JPH06215395A - 光ヘッド制御装置 - Google Patents

光ヘッド制御装置

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JPH06215395A
JPH06215395A JP5004169A JP416993A JPH06215395A JP H06215395 A JPH06215395 A JP H06215395A JP 5004169 A JP5004169 A JP 5004169A JP 416993 A JP416993 A JP 416993A JP H06215395 A JPH06215395 A JP H06215395A
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JP
Japan
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signal
unit
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sine wave
sample value
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Application number
JP5004169A
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English (en)
Inventor
Hiroyuki Gondo
浩之 権藤
Kiyoyuki Suenaga
清幸 末永
Hisanori Takamure
久宜 高牟礼
Koji Muraoka
宏治 村岡
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 光ヘッドのデジタルサーボ制御における応答
の遅れや離散値制御に伴う誤差を小さくすることによ
り、高精度,安定性,信頼性を図る。 【構成】 データサンプリングした後に、参照信号発生
部47からサンプル値予測部40に入力されたサーボエラー
信号の近似式により、サンプル値の予測を行う。この近
似式は過去にサンプリングしたデータを保持しておくデ
ータ保持部45のデータにより正弦波近似部46で算出さ
れ、予測値にずれが生じた場合は、この近似式を学習に
より補正していく。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、光ディスク装置の制御
に係り、特にデジタル信号にて光ヘッドのサーボ制御を
行う光ヘッド制御装置に関する。
【0002】
【従来の技術】光ディスクは記録密度が高く、大容量記
録が可能である。しかし、トラックピッチが非常に小さ
く(1〜2μm)、また回転中の光ディスクは面振れや偏
心などにより変位するため、光スポットを目標トラック
に高精度に位置決め制御する必要がある。
【0003】一般には、半導体レーザ光源の出射光を光
学プリズムなどを介して、アクチュエータと一体化した
対物レンズに入射させ、光ディスク上にて微小な光スポ
ットに絞り込む方法が用いられている。光スポットの位
置制御は、光検出器にて光スポットのフォーカスおよび
ラジアル方向の位置を検出して、この検出値により対物
レンズアクチュエータのサーボ制御を行うことにより実
現している。
【0004】以下に、図8から図10を用いて、従来の光
ディスク装置の構成とその制御方法について説明する。
図8は従来の光ディスク装置の構成を示す図である。図
中、1は光ディスク、2はこの光ディスクを回転させる
ためのスピンドルモータ、3が光ヘッドである。
【0005】光ヘッド3は機構部と光学部などから構成
され、機構部には光ディスクの記録面に光を集光させる
ための対物レンズ4と、これを光ディスク面に垂直な方
向 (以下、フォーカス方向と称す)やディスクラジアル
方向(以下、トラッキング方向と称す)に動かすためのア
クチュエータ5が一体構成された対物レンズアクチュエ
ータ6で構成されている。
【0006】光学部は半導体レーザ7をはじめとする各
種プリズム,センサで構成されている。半導体レーザ7
からの光は、コリメータレンズ8によって平行光に変換
された後に偏向ビームスプリッタ9を介して対物レンズ
4に入射し、光ディスク1上に微小スポットを形成す
る。光ディスク1からの反射光は再び対物レンズ4に戻
り、今度は偏向ビームスプリッタ9によって90度光路変
