JPH06205779A - 超音波プローブ - Google Patents

超音波プローブ

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JPH06205779A
JPH06205779A JP5002720A JP272093A JPH06205779A JP H06205779 A JPH06205779 A JP H06205779A JP 5002720 A JP5002720 A JP 5002720A JP 272093 A JP272093 A JP 272093A JP H06205779 A JPH06205779 A JP H06205779A
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ultrasonic probe
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piezoelectric body
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Abstract

(57)【要約】 【目的】マッチング層上面からバッキング層上面までの
深さの精度を確保して溝加工のスループットを改善する
とともに溝加工を行ってもアレイピッチに変化が生じな
いようにし、さらに微小ピッチでアレイを形成可能な超
音波プローブを提供する。 【構成】本発明の超音波プローブは、超音波を送受信可
能な圧電体2の両面に整合層3およびバッキング層12
をそれぞれ接続して層構造とし、この層構造に所定の溝
5を形成してアレイ構造としてある。バッキング層12
は、機械応力および熱応力に対する変形量が所定の値以
下の材料で基板層13を形成し、この基板層13に所定
の厚さを持つ薄膜層14を接続してある。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、超音波診断装置に用い
る超音波プローブに関する。
【0002】
【従来の技術】超音波診断装置に用いる超音波プローブ
にはアレイ型トランスデューサーを備えたものがあり、
超音波を送受信する際、各アレイ間で所定の時間遅れを
設定可能になっている。
【0003】図4は、超音波プローブに備えた従来のア
レイ型トランスデューサーを斜視図で示したものであ
る。従来のアレイ型トランスデューサー1は、超音波を
送受信可能な圧電体2と、被検者と圧電体2との音響整
合を図るための整合層すなわちマッチング層3と、圧電
体2から後方へ向かう超音波を吸収可能な音響制動層す
なわちバッキング層4とを層状に形成して層構造とし、
これに所定の溝5を設けてある。
【0004】アレイ型トランスデューサーを製造するに
は、まず、ゴムあるいは樹脂を加熱あるいは加圧するこ
とによってバッキング層4を所定の寸法に仕上げ、次い
で、この上に圧電体2、マッチング層3を加熱あるいは
加圧作用等で順次接続し、次いで、ダイシングマシン等
を用いて層構造に溝5を加工しアレイ構造とする。これ
らの製造工程においては、完成されたアレイのピッチが
所定の精度になるように十分精度管理する必要がある。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、まず、
バッキング層4を形成する際に加熱あるいは加圧するた
め、バッキング層自体の仕上げ精度には限界がある。ま
た、バッキング層4を高精度に仕上げることができたと
しても、圧電体2との接続工程において加熱処理を行う
ため、バッキング層4に熱膨脹あるいは熱収縮が生じ、
その結果、バッキング層の上面がマッチング層の上面と
平行にならない場合がある。また、バッキング層は、ゴ
ムあるいは樹脂等でできているため、本来、高い精度で
機械加工を施しにくい。
【0006】このように、マッチング層上面からバッキ
ング層上面までの深さの精度を十分確保することが困難
であるため、従来、溝深さを大きめの値に設定して溝加
工を行っていた。
【0007】しかし、溝深さの増大は、加工時間を長く
し、溝加工工程でのスループットを低下させる原因とな
るのみならず、アレイピッチが小さい場合には、溝蛇
行、アレイ素子破損等にもつながる。
【0008】また、加熱工程の際にバッキング層内部に
生じた内部応力が溝加工によって解放され、その結果、
アレイピッチが変化するという欠点もあった。
【0009】本発明は、上述した事情を考慮してなされ
たもので、マッチング層上面からバッキング層上面まで
の深さの精度を確保して溝加工のスループットを改善す
るとともに溝加工を行ってもアレイピッチに変化が生じ
ないようにし、さらに微小ピッチでアレイを形成可能な
超音波プローブを提供することを目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明の超音波プローブは請求項1に記載したよう
に、超音波を送受信可能な圧電体の両面に整合層および
バッキング層をそれぞれ接続して層構造とし、この層構
造に所定の溝を形成してアレイ構造としたアレイ型トラ
ンスデューサーを備えた超音波プローブにおいて、前記
バッキング層は、機械応力および熱応力に対する変形量
が所定の値以下の材料で基板層を形成し、この基板層に
所定の厚さを持つ薄膜層を接続したものである。
【0011】
【作用】本発明の超音波プローブにおいては、機械応力
および熱応力に対する変形量が所定の値以下の材料で基
板層を形成し、この基板層の上面に所定厚さの薄膜層を
接続してバッキング層を形成してある。
【0012】このようにバッキング層を形成すると、バ
ッキング層が高精度で形成され、整合層の上面からバッ
キング層の上面までの深さがほぼ均一になって、加工溝
の設定深さを従来より小さくすることができる。
【0013】
【実施例】以下、本発明の超音波プローブの実施例につ
いて、添付図面を参照して説明する。なお、従来技術で
説明した部品と実質的に同一の部品については同一の番
号を付してその説明を省略する。
【0014】図1は、本実施例の超音波プローブに備え
たアレイ型トランスデューサーを斜視図で示したもので
ある。
