JPH06205302A - 画素欠陥補正装置 - Google Patents
画素欠陥補正装置Info
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- JPH06205302A JPH06205302A JP50A JP53093A JPH06205302A JP H06205302 A JPH06205302 A JP H06205302A JP 50 A JP50 A JP 50A JP 53093 A JP53093 A JP 53093A JP H06205302 A JPH06205302 A JP H06205302A
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Abstract
(57)【要約】 （修正有）
【目的】 固体撮像素子を用いた撮像装置において、本
来の信号と画素欠陥を正確に区別し、検出、補正を行
い、良好な画像を得る。 【構成】 ＦＦ１〜４により注目画素とその前後と更に
その前後の画素データｙn-2、ｙn-1、ｙn、ｙn+1、ｙ
n+2を抽出し、加算器１１〜１６、比較回路２１〜２４
を用い、下記の比較回路の判定出力のＡＮＤを取り、４
式をすべて満たすとき画素欠陥と判定し、検出信号を出
力し補正信号を出力する。 ｙn−ｙn-1＞ａ1 （１） ｙn−ｙn+1＞ａ2 （２） ｙn-1＜ｂ1（ｙn＋ｙn-2）／２ （３） ｙn+1＜ｂ2（ｙn＋ｙn-2）／２ （４）
来の信号と画素欠陥を正確に区別し、検出、補正を行
い、良好な画像を得る。 【構成】 ＦＦ１〜４により注目画素とその前後と更に
その前後の画素データｙn-2、ｙn-1、ｙn、ｙn+1、ｙ
n+2を抽出し、加算器１１〜１６、比較回路２１〜２４
を用い、下記の比較回路の判定出力のＡＮＤを取り、４
式をすべて満たすとき画素欠陥と判定し、検出信号を出
力し補正信号を出力する。 ｙn−ｙn-1＞ａ1 （１） ｙn−ｙn+1＞ａ2 （２） ｙn-1＜ｂ1（ｙn＋ｙn-2）／２ （３） ｙn+1＜ｂ2（ｙn＋ｙn-2）／２ （４）
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はＣＣＤ等の固体撮像素子
を用いた撮像装置において、固体撮像素子に存在する画
素欠陥を検出し補正する画素欠陥補正装置に関するもの
である。
を用いた撮像装置において、固体撮像素子に存在する画
素欠陥を検出し補正する画素欠陥補正装置に関するもの
である。
【０００２】
【従来の技術】一般にＣＣＤ等の半導体により形成され
た固体撮像素子においては、半導体の局部的な結晶欠陥
等により画質劣化を生じることが知られている。入射光
量に応じた撮像出力に常に一定のバイアス電圧が加算さ
れてしまう画像欠陥は、この画像欠陥信号がそのまま処
理されるとモニター画面上に高輝度の白い点として現れ
るので白キズと呼ばれている。また光電感度の低いもの
は黒い点として現れるので黒キズと呼ばれている（以
後、画素欠陥をキズと称する）。
た固体撮像素子においては、半導体の局部的な結晶欠陥
等により画質劣化を生じることが知られている。入射光
量に応じた撮像出力に常に一定のバイアス電圧が加算さ
れてしまう画像欠陥は、この画像欠陥信号がそのまま処
理されるとモニター画面上に高輝度の白い点として現れ
るので白キズと呼ばれている。また光電感度の低いもの
は黒い点として現れるので黒キズと呼ばれている（以
後、画素欠陥をキズと称する）。
【０００３】従来、上記のようなキズに対する検出に関
しては、例えば特開昭６１−２６１９７４号公報に示さ
れている。この方法は注目画素が周辺の画素に対して一
定量以上大きいまたは小さい出力を持つ画素をキズとし
て検出する方法であり、横方向および縦方向に隣接画素
間の差を取り、周辺の画素と異なる出力を持つ画素を検
出するものである。
しては、例えば特開昭６１−２６１９７４号公報に示さ
れている。この方法は注目画素が周辺の画素に対して一
定量以上大きいまたは小さい出力を持つ画素をキズとし
て検出する方法であり、横方向および縦方向に隣接画素
間の差を取り、周辺の画素と異なる出力を持つ画素を検
出するものである。
【０００４】以下、ＣＣＤの水平方向における白キズの
