JPH0621768B2 - 物品の輪かく測定方法 - Google Patents
物品の輪かく測定方法Info
- Publication number
- JPH0621768B2 JPH0621768B2 JP60095051A JP9505185A JPH0621768B2 JP H0621768 B2 JPH0621768 B2 JP H0621768B2 JP 60095051 A JP60095051 A JP 60095051A JP 9505185 A JP9505185 A JP 9505185A JP H0621768 B2 JPH0621768 B2 JP H0621768B2
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- Japan
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Image Analysis (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Character Discrimination (AREA)
- Closed-Circuit Television Systems (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 「産業上の利用分野」 本発明は固体撮像素子によってとらえた物品の明暗から
当該物品の安全な立体的輪かくデータを所得する物品の
輪かく測定方法に関する。
当該物品の安全な立体的輪かくデータを所得する物品の
輪かく測定方法に関する。
「従来技術と本発明が解決しようとする問題点」 従来から物品の形状をとらえ、これを適宜、表示媒体へ
表示する手段は種々、存在するが、これらのものにあっ
ては投影器などを行利用して物品の全体像をとらえ次い
で、その輪かくを手書きによって描くものが多く、当該
物品に係わる輪かくの正確にしてかつ、迅速な描写が期
待できないことは勿論のこと、投影器などによる検知で
は物品の任意な位置での大きさや、その形状を把握する
ことも極めて困難なことであった。
表示する手段は種々、存在するが、これらのものにあっ
ては投影器などを行利用して物品の全体像をとらえ次い
で、その輪かくを手書きによって描くものが多く、当該
物品に係わる輪かくの正確にしてかつ、迅速な描写が期
待できないことは勿論のこと、投影器などによる検知で
は物品の任意な位置での大きさや、その形状を把握する
ことも極めて困難なことであった。
「問題解決のための手段」 本発明は、これらの従来技術にみられる欠点の解消を意
図するものであって、一列に並ぶ光トランジスタで被測
定物をとらえるとともにその形成される明暗によって異
なる出力を発する固体撮像素子の光トランジスタの並び
方向に対して直角方向へ被測定物を移動させるととも
に、輪かくデータを得ようとするドットパターン列に対
し、その前後に位置するドットパターン列を含めた３列
を対象にして、当該パターン列の前後方向の輪かくデー
タを求め次いで、当該パターン列の左右方向を輪かくデ
ータを当該パターン列を１ビットづつ２度、右方向へシ
フトして得た３つの資料を対象にして求めることをもっ
て、問題解決のための手段としている。
図するものであって、一列に並ぶ光トランジスタで被測
定物をとらえるとともにその形成される明暗によって異
なる出力を発する固体撮像素子の光トランジスタの並び
方向に対して直角方向へ被測定物を移動させるととも
に、輪かくデータを得ようとするドットパターン列に対
し、その前後に位置するドットパターン列を含めた３列
を対象にして、当該パターン列の前後方向の輪かくデー
タを求め次いで、当該パターン列の左右方向を輪かくデ
ータを当該パターン列を１ビットづつ２度、右方向へシ
フトして得た３つの資料を対象にして求めることをもっ
て、問題解決のための手段としている。
「作用」「実施例」 以下、本発明に係わる実施例を詳説するとともに、その
作用について説明する。
作用について説明する。
固体撮像素子１は通常、ＣＣＤカメラの呼称で知られる
カメラであることが好ましく、当該ＣＣＤカメラに代表
される固体撮像素子（以下、ＣＣＤカメラ１という。）
は一列に並ぶ所定数の光トランジスタ１ａとレンス１ｂ
を有し、被測定物２の上方に位置している。
カメラであることが好ましく、当該ＣＣＤカメラに代表
される固体撮像素子（以下、ＣＣＤカメラ１という。）
は一列に並ぶ所定数の光トランジスタ１ａとレンス１ｂ
を有し、被測定物２の上方に位置している。
被測定物２は常時、照明源３からの光を受け、一列に並
ぶ所定数の光トランジスタ（以下、光ラインセンサ−１
ａという。）の並び方向に対して直角方向へ移動する物