【0015】アレイ型トランスデューサー11は、超音
波を送受信可能な圧電体2の両面に整合層3およびバッ
キング層12をそれぞれ接続して層構造とし、この層構
造に所定の溝5を形成してアレイ構造としてある。
【0016】整合層3は、被検者(図示せず)と圧電体
2との間の音響整合のために設けてある。
【0017】圧電体2は、例えば圧電セラミックスで構
成するのがよい。また、圧電体2の両面には、超音波発
振用の電力を供給するとともに受信超音波に応答した電
気信号を取り出すための電極(図示せず)を設けてあ
る。
【0018】バッキング層12は、例えば、後方に向か
う超音波を吸収するように構成してある。本実施例で
は、バッキング層12は、機械応力および熱応力に対す
る変形量が所定の値以下の材料、例えばガラス、セラミ
ックス等の非金属無機材料、金属材料等で基板層13を
形成し、この基板層13の上に厚さtが例えば超音波中
心周波数の4分の1波長となるように薄膜層14を均一
に形成してある。薄膜層14は、エポキシ樹脂、ポリエ
ステル樹脂、ポリエチレン樹脂等で構成するのがよい。
【0019】溝5は、図1でわかるように、整合層3、
圧電体2および薄膜層14を越えて基板層13まで形成
してある。
【0020】薄膜層14の厚さtを超音波中心周波数の
4分の1波長にした場合、圧電体2から背面側を見たバ
ッキング層12全体の音響インピーダンスZB は、
【数1】ZB =ZL 2 /ZG となる。ここで、ZL 、ZG は、それぞれ薄膜層14、
基板層13の音響インピーダンスである。
【0021】本実施例のアレイ型トランスデューサーを
製造するには、まず、ガラス、セラミックス等で基板層
13を所定の寸法に形成する。
【0022】次に、エポキシ樹脂等の薄膜層14を加
熱、加圧等の処理によって基板層13の上に接続する。
【0023】次に、圧電体2、整合層3を加熱、加圧等
の処理によって薄膜層14に順次接続する。
【0024】次に、深さD、幅W、ピッチpの溝5をダ
イシングマシン等で加工する。
【0025】最後に、溝5にシリコーン接着剤等の充填
材を入れる。
【0026】このように、本実施例の超音波プローブ
は、機械応力および熱応力に対する変形量が所定の値以
下の材料、例えばガラス、セラミックス等で基板層13
を形成したので、基板層13を周知の技術で高精度に仕
上げることができる。
【0027】また、基板層13は加熱あるいは加圧作用
によってほとんど変形しないため、薄膜層14を接続し
た後においても、仕上げ精度を高水準に維持することが
できる。したがって、整合層3の上面から基板層13の
上面までの深さD´は、場所によるばらつきが小さくな
り、溝5の深さDを従来よりも小さな値に設定して、基
板層13の加工量を小さくし加工時間を短くすることが
できる。
【0028】これに加えて、基板層13をガラス等で構
成してあるため、溝加工のために基板層13をしっかり
保持する場合でもほとんど変形せず、一方では容易に加
工することができる。このため、溝加工工程のスループ
ットが大幅に改善される。
【0029】また、加工の際に内部応力が解放されてア
レイピッチpに影響を与えるおそれも少なくなるため、
微小ピッチのアレイを容易に製造することができる。
【0030】また、基板層と圧電体との間に薄膜層を介
在させたので、薄膜層の音響インピーダンス、薄膜層の
厚さおよび基板層の音響インピーダンスを適宜組み合わ
せることにより、バッキング層全体の音響インピーダン
スを任意の値に調整することができる。
【0031】上述の実施例では、薄膜層14の厚さtを
超音波中心周波数の4分の1としたが、かかる厚さに限
定されるものではなく、任意に設定することができる。
例えば超音波中心周波数の2分の1としてもよい。この
場合には、圧電体2から背面側を見たバッキング層12
全体の音響インピーダンスZB は、
【数2】ZB =ZG となる。
【0032】また、上述の実施例では、溝5を、整合層
3、圧電体2および薄膜層14を越えて基板層13まで
形成したが、これに限定されるものではなく、図2に示
すように、溝5を整合層3および圧電体2を越えて薄膜
層14の途中まで形成してもよいし、図3に示すよう
に、溝5を整合層3を越えて圧電体2の途中まで形成し
てもよい。なお、図3の例では、溝5を形成した後に残
った部分の圧電体2の厚さT´を通常部分の厚さTの5
分の1以下にするのがよい。
【0033】また、上述の実施例では、医療用の超音波
診断装置に適用した例を示したものであるが、本発明の
超音波プローブはこれに限定されるものではなく、例え
ば非破壊検査で用いる超音波プローブにも適用すること
ができる。
【0034】また、上述の実施例では、薄膜層を基板層
に形成した後、圧電体および整合層を薄膜層の上に形成
したが、代わりに、薄膜層を圧電体の背面にあらかじめ
形成しておき、これを基板層に接続するようにしてもよ
い。
【0035】
【発明の効果】以上述べたように、本発明の超音波プロ
ーブは、超音波を送受信可能な圧電体の両面に整合層お
よびバッキング層をそれぞれ接続して層構造とし、この
層構造に所定の溝を形成してアレイ構造としたアレイ型
トランスデューサーを備えた超音波プローブにおいて、
前記バッキング層は、機械応力および熱応力に対する変
形量が所定の値以下の材料で基板層を形成し、この基板
層に所定の厚さを持つ薄膜層を接続したので、マッチン
グ層上面からバッキング層上面までの深さの精度を確保
して溝加工のスループットを改善するとともに溝加工を
行ってもアレイピッチに変化が生じないようにし、微小
ピッチでアレイを形成することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本実施例の超音波プローブに備えたアレイ型ト
ランスデューサーの斜視図。
【図2】本実施例のアレイ型トランスデューサーの変形
例を示す斜視図。
【図3】本実施例のアレイ型トランスデューサーの別の
変形例を示す斜視図。
【図4】従来の超音波プローブに備えたアレイ型トラン
スデューサーの斜視図。
【符号の説明】
2 圧電体 3 整合層(マッチング層) 5 溝 11 アレイ型トランスデューサー 12 バッキング層 13 基板層 14 薄膜層