検出の場合について説明を行うものとし、まずこの場合
の従来の画素欠陥補正装置について具体的に説明を行
う。白キズは、周辺の画素に対して、通常１画素のみ突
出している。例えば、注目画素とその前後の画素の関係
は図１０（ａ）のように表される。このため、注目画素
とその隣接する前後の画素と比較し、注目画素が一定レ
ベル以上前後の画素より大きい場合キズと見なすことが
できる。
検出の場合について説明を行うものとし、まずこの場合
の従来の画素欠陥補正装置について具体的に説明を行
う。白キズは、周辺の画素に対して、通常１画素のみ突
出している。例えば、注目画素とその前後の画素の関係
は図１０（ａ）のように表される。このため、注目画素
とその隣接する前後の画素と比較し、注目画素が一定レ
ベル以上前後の画素より大きい場合キズと見なすことが
できる。
【０００５】上記内容を実現するブロック図を図９に示
す。入力された信号は複数のフリップフロップ（以下Ｆ
Ｆと略す）１，２を通り、順次送られてきた注目画素値
とその前後の画素値、ｙn-1、ｙn、 ｙn+1を得る。これ
らの信号に対して、加算器１１，１２，比較回路２１，
２２，ＡＮＤ回路３０により下記の演算を行っている。
す。入力された信号は複数のフリップフロップ（以下Ｆ
Ｆと略す）１，２を通り、順次送られてきた注目画素値
とその前後の画素値、ｙn-1、ｙn、 ｙn+1を得る。これ
らの信号に対して、加算器１１，１２，比較回路２１，
２２，ＡＮＤ回路３０により下記の演算を行っている。
【０００６】 ｙn-1−ｙn＞ａ1 （１１） ｙn+1−ｙn＞ａ2 （１２） ａ1、ａ2は、ｙnのｙn-1、ｙn+1に対する突出量のしき
い値であり、ここではａ1＝ ａ2＝ａ（＞０）として考
える。
い値であり、ここではａ1＝ ａ2＝ａ（＞０）として考
える。
【０００７】以上により、注目する画素の値がその周辺
の画素の値に対して一定レベル以上突出している場合は
キズとみなし、検出出力を出力する。補正回路は、検出
出力により制御される。
の画素の値に対して一定レベル以上突出している場合は
キズとみなし、検出出力を出力する。補正回路は、検出
出力により制御される。
【０００８】画素欠陥の補正に関しては、特開昭６２−
８６６６号公報にいくつかの方法が示されている。例え
ば、１画素もしくは２画素前の画素で置換する方法、前
後の画素値の平均で置換する方法、または同様に垂直方
向で考え、１つ上の画素で置換する方法、上下の画素値
の平均で置換する方法などがある。
８６６６号公報にいくつかの方法が示されている。例え
ば、１画素もしくは２画素前の画素で置換する方法、前
後の画素値の平均で置換する方法、または同様に垂直方
向で考え、１つ上の画素で置換する方法、上下の画素値
の平均で置換する方法などがある。
【０００９】ここでは、補正回路は前後の画素値の平均
で置換するものとし、ブロック図は図３に示したように
なり、動作は以下の通りである。入力された信号はＦＦ
５，６を通り、中央の注目画素の値とその前後の画素値
を抽出する。注目画素の前後の画素値からこれらの平均
値を求め補正信号としている。検出回路の検出出力に従
い、通常は中央の注目画素の値を、キズと判定した場合
は補正信号を出力する。
で置換するものとし、ブロック図は図３に示したように
なり、動作は以下の通りである。入力された信号はＦＦ
５，６を通り、中央の注目画素の値とその前後の画素値
を抽出する。注目画素の前後の画素値からこれらの平均
値を求め補正信号としている。検出回路の検出出力に従
い、通常は中央の注目画素の値を、キズと判定した場合
は補正信号を出力する。
【００１０】以上より、周辺の画素の値に対して一定レ
ベル以上突出している画素に対してはキズとして検出で
き、目立たないよう補正することができる。
ベル以上突出している画素に対してはキズとして検出で
き、目立たないよう補正することができる。
【００１１】
【発明が解決しようとする問題点】しかしながら、上記
の方法によれば、点光源のような信号に対しては、信号
であるにも関わらず突出していることからキズと誤って
判定する。例えば、周囲が暗い中で１点のみ明るい図１
０（ｂ）のようなＣＣＤ出力信号の場合、その中心の信
