JPH06213882A - イオンクロマトグラフ - Google Patents
イオンクロマトグラフInfo
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- JPH06213882A JPH06213882A JP486893A JP486893A JPH06213882A JP H06213882 A JPH06213882 A JP H06213882A JP 486893 A JP486893 A JP 486893A JP 486893 A JP486893 A JP 486893A JP H06213882 A JPH06213882 A JP H06213882A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 サンプル液のイオンを分離し、導電率検出器
でイオンを検出することにより、サンプル液の分析を行
なうイオンクロマトグラフに関し、試料の拡散や温度の
安定性の問題を解決し、高感度で、安定した導電率信号
が得られるイオンクロマトグラフを目的とする。 【構成】 サプレッサ５の直後に導電率検出器２０のセ
ル２１を配設するように構成する。
でイオンを検出することにより、サンプル液の分析を行
なうイオンクロマトグラフに関し、試料の拡散や温度の
安定性の問題を解決し、高感度で、安定した導電率信号
が得られるイオンクロマトグラフを目的とする。 【構成】 サプレッサ５の直後に導電率検出器２０のセ
ル２１を配設するように構成する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、サンプル液中のイオン
を分離し、カラムでクロマトグラフィックに分離した
後、導電率検出器でイオンを検出することにより、サン
プル液の分析を行なうイオンクロマトグラフに関し、更
に詳しくは、導電率検出器の改良に関する。
を分離し、カラムでクロマトグラフィックに分離した
後、導電率検出器でイオンを検出することにより、サン
プル液の分析を行なうイオンクロマトグラフに関し、更
に詳しくは、導電率検出器の改良に関する。
【０００２】
【従来の技術】一般に、イオンクロマトグラフに用いら
れる導電率検出器は、下記の様な２つのタイプが知られ
ている。即ち、 一つのまとまった検出器としてセル部分と電気回路,
表示部とが一体となったタイプ 電気回路,表示回路は外部に配設し、ノンサプレスト
型のイオンクロマトグラフにおいては分離カラムが入っ
ている恒温槽にセル部分のみを、サプレスト型のイオン
クロマトグラフの場合はサプレッサが入っている恒温槽
にセル部分のみをそれぞれ配設するタイプ
れる導電率検出器は、下記の様な２つのタイプが知られ
ている。即ち、 一つのまとまった検出器としてセル部分と電気回路,
表示部とが一体となったタイプ 電気回路,表示回路は外部に配設し、ノンサプレスト
型のイオンクロマトグラフにおいては分離カラムが入っ
ている恒温槽にセル部分のみを、サプレスト型のイオン
クロマトグラフの場合はサプレッサが入っている恒温槽
にセル部分のみをそれぞれ配設するタイプ
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記構成の導
電率検出器には、下記の様な問題点がある。 試料拡散の問題 イオンクロマトグラフにおいて、導電率検出器と分離カ
ラム (サプレッサ) とは、内径が細いパイプで接続され
ている。分離カラム (サプレッサ) を出た試料は上記パ
イプを通って導電率検出器のセル部分に送られるが、パ
イプを通っている間にどうしても、拡散が発生する。
電率検出器には、下記の様な問題点がある。 試料拡散の問題 イオンクロマトグラフにおいて、導電率検出器と分離カ
ラム (サプレッサ) とは、内径が細いパイプで接続され
ている。分離カラム (サプレッサ) を出た試料は上記パ
イプを通って導電率検出器のセル部分に送られるが、パ
イプを通っている間にどうしても、拡散が発生する。
【０００４】現在、パイプの内径を細くしたり、セル部
分を分離カラム (サプレッサ) と同じ恒温槽に配設する
のは、この拡散をできるだけ防止しようとするためであ
る。カラムサイズが内径 φ4.6mm, 全長が 75〜150mm
程度のカラムで、溶離液流量が 1ml/min で送液してい
