネス２８を介して、
上記アナログ基板２５に接続されている。上記ヘッドシ
ークモータ２９は、ステッパーハーネス３５を介して、
バックプレーン３７に接続されている。上記００センサ
３０は、上記ヘッドが基準位置（００位置）にあること
を検出するセンサであって、００センサハーネス３４を
介して、上記バックプレーン３７に接続されている。上
記ディスク種別検出スイッチ３１及びスピンドル回転数
切り換えポート３２は、補助Ｉ／Ｏハーネス３３を介し
て、上記バックプレーン３７に接続されている。また、
このディスクドライブ部１２は、ディスクドライブＩ／
Ｆ（インターフェイス）ハーネス３６を介して、上記バ
ックプレーン３７に接続されている。

【００３６】上記バックプレーン３７には、上記アナロ
グ基板２５及び上記デジタル基板２４が接続されてい
る。このアナログ基板２５には、メンテコネクタ４４が
接続されている。上記デジタル基板２４には、ＧＰ−Ｉ
Ｂ（ジェネラルパーボーズインターフェイスバス：ｇｅ
ｎｅｒａｌ ｐｕｒｐｏｓｅ ｉｎｔｅｒｆａｃｅ ｂ
ｕｓ））コネクタ４３が接続されている。また、上記バ
ックプレーン３７には、電源２次ハーネス３８を介し
て、上記電源コントロール基板２３が接続されている。
この電源コントロール基板２３には、電源１次ハーネス
４０を介して電源コネクタ４１が接続され、電源スイッ
チハーネス３９を介して電源スイッチ４２が接続されて
いる。上記電源コネクタ４１及び上記電源スイッチ４２
は、上記前面パネル２２に取付けられている。

【００３７】上記アナログ基板２５は、図１０に示すよ
うに、上記比較器１を含んで構成され上記バックプレー
ン３７に接続された一対の測定回路４９，５１を有して
いるこのアナログ基板２５において、上記各測定回路４
９，５１には、一対のアナログスイッチ４８，５２、一
対の再生アンプ４７，５３及び一対のＲ／Ｗ（リード／
ライト）アンプ４６，５４が順次対応して接続されてい
る。一方のＲ／Ｗ（リード／ライト）アンプ４６は、デ
ィスクの第１面（サイド０）用のヘッド２７に接続され
ている。すなわち、一方の測定回路４９は、上記ディス
クの第１面について検査を行うための回路である。ま
た、他方のＲ／Ｗ（リード／ライト）アンプ５４は、デ
ィスクの第２面（サイド１）用のヘッド２７に接続され
ている。すなわち、他方の測定回路５１は、上記ディス
クの第２面について検査を行うための回路である。ま
た、このアナログ基板２５には、上記バックプレーン３
７に接続されたエンベロープ回路５０が設けられてい
る。

【００３８】上記デジタル基板２４は、図１１に示すよ
うに、それぞれ上記バックプレーン３７に接続された、
サイド０用認識回路５５、サイド１用認識回路５６、上
記基準電圧発生用のＤ／Ａ変換器５７、Ａ／Ｄ変換器５
８、消費電流測定回路５９、ヘッドシークモータ駆動回
路６０を有している。これら各回路は、Ｉ／Ｏ６１に接
続されている。また、このＩ／Ｏ６１は、上記バックプ
レーン３７に接続されている。そして、このＩ／Ｏ６１
は、ＣＰＵ（Ｚ８０）６５に接続されている。このＣＰ
Ｕ６５には、ＣＴＣ６２、ＲＯＭ（リードオンリーメモ
リ）６３、ＲＡＭ（ランダムアクセスメモリ）６４及び
ＧＰ−ＩＢコントローラ６７が接続されている。このＧ
Ｐ−ＩＢコントローラ６７は、上記ＧＰ−ＩＢコネクタ
（インターフェイスコネクタ）４３に接続されている。

