JPH0622054B2 - 磁気記録媒体の製造方法 - Google Patents
磁気記録媒体の製造方法Info
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- JPH0622054B2 JPH0622054B2 JP59238082A JP23808284A JPH0622054B2 JP H0622054 B2 JPH0622054 B2 JP H0622054B2 JP 59238082 A JP59238082 A JP 59238082A JP 23808284 A JP23808284 A JP 23808284A JP H0622054 B2 JPH0622054 B2 JP H0622054B2
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- 230000005291 magnetic effect Effects 0.000 title claims description 32
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 9
- 239000010408 film Substances 0.000 claims description 54
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims description 33
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims description 28
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 24
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 24
- 230000005294 ferromagnetic effect Effects 0.000 claims description 23
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 claims description 14
- 239000002994 raw material Substances 0.000 claims description 13
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 12
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 claims description 12
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 claims description 10
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 claims description 10
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- PXGOKWXKJXAPGV-UHFFFAOYSA-N Fluorine Chemical compound FF PXGOKWXKJXAPGV-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- 239000011737 fluorine Substances 0.000 claims description 8
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 12
- 238000011282 treatment Methods 0.000 description 10
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 9
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 9
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 9
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 9
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 7
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 6
- NBVXSUQYWXRMNV-UHFFFAOYSA-N fluoromethane Chemical compound FC NBVXSUQYWXRMNV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 238000006116 polymerization reaction Methods 0.000 description 6
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 6
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 5
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 4
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 3
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 3
- 229930195733 hydrocarbon Natural products 0.000 description 3
- 150000002430 hydrocarbons Chemical class 0.000 description 3
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 3
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 3
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 3
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 3
- OFBQJSOFQDEBGM-UHFFFAOYSA-N n-pentane Natural products CCCCC OFBQJSOFQDEBGM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000003921 oil Substances 0.000 description 3
- 230000001590 oxidative effect Effects 0.000 description 3