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 超音波を送受信可能な圧電体の両面に整
    合層およびバッキング層をそれぞれ接続して層構造と
    し、この層構造に所定の溝を形成してアレイ構造とした
    アレイ型トランスデューサーを備えた超音波プローブに
    おいて、前記バッキング層は、機械応力および熱応力に
    対する変形量が所定の値以下の材料で基板層を形成し、
    この基板層に所定の厚さを持つ薄膜層を接続したことを
    特徴とする超音波プローブ。
  2. 【請求項2】 前記基板層の材料を非金属無機材料ある
    いは金属材料で構成した請求項1記載の超音波プロー
    ブ。
  3. 【請求項3】 前記薄膜層の厚さを超音波中心周波数の
    2分の1波長あるいは4分の1波長とした請求項1記載
    の超音波プローブ。
  4. 【請求項4】 前記溝を整合層、圧電体および薄膜層を
    越えて基板層まで形成した請求項1記載の超音波プロー
    ブ。
  5. 【請求項5】 前記溝を整合層および圧電体を越えて薄
    膜層まで形成した請求項1記載の超音波プローブ。
  6. 【請求項6】 前記溝を整合層を越えて圧電体まで形成
    した請求項1記載の超音波プローブ。
JP00272093A 1993-01-11 1993-01-11 医療用超音波診断装置の超音波プローブ Expired - Lifetime JP3302068B2 (ja)

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