るシステムにおいては、分離カラム (サプレッサ) とセ
ルとの間のパイプに内径 φ0.3mm のパイプを使用すれ
ば、配管長さが数十cmまでは、パイプ内での拡散がクロ
マトグラムの分離に与える影響が小さいが、それ以上に
なってくると問題になってくる。
分を分離カラム (サプレッサ) と同じ恒温槽に配設する
のは、この拡散をできるだけ防止しようとするためであ
る。カラムサイズが内径 φ4.6mm, 全長が 75〜150mm
程度のカラムで、溶離液流量が 1ml/min で送液してい
るシステムにおいては、分離カラム (サプレッサ) とセ
ルとの間のパイプに内径 φ0.3mm のパイプを使用すれ
ば、配管長さが数十cmまでは、パイプ内での拡散がクロ
マトグラムの分離に与える影響が小さいが、それ以上に
なってくると問題になってくる。
【０００５】更に、試料の拡散を抑え、高速・高感度な
分析を目的として、試料の注入量やカラムのボリュー
ム,ポンプの送液流量を二分の１〜十分の１以下に抑え
たセミミクロIC (イオンクロマトグラフ) やミクロIC
(イオンクロマトグラフ) では、分離カラム若しくはサ
プレッサと導電率検出器との間に、前述のパイプを使用
していては、試料の拡散が大きくてクロマトグラムの分
離が悪くなり、セミミクロIC ,ミクロIC の性能が発揮
できない。
分析を目的として、試料の注入量やカラムのボリュー
ム,ポンプの送液流量を二分の１〜十分の１以下に抑え
たセミミクロIC (イオンクロマトグラフ) やミクロIC
(イオンクロマトグラフ) では、分離カラム若しくはサ
プレッサと導電率検出器との間に、前述のパイプを使用
していては、試料の拡散が大きくてクロマトグラムの分
離が悪くなり、セミミクロIC ,ミクロIC の性能が発揮
できない。
【０００６】又、パイプの配管だけでなく、分離カラム
若しくはサプレッサと導電率検出器のセルとの間の継手
のよどみ部分での試料の拡散も無視できなくなる。 セルの温度安定性の問題 導電率検出器は、非常に温度に敏感であるために、セル
に入ってくる液の温度や周囲の温度の僅かな温度変動が
導電率信号を変化させ、クロマトグラムにノイズとして
現れる。また、検出感度は S/N 比で決められるので、
検出器の濃度に対する出力信号は同じでも、ノイズが小
さければそれだけ検出感度が上がることになる。
若しくはサプレッサと導電率検出器のセルとの間の継手
のよどみ部分での試料の拡散も無視できなくなる。 セルの温度安定性の問題 導電率検出器は、非常に温度に敏感であるために、セル
に入ってくる液の温度や周囲の温度の僅かな温度変動が
導電率信号を変化させ、クロマトグラムにノイズとして
現れる。また、検出感度は S/N 比で決められるので、
検出器の濃度に対する出力信号は同じでも、ノイズが小
さければそれだけ検出感度が上がることになる。
【０００７】導電率の温度による変化の割合は、液の導
電率値が高い程大きくなってしまう。イオンクロマトグ
ラフの場合は、イオン交換樹脂が入った分離カラムを用
いてイオン性の試料を分離するには、どうしてもイオン
性の強い溶離液が必要となり、その結果、溶離液の導電
率値は高くなる。
電率値が高い程大きくなってしまう。イオンクロマトグ
ラフの場合は、イオン交換樹脂が入った分離カラムを用
いてイオン性の試料を分離するには、どうしてもイオン
性の強い溶離液が必要となり、その結果、溶離液の導電
率値は高くなる。
【０００８】ところで、ノンサプレスト型のイオンクロ
マトグラフの場合、この溶離液と試料が分離カラムを出
た後、配管を通ってセルに入るので、どうしても配管部
分で周囲温度の影響を受け、検出器に入る試料の温度は
微妙に変化する。この温度変動による導電率値の変動が
検出器の信号のノイズとなって現れる。
マトグラフの場合、この溶離液と試料が分離カラムを出
た後、配管を通ってセルに入るので、どうしても配管部
分で周囲温度の影響を受け、検出器に入る試料の温度は
微妙に変化する。この温度変動による導電率値の変動が
検出器の信号のノイズとなって現れる。
【０００９】又、サプレスト型のイオンクロマトグラフ
の場合においては、イオン交換反応を利用してカラムで
分離後の溶離液の導電率値、即ち導電率バックグラウン
ドを下げる役割を持っているが、完全に導電率値を下げ
ることはできない。そのため、ノンサプレスト型のイオ
ンクロマトグラフに比べれば、導電率値の変動は少ない