- LVGUZGTVOIAKKC-UHFFFAOYSA-N 1,1,1,2-tetrafluoroethane Chemical compound FCC(F)(F)F LVGUZGTVOIAKKC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- KAKZBPTYRLMSJV-UHFFFAOYSA-N Butadiene Chemical compound C=CC=C KAKZBPTYRLMSJV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000004215 Carbon black (E152) Substances 0.000 description 2
- 229910020630 Co Ni Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910002440 Co–Ni Inorganic materials 0.000 description 2
- MYMOFIZGZYHOMD-UHFFFAOYSA-N Dioxygen Chemical compound O=O MYMOFIZGZYHOMD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XPDWGBQVDMORPB-UHFFFAOYSA-N Fluoroform Chemical compound FC(F)F XPDWGBQVDMORPB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- ATUOYWHBWRKTHZ-UHFFFAOYSA-N Propane Chemical compound CCC ATUOYWHBWRKTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 239000012159 carrier gas Substances 0.000 description 2
- 239000013626 chemical specie Substances 0.000 description 2
- RWRIWBAIICGTTQ-UHFFFAOYSA-N difluoromethane Chemical compound FCF RWRIWBAIICGTTQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910001882 dioxygen Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- -1 ethylene, propylene, butene Chemical class 0.000 description 2
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 2
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 2
- 230000033001 locomotion Effects 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N methane Chemical compound C VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000007935 neutral effect Effects 0.000 description 2
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 2
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 2
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 2
- 229920000139 polyethylene terephthalate Polymers 0.000 description 2
- 239000005020 polyethylene terephthalate Substances 0.000 description 2
- 238000000992 sputter etching Methods 0.000 description 2
- BFKJFAAPBSQJPD-UHFFFAOYSA-N tetrafluoroethene Chemical group FC(F)=C(F)F BFKJFAAPBSQJPD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 2
- 238000004804 winding Methods 0.000 description 2
- NPNPZTNLOVBDOC-UHFFFAOYSA-N 1,1-difluoroethane Chemical compound CC(F)F NPNPZTNLOVBDOC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910015900 BF3 Inorganic materials 0.000 description 1
- ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N Boron Chemical compound [B] ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VOPWNXZWBYDODV-UHFFFAOYSA-N Chlorodifluoromethane Chemical compound FC(F)Cl VOPWNXZWBYDODV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910020647 Co-O Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910020704 Co—O Inorganic materials 0.000 description 1
- OTMSDBZUPAUEDD-UHFFFAOYSA-N Ethane Chemical compound CC OTMSDBZUPAUEDD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910018553 Ni—O Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004341 Octafluorocyclobutane Substances 0.000 description 1
- CBENFWSGALASAD-UHFFFAOYSA-N Ozone Chemical compound [O-][O+]=O CBENFWSGALASAD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910019142 PO4 Inorganic materials 0.000 description 1