更させられる。この光は偏向ビームスプリッタ10によっ
てS偏向の光とP偏向の光に分離される。S偏向の光は
非点収差レンズ11を介して、フォーカス方向の光スポッ
トの位置ずれを検出するために複数の受光面に分割され
たセンサ12により光検出される。同じくP偏向の光はレ
ンズ13を介して、光スポットのトラッキング方向の位置
ずれを検出するためのセンサ14にて光検出される。
【0007】光ヘッド3内のセンサ12,14からの信号は
フォーカスサーボ制御部15やトラッキングサーボ制御部
16で処理され、それぞれフォーカス方向位置制御信号17
やトラッキング方向位置制御信号18となって、対物レン
ズアクチュエータ6を駆動し、対物レンズ4の位置制御
を行う。
【0008】一方、センサ12,14の信号は、情報信号の
検出にも用いられ、これらの信号は情報信号検出部19に
入り、信号検出された後に、変復調回路やエラー訂正回
路などからなる信号処理回路20によって変復調,データ
誤り訂正などの信号処理が行われ、インタフェース(I
/F)制御部21を介して、パソコンなどのホスト機器に
信号送出される。
【0009】図中、22はコントローラで、これらのブロ
ックのシーケンス制御を行うとともに、アクセス/レー
ザ制御部23やスピンドルモータ制御部24などの制御を行
うためのものである。
【0010】次に、光ヘッドの対物レンズアクチュエー
タの制御方法として、図8に示したフォーカス/トラッ
キングサーボ制御について説明する。光ヘッドの制御は
従来からアナログ信号によるサーボ制御によって行われ
ていたが、最近ではデジタルの演算処理プロセッサの高
速化とともに、低価格のものが入手できるようになり、
サーボ制御ループの一部をデジタル信号に変換して処理
を行わせるデジタルサーボ制御が採用され始めている。
【0011】デジタルサーボ制御は、サーボループ内に
おける回路ノイズやオフセットなどの影響を受けにくい
ばかりでなく、サーボの各種制御パラメータを自由に設
定,変更できるとともに、回路の小型化が図れる,信頼
性が高いなどの特長を持ち、今後さらに応用範囲の拡大
が期待される制御方式である。ここでは、このデジタル
サーボによる光ヘッドの制御について述べる。
【0012】光ヘッドの制御においてフォーカス,トラ
ッキングサーボは、基本的には各々個別のサーボ制御ル
ープによって制御されるため、ここでは対物レンズアク
チュエータ6のフォーカスサーボ制御を取り上げて説明
する。
【0013】図9はフォーカスサーボ制御回路の構成を
示すブロック図である。図中、25は光ヘッド3内の対物
レンズ位置検出センサからの信号を変換して、サーボ制
御用のエラー信号を生成するエラー検出部である。ここ
で変換された信号は、サンプルホルダを含むA/D変換
器26にて5〜16ビットのデジタル信号に変換される。こ
のデジタル信号は演算処理部27で各種演算が行われる。
【0014】通常、この演算処理部27はデジタルシグナ
ルプロセッサ(以下、DSPと称す)やマイクロプロセッ
サなどを用いたソフトウェアで行われる。ここで演算処
理された信号は、D/A変換器28で再びアナログ制御信
号に変換され、駆動アンプ29で対物レンズアクチュエー
タ6のフォーカス制御の駆動信号30に変換され、対物レ
ンズ4の位置制御を行う。
【0015】上記演算処理部27では、オフセット調整,
ゲイン調整,フィルタリング処理などを行う。オフセッ
ト調整はA/D変換されたデジタルのエラー信号の低周
波 (DC)成分のオフセット調整を行うもので、フォー
カスエラー信号の補正やデジタルフィルタの数値演算を
行う前処理のために行われる。ゲイン調整はトラッキン
グのサーボ制御に必要なループゲインの設定を行うもの
である。フィルタリング処理は、対物レンズアクチュエ
ータの機械特性を補償するために行うもので、通常、位
相進み補償や位相遅れ補償などの演算処理を行い、サー
ボ系の安定化を図るための処理である。これらのソフト
ウェアによる処理によって、フォーカスエラー検出信号
は対物レンズアクチュエータ6のフィードバック制御信
号に変換され、対物レンズ4の制御信号となる。
【0016】デジタルサーボ制御によるデータ変換の流
れを図10の波形図を用いて説明する。デジタルサーボで
は、エラー検出部25で検出されたエラー信号31を一定周
期Tでサンプリングする。このサンプリング周期は制御
の仕様や制御対象の特性などによって決定される。サン
プリングは一定周期Tで実行され、例えばサンプリング
時点kTでは信号A(k)がデータとして取り込まれ、A
