JPH0622760B2 - 溶滴移行時期検出方法 - Google Patents
溶滴移行時期検出方法Info
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- JPH0622760B2 JPH0622760B2 JP60293974A JP29397485A JPH0622760B2 JP H0622760 B2 JPH0622760 B2 JP H0622760B2 JP 60293974 A JP60293974 A JP 60293974A JP 29397485 A JP29397485 A JP 29397485A JP H0622760 B2 JPH0622760 B2 JP H0622760B2
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- welding
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- 238000003466 welding Methods 0.000 claims description 35
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- 229910052724 xenon Inorganic materials 0.000 description 5
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Landscapes
- Arc Welding Control (AREA)
- Arc Welding In General (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、リアルタイムで溶接移行時期を検出できる
溶滴移行時期検出方法に関する。
溶滴移行時期検出方法に関する。
第９図に溶滴移行を検出または観察する代表的な方法で
ある従来の光学式方法を示す。この第９図において、溶
接電源１の正電圧を給電チップ５に印加し、負電圧を被
溶接物７に印加して、消耗電極（以下、ワイヤという）
２と被溶接物７間にアーク６を発生し、被溶接物７の溶
接を行うようにしている。
ある従来の光学式方法を示す。この第９図において、溶
接電源１の正電圧を給電チップ５に印加し、負電圧を被
溶接物７に印加して、消耗電極（以下、ワイヤという）
２と被溶接物７間にアーク６を発生し、被溶接物７の溶
接を行うようにしている。
ワイヤ２はローラ４により送り坐されるようにしてお
り、ローラ４は電動機３と機械的に結合して、電動機３
により駆動されるようになっている。
り、ローラ４は電動機３と機械的に結合して、電動機３
により駆動されるようになっている。
一方、電源１０により、クセノンランプ１１を点灯する
ようになっている。クセノンランプ１１で発光した光線
はアーク６を通してカメラ１３で検出するようにしてい
る。クセノンランプ１１の光は反射鏡１２により、アー
ク６の方向へ進行させるようになっている。そして、そ
の光の光軸がクセノンランプ１１とアーク６とを結ぶ線
上にあり、焦点はアーク６の近傍のカメラ１３の位置と
なっている。なお、８はシールドガス９を導くシールド
ノズルである。
ようになっている。クセノンランプ１１で発光した光線
はアーク６を通してカメラ１３で検出するようにしてい
る。クセノンランプ１１の光は反射鏡１２により、アー
ク６の方向へ進行させるようになっている。そして、そ
の光の光軸がクセノンランプ１１とアーク６とを結ぶ線
上にあり、焦点はアーク６の近傍のカメラ１３の位置と
なっている。なお、８はシールドガス９を導くシールド
ノズルである。
次に動作について説明する。ワイヤ２から被溶接物７へ
向って離脱する図示していない溶滴はアーク６の強力な
光にさまたげられて、通常は見ることができない。
向って離脱する図示していない溶滴はアーク６の強力な
光にさまたげられて、通常は見ることができない。
そこで、アーク６に対してカメラ１３と反対の方向から
アーク光よりも強いクセノンランプ１１から発光した光
を当てると、図示していない溶滴が影絵となって撮影さ
れる。
アーク光よりも強いクセノンランプ１１から発光した光
を当てると、図示していない溶滴が影絵となって撮影さ
れる。
従来技術では、溶滴移行がフィルム上に撮影されるの