【００３９】そして、上記電源コントロール基板２３
は、図１２に示すように、上記電源２次ハーネス３８に
接続されたサージ除去回路６８及び直流制限回路６９を
有している。上記サージ除去回路６８は、ＧＰ−ＩＢア
ドレスラインを介して、上記電源コネクタ４１に接続さ
れている。上記直流制限回路６９は、電源ラインを介し
て、上記電源コネクタ４１に接続されている。また、上
記直流制限回路６９には、電源オン／オフ回路７０が接
続されている。この電源オン／オフ回路７０は、上記電
源スイッチ４２に接続されている。

【００４０】上述のように構成されたディスク検査装置
１１は、図６に示すように、上記ディスクドライブ部１
２に接続された計測回路１３及びＣＰＵ回路１４と、こ
のＣＰＵ回路１４に接続されたＧＰ−ＩＢインターフェ
イス回路１５とを有して構成されていることになる。し
たがって、このディスク検査装置においては、上記ＣＰ
Ｕ回路１４は、上記ＧＰ−ＩＢインターフェイス回路１
５及びＧＰ−ＩＢケーブル１７を介して、外部機器と双
方向通信を行うことができる。なお、このディスク検査
装置においては、上記ＣＰＵ回路１４には、汎用入出力
回路１６が接続されている。また、このディスク検査装
置には、電源ケーブル１８が接続されている。

【００４１】このディスク検査装置１１のＣＰＵ回路１
４は上記インターフェイス回路を介して外部機器と双方
向通信を行えるため、図７に示すように、このディスク
検査装置１１を複数台用いてディスク検査システムを構
成する場合には、これらディスク検査装置１１の各ＣＰ
Ｕ回路１４は、一のシステムコントローラ１９に対し
て、一本のＧＰ−ＩＢケーブル１７を介して、いわゆる
ディジーチェーン状に接続されることができる。これら
各ディスク検査装置１１は、上記システムコントローラ
１９により、各々独立的に制御されることができる。ま
た、上記各ディスク検査装置１１には、一の電源装置２
０より、並列的に電源供給されることができる。

【００４２】すなわち、このディスク検査装置１１は、
図１４及び図１５に示すように、システムコントローラ
としていわゆるＶＭＥ（バーサモジュールヨーロピア
ン：Ｖｅｒｓａ Ｍｏｄｕｌｅ Ｅｕｒｏｐｅａｎ）バ
スシステムを用い、複数のＧＰ−ＩＢボード９２を用い
て、多数のディスクを検査するディスク検査システムを
構成することができる。このディスク検査システムにお
いては、複数のディスクドライブ部１２は、ラック８１
に収納され、ＦＤＣ（ディスクコントローラ）ボード８
８を介して、メインＣＰＵ（信号処理ユニット）９１が
接続されたＶＭＥバス８９に接続されている。このＶＭ
Ｅバス８９には、ＥＧＳ−１ボード８４を介して、操作
部７９が接続されている。この操作部７９には、ディス
プレイ８０が接続されている。このディスプレイ８０
は、上記ラック８１に取付けられている。また、上記Ｖ
ＭＥバス８９には、複数のメモリ装置８３、デュアルＩ
／Ｏ（ＤＩＯ）ボード８５、ＰＩＡ（ペリフェラルイン
ターフェイスアダプタ：ｐｅｒｉｆｅｒａｌ ｉｎｔｅ
ｒｆａｃｅ ａｄａｐｔｅｒ）ボード８６及びＳＩＯボ
ード８７等が接続されている。

【００４３】そして、上記メインＣＰＵ９１には、Ｉ／
Ｏチャンネルバス９０が接続されている。このＩ／Ｏチ
ャンネルバス９０には、複数のＧＰ−ＩＢボード９２及
び複数のＰＰＭＣボード９３が接続されている。上記各
ＧＰ−ＩＢボード９２には、上記各ディスク検査装置１
１のＣＰＵ９５，９６，９９が対応して接続されてい
る。また、上記各ＰＰＭＣボード９３には、それぞれモ
ータドライバ９７を介して、複数のモータ９８が接続さ
れている。これらモータ９８は、上記各ディスク検査装
置１１に対して被検査ディスクを搬送し供給するための
モータである。すなわち、上記ラック８１の近傍には、
上記被検査ディスクを搬送し各ディスク検査装置１１に
供給するためのロボットアーム７４及び該被検査ディス
クを搬送するためのベルトコンベア装置７７が配設され
ている。上記各モータ９８は、上記ロボットアーム７４
及び上記ベルトコンベア装置７７を駆動するモータであ
る。なお、上記ベルトコンベア７７上には、複数の被検
査ディスクを積層させて支持するディスクストッカ８２
が設けられている。

