JPH06213928A - プローブヘッドの製造方法 - Google Patents

プローブヘッドの製造方法

Info

Publication number
JPH06213928A
JPH06213928A JP5023370A JP2337093A JPH06213928A JP H06213928 A JPH06213928 A JP H06213928A JP 5023370 A JP5023370 A JP 5023370A JP 2337093 A JP2337093 A JP 2337093A JP H06213928 A JPH06213928 A JP H06213928A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wire
probe
bonding
manufacturing
probe needle
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP5023370A
Other languages
English (en)
Inventor
Kaoru Matsuda
薫 松田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tokyo Electron Ltd
Original Assignee
Tokyo Electron Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tokyo Electron Ltd filed Critical Tokyo Electron Ltd
Priority to JP5023370A priority Critical patent/JPH06213928A/ja
Publication of JPH06213928A publication Critical patent/JPH06213928A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W72/00Interconnections or connectors in packages
    • H10W72/50Bond wires
    • H10W72/581Auxiliary members, e.g. flow barriers

Landscapes

  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 絶縁基板上でのプローブ針の接続、形成行程
を自動化することにより、微細ピッチでかつ高位置精度
のプローブヘッドを製造することができるプローブヘッ
ドの製造方法を提供することにある。 【構成】 プローブヘッド10のプローブ針14をワイ
ヤボンディングにより形成し、ボンディングされたワイ
ヤ140の延伸方向両端を溶着後、ワイヤ140を配列
させたうえで端部の一方側をカッティングしてプローブ
針の先端を形成する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、絶縁基板上にプローブ
針を形成してなるプローブヘッドの製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】例えば、ICウェハ等の半導体素子の電
気的特性を検査するために用いられるプローブヘッド
は、半導体素子に形成されている電極パッドの数に合せ
て多数のプローブ針を装備した構造が一般に知られてい
る。そして、プローブ針には、例えば、タングステンが
用いられている。このプローブ針を用いて半導体素子の
電気的特性を測定する場合には、オーバードライブによ
る絶縁被膜の剥離処理が実行される。つまり、この処理
は、例えば、アルミニュウム等、表面に酸化膜の絶縁層
が生成され易い材料を用いて半導体素子の電極パッドが
形成されている場合を対象として行われる処理であり、
プローブ針に電極パッドが接触した位置からさらに半導
体素子をプローブ針に向け移動させる。これにより、プ
ローブ針が撓み復元力によってパッド表面を摺動すると
きにパッド表面の酸化膜が剥ぎ取られ、プローブ針の先
端を直接アルミニュウムの表面に接触させることができ
る。
【0003】ところで、プローブヘッドは、多数のプロ
ーブ針が支持ベース上に手作業により配列されている。
さらに、支持べース上でこれら多数のプローブ針を接着
剤により固定すると共に、その端部の電気的接続を手作
業による半田付けによって行うという極めて煩雑な作業
を要していた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】近年、上述したIC等
の半導体素子では高密度化が急速に進むに従い、素子の
電極パッド間の配列ピッチも微細化し、かつ、その電極
パッドの数も大幅に増加する傾向にある。特に、近年需
要が高まってきているテレビ等の液晶ディスプレイの場
合には、例えば15インチテレビ用ディスプレイでは、
電極パッドの数が4000個にも及ぶことがあり、これ
に応じてプローブヘッド側のプローブ針の径および配列
ピッチも微細化されているのが現状である。