で、観察するには現象および定着処理を必要とするた
め、リアルタイムで溶滴移行を観察することができな
い。
で、観察するには現象および定着処理を必要とするた
め、リアルタイムで溶滴移行を観察することができな
い。
また、溶滴移行を検出し、その移行のタイミングを制御
しようとするとき、リアルタイムで溶滴移行時期が検出
できないので、従来技術では溶滴移行の制御ができな
い。
しようとするとき、リアルタイムで溶滴移行時期が検出
できないので、従来技術では溶滴移行の制御ができな
い。
さらに、パルス溶接ではパルス周期に同期して溶滴移行
が生じることが溶接現象の安定に不可決であるので、パ
ルス波形と溶滴移行時期の関係を検出し、それらが同期
するように制御する。
が生じることが溶接現象の安定に不可決であるので、パ
ルス波形と溶滴移行時期の関係を検出し、それらが同期
するように制御する。
この発明は、上記従来の欠点を除去するためになされた
もので、リアルタイムで溶滴移行時期を検出でき、溶滴
移行時期の制御および溶滴移行のモニタとして利用でき
る溶滴移行時期検出方法を提供することを目的とする。
もので、リアルタイムで溶滴移行時期を検出でき、溶滴
移行時期の制御および溶滴移行のモニタとして利用でき
る溶滴移行時期検出方法を提供することを目的とする。
この発明の溶滴移行時期検出方法は、溶接電流と溶接電
圧を検出して波形処理を行った後論理回路に入力するこ
とによりワイヤから溶滴が移行する時期を検出する工程
を導入したものである。
圧を検出して波形処理を行った後論理回路に入力するこ
とによりワイヤから溶滴が移行する時期を検出する工程
を導入したものである。
この発明は、上記工程により、溶滴電流と溶接電圧をそ
れぞれ検出して所定の波形整形を行った後、論理回路に
入力して論理演算処理を行ってリアルタイムで溶滴がワ
イヤから離脱する時期を検出する。
れぞれ検出して所定の波形整形を行った後、論理回路に
入力して論理演算処理を行ってリアルタイムで溶滴がワ
イヤから離脱する時期を検出する。
以下、この発明の溶滴移行時期検出方法の実施例につい
て図面に基づき説明する。第１図はその一実施例に適用
される溶滴移行時期検出装置の構成を示す図である。
て図面に基づき説明する。第１図はその一実施例に適用
される溶滴移行時期検出装置の構成を示す図である。
この第１図において、第９図と同一部分は重複説明を避
けるために、第９図の同一部分には同一符号を付してそ
の説明を省略し、第９図とは異なる部分を主体に述べ
る。
けるために、第９図の同一部分には同一符号を付してそ
の説明を省略し、第９図とは異なる部分を主体に述べ
る。
この第１図を第９図と比較しても明らかなように、符号
１〜９で示す部分は第９図と同様であり、この第１図で
は符号１４以降で示す部分が第９図とは異なり、第１図
によって新たに付加された部分である。
１〜９で示す部分は第９図と同様であり、この第１図で
は符号１４以降で示す部分が第９図とは異なり、第１図
によって新たに付加された部分である。
すなわち、１４は溶接電流を検出する分流器である。こ
の分流器１４は溶接電源１と被溶接物７との間に挿入さ
れ、検出出力は増幅器１６を介して部分回路１８に送出
するようにしている。部分回路１８は溶接電流１を時間
(t)に関して微分する（di／dt）もので、その出力は波
形整形回路２０に送出するようになっている。
の分流器１４は溶接電源１と被溶接物７との間に挿入さ
れ、検出出力は増幅器１６を介して部分回路１８に送出
するようにしている。部分回路１８は溶接電流１を時間
(t)に関して微分する（di／dt）もので、その出力は波
形整形回路２０に送出するようになっている。
一方、溶接電源１が発生する溶接電圧は増幅器１５に入
力するようにしている。この増幅器１５は溶接電圧ｖを
適当な大きさに増幅し、その出力を部分回路１７に送出
するようにしている。
力するようにしている。この増幅器１５は溶接電圧ｖを
適当な大きさに増幅し、その出力を部分回路１７に送出
するようにしている。
部分回路１７は溶接電圧ｖを時間ｔに関して部分（dv／
dt）するもので、その微分出力は波形整形回路１９に送
出するようになっている。
dt）するもので、その微分出力は波形整形回路１９に送
出するようになっている。
両波形整形回路１９，２０は微分回路１７，１８の出力
を整形するもので、微分回路１７，１８の出力のうち＋
（プラス）信号のみ取り出し、適当なパルス幅にするも