が、それでも周囲温度の変動によって、導電率値は変動
してしまう。
の場合においては、イオン交換反応を利用してカラムで
分離後の溶離液の導電率値、即ち導電率バックグラウン
ドを下げる役割を持っているが、完全に導電率値を下げ
ることはできない。そのため、ノンサプレスト型のイオ
ンクロマトグラフに比べれば、導電率値の変動は少ない
が、それでも周囲温度の変動によって、導電率値は変動
してしまう。
【００１０】そこで、分離カラム若しくはサプレッサか
ら出た後の温度変化を少なくするために、分離カラム若
しくはサプレッサと検出器のセル部分を同じ恒温槽に入
れてみたり、一体型の検出器のように分離カラムとセル
とが離れている場合には、予熱機構を設けて、予めセル
に入る液の温度を一定温度に保とうとしている。このよ
うにすることで温度安定性は向上するが、予熱機構等の
追加が必要なために構造が複雑になる。又、一旦周囲温
度で変化してしまった温度をコントロールするために安
定にできる限界がある。
ら出た後の温度変化を少なくするために、分離カラム若
しくはサプレッサと検出器のセル部分を同じ恒温槽に入
れてみたり、一体型の検出器のように分離カラムとセル
とが離れている場合には、予熱機構を設けて、予めセル
に入る液の温度を一定温度に保とうとしている。このよ
うにすることで温度安定性は向上するが、予熱機構等の
追加が必要なために構造が複雑になる。又、一旦周囲温
度で変化してしまった温度をコントロールするために安
定にできる限界がある。
【００１１】本発明は、上記問題点に鑑みてなされたも
ので、その目的は、試料の拡散や温度の安定性の問題を
解決し、高感度で、安定した導電率信号が得られるイオ
ンクロマトグラフを提供することにある。
ので、その目的は、試料の拡散や温度の安定性の問題を
解決し、高感度で、安定した導電率信号が得られるイオ
ンクロマトグラフを提供することにある。
【００１２】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決する請求
項１記載の発明は、所定量のサンプル液を溶離液で搬送
し、イオン交換樹脂が充填された分離カラムに注入し、
前記サンプル液中のイオンを分離し、溶離液の中和を行
なうサプレッサを介して、導電率検出器で前記サンプル
液中のイオンを検出するイオンクロマトグラフにおい
て、前記サプレッサの直後に前記導電率検出器のセルを
配設したものである。
項１記載の発明は、所定量のサンプル液を溶離液で搬送
し、イオン交換樹脂が充填された分離カラムに注入し、
前記サンプル液中のイオンを分離し、溶離液の中和を行
なうサプレッサを介して、導電率検出器で前記サンプル
液中のイオンを検出するイオンクロマトグラフにおい
て、前記サプレッサの直後に前記導電率検出器のセルを
配設したものである。
【００１３】請求項２記載の発明は、所定量のサンプル
液を溶離液で搬送し、イオン交換樹脂が充填された分離
カラムに注入し、前記サンプル液中のイオンを分離し、
導電率検出器で前記サンプル液の中のイオンを検出する
イオンクロマトグラフにおいて、前記分離カラムの直後
に前記導電率検出器のセルを配設したものである。
液を溶離液で搬送し、イオン交換樹脂が充填された分離
カラムに注入し、前記サンプル液中のイオンを分離し、
導電率検出器で前記サンプル液の中のイオンを検出する
イオンクロマトグラフにおいて、前記分離カラムの直後
に前記導電率検出器のセルを配設したものである。
【００１４】
【作用】請求項１及び２記載の発明のイオンクロマトグ
ラフにおいて、分離カラム (サプレッサ) を出た液がた
だちに導電率検出器のセルに入り、試料の拡散や温度変
化を防止する。
ラフにおいて、分離カラム (サプレッサ) を出た液がた
だちに導電率検出器のセルに入り、試料の拡散や温度変
化を防止する。
【００１５】
【実施例】次に図面を用いて本発明の実施例を説明す
る。先ず、図１から図３を用いて、本発明の第１の実施
例を説明する。図１は第１の実施例のイオンクロマトグ
ラフの構成図、図２は図１におけるサプレッサの構成
図、図３は図２におけるサプレッサの分解斜視図であ
る。
る。先ず、図１から図３を用いて、本発明の第１の実施
例を説明する。図１は第１の実施例のイオンクロマトグ
ラフの構成図、図２は図１におけるサプレッサの構成