品載置台４に載置されて光ラインセンサ−１ａの下を一
定量移動する。しかして、光ラインセンサー１ａはその
一定量の移動の都度、明暗の開始位置とその終了位置を
確認する。
ぶ所定数の光トランジスタ（以下、光ラインセンサ−１
ａという。）の並び方向に対して直角方向へ移動する物
品載置台４に載置されて光ラインセンサ−１ａの下を一
定量移動する。しかして、光ラインセンサー１ａはその
一定量の移動の都度、明暗の開始位置とその終了位置を
確認する。
すなわち、ＣＣＤカメラの光ラインセンサー１ａは被測
定物２の光のあたらない影の部分つまり、暗部はＬｏｗ
（０Ｖ）でまた、光のあたっている部分つまり、暗部は
Ｈｉｇｈ（５Ｖ）で出力するようにしてあり従って、被
測定物２が光ラインセンサー１ａに対して直角方向へ一
定量、移動する都度、ＨｉｇｈとＬｏｗの変化に応じて
異なる出力を発生することになる。
定物２の光のあたらない影の部分つまり、暗部はＬｏｗ
（０Ｖ）でまた、光のあたっている部分つまり、暗部は
Ｈｉｇｈ（５Ｖ）で出力するようにしてあり従って、被
測定物２が光ラインセンサー１ａに対して直角方向へ一
定量、移動する都度、ＨｉｇｈとＬｏｗの変化に応じて
異なる出力を発生することになる。
しかして、この光ラインセンサー１ａのＨｉｇｈ／Ｌｏ
ｗの変化する位置と、ＣＣＤカメラ１から発せられるク
ロックパルスによる計数値の総合評価によって物品のパ
ターンデータが得られることになる。
ｗの変化する位置と、ＣＣＤカメラ１から発せられるク
ロックパルスによる計数値の総合評価によって物品のパ
ターンデータが得られることになる。
第２図は光ラインセンサー１ａに対して被測定物２を矢
印方向へ移動させた場合を説示しているが、そこでのｌ
１〜ｌ８が光のあたっている明るい部分であり、それぞ
れ暗い部分の始まる位置までの距離を示している。ま
た、ｄ１〜ｄ８が影の部分つまり、暗い部分であって、
その暗い部分の長さを表わしている。なおまた、ｌｎ〜
ｄｎは被測定物の光ラインセンサー１ａに対する直角方
向への一定の移動量（範囲）を示すものであって先記の
ｌ１ｄ１〜ｌ８ｄ８と、このｌｎ〜ｄｎによって物品の
パターンデータの取得が可能になる。
印方向へ移動させた場合を説示しているが、そこでのｌ
１〜ｌ８が光のあたっている明るい部分であり、それぞ
れ暗い部分の始まる位置までの距離を示している。ま
た、ｄ１〜ｄ８が影の部分つまり、暗い部分であって、
その暗い部分の長さを表わしている。なおまた、ｌｎ〜
ｄｎは被測定物の光ラインセンサー１ａに対する直角方
向への一定の移動量（範囲）を示すものであって先記の
ｌ１ｄ１〜ｌ８ｄ８と、このｌｎ〜ｄｎによって物品の
パターンデータの取得が可能になる。
しかして、これらのｌ１ｄ１〜ｌ８ｄ８〜ｌｎｄｎのデ
ータは組としてコントローラー５のメモリー５ａにスト
アーされる。
ータは組としてコントローラー５のメモリー５ａにスト
アーされる。
かくして、被測定物２のパターンデータが得られたわけ
であるが、この段階ではまだ、最終的な被測定物２の輪
かくデータは得られていない。すなわち、被測定物２を
一定量づつ移動させて得たデータは光ラインセンサー１
ａの並び方向についてのものであり、移動方向の変化に
ついては未測定であって、この移動方向の変化について
の測定処理が行なわれはじめて、完全な輪かくデータが
得られることになる。しかして、この輪かくデータへの
変換処理はコントローラー５のメモリー５ａにストアー
された先記の光ラインセンサー１ａの並び方向に対し直
角方向へ移動する被測定物２の一定量の移動ごとに得た
パターンデータを基にして行なわれるが、その処理のし
方は次のような方式によって行なわれる。すなわち、い
ま被測定物２の移動方向の或るパターン列についての輪
かくを求めようとした場合はまず、当該パターン列とそ
の前後の列を含めた３列のパターンデータの相関関係か
ら前後における輪かくデータを得、次いで、その左右に
おける輪かくデータを先記の前後におけるそれと同様に
左右方向の３つの資料を基にして得るものであって、最
終的には、これらを総合的に評価して決めることにな
る。
であるが、この段階ではまだ、最終的な被測定物２の輪
かくデータは得られていない。すなわち、被測定物２を
一定量づつ移動させて得たデータは光ラインセンサー１
ａの並び方向についてのものであり、移動方向の変化に
ついては未測定であって、この移動方向の変化について
の測定処理が行なわれはじめて、完全な輪かくデータが
得られることになる。しかして、この輪かくデータへの
変換処理はコントローラー５のメモリー５ａにストアー
された先記の光ラインセンサー１ａの並び方向に対し直
角方向へ移動する被測定物２の一定量の移動ごとに得た