のである。
を整形するもので、微分回路１７，１８の出力のうち＋
（プラス）信号のみ取り出し、適当なパルス幅にするも
のである。
波形整形回路１９，２０からの二つの入力信号をNOR回
路２１に入力し、NOR回路２１はこの二つの入力信号の
排他的論理和（NOR）を演ずるようにしている。このNOR
回路２１の出力端は出力端子２２に接続されている。
路２１に入力し、NOR回路２１はこの二つの入力信号の
排他的論理和（NOR）を演ずるようにしている。このNOR
回路２１の出力端は出力端子２２に接続されている。
次に、第１図によりこの発明の溶滴移行時期検出方法に
ついて説明する。溶接電源１はパルス電流を流せる電源
とし、その特性を定電流とすると、分流器１４で検出さ
れる溶接電流ｉは第２図のようになる。
ついて説明する。溶接電源１はパルス電流を流せる電源
とし、その特性を定電流とすると、分流器１４で検出さ
れる溶接電流ｉは第２図のようになる。
また、ワイヤ２の先端から溶滴がアーク６中へ離脱する
とき溶接電圧ｖに第３図に示すような変化（２３で示
す）が生じる。
とき溶接電圧ｖに第３図に示すような変化（２３で示
す）が生じる。
溶接電流ｉを増幅器１６で増幅した後、微分回路１８で
微分すると第４図に示すように電流の立上り時に正パル
スが、また電流の立下り時に負パルスが発生する。
微分すると第４図に示すように電流の立上り時に正パル
スが、また電流の立下り時に負パルスが発生する。
同様にして、溶接電圧ｖを増幅器１５で増幅した後、微
分回路１７で微分すると第５図に示すように電圧の立上
り時および立下り時に正負のパルスが発生するとともに
溶滴の移行時期２３に対応するところに正負のパルスが
生じる。
分回路１７で微分すると第５図に示すように電圧の立上
り時および立下り時に正負のパルスが発生するとともに
溶滴の移行時期２３に対応するところに正負のパルスが
生じる。
第４図および第５図に示した溶接電流ｉおよび溶接電圧
ｖの微分波形をそれぞれ波形整形回路２０，１９で、正
パルスのみ方形状に取り出す波形整形を施すと、第４図
は第６図へ、また第５図は第７図のようになる。
ｖの微分波形をそれぞれ波形整形回路２０，１９で、正
パルスのみ方形状に取り出す波形整形を施すと、第４図
は第６図へ、また第５図は第７図のようになる。
したがって、第６図と第７図に示すパルス信号をNOR回
路２１に加えると第８図に示すように、溶滴移行時期２
３に相当するパルス信号が出力端子２２に現われる。す
なわち、溶滴移行時期を検出することができる。
路２１に加えると第８図に示すように、溶滴移行時期２
３に相当するパルス信号が出力端子２２に現われる。す
なわち、溶滴移行時期を検出することができる。
以上のように、この発明の溶滴移行時期検出方法によれ
ば、溶接電流と電圧を検出してそれを微分した後波形処
理して論理演算処理を行うようにしたので、リアルタイ
ムで溶滴移行時期を検出することができる。したがっ
て、溶滴移行時期の制御および溶滴移行のモニタとして
利用することができる。
ば、溶接電流と電圧を検出してそれを微分した後波形処
理して論理演算処理を行うようにしたので、リアルタイ
ムで溶滴移行時期を検出することができる。したがっ
て、溶滴移行時期の制御および溶滴移行のモニタとして
利用することができる。
第１図はこの発明の溶滴移行時期検出方法の一実施例に
適用される溶滴移行時期検出装置のブロック図、第２図
は第１図の溶滴移行時期検出装置における溶接電流波形
を示す図、第３図は第１図の溶滴移行時期検出装置にお
ける溶接電圧波形を示す図、第４図は第２図の溶接電流
の微分波形図、第５図は第３図の溶接電圧の微分波形
図、第６図は第１図の溶滴移行時期検出装置における波
形整形回路２０の出力波形図、第７図は第１図の溶滴移
行時期検出装置における波形整形回路の出力波形図、第
８図は第１図の溶滴移行時期検出装置におけるNOR回路
の出力波形図、第９図は従来の溶滴移行時期検出方法を
説明するための図である。 １……溶接電源、２……マイヤ、３……電動機、４……
ローラ、５……給電チップ、６……アーク、７……被溶
接物、１４……分流器、１７，１８……微分回路、１
９，２０……波形整形回路、２１……NOR回路。
適用される溶滴移行時期検出装置のブロック図、第２図
は第１図の溶滴移行時期検出装置における溶接電流波形
を示す図、第３図は第１図の溶滴移行時期検出装置にお
ける溶接電圧波形を示す図、第４図は第２図の溶接電流