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 1
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 1
- 238000010306 acid treatment Methods 0.000 description 1
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- HSFWRNGVRCDJHI-UHFFFAOYSA-N alpha-acetylene Natural products C#C HSFWRNGVRCDJHI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000002048 anodisation reaction Methods 0.000 description 1
- 238000004774 atomic orbital Methods 0.000 description 1
- 229910052796 boron Inorganic materials 0.000 description 1
- WTEOIRVLGSZEPR-UHFFFAOYSA-N boron trifluoride Chemical compound FB(F)F WTEOIRVLGSZEPR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000001273 butane Substances 0.000 description 1
- ZCDOYSPFYFSLEW-UHFFFAOYSA-N chromate(2-) Chemical compound [O-][Cr]([O-])(=O)=O ZCDOYSPFYFSLEW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- PXBRQCKWGAHEHS-UHFFFAOYSA-N dichlorodifluoromethane Chemical compound FC(F)(Cl)Cl PXBRQCKWGAHEHS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000000921 elemental analysis Methods 0.000 description 1
- 125000002534 ethynyl group Chemical group [H]C#C* 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 150000002222 fluorine compounds Chemical class 0.000 description 1
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 1
- 239000003574 free electron Substances 0.000 description 1
- 239000001307 helium Substances 0.000 description 1
- SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N helium atom Chemical compound [He] SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 1
- 238000007733 ion plating Methods 0.000 description 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000000281 laser microprobe mass spectrometry Methods 0.000 description 1
- 229910052748 manganese Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000004776 molecular orbital Methods 0.000 description 1
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 1
- IJDNQMDRQITEOD-UHFFFAOYSA-N n-butane Chemical compound CCCC IJDNQMDRQITEOD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052758 niobium Inorganic materials 0.000 description 1
- GVGCUCJTUSOZKP-UHFFFAOYSA-N nitrogen trifluoride Chemical compound FN(F)F GVGCUCJTUSOZKP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BCCOBQSFUDVTJQ-UHFFFAOYSA-N octafluorocyclobutane Chemical compound FC1(F)C(F)(F)C(F)(F)C1(F)F BCCOBQSFUDVTJQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 235000019407 octafluorocyclobutane Nutrition 0.000 description 1
- QYSGYZVSCZSLHT-UHFFFAOYSA-N octafluoropropane Chemical compound FC(F)(F)C(F)(F)C(F)(F)F QYSGYZVSCZSLHT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000007800 oxidant agent Substances 0.000 description 1
- 229960004065 perflutren Drugs 0.000 description 1
- NBIIXXVUZAFLBC-UHFFFAOYSA-K phosphate Chemical compound [O-]P([O-])([O-])=O NBIIXXVUZAFLBC-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 1
- 239000010452 phosphate Substances 0.000 description 1
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011574 phosphorus Substances 0.000 description 1
- 229920003055 poly(ester-imide) Polymers 0.000 description 1