号はキズと誤って判定され、誤補正されてしまう。これ
により図１０（ｂ）の補正回路出力信号のように、本来
あるべき信号が欠けた形になる。このように点光源のよ
うな信号がある場合には画質を劣化させ、良好な画像を
得ることができないという問題を有していた。
の方法によれば、点光源のような信号に対しては、信号
であるにも関わらず突出していることからキズと誤って
判定する。例えば、周囲が暗い中で１点のみ明るい図１
０（ｂ）のようなＣＣＤ出力信号の場合、その中心の信
号はキズと誤って判定され、誤補正されてしまう。これ
により図１０（ｂ）の補正回路出力信号のように、本来
あるべき信号が欠けた形になる。このように点光源のよ
うな信号がある場合には画質を劣化させ、良好な画像を
得ることができないという問題を有していた。
【００１２】本発明はこのような従来の問題点を解決す
るものであり、簡単な構成で信号とキズを精度良く判別
し、キズについてのみ補正を行い、点光源のような信号
を含む画像においても、本来の画質を劣化させることな
く、良好な画像を得ることができる画素欠陥補正装置を
提供するものである。
るものであり、簡単な構成で信号とキズを精度良く判別
し、キズについてのみ補正を行い、点光源のような信号
を含む画像においても、本来の画質を劣化させることな
く、良好な画像を得ることができる画素欠陥補正装置を
提供するものである。
【００１３】
【問題を解決するための手段】本発明の画素欠陥補正装
置は、固体撮像素子と、固体撮像素子の各画素を順次走
査し読み出された信号をサンプリングするサンプリング
回路とを有する撮像装置と、第１の画素の値と、隣接す
る第２、第３の画素の値と、第２、第３の画素に隣接し
第１の画素から離れた側にある第４、第５の画素の値を
抽出する抽出回路と、抽出された画素値を演算処理する
演算回路とからなり画素欠陥を検出する検出回路と、検
出回路の出力信号により制御される補正回路とからなる
ことを特徴とする画素欠陥補正装置である。
置は、固体撮像素子と、固体撮像素子の各画素を順次走
査し読み出された信号をサンプリングするサンプリング
回路とを有する撮像装置と、第１の画素の値と、隣接す
る第２、第３の画素の値と、第２、第３の画素に隣接し
第１の画素から離れた側にある第４、第５の画素の値を
抽出する抽出回路と、抽出された画素値を演算処理する
演算回路とからなり画素欠陥を検出する検出回路と、検
出回路の出力信号により制御される補正回路とからなる
ことを特徴とする画素欠陥補正装置である。
【００１４】
【作用】本発明によれば、点光源のような信号において
も従来のように誤検出、誤補正を行わず、信号とキズを
区別し、キズを精度良く検出できるため、キズについて
のみ補正を行い、本来の画質を劣化させることなく、良
好な画像を得ることができる。
も従来のように誤検出、誤補正を行わず、信号とキズを
区別し、キズを精度良く検出できるため、キズについて
のみ補正を行い、本来の画質を劣化させることなく、良
好な画像を得ることができる。
【００１５】
【実施例】（実施例１）以下、本発明の第１の実施例に
ついて図面を参照して説明する。
ついて図面を参照して説明する。
【００１６】本発明の第１の実施例の全体ブロック図を
図１に示す。入射光はレンズ１０１、光学ＬＰＦ１０２
を経由しＣＣＤ１０３に到達し、ＣＣＤ１０３により光
電変換され、ＣＤＳ回路１０４、ＡＤ変換器１０５を介
し、デジタル信号に変換される。この信号より検出回路
１０６でキズを検出し、検出信号を出力する。この検出
信号により補正回路１０７を制御する。
図１に示す。入射光はレンズ１０１、光学ＬＰＦ１０２
を経由しＣＣＤ１０３に到達し、ＣＣＤ１０３により光
電変換され、ＣＤＳ回路１０４、ＡＤ変換器１０５を介
し、デジタル信号に変換される。この信号より検出回路
１０６でキズを検出し、検出信号を出力する。この検出
信号により補正回路１０７を制御する。
【００１７】本発明の第１の実施例の検出回路のブロッ
ク図を図２に示す。このブロック図では以下の動作を行
う。まずＦＦ１〜４により注目画素とその前後、および
さらにその前後の計５画素の画素データｙn-2，ｙn-1，
ｙn，ｙn+1，ｙn+2を抽出する。ここで、ＦＦ１〜４の
クロックはＣＣＤのクロックと同じｆCKである。これら