【0005】従って、これら多数箇所を対象として1本
毎にプローブ針の配列、接着および半田付け作業を手作
業で行うには自ずと限界がある。しかも、これらプロー
ブ針同士での位置関係も正確に維持させなければならな
いことを考慮した場合、配列ピッチが微細化するに従っ
て手作業による作業時間が増加してしまい、製造コスト
の上昇を招くことは避けられなくなる。ちなみに、上記
液晶を対象としてプローブヘッドのプローブ針を形成す
る場合には、少なくとも100時間程度の作業時間が必
要とされている。
【0006】そこで、本発明の目的とするところは、上
記従来のプローブヘッドにおける問題に鑑み、絶縁基板
上でのプローブ針の接続、形成行程を自動化することに
より、微細ピッチでかつ高位置精度のプローブヘッドを
製造することができるプローブヘッドの製造方法を提供
することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するた
め、請求項1記載の発明は、絶縁基板上にプローブ針を
形成するにあたり、上記絶縁基板上の導電パターン部に
予め定められた位置に延伸性が良い材料からなるワイヤ
の延伸方向一端の超音波ボンディングを行った後、この
ワイヤを所定方向に延伸してその他端を導電性基板上に
ワイヤボンディングを行う工程と、上記ワイヤを、その
配列ピッチに合せて形成されている溝に圧入する工程
と、上記ワイヤの延伸方向他端側をカッティングする工
程と、を含むことを特徴としている。
【0008】請求項2記載の発明は、請求項1記載の製
造方法において、上記溝は、基材をダイシングソーによ
り切削して形成されていることを特徴としている。
【0009】請求項3記載の発明は、請求項1または2
記載の製造方法において、上記溝に圧入されるワイヤの
配列ピッチは、ワイヤの外径が20μm〜50μmの場
合、70μm〜105μmに設定されていることを特徴
としている。
【0010】
【作用】本発明では、絶縁基板上にプローブ針を形成す
るにあたって、ワイヤボンディング、例えば超音波、熱
圧着あるいは超音波と熱圧着の併用によるワイヤボンデ
ィングを採用している。
【0011】すなわち、ワイヤボンディングに用いられ
るワイヤは可塑性の良好な材料が選択され、具体的に
は、20μm〜50μmの外径を設定された金(Au)
や銅(Cu)が用いられる。そして、絶縁基板上の導電
パターン部の予め定められた位置にワイヤの延伸方向の
一端をワイヤボンダーによりファーストボンディングす
る。この後、ワイヤを所定方向に延伸し、延伸方向他端
を導電性基板に対しワイヤボンダーによりセカンドボン
ディングする。このセカンドボンディングを実施するた
めに延伸されるワイヤは、ボンディングされた各端部の
間の位置をプローブ針の配列ピッチに合わせて設けられ
ている溝に圧入されると共に、プローブ針同士での配列
ピッチに位置決めされた状態で固定される。この場合の
配列ピッチは、プローブ針の外径が上記した範囲である
場合に70μm〜105μmの範囲に設定される。その
後、プローブ針の配列ピッチに合わせた位置に固定され
たワイヤは、延伸方向の他端側をカッティングされてプ
ローブ針の先端部を形成される。従って、従来のように
予め、別個に多数準備されたプローブ針に対する配列、
接着固定および半田付け等の手作業を必要とせず、位置
決めおよび溶着位置を正確に制御することのできるワイ
ヤボンディングによる各工程の自動化が行える。しか
も、製造時間の短縮が可能になることによって作業コス
トの低減が実現される。
【0012】また、本発明では、ワイヤボンディングに
用いたワイヤをそのままプローブ針とすることができ
る。
【0013】
【実施例】以下、図1乃至図7において、本発明実施例
の詳細を説明する。
【0014】図1には、本発明の製造方法により製造さ
れるプローブヘッドの外観が示されている。このプロー
ブヘッド10は、例えば、電極パッドの数がICウエハ
よりもかなり多く形成されている液晶ディスプレイ(L
CD)を対象としたものであり、取り出し基板12とプ
ローブ針14およびガイド部16とを主要部として備え
ている。
【0015】取り出し基板12には、液晶側の電極パッ
ド(図示されず)の数に応じて導電パターン12Aが形
成されている。この導電パターン12Aは、絶縁基板上
にメッキ工程あるいはスパッタリングにより形成された
金属膜層で構成された周知構造のものである。そして、
本実施例の場合、メッキ工程を用いる場合には金(A
u)が用いられ、また、スパッタリングを用いる場合に
はクローム(Cr)が用いられる。
【0016】一方、プローブ針14は、延長方向一端を
取り出し基板12の導電パターンに溶着され、他端に至
る途中がガイド部16の溝16Aに挿入されたうえで突
出し、プローブ針の先端として形成されている。
【0017】このようなプローブヘッド10は、図2以
下に示す行程によって製造される。
【0018】まず、プローブヘッド10を製造するにあ
たり、図2に示すように、取り出し基板12、ガイド部
16およびボンディング性の良い物質、例えば金などメ
ッキされたボンディング性の良い基板18が製造装置の
セット面等に定置されて準備される。
【0019】ガイド部16は、例えば、セラミックス等