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 239000001294 propane Substances 0.000 description 1
- MWWATHDPGQKSAR-UHFFFAOYSA-N propyne Chemical group CC#C MWWATHDPGQKSAR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000003254 radicals Chemical class 0.000 description 1
- 230000035484 reaction time Effects 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 238000001004 secondary ion mass spectrometry Methods 0.000 description 1
- ABTOQLMXBSRXSM-UHFFFAOYSA-N silicon tetrafluoride Chemical compound F[Si](F)(F)F ABTOQLMXBSRXSM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 238000004611 spectroscopical analysis Methods 0.000 description 1
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 238000005211 surface analysis Methods 0.000 description 1
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052720 vanadium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052726 zirconium Inorganic materials 0.000 description 1
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- Lubricants (AREA)
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- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 I 発明の背景 技術分野 本発明は、磁気記録媒体の製造方法、特に連続結膜型の
磁性層を有する磁気記録媒体のトップコート膜の製造方
法の改良に関する。
磁性層を有する磁気記録媒体のトップコート膜の製造方
法の改良に関する。
先行技術とその問題点 ビデオ用、オーディオ用等の磁気記録媒体として、テー
プ化して巻回したときのコンパクト性から、連続薄膜型
の磁性層を有するものの開発が活発に行われている。
プ化して巻回したときのコンパクト性から、連続薄膜型
の磁性層を有するものの開発が活発に行われている。
このような連続薄膜型の媒体の磁性層としては、特性
上、基本法線に対し、所定の傾斜角にて蒸着を行う、い
わゆる斜め蒸着法によって形成したCo、Co−Ni、
Co−O、Co−Ni−O系等の蒸着膜が最も好適であ
る。
上、基本法線に対し、所定の傾斜角にて蒸着を行う、い
わゆる斜め蒸着法によって形成したCo、Co−Ni、
Co−O、Co−Ni−O系等の蒸着膜が最も好適であ
る。
しかし、このような磁性層は、走行摩擦が大きく、膜強
度が低く、ヘッドタッチも悪く、特に、走行耐久性が低
く、くりかえし走行によって出力が低下してしまう。
度が低く、ヘッドタッチも悪く、特に、走行耐久性が低
く、くりかえし走行によって出力が低下してしまう。
また、ビデオ用の媒体では、スチルと称される静止画像
モードでの耐久時間が小さい。
モードでの耐久時間が小さい。
さらに、いわゆるドロップアウトも多い。
このような実状から、従来、斜め蒸着膜磁性層のトップ
コート膜が種々提案されている。
コート膜が種々提案されている。
そして、トップコート膜の1例として、フッ化炭化水素
系のプラズマ重合膜が知られている(特開昭59−15
4641号等)。
系のプラズマ重合膜が知られている(特開昭59−15
4641号等)。
しかし、通常の方法で得られたフッ化炭化水素系のプラ
ズマ重合膜トップコートでは、走行摩擦が大きく、また
走行耐久性に劣り、しかも耐食性付与の点で未だ不十分
である。
ズマ重合膜トップコートでは、走行摩擦が大きく、また
走行耐久性に劣り、しかも耐食性付与の点で未だ不十分
である。
II 発明の目的 本発明の目的は、走行摩擦が小さく、走行耐久性にすぐ
れ耐食性が良好である磁気記録媒体の製造方法を提供す
ることにある。
れ耐食性が良好である磁気記録媒体の製造方法を提供す
ることにある。
III 発明の開示 このような目的は下記の本発明によって達成される。
すなわち本発明は、支持体上に強磁性金属薄膜を有し、
この強磁性金属薄膜上にプラズマ重合膜のトップコート
膜を有する磁気記録媒体を製造する際に、 炭素、水素およびフッ素を含む原料ガスをW/F・M
(ここに、Wはプラズマ投入電力、Fは原料ガス流量、
Mは原料ガス分子量)が107〜1012 joule/Kg であ
る条件でプラズマ重合し、 炭素/水素および水素/フッ素の原子比が、それぞれ2
〜8および0.3〜1.0であり、膜厚10〜40Å
で、水との接触角が100〜130゜であるプラズマ重
合膜を得ることを特徴とする磁気記録媒体の製造方法で
ある。
この強磁性金属薄膜上にプラズマ重合膜のトップコート
膜を有する磁気記録媒体を製造する際に、 炭素、水素およびフッ素を含む原料ガスをW/F・M
(ここに、Wはプラズマ投入電力、Fは原料ガス流量、
Mは原料ガス分子量)が107〜1012 joule/Kg であ
る条件でプラズマ重合し、 炭素/水素および水素/フッ素の原子比が、それぞれ2
〜8および0.3〜1.0であり、膜厚10〜40Å
で、水との接触角が100〜130゜であるプラズマ重
合膜を得ることを特徴とする磁気記録媒体の製造方法で
ある。
IV 発明の具体的構成 本発明の具体的構成について、以下に詳細に説明する。
本発明の磁気記録媒体のトップコート膜はプラズマ重合
膜である。
膜である。
そして、この膜は炭素、水素およびフッ素を含有する薄
膜である。
膜である。
これらの元素を含む薄膜は、通常操作性の良いことから
常温で気体のフッ化炭化水素、例えばフロロメタン、ジ
フロロメタン、トリフロロメタン、ジフロロエタン、テ
トラフロロエタン等の1種以上や、フッ化炭素例えばテ
トラフロロメタン、オクタフロロプロパン、オクタフロ
ロシクロブタン、テトラフロロエチレン、ヘキサフロロ
エチレン等と炭化水素、例えばメタン、エタン、プロパ
ン、ブタン、ペンタン、エチレン、プロピレン、ブテ
ン、ブタジエン、アセチレン、メチルアセチレン等のそ
れぞれ1種以上や、さらにはこれらの混合体を原料ガス
として用い、プラズマ重合によって形成される。
常温で気体のフッ化炭化水素、例えばフロロメタン、ジ
フロロメタン、トリフロロメタン、ジフロロエタン、テ