の画素データに対し、加算器１１〜１６、コンパレータ
２１〜２４を用い下記の演算を行う。
ク図を図２に示す。このブロック図では以下の動作を行
う。まずＦＦ１〜４により注目画素とその前後、および
さらにその前後の計５画素の画素データｙn-2，ｙn-1，
ｙn，ｙn+1，ｙn+2を抽出する。ここで、ＦＦ１〜４の
クロックはＣＣＤのクロックと同じｆCKである。これら
の画素データに対し、加算器１１〜１６、コンパレータ
２１〜２４を用い下記の演算を行う。
【００１８】 ｙn−ｙn-1＞ａ1 （１） ｙn−ｙn+1＞ａ2 （２） ａ1＝ ａ2＝ａ（＞０） ｙn-1＜ｂ1（ｙn＋ｙn-2）／２ （３） ｙn+1＜ｂ2（ｙn＋ｙn-2）／２ （４） ｂ1＝ｂ2＝ｂ＝１／２ 式（１），（２）では、注目画素が周辺画素に対して一
定値以上突出しているという条件を満たすことを判定す
る。これにより、キズであるための必要条件を満たすこ
とを判定しており、点光源も含まれる。ａ1，ａ2は突出
量が一定値以上であることを判定するためのしきい値で
あり、ここではａ1＝ａ2＝ａ（＞０）としている。これ
らの演算を加算器１１，１２，比較回路２１，２２を用
いて行っている。
定値以上突出しているという条件を満たすことを判定す
る。これにより、キズであるための必要条件を満たすこ
とを判定しており、点光源も含まれる。ａ1，ａ2は突出
量が一定値以上であることを判定するためのしきい値で
あり、ここではａ1＝ａ2＝ａ（＞０）としている。これ
らの演算を加算器１１，１２，比較回路２１，２２を用
いて行っている。
【００１９】式（３），（４）では、隣接する前後の画
素データが一定のレベル以上あるという条件を満たすこ
とを判定する。これによりキズと点光源の区別を行って
いる。ｂ1、ｂ2は隣接する前後の画素データの突出量を
判定するためのしきい値を決めるための係数である。こ
こでは、しきい値を、式（３），（４）の右辺のように
設定している。ｂ1，ｂ2を注目画素データと１個おいて
前後の画素データとの平均に掛け、しきい値を算出して
いる。ｂ1，ｂ2は一例として、ｂ1＝ｂ2＝ｂ＝１／２と
設定してある。これらの演算を加算器１３，１４，１
５，１６、比較回路２３，２４を用いて行っている。
素データが一定のレベル以上あるという条件を満たすこ
とを判定する。これによりキズと点光源の区別を行って
いる。ｂ1、ｂ2は隣接する前後の画素データの突出量を
判定するためのしきい値を決めるための係数である。こ
こでは、しきい値を、式（３），（４）の右辺のように
設定している。ｂ1，ｂ2を注目画素データと１個おいて
前後の画素データとの平均に掛け、しきい値を算出して
いる。ｂ1，ｂ2は一例として、ｂ1＝ｂ2＝ｂ＝１／２と
設定してある。これらの演算を加算器１３，１４，１
５，１６、比較回路２３，２４を用いて行っている。
【００２０】以上の４個の比較回路による各１ビットに
出力判定出力のＡＮＤを取り、上記の４式をすべて満た
すことを判定する。４式をすべて満たすときキズと判定
し、検出回路１０６より検出信号を出力し、補正回路１
０７に補正信号を出力するよう制御する。
出力判定出力のＡＮＤを取り、上記の４式をすべて満た
すことを判定する。４式をすべて満たすときキズと判定
し、検出回路１０６より検出信号を出力し、補正回路１
０７に補正信号を出力するよう制御する。
【００２１】本発明の第１の実施例の補正回路のブロッ
ク図を図３に示す。入力された信号はＦＦ５，６を通
り、中央の注目画素の値とその前後の画素値を抽出す
る。ここで、ＦＦ５，６のクロックはｆCKである。注目
画素の前後の画素値からこれらの平均値を求め補正信号
としている。検出回路の検出出力に従い、通常は中央の
注目画素の値を、キズと判定した場合は補正信号を出力
する。また検出回路との時間合わせは必要に応じ行うも
のとする。
ク図を図３に示す。入力された信号はＦＦ５，６を通
り、中央の注目画素の値とその前後の画素値を抽出す
る。ここで、ＦＦ５，６のクロックはｆCKである。注目
画素の前後の画素値からこれらの平均値を求め補正信号
としている。検出回路の検出出力に従い、通常は中央の
注目画素の値を、キズと判定した場合は補正信号を出力