図、図３は図２におけるサプレッサの分解斜視図であ
る。
【００１６】図１において、１は溶離液を貯留する溶離
液タンク、２は溶離液を圧送する溶離液ポンプである。
３は所定量のサンプル液を採取すると共に、採取された
サンプル液を溶離液ポンプ２からの溶離液によって後述
の分離カラム４へ搬送する試料注入弁である。
液タンク、２は溶離液を圧送する溶離液ポンプである。
３は所定量のサンプル液を採取すると共に、採取された
サンプル液を溶離液ポンプ２からの溶離液によって後述
の分離カラム４へ搬送する試料注入弁である。
【００１７】４はイオン交換樹脂が充填され、サンプル
液に含まれる各イオンを分離溶出する分離カラムであ
る。５は分離カラム４から流出する溶離液の中和を行な
い、溶離液の導電率値 (バックグラウンド) を下げるサ
プレッサである。
液に含まれる各イオンを分離溶出する分離カラムであ
る。５は分離カラム４から流出する溶離液の中和を行な
い、溶離液の導電率値 (バックグラウンド) を下げるサ
プレッサである。
【００１８】６はサプレッサ５の再生を行なう除去液を
貯留する除去液タンク、７は除去液をサプレッサ５へ圧
送するポンプである。本実施例では、分離カラム４及び
サプレッサ５は恒温槽７内に配設されている。
貯留する除去液タンク、７は除去液をサプレッサ５へ圧
送するポンプである。本実施例では、分離カラム４及び
サプレッサ５は恒温槽７内に配設されている。
【００１９】次に、図２及び図３を用いて、サプレッサ
５の説明を行なう。１０は、サプレッサ５への溶離液入
口用の ELIN継手１１と、溶離液出口用の ELOUT継手１
２とが設けられるアッパプレート、１１はロアプレート
である。
５の説明を行なう。１０は、サプレッサ５への溶離液入
口用の ELIN継手１１と、溶離液出口用の ELOUT継手１
２とが設けられるアッパプレート、１１はロアプレート
である。
【００２０】１３はロアプレート１１側の面に除去液が
流れる SV流路１３ａが形成されたSV流路ブロックであ
る。又、この SV流路ブロック１３には、 ELIN継手１１
に接続される ELIN穴１３ｂと、 ELOUT継手１２に接続
される ELOUT穴１３ｃとが形成されている。
流れる SV流路１３ａが形成されたSV流路ブロックであ
る。又、この SV流路ブロック１３には、 ELIN継手１１
に接続される ELIN穴１３ｂと、 ELOUT継手１２に接続
される ELOUT穴１３ｃとが形成されている。
【００２１】SV流路１３ａとロアプレート１１との間に
は、 SV流路ブロック１３側より、イオン交換膜１４,溶
離液が流れる EL流路シート１５,イオン交換膜１６及び
SV流路プレート１７が積層配置されている。イオン交
換膜１４には、ELIN穴１３ｂに接続される ELIN穴１４
ａと、ELOUT穴１３ｄに接続される ELIN穴１４ｂと、SV
流路１３ａの出口側に接続される SVOUT穴１４ｃと、SV
流路１３ａの入口側に接続される SVOUT穴１４ｄとが形
成されている。 EL流路シート１５には、EL流路１５ａ
と、SVOUT穴１４ｃに接続される SVOUT穴１５ｂと、SVI
N穴１４ｄに接続される SVIN穴１５ｃとが形成されてい
る。イオン交換膜１６には、SVOUT穴１５ｂに接続され
る SVOUT穴１６ａと、SVIN穴１５ｃに接続される SVIN
穴１６ｂとが形成されている。SV流路プレート１７に
は、SVOUT穴１６ａと SVIN穴１６ｂとを連結する SV流
路１７ａが形成されている。そして、これらアッパプレ
ート１０, SV流路ブロック１３,イオン交換膜１４, EL
流路シート１５,イオン交換膜１６, SV流路プレート１
７及びロアプレート１１は、ねじ１８を用いて、一体化
されている。
は、 SV流路ブロック１３側より、イオン交換膜１４,溶
離液が流れる EL流路シート１５,イオン交換膜１６及び
SV流路プレート１７が積層配置されている。イオン交
換膜１４には、ELIN穴１３ｂに接続される ELIN穴１４
ａと、ELOUT穴１３ｄに接続される ELIN穴１４ｂと、SV
流路１３ａの出口側に接続される SVOUT穴１４ｃと、SV
流路１３ａの入口側に接続される SVOUT穴１４ｄとが形
成されている。 EL流路シート１５には、EL流路１５ａ
と、SVOUT穴１４ｃに接続される SVOUT穴１５ｂと、SVI
