JPH0820431B2 - 陽イオン分析装置 - Google Patents
陽イオン分析装置Info
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- JPH0820431B2 JPH0820431B2 JP62271560A JP27156087A JPH0820431B2 JP H0820431 B2 JPH0820431 B2 JP H0820431B2 JP 62271560 A JP62271560 A JP 62271560A JP 27156087 A JP27156087 A JP 27156087A JP H0820431 B2 JPH0820431 B2 JP H0820431B2
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- Japan
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Description
【発明の詳細な説明】 <産業上の利用分野> 本発明は、被測定液を濃縮カラムで濃縮した後、濃縮
した被測定液を溶離液によって分離カラムに導いて被測
定溶液中の陽イオンを分離し、分離した陽イオンを測定
する陽イオン分析装置に関し、さらに詳しくは、分離カ
ラムと濃縮カラムの校正を1種類の標準試薬によって容
易に且つ正確に行うことのできる陽イオン分析装置に関
する。
した被測定液を溶離液によって分離カラムに導いて被測
定溶液中の陽イオンを分離し、分離した陽イオンを測定
する陽イオン分析装置に関し、さらに詳しくは、分離カ
ラムと濃縮カラムの校正を1種類の標準試薬によって容
易に且つ正確に行うことのできる陽イオン分析装置に関
する。
<従来の技術> 第4図は従来の陽イオン分析装置の構成説明図であ
る。この図において、送液ポンプ2aが駆動すると、溶離
液槽1a内の溶離液が、送液ポンプ2a→第1切換弁3の第
1及び第2の接続口3a,3b→第2切換弁4の第1及び第
2の接続口4a,4b→分離カラム5→検出器6を経由し、
廃液槽1cへと流れる。送液ポンプ2bが駆動すると、試料
槽1a内の被測定液が、送液ポンプ2b→第2切換弁4の第
4及び第3の接続口4d,4c→濃縮カラム4g→第2切換弁
4の第6及び第5の接続口4f,4eを経由し、廃液槽1dへ
と流れる。尚、分離カラム5と検出器6は、恒温槽7内
に収納されて一定温度(例えば40℃)に保たれることが
多い。このような構成からなる従来の装置において、シ
リンジ3hを用いて一定量の被測定液が第1切換弁3の第
5接続口3eに注入されると、該被測定液によって計量管
3g内が満たされるようになる。この状態で、第1切替弁
3がオンにされ内部流路が第4図の実線接続状態から破
線接続状態に切換えられると、上記計量管3g内の被測定
液が溶離液で搬送されて分離カラム5に至り、ここで該
被測定液に含まれている陽イオンが分離され、その後、
検出器で検出される。このようにして検出器6で検出さ
れた信号は、図示しない表示装置(例えば記録計)に導
かれクロマトグラムを描くようになる。
る。この図において、送液ポンプ2aが駆動すると、溶離
液槽1a内の溶離液が、送液ポンプ2a→第1切換弁3の第
1及び第2の接続口3a,3b→第2切換弁4の第1及び第
2の接続口4a,4b→分離カラム5→検出器6を経由し、
廃液槽1cへと流れる。送液ポンプ2bが駆動すると、試料
槽1a内の被測定液が、送液ポンプ2b→第2切換弁4の第
4及び第3の接続口4d,4c→濃縮カラム4g→第2切換弁
4の第6及び第5の接続口4f,4eを経由し、廃液槽1dへ
と流れる。尚、分離カラム5と検出器6は、恒温槽7内
に収納されて一定温度(例えば40℃)に保たれることが
多い。このような構成からなる従来の装置において、シ
リンジ3hを用いて一定量の被測定液が第1切換弁3の第
5接続口3eに注入されると、該被測定液によって計量管
3g内が満たされるようになる。この状態で、第1切替弁
3がオンにされ内部流路が第4図の実線接続状態から破
線接続状態に切換えられると、上記計量管3g内の被測定
液が溶離液で搬送されて分離カラム5に至り、ここで該