の微分波形図、第５図は第３図の溶接電圧の微分波形
図、第６図は第１図の溶滴移行時期検出装置における波
形整形回路２０の出力波形図、第７図は第１図の溶滴移
行時期検出装置における波形整形回路の出力波形図、第
８図は第１図の溶滴移行時期検出装置におけるNOR回路
の出力波形図、第９図は従来の溶滴移行時期検出方法を
説明するための図である。 １……溶接電源、２……マイヤ、３……電動機、４……
ローラ、５……給電チップ、６……アーク、７……被溶
接物、１４……分流器、１７，１８……微分回路、１
９，２０……波形整形回路、２１……NOR回路。
Claims (1)
- 【請求項１】消耗電極と被溶接物との間にアーク放電を
生じさせる溶接電圧を微分回路により時間に関して微分
した後、この微分回路の出力のうち一方の極性のみ取り
出して所定のパルスに波形整形して溶接電圧に基づく信
号を抽出し、 上記消耗電極と被溶接物に流れる溶接電流を微分回路に
より時間に関して微分した後、この微分回路の出力のう
ち一方の極性のみ取り出して所定のパルスに波形整形し
て溶接電流に基づく信号を抽出し、 上記溶接電圧に基づく信号と上記溶接電流に基づく信号
の排他的論理和処理を行うことを特徴とする溶滴移行時
期検出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60293974A JPH0622760B2 (ja) | 1985-12-26 | 1985-12-26 | 溶滴移行時期検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60293974A JPH0622760B2 (ja) | 1985-12-26 | 1985-12-26 | 溶滴移行時期検出方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62151272A JPS62151272A (ja) | 1987-07-06 |
| JPH0622760B2 true JPH0622760B2 (ja) | 1994-03-30 |
Family
ID=17801601
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60293974A Expired - Lifetime JPH0622760B2 (ja) | 1985-12-26 | 1985-12-26 | 溶滴移行時期検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0622760B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1655904A (zh) * | 2002-03-27 | 2005-08-17 | 普莱克斯技术有限公司 | 用于焊接的发光探测系统 |
| US8063340B2 (en) * | 2008-01-24 | 2011-11-22 | GM Global Technology Operations LLC | Method for controlling the consistency of an arc welding process by monitoring welding voltage to determine weld droplet detachment |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56165564A (en) * | 1980-05-26 | 1981-12-19 | Hitachi Ltd | Arc welding method |
| JPS60180669A (ja) * | 1984-02-28 | 1985-09-14 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | パルスア−ク溶接法 |
-
1985
- 1985-12-26 JP JP60293974A patent/JPH0622760B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62151272A (ja) | 1987-07-06 |
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