の絶縁材料が用いられ、プローブ針14の配列方向に沿
ってダイシングソー(丸鋸)により多数の溝16Aが形
成されている。この溝16Aは、本実施例の場合、幅お
よび深ささらに形成ピッチがワイヤボンディング用のワ
イヤの外径および配列ピッチに応じてワイヤを圧入でき
る寸法に設定され、そして、断面形状が矩形に形成され
ている。また、ボンディング性の良い基板18は、ガイ
ド部材16をはさんで取り出し基板12と対向する位置
に配置されたダミーボードであり、後述するワイヤボン
ディング用のワイヤと同じ材質のメッキ層が表面に形成
されている。
【0020】一方、プローブ針14は、例えば、金(A
u)や水素還元して腐食防止処理を施した銅(Cu)等
の可塑性が良好な合金あるいは単一の材質をワイヤとし
て用いたワイヤボンディングによって形成されている。
そして、ワイヤボンディングに用いられるワイヤ(以
下、便宜上、符号140で示す)は、本実施例の場合、
外径が25〜30μmに設定され、そして、配列ピッチ
がこの外径を基準として80〜100μmに設定されて
いる。この配列ピッチに関しては、例えば、図5に示す
取出基板12のパターン寸法の場合には、電極パッドか
ら延長されるラインパターンの最小距離が60μmとさ
れ、極めて狭いので、このような場合も含めてワイヤ1
40の外径およびピッチが設定される。
【0021】このような準備のもとで、プローブヘッド
10は、図3に示す行程によって製造される。
【0022】すなわち、図3(A)において、製造装置
のセット面に定置された取り出し基板12の導電パター
ン12A(図1参照)に対し、キャピラリ20の先端が
対向させられるとプローブ針14に相当するワイヤ14
0が繰り出される。そして、ワイヤ140の先端が取り
出し基板12の導電パターン12Aに接触するとファー
ストボンディングが実行される。このファーストボンデ
ィングは、例えば、超音波、熱圧着を利用して導電パタ
ーン12Aにワイヤの端部を溶着させる方法が採用され
る。
【0023】ワイヤ140の端部が取り出し基板12の
導電パターン12Aに溶着されると、図3(A)におい
て一点鎖線で示すように、キャピラリ20が所定方向に
移動してワイヤ140の延伸方向他端をボンディング性
の良い基板18に接触させる。このときの所定方向は、
溝16Aが形成されている方向に沿ってワイヤ140を
延伸させる方向に設定されている。また、キャピラリ2
0がガイド部16と干渉しないようにガイド部16を跨
いだ状態で移動するため、ワイヤ140は延伸方向一端
と他端との間がアーチ状に張り渡されてボンディング性
の良い基板18上に延伸方向他端が接触させられる。そ
して、このワイヤ140の延伸方向他端は、セカンドボ
ンディングにより溶着されるが、この場合のボンディン
グは前記した超音波熱圧着を利用した方法が用いられ
る。
【0024】このようにして延伸方向各端部が、取り出
し基板12とボンディング性の良い基板18にそれぞれ
溶着されたワイヤ140は、ガイド部16のガイド溝1
6Aに圧入されて整列される。
【0025】すなわち、図3(B)において、アーチ状
に張り渡されているワイヤ140は、例えば、図4に示
す摺動部材22がガイド部16の上面を摺動することに
よって溝16A内に押し込まれる。従って、ワイヤ14
0は、溝16A内に圧入されることによって配列方向で
の位置決めが行われると共に抜け止めされる。なお、ワ
イヤ140は、常にアーチ状に張り渡されるものでもな
く、ガイド部16の上面に接触していることもある。ま
た、ワイヤ140が溝16Aに圧入されると、蓋16B
によって溝16Aの開口が塞がれてワイヤ140の抜け
を一層確実に防止される。
【0026】ところで、ワイヤ140の延伸方向両端を
ボンディングすることにより、通常はワイヤボンディン
グそのものが終わることになるが、本実施例において
は、ボンディングされたワイヤの端部を敢えてカッティ
ングすることが行われる。
【0027】図3(C)において、取り出し基板12側
と反対側に位置するワイヤ140の端部は、ボンディン
グ性の良い基板18上でセカンドボンディングにより溶
着されているが、図5に示すように、溶着されている末
端部をボンディング性の良い基板18に残した状態で切
断される。カッティングによってガイド部16から突出
している側の端部がプローブ針の先端となる。
【0028】この切断は、例えば、この種、分野で多用
されているダイアモンドカッタにより行われるが、その
切断面は、導電パッドへの接触が適正に行える形状に設
定されることはいうまでもない。例えば、カッティング
後に成形処理を組み合わせることによって図6(A)に
示すようなボール形状や図6(B)に示すようなラウン
ド形状がある。この場合の成形処理としては、例えばト
ーチによる加熱処理や電解による研磨処理が選択され
る。加熱処理の場合には溶融した先端の表面張力によっ
てボール形状が得られ、また研磨処理の場合にはラウン
ド形状が得られる。
【0029】本実施例は以上のような手順が実行され
る。従って、プローブ針14を構成するワイヤ140
は、延伸性の良い金(Au)あるいは銅(Cu)が用い
られる。このような材質の選択はプローブ針としての機