被測定液に含まれている陽イオンが分離され、その後、
検出器で検出される。このようにして検出器6で検出さ
れた信号は、図示しない表示装置(例えば記録計)に導
かれクロマトグラムを描くようになる。
一方、上記分離カラム5は次のようにしてチェックさ
れていた。即ち、シリンジ3hを用い、20ppmのMg2+イオ
ンと50ppmのCa2+イオンを含む試料(以下、「第1試
料」という)を一定量(例えば100μ)だけ第1切換
弁3の第5接続口3eに注入し、上述のようにして表示装
置に描かれたクロマトグラムから分離カラム5の分離性
能をチェックするようにしていた。また、上記濃縮カラ
ム4gは次のようにしてチェックされていた。即ち、8ppb
のMg2+イオン,8ppbのCa2+イオン,2ppmのN2H4イオン,200
ppbのNH4 +イオン,及びBとしての濃度が5ppmのBO3 3-イ
オンを含む試料(以下、「第2試料」という)を上記試
料槽1b内に貯溜し、該試料中のMg2+イオンを上述のよう
にして分析し上記クロマトグラムにおけるMg2+イオンの
ピーク高さから濃縮カラム4gの劣化状態をチェックする
ようにしていた。更に、上述のような装置の校正は、次
のようにして行われていた。即ち、4ppbのMg2+イオン,4
ppbのCa2+イオン,200ppbのNH4 +イオン,2ppmのN2H4イオ
ン,及びBとしての濃度が5ppmのBO3 3-イオンを含む試
料(以下、「第3試料」という)と上記第2試料を上記
試料槽1c内に交互に貯溜し、該試料中の各成分イオンを
上述のようにして分析し上記クロマトグラムから各成分
の検量線を作成し、該検量線に基いて上記装置の2点校
正を行なうようにしていた。
れていた。即ち、シリンジ3hを用い、20ppmのMg2+イオ
ンと50ppmのCa2+イオンを含む試料(以下、「第1試
料」という)を一定量(例えば100μ)だけ第1切換
弁3の第5接続口3eに注入し、上述のようにして表示装
置に描かれたクロマトグラムから分離カラム5の分離性
能をチェックするようにしていた。また、上記濃縮カラ
ム4gは次のようにしてチェックされていた。即ち、8ppb
のMg2+イオン,8ppbのCa2+イオン,2ppmのN2H4イオン,200
ppbのNH4 +イオン,及びBとしての濃度が5ppmのBO3 3-イ
オンを含む試料(以下、「第2試料」という)を上記試
料槽1b内に貯溜し、該試料中のMg2+イオンを上述のよう
にして分析し上記クロマトグラムにおけるMg2+イオンの
ピーク高さから濃縮カラム4gの劣化状態をチェックする
ようにしていた。更に、上述のような装置の校正は、次
のようにして行われていた。即ち、4ppbのMg2+イオン,4
ppbのCa2+イオン,200ppbのNH4 +イオン,2ppmのN2H4イオ
ン,及びBとしての濃度が5ppmのBO3 3-イオンを含む試
料(以下、「第3試料」という)と上記第2試料を上記
試料槽1c内に交互に貯溜し、該試料中の各成分イオンを
上述のようにして分析し上記クロマトグラムから各成分
の検量線を作成し、該検量線に基いて上記装置の2点校
正を行なうようにしていた。
<発明が解決しようとする問題点> 然しながら、上記第2試料や第3試料は非常に低濃度
でコンタミネーションが生じ易く、これら試料を正確に
調整することが困難で結果的に正確な校正ができないと
いう欠点があった。また、上記第2試料や第3試料は保
存ができず、上記装置の校正の度に調整しなければなら
ず且つ1つの試料を調整するのに約1時間もかかるとい
う欠点があった。更に、上述の従来例においては試料が
3種類も必要である(即ち、第1〜第3の試料)という
欠点があった。また、上記濃縮カラムのチェックにおい
て、上記装置の校正などで使用された試料と上記第2試
料がコンタミネーションを起こし、結果的に濃縮カラム
4gを正確にチェックできないという欠点があった。
でコンタミネーションが生じ易く、これら試料を正確に
調整することが困難で結果的に正確な校正ができないと
いう欠点があった。また、上記第2試料や第3試料は保
存ができず、上記装置の校正の度に調整しなければなら
ず且つ1つの試料を調整するのに約1時間もかかるとい