トラフロロエタン等の1種以上や、フッ化炭素例えばテ
トラフロロメタン、オクタフロロプロパン、オクタフロ
ロシクロブタン、テトラフロロエチレン、ヘキサフロロ
エチレン等と炭化水素、例えばメタン、エタン、プロパ
ン、ブタン、ペンタン、エチレン、プロピレン、ブテ
ン、ブタジエン、アセチレン、メチルアセチレン等のそ
れぞれ1種以上や、さらにはこれらの混合体を原料ガス
として用い、プラズマ重合によって形成される。
また、その他のフッ化物たとえばフッ化ホウ素、フッ化
窒素、フッ化ケイ素等も原料ガスの1成分として上記ガ
スと混合して用いることもできる。
窒素、フッ化ケイ素等も原料ガスの1成分として上記ガ
スと混合して用いることもできる。
またさらに、必要に応じて常温で液体または固体のフロ
ン12、フロン13B1、フロン22等を原料として用
いてもよい。
ン12、フロン13B1、フロン22等を原料として用
いてもよい。
また、必要に応じて、原料に窒素、酸素、ホウ素、リン
等の微量成分を添加することによりプラズマ重合膜の性
質をさらに改善し磁気記録媒体の耐摩耗性、耐食性をあ
げることもできる またトップコート膜に含有される炭素/水素の原子比は
2〜8であり、より好ましくは3〜5である。この原子
比が2未満であると、耐食性が十分でなく、実用に耐え
ない。
等の微量成分を添加することによりプラズマ重合膜の性
質をさらに改善し磁気記録媒体の耐摩耗性、耐食性をあ
げることもできる またトップコート膜に含有される炭素/水素の原子比は
2〜8であり、より好ましくは3〜5である。この原子
比が2未満であると、耐食性が十分でなく、実用に耐え
ない。
また、この原子比が8をこえると、耐久走行後の出力低
下が大きくなり、実用に耐えない。
下が大きくなり、実用に耐えない。
また、水素/フッ素の原子比は0.3〜1.0であり、
より好ましくは0.5〜0.9である。
より好ましくは0.5〜0.9である。
この原子比が0.3未満であると、耐久走行後の出力低
下が大きくなり実用に耐えない。
下が大きくなり実用に耐えない。
また、1.0をこえると初期摩擦が大きすぎて実用上問
題となる。
題となる。
これら炭素/水素、水素/フッ素の原子比は、SIMS
(2次イオン質量分析)に従い測定することができる。
SIMSを用いる場合、トップコート膜表面にて、H、
CおよびFをカウントして算出すればよい。あるいはA
r等でイオンエッチングを行いながらH、CおよびFの
プロファイルを測定して算出してもよい。
(2次イオン質量分析)に従い測定することができる。
SIMSを用いる場合、トップコート膜表面にて、H、
CおよびFをカウントして算出すればよい。あるいはA
r等でイオンエッチングを行いながらH、CおよびFの
プロファイルを測定して算出してもよい。
SIMSの測定しついては、表面科学基礎講座(198
4)第3巻表面分析の基礎と応用P70“SIMSおよ
びLAMMA”の記載に従えばよい。
4)第3巻表面分析の基礎と応用P70“SIMSおよ
びLAMMA”の記載に従えばよい。
そしてプラズマ重合膜の膜厚は10〜40Åであり、よ
り好ましくは15〜30Åである。
り好ましくは15〜30Åである。
連続薄膜型の、磁気記録媒体では、プラズマ重合膜が4
0Åをこえるとスペーシングロス(厚み分による磁気の
損失)が大きくなりすぎて磁束密度が低下する。そして
目づまりが増加し耐久走行後の出力低下が大きくなる等
の問題点が多発する。
0Åをこえるとスペーシングロス(厚み分による磁気の
損失)が大きくなりすぎて磁束密度が低下する。そして
目づまりが増加し耐久走行後の出力低下が大きくなる等
の問題点が多発する。
10Åより薄いと、本発明の耐食性や耐久性がえられな
い。
い。
このような膜厚の制御はプラズマ重合膜形成の場合、以
下で述べるように反応時間、媒体移行速度、原料ガス流
量を制御することによって行われ、スペーシングロスが
少なく、耐食性、耐久性が良好なフィルム破断強度の高
い媒体が実現する。
下で述べるように反応時間、媒体移行速度、原料ガス流
量を制御することによって行われ、スペーシングロスが
少なく、耐食性、耐久性が良好なフィルム破断強度の高
い媒体が実現する。
そして、このトップコート膜との水との接触角は100
〜130゜であり、より好ましくは110〜120゜で
ある。この接触角が100゜未満であると、初期摩擦が
大きく実用上問題となる。
〜130゜であり、より好ましくは110〜120゜で
ある。この接触角が100゜未満であると、初期摩擦が
大きく実用上問題となる。
また、この接触角が130゜をこえるプラズマ重合膜を
つくるのは困難であり、また、実用上その必要がないか
らである。
つくるのは困難であり、また、実用上その必要がないか
らである。
本発明のプラズマ重合膜の形成は、W/F・M〔ここ
に、Wはプラズマ投入電力(joule/sec )、Fは原料ガ
ス流量(Kg/sec)、Mは原料ガス分子量〕値が107〜
1012joule/Kgの条件範囲内で行われる。より好ましく
はW/F・M値が108〜1011joule/Kgである。W/
F・M値が107未満であると表面が緻密なプラズマ重
合膜が出来ない。そのため耐食性に劣り実用に耐えな
い。また1012をこえると下地に対するダメージが大き
くなるため実用に耐えない。
に、Wはプラズマ投入電力(joule/sec )、Fは原料ガ
ス流量(Kg/sec)、Mは原料ガス分子量〕値が107〜
1012joule/Kgの条件範囲内で行われる。より好ましく
はW/F・M値が108〜1011joule/Kgである。W/
F・M値が107未満であると表面が緻密なプラズマ重
合膜が出来ない。そのため耐食性に劣り実用に耐えな
い。また1012をこえると下地に対するダメージが大き
くなるため実用に耐えない。
なお、原料ガスを2種以上用いるとき、FおよびMはそ
の総和で算入される。
の総和で算入される。
プラズマ重合膜は、原料ガスとして前述のフッ化炭化水
素、炭化水素、フッ化炭素等を用い、このガスの放電プ
ラズマを磁性層に接触させることにより重合膜を形成す
るものである。
素、炭化水素、フッ化炭素等を用い、このガスの放電プ
ラズマを磁性層に接触させることにより重合膜を形成す
るものである。
プラズマ重合の原理について概説すると、気体を低圧に
保ち電場を作用させると、気体中に少量存在する自由電
子は、常圧に比べ分子距離が非常に大きいため、電界加
速を受け5〜10eVの運動エネルギー(電子温度)を獲
得する。
保ち電場を作用させると、気体中に少量存在する自由電
子は、常圧に比べ分子距離が非常に大きいため、電界加
速を受け5〜10eVの運動エネルギー(電子温度)を獲
得する。
この加速電子が原子や分子に衝突すると、原子軌道や分
子軌道を分断し、これらを電子、イオン、中性ラジカル
など、通常の状態では不安定の化学種の解離させる。
子軌道を分断し、これらを電子、イオン、中性ラジカル
など、通常の状態では不安定の化学種の解離させる。
解離した電子は再び電界加速を受けて、別の原子や分子
を解離させるが、この連鎖作用で気体はたちまち高度の
電難状態となる。そしてこれはプラズマガスと呼ばれて
いる。
を解離させるが、この連鎖作用で気体はたちまち高度の