パターンデータを基にして行なわれるが、その処理のし
方は次のような方式によって行なわれる。すなわち、い
ま被測定物２の移動方向の或るパターン列についての輪
かくを求めようとした場合はまず、当該パターン列とそ
の前後の列を含めた３列のパターンデータの相関関係か
ら前後における輪かくデータを得、次いで、その左右に
おける輪かくデータを先記の前後におけるそれと同様に
左右方向の３つの資料を基にして得るものであって、最
終的には、これらを総合的に評価して決めることにな
る。
第３図〜第６図はその処理方式について説明したもので
あるが、まず輪かくデータを求めようとするドットパタ
ーン列Ｐｎ−１に対してその前に位置するドットパター
ン列Ｐｎとその後に位置するドットパターン列Ｐｎ−２
を処理対象として特定する（第３図(ａ)参照）。なお、
ここでの０と１の記号は０が明るい部分を１が暗い部分
を示唆している。
あるが、まず輪かくデータを求めようとするドットパタ
ーン列Ｐｎ−１に対してその前に位置するドットパター
ン列Ｐｎとその後に位置するドットパターン列Ｐｎ−２
を処理対象として特定する（第３図(ａ)参照）。なお、
ここでの０と１の記号は０が明るい部分を１が暗い部分
を示唆している。
次に、輪かくデータを得ようとするドットパターン列Ｐ
ｎ−１と、その前に位置するドットパターン列Ｐｎの明
部０と暗部１を反対にして得たパターン▲▼との間
でＡＮＤ処理を行なって、データＱｎをつくり（第３図
(b)参照）、更に輪かくデータを得ようとするパターン
列Ｐｎ−１と、その後に位置するドットパターン列Ｐｎ
−２の明暗部を反対にして得たパターンＰ−２との間
でＡＮＤ処理を行ないデータＱｎ−２を得る（第３図
(ｃ)参照）。
ｎ−１と、その前に位置するドットパターン列Ｐｎの明
部０と暗部１を反対にして得たパターン▲▼との間
でＡＮＤ処理を行なって、データＱｎをつくり（第３図
(b)参照）、更に輪かくデータを得ようとするパターン
列Ｐｎ−１と、その後に位置するドットパターン列Ｐｎ
−２の明暗部を反対にして得たパターンＰ−２との間
でＡＮＤ処理を行ないデータＱｎ−２を得る（第３図
(ｃ)参照）。
次いで、輪かくデータを得ようとするドットパターン列
Ｐｎ−１を１ビット右にシフトしたパターンＲと、更
に、１ビット右へシフトしたパターンＲ２をつくり（第
４図(ａ)参照）、このパターンＲと、輪かくデータを得
ようとするドットパターンＰｎ−１の明暗部を反対にし
て得たパターンＰ−１との間でＡＮＤ処理を行なって
データＳ１を得る（第４図(ｂ)参照）。また更に、輪か
くデータを得ようとするトットパターン列Ｐｎ−１を右
に１ビットシフトしたパターンＲと、このパターンＲよ
り更に、右へ１ビットシフトしたパターンＲ２の明暗部
を反対にして得たパターン▲▼との間でＡＮＤ処理
をしてデータＳ２を得る（第４図(ｃ)参照）。
Ｐｎ−１を１ビット右にシフトしたパターンＲと、更
に、１ビット右へシフトしたパターンＲ２をつくり（第
４図(ａ)参照）、このパターンＲと、輪かくデータを得
ようとするドットパターンＰｎ−１の明暗部を反対にし
て得たパターンＰ−１との間でＡＮＤ処理を行なって
データＳ１を得る（第４図(ｂ)参照）。また更に、輪か
くデータを得ようとするトットパターン列Ｐｎ−１を右
に１ビットシフトしたパターンＲと、このパターンＲよ
り更に、右へ１ビットシフトしたパターンＲ２の明暗部
を反対にして得たパターン▲▼との間でＡＮＤ処理
をしてデータＳ２を得る（第４図(ｃ)参照）。
このようにして得たデータＱｎ，Ｑｎ−２，Ｓ１，Ｓ２
を総合的に評価することによって、輪かくを得ようとす
るドットパターン列Ｐｎ−１の最終的な輪かくデータが
得られることになる。すなわち、輪かくを得ようとする
ドットパターン列Ｐｎ−１の輪かくＴｎ−１はこれらの
データＱｎ，Ｑｎ−２，Ｓ１，Ｓ２について、これをを
ＯＲ操作することによって得られるものである（第５図
参照）。
を総合的に評価することによって、輪かくを得ようとす
るドットパターン列Ｐｎ−１の最終的な輪かくデータが
得られることになる。すなわち、輪かくを得ようとする
ドットパターン列Ｐｎ−１の輪かくＴｎ−１はこれらの
データＱｎ，Ｑｎ−２，Ｓ１，Ｓ２について、これをを
ＯＲ操作することによって得られるものである（第５図
参照）。
この第５図においてＱｎは輪かくを得ようとするパター
ン列Ｐｎ−１の上方の端部を表わし、Ｑｎ−２はその下
方の端を表わしている。また、Ｓ１は右方の端、Ｓ２は
左方の端を表わすものであって、これを説示したのが第
６図である。
ン列Ｐｎ−１の上方の端部を表わし、Ｑｎ−２はその下
方の端を表わしている。また、Ｓ１は右方の端、Ｓ２は
左方の端を表わすものであって、これを説示したのが第