N穴１４ｄに接続される SVIN穴１５ｃとが形成されてい
る。イオン交換膜１６には、SVOUT穴１５ｂに接続され
る SVOUT穴１６ａと、SVIN穴１５ｃに接続される SVIN
穴１６ｂとが形成されている。SV流路プレート１７に
は、SVOUT穴１６ａと SVIN穴１６ｂとを連結する SV流
路１７ａが形成されている。そして、これらアッパプレ
ート１０, SV流路ブロック１３,イオン交換膜１４, EL
流路シート１５,イオン交換膜１６, SV流路プレート１
７及びロアプレート１１は、ねじ１８を用いて、一体化
されている。
【００２２】ELOUT継手１２内には、導電率検出器２０
のセル２１が設けられている。このセル２１は、電極２
２,２３と、これら電極２２,２３間に配設され、電極間
の距離を一定に保持するスペーサ２４と、これら電極２
２,２３、スペーサ２４を内部に収めたガイド２５とよ
り構成されている。そして、図１に示すように、導電率
検出器２０の電気回路２６と表示部２７とは、外部に配
設されている。
のセル２１が設けられている。このセル２１は、電極２
２,２３と、これら電極２２,２３間に配設され、電極間
の距離を一定に保持するスペーサ２４と、これら電極２
２,２３、スペーサ２４を内部に収めたガイド２５とよ
り構成されている。そして、図１に示すように、導電率
検出器２０の電気回路２６と表示部２７とは、外部に配
設されている。
【００２３】次に、上記構成の動作を説明する。試料は
試料注入弁３より注入する。この時の試料ループ８は実
線の状態にある。サンプルは試料注入弁３に取付けられ
た試料ループ８に一定容量だけ蓄えられ、余剰分は排出
される。ポンプ２からは、溶離液が分離カラム４へ液送
されている。
試料注入弁３より注入する。この時の試料ループ８は実
線の状態にある。サンプルは試料注入弁３に取付けられ
た試料ループ８に一定容量だけ蓄えられ、余剰分は排出
される。ポンプ２からは、溶離液が分離カラム４へ液送
されている。
【００２４】試料注入弁３の試料ループ６を破線状態に
切り換えると、試料ループ８内に蓄えられた試料は分離
カラム４へ導入され、ここで試料中のイオン成分は分離
され、更に、サプレッサ５によって、溶離液の中和がな
され、溶離液の導電率値 (バックグラウンド) が下げら
れる。そして、サプレッサ５の ELOUT継手１２内に設け
られた導電率検出器２０のセル２１によって、サンプル
液中のイオンの導電率が検出される。
切り換えると、試料ループ８内に蓄えられた試料は分離
カラム４へ導入され、ここで試料中のイオン成分は分離
され、更に、サプレッサ５によって、溶離液の中和がな
され、溶離液の導電率値 (バックグラウンド) が下げら
れる。そして、サプレッサ５の ELOUT継手１２内に設け
られた導電率検出器２０のセル２１によって、サンプル
液中のイオンの導電率が検出される。
【００２５】上記構成によれば、サプレッサ５の出口直
後で、サンプル液中のイオンの導電率を検出すること
で、配管及び配管の継手部分での拡散を防止することが
できる。
後で、サンプル液中のイオンの導電率を検出すること
で、配管及び配管の継手部分での拡散を防止することが
できる。
【００２６】又、分離カラム４,サプレッサ５及び導電
率検出器２０のセル２１を恒温槽内に配設したことによ
り、温度変化がない。よって、高感度で、安定した導電
率信号が得られる。
率検出器２０のセル２１を恒温槽内に配設したことによ
り、温度変化がない。よって、高感度で、安定した導電
率信号が得られる。
【００２７】次に、図４及び図５を用いて、本発明の第
２の実施例を説明する。図４は第２の実施例のイオンク
ロマトグラフの構成図、図５は図４における出口継手の
拡大断面図である。本実施例は、第１の実施例のイオン
クロマトグラフがサプレスト型のイオンクロマトグラフ
であったのに対し、ノンサプレスト型のイオンクロマト
グラフであるので、第１の実施例と同一箇所には、同一
符号を付し、それらの説明は省略する。
２の実施例を説明する。図４は第２の実施例のイオンク
ロマトグラフの構成図、図５は図４における出口継手の
拡大断面図である。本実施例は、第１の実施例のイオン
クロマトグラフがサプレスト型のイオンクロマトグラフ
であったのに対し、ノンサプレスト型のイオンクロマト
グラフであるので、第１の実施例と同一箇所には、同一
符号を付し、それらの説明は省略する。