【００４４】また、本発明に係るディスク検査装置１１
は、図１３に示すように、いわゆるパーソナルコンピュ
ータ１９をコントローラとして用いて、ディスク検査シ
ステムを構成することができる。すなわち、上記パーソ
ナルコンピュータ１９には、ＧＰ−ＩＢケーブル１７を
介して、上記ディスクドライブ部１２を有するディスク
検査装置１１が接続される。このディスク検査装置１１
には、電源装置２０より電源供給がなされる。このディ
スク検査システムにおいては、上記パーソナルコンピュ
ータ１９に接続されたキーボード部７２により種々の制
御情報を入力し、該パーソナルコンピュータ１９に接続
されたディスプレイ７１により種々の検査結果の表示を
行うことができる。

【００４５】

【発明の効果】上述のように、本発明に係るディスク検
査装置においては、被検査ディスクよりの情報信号の読
出しを行うディスクドライブ部を制御するとともにこの
ディスクドライブ部より送られる情報信号を処理する計
測制御回路部は、インターフェイスユニットを介して、
外部機器との間で双方向通信を行うことができる。

【００４６】したがって、このディスク検査装置におい
ては、システム形態の変更や小型化が容易化されなが
ら、検査結果の信頼性の向上及び制御の高速化を実現す
ることができる。

【００４７】また、本発明に係るディスク検査装置は、
所定のエラー比率のエラー信号を発生する可変レベルエ
ラー発生回路と、被検査ディスクより情報信号を読出し
て読出信号を送出するディスクドライブ部と、上記エラ
ー信号と上記読出信号とがスイッチを介して選択的に送
られる比較器と、上記スイッチにより選択されたエラー
信号または読出信号のレベル判定を行うための基準電圧
を上記比較器に対して供給する閾値電圧可変回路とを備
えている。そのため、このディスク検査装置において
は、上記基準電圧をエラー比率に応じて調整することが
できる。

【００４８】そして、本発明に係るディスク検査方法に
おいては、上記可変レベルエラー発生回路により既知の
エラー比率Ａ％を有する第１のエラー信号を発生させて
上記比較器に送り、この比較器の出力信号が上記第１の
エラー信号についてエラー検出をした信号となるように
上記閾値電圧可変回路により第１の基準電圧ａを設定
し、次に、上記閾値電圧可変回路によりエラー比率Ｂ％
の第２のエラー信号についてエラー検出するための基準
電圧として第２の基準電圧ｂを、ｂ＝ａ・（Ｂ／Ａ）が
成立するように設定し、このときエラー検出されるエラ
ー信号のエラー比率Ｂ´％を求め、上記比較器にディス
クドライブ部より読出信号を送り、エラー比率Ｘ％につ
いてエラー検出を行うときには、上記閾値電圧可変回路
により上記基準電圧を、Ｙ＝ａ−｛（ａ−ｂ）／（Ａ−
Ｂ´）｝・（Ａ−Ｘ）により算出されるＹに設定する。

【００４９】したがって、このディスク検査方法におい
ては、広い範囲のエラー比率について、高精度のエラー
検出を行うことができる。

【００５０】すなわち、本発明は、広い範囲のエラー比
率について高精度のエラー検出が行えるディスク検査装
置及びディスク検査方法を提供することができるもので
ある。