う欠点があった。更に、上述の従来例においては試料が
3種類も必要である(即ち、第1〜第3の試料)という
欠点があった。また、上記濃縮カラムのチェックにおい
て、上記装置の校正などで使用された試料と上記第2試
料がコンタミネーションを起こし、結果的に濃縮カラム
4gを正確にチェックできないという欠点があった。
本発明は、かかる状況に鑑みてなされたものであり、
その目的は、1種類の試料で分離カラム5,濃縮カラム4
g,及び上記装置の校正を容易且つ正確に行なえるような
陽イオン分析装置を提供することにある。
その目的は、1種類の試料で分離カラム5,濃縮カラム4
g,及び上記装置の校正を容易且つ正確に行なえるような
陽イオン分析装置を提供することにある。
<問題点を解決するための手段> このような目的を達成するために、本発明は、 被測定液を濃縮カラムで濃縮した後、濃縮した被測定
液を溶離液によって分離カラムに導いて被測定溶液中の
陽イオンを分離し、分離した陽イオンを検出器によって
検出して陽イオンの濃度を測定する陽イオン分析装置に
おいて、 一定容積の計量管を有し、この計量管に採取した既知
濃度の標準液を、前記濃縮カラムの劣化チェック時にお
いては前記濃縮カラム側に切り替えて送出し、前記分離
カラムの分離性能チェック時においては前記溶離液によ
って前記分離カラム側に切り替えて送出する第1切替弁
と、 前記溶離後の流路を前記濃縮カラム側と前記分離カラ
ム側とに切り替えられるようになっていて、前記濃縮カ
ラムの劣化チェック時には前記溶離液の流路が前記濃縮
カラム側に切替えられ、前記濃縮カラムで濃縮された前
記標準液を前記分離カラムに送出する第2切替弁と、 を具備し、前記濃縮カラムの劣化チェックと前記分離カ
ラムの分離性能チェックを前記計量管に採取した既知濃
度の標準液によって行うことを特徴としている。
液を溶離液によって分離カラムに導いて被測定溶液中の
陽イオンを分離し、分離した陽イオンを検出器によって
検出して陽イオンの濃度を測定する陽イオン分析装置に
おいて、 一定容積の計量管を有し、この計量管に採取した既知
濃度の標準液を、前記濃縮カラムの劣化チェック時にお
いては前記濃縮カラム側に切り替えて送出し、前記分離
カラムの分離性能チェック時においては前記溶離液によ
って前記分離カラム側に切り替えて送出する第1切替弁
と、 前記溶離後の流路を前記濃縮カラム側と前記分離カラ
ム側とに切り替えられるようになっていて、前記濃縮カ
ラムの劣化チェック時には前記溶離液の流路が前記濃縮
カラム側に切替えられ、前記濃縮カラムで濃縮された前
記標準液を前記分離カラムに送出する第2切替弁と、 を具備し、前記濃縮カラムの劣化チェックと前記分離カ
ラムの分離性能チェックを前記計量管に採取した既知濃
度の標準液によって行うことを特徴としている。
<実施例> 以下、本発明について図を用いて詳細に説明する。第
1図は本発明実施例を説明するための陽イオン分析装置
の構成説明図であり、図中、第4図と同一記号は同一意
味を持たせて説明しここでの重複説明は省略する。ま
た、8は純水を貯溜してなる純水槽、10は三方電磁弁で
ある。更に、第2図及び第3図は上記陽イオン分析装置
の動作を説明するためのタイムチャートであり、以下、
この図を使用しながら本発明実施例について説明してゆ
く。
1図は本発明実施例を説明するための陽イオン分析装置
の構成説明図であり、図中、第4図と同一記号は同一意
味を持たせて説明しここでの重複説明は省略する。ま
た、8は純水を貯溜してなる純水槽、10は三方電磁弁で
ある。更に、第2図及び第3図は上記陽イオン分析装置
の動作を説明するためのタイムチャートであり、以下、
この図を使用しながら本発明実施例について説明してゆ
く。
まず、分離カラム5のチェック方法について説明す
る。第1図及び第2図において、最初、第1ポンプ2a,
第2ポンプ2b,第2切換弁4,及び三方電磁弁9がオンと
され、第1切換弁3がオフにされる。このため、第1ポ
ンプ2aが駆動して、溶離液槽1a内の溶離液が、送液ポン
プ2a→第2切換弁4の第1及び第6の接続口4a,4f→濃
縮カラム4g→第1切換弁3の第1及び第2の接続口3a,3
b→第2切換弁4の第3及び第2の接続口4c,4b→分離カ