【００２８】本実施例では、分離カラム４の出口継手３
０内に、第１の実施例と同様に、電導率検出器４０のセ
ル４１が設けられている。このセル４１は、電極４２,
４３と、これら電極４２,４３間に配設され、電極間の
距離を一定に保持するスペーサ４４と、これら電極４
２,４３、スペーサ４４を内部に収めたガイド４５とよ
り構成されている。
０内に、第１の実施例と同様に、電導率検出器４０のセ
ル４１が設けられている。このセル４１は、電極４２,
４３と、これら電極４２,４３間に配設され、電極間の
距離を一定に保持するスペーサ４４と、これら電極４
２,４３、スペーサ４４を内部に収めたガイド４５とよ
り構成されている。
【００２９】次に、上記構成の動作を説明する。試料は
試料注入弁３より注入する。この時の試料ループ８は実
線の状態にある。サンプルは試料注入弁３に取付けられ
た試料ループ８に一定容量だけ蓄えられ、余剰分は排出
される。ポンプ２からは、溶離液が分離カラム４へ液送
されている。
試料注入弁３より注入する。この時の試料ループ８は実
線の状態にある。サンプルは試料注入弁３に取付けられ
た試料ループ８に一定容量だけ蓄えられ、余剰分は排出
される。ポンプ２からは、溶離液が分離カラム４へ液送
されている。
【００３０】試料注入弁３の試料ループ６を破線状態に
切り換えると、試料ループ８内に蓄えられた試料は分離
カラム４へ導入され、ここで試料中のイオン成分は分離
され、分離カラム４の 出口継手３０内に設けられた導
電率検出器４０のセル４１によって、サンプル液中のイ
オンの導電率が検出される。
切り換えると、試料ループ８内に蓄えられた試料は分離
カラム４へ導入され、ここで試料中のイオン成分は分離
され、分離カラム４の 出口継手３０内に設けられた導
電率検出器４０のセル４１によって、サンプル液中のイ
オンの導電率が検出される。
【００３１】上記構成によれば、分離カラム４の出口直
後で、サンプル液中のイオンの導電率を検出すること
で、配管及び配管の継手部分での拡散を防止することが
できる。
後で、サンプル液中のイオンの導電率を検出すること
で、配管及び配管の継手部分での拡散を防止することが
できる。
【００３２】又、分離カラム４及び導電率検出器２０の
セル２１を恒温槽内に配設したことにより、温度変化が
ない。よって、高感度で、安定した導電率信号が得られ
る。
セル２１を恒温槽内に配設したことにより、温度変化が
ない。よって、高感度で、安定した導電率信号が得られ
る。
【００３３】尚、本発明は、上記実施例に限るものでは
ない。上記２つの実施例では、通常の液体クロマトグラ
フで説明を行なったが、他に、セミミクロLC, ミクロLC
にも適用できることはいうまでもない。
ない。上記２つの実施例では、通常の液体クロマトグラ
フで説明を行なったが、他に、セミミクロLC, ミクロLC
にも適用できることはいうまでもない。
【００３４】
【発明の効果】以上述べたように本発明によれば、分離
カラム若しくはサプレッサの出口直後に導電率検出器の
セルを配設したことにより、試料の拡散や温度の安定性
の問題を解決し、高感度で、安定した導電率信号が得ら
れるイオンクロマトグラフを実現することができる。
カラム若しくはサプレッサの出口直後に導電率検出器の
セルを配設したことにより、試料の拡散や温度の安定性
の問題を解決し、高感度で、安定した導電率信号が得ら
れるイオンクロマトグラフを実現することができる。
【図１】第１の実施例のイオンクロマトグラフの構成図
である。
である。
【図２】図１におけるサプレッサの構成図である。
【図３】図２におけるサプレッサの分解斜視図である。
【図４】第２の実施例のイオンクロマトグラフの構成図
である。
である。
【図５】図４における出口継手の拡大断面図である。
４ 分離カラム ５ サプレッサ ２０,４０ 導電率検出器 ２１,４１ セル
Claims (2)
- 【請求項１】 所定量のサンプル液を溶離液で搬送し、
イオン交換樹脂が充填された分離カラム（４）に注入
し、前記サンプル液中のイオンを分離し、溶離液の中和
を行なうサプレッサ（５）を介して、導電率検出器（２
０）で前記サンプル液中のイオンを検出するイオンクロ
マトグラフにおいて、 前記サプレッサ（５）の直後に前記導電率検出器（２
０）のセル（２１）を配設したことを特徴とするイオン