６図である。
かくして、当該例Ｐｎ−１の輪かくデータが得られたわ
けであるが、この後に位置する列Ｐｎ−２の輪かくデー
タはその直前のデータつまり、いま、輪かくが決った列
Ｐｎ−１とその後の列のデータを基にして決められ以
下、順に１列おくれで被測定物の移動方向の輪かくデー
タが得られることになる。コントローラー５内で確認し
た輪かくデータはコンピュータ６によって演算、数値化
され線データとして順次、つなぎ合わされて表示媒体で
あるプロッター７ａに出力される。この結果、プロッタ
ー７ａは当該輪かくを適宜、拡大または縮小して描写す
ることになる。
けであるが、この後に位置する列Ｐｎ−２の輪かくデー
タはその直前のデータつまり、いま、輪かくが決った列
Ｐｎ−１とその後の列のデータを基にして決められ以
下、順に１列おくれで被測定物の移動方向の輪かくデー
タが得られることになる。コントローラー５内で確認し
た輪かくデータはコンピュータ６によって演算、数値化
され線データとして順次、つなぎ合わされて表示媒体で
あるプロッター７ａに出力される。この結果、プロッタ
ー７ａは当該輪かくを適宜、拡大または縮小して描写す
ることになる。
また、コントローラー５内に集積された被測定物２の或
る部分の暗部の長さｄ１〜ｄ８からは当該部分の大きさ
が求められ、これをコンピューター６が演算して数値化
すれば、他の表示媒体であるプリンター７ｂや、ディス
プレイ７ｃに出力することも可能となる。
る部分の暗部の長さｄ１〜ｄ８からは当該部分の大きさ
が求められ、これをコンピューター６が演算して数値化
すれば、他の表示媒体であるプリンター７ｂや、ディス
プレイ７ｃに出力することも可能となる。
なお、図中の８は物品載置台４を移動させるパルスモー
ターであって、コントローラー５やコンピューター６と
連動するパルスモータードライバー９から動力を得て作
動する。
ターであって、コントローラー５やコンピューター６と
連動するパルスモータードライバー９から動力を得て作
動する。
「発明の効果」 本発明は、輪かくデータを得ようとするドットパターン
列と、その前後に位置するドットパターン列を対象に
し、これら３列のパターンデータの相関関係から、前後
における輪かくデータを取得し次いで、輪かくデータを
得ようとするドットパターン列の左右における輪かくデ
ータを上記の前後における場合と同様に、その左右方向
の３つの資料に基にして得るものであるから、被測定物
の任意な位置での大きさや、形状をより簡便にかつ、正
確に把握することが可能になる。
列と、その前後に位置するドットパターン列を対象に
し、これら３列のパターンデータの相関関係から、前後
における輪かくデータを取得し次いで、輪かくデータを
得ようとするドットパターン列の左右における輪かくデ
ータを上記の前後における場合と同様に、その左右方向
の３つの資料に基にして得るものであるから、被測定物
の任意な位置での大きさや、形状をより簡便にかつ、正
確に把握することが可能になる。
第１図は本発明の装置を説明したブロック図、第２図は
光ラインセンサーによって得た被測定物のパターンデー
タの状態を説示した概念的説明図、第３図〜第６図は輪
かくデータを得るための処理方式について説明したもの
であって、第３図は輪かくデータを得ようとする当該パ
ターン列の前後のデータを求める方式の説明図、第４図
は当該パターン列の左右の輪かくデータを求める方式に
ついての説明図、第５図は当該列の最終の輪かくデータ
を得るための方式についての説明図、第６図は当該列の
最終輪かくについて説示したものである。 １……固体撮像素子（ＣＣＤカメラ）、 １ａ……光ラインセンサー、２……被測定物、 ４……物品載置台、５……コントローラー、 ６……コンピューター、７ａ……プロッター、 ７ｂ……プリンター、７ｃ……ディスプレイ、 ８……パルスモーター。
光ラインセンサーによって得た被測定物のパターンデー
タの状態を説示した概念的説明図、第３図〜第６図は輪
かくデータを得るための処理方式について説明したもの
であって、第３図は輪かくデータを得ようとする当該パ
ターン列の前後のデータを求める方式の説明図、第４図
は当該パターン列の左右の輪かくデータを求める方式に
ついての説明図、第５図は当該列の最終の輪かくデータ
を得るための方式についての説明図、第６図は当該列の
最終輪かくについて説示したものである。 １……固体撮像素子（ＣＣＤカメラ）、 １ａ……光ラインセンサー、２……被測定物、 ４……物品載置台、５……コントローラー、 ６……コンピューター、７ａ……プロッター、 ７ｂ……プリンター、７ｃ……ディスプレイ、 ８……パルスモーター。
Claims (1)
- 【請求項１】一列に並ぶ所定数の光トランジスタで被測