械的特性を踏まえ、電極パッドへの接触特性の善し悪し
に基づいて行われる。そして、金(Au)をワイヤの材
質として選択した場合には、例えば、液晶の電気的特性
を測定する場合でいうと、次のような利点がある。
【0030】すなわち、液晶側に形成されている透明電
極には、表面の抵抗値が比較的高いITOによって形成
したものがある。このような電極に対しては、接触抵抗
が存在していてもプローブ針の接触が正確に保証されれ
ば電気的特性の測定に支障がないとされている。従っ
て、プローブ針を金(Au)で形成した場合には、アル
ミニュウム製電極パッドの場合のように、表面に生成さ
れる絶縁層を剥ぎ取るような処理を要しなくても接触さ
せるだけの動作ですむ。
【0031】なお、本発明は、上記実施例に限定される
ものではなく、要旨の範囲内で種々の変形実施が可能で
ある。
【0032】例えば、ワイヤボンディングに用いられる
ワイヤの材質の一つである金(Au)は、タングステン
などに比べて撓み剛性や硬度が低い。そこで、剛性ある
いは硬度を要する場合には、ワイヤの表面に電界等によ
って金属メッキを施して必要な機械的特性をもたせるこ
とも可能である。また、機械的特性をもたせるために、
プローブ針を構成するワイヤの素材構成として、金(A
u)と銅(Cu)とを原子数比において、Au:Cu=
1:1の割合で含む合金としてもよい。このような機械
的特性を変更することにより、例えば、上記実施例で対
象とした液晶だけでなく、表面抵抗が存在していても接
触させることを条件として測定が可能な組成からなる素
子にも適用範囲を拡げることも可能になる。
【0033】また、上記実施例では、プローブ針の延伸
方向に関しては、直線状の場合を図において示したが、
例えば、プローブ針の先端に相当する端部側を折り曲げ
ることも可能である。従って、この場合には、プローブ
ヘッドの設置位置と半導体素子の位置との関係に応じて
プローブ針を適正に位置決めすることが可能になる。
【0034】さらに、上記実施例では、単一のプローブ
ヘッドを対象として説明したが、例えば、図7に示すよ
うに、単一のプローブヘッド同士を接合することによっ
て複数列に並べてプローブヘッドを構成することも可能
である。この場合には、単一のプローブヘッドでプロー
ブ針が配列されている方向と直角な方向にもプローブ針
の配列方向が設定されることになるので、所謂、マトリ
ックス状に配置されている電極パッドの測定も可能にな
る。なお、図7には、実際に電極パッドに使用されると
きのプローブヘッド10の向きを逆転した状態が示され
ている。
【0035】また、ワイヤが圧入される溝を備えたガイ
ド部は、ダイシングソーによって溝を形成することに限
らず、例えば、樹脂を用いた成形加工によって溝を含む
形状に形成することも可能である。さらに、この溝への
ワイヤの圧入工程は、カッティング後に行なわれてもよ
い。
【0036】また、ワイヤボンディングに用いられるワ
イヤをそのままプローブ針として形成することができ
る。従って、ワイヤの材料選択によっては、従来、半導
体素子の測定時に必要とされていたオーバードライブと
いう、測定工程に対する前準備工程を不要にできるので
測定時間の短縮が図れる。このため、半導体素子の大量
測定を行う場合の時間を短くして特性検査工程に要する
時間を含む半導体素子の量産効率を上げることが可能に
なる。
【0037】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、プ
ローブヘッドのプローブ針をワイヤボンディングによっ
て形成する。そして、ワイヤボンディングにより延伸方
向両端が溶着された後、その端部の一方をカッティング
することによりプローブ針の先端を形成することができ
る。従って、プローブ針を特別に用意することなく、か
つ、手作業による配列、接着固定および半田付けを不要
にすることが可能である。しかも、配列ピッチおよびプ
ローブ針の外径が微細化した場合でも、ワイヤボンディ
ングによる自動化が行えるので、作業時間を短縮して作
業にかかるコストを低減することが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による製造方法で得られるプローブヘッ
ドの外観図である。
【図2】本発明による製造方法を実施するための構成を
概略的に示す斜視図である。
【図3】本発明による製造方法の各工程を説明するため
の模式図であり、(A)はファーストボンディング工程
およびセカンドボンディング工程を、(B)は溝への圧
入工程を、(C)はカッティング工程をそれぞれ示す。
【図4】図3(B)に示した圧入工程で用いられる手段
を説明するための模式図である。
【図5】図3(C)に示したカッティング工程の状態を
示す模式的な平面図である。
【図6】プローブ針の先端形状を示す概略図であり、
(A)はボール形状の場合を、(B)はラウンド形状の
場合をそれぞれ示す。
【図7】本発明による製造方法によって得られるプロー
ブヘッドの適用例の一つを示す概略斜視図である。
【符号の説明】
10 プローブヘッド 12 取り出し基板 14 プローブ針 16 ガイド部 16A 溝 18 導電性基板 22 摺動部材