電難状態となる。そしてこれはプラズマガスと呼ばれて
いる。
気体分子は電子との衝突の機会が少ないのでエネルギー
をあまり吸収せず、常温に近い温度に保たれている。
をあまり吸収せず、常温に近い温度に保たれている。
このように、電子の運動エネルギー(電子温度)と、分
子の熱運動(ガス温度)が分離した系は低温プラズマと
呼ばれ、ここでは化学種が比較的原型を保ったまま重合
等の加成的反応を進めうる状況を創出しており、本発明
はこの状況を利用してベースフィルム上にプラズマ重合
膜を形成しようとするものである。なお、低温プラズマ
を利用するため、ベースフィルムや磁性層の熱影響は全
くない。
子の熱運動(ガス温度)が分離した系は低温プラズマと
呼ばれ、ここでは化学種が比較的原型を保ったまま重合
等の加成的反応を進めうる状況を創出しており、本発明
はこの状況を利用してベースフィルム上にプラズマ重合
膜を形成しようとするものである。なお、低温プラズマ
を利用するため、ベースフィルムや磁性層の熱影響は全
くない。
プラズマにより、ベースフィルム表面にプラズマ重合膜
を形成する装置例が第1図に示してある。第1図は、周
波数可変型の電源を用いたプラズマ重合装置である。
を形成する装置例が第1図に示してある。第1図は、周
波数可変型の電源を用いたプラズマ重合装置である。
第1図において、反応容器Rには、原料ガス源511ま
たは512から原料ガスがそれぞれマスフローコントロ
ーラ521および522を経て供給される。ガス源51
1または512から別々のガスを供給する場合は、混合
器53において混合して供給する。
たは512から原料ガスがそれぞれマスフローコントロ
ーラ521および522を経て供給される。ガス源51
1または512から別々のガスを供給する場合は、混合
器53において混合して供給する。
原料ガスは、各々1〜250m/分の流量範囲をとり
うる。
うる。
反応容器R内には、被処理ベースフィルム支持装置が設
置され、ここでは磁気テープ用のフィルムの処理を目的
として、繰出しロール561と巻取りロール562とが
示してある。
置され、ここでは磁気テープ用のフィルムの処理を目的
として、繰出しロール561と巻取りロール562とが
示してある。
被処理磁気記録媒体用ベースフィルムの形態に応じて様
々の支持装置が使用でき、例えば載置式の回転支持装置
が使用されうる。
々の支持装置が使用でき、例えば載置式の回転支持装置
が使用されうる。
被処理ベースフィルムを間に挟んで対向する電極55
1、552が設けられており、一方の電極551は周波
数可変型の電源54に接続され、他方の電極552は接
地されている。
1、552が設けられており、一方の電極551は周波
数可変型の電源54に接続され、他方の電極552は接
地されている。
さらに、反応容器R内には、容器内を排気するための真
空系統が配備され、そしてこれは液体窒素トラップ5
7、油回転ポンプ58および真空コントローラ59を含
む。これら真空系統は反応容器内を0.01〜10Torr
の真空度の範囲に維持する。
空系統が配備され、そしてこれは液体窒素トラップ5
7、油回転ポンプ58および真空コントローラ59を含
む。これら真空系統は反応容器内を0.01〜10Torr
の真空度の範囲に維持する。
操作においては、反応容器R内がまず10-3Torr以下に
なるまで油回転ポンプにより容器内を排気し、その後原
料ガスが所定の流量において容器内に混合状態で供給さ
れる。
なるまで油回転ポンプにより容器内を排気し、その後原
料ガスが所定の流量において容器内に混合状態で供給さ
れる。
このとき、反応容器内の真空は0.01〜10Torrの範
囲に管理される。
囲に管理される。
フィルムの移行速度ならびに原料ガスの流量が安定する
と、周波数可変型電源がオンされる。こうして、移行中
のベースフィルムにプラズマ重合膜が形成される。
と、周波数可変型電源がオンされる。こうして、移行中
のベースフィルムにプラズマ重合膜が形成される。
なお、キャリアガスとしてAr、N2、He、H2など
を使用できる。
を使用できる。
なお、印加電流、処理時間等は通常の条件とすればよ
い。
い。
プラズマ発生源としては、上述した高周波放電の他に、
マイクロ波放電、直流放電、交流放電等いずれでも利用
できる。
マイクロ波放電、直流放電、交流放電等いずれでも利用
できる。
また、プラズマ重合膜のトップコート層は、強磁性金属
薄膜上に設層される。
薄膜上に設層される。
この下地層としての強磁性金属薄膜層はCoを主成分と
し、これにOを含み、さらに必要に応じNiおよび/ま
たはCrが含有される組成を有する。
し、これにOを含み、さらに必要に応じNiおよび/ま
たはCrが含有される組成を有する。
すなわち、好ましい態様においては、Co単独からなっ
てもよく、CoとNiからなってもよい。 Niが含ま
れる場合、Co/Niの重合比は、1.5以上であるこ
とが好ましい。
てもよく、CoとNiからなってもよい。 Niが含ま
れる場合、Co/Niの重合比は、1.5以上であるこ
とが好ましい。
さらに、強磁性金属薄膜層中には、Crが含有されてい
てもよい。
てもよい。
Crが含有されると、電磁変換特性が向上し、出力およ
びS/N比が向上し、さらに膜強度も向上する。
びS/N比が向上し、さらに膜強度も向上する。
このような場合、Cr/CoあるいはCr/(Co+N
i)の重合比は0.1以下、特に0.001〜0.1、
より好ましくは、0.005〜0.05であることが好
ましい。
i)の重合比は0.1以下、特に0.001〜0.1、
より好ましくは、0.005〜0.05であることが好
ましい。
さらに、強磁性金属薄膜中にはOが含有されるものであ
る。
る。
強磁性金属薄膜中の平均酸素量は、原子比、特にO/
(CoまたはCo+Ni)の原子比で、0.5以下、よ
り好ましくは0.05〜0.5であることが好ましい。
(CoまたはCo+Ni)の原子比で、0.5以下、よ
り好ましくは0.05〜0.5であることが好ましい。
この場合、強磁性金属薄膜層の表面では、酸素が強磁性
金属(Co、Ni)と酸化物を形成している。
金属(Co、Ni)と酸化物を形成している。
すなわち、表面部、特に表面から50Å〜500Å、よ
り好ましくは50〜200Åの厚さの範囲には、オージ
ェ分光分析により、酸化物を示すピークが認められるも
のである。
り好ましくは50〜200Åの厚さの範囲には、オージ
ェ分光分析により、酸化物を示すピークが認められるも
のである。
そして、この酸化物層の酸素含有量は、原子比で0.5
〜1.0程度である。
〜1.0程度である。
なお、このような強磁性金属薄膜中には、さらに他の微
量成分、特に遷移元素、例えばFe、Mn、V、Zr、
Nb、Ta、Ti、Zn、Mo、W、Cu等が含まれて
いてもよい。
量成分、特に遷移元素、例えばFe、Mn、V、Zr、
Nb、Ta、Ti、Zn、Mo、W、Cu等が含まれて
いてもよい。
このような強磁性金属薄膜層は、好ましい態様におい
て、上記したCoを主成分とする柱状結晶粒の集合体か
らなる。
て、上記したCoを主成分とする柱状結晶粒の集合体か
らなる。
この場合、強磁性金属薄膜層の厚さは、0.05〜0.