定物をとらえるとともにその形成される明暗によって異
なる出力を発する固体撮像素子の光トランジスタの並び
方向に対して直角方向へ被測定物を移動させて行なう物
品の輪かく測定方法において、輪かくデータを得ようと
するドットパターン列（Ｐｎ−１）に対してその前に位
置するドットパターン列（Ｐｎ）と、その後に位置する
ドットパターン列（Ｐｎ−２）を処理対象とし、輪かく
データを得ようとするドットパターン列（Ｐｎ−１）
と、その前に位置するドットパターン列（Ｐｎ）の明部
と暗部を逆にして得たパターン（▲▼）との間でＡ
ＮＤ処理を行なってデータ（Ｑｎ）を得、次いで、ドッ
トパターン列（Ｐｎ−１）と、その後に位置するドット
パターン列（Ｐｎ−２）の明部と暗部を逆にして得たパ
ターン（▲▼−２）との間でＡＮＤ処理を行なって
データ（Ｑｎ−２）を得、更に、ドットパターン列（Ｐ
ｎ−１）を１ビッド右へシフトしたパターン（Ｒ）と、
同一方向へ２ビット、シフトしたパターン（Ｒ２）をつ
くり、パターン（Ｒ）とドットパターン列（Ｐｎ−１）
の明部と暗部を逆にして得たパターン（▲▼−１）
との間でＡＮＤ処理を行なってデータ（Ｓ１）を得ると
ともに、パターン（Ｒ）と、このパターン（Ｒ）より更
に、右へ１ビットシフトしたパターン（Ｒ２）の明部と
暗部を逆にして得たパターン（▲▼）との間でＡＮ
Ｄ処理を行なってデータ（Ｓ２）を得、次いで、これら
のデータ（Ｑｎ），（Ｑｎ−２），（Ｓ１），（Ｓ２）
をＯＲ操作することを特徴とする物品の輪かく測定方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60095051A JPH0621768B2 (ja) | 1985-05-02 | 1985-05-02 | 物品の輪かく測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60095051A JPH0621768B2 (ja) | 1985-05-02 | 1985-05-02 | 物品の輪かく測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61253410A JPS61253410A (ja) | 1986-11-11 |
| JPH0621768B2 true JPH0621768B2 (ja) | 1994-03-23 |
Family
ID=14127255
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60095051A Expired - Lifetime JPH0621768B2 (ja) | 1985-05-02 | 1985-05-02 | 物品の輪かく測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0621768B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0770849A3 (de) * | 1995-10-23 | 1998-10-14 | Peter Lisec | Vorrichtung zum Ermitteln der Form von tafelförmigen Gegenständen |
| ATE213536T1 (de) * | 1997-11-07 | 2002-03-15 | Automation W & R Gmbh | Einrichtung zur formerfassung und verfahren zur erfassung der form eines sich bewegenden objekts |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5370856A (en) * | 1976-12-07 | 1978-06-23 | Maki Mfg Co Ltd | Shadowing concentration method and apparatus for shape of fruits or vegetables |
| JPS58160306U (ja) * | 1982-04-20 | 1983-10-25 | 株式会社東芝 | 光学式形状測定装置 |
-
1985
- 1985-05-02 JP JP60095051A patent/JPH0621768B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61253410A (ja) | 1986-11-11 |
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