JPH0789050B2 - 材料試験機 - Google Patents
材料試験機Info
- Publication number
- JPH0789050B2 JPH0789050B2 JP60170215A JP17021585A JPH0789050B2 JP H0789050 B2 JPH0789050 B2 JP H0789050B2 JP 60170215 A JP60170215 A JP 60170215A JP 17021585 A JP17021585 A JP 17021585A JP H0789050 B2 JPH0789050 B2 JP H0789050B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pulse
- test piece
- laser beam
- gauge
- testing machine
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は試験片の標点間変位を測定する装置を備えた材
料試験機に関する。
料試験機に関する。
（従来の技術） 引張試験における試験片の標点間伸びの測定は、従来、
伸び計を試験片の標点に直接取りつけて行なっていた。
伸び計を試験片の標点に直接取りつけて行なっていた。
（発明が解決しようとする問題点） しかしながら、上記試験片に直接取り付ける形式の伸び
計は、実際に試験片に取り付ける作業がめんどうであ
り、かつ取り付け状態が悪ければ伸び計と試験片の標点
との間にスリップが生じて正確な測定ができなくなると
いう問題点があるほか、試験片の破断時に伸び計が放出
されて破損するという問題点があった。
計は、実際に試験片に取り付ける作業がめんどうであ
り、かつ取り付け状態が悪ければ伸び計と試験片の標点
との間にスリップが生じて正確な測定ができなくなると
いう問題点があるほか、試験片の破断時に伸び計が放出
されて破損するという問題点があった。
（問題点を解決するための手段） 本発明は、上記問題点を解決するため、次のような構成
とした。
とした。
すなわち、本発明にかかる材料試験機は、所定の同期パ
ルスを発生するパルス発生装置と、所定の発光範囲にお
けるその一端部から他端部にかけて等間隔で整列させた
複数の点光源を備え、これら点光源は順次前記パルス発
生装置のパルスに同期して所定の間隔で試験片に向けて
平行にレーザー光線を発光する発光部と、試験片の反射
テープから反射されてくるレーザー光線を集光する集光
部と、該集光部によって集光されたレーザー光線から、
試験片の両標点によって反射されたレーザー光線がいず
れのパルスに該当するものであるかを読み取るパルス読
取り部と、該パルス読取り部の読取り結果に基づいて両
標点間のパルス数を求め、得られたパルス数と前記点光
源の間隔から試験片の標点間距離を算出して出力する出
力部とをそなえている。
ルスを発生するパルス発生装置と、所定の発光範囲にお
けるその一端部から他端部にかけて等間隔で整列させた
複数の点光源を備え、これら点光源は順次前記パルス発
生装置のパルスに同期して所定の間隔で試験片に向けて
平行にレーザー光線を発光する発光部と、試験片の反射
テープから反射されてくるレーザー光線を集光する集光
部と、該集光部によって集光されたレーザー光線から、
試験片の両標点によって反射されたレーザー光線がいず
れのパルスに該当するものであるかを読み取るパルス読
取り部と、該パルス読取り部の読取り結果に基づいて両
標点間のパルス数を求め、得られたパルス数と前記点光
源の間隔から試験片の標点間距離を算出して出力する出
力部とをそなえている。
（作用） 同期パルス発生装置からのパルスに同期して、発光部が
所定の発光範囲の一方の端部から他方の端部まで順次試
験片に向けて平行なレーザー光線を発光する。
所定の発光範囲の一方の端部から他方の端部まで順次試
験片に向けて平行なレーザー光線を発光する。
このレーザー光線は、試験片を経由して集光部に達し、
試験片の上下の標点に貼られている反射テープから反射
された光線のパルスが読み取られる。そして、両標点に
対応するパルス間に含まれるパルス数と発光間隔から標
点間距離が算出される。
試験片の上下の標点に貼られている反射テープから反射
された光線のパルスが読み取られる。そして、両標点に
対応するパルス間に含まれるパルス数と発光間隔から標
点間距離が算出される。
（実施例） 以下、図面にあらわされた実施例について説明すれば、
第１図は本発明の構成説明図であって、この標点間変位
測定装置１は、材料試験機に取り付けられた試験片２か
ら離れた位置で使用されるもので、同期パルス発生器
３、レーザードライブ部４、発光部５、集光部６、セン
サ７、パルス読取器８、出力部９をそなえてなる。
第１図は本発明の構成説明図であって、この標点間変位
測定装置１は、材料試験機に取り付けられた試験片２か
ら離れた位置で使用されるもので、同期パルス発生器
３、レーザードライブ部４、発光部５、集光部６、セン
サ７、パルス読取器８、出力部９をそなえてなる。
同期パルス発生器３は、所定の周期で高周波数（数KNZ
乃至数MHZとするのが適当）のパルスを発生する装置で
あり、このパルスをレーザードライブ部４とパルス読取
器８に供給する。発光部５は上記パルス発生器３からの
パルスに同期して、所定の発光範囲（Ｗ）内で順次レー
ザー光線を平行に発光する部分であり、その発光範囲は