/D変換によりデジタル信号に変換される。このデータ
は先に述べたようなオフセット処理,ゲイン設定やフィ
ルタリング処理がなされ、D/A変換された後に対物レ
ンズアクチュエータ6の駆動信号30として送出される。
この繰り返しにより、連続的なサーボ制御を行うことが
できる。また、環境変動や光ヘッドの特性変動に対して
もこれらの補正制御を繰り返し、サンプリング制御の中
や間欠的な処理として盛り込み、最適制御を行うことも
可能となる。
【0017】
【発明が解決しようとする課題】上述したデジタルサー
ボ制御においては、所定のサンプリング周期でデータサ
ンプリングを行うが、サンプルしたデータをA/D変換
やフィルタリング処理するには所定の時間を要する。す
なわち、データを取り込んだ時点から制御信号を送出す
るまでには、一定の時間遅れが発生することになる。
【0018】図11は、従来の光ディスク装置におけるデ
ータサンプリングの方法を示す波形図であって、サンプ
ル時間kTでサンプルされたエラー信号32のデータA
(k)は、Δtの時間後にデジタル処理された制御信号B
(k)が送出され、デジタル信号33となり、これが次のサ
ンプリング(k+1)Tの演算処理終了まで保持される。
しかし、kTからΔt経過した時点から次の(k+1)T
+Δtの期間では、エラー信号は既にサンプルした時点
のレベルとは異なる値になっており、より精密な制御が
できないといった問題を生じてしまう。むろん、この時
間遅れを最小にし、サンプリング周期も極力短くすれば
よいわけであるが、これらには限界がある。
【0019】例えば、データストレージ用光ディスク装
置では、1800〜3600rpmで光ディスクが回転し、この光
ディスク1の面振れや偏心に対物レンズアクチュエータ
6が追随するためには、20〜100kHzのサンプリング周波
数が必要とされている。最近では高速演算可能なDSP
が製品化されてきており、変換時間の短いA/D変換器
なども入手できるが、コストなども考慮すれば、これら
の採用には限界がある。
【0020】この対策として、次のサンプルデータ値を
予測し、これを用いて制御を行う方式があげられる。図
12は従来の光ディスク装置におけるデータサンプリング
として予測方式を示す波形図であって、図12に示すよう
に、エラー信号35のサンプル時点kTにおいて、この前
の(k−1)TのサンプルデータA(k−1)とA(k)を用
いて、次の(k+1)Tのデータを直線外挿により予測
し、この予測値C(k+1)を次のサンプルデータとし
て、kTのサンプリング出力データをA(k)とC(k+
1)の中間値34とする方法である。これによれば、エラ
ー(デジタル)信号36の誤差の値を小さくすることがで
き、時間遅れの影響を少なくすることができる。
【0021】しかし、この方法でもエラー信号が図13に
示すような波形図の場合、(k−1)TとkTのサンプル
データA(k−1),A(k)から予測したkTのデータC
(k+1)では予測値と実際値A(k+1)に大きな誤差が
生じてしまうという問題があり、サーボ制御の精度や安
定性を損ねてしまう恐れがある。
【0022】本発明は、このような従来の問題点を解決
し、デジタルサーボ制御における制御遅れの影響を小さ
くして離散化誤差の影響を低減し、高精度の位置制御を
行うことを目的とする。
【0023】
【課題を解決するための手段】本発明は一定周期ごとに
対物レンズの位置検出信号の周期的なサンプリングを行
い、少なくとも1周期以前のサンプル値を保持しておく
データ保持部と、前記データ保持部からのサンプル値を
入力として過去のエラー信号を正弦波状の関数に近似さ
せる正弦波近似部と、前記正弦波近似部からの出力を入
力として正弦波状の参照信号を発生する参照信号発生部
と、前記サンプル値と参照信号発生部から次のサンプル
値を予測するサンプル値予測部と、前記サンプル値予測
部からの信号を変換する演算処理部と、前記演算処理部
の信号を増幅しヘッド駆動を行う駆動アンプとを有す
る。
【0024】また前記参照信号発生部は正弦波信号の振
幅,周波数,位相の少なくとも1つを可変でき、また、
データ保持部から複数のサンプル値が入力され、このサ
ンプル値の曲線補間を行う曲線補間演算部と、前記曲線
補間演算部により生成した信号列を参照信号として保持
する補間データ保持部とからなる。
【0025】
【作用】本発明によれば、過去のエラー信号の特性をも
とに、これに近似した正弦波状の関数を予測値算出に用
いることにより、より精度の高い予測ができる。また、
