JPH0621190A - 素子種類照合方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】ＬＳＩの論理的接続の検査を行う際の、回路側
データ２とレイアウト側データ１との比較及び検証に関
して、より細部にわたる素子種類の照合を計ること。 【構成】論理的接続の検査に用いる前の回路接続情報
に、レイアウト側データ１との照合に必要な素子の種類
を示すパラメータを付加する（処理３，４）。これによ
り、回路接続情報とレイアウトデータ１とで、より細か
い種類のレベルでの照合が可能となる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は素子種類照合方法に関
し、特にＬＳＩの論理的接続の検査における回路素子の
照合方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】ＬＳＩのレイアウト設計の過程の中で、
作成されたレイアウトと、設計規則および論理接続情報
との整合性を検証する過程をレイアウト検証という。

【０００３】このレイアウト検証において、ＬＳＩの論
理的接続の検査を行うことによって、回路素子の誤りや
欠落、配線の誤りや欠落などを抽出し、回路接続の正し
さを確認している。

【０００４】従来の論理接続検査の方法は、図２に示す
ように、作成されたレイアウトからのレイアウトデータ
６と、回路設計から抽出した回路データ７とを用いて、
通常の論理的接続検査８で両者を比較するという方法で
あった。しかし、この方法では、回路接続情報に記述で
きる素子パラメータだけが、照合できるようになってお
り、回路接続情報に適当なパラメータが存在しない為
に、レイアウト側のデータ６と照合ができない場合があ
る。

【０００５】例えば、抵抗には拡散抵抗やポリシリコン
抵抗といったような、作り方による区別があり、回路図
エディタ上は異なる素子の種類で記述されているが、回
路接続情報には、抵抗素子について、より細かな種類の
識別を可能とするパラメータの記述がなく、単なる抵抗
素子としての認識しかできない場合がある。そのため、
レイアウト側のデータと照合がとれない素子もあり、そ
れが原因となって、正しい検証結果が得られないという
場合も生じていた。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】前述したように、従来
の照合方法では、回路接続情報に記述されている素子パ
ラメータについてのみ、レイアウト側データとの照合が
可能であった。しかし、素子によっては、回路側のもつ
パラメータのみではレイアウト側との照合がとれないも
のもあり、本来正しい回路素子について、エラーの認識
をしてしまう場合や、正しくない素子についても、その
誤っている箇所の認識が的確にできないという場合があ
る。

【０００７】そこで、本発明の目的は、以上の欠点を解
消して、回路接続情報に、レイアウト側のデータとの照
合に必要なパラメータをあらかじめ付加することで、論
理的接続検査を行う際、回路接続情報とレイアウト側デ
ータとにより細部にわたる照合を可能とする素子種類照
合方法を提供することにある。

【０００８】

【課題を解決するための手段】本発明の構成は、ＬＳＩ
の論理的接続の検査における素子種類照合方法におい
て、レイアウト側データと回路側データとの照合処理前
の前記回路側データ中の、特定した素子のパラメータ記
述部に前記レイアウト側データとの照合を可能にする回
路解析用モデル定義パラメータを追加したことを特徴と
する。

【０００９】

【実施例】図１は本発明の一実施例の素子種類照合方法
を示すフロー図である。

【００１０】図１において、本実施例の素子種類照合方
法では、回路側データ２を入力すると、回路素子と、レ
イアウト側のデータ１に記述されている素子の種類を示
すモデル名との対応を記述したデータ３を参照して、回
路側データ２内の特定の素子に対して、モデル定義パラ
メータを付加し（処理４）、回路素子種類の識別子とし
てのモデル名が付加された回路接続情報と、レイアウト
データとで、通常の論理接続の検査５を行う。

【００１１】図１の処理４の詳細な処理の流れを、図３
のフロー図で示す。図３は、回路側データファイルに、
素子パラメータを追加する処理の流れを示したフロー図
である。

【００１２】図３において、回路側データファイルを入
力し（処理１０）、回路素子の特性を示すパラメータ
群、例えば素子の種類を示すモデル名の対応を示したデ
ータファイルを入力する（処理１１）。次に、入力した
２個のデータファイルから、回路側データファイルの素
子で、回路素子とモデル名の対応を示したファイルに記
述されている素子の抽出を行う。その結果、素子の種類
を付加すべき回路素子が認識できる（処理１２）と、そ
の素子のパラメータ記述部に、モデル定義パラメータが
記述されているかのチェックを行う（処理１３）。