5μm、好ましくは、0.07〜0.3μmとされる。
5μm、好ましくは、0.07〜0.3μmとされる。
そして、柱状の結晶粒は、膜厚の方向のほぼ全域に亘る
長さをもち、その長手方向は、基本の主面の法線に対し
て、10〜70゜の範囲にて傾斜していることが好まし
い。
長さをもち、その長手方向は、基本の主面の法線に対し
て、10〜70゜の範囲にて傾斜していることが好まし
い。
なお、酸素は、表面部の柱状の結晶粒の表面に前記のと
おり化合物の形で存在するものである。
おり化合物の形で存在するものである。
また、強磁性金属薄膜層の酸素の濃度勾配の何如には特
に制限はない。
に制限はない。
また、結晶粒の短径は、50〜500Å程度の長さをも
つことが好ましい。
つことが好ましい。
このような強磁性金属薄膜層を形成する基板は、非磁性
のものでありさえすれば特に制限はないが、特に可とう
性の基板、特にポリエステル、ポリイミド等の樹脂製の
ものであることが好ましい。
のものでありさえすれば特に制限はないが、特に可とう
性の基板、特にポリエステル、ポリイミド等の樹脂製の
ものであることが好ましい。
また、その厚さは、種々のものであってよいが、特に5
〜20μmであることが好ましい。
〜20μmであることが好ましい。
この場合、基板の強磁性金属薄膜層形成面の裏面には、
公知の種々のバックコート層が形成されていてもよい。
公知の種々のバックコート層が形成されていてもよい。
なお、基板と強磁性金属薄膜層との間には、必要に応
じ、公知の各種下地層を介在させることもできる。
じ、公知の各種下地層を介在させることもできる。
また、もし、必要であるならば、強磁性金属薄膜層を複
数に分割して、その間に非強磁性金属薄膜層を介在させ
てもよい。
数に分割して、その間に非強磁性金属薄膜層を介在させ
てもよい。
磁性層の形成は電解蒸着、イオンプレーティング等を用
いることもできるが、いわゆる斜め蒸着法によって形成
されることが好ましい。
いることもできるが、いわゆる斜め蒸着法によって形成
されることが好ましい。
この場合、基本法線に対する、蒸着物質の入射角の最小
値は、20゜以上とすることが好ましい。
値は、20゜以上とすることが好ましい。
入射角が20゜未満となると、電磁変換特性が低下す
る。
る。
なお、蒸着雰囲気は、通常、アルゴン、ヘリウム、真空
等の不活性雰囲気に、酸素ガスを含む雰囲気とし、10
-5×100Pa程度の圧力とし、また、蒸着距離、基本
搬送方向、キャンやマスクの構造、配置等は公知の条件
と同様にすればよい。
等の不活性雰囲気に、酸素ガスを含む雰囲気とし、10
-5×100Pa程度の圧力とし、また、蒸着距離、基本
搬送方向、キャンやマスクの構造、配置等は公知の条件
と同様にすればよい。
そして、酸素雰囲気での蒸着により、表面に金属酸化物
の被膜が形成される。なお、金属酸化物が形成される酸
素ガス分圧は、実験から容易に求めることができる。
の被膜が形成される。なお、金属酸化物が形成される酸
素ガス分圧は、実験から容易に求めることができる。
なお、表面に金属酸化物の被膜を形成するには、各種酸
化処理が可能である。
化処理が可能である。
適用できる酸化処理としては下記のようなものがある。
1)乾式処理 a.エネルギー粒子処理 特願昭58−76640号に記載したように、蒸着の後
期に、イオンガンや中性ガンにより酸素をエネルギー粒
子として磁性層にさしむけるもの。
期に、イオンガンや中性ガンにより酸素をエネルギー粒
子として磁性層にさしむけるもの。
b.グロー処理 O2、H2O、O2+H2O等とAr、N2等の不活性
ガスを用い、これをグロー放電してプラズマを生じさ
せ、このプラズマ中に磁性膜表面をさらすもの。
ガスを用い、これをグロー放電してプラズマを生じさ
せ、このプラズマ中に磁性膜表面をさらすもの。
c.酸化性ガス オゾン、加熱水蒸気等の酸化性ガスを吹きつけるもの。
d.加熱処理 加熱によって酸化を行うもの。加熱温度は60〜150
℃程度。
℃程度。
2)湿式処理 a.陽極酸化 b.アルカリ処理 c.酸処理 クロム酸塩処理、過マンガン酸塩処理、リン酸塩処理等
を用いる。
を用いる。
d.酸化剤処理 H2O2等を用いる。
V 発明の具体的効果 本発明によれば、支持体上に設層された強磁性金属薄膜
層上に、炭素、水素およびフッ素を含有するプラズマ重
合膜を有する磁気記録媒体は、走行摩擦が小さく、また
走行耐久性に優れ、しかも耐食性にも優れるなどの効果
がある。
層上に、炭素、水素およびフッ素を含有するプラズマ重
合膜を有する磁気記録媒体は、走行摩擦が小さく、また
走行耐久性に優れ、しかも耐食性にも優れるなどの効果
がある。
VI 発明の具体的実施例 以下、本発明の具体的実施例を示し、本発明をさらに詳
細に説明する。
細に説明する。
実施例1 10μmのポルエチレンテレフタレート(PET)製の
基板を、真空槽中に設けた冷却用ロールに沿わせて走行
させながら、Co−Ni合金をEBガンで加熱しO2を
導入しつつ蒸着した。
基板を、真空槽中に設けた冷却用ロールに沿わせて走行
させながら、Co−Ni合金をEBガンで加熱しO2を
導入しつつ蒸着した。
この場合バックグラウンドの圧力は、5×10-5Torr、
O2導入後の圧力は2×10-4Torrとした。
O2導入後の圧力は2×10-4Torrとした。
また、蒸着の入射角は、90゜から30゜まで連続的に
減少させた。
減少させた。
組成は、Co80−Ni20(重量比)であり、膜厚は
約1500Åとした。
約1500Åとした。
その後、これを真空チャンバ中に入れて、10-3Torr真
空を引いた。そして、この中に、ガス状のテトラフルオ
ロエチレンを炭化水素としてCH4をキャリヤーガスと
してH2を導入した。その後、ガス圧0.1Torrに保ち
ながら、1KW、13.56 MHzの高周波電圧をかけてプ
ラズマを発生させ、プラズマ重合膜を磁性層上に形成し
た。
空を引いた。そして、この中に、ガス状のテトラフルオ
ロエチレンを炭化水素としてCH4をキャリヤーガスと
してH2を導入した。その後、ガス圧0.1Torrに保ち
ながら、1KW、13.56 MHzの高周波電圧をかけてプ
ラズマを発生させ、プラズマ重合膜を磁性層上に形成し
た。
なお、ここで形成したプラズマ重合膜の膜厚は、40Å
であった。
であった。
また、W/F・M値は6×109でありこの膜をSIM