直前にサンプルしたデータを基に関数の振幅,周波数な
どのパラメータを刻一刻最適なものに合わせ込みなが
ら、これを行うことにより、より精度の高いサンプル値
の予測が可能となる。これによって、離散化制御に伴う
誤差や、データサンプリングから処理データ出力までの
時間遅れに起因する制御遅れ誤差の影響を低減すること
ができる。
【0026】
【実施例】図1から図6を用いて本発明の一実施例につ
いて説明する。本実施例はフォーカスサーボ,トラッキ
ングサーボ,光ヘッドのアクセス制御など、いずれにも
適用できるものであるが、本例ではフォーカスサーボを
例にして説明を行う。
【0027】図1は本発明の一実施例における光ヘッド
のフォーカスサーボ制御部の構成を示すブロック図であ
る。図1において、37は光ヘッド3のフォーカスサーボ
のエラー信号を検出するエラー検出器、38はエラー検出
器37からのエラー信号をデジタル信号に変換するA/D
変換器、39はエラー信号のデジタルデータを保持するデ
ータレジスタ、40はサンプル値と後述する参照信号発生
部47から次のサンプル値を予測するサンプル値予測部、
41は前記サンプル値予測部40からの信号を変換処理する
演算処理部、42はアナログ信号に変換するD/A変換
器、43は対物レンズアクチュエータ6に駆動信号を出力
する駆動アンプ、44は対物レンズアクチュエータ6に対
する駆動信号、45は前記A/D変換器38からのこれまで
のエラー信号のサンプルデータを保持するデータ保持
部、46は前記データ保持部45からのサンプル値を入力と
して過去のエラー信号を正弦波状の関数に近似させる正
弦波近似部、47は前記正弦波近似部46の出力を入力とし
正弦波状の参照信号を発生させ前記サンプル値予測部40
に出力する参照信号発生部である。
【0028】次に動作を説明すると、対物レンズアクチ
ュエータ6を含む光ヘッド3は前記図8と同じ構成であ
るとし、光ヘッド3内にあるフォーカス位置検出センサ
(図示せず)からの位置検出信号がエラー検出器37に送ら
れ、ここでフォーカスサーボのエラー信号に変換され
る。
【0029】このエラー信号はA/D変換器38に送ら
れ、デジタル信号に変換される。デジタル信号は通常5
〜16ビットの信号に変換されるが、このビット数はサー
ボの仕様や制御対象の特性などによって決定される。こ
のデジタル信号はデータレジスタ39とサンプル値予測部
40と、後述するデータ保持部45にそれぞれ送られる。
【0030】データレジスタ39には、今取り込んだ時間
kTでのデータと、(k−1)Tなど以前のいくつかのデ
ータが保持されており、これらのデータは今サンプリン
グしたデータとともにサンプル値予測部40に送られる。
このサンプル値予測部40では、これらのデータを基に次
の(k+1)Tのデータを推定し、この予測値をkT時点
での出力データとして次の演算処理部41へ信号を渡す。
【0031】演算処理部41では、データのオフセット変
換,ゲイン変換,フィルタリング補償などの処理が行わ
れる。データのオフセット変換は、エラー信号の外的要
因によるDCオフセット成分の除去や、フィルタリング
処理を行う上での演算の都合などの目的で行われる。ゲ
イン変換はサーボ系のゲイン設定を行うもので、対物レ
ンズアクチュエータ6を光ディスク1の面振れに追従で
きるように、所定の値に設定される。フィルタリング処
理は、対物レンズアクチュエータ6の機械特性の補償を
行うための位相補償処理であり、周波数特性の改善を図
る。
【0032】この演算処理部41でデジタル信号処理され
た信号は、D/A変換器42でアナログ信号に変換され、
駆動アンプ43で対物レンズアクチュエータ6のフォーカ
ス方向の位置制御信号となり、対物レンズアクチュエー
タ6に駆動信号44として送出される。これらの制御部か
らなるループがフォーカスサーボの制御ループとなり、
フィードバック制御が行われる。
【0033】一方、A/D変換器38でデジタル信号に変
換された信号は、データ保持部45に送られる。このデー
タ保持部45は、これまでのエラー信号のサンプルデータ
を記憶しておくためのもので、次の正弦波近似部46の入
力データとなる。正弦波近似部46では、過去のサンプル
データを基にエラー信号の正弦波近似を行い、ここで演
算した近似信号を参照信号発生部47に送り、前記サンプ
ル値予測部40の参照信号となる。
【0034】正弦波近似部46は過去のエラー信号を正弦
波状の関数に近似するためのものである。フォーカスサ
ーボのエラー信号は図2(a)に示すように、一般に光デ