する。また検出回路との時間合わせは必要に応じ行うも
のとする。
【００２２】（実施例２）以下、本発明の第２の実施例
について図面を参照して説明する。本発明の第２の実施
例の全体ブロック図を図５に示す。入射光はレンズ５０
１、光学ＬＰＦ５０２を経由し、プリズム５０３によ
り、Ｒ，Ｇ，Ｂの各色信号に分離され、それぞれに対応
したＣＣＤ５０４，５０５，５０６に到達する。ＧのＣ
ＣＤ５０４に対し、Ｒ，ＢのＣＣＤ５０５，５０６は水
平方向に半画素ずれた位置に配置されている。これらの
ＣＣＤにより光電変換され、ＣＤＳ回路５０７，５０
８，５０９、ＡＤ変換器５１０，５１１，５１２を介
し、デジタル信号に変換される。この信号より検出回路
５１３でキズを検出し、検出信号を出力する。この検出
信号により補正回路５１４を制御する。
について図面を参照して説明する。本発明の第２の実施
例の全体ブロック図を図５に示す。入射光はレンズ５０
１、光学ＬＰＦ５０２を経由し、プリズム５０３によ
り、Ｒ，Ｇ，Ｂの各色信号に分離され、それぞれに対応
したＣＣＤ５０４，５０５，５０６に到達する。ＧのＣ
ＣＤ５０４に対し、Ｒ，ＢのＣＣＤ５０５，５０６は水
平方向に半画素ずれた位置に配置されている。これらの
ＣＣＤにより光電変換され、ＣＤＳ回路５０７，５０
８，５０９、ＡＤ変換器５１０，５１１，５１２を介
し、デジタル信号に変換される。この信号より検出回路
５１３でキズを検出し、検出信号を出力する。この検出
信号により補正回路５１４を制御する。
【００２３】本発明の第２の実施例の検出回路のブロッ
ク図を図６に示す。Ｇ信号に対し、Ｒ，Ｂ信号は同じ関
係にあるため、ここでは、検出回路にＧ信号とＲ信号が
入力された場合について示してある。このブロック図で
は以下の動作を行う。まず入力したＧ信号とＲ信号はＣ
ＣＤのクロックと同じｆCKで動作するＦＦ５１，５２を
通り、２ｆCKで動作するセレクタ４０により２ｆCKレー
トでＧ，Ｒ信号のシリアル信号に変換される、その後、
ＦＦ１〜４により注目画素として例えばＧ信号とする
と、Ｇ信号ｇnとその半画素前後のＲ信号ｒn-0.5、ｒ
n+0.5、および１画素前後のｇn-1、ｇn+1の計５画素の
画素2を抽出する。ここでは、ＦＦ１〜４のクロック
は、２ｆCKである。これらの画素データに対し、加算器
１１〜１６、比較回路２１〜２４を用い下記の演算を行
う。
ク図を図６に示す。Ｇ信号に対し、Ｒ，Ｂ信号は同じ関
係にあるため、ここでは、検出回路にＧ信号とＲ信号が
入力された場合について示してある。このブロック図で
は以下の動作を行う。まず入力したＧ信号とＲ信号はＣ
ＣＤのクロックと同じｆCKで動作するＦＦ５１，５２を
通り、２ｆCKで動作するセレクタ４０により２ｆCKレー
トでＧ，Ｒ信号のシリアル信号に変換される、その後、
ＦＦ１〜４により注目画素として例えばＧ信号とする
と、Ｇ信号ｇnとその半画素前後のＲ信号ｒn-0.5、ｒ
n+0.5、および１画素前後のｇn-1、ｇn+1の計５画素の
画素2を抽出する。ここでは、ＦＦ１〜４のクロック
は、２ｆCKである。これらの画素データに対し、加算器
１１〜１６、比較回路２１〜２４を用い下記の演算を行
う。
【００２４】 ｇn−ｇn-1＞ａ1 （５） ｇn−ｇn+1＞ａ2 （６） ａ1＝ａ2＝ａ（＞０） ｒn-0.5＜ｂ1（ｇn＋ｇn-1）／２ （７） ｒn+0.5＜ｂ2（ｇn＋ｇn+1）／２ （８） ｂ1＝ｂ2＝ｂ＝１／２ 式（５），（６）では、注目画素が周辺画素に対して一
定値以上突出しているという条件を満たすことを判定す
る。これにより、キズであるための必要条件を満たすこ
とを判定しており、点光源も含まれる。ａ1、ａ2は突出
量が一定値以上であることを判定するためのしきい値で
あり、ここではａ1＝ａ2＝ａ（＞０）としている。これ
らの演算を加算器１１，１２，比較回路２１，２２を用
いて行っている。
定値以上突出しているという条件を満たすことを判定す
る。これにより、キズであるための必要条件を満たすこ
とを判定しており、点光源も含まれる。ａ1、ａ2は突出
量が一定値以上であることを判定するためのしきい値で
あり、ここではａ1＝ａ2＝ａ（＞０）としている。これ
らの演算を加算器１１，１２，比較回路２１，２２を用
いて行っている。