試験片の標点間距離よりも広くなっている。図示例の発
光部５はｎ個の発光ランプを上下に等間隔で整列させて
設けたもので、第２図に示す如く、その一方の端部
（L1）から他方の端部（Ln）に向かって１パルスごとに
発光位置を１個ずつずらしながら発光する。
乃至数MHZとするのが適当）のパルスを発生する装置で
あり、このパルスをレーザードライブ部４とパルス読取
器８に供給する。発光部５は上記パルス発生器３からの
パルスに同期して、所定の発光範囲（Ｗ）内で順次レー
ザー光線を平行に発光する部分であり、その発光範囲は
試験片の標点間距離よりも広くなっている。図示例の発
光部５はｎ個の発光ランプを上下に等間隔で整列させて
設けたもので、第２図に示す如く、その一方の端部
（L1）から他方の端部（Ln）に向かって１パルスごとに
発光位置を１個ずつずらしながら発光する。
試験片２の上下の標点位置A,Bには反射テープ10,10′が
貼着されており、発光部５から発光されたレーザー光線
がこの反射テープ10,10′に当って反射するようになっ
ている。試験片の他の部分は反射テープが貼られていな
いのでレーザー光線を反射しない。
貼着されており、発光部５から発光されたレーザー光線
がこの反射テープ10,10′に当って反射するようになっ
ている。試験片の他の部分は反射テープが貼られていな
いのでレーザー光線を反射しない。
集光部６は試験片２の反射テープ10,10′から反射され
てくるレーザー光線を集光する集光レンズ6aをそなえ、
該集光レンズで集められた反射光がセンサ７によっめ検
出される。
てくるレーザー光線を集光する集光レンズ6aをそなえ、
該集光レンズで集められた反射光がセンサ７によっめ検
出される。
パルス読取器８は、センサ７によって検出された反射光
がいずれのパルスに該当するものかを読み取る装置であ
り、上下の標点上に貼着された反射テープ10,10′から
の反射光が、第何番目の発光ランプのものであるかがこ
こで読み取られる。
がいずれのパルスに該当するものかを読み取る装置であ
り、上下の標点上に貼着された反射テープ10,10′から
の反射光が、第何番目の発光ランプのものであるかがこ
こで読み取られる。
出力部９は、パルス読取器８によって読み取られたパル
スから、上下の反射テープ10,10′の間に含まれるパル
ス数を求め、得られたパルス数と発光間隔（隣接する平
行な２本のレーザー光線間の距離）とから標点間距離を
求めて出力する部分である。負荷開始前の標点間パルス
数をPk、所定の負荷後の標点間パルス数をPl、発光間隔
をｄとすると、標点間の変位Δｌは、 Δｌ＝（Pl-Pk）×ｄ であらわされる。
スから、上下の反射テープ10,10′の間に含まれるパル
ス数を求め、得られたパルス数と発光間隔（隣接する平
行な２本のレーザー光線間の距離）とから標点間距離を
求めて出力する部分である。負荷開始前の標点間パルス
数をPk、所定の負荷後の標点間パルス数をPl、発光間隔
をｄとすると、標点間の変位Δｌは、 Δｌ＝（Pl-Pk）×ｄ であらわされる。
なお、発光部５は、各パルス毎に等間隔で位置をずらし
て平行にレーザー光線を発光することができるものであ
ればよく、第１図に図示したもののかわりに、第３図乃
至第５図に示すような装置を採用することもできる。す
なわち、第３図に示すものは、複数の発光ランプを並設
するかわりに、１個の発光体11と回転多面体12および投
光レンズ13をそなえてなるもので、発光体11から発光さ
れたレーザー光線は、回転多面体12によって投光レンズ
13側に反射され、投光レンズ13から試験片２に向けて平
行に投光される。回転多面体12の回転によって反射面の
角度が変わるため、各パルス毎に投光位置が所定の間隔
で規則正しく移動する。
て平行にレーザー光線を発光することができるものであ
ればよく、第１図に図示したもののかわりに、第３図乃
至第５図に示すような装置を採用することもできる。す
なわち、第３図に示すものは、複数の発光ランプを並設
するかわりに、１個の発光体11と回転多面体12および投
光レンズ13をそなえてなるもので、発光体11から発光さ
れたレーザー光線は、回転多面体12によって投光レンズ
13側に反射され、投光レンズ13から試験片２に向けて平
行に投光される。回転多面体12の回転によって反射面の
角度が変わるため、各パルス毎に投光位置が所定の間隔
で規則正しく移動する。
第４図に示すものは、第３図に示す装置の回転多面体12
のかわりにガルバー14を設けたもので、ガルバー14の微
小角度の回動により投光レンズ13からの投光位置が所定
の間隔で規則正しく移動する。
のかわりにガルバー14を設けたもので、ガルバー14の微
小角度の回動により投光レンズ13からの投光位置が所定
の間隔で規則正しく移動する。
第５図に示すものは、上記回転多面体12やガルバー14の
かわりに音響格子レンズ15を設けたもので、該音響格子
レンズによる回折角の変化によって、投光レンズ13から
の投光位置を所定の間隔で規則正しく移動させるように
なっている。
かわりに音響格子レンズ15を設けたもので、該音響格子
レンズによる回折角の変化によって、投光レンズ13から
の投光位置を所定の間隔で規則正しく移動させるように
なっている。
（発明の効果） 以上の説明から明らかなように、本発明にかかる材料試
験機は、レーザー光線を用いて光学的に高精度の測定を
行なうことができるものであり、従来の伸び計のように