ラム5→検出器6を経由し、廃液槽1cへと流れる。送液
ポンプ2bが駆動して、試料槽1b内の被測定液が、三方電
磁弁9→送液ポンプ2b→第2切換弁4の第4及び第5の
接続口4d,4eを経由し廃液槽1dへ流れる。このような状
態において時間T1のとき、1.6ppmのMg2+イオン,1.6ppm
のCa2+イオン,40ppmのNH4 +イオン,400ppmのN2H4イオ
ン,及びBとしての濃度が1000ppmのBO3 3-イオンを含む
試料(以下、「第4試料」という)を、シリンジ3hを用
いて一定量(例えば1ml)だけ第1切換弁3の第4接続
口3dに注入すると、該試料によって計量管3g(例えば内
容積が100μ)内が満たされるようになる。この状態
で時間T2のとき、第1切換弁3がオンにされると、その
内部流路が第4図の実線接続状態から破線接続状態に切
換えられ上記計量管3g内の試料が溶離液で搬送されて分
離カラム5に至り、ここで該試料に含まれている陽イオ
ンが分離され、その後、検出器6で検出される。このよ
うにして検出器6で検出された信号は、図示しない表示
装置(例えば記録計)に導かれクロマトグラムを描き、
このクロマトグラムから分離カラム5の良否(性能)が
チェックされるようになる。
る。第1図及び第2図において、最初、第1ポンプ2a,
第2ポンプ2b,第2切換弁4,及び三方電磁弁9がオンと
され、第1切換弁3がオフにされる。このため、第1ポ
ンプ2aが駆動して、溶離液槽1a内の溶離液が、送液ポン
プ2a→第2切換弁4の第1及び第6の接続口4a,4f→濃
縮カラム4g→第1切換弁3の第1及び第2の接続口3a,3
b→第2切換弁4の第3及び第2の接続口4c,4b→分離カ
ラム5→検出器6を経由し、廃液槽1cへと流れる。送液
ポンプ2bが駆動して、試料槽1b内の被測定液が、三方電
磁弁9→送液ポンプ2b→第2切換弁4の第4及び第5の
接続口4d,4eを経由し廃液槽1dへ流れる。このような状
態において時間T1のとき、1.6ppmのMg2+イオン,1.6ppm
のCa2+イオン,40ppmのNH4 +イオン,400ppmのN2H4イオ
ン,及びBとしての濃度が1000ppmのBO3 3-イオンを含む
試料(以下、「第4試料」という)を、シリンジ3hを用
いて一定量(例えば1ml)だけ第1切換弁3の第4接続
口3dに注入すると、該試料によって計量管3g(例えば内
容積が100μ)内が満たされるようになる。この状態
で時間T2のとき、第1切換弁3がオンにされると、その
内部流路が第4図の実線接続状態から破線接続状態に切
換えられ上記計量管3g内の試料が溶離液で搬送されて分
離カラム5に至り、ここで該試料に含まれている陽イオ
ンが分離され、その後、検出器6で検出される。このよ
うにして検出器6で検出された信号は、図示しない表示
装置(例えば記録計)に導かれクロマトグラムを描き、
このクロマトグラムから分離カラム5の良否(性能)が
チェックされるようになる。
次に、濃縮カラム4gのチェック方法と陽イオン分析装
置の校正方法について説明する。第1図及び第3図にお
いて、最初、第1ポンプ2aと第2ポンプ2bがオンとさ
れ、三方電磁弁9,第1切換弁3,及び第2切換弁4がオフ
にされる。このため、第1ポンプ2aが駆動して、溶離液
槽1a内の溶離液が、送液ポンプ2a→第2切換弁4の第1
及び第2の接続口4a,4b→分離カラム5→検出器6を経
由して廃液槽1cへ流れる。送液ポンプ2bが駆動して、純
水槽8内の純水が、三方電磁弁9→送液ポンプ2b→第2
切換弁4の第4及び第3の接続口4d,4c→第1切換弁3
の第2及び第1の接続口3b,3a→濃縮カラム4g→第2切
換弁4の第6及び第5の接続口4f,4eを経由し、廃液槽1
cへと流れる。このような状態において時間T1のとき、
上記第4試料をシリンジ3hを用いて一定量(例えば1m
l)だけ第1切換弁3の第4接続口3dに注入すると、該
試料によって計量管3g(例えば内容積が100μ)内が
満たされるようになる。この状態で時間T2のとき、第1
切換弁3がオンにされると、その内部流路が第4図の実
線接続状態から破線接続状態に切換えられ上記計量管3g