【００２５】式（７），（８）では、隣接する前後の画
素データが一定のレベル以上あるという条件を満たすこ
とを判定する。これによりキズと点光源の区別を行って
いる。ｂ1、ｂ2は隣接する前後の画素データの突出量を
判定するためのしきい値を決めるための係数である。こ
こでは、しきい値を、式（７），（８）の右辺のように
設定している。ｂ1，ｂ2を注目画素データと１個おいて
前後の画素データとの平均に掛け、しきい値を算出して
いる。ｂ1，ｂ2は一例として、ｂ1＝ｂ2＝ｂ＝１／２と
設定してある。これらの演算を加算器１３，１４，１
５，１６、比較回路２３，２４を用いて行っている。
素データが一定のレベル以上あるという条件を満たすこ
とを判定する。これによりキズと点光源の区別を行って
いる。ｂ1、ｂ2は隣接する前後の画素データの突出量を
判定するためのしきい値を決めるための係数である。こ
こでは、しきい値を、式（７），（８）の右辺のように
設定している。ｂ1，ｂ2を注目画素データと１個おいて
前後の画素データとの平均に掛け、しきい値を算出して
いる。ｂ1，ｂ2は一例として、ｂ1＝ｂ2＝ｂ＝１／２と
設定してある。これらの演算を加算器１３，１４，１
５，１６、比較回路２３，２４を用いて行っている。
【００２６】以上の４個の比較回路による各１ビットに
出力判定出力のＡＮＤを取り、上記の４式をすべて満た
すことを判定する。４式をすべて満たすときキズと判定
し、検出回路より検出信号を出力し、補正回路に補正信
号を出力するよう制御する。
出力判定出力のＡＮＤを取り、上記の４式をすべて満た
すことを判定する。４式をすべて満たすときキズと判定
し、検出回路より検出信号を出力し、補正回路に補正信
号を出力するよう制御する。
【００２７】本発明の第２の実施例の補正回路のブロッ
ク図を図７に示す。入力された信号はＦＦ５，６，７，
８を通り、中央の注目画素の値とその１画素前後の画素
値を抽出する。ここで、ＦＦ５〜８のクロックはｆCKで
ある。注目画素の１画素前後の画素値からこれらの平均
値を求め補正信号としている。検出回路の検出出力に従
い、キズでないと判定した場合は中央の注目画素の値
を、キズと判定した場合は補正信号を出力する。また検
出回路との時間合わせは必要に応じ行うものとする。
ク図を図７に示す。入力された信号はＦＦ５，６，７，
８を通り、中央の注目画素の値とその１画素前後の画素
値を抽出する。ここで、ＦＦ５〜８のクロックはｆCKで
ある。注目画素の１画素前後の画素値からこれらの平均
値を求め補正信号としている。検出回路の検出出力に従
い、キズでないと判定した場合は中央の注目画素の値
を、キズと判定した場合は補正信号を出力する。また検
出回路との時間合わせは必要に応じ行うものとする。
【００２８】以上の実施例１，２については、白キズに
ついてのみの説明を行っているが、黒キズについても、
キズの方向が反対であることを考慮し、ａ1，ａ2の符
号、不等号の向きを変更することにより、同様に検出が
可能である。
ついてのみの説明を行っているが、黒キズについても、
キズの方向が反対であることを考慮し、ａ1，ａ2の符
号、不等号の向きを変更することにより、同様に検出が
可能である。
【００２９】また、以上の実施例については、水平方向
についてのみの説明を行っているが、垂直方向について
も同様であり、水平方向、垂直方向の両方を組み合わせ
た処理も可能である。
についてのみの説明を行っているが、垂直方向について
も同様であり、水平方向、垂直方向の両方を組み合わせ
た処理も可能である。
【００３０】
【発明の効果】以上の説明より明らかなように、本発明
によれば、点光源のような信号においても従来のように
誤検出、誤補正を行わず、信号とキズを区別し、キズを
精度良く検出できるため、キズについてのみ補正を行
い、本来の画質を劣化させることなく、良好な画像を得
ることができる。
によれば、点光源のような信号においても従来のように
誤検出、誤補正を行わず、信号とキズを区別し、キズを
精度良く検出できるため、キズについてのみ補正を行
い、本来の画質を劣化させることなく、良好な画像を得
ることができる。
【図１】本発明の第１の実施例の画素欠陥補正装置の全
体構成のブロック図
体構成のブロック図