クロマトグラフ。 - 【請求項２】 所定量のサンプル液を溶離液で搬送し、
イオン交換樹脂が充填された分離カラム（４）に注入
し、前記サンプル液中のイオンを分離し、導電率検出器
（４０）で前記サンプル液の中のイオンを検出するイオ
ンクロマトグラフにおいて、 前記分離カラム（４）の直後に前記導電率検出器（４
０）のセル（４１）を配設したことを特徴とするイオン
クロマトグラフ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP486893A JPH06213882A (ja) | 1993-01-14 | 1993-01-14 | イオンクロマトグラフ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP486893A JPH06213882A (ja) | 1993-01-14 | 1993-01-14 | イオンクロマトグラフ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06213882A true JPH06213882A (ja) | 1994-08-05 |
Family
ID=11595658
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP486893A Pending JPH06213882A (ja) | 1993-01-14 | 1993-01-14 | イオンクロマトグラフ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06213882A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005300189A (ja) * | 2004-04-07 | 2005-10-27 | Japan Organo Co Ltd | 液体クロマトグラフィー装置 |
| JP2010139387A (ja) * | 2008-12-11 | 2010-06-24 | Tosoh Corp | イオンクロマトグラフ装置 |
| WO2013088834A1 (ja) * | 2011-12-16 | 2013-06-20 | 株式会社島津製作所 | イオンクロマトグラフ |
| CN113631919A (zh) * | 2019-04-01 | 2021-11-09 | 株式会社岛津制作所 | 离子色谱仪及离子成分分析方法 |
| CN117706016A (zh) * | 2023-12-12 | 2024-03-15 | 中国地质科学院水文地质环境地质研究所 | 一种微型的离子预处理和检测装置 |
-
1993
- 1993-01-14 JP JP486893A patent/JPH06213882A/ja active Pending
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005300189A (ja) * | 2004-04-07 | 2005-10-27 | Japan Organo Co Ltd | 液体クロマトグラフィー装置 |
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| JPWO2013088834A1 (ja) * | 2011-12-16 | 2015-04-27 | 株式会社島津製作所 | イオンクロマトグラフ |
| US9535034B2 (en) | 2011-12-16 | 2017-01-03 | Shimadzu Corporation | Ion chromatograph |
| CN113631919A (zh) * | 2019-04-01 | 2021-11-09 | 株式会社岛津制作所 | 离子色谱仪及离子成分分析方法 |
| CN113631919B (zh) * | 2019-04-01 | 2023-12-29 | 株式会社岛津制作所 | 离子色谱仪及离子成分分析方法 |
| CN117706016A (zh) * | 2023-12-12 | 2024-03-15 | 中国地质科学院水文地质环境地质研究所 | 一种微型的离子预处理和检测装置 |
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