内の試料が上記純水で搬送されて濃縮カラム4gに至り、
ここで該試料に含まれている陽イオンが濃縮・保持され
る。この状態で時間T3のとき、第2切換弁4がオンにさ
れると、その内部流路が第1図の実線接続状態から破線
接続状態に切換えられ、上記濃縮カラム4g内に濃縮・保
持されていた陽イオンは溶離液に搬送されて分離カラム
5に至ってクロマトグラフィックに分離され、その後、
検出器6で検出される。このようにして検出器6で検出
された信号は、図示しない表示装置(例えば記録計)に
導かれクロマトグラムを描き、このクロマトグラムにお
ける各成分のピーク面積と前記分離カラム5の良否チェ
ックのときに作成されたクロマトグラムにおける各成分
のピーク面積とを比較して濃縮カラム4gの劣化状態がチ
ェックされる。また、このような濃縮カラム4gのチェッ
クや前記分離カラム5のチェックで異常がないことが確
認されたら、陽イオン分析装置の校正が行われる。即
ち、試料中の各成分イオンを上述のようにして分析し上
記クロマトグラムから各成分の1点校正が行なわれる。
置の校正方法について説明する。第1図及び第3図にお
いて、最初、第1ポンプ2aと第2ポンプ2bがオンとさ
れ、三方電磁弁9,第1切換弁3,及び第2切換弁4がオフ
にされる。このため、第1ポンプ2aが駆動して、溶離液
槽1a内の溶離液が、送液ポンプ2a→第2切換弁4の第1
及び第2の接続口4a,4b→分離カラム5→検出器6を経
由して廃液槽1cへ流れる。送液ポンプ2bが駆動して、純
水槽8内の純水が、三方電磁弁9→送液ポンプ2b→第2
切換弁4の第4及び第3の接続口4d,4c→第1切換弁3
の第2及び第1の接続口3b,3a→濃縮カラム4g→第2切
換弁4の第6及び第5の接続口4f,4eを経由し、廃液槽1
cへと流れる。このような状態において時間T1のとき、
上記第4試料をシリンジ3hを用いて一定量(例えば1m
l)だけ第1切換弁3の第4接続口3dに注入すると、該
試料によって計量管3g(例えば内容積が100μ)内が
満たされるようになる。この状態で時間T2のとき、第1
切換弁3がオンにされると、その内部流路が第4図の実
線接続状態から破線接続状態に切換えられ上記計量管3g
内の試料が上記純水で搬送されて濃縮カラム4gに至り、
ここで該試料に含まれている陽イオンが濃縮・保持され
る。この状態で時間T3のとき、第2切換弁4がオンにさ
れると、その内部流路が第1図の実線接続状態から破線
接続状態に切換えられ、上記濃縮カラム4g内に濃縮・保
持されていた陽イオンは溶離液に搬送されて分離カラム
5に至ってクロマトグラフィックに分離され、その後、
検出器6で検出される。このようにして検出器6で検出
された信号は、図示しない表示装置(例えば記録計)に
導かれクロマトグラムを描き、このクロマトグラムにお
ける各成分のピーク面積と前記分離カラム5の良否チェ
ックのときに作成されたクロマトグラムにおける各成分
のピーク面積とを比較して濃縮カラム4gの劣化状態がチ
ェックされる。また、このような濃縮カラム4gのチェッ
クや前記分離カラム5のチェックで異常がないことが確
認されたら、陽イオン分析装置の校正が行われる。即
ち、試料中の各成分イオンを上述のようにして分析し上
記クロマトグラムから各成分の1点校正が行なわれる。
<発明の効果> 以上、詳細に説明したように本発明の陽イオン分析装
置は、計量管に既知濃度の標準液を採取し、この採取し
た標準液を分離カラムの分離性能チェック時においては
分離カラムに切り替えて送出し、濃縮カラムの劣化チェ
ック時においては濃縮カラム側に切り替えて送出するよ
うにしてカラムの校正を行うようにしたもので、1種類
の試料で分離カラム、濃縮カラムの校正を容易に且つ正
確に行うことができる。
置は、計量管に既知濃度の標準液を採取し、この採取し
た標準液を分離カラムの分離性能チェック時においては
分離カラムに切り替えて送出し、濃縮カラムの劣化チェ
ック時においては濃縮カラム側に切り替えて送出するよ
うにしてカラムの校正を行うようにしたもので、1種類
の試料で分離カラム、濃縮カラムの校正を容易に且つ正
確に行うことができる。
この構成は、分離カラムを校正する場合、従来の標準