ィスクの1回転に同期した信号が基本成分となって現れ
る。このエラー信号は光ヘッドの機械特性,サーボ制御
回路の特性,装置への外乱などによって決まり、光ディ
スクの1回転に同期して毎回転ほぼ同じような信号とな
って現れる。図2(b)に示したフォーカスエラー信号の
高周波成分についても、同様な傾向が見られる場合が多
い。むろん、高周波成分は変動要因が多く、これからず
れる場合も多いが、正弦波状の信号として、振幅,周波
数,位相などの合わせ込みを行っていけば、かなりの近
似が可能となる。このため、過去のサンプルデータを基
に正弦波近似の参照信号を生成すれば、次のサンプルデ
ータに関して高精度で予測可能となる。
【0035】正弦波近似部46の動作シーケンスを図3に
示す。この制御は、マイクロプロセッサやデジタルシグ
ナルプロセッサなどを用いてソフトウェアで行ってい
る。エラー信号の低周波分の近似を行う場合を例にして
いる。光ディスクの1回転分のデータを取り込み(S
1)、これらのサンプルデータの最大値と最小値を求め
(S2)、正弦波の振幅値Pを求める(S3)。
【0036】次に、最大値と最小値の時間を求めること
により正弦波の周波数ωを求めることができる(S4)。
周波数はサンプリングを一定周期で行っているので、サ
ンプリングデータの個数をカウントすれば周期を算出で
きるので、これから求めることができる。ただし、低周
波成分の場合は光ディスクの1回転の時間が周波数とな
るのでこれを行う必要はなく、高周波成分検出の場合の
みこれを行えばよい。正弦波の基本周期と振幅が得られ
たので、次に基準点から正弦波の中心点(ゼロクロス点)
までの時間を同様に算出し、位相差φを求める(S5)。
これにより、基本式Y=Psin(ωt+φ)の近似式を得
ることができる(S6)。
【0037】これを低周波成分,高周波成分ともに行
い、この二つの近似式を導出しておけば、近似式から次
のサンプリングデータを推定することが可能となる。
【0038】サンプル値予測部40での予測データの算出
は、図4に示すような方法で行う。まず、kTでサンプ
リングしたデータがA(k)であると、近似式Y=Psin
(ωt+φ)より、Y=A(k),t=kTであり、Pは既
知であるため、φを求めることができる。近似式のパラ
メータがわかり、式を確定することができる。次のサン
プル時間はkT時間後であるため、これを上記近似式に
代入すれば、(K+1)Tでのサンプル値を推定すること
ができるわけである。
【0039】このエラー信号が単一の正弦波近似式で表
し得ないような場合には、複数の近似式の合成で行うこ
ともでき、正弦関数以外の関数を用いてもよい。また、
これが複雑になる場合には、図5に示すように近似式を
位相φの値によって分け、これから求めることも可能で
ある。φ=0からφ=φ1に相当する時間は近似式Y1
を用い、φ=φ1からφ=0に相当する時間はY2を用
いることにより行う。
【0040】この時、φは前のサンプル値で既知である
ため、先に述べたような方法をとらなくてもよい。
【0041】また、近似ができにくい場合や、近似式が
複雑になる場合は、図6に示すような方法を用いること
ができる。図6において、45は図1にも示したデータ保
持部であり、このデータは曲線補間演算部49に送られ
る。ここで複数のデータを用いてこれらを曲線状に滑ら
かに補間してやる。この補間は円弧補間,Bezier補間,
Spline補間などを用いて行うことができる。この補間デ
ータ群は、例えば光ディスクの1回転分のデータとし
て、補間データ保持部50に時系列に蓄えられる。そして
サンプリング時には、このデータがサンプル値予測部40
に送られ、予測のためのデータとして用いられる。この
ように、予測データを関数だけでなく、補間処理を施し
た連続のランダム波形として蓄積しておき、ここから呼
び出して予測を行うことも可能である。
【0042】次にエラー信号に何らかの変動が生じ、近
似式が対応できなくなった場合の補正方法について説明
する。図7にはエラー信号に大きな振幅変動が起こった
場合の補正例を示している。サンプリングkTにおける
サンプル値から、近似式Y1を用いて次の(K+1)Tで
の予測サンプル値C(K+1)を求めるが、実際にはエラ
ー信号A(K+1)とは大きな誤差が生じている。そこ
で、この差分ΔPを求めて近似式の振幅値を変更し、近
似式Y2とする。しかし、まだこの状態では新しい近似
式Y2の位相φの情報が未知のため、次の(K+2)Tに