【図面の簡単な説明】

【図１】ディスクの検査において使用されるエクストラ
パルスを示す波形図である。

【図２】ディスクの検査において使用されるミッシング
パルスを示す波形図である。

【図３】上記エクストラパルスを検出するためのディス
ク検査装置の要部の構成を示す回路図及びこの回路上に
おける信号波形を示す波形図である。

【図４】上記ミッシングパルスを検出するためのディス
ク検査装置の要部の構成を示す回路図及びこの回路上に
おける信号波形を示す波形図である。

【図５】本発明に係るディスク検査装置の構成を示すブ
ロック回路図である。

【図６】上記ディスク検査装置のディスクドライブ部周
辺の構成を示すブロック図である。

【図７】上記ディスク検査装置のディスクドライブ部を
複数台有して構成されたディスク検査システムを示すブ
ロック図である。

【図８】上記ディスク検査装置の構成を模式的に示す側
面図である。

【図９】上記ディスク検査装置の構成を模式的に示す平
面図である。

【図１０】上記ディスク検査装置のアナログ基板の構成
を模式的に示す平面図である。

【図１１】上記ディスク検査装置のデジタル基板の構成
を模式的に示す平面図である。

【図１２】上記ディスク検査装置の電源コントロール基
板の構成を模式的に示す平面図である。

【図１３】上記ディスク検査装置の構成を示す正面図で
ある。

【図１４】上記ディスク検査装置のディスクドライブ部
を複数台有して構成されたディスク検査システムを示す
斜視図である。

【図１５】上記ディスク検査システムの構成を示すブロ
ック図である。

【図１６】従来のディスク検査装置の構成を示すブロッ
ク図である。

【符号の説明】

１・・・・・・・・・・・・比較器 ３・・・・・・・・・・・・ディスクドライブ部 ４・・・・・・・・・・・・可変レベルエラー発生回路 ５・・・・・・・・・・・・スイッチ ６・・・・・・・・・・・・バリオーム ７・・・・・・・・・・・・Ｄ／Ａ変換器 ８・・・・・・・・・・・・ＣＰＵ ９・・・・・・・・・・・・入力ポート １０・・・・・・・・・・・・数値設定スイッチ

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 被検査ディスクよりの情報信号の読出し
   を行うディスクドライブ部と、 上記ディスクドライブ部を制御するとともに、このディ
   スクドライブ部より送られる情報信号を処理する計測制
   御回路部と、 上記計測制御回路部と外部機器との間の双方向通信を行
   うインターフェイスユニットとを備えてなるディスク検
   査装置。
2. 【請求項２】 所定のエラー比率のエラー信号を発生す
   る可変レベルエラー発生回路と、 被検査ディスクより情報信号を読出して読出信号を送出
   するディスクドライブ部と、 上記エラー信号と上記読出信号とが、スイッチを介し
   て、選択的に送られる比較器と、 上記スイッチにより選択されたエラー信号または読出信
   号のレベル判定を行うための基準電圧を上記比較器に対
   して供給する閾値電圧可変回路とを備えてなるディスク
   検査装置。
3. 【請求項３】 請求項２記載のディスク検査装置を用
   い、 可変レベルエラー発生回路により既知のエラー比率Ａ％
   を有する第１のエラー信号を発生させて比較器に送り、 上記比較器の出力信号が上記第１のエラー信号について
   エラー検出をした信号となるように、閾値電圧可変回路
   により第１の基準電圧ａを設定し、 次に、上記閾値電圧可変回路により、エラー比率Ｂ％の
   第２のエラー信号についてエラー検出するための基準電
   圧として、第２の基準電圧ｂを、ｂ＝ａ・（Ｂ／Ａ）が
   成立するように設定し、このときエラー検出されるエラ
   ー信号のエラー比率Ｂ´％を求め、 上記比較器にディスクドライブ部より読出信号を送り、
   エラー比率Ｘ％についてエラー検出を行うときには、上
   記閾値電圧可変回路により、上記基準電圧を、Ｙ＝ａ−
   ｛（ａ−ｂ）／（Ａ−Ｂ´）｝・（Ａ−Ｘ）により算出
   されるＹに設定してなるディスク検査方法。