【図２】本発明の第１の実施例の画素欠陥補正装置の検
出回路のブロック図
出回路のブロック図
【図３】本発明の第１の実施例の画素欠陥補正装置の補
正回路のブロック図
正回路のブロック図
【図４】本発明の第１の実施例における信号波形
【図５】本発明の第２の実施例の画素欠陥補正装置の全
体構成のブロック図
体構成のブロック図
【図６】本発明の第２の実施例の画素欠陥補正装置の検
出回路のブロック図
出回路のブロック図
【図７】本発明の第２の実施例の画素欠陥補正装置の補
正回路のブロック図
正回路のブロック図
【図８】本発明の第２の実施例のおける信号波形
【図９】従来の画素欠陥補正装置の検出回路のブロック
図
図
【図１０】従来の画素欠陥補正装置の信号波形
１０３ ＣＣＤ １０５ Ａ／Ｄ変換器 １０６ 検出回路 １０７ 補正回路
Claims (5)
- 【請求項１】 固体撮像素子と、固体撮像素子の各画素
を順次走査し読み出された信号をサンプリングするサン
プリング回路とを有する撮像装置と、 第１の画素の値と、隣接する第２，第３の画素の値と、
第２，第３の画素に隣接し第１の画素から離れた側にあ
る第４，第５の画素の値を抽出する抽出回路と、抽出さ
れた画素値を演算処理する演算回路とからなり画素欠陥
を検出する検出回路と、 検出回路の出力信号により制御される補正回路とからな
ることを特徴とする画素欠陥補正装置。 - 【請求項２】 演算回路が、第１の画素の値と第４の画
素の値との差、第１の画素の値と第５の画素の値の差を
求め、それぞれ一定値と比較する第１，第２の演算処理
回路と、 第２の画素の値を、第１，第４の画素の値を演算処理し
た値と比較する第３の演算処理回と、 第３の画素の値を、第１，第５の画素の値を演算処理し
た値と比較する第４の演算処理回路とからなることを特
徴とする上記第１項の画素欠陥補正装置。 - 【請求項３】 第１の固体撮像素子に対し第２の固体撮
像素子が半画素ずれた位置に配値された複数の固体撮像
素子と、固体撮像素子の各画素を順次走査し読み出され
た信号をサンプルするサンプリング回路とを有する固体
撮像装置と、 第１の固体撮像素子の画素の値と、第２の固体撮像素子
の画素の値とを抽出する抽出回路と、抽出された画素値
を演算処理する演算回路からなり画素欠陥を検出する検
出回路と、 検出回路の出力信号より制御される補正回路とからなる
ことを特徴とする画素欠陥補正装置。 - 【請求項４】 抽出回路が、第１の固体撮像素子の第１
の画素の値と、第１の画素に半画素隣接する第２の固体
撮像素子の第２，第３の画素の値と、第１の画素に隣接
する第１の固体撮像素子の第４，第５の画素の値とを抽
出する抽出回路からなることを特徴とする上記第３項の
画素欠陥補正装置。 - 【請求項５】 演算回路が、第１の画素の値と第４の画
素の値との差、第１の画素の値と第５の画素の値の差を
求め、それぞれ一定値と比較する第１，第２の演算処理
回路と、 第２の画素の値を、第１，第４の画素の値を演算処理し
た値と比較する第３の演算処理回と、 第３の画素の値を、第１，第５の画素の値を演算処理し
た値と比較する第４の演算処理回路からなることを特徴
とする上記第４項の画素欠陥補正装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5000530A JP2882227B2 (ja) | 1993-01-06 | 1993-01-06 | 画素欠陥補正装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5000530A JP2882227B2 (ja) | 1993-01-06 | 1993-01-06 | 画素欠陥補正装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06205302A true JPH06205302A (ja) | 1994-07-22 |
| JP2882227B2 JP2882227B2 (ja) | 1999-04-12 |
Family
ID=11476334