液の濃度の200倍濃いものを使用できるので、コンタミ
ネーションを生じ難く、従来の測定誤差を極度に小さな
ものにでき、校正するための試料も1種類あれば十分
で、一点校正ができるという利点もある。
液の濃度の200倍濃いものを使用できるので、コンタミ
ネーションを生じ難く、従来の測定誤差を極度に小さな
ものにでき、校正するための試料も1種類あれば十分
で、一点校正ができるという利点もある。
第1図は本発明の実施例を説明するための陽イオン分析
装置の構成説明図、第2図及び第3図はタイムチャー
ト、第4図は従来例を説明するための陽イオン分析装置
の構成説明図である。 1a〜1d,8……槽、2a,2b……送液ポンプ、3,4……切換
弁、5……分離カラム、6……検出器、7……恒温槽、
9……三方電磁弁
装置の構成説明図、第2図及び第3図はタイムチャー
ト、第4図は従来例を説明するための陽イオン分析装置
の構成説明図である。 1a〜1d,8……槽、2a,2b……送液ポンプ、3,4……切換
弁、5……分離カラム、6……検出器、7……恒温槽、
9……三方電磁弁
Claims (1)
- 【請求項1】被測定液を濃縮カラムで濃縮した後、濃縮
した被測定液を溶離液によって分離カラムに導いて被測
定溶液中の陽イオンを分離し、分離した陽イオンを検出
器によって検出して陽イオンの濃度を測定する陽イオン
分析装置において、 一定容積の計量管を有し、この計量管に採取した既知濃
度の標準液を、前記濃縮カラムの劣化チェック時におい
ては前記濃縮カラム側に切り替えて送出し、前記分離カ
ラムの分離性能チェック時においては前記溶離液によっ
て前記分離カラム側に切り替えて送出する第1切替弁
と、 前記溶離後の流路を前記濃縮カラム側と前記分離カラム
側とに切り替えられるようになっていて、前記濃縮カラ
ムの劣化チェック時には前記溶離液の流路が前記濃縮カ
ラム側に切替えられ、前記濃縮カラムで濃縮された標準
液を前記分離カラムに送出する第2切替弁と、 を具備し、前記濃縮カラムの劣化チェックと前記分離カ
ラムの分離性能チェックを前記計量管に採取した既知濃
度の標準液によって行うことを特徴とした陽イオン分析
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62271560A JPH0820431B2 (ja) | 1987-10-27 | 1987-10-27 | 陽イオン分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62271560A JPH0820431B2 (ja) | 1987-10-27 | 1987-10-27 | 陽イオン分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01113657A JPH01113657A (ja) | 1989-05-02 |
| JPH0820431B2 true JPH0820431B2 (ja) | 1996-03-04 |
Family
ID=17501779
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62271560A Expired - Fee Related JPH0820431B2 (ja) | 1987-10-27 | 1987-10-27 | 陽イオン分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0820431B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN105158368A (zh) * | 2015-08-31 | 2015-12-16 | 武汉宇虹环保产业发展有限公司 | 一种在线离子色谱仪自动标定系统 |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3695195B2 (ja) | 1998-06-02 | 2005-09-14 | 日本精工株式会社 | ボールねじ機構、および直動装置 |
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