試験片にセンサ等を直接取り付ける必要がないので、煩
雑な取付け作業を必要とせず、試験片破損時に損傷を受
けることもなくなった。
験機は、レーザー光線を用いて光学的に高精度の測定を
行なうことができるものであり、従来の伸び計のように
試験片にセンサ等を直接取り付ける必要がないので、煩
雑な取付け作業を必要とせず、試験片破損時に損傷を受
けることもなくなった。
第１図は本発明にかかる材料試験機における標点間変位
測定装置の１例をあらわす構成説明図、第２図はパルス
をあらわすグラフ、第３図乃至第５図は異なる実施例を
あらわす発光部の構成説明図である。 １……標点間変位測定装置、２……試験片、３……パル
ス発生器、５……発光部、６……集光部、８……パルス
読取器、９……出力部
測定装置の１例をあらわす構成説明図、第２図はパルス
をあらわすグラフ、第３図乃至第５図は異なる実施例を
あらわす発光部の構成説明図である。 １……標点間変位測定装置、２……試験片、３……パル
ス発生器、５……発光部、６……集光部、８……パルス
読取器、９……出力部
Claims (1)
- 【請求項１】試験片の標点間変位を測定する装置を備え
た材料試験機において、所定の同期パルスを発生するパ
ルス発生装置と、所定の発光範囲におけるその一端部か
ら他端部にかけて等間隔で整列させた複数の点光源を備
え、これら点光源は順次前記パルス発生装置のパルスに
同期して所定の間隔で試験片に向けて平行にレーザー光
線を発光する発光部と、試験片の反射テープから反射さ
れてくるレーザー光線を集光する集光部と、該集光部に
よって集光されたレーザー光線から、試験片の両標点に
よって反射されたレーザー光線がいずれのパルスに該当
するものであるかを読み取るパルス読取り部と、該パル
ス読取り部の読取り結果に基づいて両標点間のパルス数
を求め、得られたパルス数と前記点光源の間隔から試験
片の標点間距離を算出して出力する出力部とを備えてな
る材料試験機。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60170215A JPH0789050B2 (ja) | 1985-07-31 | 1985-07-31 | 材料試験機 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60170215A JPH0789050B2 (ja) | 1985-07-31 | 1985-07-31 | 材料試験機 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6230905A JPS6230905A (ja) | 1987-02-09 |
| JPH0789050B2 true JPH0789050B2 (ja) | 1995-09-27 |
Family
ID=15900802
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60170215A Expired - Lifetime JPH0789050B2 (ja) | 1985-07-31 | 1985-07-31 | 材料試験機 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0789050B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4619865B2 (ja) * | 2005-05-31 | 2011-01-26 | 富士フイルム株式会社 | シート長計測装置、シート振分ライン、シート切断ライン、およびシート長計測方法 |
| JP2014077660A (ja) * | 2012-10-09 | 2014-05-01 | Fuji Xerox Co Ltd | 検出装置 |
| ES2573353B1 (es) * | 2016-03-28 | 2017-03-23 | Universidad De Murcia | Instrumento óptico para la medida de longitud sin contacto |
| CN107576570A (zh) * | 2017-09-27 | 2018-01-12 | 江苏法尔胜特钢制品有限公司 | 钢丝绳的拉伸试验机 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5390981A (en) * | 1977-01-20 | 1978-08-10 | Yokohama Rubber Co Ltd | Tension testing apparatus |
| JPS58218604A (ja) * | 1982-06-14 | 1983-12-19 | Mitsutoyo Mfg Co Ltd | 光電式測長方法および装置 |
| JPS59151973A (ja) * | 1983-02-17 | 1984-08-30 | 三菱電機株式会社 | スウイング測定器 |
-
1985
- 1985-07-31 JP JP60170215A patent/JPH0789050B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6230905A (ja) | 1987-02-09 |
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