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5000530A Expired - Fee Related JP2882227B2 (ja) | 1993-01-06 | 1993-01-06 | 画素欠陥補正装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2882227B2 (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1343311A2 (de) | 2002-03-04 | 2003-09-10 | plettac AG | Verfahren und Vorrichtung zur Kompensation defekter Pixel eines CCD-Sensors |
| US6985180B2 (en) * | 2001-06-19 | 2006-01-10 | Ess Technology, Inc. | Intelligent blemish control algorithm and apparatus |
| US7164497B2 (en) | 2000-06-20 | 2007-01-16 | Olympus Optical Co., Ltd. | Color image processing apparatus |
| JP2013258596A (ja) * | 2012-06-13 | 2013-12-26 | Denso Corp | 撮像装置 |
| US10536655B2 (en) | 2016-11-24 | 2020-01-14 | Ricoh Company, Ltd. | Photoelectric conversion device, image forming apparatus, photoelectric conversion method, and non-transitory recording medium |
-
1993
- 1993-01-06 JP JP5000530A patent/JP2882227B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7164497B2 (en) | 2000-06-20 | 2007-01-16 | Olympus Optical Co., Ltd. | Color image processing apparatus |
| US6985180B2 (en) * | 2001-06-19 | 2006-01-10 | Ess Technology, Inc. | Intelligent blemish control algorithm and apparatus |
| EP1343311A2 (de) | 2002-03-04 | 2003-09-10 | plettac AG | Verfahren und Vorrichtung zur Kompensation defekter Pixel eines CCD-Sensors |
| EP1343311A3 (de) * | 2002-03-04 | 2006-10-04 | Funkwerk plettac electronic GmbH | Verfahren und Vorrichtung zur Kompensation defekter Pixel eines CCD-Sensors |
| JP2013258596A (ja) * | 2012-06-13 | 2013-12-26 | Denso Corp | 撮像装置 |
| US10536655B2 (en) | 2016-11-24 | 2020-01-14 | Ricoh Company, Ltd. | Photoelectric conversion device, image forming apparatus, photoelectric conversion method, and non-transitory recording medium |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2882227B2 (ja) | 1999-04-12 |
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