おいてもまだ、誤差が残っている。そこで、この差から
位相φやあるいは振幅そのものの調整を行い、差が最小
になるように近似式を変更していく方法によって補正動
作を実現することができる。すなわち、サンプル値と推
定値のずれを学習していき、これを最小にするように絞
り込んでいく方法である。これは、振幅のみならず、周
波数や位相の変動についても同様に行うことが可能であ
る。
【0043】これによって、変動に対しても常に最適な
近似を行っていくことができ、常に最良の近似式を用い
ることができ、より高精度な予測サーボ制御が可能とな
る。
【0044】
【発明の効果】以上説明したように本発明の光ヘッド制
御装置は、デジタルサーボ制御における制御遅れの影響
を小さくして離散化誤差の影響を低減することができ、
光ヘッドの高精度な位置制御が可能となる。また、予測
の近似式を外乱,環境条件や使用ディスク特性に応じて
変更できるため、より安定した動作を行うことができ
る。これにより、高精度で、安定性,信頼性に優れた光
ディスク装置を提供できる。
【0045】
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例における光ヘッドのフォーカ
スサーボ制御部の構成を示すブロック図である。
【図2】図1の正弦波近似部における近似の原理を示す
フォーカスエラー信号の波形図である。
【図3】本実施例における近似式生成方法の動作シーケ
ンスを示すフローチャート図である。
【図4】本実施例における近似式の位相を求める方法を
示す信号波形図である。
【図5】本実施例の変形例で近似式を示す信号波形図で
ある。
【図6】本発明の他の実施例における光ヘッドのフォー
カスサーボ制御部の構成を示すブロック図である。
【図7】本実施例の変形例で近似式の補正方法を示す波
形図である。
【図8】従来の光ディスク装置の構成を示すブロック図
である。
【図9】従来の光ディスク装置におけるフォーカスサー
ボ制御部の構成を示すブロック図である。
【図10】デジタルサーボのデータサンプリングの方法
を示す波形図である。
【図11】従来の光ディスク装置におけるデータサンプ
リングの方法を示す波形図である。
【図12】従来の光ディスク装置におけるデータサンプ
リングとして予測方式を示す波形図である。
【図13】従来の予測方式の問題点を示す波形図であ
る。
【符号の説明】
1…光ディスク、 3…光ヘッド、 6…対物レンズア
クチュエータ、 37…エラー検出器、 38…A/D変換
器、 39…データレジスタ、 40…サンプル値予測部、
41…演算処理部、 42…D/A変換器、 43…駆動ア
ンプ、 45…データ保持部、 46…正弦波近似部、 47
…参照信号発生部。
フロントページの続き (72)発明者 村岡 宏治 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 一定周期ごとに対物レンズの位置検出信
    号の周期的なサンプリングを行い、少なくとも1周期以
    前のサンプル値を保持しておくデータ保持部と、前記デ
    ータ保持部からのサンプル値を入力として過去のエラー
    信号を正弦波状の関数に近似させる正弦波近似部と、前
    記正弦波近似部からの出力を入力として正弦波状の参照
    信号を発生する参照信号発生部と、前記サンプル値と参
    照信号発生部から次のサンプル値を予測するサンプル値
    予測部と、前記サンプル値予測部からの信号を変換する
    演算処理部と、前記演算処理部の信号を増幅しヘッド駆
    動を行う駆動アンプとを有することを特徴とする光ヘッ
    ド制御装置。
  2. 【請求項2】 前記参照信号発生部の正弦波信号の振
    幅,周波数,位相の少なくとも1つを可変できることを
    特徴とする請求項1記載の光ヘッド制御装置。
  3. 【請求項3】 前記データ保持部から複数のサンプル値
    が入力され、このサンプル値の曲線補間を行う曲線補間
    演算部と、前記曲線補間演算部により生成した信号列を
    参照信号として保持する補間データ保持部とからなるこ
    とを特徴とする請求項1記載の光ヘッド制御装置。
JP5004169A 1993-01-13 1993-01-13 光ヘッド制御装置 Pending JPH06215395A (ja)

Priority Applications (1)

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