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 絶縁基板上にプローブ針を形成するにあ
    たり、上記絶縁基板上の導電パターン部に予め定められ
    た位置に延伸性が良い材料からなるワイヤの延伸方向一
    端のワイヤボンディングを行った後、このワイヤを所定
    方向に延伸してその他端を導電性基板上に超音波ボンデ
    ィングを行う工程と、 上記ワイヤを、その配列ピッチに合せて形成されている
    溝に圧入する工程と、 上記ワイヤの延伸方向他端側をカッティングする工程
    と、 を含むことを特徴とするプローブヘッドの製造方法。
  2. 【請求項2】 請求項1記載の製造方法において、 上記溝は、基材をダイシングソーにより切削して形成さ
    れていることを特徴とするプローブヘッドの製造方法。
  3. 【請求項3】 請求項1または2記載の製造方法におい
    て、 上記溝に圧入されるワイヤの配列ピッチは、ワイヤの外
    径が20μm〜50μmの場合、50μm〜120μm
    に設定されていることを特徴とするプローブヘッドの製
    造方法。
JP5023370A 1993-01-18 1993-01-18 プローブヘッドの製造方法 Pending JPH06213928A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5023370A JPH06213928A (ja) 1993-01-18 1993-01-18 プローブヘッドの製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5023370A JPH06213928A (ja) 1993-01-18 1993-01-18 プローブヘッドの製造方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH06213928A true JPH06213928A (ja) 1994-08-05