Sで測定した結果、C/H比は3.1、H/Fは0.7
であった(サンプルNO.4)。
Sで測定した結果、C/H比は3.1、H/Fは0.7
であった(サンプルNO.4)。
これに準じ、磁性層上に、下記表1に示されるトップコ
ート層を形成した。なお、これらトップコート層の元素
分析は、アルゴンでトップコート層をイオンエッチング
しながらSIMSで測定した。
ート層を形成した。なお、これらトップコート層の元素
分析は、アルゴンでトップコート層をイオンエッチング
しながらSIMSで測定した。
これら各サンプルについて特性を測定した。なお、特性
の測定は以下のとおりである。
の測定は以下のとおりである。
(1) 走行摩擦 20℃、相対湿度60%にて測定。
(2) 耐食性 初期および60℃、相対湿度80%にて3日間保存後の
Δφm/φm(%)を測定した。
Δφm/φm(%)を測定した。
(3) 走行耐久性 100パス後の出力低下を測定した。
これらの結果から、本発明の効果があきらかである。
第1図は直流、交流および周波数可変型電源を使用した
プラズマ処理装置の概略図である。 符号の説明 53……混合器、 54……直流、交流および周波数可変型電源、 57……液体窒素トラップ、 58……油回転ポンプ、 511,512……処理ガス源、 521,522……マスフローコントローラ、 561,562……繰出しおよび巻取りロール
プラズマ処理装置の概略図である。 符号の説明 53……混合器、 54……直流、交流および周波数可変型電源、 57……液体窒素トラップ、 58……油回転ポンプ、 511,512……処理ガス源、 521,522……マスフローコントローラ、 561,562……繰出しおよび巻取りロール
Claims (3)
- 【請求項1】支持体上に強磁性金属薄膜を有し、この強
磁性金属薄膜上にプラズマ重合膜のトップコート膜を有
する磁気記録媒体を製造する際に、 炭素、水素およびフッ素を含む原料ガスをW/F・M
(ここに、Wはプラズマ投入電力、Fは原料ガス流量、
Mは原料ガス分子量)が107〜1012 joule/Kg であ
る条件でプラズマ重合し、 炭素/水素および水素/フッ素の原子比が、それぞれ2
〜8および0.3〜1.0であり、膜厚10〜40Å
で、水との接触角が100〜130゜であるプラズマ重
合膜を得ることを特徴とする磁気記録媒体の製造方法。 - 【請求項2】強磁性金属薄膜がCoを主体とする金属薄
膜である特許請求の範囲第1項に記載の磁気記録媒体の
製造方法。 - 【請求項3】強磁性金属薄膜が0を含む特許請求の範囲
第2項に記載の磁気記録媒体の製造方法。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59238082A JPH0622054B2 (ja) | 1984-11-12 | 1984-11-12 | 磁気記録媒体の製造方法 |
| GB8527246A GB2166668B (en) | 1984-11-09 | 1985-11-05 | Magnetic recording medium |
| US06/795,433 US4844978A (en) | 1984-11-09 | 1985-11-06 | Magnetic recording medium |
| DE19853539724 DE3539724A1 (de) | 1984-11-09 | 1985-11-08 | Magnetaufzeichnungsmedium |
| US07/041,340 US4749608A (en) | 1984-11-09 | 1987-04-22 | Magnetic recording medium |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59238082A JPH0622054B2 (ja) | 1984-11-12 | 1984-11-12 | 磁気記録媒体の製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61117733A JPS61117733A (ja) | 1986-06-05 |
| JPH0622054B2 true JPH0622054B2 (ja) | 1994-03-23 |
Family
ID=17024888
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59238082A Expired - Lifetime JPH0622054B2 (ja) | 1984-11-09 | 1984-11-12 | 磁気記録媒体の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0622054B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010020832A (ja) * | 2008-07-10 | 2010-01-28 | Panasonic Corp | 磁気記録媒体 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57123526A (en) * | 1981-01-23 | 1982-08-02 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Metallic thin-film type magnetic recording tape |
| JPS59154641A (ja) * | 1983-02-23 | 1984-09-03 | Fuji Photo Film Co Ltd | 磁気記録媒体 |
-
1984
- 1984-11-12 JP JP59238082A patent/JPH0622054B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61117733A (ja) | 1986-06-05 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
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| EXPY | Cancellation because of completion of term |