【００１３】もし、回路側にモデル定義パラメータの記
述がない場合は、回路素子に対応する素子の種類を示す
モデル名を、パラメータ記述部に追加し既に回路側にモ
デル定義パラメータの記述がある場合には、そのモデル
名のみを書き換える処理を行うことで、回路素子にレイ
アウトデータと照合できる素子種類パラメータを付加す
る（以上処理１４，１５）。次に出力処理１６をして、
終了とする。

【００１４】以上のように、本実施例によれば、ＬＳＩ
の論理的接続の検査において、回路接続情報が記述され
たデータファイルの特定の素子について、レイアウトデ
ータと比較ができるような新たなパラメータを付加し、
回路素子のより細部にわたる照合を可能とする事を特徴
とする。

【００１５】次に図４，図５，図６を用いて、本発明の
他の実施例の素子種類照合方法を示す。図４は、全く等
しい論理について、トランジスタ（Ａ）と、ゲートレベ
ル（Ｂ）で表した回路図，論理図である。

【００１６】図４の（Ａ）において、電界効果トランジ
スタ２０，２１，２２，２３と、入力端子Ａ，Ｂと出力
端子ＯＵＴとがあり、電源ＶＤＤと接地（ＧＮＤ）との
間に電圧が印加される。図４の（Ｂ）において、（Ａ）
の構成が、ＮＡＮＤゲート３０で示されている。前記一
実施例では、ＬＳＩのレイアウト検証を、トランジスタ
のレベルで考えたものであったが、本実施例を用いるこ
とにより、回路データとレイアウトデータの照合におけ
る実施例として、ゲートレベルでの照合が挙げられる。

【００１７】図５は、レイアウト上でのトランジスタを
表した平面図である。図５において、トランジスタのゲ
ート４１には、長さ（Ｌ）と、幅（Ｗ）を示すパラメー
タがあるが、このパラメータを用いて、ゲートの駆動能
力を検証する事が可能となる。尚図５において、拡散層
４０の領域もある。その際の処理の流れを、図６に示
す。

【００１８】図６において、レイアウトデータ５０は、
トランジスタレベルからゲートレベルへの復元の際に、
ゲートの長さや幅を抽出する事ができる（処理５３）。
回路側データ５１に、設計者が意図する駆動能力を示す
値を追加し、復元されたゲートレベルのレイアウトデー
タと照合することによって、ゲートレベルでの、レイア
ウトデータと回路データの照合が可能となる（以上、処
理５４，５５）。

【００１９】

【発明の効果】以上の説明で明らかなごとく、本発明に
よれば、回路接続情報内の回路素子について、レイアウ
トデータと比較ができるような新たなパラメータを付加
する処理を加えることにより、ＬＳＩの論理的接続の検
査において、回路素子のより細かな種類のレベルでの照
合が可能となるという効果を得られる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例の素子種類照合方法を示すフ
ロー図である。

【図２】従来の論理接続検査の方法を示すフロー図であ
る。

【図３】本発明の処理の詳細を示すフロー図である。

【図４】（Ａ），（Ｂ）は同じ論理についてトランジス
タレベルとゲートレベルとで示したそれぞれ回路図，論
理図である。

【図５】レイアウト上でのトランジスタを表す平面図で
ある。

【図６】本発明の他の実施例における処理を示すフロー
図である。

【符号の説明】

１，６，５０ レイアウト側データ ２，７，５１ 回路側データ ３ 回路素子の素子種類対応データ ４ 素子パラメータ追加処理 ５，８，５５ 通常の論理的接続検査 １０〜１６ 処理 ２０〜２３ トランジスタ ３０ ＮＡＮＤゲート ４０ 拡散層 ４１ ゲート ５２ 回路素子期待値対応データ ５３ ゲートレベルへの復元処理 ５４ 素子パラメータ追加処理

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 ＬＳＩの論理的接続の検査における素子
   種類照合方法において、レイアウト側データと回路側デ
   ータとの照合処理前の前記回路側データ中の、特定した
   素子のパラメータ記述部に前記レイアウト側データとの
   照合を可能にする回路解析用モデル定義パラメータを追
   加したことを特徴とする素子種類照合方法。
2. 【請求項２】 照合が、トランジスタのゲートレベルで
   行われる請求項１記載の素子種類照合方法。