Family

ID=12108671

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP5023370A Pending JPH06213928A (ja) 1993-01-18 1993-01-18 プローブヘッドの製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH06213928A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006507512A (ja) * 2002-11-22 2006-03-02 フィコム コーポレイション 平板表示素子検査用プローブおよびその製造方法
KR100765977B1 (ko) * 2007-01-02 2007-10-12 주식회사 리뷰텍 프로브 헤드 제조방법 및 프로브 헤드 제조를 위한 권취 구조체
KR100940199B1 (ko) * 2009-02-17 2010-02-10 윈포시스(주) 평판표시장치 검사용 핀 정렬 블록의 제조 장치 및 제조 방법
JP2011069829A (ja) * 1994-11-15 2011-04-07 Formfactor Inc プローブカード・アセンブリ及びキット、及びそれらを用いる方法

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011069829A (ja) * 1994-11-15 2011-04-07 Formfactor Inc プローブカード・アセンブリ及びキット、及びそれらを用いる方法
JP2006507512A (ja) * 2002-11-22 2006-03-02 フィコム コーポレイション 平板表示素子検査用プローブおよびその製造方法
KR100765977B1 (ko) * 2007-01-02 2007-10-12 주식회사 리뷰텍 프로브 헤드 제조방법 및 프로브 헤드 제조를 위한 권취 구조체
KR100940199B1 (ko) * 2009-02-17 2010-02-10 윈포시스(주) 평판표시장치 검사용 핀 정렬 블록의 제조 장치 및 제조 방법

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100911676B1 (ko) 콘택터, 그의 제조 방법 및 콘택터를 사용한 시험 방법
US7240432B2 (en) Method of manufacturing a semiconductor device testing contactor having a circuit-side contact piece and test-board-side contact piece
US7352196B2 (en) Probe card assembly and kit
US5090119A (en) Method of forming an electrical contact bump
JP4741949B2 (ja) 検査プローブ
KR0167477B1 (ko) 프로우브 침
KR20120067977A (ko) 반도체 집적 회로 장치의 제조 방법
US6211469B1 (en) Printed circuit substrate with comb-type electrodes capable of improving the reliability of the electrode connections
US7319317B2 (en) Probe card and method for producing the same
JP6625847B2 (ja) プローブ、プローブ組立体の製造方法およびプローブ組立体
JPH0837212A (ja) プローブヘッドおよびそれを用いた検査方法
JPH06213928A (ja) プローブヘッドの製造方法
US6220102B1 (en) Die-shear test fixture apparatus
JP4266331B2 (ja) プローブユニットの製造方法
JP3318891B2 (ja) メンブレン型プローブ装置
JPS62115748A (ja) 金バンプ形成法
JP2001330627A (ja) プローブ針構造体及びこれを用いるプローブカード
JPH02290564A (ja) プローブヘッドおよびその製造方法
JPH06281670A (ja) 集積回路検査用コンタクトピン
JPS6310536A (ja) Ic測定用プロ−ブカ−ド
JPH01291167A (ja) プローブカードおよびそれを用いた被測定部品の測定法
JPH10125429A (ja) Icパッケージ用コンタクト機構及びicソケット
JPH0833415B2 (ja) プローブカード
JPH04101440A (ja) バンプ用プローブカード
JP2003004769A (ja) 接続装置

Legal Events

Date Code Title Description
A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20000822